JPH0547876U - Self-diagnosis circuit for DC measurement unit used in IC tester - Google Patents

Self-diagnosis circuit for DC measurement unit used in IC tester

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JPH0547876U
JPH0547876U JP10528591U JP10528591U JPH0547876U JP H0547876 U JPH0547876 U JP H0547876U JP 10528591 U JP10528591 U JP 10528591U JP 10528591 U JP10528591 U JP 10528591U JP H0547876 U JPH0547876 U JP H0547876U
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JP
Japan
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terminal
measurement unit
unit
self
switch
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Application number
JP10528591U
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Japanese (ja)
Inventor
俊 田代
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安藤電気株式会社
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 DC測定ユニット1の出力以降に基準抵抗ユ
ニットを接続しないでDC測定ユニット1の機能を診断
する。 【構成】 設定電圧を供給する電源1AをもつDC測定
ユニット1と、測定されるIC3にDC測定ユニット1
の端子11と端子12を接断するピン切換ユニット2を
備えるICテスタにおいて、端子11と端子12の間に
抵抗1Eを接続し、端子11と基準電位の間に基準抵抗
1Fを接続する。スイッチ1Gは基準抵抗1Fと端子1
1の間を接断する。IC3を試験するときはスイッチ1
Gを断にし、ピン切換ユニット2を接にし、DC測定ユ
ニット1の自己診断モードにするときはスイッチ1Gを
接にし、ピン切換ユニット2を断にする。
(57) [Summary] [Purpose] The function of the DC measurement unit 1 is diagnosed without connecting the reference resistance unit after the output of the DC measurement unit 1. [Configuration] DC measurement unit 1 having a power supply 1A for supplying a set voltage, and DC measurement unit 1 for measuring IC3
In the IC tester including the pin switching unit 2 that connects and disconnects the terminals 11 and 12, the resistor 1E is connected between the terminals 11 and 12, and the reference resistor 1F is connected between the terminals 11 and the reference potential. Switch 1G has reference resistance 1F and terminal 1
Cut between 1 Switch 1 when testing IC3
When G is turned off, the pin switching unit 2 is turned on, and when the DC measurement unit 1 is set to the self-diagnosis mode, the switch 1G is turned on and the pin switching unit 2 is turned off.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

この考案は、ICテスタに使用されるDC測定ユニットの自己診断回路につい てのものである。 This invention is about a self-diagnosis circuit of a DC measurement unit used in an IC tester.

【0002】 ICテスタのDC測定ユニットには、基準プログラム電圧を加え、負荷に流れ る電流を測定する電圧印加電流測定機能と、基準プログラム電流を加え、負荷に 発生する電圧を測定する電流印加電圧測定機能がある。ICテスタには、DC測 定ユニットの機能が正常に動作するかどうかを判断する自己診断回路を設ける。The DC measurement unit of the IC tester includes a voltage applied current measuring function for measuring a current flowing in a load by applying a reference program voltage, and a current applied voltage measuring a voltage generated in the load by adding a reference program current. There is a measurement function. The IC tester is provided with a self-diagnosis circuit that determines whether the function of the DC measurement unit operates normally.

【0003】[0003]

【従来の技術】[Prior Art]

次に、従来技術によるICテスタのDC測定ユニットの構成を図2により説明 する。図2の1Aは電源、1Bは増幅器、1Cは電流計、1Dは増幅器、2はピ ン切換ユニット、3は測定されるIC、4は基準抵抗ユニットである。DC測定 ユニット10は図2の1A〜1Dで構成され、11は電圧供給用の端子、12は 設定電圧に対する帰還用の端子である。 Next, the configuration of the DC measurement unit of the IC tester according to the prior art will be described with reference to FIG. 2A is a power supply, 1B is an amplifier, 1C is an ammeter, 1D is an amplifier, 2 is a pin switching unit, 3 is an IC to be measured, and 4 is a reference resistance unit. The DC measurement unit 10 is composed of 1A to 1D in FIG. 2, 11 is a terminal for voltage supply, and 12 is a terminal for feedback to a set voltage.

【0004】 次に、図2の作用を説明する。電源1Aの設定電圧は端子11からピン切換ユ ニット2に供給され、ピン切換ユニット2のスイッチによりIC3に加えられる 。図2では、スイッチ2A、2B、2C、2Dを接にしてIC3に電源1Aの設 定電圧を加える。電源1AがIC3に安定した電圧を供給するように、端子12 から増幅器1Dを通って増幅器1Bに帰還をかける。DC測定ユニット10の自 己診断状態では、ピン切換ユニット2のスイッチ2A・2C・2E・2Fを接に して端子11、端子12と基準抵抗ユニット4を接続する。Next, the operation of FIG. 2 will be described. The set voltage of the power source 1A is supplied from the terminal 11 to the pin switching unit 2 and applied to the IC 3 by the switch of the pin switching unit 2. In FIG. 2, the switches 2A, 2B, 2C and 2D are brought into contact with each other to apply the set voltage of the power source 1A to the IC 3. Feedback is applied from the terminal 12 to the amplifier 1B through the amplifier 1D so that the power source 1A supplies a stable voltage to the IC3. In the self-diagnosis state of the DC measurement unit 10, the switches 2A, 2C, 2E, and 2F of the pin switching unit 2 are connected to connect the terminals 11 and 12 to the reference resistance unit 4.

【0005】 例えば、電源1Aの設定電圧をVf、基準抵抗ユニット4の抵抗4Bの抵抗値 をRm、電流測定値をIfとしたとき、If=Vf/Rmなら図2は正常に動作 していると診断できる。For example, assuming that the set voltage of the power source 1A is Vf, the resistance value of the resistor 4B of the reference resistance unit 4 is Rm, and the measured current value is If, if If = Vf / Rm, FIG. 2 is operating normally. Can be diagnosed.

【0006】[0006]

【考案が解決しようとする課題】[Problems to be solved by the device]

図2の基準抵抗ユニット4は通常ICテスタ1台あたり1組なので、それぞれ のDC測定ユニット10ごとに自己診断をする必要があり、ユニット数の多いI Cテスタでは、自己診断にかかる時間が増大する。また、DC測定ユニット10 の機能チェックには、ピン切換ユニット2及び基準抵抗ユニット4の外部回路が 必要になるが、これらの外部回路が故障すると、不良箇所の特定が難しい。 Since the reference resistance unit 4 in FIG. 2 is usually one set per IC tester, it is necessary to perform self-diagnosis for each DC measurement unit 10, and in an IC tester with a large number of units, the time required for self-diagnosis increases. To do. Further, the function check of the DC measurement unit 10 requires external circuits of the pin switching unit 2 and the reference resistance unit 4, but if these external circuits fail, it is difficult to identify the defective portion.

【0007】 この考案は、DC測定ユニット10の端子11と端子12の間に抵抗1Eを接 続し、端子11と基準電位の間に基準抵抗1Fを接続し、基準抵抗1Fと端子1 1との間をスイッチ1Gで接断し、DC測定ユニットの出力以降に基準抵抗ユニ ットを接続しないでDC測定ユニットの機能を診断することができるDC測定ユ ニットの自己診断回路の提供を目的とする。According to this invention, a resistor 1E is connected between terminals 11 and 12 of a DC measuring unit 10, a reference resistor 1F is connected between a terminal 11 and a reference potential, and a reference resistor 1F and a terminal 11 are connected. The purpose of the present invention is to provide a self-diagnosis circuit for the DC measurement unit, which can diagnose the function of the DC measurement unit without connecting the reference resistance unit after the output of the DC measurement unit by connecting the switch 1G between them. To do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

この目的を達成するため、この考案では、設定電圧を供給する電源1Aと、前 記設定電圧を供給する端子11と、前記設定電圧に対する帰還用の端子12をも つDC測定ユニット1と、測定されるIC3に端子11と端子12を接断するピ ン切換ユニット2を備えるICテスタにおいて、端子11と端子12の間に接続 される抵抗1Eと、端子11と基準電位の間に接続される基準抵抗1Fと、基準 抵抗1Fと端子11の間を接断するスイッチ1GとをDC測定ユニット1に設け 、IC3を試験するときはスイッチ1Gを断にし、ピン切換ユニット2を接にし 、DC測定ユニット1の自己診断モードにするときはスイッチ1Gを接にし、ピ ン切換ユニット2を断にする。 In order to achieve this object, in the present invention, a DC power supply unit 1A for supplying a set voltage, a terminal 11 for supplying the set voltage, and a DC measurement unit 1 having a terminal 12 for feedback to the set voltage, In an IC tester equipped with a pin switching unit 2 for connecting and disconnecting the terminal 11 and the terminal 12 to an IC 3 to be connected, a resistor 1E connected between the terminal 11 and the terminal 12 and a resistor 1E connected between the terminal 11 and the reference potential. The DC measurement unit 1 is provided with a reference resistance 1F and a switch 1G for connecting and disconnecting the reference resistance 1F and the terminal 11. When testing the IC3, the switch 1G is cut off and the pin switching unit 2 is connected for DC measurement. When the unit 1 is set to the self-diagnosis mode, the switch 1G is turned on and the pin switching unit 2 is turned off.

【0009】[0009]

【作用】[Action]

次に、この考案によるDC測定ユニットの自己診断回路の構成を図1により説 明する。図1の1はDC測定ユニットであり、図1は図2の基準抵抗ユニット4 を取り除き、DC測定ユニット1に抵抗1E、基準抵抗1F、スイッチ1Gを追 加したものである。抵抗1Eは端子11と端子12の間に接続され、基準抵抗1 Fは端子11と基準電位間に接続される。スイッチ1Gは基準抵抗1Fと端子1 1の間を接断する。 Next, the configuration of the self-diagnosis circuit of the DC measurement unit according to the present invention will be described with reference to FIG. Reference numeral 1 in FIG. 1 is a DC measurement unit, and FIG. 1 is obtained by removing the reference resistance unit 4 in FIG. 2 and adding a resistance 1E, a reference resistance 1F, and a switch 1G to the DC measurement unit 1. The resistor 1E is connected between the terminals 11 and 12, and the reference resistor 1F is connected between the terminal 11 and the reference potential. The switch 1G connects and disconnects between the reference resistor 1F and the terminal 11.

【0010】 次に、図1の作用を説明する。IC3を試験するときは、スイッチ1Gを断に し、ピン切換ユニット2のピン制御リレー2A、2B、2C、2Dを接にする。 これにより、DC測定ユニット1から電源1Aの設定電圧がIC3のピンに供給 される。Next, the operation of FIG. 1 will be described. When testing the IC3, the switch 1G is turned off and the pin control relays 2A, 2B, 2C and 2D of the pin switching unit 2 are connected. As a result, the set voltage of the power supply 1A is supplied from the DC measurement unit 1 to the pin of the IC3.

【0011】 DC測定ユニット1を自己診断するときは、スイッチ1Gを接にし、ピン切換 ユニット2のリレー2A、2B、2C、2Dを断にする。これにより、DC測定 ユニット1の端子11には基準抵抗1Fが負荷として接続され、端子12は抵抗 1Eを通して端子11と同電位になる。When the DC measuring unit 1 is to be self-diagnosed, the switch 1G is turned on and the relays 2A, 2B, 2C, 2D of the pin switching unit 2 are turned off. As a result, the reference resistance 1F is connected as a load to the terminal 11 of the DC measurement unit 1, and the terminal 12 has the same potential as the terminal 11 through the resistance 1E.

【0012】 電圧印加電流測定機能の自己診断の場合、電源1Aから端子11に電圧Vfが 供給される。これにより、抵抗値Rmをもつ抵抗1Fを通して電流Ifが流れる 。このときの電流If=Vf/Rmが期待値となる。DC測定ユニット1内の電 流計1Cにより電流Ifの値を測定し、計算式で得られる期待値と比較すれば、 DC測定ユニット1の良否を判定することができる。このとき抵抗1Eは、端子 11に電圧Vfが安定して出力されるように帰還をかけるために必要になる。In the case of self-diagnosis of the voltage applied current measurement function, the voltage Vf is supplied from the power supply 1A to the terminal 11. As a result, the current If flows through the resistor 1F having the resistance value Rm. The current If = Vf / Rm at this time is the expected value. If the value of the current If is measured by the ammeter 1C in the DC measurement unit 1 and compared with the expected value obtained by the calculation formula, the quality of the DC measurement unit 1 can be determined. At this time, the resistor 1E is necessary for feedback so that the voltage Vf is stably output to the terminal 11.

【0013】[0013]

【考案の効果】[Effect of the device]

この考案によれば、端子11と端子12の間に抵抗1Eを接続し、端子11と 基準電位の間に基準抵抗1Fを接続し、基準抵抗1Fと端子11の間をスイッチ 1Gで接断するので、DC測定ユニットのみで自己診断が可能となる。従って、 外部回路が不必要となり、不良発生時の不良個所の特定が容易になる。 According to this invention, the resistor 1E is connected between the terminal 11 and the terminal 12, the reference resistor 1F is connected between the terminal 11 and the reference potential, and the reference resistor 1F and the terminal 11 are disconnected by the switch 1G. Therefore, the self-diagnosis can be performed only with the DC measurement unit. Therefore, an external circuit becomes unnecessary, and it becomes easy to identify a defective portion when a defect occurs.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この考案によるDC測定ユニットの自己診断回
路の構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a self-diagnosis circuit of a DC measurement unit according to the present invention.

【図2】従来技術によるDC測定ユニットの自己診断回
路の構成図である。
FIG. 2 is a configuration diagram of a self-diagnosis circuit of a DC measurement unit according to a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 DC測定ユニット 1A 電源 1B 増幅器 1C 電流計 1D 増幅器 1E 抵抗 1F 基準抵抗 1G スイッチ 2 ピン切換ユニット 11 電圧供給用の端子 12 電圧帰還用の端子 1 DC measuring unit 1A power supply 1B amplifier 1C ammeter 1D amplifier 1E resistance 1F reference resistance 1G switch 2 pin switching unit 11 voltage supply terminal 12 voltage feedback terminal

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】 設定電圧を供給する電源(1A)と、前記設
定電圧を供給する第1の端子(11)と、前記設定電圧に対
する帰還用の第2の端子(12)をもつDC測定ユニット
(1) と、 測定されるIC(3) に第1の端子(11)と第2の端子(12)
を接断するピン切換ユニット(2) とを備えるICテスタ
において、 第1の端子(11)と第2の端子(12)の間に接続される抵抗
(1E)と、 第1の端子(11)と基準電位の間に接続される基準抵抗(1
F)と、 基準抵抗(1F)と第1の端子(11)の間を接断するスイッチ
(1F)とをDC測定ユニット(1) に設け、 IC(3) を試験するときはスイッチ(1G)を断にし、ピン
切換ユニット(2) を接にし、DC測定ユニット(1) を自
己診断モードにするときはスイッチ(1G)を接にし、ピン
切換ユニット(2) を断にすることを特徴とするICテス
タに使用されるDC測定ユニットの自己診断回路。
1. A DC measuring unit having a power supply (1A) for supplying a set voltage, a first terminal (11) for supplying the set voltage, and a second terminal (12) for feedback to the set voltage.
(1) and the IC (3) to be measured has a first terminal (11) and a second terminal (12)
In a IC tester including a pin switching unit (2) for connecting and disconnecting, a resistor connected between the first terminal (11) and the second terminal (12).
(1E) and a reference resistor (1
F), a switch that connects and disconnects between the reference resistance (1F) and the first terminal (11)
(1F) is installed in the DC measurement unit (1), when testing the IC (3), switch (1G) is turned off, the pin switching unit (2) is connected, and the DC measurement unit (1) is self-diagnosed. A self-diagnosis circuit for a DC measuring unit used in an IC tester, which is characterized by turning on the switch (1G) and turning off the pin switching unit (2) when switching to the mode.
JP10528591U 1991-11-27 1991-11-27 Self-diagnosis circuit for DC measurement unit used in IC tester Pending JPH0547876U (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010139442A (en) * 2008-12-12 2010-06-24 Advantest Corp Testing apparatus and diagnosis method

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