JPH0536536A - 平面インダクタンス部品 - Google Patents
平面インダクタンス部品Info
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- JPH0536536A JPH0536536A JP3193904A JP19390491A JPH0536536A JP H0536536 A JPH0536536 A JP H0536536A JP 3193904 A JP3193904 A JP 3193904A JP 19390491 A JP19390491 A JP 19390491A JP H0536536 A JPH0536536 A JP H0536536A
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- coil
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 平面コイルを強磁性層で挟んで成る平面イン
ダクタにおいて、スパイラル状導体コイルの一部を細長
く突出させることにより、作成が容易で優れた高周波特
性を持つ平面インダクタを実現する。 【構成】 フェライト板11a上に厚さ10μmのアル
ミニウム膜からなる角型のスパイラル状導体コイル12
と入出力端子13a,13bが形成されている。スパイ
ラル状導体コイル12に電極引出しのための突出部14
が形成されていることが本発明の特徴である。突出部1
4の内側にある内側端15は金ワイヤー16により入出
力端子13bと接続されている。上記構成は、スパイラ
ル状導体コイル12をフェライト板11a,11bが密
着して挟む単純な構成であり、作成が容易なものであ
る。
ダクタにおいて、スパイラル状導体コイルの一部を細長
く突出させることにより、作成が容易で優れた高周波特
性を持つ平面インダクタを実現する。 【構成】 フェライト板11a上に厚さ10μmのアル
ミニウム膜からなる角型のスパイラル状導体コイル12
と入出力端子13a,13bが形成されている。スパイ
ラル状導体コイル12に電極引出しのための突出部14
が形成されていることが本発明の特徴である。突出部1
4の内側にある内側端15は金ワイヤー16により入出
力端子13bと接続されている。上記構成は、スパイラ
ル状導体コイル12をフェライト板11a,11bが密
着して挟む単純な構成であり、作成が容易なものであ
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は平面インダクタ,平面ト
ランス等の平面インダクタンス部品に関するものであ
る。
ランス等の平面インダクタンス部品に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】近年、電子機器の小型化,薄型化が進め
られており、インダクタ,トランスにもより一層の小型
化が求められている。現在、上記目的を達成するための
ものとして平面コイルと強磁性体層を積層した平面イン
ダクタ,平面トランスが提案されている。
られており、インダクタ,トランスにもより一層の小型
化が求められている。現在、上記目的を達成するための
ものとして平面コイルと強磁性体層を積層した平面イン
ダクタ,平面トランスが提案されている。
【0003】以下、従来の平面インダクタについて説明
する。図10(a)は従来のスパイラル状導体コイルを
用いた平面インダクタの構成を示す平面図、図10
(b)は図10(a)のB−B′断面図である。
する。図10(a)は従来のスパイラル状導体コイルを
用いた平面インダクタの構成を示す平面図、図10
(b)は図10(a)のB−B′断面図である。
【0004】図10(a),(b)を用いて説明する
と、強磁性体層1aの上に絶縁体層2aを介してスパイ
ラル状導体コイル3及び入出力端子4a,4bが形成さ
れている。このスパイラル状導体コイル3上に絶縁体層
2bが形成され、絶縁体層2bに形成されたスルーホー
ル5から引出し電極6が引き出され、前記入出力端子4
bにつながっている。さらにスパイラル状導体コイル3
及び引出し電極6を覆うように絶縁体層2b上に絶縁体
層2cが形成され、その上に強磁性体層1bが形成され
た構成になっている。なお、説明の都合上、図10
(a)においては強磁性体層1bを切り欠いて下のスパ
イラル状導体コイル3及び引出し電極6のみが見える図
とした。
と、強磁性体層1aの上に絶縁体層2aを介してスパイ
ラル状導体コイル3及び入出力端子4a,4bが形成さ
れている。このスパイラル状導体コイル3上に絶縁体層
2bが形成され、絶縁体層2bに形成されたスルーホー
ル5から引出し電極6が引き出され、前記入出力端子4
bにつながっている。さらにスパイラル状導体コイル3
及び引出し電極6を覆うように絶縁体層2b上に絶縁体
層2cが形成され、その上に強磁性体層1bが形成され
た構成になっている。なお、説明の都合上、図10
(a)においては強磁性体層1bを切り欠いて下のスパ
イラル状導体コイル3及び引出し電極6のみが見える図
とした。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
図10(a),(b)に示す構成では、真空成膜プロセ
スを用いて作成する場合、下地に凹凸があると、その上
に形成される膜にも同様の凹凸が出来やすい。特にスパ
イラル状導体コイル3の上に膜が4層形成されるので作
成プロセスは非常に複雑なものとなるが、とりわけ強磁
性体層1a,1bは膜に凹凸があると軟磁気特性が落ち
る原因となるので、平坦性は重要である。
図10(a),(b)に示す構成では、真空成膜プロセ
スを用いて作成する場合、下地に凹凸があると、その上
に形成される膜にも同様の凹凸が出来やすい。特にスパ
イラル状導体コイル3の上に膜が4層形成されるので作
成プロセスは非常に複雑なものとなるが、とりわけ強磁
性体層1a,1bは膜に凹凸があると軟磁気特性が落ち
る原因となるので、平坦性は重要である。
【0006】また、強磁性体層1a,1bが絶縁体であ
れば絶縁体層2a,2bは省略でき薄型化が図れるが、
その場合、強磁性体層1bに凸部が生じてしまい、上記
の問題点が原因となる。
れば絶縁体層2a,2bは省略でき薄型化が図れるが、
その場合、強磁性体層1bに凸部が生じてしまい、上記
の問題点が原因となる。
【0007】さらに、スパイラル状導体コイル3と強磁
性体層1aの間隔は自由に制御できるが、スパイラル状
導体コイル3と強磁性体層1bの間隔は引出し電極6が
存在するので自由に制御できず、磁気回路の設計に制約
が生じるという問題点を有する。
性体層1aの間隔は自由に制御できるが、スパイラル状
導体コイル3と強磁性体層1bの間隔は引出し電極6が
存在するので自由に制御できず、磁気回路の設計に制約
が生じるという問題点を有する。
【0008】本発明は上記問題点を解決するもので、小
型かつ薄型で、軟磁気特性の劣化のない平面インダクタ
ンス部品を提供することを目的とする。
型かつ薄型で、軟磁気特性の劣化のない平面インダクタ
ンス部品を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明は基板上に設けたスパイラル状のコイル導体
からなるインダクタンスと、このコイル導体の外側端と
内側端にそれぞれ接続するように前記基板上に設けられ
た一対の入出力端子と、前記コイル導体を上下から挟む
ように設けた強磁性体層とを備え、前記コイル導体の内
側端を強磁性体層の外側に突出させるとともにこの内側
端と入出力端子との間に位置するコイル導体を強磁性体
層の外側に突出させ、かつコイル導体の内側端を入出力
端子の一方に接続したものである。
に、本発明は基板上に設けたスパイラル状のコイル導体
からなるインダクタンスと、このコイル導体の外側端と
内側端にそれぞれ接続するように前記基板上に設けられ
た一対の入出力端子と、前記コイル導体を上下から挟む
ように設けた強磁性体層とを備え、前記コイル導体の内
側端を強磁性体層の外側に突出させるとともにこの内側
端と入出力端子との間に位置するコイル導体を強磁性体
層の外側に突出させ、かつコイル導体の内側端を入出力
端子の一方に接続したものである。
【0010】
【作用】本発明によれば、作成が容易で小型かつ薄型の
平面インダクタンス部品を得ることが出来る。
平面インダクタンス部品を得ることが出来る。
【0011】
【実施例】以下、本発明の一実施例の平面インダクタン
ス部品として平面インダクタを例にとって図面を参照し
ながら説明する。
ス部品として平面インダクタを例にとって図面を参照し
ながら説明する。
【0012】(実施例1)図1(a)は本発明の第1の
実施例における平面インダクタの構成を示す平面図、図
1(b)は図1aのB−B′線における断面図、図1
(c)は図1(a)のC−C′線における断面図であ
る。
実施例における平面インダクタの構成を示す平面図、図
1(b)は図1aのB−B′線における断面図、図1
(c)は図1(a)のC−C′線における断面図であ
る。
【0013】図1(a),(b),(c)を用いて説明
すると、Ni−Zn−Cuフェライト粉を焼結させて形
成した厚さ400μmのフェライト板11a上に厚さ1
0μmのアルミニウム膜からなる角型のスパイラル状導
体コイル12と、このスパイラル状導体コイル12の内
側端15と外側端にそれぞれ接続される入出力端子13
a,13bが形成されている。そしてスパイラル状導体
コイル12にはその上にフェライト板11bが形成され
ている。また前記内側端15と入出力端子13bとの間
に位置するスパイラル状導体コイル12はフェライト板
11bの外側に突出させて突出部14が形成されてい
る。また内側端15は金ワイヤー16により入出力端子
13bと接続されている。この接続はワイヤーボンディ
ング法により容易に行える。本実施例において導体材料
としてアルミニウムを用いたのはワイヤーボンディング
を容易にするためである。なお、ワイヤーボンディング
を容易にするためには、表面が金またはアルミニウムで
あればよい。さらに、突出部14の金ワイヤー16が接
続されている部分を露出させるように厚さ400μmの
フェライト板11bがスパイラル状導体コイル12上に
密着している。なお、説明の都合上、図1aにおいては
フェライト板11bの下にスパイラル状導体コイル12
が見える図とした。
すると、Ni−Zn−Cuフェライト粉を焼結させて形
成した厚さ400μmのフェライト板11a上に厚さ1
0μmのアルミニウム膜からなる角型のスパイラル状導
体コイル12と、このスパイラル状導体コイル12の内
側端15と外側端にそれぞれ接続される入出力端子13
a,13bが形成されている。そしてスパイラル状導体
コイル12にはその上にフェライト板11bが形成され
ている。また前記内側端15と入出力端子13bとの間
に位置するスパイラル状導体コイル12はフェライト板
11bの外側に突出させて突出部14が形成されてい
る。また内側端15は金ワイヤー16により入出力端子
13bと接続されている。この接続はワイヤーボンディ
ング法により容易に行える。本実施例において導体材料
としてアルミニウムを用いたのはワイヤーボンディング
を容易にするためである。なお、ワイヤーボンディング
を容易にするためには、表面が金またはアルミニウムで
あればよい。さらに、突出部14の金ワイヤー16が接
続されている部分を露出させるように厚さ400μmの
フェライト板11bがスパイラル状導体コイル12上に
密着している。なお、説明の都合上、図1aにおいては
フェライト板11bの下にスパイラル状導体コイル12
が見える図とした。
【0014】このようにフェライト板11a,11bが
スパイラル状導体コイル12を密着して挟める単純な構
造が取れるのも、突出部14が形成されているためであ
る。また、フェライト板11a,11bの間隔を最小限
にすることができるので磁気抵抗が小さくなり、大きな
イングクタンスが得られる。本実施例においては強磁性
体層としてフェライト板を用いているが、少なくとも表
面が絶縁性を持つ強磁性体層であれば同様の構成がとれ
ることは当然である。
スパイラル状導体コイル12を密着して挟める単純な構
造が取れるのも、突出部14が形成されているためであ
る。また、フェライト板11a,11bの間隔を最小限
にすることができるので磁気抵抗が小さくなり、大きな
イングクタンスが得られる。本実施例においては強磁性
体層としてフェライト板を用いているが、少なくとも表
面が絶縁性を持つ強磁性体層であれば同様の構成がとれ
ることは当然である。
【0015】本実施例におけるスパイラル状導体コイル
12の大きさを説明すると、線幅は100μm、線間隔
は10μm、C−C′線における大きさは3000μ
m、C−C′線に対し垂直で突出部14を通らない直線
上における大きさが3000μmである。突出部の幅は
線幅及び線間隔から計算されるように320μmとな
る。すなわち、本発明におけるスパイラル状導体コイル
はC−C′線における幅が突出部の幅よりも大きければ
よい。また、形状も角型に限定されるものではなく、円
形や楕円形でも同様の構成はとれるものである。
12の大きさを説明すると、線幅は100μm、線間隔
は10μm、C−C′線における大きさは3000μ
m、C−C′線に対し垂直で突出部14を通らない直線
上における大きさが3000μmである。突出部の幅は
線幅及び線間隔から計算されるように320μmとな
る。すなわち、本発明におけるスパイラル状導体コイル
はC−C′線における幅が突出部の幅よりも大きければ
よい。また、形状も角型に限定されるものではなく、円
形や楕円形でも同様の構成はとれるものである。
【0016】なお、本実施例においては内側端15と入
出力端子13bの接続はワイヤーボンディングにより行
われているが、他の方法で接続しても本実施例の特徴が
失われるものではないのは当然である。
出力端子13bの接続はワイヤーボンディングにより行
われているが、他の方法で接続しても本実施例の特徴が
失われるものではないのは当然である。
【0017】(実施例2)以下、本発明の第2の実施例
について説明する。
について説明する。
【0018】図2(a)は第2の実施例における平面イ
ンダクタの構成を示す平面図、図2(b)は図2(a)
のB−B′線における断面図、図2(c)は図2(a)
のC−C′線における断面図である。図3は本実施例に
おいて強磁性体層として用いた積層磁性膜の構成を示し
た断面図である。図3において31はアモルファス構造
のCoNbZr層、32はSiO2層である。図3に示
したようにCoNbZr層31は必ずSiO2層32に
挟まれた状態になっている。
ンダクタの構成を示す平面図、図2(b)は図2(a)
のB−B′線における断面図、図2(c)は図2(a)
のC−C′線における断面図である。図3は本実施例に
おいて強磁性体層として用いた積層磁性膜の構成を示し
た断面図である。図3において31はアモルファス構造
のCoNbZr層、32はSiO2層である。図3に示
したようにCoNbZr層31は必ずSiO2層32に
挟まれた状態になっている。
【0019】図2(a),(b),(c)を用いて本実
施例の平面インダクタの構成を説明すると、絶縁性の基
板21上に厚さ2.5μmのCoNbZr層と厚さ1μ
mのSiO2層を交互に積層してなる積層磁性膜22a
が形成されている。積層数はCoNbZr層が10層、
SiO2層が11層である。この積層磁性膜22a上に
厚さ10μmのアルミニウム膜からなる導体コイル23
及び入出力端子24a,24bが形成されている。導体
コイル23はスパイラル状導体コイルをジグザグに折り
曲げたような形状である。導体コイル23の線幅は10
0μmである。線間隔は隣接し電流の流れる向きが同じ
である導線間は10μm、隣接し電流の流れる向きが逆
である導線間は600μmである。導体コイル23も図
1の場合と同様、電極引出しのための突出部25が形成
されている。突出部25の内側にある内側端26は金ワ
イヤー27により実施例1と同様の方法で入出力端子2
4bと接続されている。また、積層磁性膜22a上の導
体コイル23が存在しない部分には絶縁層28が導体コ
イル23と同じ10μmの厚さで形成されている。さら
に、突出部25の金ワイヤー27が露出するように積層
磁性膜22bが導体コイル23上に形成されている。積
層磁性膜22bの構成は積層磁性膜22aと同一であ
る。なお、説明の都合上、図2(a)においては積層磁
性膜22bの下に導体コイル23のみが見える図とし
た。なお、導体コイル23のサイズはC−C′線におけ
る大きさが2460μm、C−C′線に対して垂直で突
出部25を通らない直線上における大きさが3400μ
mである。
施例の平面インダクタの構成を説明すると、絶縁性の基
板21上に厚さ2.5μmのCoNbZr層と厚さ1μ
mのSiO2層を交互に積層してなる積層磁性膜22a
が形成されている。積層数はCoNbZr層が10層、
SiO2層が11層である。この積層磁性膜22a上に
厚さ10μmのアルミニウム膜からなる導体コイル23
及び入出力端子24a,24bが形成されている。導体
コイル23はスパイラル状導体コイルをジグザグに折り
曲げたような形状である。導体コイル23の線幅は10
0μmである。線間隔は隣接し電流の流れる向きが同じ
である導線間は10μm、隣接し電流の流れる向きが逆
である導線間は600μmである。導体コイル23も図
1の場合と同様、電極引出しのための突出部25が形成
されている。突出部25の内側にある内側端26は金ワ
イヤー27により実施例1と同様の方法で入出力端子2
4bと接続されている。また、積層磁性膜22a上の導
体コイル23が存在しない部分には絶縁層28が導体コ
イル23と同じ10μmの厚さで形成されている。さら
に、突出部25の金ワイヤー27が露出するように積層
磁性膜22bが導体コイル23上に形成されている。積
層磁性膜22bの構成は積層磁性膜22aと同一であ
る。なお、説明の都合上、図2(a)においては積層磁
性膜22bの下に導体コイル23のみが見える図とし
た。なお、導体コイル23のサイズはC−C′線におけ
る大きさが2460μm、C−C′線に対して垂直で突
出部25を通らない直線上における大きさが3400μ
mである。
【0020】以上説明した部分は図1(a),(b),
(c)の構成と基本的には同様なものである。図1
(a),(b),(c)の構成と異なる点は導体コイル
23がジグザグに折り曲げられている点である。これ
は、高周波特性、特に積層磁性膜を用いた平面インダク
タの高周波特性の改善を目的として設計したものであ
る。また、比較の対象として図2のような構成で導体コ
イル23の代わりに、図1のスパイラル状導体コイル1
2と同一形状のスパイラル状導体コイルを形成した平面
インダクタを作成した。このインダクタの構成を図4に
示す。図4(a)は構成を示す平面図、図4(b)は図
4(a)のB−B′線における断面図、図4(c)は図
4(a)のC−C′線における断面図である。図4
(a),(b),(c)において43はスパイラル状導
体コイルである。その他の構成を示す符号は図2
(a),(b),(c)と同じものを用いた。
(c)の構成と基本的には同様なものである。図1
(a),(b),(c)の構成と異なる点は導体コイル
23がジグザグに折り曲げられている点である。これ
は、高周波特性、特に積層磁性膜を用いた平面インダク
タの高周波特性の改善を目的として設計したものであ
る。また、比較の対象として図2のような構成で導体コ
イル23の代わりに、図1のスパイラル状導体コイル1
2と同一形状のスパイラル状導体コイルを形成した平面
インダクタを作成した。このインダクタの構成を図4に
示す。図4(a)は構成を示す平面図、図4(b)は図
4(a)のB−B′線における断面図、図4(c)は図
4(a)のC−C′線における断面図である。図4
(a),(b),(c)において43はスパイラル状導
体コイルである。その他の構成を示す符号は図2
(a),(b),(c)と同じものを用いた。
【0021】以下、図2のように構成されたインダクタ
をインダクタ(2)、図4のように構成されたインダク
タをインダクタ(4)とする。
をインダクタ(2)、図4のように構成されたインダク
タをインダクタ(4)とする。
【0022】以下に、インダクタ(2)の動作を図5を
用いて説明する。図5は図2(c)に示した断面におい
て形成される磁気回路の模式図である。また、インダク
タ(4)の動作は図6を用いて説明する。図6は図4
(c)に示した断面において形成される磁気回路の模式
図である。
用いて説明する。図5は図2(c)に示した断面におい
て形成される磁気回路の模式図である。また、インダク
タ(4)の動作は図6を用いて説明する。図6は図4
(c)に示した断面において形成される磁気回路の模式
図である。
【0023】図6では磁束の流れ61は導線62全体を
巡り、積層磁性膜63の中央部分では積層磁性膜63に
対し磁束の流れ61が垂直に鎖交する。磁束が垂直に鎖
交すると積層磁性膜63中のCoNbZr層は金属的な
導電性を持つので、過電流が発生して電力損失が生じ、
インダクタの高周波特性が悪化する。
巡り、積層磁性膜63の中央部分では積層磁性膜63に
対し磁束の流れ61が垂直に鎖交する。磁束が垂直に鎖
交すると積層磁性膜63中のCoNbZr層は金属的な
導電性を持つので、過電流が発生して電力損失が生じ、
インダクタの高周波特性が悪化する。
【0024】これに対し、図5では導線52に流れる電
流の向きが交互になっているので、磁束の流れ51は細
分化される。そのため、積層磁性膜53に対し垂直に磁
束の流れ51が鎖交する部分の面積が減少し、高周波特
性が向上する。すなわち、本実施例のインダクタ2は比
較のために作成したインダクタ4に比べ、優れた周波数
特性を持つ。
流の向きが交互になっているので、磁束の流れ51は細
分化される。そのため、積層磁性膜53に対し垂直に磁
束の流れ51が鎖交する部分の面積が減少し、高周波特
性が向上する。すなわち、本実施例のインダクタ2は比
較のために作成したインダクタ4に比べ、優れた周波数
特性を持つ。
【0025】同様の効果は、一般に知られるミアンダ型
の導体コイルでも得られるが(例えば IEEE Tr.,MAG-2
0,pp1804-1806,1984)、ミアンダ型コイルは1ターンコ
イルなので大きいインダクタンスは得られない。それに
対し本実施例の導体コイル23はターン数の2乗倍のイ
ンダクタンスを得ることが出来る。
の導体コイルでも得られるが(例えば IEEE Tr.,MAG-2
0,pp1804-1806,1984)、ミアンダ型コイルは1ターンコ
イルなので大きいインダクタンスは得られない。それに
対し本実施例の導体コイル23はターン数の2乗倍のイ
ンダクタンスを得ることが出来る。
【0026】積層磁性膜53中を流れる磁束が1/eに
減衰する長さ、いわゆる特性長をλとすると、λ=√
(μr・g・tm/2)と表すことが出来ることが知ら
れている(例えば電気学会マグネティックス研究会 MA
G-89-164)。ここで、μrは積層磁性膜53の比透磁
率、gは積層磁性膜の53間のギャップ、tmはCoN
bZr層の総厚みである。μr=1500,g=10μ
m,tm=25μmを代入するとλ=430μmにな
る。インダクタ(2)においては、隣接し電流が同じ向
きに流れる導線52の合計幅は210μmであり、λに
比べて十分小さい。よって、導線52に鎖交する磁束の
磁束密度は小さく、近接効果による損失は小さく抑える
ことが出来る。このように、隣接し電流の流れる向きが
同じである導線の間隔を小さくすることは重要である。
同じことがインダクタ(4)についてもいえる。また、
λが430μmなので、積層磁性膜22a,22bが磁
心として有効に働いている部分は隣接し電流の向きが同
じである導線近傍に限られる。そのため、インダクタ
(2)の方が積層磁性膜22a,22bが磁心として働
いている面積の全体に対する比はインダクタ(4)より
も大きいことになる。
減衰する長さ、いわゆる特性長をλとすると、λ=√
(μr・g・tm/2)と表すことが出来ることが知ら
れている(例えば電気学会マグネティックス研究会 MA
G-89-164)。ここで、μrは積層磁性膜53の比透磁
率、gは積層磁性膜の53間のギャップ、tmはCoN
bZr層の総厚みである。μr=1500,g=10μ
m,tm=25μmを代入するとλ=430μmにな
る。インダクタ(2)においては、隣接し電流が同じ向
きに流れる導線52の合計幅は210μmであり、λに
比べて十分小さい。よって、導線52に鎖交する磁束の
磁束密度は小さく、近接効果による損失は小さく抑える
ことが出来る。このように、隣接し電流の流れる向きが
同じである導線の間隔を小さくすることは重要である。
同じことがインダクタ(4)についてもいえる。また、
λが430μmなので、積層磁性膜22a,22bが磁
心として有効に働いている部分は隣接し電流の向きが同
じである導線近傍に限られる。そのため、インダクタ
(2)の方が積層磁性膜22a,22bが磁心として働
いている面積の全体に対する比はインダクタ(4)より
も大きいことになる。
【0027】以下に、インダクタ(2)及びインダクタ
(4)のインダクタンスを測定した結果について述べ
る。インダクタ(2)の100kHzにおけるインダクタ
ンスは2.0μHであり、空心状態に比べ約20倍であ
った。一方、インダクタ(4)の100kHzにおけるイ
ンダクタンスは2.4μHであり、空心状態に比べ約1
5倍であった。このことは、前述したようにインダクタ
2のほうがインダクタ4よりも磁心として働いている積
層磁性膜22a,22bの面積が広いことを示してい
る。
(4)のインダクタンスを測定した結果について述べ
る。インダクタ(2)の100kHzにおけるインダクタ
ンスは2.0μHであり、空心状態に比べ約20倍であ
った。一方、インダクタ(4)の100kHzにおけるイ
ンダクタンスは2.4μHであり、空心状態に比べ約1
5倍であった。このことは、前述したようにインダクタ
2のほうがインダクタ4よりも磁心として働いている積
層磁性膜22a,22bの面積が広いことを示してい
る。
【0028】なお、図9にインダクタ(2)とインダク
タ(4)のインダクタンスの周波数特性を示す。なお、
図9においては100kHzにおけるインダクタ(2)の
インダクタンスを1として規格化して示している。図9
から明らかなように、インダクタ(4)のインダクタン
スは周波数が高くなるのに伴い減少するが、インダクタ
(2)のインダクタンスには10MHz程度までフラット
な特性を示す。この結果から明らかなように、本実施例
によるインダクタ(2)は比較のために作成したインダ
クタ4よりも優れた周波数特性を示す。
タ(4)のインダクタンスの周波数特性を示す。なお、
図9においては100kHzにおけるインダクタ(2)の
インダクタンスを1として規格化して示している。図9
から明らかなように、インダクタ(4)のインダクタン
スは周波数が高くなるのに伴い減少するが、インダクタ
(2)のインダクタンスには10MHz程度までフラット
な特性を示す。この結果から明らかなように、本実施例
によるインダクタ(2)は比較のために作成したインダ
クタ4よりも優れた周波数特性を示す。
【0029】以上のように、本実施例の導体コイル23
のようにスパイラル状導体コイルをジグザグに折り曲げ
た形状の平面コイルとすれば、良好な周波数特性の平面
インダクタが得られる。
のようにスパイラル状導体コイルをジグザグに折り曲げ
た形状の平面コイルとすれば、良好な周波数特性の平面
インダクタが得られる。
【0030】なお、本実施例においては積層磁性膜とし
てCoNbZrとSiO2を積層したものを用いている
が、軟磁気特性に優れた合金属と絶縁層による積層磁性
膜であれば本実施例のインダクタに用いることができる
のは当然である。
てCoNbZrとSiO2を積層したものを用いている
が、軟磁気特性に優れた合金属と絶縁層による積層磁性
膜であれば本実施例のインダクタに用いることができる
のは当然である。
【0031】(実施例3)以下、本発明の第3の実施例
について説明する。
について説明する。
【0032】図8(a)は第3の実施例における平面イ
ンダクタの構成を示す平面図、図8(b)は図8(a)
のB−B′線における断面図、図8(c)は図8(a)
のC−C′線における断面図である。図8(a),
(b),(c)において21は基板、22a,22bは
積層磁性膜、23は導体コイル、24a,24bは入出
力端子、25は突出部、26は内側端、27は金ワイヤ
ー、28は絶縁層である。
ンダクタの構成を示す平面図、図8(b)は図8(a)
のB−B′線における断面図、図8(c)は図8(a)
のC−C′線における断面図である。図8(a),
(b),(c)において21は基板、22a,22bは
積層磁性膜、23は導体コイル、24a,24bは入出
力端子、25は突出部、26は内側端、27は金ワイヤ
ー、28は絶縁層である。
【0033】以上説明した部分は図2(a),(b),
(c)の構成と基本的には同様なものである。図2
(a),(b),(c)と異なる点は積層磁性膜22
a,22bが導体コイル23全体をはさむように形成さ
れていない点である。すなわち、積層磁性膜22a,2
2bは導体コイル23の電流の流れる向きが同じで隣接
する導線の上下に、導線をはさむように250μmの幅
でジグザグ状に形成されている。この積層磁性膜22
a,22bの幅をWm,導体コイル23のターン数を
Ns,導線の幅をWcとすると、図8(a),(b),
(c)の構成ではNs・Wc<Wm<(Ns+1)・Wcの
条件を満たして設計する必要がある。本実施例において
はNs=2,Wc=100μmであるから、200μm<
Wm<300μmの範囲でWmを選択できる。
(c)の構成と基本的には同様なものである。図2
(a),(b),(c)と異なる点は積層磁性膜22
a,22bが導体コイル23全体をはさむように形成さ
れていない点である。すなわち、積層磁性膜22a,2
2bは導体コイル23の電流の流れる向きが同じで隣接
する導線の上下に、導線をはさむように250μmの幅
でジグザグ状に形成されている。この積層磁性膜22
a,22bの幅をWm,導体コイル23のターン数を
Ns,導線の幅をWcとすると、図8(a),(b),
(c)の構成ではNs・Wc<Wm<(Ns+1)・Wcの
条件を満たして設計する必要がある。本実施例において
はNs=2,Wc=100μmであるから、200μm<
Wm<300μmの範囲でWmを選択できる。
【0034】以下図8(a),(b),(c)のように
構成されたインダクタをインダクタ(8)とする。
構成されたインダクタをインダクタ(8)とする。
【0035】以下にインダクタ(8)の動作を図7を用
いて説明する。図7は図8(c)に示した断面において
形成される磁気回路の模式図である。図7において71
は磁束の流れ、72は導線、73は積層磁性膜である。
λ=430μm,Wm=250μmであるので、磁束の
流れ71は積層磁性膜73中を積層磁性膜73に対して
平行に流れ垂直に鎖交する成分は少ない。また、図5と
比べて積層磁性膜73に対して垂直に磁束の流れ71が
鎖交する面積は減少しており、図2の構成に比べさらに
周波数特性は向上する。また、積層磁性膜22a,22
bが細長くなるため、長手方向に形状異方性が生じる。
このため長手方向が磁化容易軸となり、励磁される方向
と90度ずれる。よって、磁化応答の高速性が増し、高
周波特性が改善される。
いて説明する。図7は図8(c)に示した断面において
形成される磁気回路の模式図である。図7において71
は磁束の流れ、72は導線、73は積層磁性膜である。
λ=430μm,Wm=250μmであるので、磁束の
流れ71は積層磁性膜73中を積層磁性膜73に対して
平行に流れ垂直に鎖交する成分は少ない。また、図5と
比べて積層磁性膜73に対して垂直に磁束の流れ71が
鎖交する面積は減少しており、図2の構成に比べさらに
周波数特性は向上する。また、積層磁性膜22a,22
bが細長くなるため、長手方向に形状異方性が生じる。
このため長手方向が磁化容易軸となり、励磁される方向
と90度ずれる。よって、磁化応答の高速性が増し、高
周波特性が改善される。
【0036】次にインダクタ(8)のインダクタンスを
測定した結果について述べる。インダクタ(8)の10
0kHzにおけるインダクタンスは1.7μHであり、イ
ンダクタ(2)に比べ15%減少した。図9にインダク
タ(8)の周波数特性を示す。なお、図9においてイン
ダクタ2の100kHzにおけるインダクタンスを1とし
て規格化してある。図9から明らかなように本実施例に
よるインダクタ(8)はインダクタ(2)よりもさらに
周波数特性が良く、30kHz程度までフラットな特性を
示す。この結果から明らかなように、本実施例によるイ
ンダクタ(8)はインダクタ(2)よりもさらに優れた
高周波特性を持つ。
測定した結果について述べる。インダクタ(8)の10
0kHzにおけるインダクタンスは1.7μHであり、イ
ンダクタ(2)に比べ15%減少した。図9にインダク
タ(8)の周波数特性を示す。なお、図9においてイン
ダクタ2の100kHzにおけるインダクタンスを1とし
て規格化してある。図9から明らかなように本実施例に
よるインダクタ(8)はインダクタ(2)よりもさらに
周波数特性が良く、30kHz程度までフラットな特性を
示す。この結果から明らかなように、本実施例によるイ
ンダクタ(8)はインダクタ(2)よりもさらに優れた
高周波特性を持つ。
【0037】以上のように、本実施例のように隣接し電
流の流れる向きが同じである導線の上下にのみ積層磁性
膜22a,22bを形成すれば、優れた周波数特性の平
面インダクタが得られる。
流の流れる向きが同じである導線の上下にのみ積層磁性
膜22a,22bを形成すれば、優れた周波数特性の平
面インダクタが得られる。
【0038】なお、実施例1,2,3においては平面イ
ンダクタのみを作成したが、本発明による平面コイルの
パターンや強磁性体層との構成は、平面状の1次コイ
ル、2次コイルを強磁性体層で挟んで成る平面トランス
を作成する際も有効であることは言うまでもない。
ンダクタのみを作成したが、本発明による平面コイルの
パターンや強磁性体層との構成は、平面状の1次コイ
ル、2次コイルを強磁性体層で挟んで成る平面トランス
を作成する際も有効であることは言うまでもない。
【0039】
【発明の効果】以上のように、本発明はスパイラル状導
体コイルの一部を細長く突出させることにより、作成が
容易で優れた高周波特性を持つ平面インダクタ,平面ト
ランスを実現できるものである。
体コイルの一部を細長く突出させることにより、作成が
容易で優れた高周波特性を持つ平面インダクタ,平面ト
ランスを実現できるものである。
【図1】(a)は本発明の第1の実施例における平面イ
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
【図2】(a)は本発明の第2の実施例における平面イ
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
【図3】本発明の第2の実施例において強磁性体層とし
て用いた積層磁性膜の構成を示す断面図
て用いた積層磁性膜の構成を示す断面図
【図4】(a)は本発明の第2の実施例において比較の
ために作成した平面インダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
ために作成した平面インダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
【図5】本発明の第1の実施例において形成される磁気
回路の模式図
回路の模式図
【図6】本発明の第2の実施例において形成される磁気
回路の模式図
回路の模式図
【図7】本発明の第3の実施例において形成される磁気
回路の模式図
回路の模式図
【図8】(a)は本発明の第3の実施例における平面イ
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
ンダクタの構成を示す平面図 (b),(c)は同平面インダクタの断面図
【図9】本発明の第2及び第3の実施例における平面イ
ンダクタの周波数によるインダクタンスの変化を示した
特性図
ンダクタの周波数によるインダクタンスの変化を示した
特性図
【図10】(a)は従来の平面インダクタの構成を示す
平面図 (b)は同平面インダクタ断面図
平面図 (b)は同平面インダクタ断面図
11a,11b フェライト板
12 スパイラル状導体コイル
13a,13b 入出力端子
14 突出部
15 内側端
16 金ワイヤー
Claims (4)
- 【請求項1】基本上に設けたスパイラル状のコイル導体
からなるインダクタンスと、このコイル導体の外側端と
内側端にそれぞれ接続するように前記基板上に設けた一
対の入出力端子と、前記コイル導体を上下から挟むよう
に設けた強磁性体層とを備え、前記コイル導体の内側端
を強磁性体層の外側に突出させるとともにこの内側端と
入出力端子との間に位置するコイル導体を強磁性体層の
外側に突出させ、かつコイル導体の内側端を入出力端子
の一方に接続したことを特徴とする平面インダクタンス
部品。 - 【請求項2】コイル導体がジグザグに折り曲げられた形
状であることを特徴とする請求項1記載の平面インダク
タンス部品。 - 【請求項3】隣接し電流の流れる向きが同じである導体
間の距離が、隣接し電流の流れる向きが逆である導体間
の距離よりも小さいことを特徴とする請求項2記載の平
面インダクタンス部品。 - 【請求項4】強磁性体層と絶縁体層を積んで構成した積
層磁性膜を電流の流れる向きが同じで隣接する導体の上
下にのみ形成したことを特徴とする請求項1または2記
載の平面インダクタンス部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193904A JP3033262B2 (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 平面インダクタンス部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3193904A JP3033262B2 (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 平面インダクタンス部品 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0536536A true JPH0536536A (ja) | 1993-02-12 |
JP3033262B2 JP3033262B2 (ja) | 2000-04-17 |
Family
ID=16315676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3193904A Expired - Fee Related JP3033262B2 (ja) | 1991-08-02 | 1991-08-02 | 平面インダクタンス部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3033262B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008145478A2 (de) * | 2007-05-29 | 2008-12-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Abstimmbares induktives bauelement und verwendung des bauelements |
-
1991
- 1991-08-02 JP JP3193904A patent/JP3033262B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2008145478A2 (de) * | 2007-05-29 | 2008-12-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Abstimmbares induktives bauelement und verwendung des bauelements |
WO2008145478A3 (de) * | 2007-05-29 | 2009-01-22 | Siemens Ag | Abstimmbares induktives bauelement und verwendung des bauelements |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP3033262B2 (ja) | 2000-04-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |