JPH0536202Y2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0536202Y2
JPH0536202Y2 JP4972187U JP4972187U JPH0536202Y2 JP H0536202 Y2 JPH0536202 Y2 JP H0536202Y2 JP 4972187 U JP4972187 U JP 4972187U JP 4972187 U JP4972187 U JP 4972187U JP H0536202 Y2 JPH0536202 Y2 JP H0536202Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
receiving element
light receiving
light
detection light
sample container
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP4972187U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS63156057U (ja
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP4972187U priority Critical patent/JPH0536202Y2/ja
Publication of JPS63156057U publication Critical patent/JPS63156057U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0536202Y2 publication Critical patent/JPH0536202Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Centrifugal Separators (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本考案は遠心沈降法を用いた粒度分布測定装置
に関する。
〈従来の技術〉 遠心沈降法を用いた粒度分布測定装置において
は、一般に、試料粒体を媒液中に拡散させて懸濁
液を作り、この懸濁液を試料容器内に封入し、そ
の試料容器を回転盤に装着して回転を与える。回
転盤の回転中心から所定距離の位置には、光源
と、その光源に対向して濃度検出用受光素子を配
設し、光源からの光を回転中の試料容器が横切る
タイミングで濃度検出用受光素子の出力をサンプ
リングすることにより、試料容器内の懸濁液濃度
を所定の沈降位置において刻々と検出し、その濃
度の時間的な変化から試料粒体の粒度分布を算出
する。
このような粒度分布測定装置においては、従
来、濃度検出用受光素子の出力をサンプリングす
るタイミングを決定するために、また、回転盤の
回転数を測定するために、フオトインターラプタ
を設けていた。すなわち、回転盤の回転軸上等に
試料容器に対して所定の取付角度でプレートを固
着し、そのプレートが回転位置検出用の発・受光
素子間を横切つたことを検出することによつて、
回転盤の回転位相を検出し、その検出信号に基づ
いてサンプリングのタイミング信号を発生し、か
つ、回転数を測定していた。
〈考案が解決しようとする問題点〉 以上のようなフオトインターラプタを用いた従
来の装置によると、構造が複雑となるだけでな
く、装置の組立てに際して、フオトインターラプ
タ用のプレートが回転位置検出用の発・受光素子
の間〓を通過するよう回転軸方向に位置調整を行
う必要があり、また、試料容器が濃度検出用の光
源からの光を横切るタイミングと、フオトインタ
ーラプタの出力信号のタイミング、つまりプレー
トが位置検出用の発・受光素子の間〓を横切るタ
イミングとを合わせるべく回転方向に位置調整を
行う必要がある。そのため、装置の組立て・調整
工数が大となつてコストを高揚させる原因となつ
ていた。また、修理のための分解を行つた場合に
も同様の調整を必要とし、特に回転方向の位置調
整には、濃度検出用受光素子の出力信号とフオト
インターラプタの出力信号とのタイミングをオシ
ロスコープ等を用いてモニタしつつ調整を行う必
要があるため、現地修理に際してはオシロスコー
プ等を携行しなければならないという問題があつ
た。
〈問題点を解決するための手段〉 本考案は上記に鑑みてなされたもので、その構
成を実施例に対応する第1図,第2図を参照しつ
つ説明すると、本考案は、試料粒体を媒液中に拡
散させてなる懸濁液Lを試料容器1内に封入し、
その試料容器1を回転盤2に装着して回転させる
ことにより懸濁液Lに遠心力を作用させるととも
に、回転盤2の中心から半径方向所定距離の位置
に光源3および濃度検出用受光素子4を設けて、
試料容器1が上記光源3からの光Pを横切るタイ
ミングと同期させて濃度検出用受光素子4の出力
をサンプリングし、そのサンプリングデータの経
時的変化から試料粒体の粒度分布を算出する装置
において、濃度検出用受光素子4に近接して、光
源3からの光Pの試料容器1透過光を受光し得る
位置検出用受光素子5(5aおよび,または5
b)を設け、その位置検出用受光素子5の出力を
濃度検出データのサンプリングのタイミングの決
定に供するよう構成したことによつて特徴づけら
れる。
〈作用〉 濃度検出用受光素子4に近接して所定の位置関
係で設けられた位置検出用受光素子5には、試料
容器1を透過した光源3からの光Pが、濃度検出
用受光素子4と所定の時間差のもとに入射するこ
とになるから、この位置検出用受光素子5の出力
によつて濃度検出用受光素子4への透過光入射タ
イミング、つまりデータをサンプリングすべきタ
イミングを決定することができる。
〈実施例〉 本考案の実施例を、以下、図面に基づいて説明
する。
第1図は本考案実施例の全体構成を示すブロツ
ク図である。
測定すべき試料粒体は、媒液中に均一に分散さ
せて懸濁液の状態として試料容器1内に封入され
る。この試料容器1は、モータ6によつて回転駆
動される回転盤2に着脱自在に装着されている。
モータ6の回転数は、マイクロコンピユータ7か
らの指令に基づいてインバータ8によつて制御さ
れる。
回転盤2の回転中心から半径方向所定距離の位
置に、光源3と、この光源3にそれぞれ対向し、
かつ、互いに回転盤2の接線方向に隣接する3個
の受光素子4,5a,5bが配設されており、そ
の中央のものが濃度検出用受光素子4、その両サ
イドのものが位置検出用受光素子5a,5bとし
て供されている。回転盤2に装着された試料容器
1は、その回転によつて光源3と受光素子4,5
a,5bとの間を横切るよう構成されているとと
もに、回転盤2には、光源3からの出力Pがこの
試料容器1を透過し得るよう窓2aが形成されて
おり、その透過光が各受光素子4,5a,5bに
よつて受光されるよう構成されている。なお、窓
2aの幅は受光素子4,5a,5bの幅の合計よ
りも大きく設定されている。
濃度検出用受光素子4の出力は、増幅器10,
アナログスイツチ11およびA−D変換器12を
介してマイクロコンピユータ7に採り込まれてい
る。また、位置検出用受光素子5a,5bの出力
はタイミング信号発生回路13に供給されてお
り、このタイミング信号発生回路13は後述する
ようにアナログスイツチ11を開閉するためのタ
イミング信号を出力し、試料容器1が光源3から
の光Pを横切つたときにアナログスイツチ11を
閉成するよう構成されている。従つて、マイクロ
コンピユータ7には、回転盤2の1回転ごとに、
試料容器1を透過した光の強度データ、すなわち
懸濁液Lの濃度データが採り込まれことになる。
タイミング信号発生回路13の出力は、同時に
パルスカウンタ14にも入力され、回転盤2の回
転数検出データとしてマイクロコンピユータ7に
採り込まれている。
マイクロコンピユータ7にはキーボード15お
よびプリンタ16等が接続されており、キーボー
ド15によつて設定された測定条件に基づく回転
数で回転盤2が回転するよう、パルスカウンタ1
4の出力をモニタしつつインバータ8に指令信号
を供給する。また、前述した濃度データの経時的
な変化から、公知の手法によつて試料粒体の粒度
分布を算出し、プリンタ16によつてプリントア
ウトすることができる。
第2図はタイミング信号発生回路13の回路構
成図である。位置検出用受光素子5aおよび5b
の出力信号は、それぞれコンパレータ13aおよ
び13bに入力されている。各コンパレータ13
a,13bは、その各入力信号を基準電圧源13
cからの基準電圧と比較し、それぞれ入力信号が
基準電圧を越えているときに限り、Hレベルの信
号を出力するよう構成されている。この各コンパ
レータ13aおよび13bの出力信号がAND回
路13dの入力信号となつており、このAND回
路13の出力信号がアナログスイツチ11の開閉
タイミング信号として、また、パルスカウンタ1
4の入力信号として供さている。
第3図は受光素子4,5a,5b上への透過光
の照射状態を経時的に示す図と、第2図における
各部の信号波形を示す図とを併記して示す作用説
明図である。この図において斜線部は受光素子
4,5a,5bへの透過光照射部を示している。
今、回転盤2が位置検出用受光素子5a側から
5b側へと向く方向に回転しているとすると、時
刻t1において透過光がまず位置検出用受光素子5
aを照射し始め、時刻t3においてはこの受光素子
5aの出力Aが最大となる。このt1とt3との間の
時刻t2においてコンパレータ13aの出力BがH
レベルとなる。
時刻t3においては、同時に濃度検出用受光素子
4を透過光が照射し始め、この受光素子4の出力
Fは時刻t4で最大となる。このt4では、位置検出
用受光素子5bを透過光が照射し始め、この受光
素子5bの出力Cは時刻t6で最大に達する。t4
t6の間の時刻t5においては、コンパレータ13b
の出力DがHレベルとなる。
上述の時刻t6においては、全ての受光素子4,
5a,5bの出力がそれぞれ最大の状態となり、
この状態は時刻t7まで継続する。そして、以降
は、上記と逆の過程を経て時刻t12において1サ
イクルを終了する。この後半過程において、濃度
検出用受光素子4の出力Fが最大の状態を維持し
ている時刻t6において、コンパレータ13aの出
力BがLレベルに転ずる。従つて、コンパレータ
13aおよび13bの出力BおよびDを入力とす
るAND回路13dの出力Eは、時刻t5〜t8間にお
いてHレベルとなり、この間だけアナログスイツ
チ11が閉成される。これにより、A−D変換器
12には、濃度検出用受光素子4の出力Fのう
ち、最大レベルを保つている間の第3図Gに示す
ような信号が入力され、正しい濃度データを得る
ことができる。ここで、必要に応じてA−D変換
器12の入力段にホールド回路を設けることもで
きる。
なお、以上の実施例では、濃度検出用受光素子
4を挟んで2個の位置検出用受光素子5a,5b
を設けて、濃度検出用受光素子4の出力のサンプ
リングの始点および終点をそれぞれ規制した例を
示したが、例えば位置検出用受光素子5bのみを
設けて、その出力が基準電圧を越えた時刻t5をサ
ンプリングの始点とし、その時点からタイマ等で
設定された時間だけ信号をサンプリングするよう
構成することもできる。
また、以上は光透過法を用いて懸濁液濃度を検
出する場合について説明したが、可視光以外の赤
外線や紫外線を使用して濃度を検出する装置や、
X線透過法を用いた装置にも本考案を適用し得る
ことは勿論である。
ところで、本考案による手法は、懸濁液濃度が
極めて高い場合において光がほとんど透過しない
ので、この透過光を位置検出用に供するのは困難
であると懸念されるが、光透過法等においては、
通常、懸濁液の初期濃度が光透過率で約10%相当
以上でないと粒子濃度と透過率との相関が成立し
ないので、これ以下の光透過率の懸濁液を使用す
ることはなく、実用上は全く問題はない。
〈考案の効果〉 以上説明したように、本考案によれば、濃度検
出用受光素子に近接して位置検出用受光素子を設
け、この位置検出用受光素子にも懸濁液の透過光
を受光し得るよう構成するとともに、この位置検
出用受光素子の出力を用いて、濃度データのサン
プリングタイミングを決定し得るよう構成したか
ら、従来のように別途発光素子・受光素子および
プレートからなるフオトインターラプタを設ける
必要がなくなり、構造を簡素化できるばかりでな
く、組立て・調整工数の削減が達成され、ひいて
はコストダウンにつながる。また、分解修理後の
再調整時においても、濃度検出用受光素子と位置
検出用受光素子とを例えば一体化しておくことに
より、タイミング調整が不要となり、オシロスコ
ープ等を必要としない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案実施例の全体構成を示すブロツ
ク図、第2図はそのタイミング発生回路の回路構
成図、第3図はその作用説明図である。 1……試料容器、2……回転盤、2a……窓、
3……光源、4……濃度検出用受光素子、5a,
5b……位置検出用受光素子、7……マイクロコ
ンピユータ、11……アナログスイツチ、12…
…A−D変換器、13……タイミング信号発生回
路、13a,13b……コンパレータ、13c…
…基準電圧源、13d……AND回路、14……
パルスカウンタ。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料粒体を媒液中に拡散させてなる懸濁液を
    試料容器内に封入し、その試料容器を回転盤に
    装着して回転させることにより上記懸濁液に遠
    心力を作用させるとともに、上記回転盤の中心
    から半径方向所定距離の位置に光源および濃度
    検出用受光素子を設けて、上記試料容器が上記
    光源からの光を横切るタイミングと同期させて
    上記濃度検出用受光素子の出力をサンプリング
    し、そのサンプリングデータの経時的変化から
    試料粒体の粒度分布を算出する装置において、
    上記濃度検出用受光素子に近接して、上記光源
    からの光の上記試料容器透過光を受光し得る位
    置検出用受光素子を設け、その位置検出用受光
    素子の出力を上記サンプリングのタイミングの
    決定に供するよう構成したことを特徴とする、
    遠心沈降式粒度分布測定装置。 (2) 上記位置検出用受光素子を、上記濃度検出用
    受光素子を中心として上記回転盤の回転方向に
    2個設け、その2個の位置検出用受光素子の出
    力により上記サンプリングの開始点および終了
    点を決定するよう構成したことを特徴とする。
    実用新案登録請求の範囲第1項記載の遠心沈降
    式粒度分布測定装置。
JP4972187U 1987-03-31 1987-03-31 Expired - Lifetime JPH0536202Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4972187U JPH0536202Y2 (ja) 1987-03-31 1987-03-31

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP4972187U JPH0536202Y2 (ja) 1987-03-31 1987-03-31

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63156057U JPS63156057U (ja) 1988-10-13
JPH0536202Y2 true JPH0536202Y2 (ja) 1993-09-13

Family

ID=30872436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4972187U Expired - Lifetime JPH0536202Y2 (ja) 1987-03-31 1987-03-31

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0536202Y2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JPS63156057U (ja) 1988-10-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4865445A (en) Apparatus for detecting faults on the surface of a resist master disc and measuring the thickness of the resist coating layer
JPH01187408A (ja) ホイールアライメント特性の測定装置及び測定方法
JPH0536202Y2 (ja)
JPH0536203Y2 (ja)
JPH0378569B2 (ja)
JPS6336263Y2 (ja)
JPH03130935A (ja) イメージローテータのサーボ回路
JPS6126921Y2 (ja)
JPH09236542A (ja) 光学活性体検出装置
JPS62278433A (ja) 濁度の検出方法及び装置
JPS6136702B2 (ja)
JP3038232B2 (ja) 光学式ディスクの欠陥長計測方法及びその装置
KR100220504B1 (ko) 대형 회전축의 원주면 길이를 분할하는 장치
JPH05172644A (ja) スト−クスメ−タ
JPS6039974B2 (ja) 光学的検査
JPH04290934A (ja) 分光光度計
JPH0344826A (ja) 記録又は再生ディスクの偏芯測定装置
JPS61110014A (ja) ステツプ駆動制御式変調装置用の位相同期装置
JP2890777B2 (ja) 粒度分布測定装置
JPH06139574A (ja) 光ディスク装置
JP2001027601A (ja) 赤外線ガス分析計
JPH09282658A (ja) ディスク面欠陥検出装置
JPH02284044A (ja) 複屈折測定装置
JP2515380Y2 (ja) 自動波形判定装置
JPS61177182A (ja) モ−タ制御装置