JPH05346370A - Ｂｏｔｄａの自動検査回路 - Google Patents
Ｂｏｔｄａの自動検査回路Info
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- JPH05346370A JPH05346370A JP17924092A JP17924092A JPH05346370A JP H05346370 A JPH05346370 A JP H05346370A JP 17924092 A JP17924092 A JP 17924092A JP 17924092 A JP17924092 A JP 17924092A JP H05346370 A JPH05346370 A JP H05346370A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 周波数シフタ２と歪が一定の校正光ファイバ
３Ａを使用することにより、等価的に既知の相対ひずみ
をもつ校正光ファイバ３Ｂと同じ条件を作り出す。 【構成】 周波数シフタ２にはＣＷ光源１のプローブ光
が入射され、校正光ファイバ３Ａには周波数シフタ２の
出力が入力される。方向性結合器５は校正光ファイバ３
Ａの出力光とパルス光源４のポンプ光を合波し、受光器
６は方向性結合器５の合波出力を受光する。演算・表示
器８は受光器６の出力波形を表示し、タイミング発生器
９は周波数シフタ２とパルス光源４の動作タイミングを
発生する。タイミング発生器９の動作タイミングにより
パルス光源４の出力が出てから一定時間後に周波数シフ
タ２を駆動して校正光ファイバ３Ａの光周波数をシフト
し、シフト値により歪量を演算してＢＯＴＤＡの測定値
と比較し、ＢＯＴＤＡを自動検査する。
３Ａを使用することにより、等価的に既知の相対ひずみ
をもつ校正光ファイバ３Ｂと同じ条件を作り出す。 【構成】 周波数シフタ２にはＣＷ光源１のプローブ光
が入射され、校正光ファイバ３Ａには周波数シフタ２の
出力が入力される。方向性結合器５は校正光ファイバ３
Ａの出力光とパルス光源４のポンプ光を合波し、受光器
６は方向性結合器５の合波出力を受光する。演算・表示
器８は受光器６の出力波形を表示し、タイミング発生器
９は周波数シフタ２とパルス光源４の動作タイミングを
発生する。タイミング発生器９の動作タイミングにより
パルス光源４の出力が出てから一定時間後に周波数シフ
タ２を駆動して校正光ファイバ３Ａの光周波数をシフト
し、シフト値により歪量を演算してＢＯＴＤＡの測定値
と比較し、ＢＯＴＤＡを自動検査する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ブリルアン・オプテ
ィカル・タイム・ドメイン・アナリシス（以下、ＢＯＴ
ＤＡという。）の自動検査回路についてのものである。
ィカル・タイム・ドメイン・アナリシス（以下、ＢＯＴ
ＤＡという。）の自動検査回路についてのものである。
【０００２】
【従来の技術】ＢＯＴＤＡは光ファイバの長手方向のひ
ずみ分布を直視する測定器である。次に、従来技術によ
るＢＯＴＤＡの検査回路を図２により説明する。図２の
１はプローブ光を出力するＣＷ光源、３Ａと３Ｂは校正
光ファイバ、４はポンプ光を出力するパルス光源、５は
方向性結合器、６は受光器、７は増幅器、８は演算・表
示器、１０はタイミング発生器である。ＣＷ光源１の出
力光は校正光ファイバ３Ａに入射される。校正光ファイ
バ３Ａ・３Ｂは接続され、校正光ファイバ３Ｂの出力端
には、方向性結合器５が接続され、校正光ファイバ３Ｂ
の出力光は、タイミング発生器９のタイミングで動作す
るパルス光源４の出力光と合波され、受光器６に出力さ
れる。受光器６の出力は増幅器７で増幅され、演算・表
示器８に表示される。
ずみ分布を直視する測定器である。次に、従来技術によ
るＢＯＴＤＡの検査回路を図２により説明する。図２の
１はプローブ光を出力するＣＷ光源、３Ａと３Ｂは校正
光ファイバ、４はポンプ光を出力するパルス光源、５は
方向性結合器、６は受光器、７は増幅器、８は演算・表
示器、１０はタイミング発生器である。ＣＷ光源１の出
力光は校正光ファイバ３Ａに入射される。校正光ファイ
バ３Ａ・３Ｂは接続され、校正光ファイバ３Ｂの出力端
には、方向性結合器５が接続され、校正光ファイバ３Ｂ
の出力光は、タイミング発生器９のタイミングで動作す
るパルス光源４の出力光と合波され、受光器６に出力さ
れる。受光器６の出力は増幅器７で増幅され、演算・表
示器８に表示される。
【０００３】図２の校正光ファイバ３Ａはひずみが一定
であり、校正光ファイバ３Ｂは既知の相対ひずみをもつ
ものとする。しかし、既知の相対ひずみをもつ光ファイ
バ３Ｂの製造は困難であり、一般には光ファイバに張力
を与えたものを使用する。ＢＯＴＤＡの検査は、図２の
演算・表示器８の表示波形が図３ウに示すような波形と
なるので、波形の△εと校正光ファイバ３Ｂのひずみの
値により演算される。
であり、校正光ファイバ３Ｂは既知の相対ひずみをもつ
ものとする。しかし、既知の相対ひずみをもつ光ファイ
バ３Ｂの製造は困難であり、一般には光ファイバに張力
を与えたものを使用する。ＢＯＴＤＡの検査は、図２の
演算・表示器８の表示波形が図３ウに示すような波形と
なるので、波形の△εと校正光ファイバ３Ｂのひずみの
値により演算される。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ＢＯＴＤＡの検査のた
めには既知の相対ひずみをもつ光ファイバ３Ｂが必要で
あるが、光ファイバ３Ｂに一定のひずみを加えるため
に、光ファイバ３Ｂを一直線にして引き、既知の相対ひ
ずみをもたせる。しかし、光ファイバ３Ｂは温度変化な
どにより膨脹し、一定の値にするためには数百ｍもの場
所が必要となる。ドラムに光ファイバ３Ｂを一定の張力
で巻く方法もあるが、ドラムと光ファイバ３Ｂの膨脹率
が異なるので、既知の相対ひずみを作り出すのは困難で
ある。この発明は、ひずみが一定の校正光ファイバ３Ａ
と周波数シフタを使用することにより、等価的に既知の
相対ひずみをもつ校正光ファイバ３Ｂと同じ条件を作り
出し、既知の相対ひずみをもつ校正光ファイバ３Ｂを使
用しなくてもすむＢＯＴＤＡの自動検査回路の提供を目
的とする。
めには既知の相対ひずみをもつ光ファイバ３Ｂが必要で
あるが、光ファイバ３Ｂに一定のひずみを加えるため
に、光ファイバ３Ｂを一直線にして引き、既知の相対ひ
ずみをもたせる。しかし、光ファイバ３Ｂは温度変化な
どにより膨脹し、一定の値にするためには数百ｍもの場
所が必要となる。ドラムに光ファイバ３Ｂを一定の張力
で巻く方法もあるが、ドラムと光ファイバ３Ｂの膨脹率
が異なるので、既知の相対ひずみを作り出すのは困難で
ある。この発明は、ひずみが一定の校正光ファイバ３Ａ
と周波数シフタを使用することにより、等価的に既知の
相対ひずみをもつ校正光ファイバ３Ｂと同じ条件を作り
出し、既知の相対ひずみをもつ校正光ファイバ３Ｂを使
用しなくてもすむＢＯＴＤＡの自動検査回路の提供を目
的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明では、プローブ光を出力するＣＷ光源１
と、ＣＷ光源１の出力光が入射される周波数シフタ２
と、周波数シフタ２の出力が入力され、ひずみが一定の
校正光ファイバ３Ａと、ポンプ光を出力するパルス光源
４と、校正光ファイバ３Ａの出力光とパルス光源４の出
力光を合波する方向性結合器５と、方向性結合器５の合
波出力を受光する受光器６と、受光器６の出力波形を表
示する演算・表示器８と、周波数シフタ２とパルス光源
４の動作タイミングを発生するタイミング発生器９とを
備え、タイミング発生器９の動作タイミングによりパル
ス光源４の出力が出てから一定時間後に周波数シフタ２
を駆動して校正光ファイバ３Ａの光周波数をシフトし、
シフト値によりひずみ量を演算してＢＯＴＤＡの測定値
と比較し、ＢＯＴＤＡを自動検査する。
め、この発明では、プローブ光を出力するＣＷ光源１
と、ＣＷ光源１の出力光が入射される周波数シフタ２
と、周波数シフタ２の出力が入力され、ひずみが一定の
校正光ファイバ３Ａと、ポンプ光を出力するパルス光源
４と、校正光ファイバ３Ａの出力光とパルス光源４の出
力光を合波する方向性結合器５と、方向性結合器５の合
波出力を受光する受光器６と、受光器６の出力波形を表
示する演算・表示器８と、周波数シフタ２とパルス光源
４の動作タイミングを発生するタイミング発生器９とを
備え、タイミング発生器９の動作タイミングによりパル
ス光源４の出力が出てから一定時間後に周波数シフタ２
を駆動して校正光ファイバ３Ａの光周波数をシフトし、
シフト値によりひずみ量を演算してＢＯＴＤＡの測定値
と比較し、ＢＯＴＤＡを自動検査する。
【０００６】
【作用】次に、この発明によるＢＯＴＤＡの検査回路を
図１により説明する。図１の２は周波数シフタであり、
その他は図２と同じである。すなわち、図１は図２の校
正光ファイバ３Ｂの代わりを周波数シフタ２にさせるも
のである。ＣＷ光源１の出力光は周波数シフタ２に入力
され、周波数シフタ２の出力はタイミング発生器９のタ
イミングで校正光ファイバ３Ａに入力される。
図１により説明する。図１の２は周波数シフタであり、
その他は図２と同じである。すなわち、図１は図２の校
正光ファイバ３Ｂの代わりを周波数シフタ２にさせるも
のである。ＣＷ光源１の出力光は周波数シフタ２に入力
され、周波数シフタ２の出力はタイミング発生器９のタ
イミングで校正光ファイバ３Ａに入力される。
【０００７】次に、図１の動作を図３を参照して説明す
る。図３アはタイミング発生器９から周波数シフタ２に
送られる信号１２の波形であり、図３イは方向性結合器
５から出力される合波信号１３の波形であり、周波数シ
フタ２が駆動されると、ＣＷ光源１の光周波数は△ｆだ
けシフトされる。図３ウは演算・表示器８の表示波形で
あり、図３エはパルス光源４から方向性結合器５に入力
する信号１４の波形である。図３アは、図３エのパルス
光源４から方向性結合器５に光パルスを入射してから一
定時間ｔ0 遅れて入力され、周波数シフタ２を駆動する
信号１２の波形である。
る。図３アはタイミング発生器９から周波数シフタ２に
送られる信号１２の波形であり、図３イは方向性結合器
５から出力される合波信号１３の波形であり、周波数シ
フタ２が駆動されると、ＣＷ光源１の光周波数は△ｆだ
けシフトされる。図３ウは演算・表示器８の表示波形で
あり、図３エはパルス光源４から方向性結合器５に入力
する信号１４の波形である。図３アは、図３エのパルス
光源４から方向性結合器５に光パルスを入射してから一
定時間ｔ0 遅れて入力され、周波数シフタ２を駆動する
信号１２の波形である。
【０００８】図３ウで、光周波数がシフトするというこ
とは、図２で一定のひずみを加えた校正光ファイバ３Ｂ
を測定したことと同じであり、演算・表示器８の表示波
形にはｔ0 点から△εだけひずみが発生したように表示
される。周波数シフタ２による周波数は既知なので、△
ｆに相当するひずみ量を計算し、ＢＯＴＤＡの測定値△
εと比較すれば自動検査することができる。なお、この
△ｆより△εを求める計算式は電子情報通信学会論文誌
(J73-B-I) 第２号「ブリルアン分光による光ファイバの
ひずみ分布測定」P.146 の式(8) にも掲載されている。
とは、図２で一定のひずみを加えた校正光ファイバ３Ｂ
を測定したことと同じであり、演算・表示器８の表示波
形にはｔ0 点から△εだけひずみが発生したように表示
される。周波数シフタ２による周波数は既知なので、△
ｆに相当するひずみ量を計算し、ＢＯＴＤＡの測定値△
εと比較すれば自動検査することができる。なお、この
△ｆより△εを求める計算式は電子情報通信学会論文誌
(J73-B-I) 第２号「ブリルアン分光による光ファイバの
ひずみ分布測定」P.146 の式(8) にも掲載されている。
【０００９】例えば、波長λが1.55μm で△ｆが100MHz
の場合、△εは約 0.2％に相当する。また、図２の校正
光ファイバ３Ａを10km、校正光ファイバ３Ｂを500mとす
る。図１の校正光ファイバ３Ａを10.5km、ｔ0 を約20μ
s にすると、図１の演算表示器８には10km点より約 0.2
％のひずみが生じたように測定される。
の場合、△εは約 0.2％に相当する。また、図２の校正
光ファイバ３Ａを10km、校正光ファイバ３Ｂを500mとす
る。図１の校正光ファイバ３Ａを10.5km、ｔ0 を約20μ
s にすると、図１の演算表示器８には10km点より約 0.2
％のひずみが生じたように測定される。
【００１０】周波数シフタ２には例えばＡ／Ｏ変調器を
使用する。この場合、周波数シフタ２のオンオフにより
光路をかえる。次に、周波数シフタ２の実施例の構成図
を図４により説明する。図４の２ＡはＡ／Ｏ変調素子、
２Ｂは発振器、２Ｃは方向性結合器、２Ｄと２Ｅは光路
である。発振器２Ｂは制御信号１２により発振をオンオ
フする。発振がオフのときは光路２Ｄになり、発振がオ
ンのときは光路２Ｅになる。光路２ＤではＣＷ光源１か
らの入力光は周波数がシフトされることはなく、光路２
ＥではＣＷ光源１からの入力光は発振周波数分だけ周波
数がシフトされる。光路２Ｄ・２Ｅともに方向性結合器
２Ｃを通り、発振のオンオフの状態に関係なく出力され
る。
使用する。この場合、周波数シフタ２のオンオフにより
光路をかえる。次に、周波数シフタ２の実施例の構成図
を図４により説明する。図４の２ＡはＡ／Ｏ変調素子、
２Ｂは発振器、２Ｃは方向性結合器、２Ｄと２Ｅは光路
である。発振器２Ｂは制御信号１２により発振をオンオ
フする。発振がオフのときは光路２Ｄになり、発振がオ
ンのときは光路２Ｅになる。光路２ＤではＣＷ光源１か
らの入力光は周波数がシフトされることはなく、光路２
ＥではＣＷ光源１からの入力光は発振周波数分だけ周波
数がシフトされる。光路２Ｄ・２Ｅともに方向性結合器
２Ｃを通り、発振のオンオフの状態に関係なく出力され
る。
【００１１】
【発明の効果】この発明によれば、ひずみが一定の校正
光ファイバと周波数シフタを使用することにより、等価
的に既知の相対ひずみをもつ校正光ファイバと同じ条件
を作り出すので、既知の相対ひずみをもつ校正光ファイ
バを使用しなくてもＢＯＴＤＡを検査することができ
る。
光ファイバと周波数シフタを使用することにより、等価
的に既知の相対ひずみをもつ校正光ファイバと同じ条件
を作り出すので、既知の相対ひずみをもつ校正光ファイ
バを使用しなくてもＢＯＴＤＡを検査することができ
る。
【図１】この発明によるＢＯＴＤＡの自動検査回路の構
成図である。
成図である。
【図２】従来技術によるＢＯＴＤＡの検査回路の構成図
である。
である。
【図３】図１の各部の動作波形図である。
【図４】周波数シフタ２の実施例の構成図である。
１ ＣＷ光源 ２ 周波数シフタ ３Ａ 校正光ファイバ ３Ｂ 校正光ファイバ ４ パルス光源 ５ 方向性結合器 ６ 受光器 ７ 増幅器 ８ 演算・表示器 ９ タイミング発生器
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成４年１０月２６日
【手続補正２】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２
【補正方法】変更
【補正内容】
【０００２】ＢＯＴＤＡは光ファイバの長手方向のひず
み分布を直視する測定器である。次に、従来技術による
ＢＯＴＤＡの検査回路を図２により説明する。図２の１
はプローブ光を出力するＣＷ光源、３Ａと３Ｂは校正光
ファイバ、４はポンプ光を出力するパルス光源、５は方
向性結合器、６は受光器、７は増幅器、８は演算・表示
器、９はタイミング発生器である。ＣＷ光源１の出力光
は校正光ファイバ３Ａに入射される。校正光ファイバ３
Ａ・３Ｂは接続され、校正光ファイバ３Ｂの出力端に
は、方向性結合器５が接続され、校正光ファイバ３Ｂの
出力光は、タイミング発生器９のタイミングで動作する
パルス光源４の出力光と合波され、受光器６に出力され
る。受光器６の出力は増幅器７で増幅され、演算・表示
器８に表示される。
み分布を直視する測定器である。次に、従来技術による
ＢＯＴＤＡの検査回路を図２により説明する。図２の１
はプローブ光を出力するＣＷ光源、３Ａと３Ｂは校正光
ファイバ、４はポンプ光を出力するパルス光源、５は方
向性結合器、６は受光器、７は増幅器、８は演算・表示
器、９はタイミング発生器である。ＣＷ光源１の出力光
は校正光ファイバ３Ａに入射される。校正光ファイバ３
Ａ・３Ｂは接続され、校正光ファイバ３Ｂの出力端に
は、方向性結合器５が接続され、校正光ファイバ３Ｂの
出力光は、タイミング発生器９のタイミングで動作する
パルス光源４の出力光と合波され、受光器６に出力され
る。受光器６の出力は増幅器７で増幅され、演算・表示
器８に表示される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀口 常雄 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 倉嶋 利雄 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 プローブ光を出力するＣＷ光源(1) と、 ＣＷ光源(1) の出力光が入射される周波数シフタ(2)
と、 周波数シフタ(2) の出力が入力され、ひずみが一定の校
正光ファイバ(3A)と、 ポンプ光を出力するパルス光源(4) と、 標準光ファイバ(3A)の出力光とパルス光源(4) の出力光
を合波する方向性結合器(5) と、 方向性結合器(5) の合波出力を受光する受光器(6) と、 受光器(6) の出力波形を表示する演算・表示器(8) と、 周波数シフタ(2) とパルス光源(4) の動作タイミングを
発生するタイミング発生器(9) とを備え、 タイミング発生器(9) の動作タイミングによりパルス光
源(4) の出力が出てから一定時間後に周波数シフタ(2)
を駆動して校正光ファイバ(3A)の光周波数をシフトし、
シフト値によりひずみ量を演算してＢＯＴＤＡの測定値
と比較し、ＢＯＴＤＡを自動検査することを特徴とする
ＢＯＴＤＡの自動検査回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17924092A JP3209577B2 (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | Ｂｏｔｄａの自動検査回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17924092A JP3209577B2 (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | Ｂｏｔｄａの自動検査回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05346370A true JPH05346370A (ja) | 1993-12-27 |
| JP3209577B2 JP3209577B2 (ja) | 2001-09-17 |
Family
ID=16062397
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17924092A Expired - Fee Related JP3209577B2 (ja) | 1992-06-12 | 1992-06-12 | Ｂｏｔｄａの自動検査回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3209577B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0887624A2 (en) * | 1997-06-27 | 1998-12-30 | Ando Electric Co., Ltd. | Device and method for optical fiber distortion measurement |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013020276A1 (zh) * | 2011-08-10 | 2013-02-14 | 中国计量学院 | 混沌激光相关集成光纤拉曼放大器的布里渊光时域分析器 |
-
1992
- 1992-06-12 JP JP17924092A patent/JP3209577B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0887624A2 (en) * | 1997-06-27 | 1998-12-30 | Ando Electric Co., Ltd. | Device and method for optical fiber distortion measurement |
| EP0887624A3 (en) * | 1997-06-27 | 1999-02-10 | Ando Electric Co., Ltd. | Device and method for optical fiber distortion measurement |
| US5949533A (en) * | 1997-06-27 | 1999-09-07 | Ando Electric Co., Ltd. | Optical fiber distortion measurement device and method thereof |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3209577B2 (ja) | 2001-09-17 |
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