JPH0537210Y2 - - Google Patents
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- JPH0537210Y2 JPH0537210Y2 JP18255086U JP18255086U JPH0537210Y2 JP H0537210 Y2 JPH0537210 Y2 JP H0537210Y2 JP 18255086 U JP18255086 U JP 18255086U JP 18255086 U JP18255086 U JP 18255086U JP H0537210 Y2 JPH0537210 Y2 JP H0537210Y2
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- measuring tube
- electromagnetic flowmeter
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Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本考案は、セラミツクス製の測定管を有するセ
ラミツクス電磁流量計に関するものである。
ラミツクス電磁流量計に関するものである。
更に詳述すれば、セラミツクスの測定管を有す
るセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に関
するものである。
るセラミツクス電磁流量計の電極部分の改良に関
するものである。
(従来の技術)
第5図は従来より一般に使用されている従来例
の構成説明図である。
の構成説明図である。
図において、1はセラミツクス製の円筒状の測
定管である。11,12は測定管1に対向して配
置され導電性粉末を混合し測定管1と一体に焼成
して形成された柱状のサーメツトの電極である。
定管である。11,12は測定管1に対向して配
置され導電性粉末を混合し測定管1と一体に焼成
して形成された柱状のサーメツトの電極である。
(考案が解決しようとする問題点)
このような電極においては、
導電性粉末の材質としては、導電性粉末の融点
が、セラミツク製の測定管の焼成温度より高いこ
と、かつ、高耐食性を有することが必要で、たと
えば、アルミナ(Al2O3)、ジルコニア(ZrO2)
等の酸化物セラミツクスに白金(Pt)あるいは
パラジウム(Pd)を混合する組み合わせが適当
である。
が、セラミツク製の測定管の焼成温度より高いこ
と、かつ、高耐食性を有することが必要で、たと
えば、アルミナ(Al2O3)、ジルコニア(ZrO2)
等の酸化物セラミツクスに白金(Pt)あるいは
パラジウム(Pd)を混合する組み合わせが適当
である。
次に、混合する導電性粉末の割合は、シール性
能の信頼性及びコストの面からは導電性が得られ
る範囲内でなるべく少い方が良い。電極部11,
12と測定管1との境界でのシール性能からは、
導電性微粉末の含有率は少なければ少いほどよ
い。なぜならば、含有率が増すほど焼成時の収縮
率が小さくなり、周囲の素地セラミツクスとの収
縮率差が大きくなり、シール性の信頼性が低下す
る。このため、導電性が得られる範囲内で含有率
はなるべく少い方がよい。
能の信頼性及びコストの面からは導電性が得られ
る範囲内でなるべく少い方が良い。電極部11,
12と測定管1との境界でのシール性能からは、
導電性微粉末の含有率は少なければ少いほどよ
い。なぜならば、含有率が増すほど焼成時の収縮
率が小さくなり、周囲の素地セラミツクスとの収
縮率差が大きくなり、シール性の信頼性が低下す
る。このため、導電性が得られる範囲内で含有率
はなるべく少い方がよい。
すなわち、一体に焼成される際に発生するセラ
ミツク材よりなる測定管1の収縮は第6図に示す
如く、電極11,12の半径方向のX方向及び電
極11,12の軸方向Yとがある。電極11,1
2の導電性微粉末の体積含有率が高いと、セラミ
ツク材よりなる測定管1に比べて殆んど収縮しな
いため、その境界には、収縮Yによるせん断応力
が、さらに境界近傍の測定管側には、収縮Xによ
り周方向の引張り応力が発生する。このように応
力の発生した状態で、セラミツクスの焼成が進む
ため、境界にはクラツクが発生しやすく、このク
ラツクが漏れ孔を形成し十分な気密性が確保でき
ない。
ミツク材よりなる測定管1の収縮は第6図に示す
如く、電極11,12の半径方向のX方向及び電
極11,12の軸方向Yとがある。電極11,1
2の導電性微粉末の体積含有率が高いと、セラミ
ツク材よりなる測定管1に比べて殆んど収縮しな
いため、その境界には、収縮Yによるせん断応力
が、さらに境界近傍の測定管側には、収縮Xによ
り周方向の引張り応力が発生する。このように応
力の発生した状態で、セラミツクスの焼成が進む
ため、境界にはクラツクが発生しやすく、このク
ラツクが漏れ孔を形成し十分な気密性が確保でき
ない。
また、焼成直後では、漏れ孔を形成するまでの
クラツクには至らなかつたとしても、境界部分に
は、応力が残留していることとなり、その後、使
用中に生じる繰り返し応力、たとえば、熱衝撃等
により漏れ孔が形成されることがあり、シール性
の信頼性に問題がある。
クラツクには至らなかつたとしても、境界部分に
は、応力が残留していることとなり、その後、使
用中に生じる繰り返し応力、たとえば、熱衝撃等
により漏れ孔が形成されることがあり、シール性
の信頼性に問題がある。
またコストの面からは、白金やパラジウム等の
高価な金属粉末を使用する場合、特に少ない方が
よい。
高価な金属粉末を使用する場合、特に少ない方が
よい。
一方、接液部の電気抵抗は、導電性粉末の体積
含有率が高い方が小さくなる。なぜならば、接液
抵抗は導電性微粉末と測定流体との接触面積が大
きいほど、小さくなるからである。
含有率が高い方が小さくなる。なぜならば、接液
抵抗は導電性微粉末と測定流体との接触面積が大
きいほど、小さくなるからである。
接液インピーダンスが大きくなると、性能面に
関し、次の問題点が発生する。
関し、次の問題点が発生する。
第7図において、enは外部の誘導電圧、Zsは信
号源インピーダンス、Zoは誘導源と信号源間のイ
ンピーダンスとする。ここで、サーメツト電極1
1,12内の抵抗は、導電性物質の連続相が形成
させることにより導電性を得ているため、十分小
さく無視できる(導電性物質の導電性とほぼ同
じ。) 検出器からの誘導による出力電圧eは e=Zs/Zs+Zoeo となり、信号源インピーダンスZsが大きいほど、
誘導の影響を受け易いことになる。信号源インピ
ーダンスZsは、測定液のインピーダンスと接液イ
ンピーダンスの和である。したがつて、接液イン
ピーダンスが大きくなると、信号源インピーダン
スZsは大きくなる。
号源インピーダンス、Zoは誘導源と信号源間のイ
ンピーダンスとする。ここで、サーメツト電極1
1,12内の抵抗は、導電性物質の連続相が形成
させることにより導電性を得ているため、十分小
さく無視できる(導電性物質の導電性とほぼ同
じ。) 検出器からの誘導による出力電圧eは e=Zs/Zs+Zoeo となり、信号源インピーダンスZsが大きいほど、
誘導の影響を受け易いことになる。信号源インピ
ーダンスZsは、測定液のインピーダンスと接液イ
ンピーダンスの和である。したがつて、接液イン
ピーダンスが大きくなると、信号源インピーダン
スZsは大きくなる。
以上の結果、導電性微粉末の含有率が小さすぎ
ると、耐ノイズ性能を確保することができない。
ると、耐ノイズ性能を確保することができない。
本考案は、この問題点を解決するものである。
本考案の目的は、電極部の良導電性を確保しつ
つ、シール性について高信頼性を確保し得るセラ
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
つ、シール性について高信頼性を確保し得るセラ
ミツクス電磁流量計を提供するにある。
(問題点を解決するための手段)
この目的を達成するために、本考案は、測定流
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電
磁流量計において、前記電極部が白金あるいはパ
ラジウムの体積含有率が20〜50%に混入されたセ
ラミツクスよりなることを特徴とするセラミツク
ス電磁流量計を構成したものである。
体が流れるセラミツクス製の測定管中の電極部に
導電性物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電
磁流量計において、前記電極部が白金あるいはパ
ラジウムの体積含有率が20〜50%に混入されたセ
ラミツクスよりなることを特徴とするセラミツク
ス電磁流量計を構成したものである。
(作用)
以上の構成において、電極部の白金あるいはパ
ラジウムの体積含有率が50%以下であるので、電
極部と測定管との焼成時の収縮量差が小さくな
り、測定管と電極部とのシール性について高い信
頼性は得られコストの上昇を抑えることができる
と共に、体積含有率を20%以上にしたので確実な
導通性も得られる。
ラジウムの体積含有率が50%以下であるので、電
極部と測定管との焼成時の収縮量差が小さくな
り、測定管と電極部とのシール性について高い信
頼性は得られコストの上昇を抑えることができる
と共に、体積含有率を20%以上にしたので確実な
導通性も得られる。
以下、実施例に基づき詳細に説明する。
(実施例)
第1図は、本考案の一実施例の要部構成説明図
である。
である。
図において、第5図と同一記号は同一機能を示
す。
す。
以下、第5図と相違部分のみ説明する。
図において、2は電極である。電極2は20〜50
%の体積含有率の白金あるいはパラジウムの粉末
が混合されたセラミツクよりなり、測定管1と一
体に焼成されている。測定管1は、この場合は、
アルミナ(Al2O3)あるいはジルコニア(ZrO2)
等の酸化物セラミツクスが用いられている。
%の体積含有率の白金あるいはパラジウムの粉末
が混合されたセラミツクよりなり、測定管1と一
体に焼成されている。測定管1は、この場合は、
アルミナ(Al2O3)あるいはジルコニア(ZrO2)
等の酸化物セラミツクスが用いられている。
以上の構成において、前述の如く、埋め込まれ
る電極部とセラミツク材よりなる測定管1との間
の、焼成時に発生する収縮率の差は少くすること
が必要である。
る電極部とセラミツク材よりなる測定管1との間
の、焼成時に発生する収縮率の差は少くすること
が必要である。
例として、第2図に、白金とアルミナの混合体
の収縮率と、白金の体積含有率の関係を示す。こ
こで、白金の平均粒子径を50μm、アルミナの平
均粒子0.6μm、を1ton/cm2の圧力で成形した場合
を示す。但し、セラミツク測定管1の成形は、二
次粒子化された数十μmの顆粒を使用する。第2
図から、わかるように、白金の体積含有率が増す
ほど、測定管1との収縮率の差が大きくなる。よ
つて、含有率が小さければ、小さいほど、測定管
と電極部との境界付近に無理な応力が発生しにく
いことがわかる。
の収縮率と、白金の体積含有率の関係を示す。こ
こで、白金の平均粒子径を50μm、アルミナの平
均粒子0.6μm、を1ton/cm2の圧力で成形した場合
を示す。但し、セラミツク測定管1の成形は、二
次粒子化された数十μmの顆粒を使用する。第2
図から、わかるように、白金の体積含有率が増す
ほど、測定管1との収縮率の差が大きくなる。よ
つて、含有率が小さければ、小さいほど、測定管
と電極部との境界付近に無理な応力が発生しにく
いことがわかる。
次に、電磁流量計の電極として機能するために
は、電極11,12はセラミツク内に白金の連続
相が生成され、電気的に導通を有することが必要
となる。一般に、セラミツク内に混合される白金
の体積含有率は、大きくなるほど、連続白金相は
生成されやすく、20%以上の体積含有率を有すれ
ば、確実な導通が得られる。
は、電極11,12はセラミツク内に白金の連続
相が生成され、電気的に導通を有することが必要
となる。一般に、セラミツク内に混合される白金
の体積含有率は、大きくなるほど、連続白金相は
生成されやすく、20%以上の体積含有率を有すれ
ば、確実な導通が得られる。
さらに、白金等を混合した電極部分11,12
の焼結体の気孔率が問題となる。気孔率が大きく
なると、それぞれの気孔が電極部分内部で連続
し、漏れ孔を形成し、シール性能が低下する。こ
の気孔率に関しては、白金の体積含有率が増すほ
ど大きくなる傾向があり、体積含有率が50%を越
えたあたりから連続気孔が生成することが実験的
にわかつた。これは白金(パナジウム)の方が、
セラミツクスに比べ低い温度から焼結(癒着)し
始める。(白金の場合500〜700℃、アルミナの場
合1100〜1200℃)。このため、白金部の収縮の方
が早く始まり、周囲のセラミツクス粒子を動か
す。そこで、セラミツクスの成形密度が低下し、
焼結が不十分になるためと推定できる。
の焼結体の気孔率が問題となる。気孔率が大きく
なると、それぞれの気孔が電極部分内部で連続
し、漏れ孔を形成し、シール性能が低下する。こ
の気孔率に関しては、白金の体積含有率が増すほ
ど大きくなる傾向があり、体積含有率が50%を越
えたあたりから連続気孔が生成することが実験的
にわかつた。これは白金(パナジウム)の方が、
セラミツクスに比べ低い温度から焼結(癒着)し
始める。(白金の場合500〜700℃、アルミナの場
合1100〜1200℃)。このため、白金部の収縮の方
が早く始まり、周囲のセラミツクス粒子を動か
す。そこで、セラミツクスの成形密度が低下し、
焼結が不十分になるためと推定できる。
以上の理由により、白金と20〜50%の体積含有
率でセラミツクスと混合一体焼成することによ
り、測定管1と電極11,12の収縮量の差を減
少でき、測定管1と電極11,12とのシール性
について、高い信頼性を有する電極部を構成する
ことができる。
率でセラミツクスと混合一体焼成することによ
り、測定管1と電極11,12の収縮量の差を減
少でき、測定管1と電極11,12とのシール性
について、高い信頼性を有する電極部を構成する
ことができる。
なお、白金あるいはパラジウムの導電性物質に
対して、セラミツク材質として、アルミナ(Al2
O3)、ジルコニア(ZrO2)等の酸化物セラミツク
スが用いられれば、測定管1と電極11,12の
より強固な接合が得られる。すなわち、白金の融
点が1770℃であり、パラジウムの融点が1550℃で
あり、セラミツクスの焼成温度が1400℃〜1700℃
であるので、白金の場合は1700℃以下、パラジウ
ムの場合は1550℃以下すなわち、混合金属粉末の
融点以下でセラミツクスの焼成が可能であるこ
と。固相接合等の技術で知られるように、酸化物
セラミツクスと白金、パラジウムが高温下で化学
的に接合すること(特公昭57−11879号「金属と
セラミツク材料との化学結合」に詳細が述べられ
ている)。またさらに、電磁流量計の電極として
十分な耐食性を白金、パラジウムが有することに
よる。
対して、セラミツク材質として、アルミナ(Al2
O3)、ジルコニア(ZrO2)等の酸化物セラミツク
スが用いられれば、測定管1と電極11,12の
より強固な接合が得られる。すなわち、白金の融
点が1770℃であり、パラジウムの融点が1550℃で
あり、セラミツクスの焼成温度が1400℃〜1700℃
であるので、白金の場合は1700℃以下、パラジウ
ムの場合は1550℃以下すなわち、混合金属粉末の
融点以下でセラミツクスの焼成が可能であるこ
と。固相接合等の技術で知られるように、酸化物
セラミツクスと白金、パラジウムが高温下で化学
的に接合すること(特公昭57−11879号「金属と
セラミツク材料との化学結合」に詳細が述べられ
ている)。またさらに、電磁流量計の電極として
十分な耐食性を白金、パラジウムが有することに
よる。
本考案のセラミツクス電磁流量計は、たとえ
ば、以下の如き方法により製作する。
ば、以下の如き方法により製作する。
第3図及び第4図に示す如く、ゴム型20に設
けられた孔29より薄肉チユーブ27を、その端
部が中芯17に接するように挿入する。ここで、
薄肉チユーブ27内には、測定管1と同材質のセ
ラミツクス粉末と白金又はパラジウムの粉末とを
20〜50%で混合したもの26が、さらに必要長さ
以上の部分には、セラミツクス粉末25が充填さ
れ、外側より棒28でおさえられている。
けられた孔29より薄肉チユーブ27を、その端
部が中芯17に接するように挿入する。ここで、
薄肉チユーブ27内には、測定管1と同材質のセ
ラミツクス粉末と白金又はパラジウムの粉末とを
20〜50%で混合したもの26が、さらに必要長さ
以上の部分には、セラミツクス粉末25が充填さ
れ、外側より棒28でおさえられている。
この状態で、上部よりセラミツクス粉末25を
ゴム型20内に充填し、上蓋15(図示せず)を
中芯17とゴム型20に嵌め込む。この後、棒2
8を固定した状態で薄肉チユーブ27を引き抜
き、さらに、その後、棒28を抜き、孔29に、
ゴムせん30を挿入し、静水圧Pにより一体成形
する。
ゴム型20内に充填し、上蓋15(図示せず)を
中芯17とゴム型20に嵌め込む。この後、棒2
8を固定した状態で薄肉チユーブ27を引き抜
き、さらに、その後、棒28を抜き、孔29に、
ゴムせん30を挿入し、静水圧Pにより一体成形
する。
(考案の効果)
以上説明したように、本考案は、測定流体が流
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が白金あるいはパラジウ
ムの体積含有率が20〜50%に混入されたセラミツ
クスよりなることを特徴とするセラミツクス電磁
流量計を構成したので、埋込まれた電極部と測定
管との焼成時の収縮量差が小さくなり、接合境界
部に発生する応力が軽減できるため、接合部分の
シール性に高い信頼性を有するセラミツクス電磁
流量計が実現できる。また、体積含有率を20〜50
%としたので、含有率100%とする場合に比して、
導電性は確保しつつ低コストのセラミツクス電磁
流量計を得ることができる。
れるセラミツクス製の測定管中の電極部に導電性
物質が埋め込み焼成されたセラミツクス電磁流量
計において、前記電極部が白金あるいはパラジウ
ムの体積含有率が20〜50%に混入されたセラミツ
クスよりなることを特徴とするセラミツクス電磁
流量計を構成したので、埋込まれた電極部と測定
管との焼成時の収縮量差が小さくなり、接合境界
部に発生する応力が軽減できるため、接合部分の
シール性に高い信頼性を有するセラミツクス電磁
流量計が実現できる。また、体積含有率を20〜50
%としたので、含有率100%とする場合に比して、
導電性は確保しつつ低コストのセラミツクス電磁
流量計を得ることができる。
したがつて、本考案によれば、電極部の良導電
性を確保しつつ、シール性について高信頼性を確
保し得るセラミツクス電磁流量計を実現すること
ができる。
性を確保しつつ、シール性について高信頼性を確
保し得るセラミツクス電磁流量計を実現すること
ができる。
第1図は本考案の一実施例の構成説明図、第2
図は第1図の動作説明図、第3図、第4図は第1
図の製造方法の説明図、第5図は従来より一般に
使用されている従来例の構成説明図、第6図、第
7図は第5図の動作説明図である。
図は第1図の動作説明図、第3図、第4図は第1
図の製造方法の説明図、第5図は従来より一般に
使用されている従来例の構成説明図、第6図、第
7図は第5図の動作説明図である。
Claims (1)
- 測定流体が流れるセラミツクス製の測定管中の
電極部に導電性物質が埋め込み焼成されたセラミ
ツクス電磁流量計において、前記電極部が白金あ
るいはパラジウムの体積含有率が20〜50%に混入
されたセラミツクスよりなることを特徴とするセ
ラミツクス電磁流量計。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18255086U JPH0537210Y2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18255086U JPH0537210Y2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6387521U JPS6387521U (ja) | 1988-06-07 |
JPH0537210Y2 true JPH0537210Y2 (ja) | 1993-09-21 |
Family
ID=31128452
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18255086U Expired - Lifetime JPH0537210Y2 (ja) | 1986-11-27 | 1986-11-27 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0537210Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19837953C2 (de) * | 1998-08-21 | 2000-10-05 | Friatec Ag | Verfahren zur Herstellung eines Keramikbauteils mit einem Cermet-Körper |
-
1986
- 1986-11-27 JP JP18255086U patent/JPH0537210Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6387521U (ja) | 1988-06-07 |
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