JPH0545470A - Ｘ線イメージセンサ及びｘ線検査装置 - Google Patents
Ｘ線イメージセンサ及びｘ線検査装置Info
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- JPH0545470A JPH0545470A JP3200627A JP20062791A JPH0545470A JP H0545470 A JPH0545470 A JP H0545470A JP 3200627 A JP3200627 A JP 3200627A JP 20062791 A JP20062791 A JP 20062791A JP H0545470 A JPH0545470 A JP H0545470A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】 ビームハードニングの影響を除く事が可能な
Ｘ線イメージセンサと、被検体の厚さに依存せずに正確
な物質量の測定がなされるＸ線検査装置を提供する。 【構成】 Ｋエッジフィルタを装着したＸ線発生器５
と、複数の単位検出素子１、２から構成されるＸ線イメ
ージセンサの間に定量目的物である骨部８と軟組織７か
ら構成される被検体を配置する。単位検出素子１、２は
パルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で、各々の検出
器の出力はプリアンプ２５、波高弁別回路２６、計数回
路２７を通じて、高低２段の信号に分離計数される。軟
組織７及びフィルタ４透過後の高エネルギーＸ線の強度
Ｉh1f と、被検体透過後の低エネルギーＸ線の強度Ｉ
l1f は、単位検出素子２で同時に計数され、計算処理部
２８で、Ｉh1f ，Ｉl1f 等から、フィルタの物質量Ｔf
×ρfを計算し、その実測値との比から、ビームハード
ニングの影響を補正する補正係数を得る。
Ｘ線イメージセンサと、被検体の厚さに依存せずに正確
な物質量の測定がなされるＸ線検査装置を提供する。 【構成】 Ｋエッジフィルタを装着したＸ線発生器５
と、複数の単位検出素子１、２から構成されるＸ線イメ
ージセンサの間に定量目的物である骨部８と軟組織７か
ら構成される被検体を配置する。単位検出素子１、２は
パルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で、各々の検出
器の出力はプリアンプ２５、波高弁別回路２６、計数回
路２７を通じて、高低２段の信号に分離計数される。軟
組織７及びフィルタ４透過後の高エネルギーＸ線の強度
Ｉh1f と、被検体透過後の低エネルギーＸ線の強度Ｉ
l1f は、単位検出素子２で同時に計数され、計算処理部
２８で、Ｉh1f ，Ｉl1f 等から、フィルタの物質量Ｔf
×ρfを計算し、その実測値との比から、ビームハード
ニングの影響を補正する補正係数を得る。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、医療用Ｘ線検査装置、
工業用非破壊検査装置等に用いるＸ線イメージセンサ及
びＸ線検査装置に関するものである。
工業用非破壊検査装置等に用いるＸ線イメージセンサ及
びＸ線検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、Ｘ線を利用して物質の含有量を測
定する検査装置が注目されている。これは異なるエネル
ギーのＸ線を被検体に照射し、物質のＸ線吸収係数が、
物質の違い及びＸ線のエネルギ−の違いにより異なる現
象を利用するものである。
定する検査装置が注目されている。これは異なるエネル
ギーのＸ線を被検体に照射し、物質のＸ線吸収係数が、
物質の違い及びＸ線のエネルギ−の違いにより異なる現
象を利用するものである。
【０００３】例えば２種類の異なるエネルギーのＸ線を
物質Ａ、Ｂから構成される被検体に照射した場合、被検
体透過前の高エネルギーＸ線の強度をＩh0、低エネルギ
−Ｘ線の強度をＩl0、被検体透過後の高エネルギ−Ｘ線
の強度をＩh1、低エネルギ−Ｘ線の強度をＩl1、物質Ａ
の高エネルギーＸ線の質量減弱係数をμha、低エネルギ
−Ｘ線の質量減弱係数をμla、物質Ｂの高エネルギーＸ
線の質量減弱係数をμ hb、低エネルギ−Ｘ線の質量減弱
係数をμlb、物質Ａの密度をρa 、厚さをＴa、物質Ｂ
の密度をρb 、厚さをＴbとすると被検体透過後の低エ
ネルギーＸ線の強度Ｉl1は
物質Ａ、Ｂから構成される被検体に照射した場合、被検
体透過前の高エネルギーＸ線の強度をＩh0、低エネルギ
−Ｘ線の強度をＩl0、被検体透過後の高エネルギ−Ｘ線
の強度をＩh1、低エネルギ−Ｘ線の強度をＩl1、物質Ａ
の高エネルギーＸ線の質量減弱係数をμha、低エネルギ
−Ｘ線の質量減弱係数をμla、物質Ｂの高エネルギーＸ
線の質量減弱係数をμ hb、低エネルギ−Ｘ線の質量減弱
係数をμlb、物質Ａの密度をρa 、厚さをＴa、物質Ｂ
の密度をρb 、厚さをＴbとすると被検体透過後の低エ
ネルギーＸ線の強度Ｉl1は
【０００４】
【数１】
【０００５】で表される。また被検体透過後の高エネル
ギーＸ線の強度Ｉh1は同様に、
ギーＸ線の強度Ｉh1は同様に、
【０００６】
【数２】
【０００７】で表される。（数１）、（数２）より（数
３）の関係が成立する。
３）の関係が成立する。
【０００８】
【数３】
【０００９】そして（数３）を利用すれば物質の密度厚
さ積、つまり物質量が求められる。例えば密度測定装置
の一つである骨塩量測定装置では物質Ａが人体の軟部組
織であり物質Ｂが骨部組織である。軟部組織の高エネル
ギーＸ線の線減弱係数μha、低エネルギーＸ線の線減弱
係数 μla、骨部の高エネルギーＸ線の線減弱係数μhb
低エネルギーＸ線の線減弱係数μlbは固有値であり、高
エネルギーでの被検体透過前のＸ線強度強度Ｉh0、低エ
ネルギーでの被検体透過前のＸ線強度Ｉl0、高エネルギ
ーでの被検体透過後のＸ線強度Ｉh1、低エネルギーでの
被検体透過後のＸ線強度Ｉl1の測定により（数３）から
骨塩量Ｔb×ρbが計算される。
さ積、つまり物質量が求められる。例えば密度測定装置
の一つである骨塩量測定装置では物質Ａが人体の軟部組
織であり物質Ｂが骨部組織である。軟部組織の高エネル
ギーＸ線の線減弱係数μha、低エネルギーＸ線の線減弱
係数 μla、骨部の高エネルギーＸ線の線減弱係数μhb
低エネルギーＸ線の線減弱係数μlbは固有値であり、高
エネルギーでの被検体透過前のＸ線強度強度Ｉh0、低エ
ネルギーでの被検体透過前のＸ線強度Ｉl0、高エネルギ
ーでの被検体透過後のＸ線強度Ｉh1、低エネルギーでの
被検体透過後のＸ線強度Ｉl1の測定により（数３）から
骨塩量Ｔb×ρbが計算される。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】ところがＸ線源から照
射されるＸ線エネルギーは、単一エネルギーではなくあ
る範囲のエネルギーの分布を有している。
射されるＸ線エネルギーは、単一エネルギーではなくあ
る範囲のエネルギーの分布を有している。
【００１１】物質によるＸ線の吸収は低いエネルギー程
大きく、透過する物質の厚さが厚くなるに従い大きくな
るため、透過する物質の厚さが厚くなるほど低エネルギ
ーの減衰が大きくなり、透過後のＸ線エネルギー分布の
平均または実効的なエネルギーが高い方へシフトする。
この現象をビームハードニング現象と言う。
大きく、透過する物質の厚さが厚くなるに従い大きくな
るため、透過する物質の厚さが厚くなるほど低エネルギ
ーの減衰が大きくなり、透過後のＸ線エネルギー分布の
平均または実効的なエネルギーが高い方へシフトする。
この現象をビームハードニング現象と言う。
【００１２】ビームハードニング現象は被検体透過後の
高、低エネルギ−が変化し物質の吸収係数μha、μhb、
μla、μlbに影響を及ぼすので、（数３）より求められ
る物質量（Ｔb×ρb）は真値と異なる。
高、低エネルギ−が変化し物質の吸収係数μha、μhb、
μla、μlbに影響を及ぼすので、（数３）より求められ
る物質量（Ｔb×ρb）は真値と異なる。
【００１３】本発明は上記問題点に鑑み、ビームハード
ニングの影響を除く事が可能なＸ線イメージセンサと被
検体の厚さに依存せずに正確な物質量の測定がなされる
Ｘ線検査装置を提供することを目的とする。
ニングの影響を除く事が可能なＸ線イメージセンサと被
検体の厚さに依存せずに正確な物質量の測定がなされる
Ｘ線検査装置を提供することを目的とする。
【００１４】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１記載のＸ線イメージセンサは、多数個配列
した単位検出素子の内で一部の素子のＸ線入射側に測定
しようとする物質または材料と同じもしくはそれに近い
Ｘ線吸収係数を有するフィルタと、その回転機構をを設
けるものである。
に、請求項１記載のＸ線イメージセンサは、多数個配列
した単位検出素子の内で一部の素子のＸ線入射側に測定
しようとする物質または材料と同じもしくはそれに近い
Ｘ線吸収係数を有するフィルタと、その回転機構をを設
けるものである。
【００１５】また請求項４記載のＸ線検査装置は、測定
しようとする物質または材料と同じもしくは近いＸ線吸
収係数を有し、密度及び厚さが既知のフィルタを回転
し、一部の単位検出素子のＸ線入射面を覆ったり、開放
したりして、Ｘ線イメージセンサを用いてＸ線とととも
にＸ線イメージセンサをスキャニングするかまたは被検
体をスキャニングし被検体の測定を行う際に、被検体の
物質量の測定とともにフィルタの物質量の測定を行い、
フィルタの物質量の測定値とフィルタ材料の真の物性値
との違いから補正係数を求めて被検体の物質量の測定値
の補正を行うものである。
しようとする物質または材料と同じもしくは近いＸ線吸
収係数を有し、密度及び厚さが既知のフィルタを回転
し、一部の単位検出素子のＸ線入射面を覆ったり、開放
したりして、Ｘ線イメージセンサを用いてＸ線とととも
にＸ線イメージセンサをスキャニングするかまたは被検
体をスキャニングし被検体の測定を行う際に、被検体の
物質量の測定とともにフィルタの物質量の測定を行い、
フィルタの物質量の測定値とフィルタ材料の真の物性値
との違いから補正係数を求めて被検体の物質量の測定値
の補正を行うものである。
【００１６】
【作用】本発明のＸ線イメージセンサでは測定しようと
する物質または材料と同じもしくはそれに近いＸ線吸収
係数を有するフィルタを一部の単位検出素子のＸ線入射
面に設け、回転機構によりフィルタがオン、オフする補
正用のモニタが内蔵される。
する物質または材料と同じもしくはそれに近いＸ線吸収
係数を有するフィルタを一部の単位検出素子のＸ線入射
面に設け、回転機構によりフィルタがオン、オフする補
正用のモニタが内蔵される。
【００１７】また、本発明のＸ線検査装置においてはフ
ィルタをもちいた測定値の補正により被検体の厚さによ
るビームハードニングの影響が取り除かれて、密度もし
くは材料の正確な測定がなされる。また、サンプリング
毎に補正係数が求められるので一回の測定中にスキャニ
ング方向における被検体の厚さが変化しても厚さの変化
に対応した補正がなされる。
ィルタをもちいた測定値の補正により被検体の厚さによ
るビームハードニングの影響が取り除かれて、密度もし
くは材料の正確な測定がなされる。また、サンプリング
毎に補正係数が求められるので一回の測定中にスキャニ
ング方向における被検体の厚さが変化しても厚さの変化
に対応した補正がなされる。
【００１８】
【実施例】以下に本発明の実施例について図面を参照し
ながら説明する。
ながら説明する。
【００１９】図１は、本発明のＸ線イメージセンサの実
施例を示す断面図である。図１において１および２は単
位検出素子、３はＸ線の入射方向を示す矢印、４はフィ
ルタ、４４は回転機構である。
施例を示す断面図である。図１において１および２は単
位検出素子、３はＸ線の入射方向を示す矢印、４はフィ
ルタ、４４は回転機構である。
【００２０】Ｘ線イメ−ジセンサは複数個の単位検出素
子１がアレイ状に配列した構成をとる。ここで単位検出
素子は例えばパルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で
ある。パルス計数方式では出力パルスの波高弁別ができ
る。一部の単位検出素子２のＸ線入射方向３側にはフィ
ルタ４が設けられる。フィルタ４のＸ線吸収係数は測定
しようとする材料もしくは物質のＸ線吸収係数と同じも
しくはそれに近い材料より構成される。例えば目的物質
が生体組織の骨部の場合はフィルタ４は骨部のＸ線吸収
係数に近いＡｌ、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウム、
ヨウ化カリウム等から構成される。また、その形状は半
円板状である。
子１がアレイ状に配列した構成をとる。ここで単位検出
素子は例えばパルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で
ある。パルス計数方式では出力パルスの波高弁別ができ
る。一部の単位検出素子２のＸ線入射方向３側にはフィ
ルタ４が設けられる。フィルタ４のＸ線吸収係数は測定
しようとする材料もしくは物質のＸ線吸収係数と同じも
しくはそれに近い材料より構成される。例えば目的物質
が生体組織の骨部の場合はフィルタ４は骨部のＸ線吸収
係数に近いＡｌ、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウム、
ヨウ化カリウム等から構成される。また、その形状は半
円板状である。
【００２１】図２は、図１の構成のＸ線イメージセンサ
を用いたＸ線検査装置の一実施例を示す断面図である。
図２において、４はフィルタ、４４は回転機構、５はＸ
線発生器、７は軟組織、８は骨部、１、２は単位検出素
子、２４はＫエッジフィルタ、２５はプリアンプ、２６
は波高弁別回路、２７は計数回路、２８は計算処理部、
２９はデータ表示部、３０は入力部ある。
を用いたＸ線検査装置の一実施例を示す断面図である。
図２において、４はフィルタ、４４は回転機構、５はＸ
線発生器、７は軟組織、８は骨部、１、２は単位検出素
子、２４はＫエッジフィルタ、２５はプリアンプ、２６
は波高弁別回路、２７は計数回路、２８は計算処理部、
２９はデータ表示部、３０は入力部ある。
【００２２】以下図２を用いて、物質定量の実施例を説
明する。Ｘ線発生器５と単位検出素子１、２から構成さ
れるＸ線イメージセンサの間に定量目的物である骨部８
と軟組織７から構成される被検体が配置される。Ｘ線発
生器５には、Ｋエッジフィルタ２４が装着されている。
Ｋエッジフィルタ２４の材料は例えばＮｄである。Ｋエ
ッジフィルタの効果によりＸ線発生器５からは高、低２
種類の実効エネルギーに分離されたＸ線が発生する。例
えば管電圧が８０ｋＶの時は実効エネルギー７０ｋｅＶ
と４３ｋｅＶの２種類のＸ線が発生する。
明する。Ｘ線発生器５と単位検出素子１、２から構成さ
れるＸ線イメージセンサの間に定量目的物である骨部８
と軟組織７から構成される被検体が配置される。Ｘ線発
生器５には、Ｋエッジフィルタ２４が装着されている。
Ｋエッジフィルタ２４の材料は例えばＮｄである。Ｋエ
ッジフィルタの効果によりＸ線発生器５からは高、低２
種類の実効エネルギーに分離されたＸ線が発生する。例
えば管電圧が８０ｋＶの時は実効エネルギー７０ｋｅＶ
と４３ｋｅＶの２種類のＸ線が発生する。
【００２３】Ｘ線イメージセンサは複数個の単位検出素
子１、２により構成される。被検体７は例えば人体であ
り、測定目的物８は骨である。単位検出素子１、２はパ
ルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で、各々の検出器
の出力はプリアンプ２５、波高弁別回路２６、計数回路
２７を通じて、高低２段の信号に分離され計数される。
子１、２により構成される。被検体７は例えば人体であ
り、測定目的物８は骨である。単位検出素子１、２はパ
ルス計数方式のＣｄＴｅ放射線検出器で、各々の検出器
の出力はプリアンプ２５、波高弁別回路２６、計数回路
２７を通じて、高低２段の信号に分離され計数される。
【００２４】被検体透過前の高エネルギーＸ線の強度Ｉ
h0、被検体透過前の低エネルギーＸ線の強度Ｉl0は予め
測定可能である軟組織７及びフィルタ４透過後の高エネ
ルギーＸ線の強度Ｉh1f と、被検体透過後の低エネルギ
ーＸ線の強度Ｉl1f は、単位検出素子２で同時に計数さ
れる。フィルタ４は例えば厚さ１ｃｍのＡｌである。Ａ
ｌの質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ2／
ｇ、８０ｋｅＶで０．２０３ｃｍ2／ｇである。また骨
の質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ2／
ｇ、８０ｋｅＶで０．５１２ｃｍ2／ｇに近い。
h0、被検体透過前の低エネルギーＸ線の強度Ｉl0は予め
測定可能である軟組織７及びフィルタ４透過後の高エネ
ルギーＸ線の強度Ｉh1f と、被検体透過後の低エネルギ
ーＸ線の強度Ｉl1f は、単位検出素子２で同時に計数さ
れる。フィルタ４は例えば厚さ１ｃｍのＡｌである。Ａ
ｌの質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ2／
ｇ、８０ｋｅＶで０．２０３ｃｍ2／ｇである。また骨
の質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ2／
ｇ、８０ｋｅＶで０．５１２ｃｍ2／ｇに近い。
【００２５】計算処理部９では、Ｉh1f 及びＩl1f から
（数４）に基づいてフィルタの物質量Ｔf×ρfが計算さ
れる。
（数４）に基づいてフィルタの物質量Ｔf×ρfが計算さ
れる。
【００２６】
【数４】
【００２７】（数４）において、μlaは低エネルギーに
おける軟組織の質量減弱係数、ρaは軟組織の密度、Ｔa
は軟組織の厚さ、μlfは低エネルギーにおけるフィルタ
の質量減弱係数、ρf はフィルタの密度、Ｔfはフィル
タの厚さである。又μhaは低エネルギーにおける軟組織
の質量減弱係数、μhfは低エネルギーにおけるフィルタ
４の質量減弱係数である。
おける軟組織の質量減弱係数、ρaは軟組織の密度、Ｔa
は軟組織の厚さ、μlfは低エネルギーにおけるフィルタ
の質量減弱係数、ρf はフィルタの密度、Ｔfはフィル
タの厚さである。又μhaは低エネルギーにおける軟組織
の質量減弱係数、μhfは低エネルギーにおけるフィルタ
４の質量減弱係数である。
【００２８】μha、μla、μhf、μlfは、軟組織７によ
るビームハードニングの影響により真値からはずれ、そ
の結果フィルタ４の物質量Ｔf×ρfの測定値は真値と異
なる。
るビームハードニングの影響により真値からはずれ、そ
の結果フィルタ４の物質量Ｔf×ρfの測定値は真値と異
なる。
【００２９】フィルタ４の密度及び厚さは予め分かって
いるので、（数５）からビームハードニングの影響を補
正する為の係数Ｋ1が求められる。
いるので、（数５）からビームハードニングの影響を補
正する為の係数Ｋ1が求められる。
【００３０】
【数５】
【００３１】軟組織７及び骨部８を透過後の高エネルギ
ーＸ線の強度Ｉh1b、低エネルギーＸ線の強度Ｉl1bは単
位検出素子１において同時に計数される。
ーＸ線の強度Ｉh1b、低エネルギーＸ線の強度Ｉl1bは単
位検出素子１において同時に計数される。
【００３２】計算処理部９において、Ｉh1b及びＩl1bか
ら（数３）に基づいて、骨塩量Ｔb×ρbが計算される。
ら（数３）に基づいて、骨塩量Ｔb×ρbが計算される。
【００３３】単位検出素子２と同様に、μha、μla、μ
hb、μblはビームハードニングの影響を受け、計算値と
真値に差が生じる。そこで単位検出素子２で求めた補正
係数Ｋ１を計算値に乗算し補正する。補正後の骨塩量は
ビームハードニングの影響が除かれ真値に近い正確度の
高いものである。
hb、μblはビームハードニングの影響を受け、計算値と
真値に差が生じる。そこで単位検出素子２で求めた補正
係数Ｋ１を計算値に乗算し補正する。補正後の骨塩量は
ビームハードニングの影響が除かれ真値に近い正確度の
高いものである。
【００３４】多チャンネル型の検出器では単位素子間の
感度ばらつきが測定精度を悪化させる。被検体の測定前
に、フィルタ４を全単位検出素子のＸ線入射面から除い
たＸ線照射により、各単位検出素子の計数を測定する。
計数のばらつきから各単位検出素子の感度補正ができ
る。例えば全チャンネルの計数の平均値と各単位検出素
子の計数から、各単位検出素子での感度補正係数が求め
られる。被検体の測定時、各単位検出素子の計数に感度
補正係数を乗算すれば単位検出素子間の感度ばらつきが
補正され測定精度が向上する。
感度ばらつきが測定精度を悪化させる。被検体の測定前
に、フィルタ４を全単位検出素子のＸ線入射面から除い
たＸ線照射により、各単位検出素子の計数を測定する。
計数のばらつきから各単位検出素子の感度補正ができ
る。例えば全チャンネルの計数の平均値と各単位検出素
子の計数から、各単位検出素子での感度補正係数が求め
られる。被検体の測定時、各単位検出素子の計数に感度
補正係数を乗算すれば単位検出素子間の感度ばらつきが
補正され測定精度が向上する。
【００３５】以上述べた実施例では、フィルタ４の材料
をＡｌで説明したが、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウ
ム、ヨウ化カリウム等の骨等価材料であれば良い。
をＡｌで説明したが、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウ
ム、ヨウ化カリウム等の骨等価材料であれば良い。
【００３６】また、単位検出素子をＣｄＴｅ放射線検出
器として説明したがこれに限らず、Ｓｉ，Ｇｅ，ＧａＡ
ｓ等の他の半導体放射線検出器、シンチレーション検出
器、電離箱検出器等の放射線の検出が可能な検出器であ
れば良い。
器として説明したがこれに限らず、Ｓｉ，Ｇｅ，ＧａＡ
ｓ等の他の半導体放射線検出器、シンチレーション検出
器、電離箱検出器等の放射線の検出が可能な検出器であ
れば良い。
【００３７】またＫエッジフィルタ材料もＮｄに限らな
い。またＸ線管の管電圧も８０ｋＶに限らない。
い。またＸ線管の管電圧も８０ｋＶに限らない。
【００３８】また、放射線の検出方式もパルス計数方式
に限らない。また単位検出素子の形状や配列様式も図で
限定したものに限られないことは言うまでもない。
に限らない。また単位検出素子の形状や配列様式も図で
限定したものに限られないことは言うまでもない。
【００３９】また、目的物質を生体組織の骨部として説
明したがこれに限らず、例えばプラスチック中の銅の定
量を行うには、フィルタ２の材料を銅とすれば良い。
明したがこれに限らず、例えばプラスチック中の銅の定
量を行うには、フィルタ２の材料を銅とすれば良い。
【００４０】また異なるエネルギーのＸ線の発生させる
方法としてＫ吸収端を利用したがこれに限らず、Ｘ線の
管電圧を切り替える方法等の２種類以上の異なるエネル
ギーのＸ線を発生できる方法であれば良い。又Ｘ線のエ
ネルギー種類も２種類以上でも良い。またフィルタ４の
定量を行う単位検出素子は多数個でも良い。
方法としてＫ吸収端を利用したがこれに限らず、Ｘ線の
管電圧を切り替える方法等の２種類以上の異なるエネル
ギーのＸ線を発生できる方法であれば良い。又Ｘ線のエ
ネルギー種類も２種類以上でも良い。またフィルタ４の
定量を行う単位検出素子は多数個でも良い。
【００４１】図３は、本発明のＸ線検査装置の他の実施
例を示す斜視図である。図３において、６はＸ線イメー
ジセンサ、３１はＸ線イメージセンサボックス、３２は
アーム、３３はフィルタ駆動系、３４はフィルタ駆動方
法、３５はＸ線イメージセンサボックス駆動系、３６は
Ｘ線イメージセンサボックス駆動方向、３７はベッドで
ある。他の符号は図２と同様であり説明は省略する。
例を示す斜視図である。図３において、６はＸ線イメー
ジセンサ、３１はＸ線イメージセンサボックス、３２は
アーム、３３はフィルタ駆動系、３４はフィルタ駆動方
法、３５はＸ線イメージセンサボックス駆動系、３６は
Ｘ線イメージセンサボックス駆動方向、３７はベッドで
ある。他の符号は図２と同様であり説明は省略する。
【００４２】Ｘ線発生器５には、Ｋエッジフィルタ２４
が装着されている。Ｋエッジフィルタ２４の材料は例え
ばＮｄである。Ｋエッジフィルタの効果によりＸ線発生
器５からは高、低２種類の実効エネルギーに分離された
Ｘ線が発生する。例えば管電圧が８０ｋＶの時は実効エ
ネルギー７０ｋｅＶと４３ｋｅＶの２種類のＸ線が発生
する。Ｘ線発生器５とＸ線イメージセンサ６が配置され
たＸ線イメージセンサボックス３１はアーム３２で接続
される。Ｘ線イメージセンサボックス３１にはフィルタ
４及び回転機構４４が装備されている。
が装着されている。Ｋエッジフィルタ２４の材料は例え
ばＮｄである。Ｋエッジフィルタの効果によりＸ線発生
器５からは高、低２種類の実効エネルギーに分離された
Ｘ線が発生する。例えば管電圧が８０ｋＶの時は実効エ
ネルギー７０ｋｅＶと４３ｋｅＶの２種類のＸ線が発生
する。Ｘ線発生器５とＸ線イメージセンサ６が配置され
たＸ線イメージセンサボックス３１はアーム３２で接続
される。Ｘ線イメージセンサボックス３１にはフィルタ
４及び回転機構４４が装備されている。
【００４３】フィルタ４は例えば厚さ１ｃｍのＡｌであ
る。Ａｌの質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃ
ｍ2／ｇ、８０ｋｅＶで０．２０３ｃｍ2／ｇである。ま
た、骨の質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ
2／ｇ、８０ｋｅＶで０．５１２ｃｍ2／ｇに近い。
る。Ａｌの質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃ
ｍ2／ｇ、８０ｋｅＶで０．２０３ｃｍ2／ｇである。ま
た、骨の質量減弱係数は、４０ｋｅＶで０．５６７ｃｍ
2／ｇ、８０ｋｅＶで０．５１２ｃｍ2／ｇに近い。
【００４４】フィルタ４は、回転機構４４により回転
し、Ｘ線イメージセンサ６の一部の上をオン、オフす
る。Ｘイメージセンサボックス３１は、Ｘ線イメージセ
ンサボックス駆動系３５によりＸ線発生器と連動してベ
ッド３７の長辺に平行なＸ線イメージセンサ駆動方向３
６に移動する。被検体測定時はＸ線発生器５とＸ線イメ
ージセンサボックス３１が、Ｘ線イメージセンサボック
ス駆動方向３６にスキャニングされる。入力部３０はキ
ーボード、マウス等で駆動系の駆動、計算処理等を指示
する。
し、Ｘ線イメージセンサ６の一部の上をオン、オフす
る。Ｘイメージセンサボックス３１は、Ｘ線イメージセ
ンサボックス駆動系３５によりＸ線発生器と連動してベ
ッド３７の長辺に平行なＸ線イメージセンサ駆動方向３
６に移動する。被検体測定時はＸ線発生器５とＸ線イメ
ージセンサボックス３１が、Ｘ線イメージセンサボック
ス駆動方向３６にスキャニングされる。入力部３０はキ
ーボード、マウス等で駆動系の駆動、計算処理等を指示
する。
【００４５】図４は、本発明のＸ線検査装置の更に他の
実施例を示す断面図である。図４の符号に関しては、図
２及び図３と同様であり説明は省略する。図４に基づい
て本実施例を説明する。
実施例を示す断面図である。図４の符号に関しては、図
２及び図３と同様であり説明は省略する。図４に基づい
て本実施例を説明する。
【００４６】Ｘ線発生器５には、Ｋエッジフィルタ２４
が装着されている。Ｘ線発生器５とアーム３２で連結さ
れるＸ線イメージセンサボックス３１には、単位検出素
子１、２から構成されるＸ線イメージセンサ６と、各単
位検出素子の後段のピリアンプ２５、波高弁別回路２
６、及び計数回路２７が実装されている。単位検出素子
１、２は例えばＣｄＴｅである。Ｘ線イメージセンサボ
ックス３１はベッド３７の内部に装備される。Ｘ線イメ
ージセンサボックス３１のＸ線入射側の面には、フィル
タ駆動系３３により駆動されるフィルタ４が装備され
る。
が装着されている。Ｘ線発生器５とアーム３２で連結さ
れるＸ線イメージセンサボックス３１には、単位検出素
子１、２から構成されるＸ線イメージセンサ６と、各単
位検出素子の後段のピリアンプ２５、波高弁別回路２
６、及び計数回路２７が実装されている。単位検出素子
１、２は例えばＣｄＴｅである。Ｘ線イメージセンサボ
ックス３１はベッド３７の内部に装備される。Ｘ線イメ
ージセンサボックス３１のＸ線入射側の面には、フィル
タ駆動系３３により駆動されるフィルタ４が装備され
る。
【００４７】測定前の骨部８及び軟組織７より構成され
る被検体がベッド３７上にない時、フィルタ４をフィル
タ移動方向３４に、従って紙面の右方向に移動し、Ｘ線
イメージセンサ６の全ての単位検出素子のＸ線入射面か
ら外す。Ｘ線発生器５からＸ線を発生させる。Ｘ線発生
器５からは、Ｋエッジフィルタの効果で高低２種類の実
効エネルギーに分離されたＸ線が発生する。各々の単位
検出素子に入射したＸ線の強度はプリアンプ２５、波高
弁別回路２６を通じて計数回路２７で高低２種類のエネ
ルギーに分離され計数される。
る被検体がベッド３７上にない時、フィルタ４をフィル
タ移動方向３４に、従って紙面の右方向に移動し、Ｘ線
イメージセンサ６の全ての単位検出素子のＸ線入射面か
ら外す。Ｘ線発生器５からＸ線を発生させる。Ｘ線発生
器５からは、Ｋエッジフィルタの効果で高低２種類の実
効エネルギーに分離されたＸ線が発生する。各々の単位
検出素子に入射したＸ線の強度はプリアンプ２５、波高
弁別回路２６を通じて計数回路２７で高低２種類のエネ
ルギーに分離され計数される。
【００４８】多チャンネル型のＸ線イメージセンサ６に
は、単位検出素子間の感度ばらつきがある。ｉ番目の単
位検出素子の低エネルギーＸ線の計数をＩli、全単位検
出素子の低エネルギーＸ線の計数の平均値をＩl aveと
すると、低エネルギーＸ線での各単位検出素子における
計数値の平均値からのずれＫ2liは（数６）で計算され
る。
は、単位検出素子間の感度ばらつきがある。ｉ番目の単
位検出素子の低エネルギーＸ線の計数をＩli、全単位検
出素子の低エネルギーＸ線の計数の平均値をＩl aveと
すると、低エネルギーＸ線での各単位検出素子における
計数値の平均値からのずれＫ2liは（数６）で計算され
る。
【００４９】
【数６】
【００５０】又同様に高エネルギーＸ線の計数をＩhi、
全単位検出素子の高エネルギーＸ線の計数の平均値をＩ
h aveとすると、高エネルギーＸ線での各単位検出素子
における計数値の平均値からのずれＫ2hiは（数７）で
計算される。
全単位検出素子の高エネルギーＸ線の計数の平均値をＩ
h aveとすると、高エネルギーＸ線での各単位検出素子
における計数値の平均値からのずれＫ2hiは（数７）で
計算される。
【００５１】
【数７】
【００５２】計算処理部２８において、各単位検出素子
毎に高、低エネルギーＸ線の計数値のずれを（数６）お
よび（数７）で求め、各々の値を保管する。
毎に高、低エネルギーＸ線の計数値のずれを（数６）お
よび（数７）で求め、各々の値を保管する。
【００５３】次いで、ベッド３７に軟組織７と骨部８か
ら成る被検体を設置する。さらに、フィルタ４をフィル
タ駆動装置３４で移動させ、軟部組織７のみを透過した
Ｘ線が入射する単位検出素子２上に配置する。
ら成る被検体を設置する。さらに、フィルタ４をフィル
タ駆動装置３４で移動させ、軟部組織７のみを透過した
Ｘ線が入射する単位検出素子２上に配置する。
【００５４】単位検出素子２に入射したＸ線は、プリア
ンプ２５、波高弁別回路２６を通じて計数回路２７で
高、低エネルギー別に分離され計数される。上記実施例
と同様に、単位検出素子２ではフィルタ４の物質量の定
量がなされる。単位検出素子２の高エネルギーＸ線の計
数をＩh22、低エネルギーＸ線の計数をＩl22 とする。
両計数値は単位検出素子間の感度ばらつきを含有した値
である。これらの計数値に（数８）および（数９）に示
すように先に求めた単位検出素子２での計数値の平均値
からのずれＫ2hiおよびＫ2liを乗算し単位検出素子間の
感度ばらつきの影響を補正し高エネルギーの計数値Ｉ
h1f低エネルギーの計数値 Ｉl1fとする。
ンプ２５、波高弁別回路２６を通じて計数回路２７で
高、低エネルギー別に分離され計数される。上記実施例
と同様に、単位検出素子２ではフィルタ４の物質量の定
量がなされる。単位検出素子２の高エネルギーＸ線の計
数をＩh22、低エネルギーＸ線の計数をＩl22 とする。
両計数値は単位検出素子間の感度ばらつきを含有した値
である。これらの計数値に（数８）および（数９）に示
すように先に求めた単位検出素子２での計数値の平均値
からのずれＫ2hiおよびＫ2liを乗算し単位検出素子間の
感度ばらつきの影響を補正し高エネルギーの計数値Ｉ
h1f低エネルギーの計数値 Ｉl1fとする。
【００５５】
【数８】
【００５６】
【数９】
【００５７】上記実施例と同様にＩh1f、Ｉl1f及び
μha、μlf、μhf、μlaを（数４）に代入しフィルタの
物質量Ｔf×ρfを計算する。（数４）についての詳細な
説明は上記実施例で述べたので省略する。
μha、μlf、μhf、μlaを（数４）に代入しフィルタの
物質量Ｔf×ρfを計算する。（数４）についての詳細な
説明は上記実施例で述べたので省略する。
【００５８】ところが上記実施例と同様に、μha、
μla、μhf、μlfは軟組織７によるビームハードニング
の影響により真値からはずれ、その結果フィルタ４の物
質量Ｔf×ρfの測定値は真値と異なる。
μla、μhf、μlfは軟組織７によるビームハードニング
の影響により真値からはずれ、その結果フィルタ４の物
質量Ｔf×ρfの測定値は真値と異なる。
【００５９】フィルタ４の密度及び厚さは予め分かって
いるので（数５）からビームハードニングの影響を補正
する為の係数Ｋ1が求められる。これらの計算は計算処
理部２８で実施される。
いるので（数５）からビームハードニングの影響を補正
する為の係数Ｋ1が求められる。これらの計算は計算処
理部２８で実施される。
【００６０】一方、軟組織７及び骨部８を透過後の高エ
ネルギーＸ線の計数値Ｉh21，低エネルギーＸ線の計数
値Ｉh21 は、単位検出素子１において同様に計数され
る。単位検出素子２の場合と同様に、（数１０）及び
（数１１）に示すように、先に求めた単位検出素子１に
おける計数値と全単位検出素子の平均値とのずれを乗算
する。
ネルギーＸ線の計数値Ｉh21，低エネルギーＸ線の計数
値Ｉh21 は、単位検出素子１において同様に計数され
る。単位検出素子２の場合と同様に、（数１０）及び
（数１１）に示すように、先に求めた単位検出素子１に
おける計数値と全単位検出素子の平均値とのずれを乗算
する。
【００６１】
【数１０】
【００６２】
【数１１】
【００６３】Ｉh1b及びＩl1bから、（数３）に基づいて
骨塩量Ｔb×ρbが計算される。単位検出素子２と同様
に、μha、μla、μhb、μblはビームハードニングの影
響を受け、計算値と真値に差が生じる。そこで（数１
２）に示すように、単位検出素子２で求めた補正係数Ｋ
１を計算値に乗算し、骨塩量とする。
骨塩量Ｔb×ρbが計算される。単位検出素子２と同様
に、μha、μla、μhb、μblはビームハードニングの影
響を受け、計算値と真値に差が生じる。そこで（数１
２）に示すように、単位検出素子２で求めた補正係数Ｋ
１を計算値に乗算し、骨塩量とする。
【００６４】
【数１２】
【００６５】補正後の骨塩量はビームハードニングの影
響が除かれるので真値に近い正確度の高いものである。
又多チャンネル型の検出器に特有の単位素子間の感度
ばらつきの影響も除かれより高い測定精度が保証され
る。また、フィルタ４を回転し、検出器上でオン、オフ
することにより補正用の単位検出素子のフィルタ有無の
信号のチェックができる。
響が除かれるので真値に近い正確度の高いものである。
又多チャンネル型の検出器に特有の単位素子間の感度
ばらつきの影響も除かれより高い測定精度が保証され
る。また、フィルタ４を回転し、検出器上でオン、オフ
することにより補正用の単位検出素子のフィルタ有無の
信号のチェックができる。
【００６６】所定の関心領域の骨塩量の分布を求めるに
は、Ｘ線イメージセンサボックス３１をＸ線イメージセ
ンサボックス駆動系３５で移動しスキャニングする。駆
動系は例えばリニアモータである。Ｘ線発生器５はアー
ム３２でＸ線イメージセンサボックス３１と連結される
のでＸ線発生器５も連動し、紙面の垂直方向にスキャニ
ングする。
は、Ｘ線イメージセンサボックス３１をＸ線イメージセ
ンサボックス駆動系３５で移動しスキャニングする。駆
動系は例えばリニアモータである。Ｘ線発生器５はアー
ム３２でＸ線イメージセンサボックス３１と連結される
のでＸ線発生器５も連動し、紙面の垂直方向にスキャニ
ングする。
【００６７】通常、Ｘ線発生器５から発生されるＸ線の
強度には時間ゆらぎがある。従って単位検出素子１、２
における高エネルギーＸ線の計数値Ｉh21、低エネルギ
ーＸ線の計数値Ｉl21 にゆらぎが生じるので、（数３）
で求めた骨塩量にはＸ線イメージセンサボックス３１の
スキャニング方向のゆらぎが誤差として含まれる。
強度には時間ゆらぎがある。従って単位検出素子１、２
における高エネルギーＸ線の計数値Ｉh21、低エネルギ
ーＸ線の計数値Ｉl21 にゆらぎが生じるので、（数３）
で求めた骨塩量にはＸ線イメージセンサボックス３１の
スキャニング方向のゆらぎが誤差として含まれる。
【００６８】スキャニング中フィルタ４が常時単位検出
素子２のＸ線入射面を覆い単位検出素子１での骨塩量の
測定と同時に単位検出素子２でのフィルタ４の物質量が
（数４）に従って測定される。
素子２のＸ線入射面を覆い単位検出素子１での骨塩量の
測定と同時に単位検出素子２でのフィルタ４の物質量が
（数４）に従って測定される。
【００６９】単位検出素子２でも単位検出素子１と同様
にＸ線発生器５のＸ線強度のゆらぎが高低両エネルギー
の計数値Ｉh22、Ｉl22 のゆらぎとなり、得られたフィ
ルタ４の物質量には骨塩量と同一のゆらぎが含まれる。
にＸ線発生器５のＸ線強度のゆらぎが高低両エネルギー
の計数値Ｉh22、Ｉl22 のゆらぎとなり、得られたフィ
ルタ４の物質量には骨塩量と同一のゆらぎが含まれる。
【００７０】フィルタ４の物質量は既知であるので（数
５）の計算により、ゆらぎによる測定値の変動量も求め
られる。（数５）より求められる補正計数Ｋ１を、各Ｘ
線イメージセンサボックス３１のスキャニング方向の各
測定ライン毎に求め、単位検出素子１での骨塩量に補正
計数Ｋ１を乗算すれば、Ｘ線のゆらぎの影響が補正され
正確度のより高い骨塩量が求められる。
５）の計算により、ゆらぎによる測定値の変動量も求め
られる。（数５）より求められる補正計数Ｋ１を、各Ｘ
線イメージセンサボックス３１のスキャニング方向の各
測定ライン毎に求め、単位検出素子１での骨塩量に補正
計数Ｋ１を乗算すれば、Ｘ線のゆらぎの影響が補正され
正確度のより高い骨塩量が求められる。
【００７１】また、サンプリング毎に補正係数が求めら
れる為、測定中にスキャニング方向に被検体の厚さが変
化する場合においても、厚さの変化に対応した補正がな
されるので骨塩量の正確な分布が測定される。
れる為、測定中にスキャニング方向に被検体の厚さが変
化する場合においても、厚さの変化に対応した補正がな
されるので骨塩量の正確な分布が測定される。
【００７２】以上述べた実施例では、フィルタ４の材料
をＡｌで説明したが、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウ
ム、ヨウ化カリウム等の骨等価材料であれば良い。
をＡｌで説明したが、炭酸カルシウム、燐酸水素カリウ
ム、ヨウ化カリウム等の骨等価材料であれば良い。
【００７３】また、単位検出素子をＣｄＴｅ放射線検出
器として説明したがこれに限らず、Ｓｉ，Ｇｅ，ＧａＡ
ｓ等の他の半導体放射線検出器、シンチレーション検出
器、電離箱検出器等の放射線の検出が可能な検出器であ
れば良い。
器として説明したがこれに限らず、Ｓｉ，Ｇｅ，ＧａＡ
ｓ等の他の半導体放射線検出器、シンチレーション検出
器、電離箱検出器等の放射線の検出が可能な検出器であ
れば良い。
【００７４】またＫエッジフィルタ材料もＮｄに限らな
い。またＸ線管の管電圧も８０ｋＶに限らない。また、
放射線の検出方式もパルス計数方式に鍵らない。また単
位検出素子の形状や配列様式も図で限定したものに限ら
れないことは言うまでもない。
い。またＸ線管の管電圧も８０ｋＶに限らない。また、
放射線の検出方式もパルス計数方式に鍵らない。また単
位検出素子の形状や配列様式も図で限定したものに限ら
れないことは言うまでもない。
【００７５】また、目的物質を生体組織の骨部として説
明したがこれに限らず、例えばプラスチック中の銅の定
量を行うには、フィルタ４の材料を銅とすれば良い。
明したがこれに限らず、例えばプラスチック中の銅の定
量を行うには、フィルタ４の材料を銅とすれば良い。
【００７６】また異なるエネルギーのＸ線の発生させる
方法としてＫ吸収端を利用したがこれに限らず、Ｘ線の
管電圧を切り替える方法等の２種類以上の異なるエネル
ギーのＸ線を発生できる方法であれば良い。又Ｘ線のエ
ネルギー種類も２種類以上でも良い。 またフィルタ４
の定量を行う単位検出素子は多数個でも良い。
方法としてＫ吸収端を利用したがこれに限らず、Ｘ線の
管電圧を切り替える方法等の２種類以上の異なるエネル
ギーのＸ線を発生できる方法であれば良い。又Ｘ線のエ
ネルギー種類も２種類以上でも良い。 またフィルタ４
の定量を行う単位検出素子は多数個でも良い。
【００７７】
【発明の効果】以上述べた様に、本発明によれば、Ｘ線
のビ−ムハードニングの影響を除かれ、また被検体の厚
さに依存せずに正確な物質量の定量がなされる。
のビ−ムハードニングの影響を除かれ、また被検体の厚
さに依存せずに正確な物質量の定量がなされる。
【図１】本発明のＸ線イメージセンサの一実施例の構成
を示す外観図
を示す外観図
【図２】本発明のＸ線検査装置の一実施例を示す構成図
【図３】本発明のＸ線検査装置の他の実施例を示す構成
図
図
【図４】本発明のＸ線検査装置の更に他の実施例を示す
構成図
構成図
１、２ 単位検出素子 ４ フィルタ ５ Ｘ線発生器 ６ Ｘ線イメージセンサ ７ 軟組織 ８ 骨部 ２４ Ｋエッジフィルタ ２５ プリアンプ ２６ 波高弁別回路 ２７ 計数回路 ２８ 計算処理部 ２９ データ表示部 ３０ 入力部 ３１ Ｘ線イメージセンサボックス ３２ アーム ３３ フィルタ駆動系 ３４ フィルタ駆動方向 ３５ Ｘ線イメージセンサボックス駆動系 ３６ Ｘ線イメージセンサボックス駆動方向 ４４ フィルタ回転機構 ３７ ベッド
フロントページの続き (72)発明者 馬場 末喜 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内
Claims (4)
- 【請求項１】１次元に配列された複数個の単位検出素子
と、その一部の単位検出素子のＸ線入射側に設けられ、
測定しようとする物質または材料のＸ線吸収係数に同じ
もしくは近いＸ線吸収係数を有するフィルタと、フィル
タの回転機構と、回転同期検出部を備えたことを特徴と
するＸ線イメージセンサ。 - 【請求項２】フィルタ材料が、生体骨組織のＸ線吸収係
数と同じもしくは近いＸ線吸収係数を有する材料からな
ることを特徴とする請求項１記載のＸ線イメージセン
サ。 - 【請求項３】Ｘ線を発生するＸ線発生器と、１次元に配
列された複数個の単位検出素子と、その一部の単位検出
素子のＸ線入射側に設けられ、測定しようとする物質ま
たは材料のＸ線吸収係数に同じもしくは近いＸ線吸収係
数を有するフィルタと、フィルタの回転機構と、回転同
期検出部と、Ｘ線管と同期して被検体を走査する可動部
と、そのＸ線イメージセンサの出力について演算処理を
行う計算処理部と、その演算処理結果を表示するデータ
表示部を備え、被検体の測定とともにフィルタの物質含
有量を測定して前記被検体の物質含有量の測定値の補正
を行うことを特徴とするＸ線検査装置。 - 【請求項４】Ｘ線イメージセンサをラインスキャニング
し被検体の物質含有量を測定する際に、ライン毎に測定
される物質含有量に対してフィルタの測定による補正を
行う事を特徴とする請求項３記載のＸ線検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3200627A JP2940243B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | Ｘ線イメージセンサ及びｘ線検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3200627A JP2940243B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | Ｘ線イメージセンサ及びｘ線検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0545470A true JPH0545470A (ja) | 1993-02-23 |
| JP2940243B2 JP2940243B2 (ja) | 1999-08-25 |
Family
ID=16427527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3200627A Expired - Fee Related JP2940243B2 (ja) | 1991-08-09 | 1991-08-09 | Ｘ線イメージセンサ及びｘ線検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2940243B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20000007400A (ko) * | 1998-07-03 | 2000-02-07 | 윤종용 | 단층사진 촬영 시스템의 영상 획득방법 |
| JP2013541350A (ja) * | 2010-07-29 | 2013-11-14 | サムスン エレクトロニクス カンパニー リミテッド | 映像処理方法及びその装置、並びにそれを採用した医療映像システム |
| CN107895390A (zh) * | 2017-08-28 | 2018-04-10 | 深圳联影医疗科技有限公司 | 电子计算机断层扫描图像数据处理系统及方法 |
-
1991
- 1991-08-09 JP JP3200627A patent/JP2940243B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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