JPH0534588A - 光電変換素子の蓄積制御装置 - Google Patents

光電変換素子の蓄積制御装置

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JPH0534588A
JPH0534588A JP3149143A JP14914391A JPH0534588A JP H0534588 A JPH0534588 A JP H0534588A JP 3149143 A JP3149143 A JP 3149143A JP 14914391 A JP14914391 A JP 14914391A JP H0534588 A JPH0534588 A JP H0534588A
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signal
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photoelectric converting
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JP3149143A
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Shinichi Hagiwara
伸一 萩原
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 カメラの焦点検出装置等に用いられる光電変
換素子の制御部のチップ上に占める割合を小さくし、歩
留まりと光電変換素子受光部の配置の自由度を向上させ
る。 【構成】 結像光学系により形成された第1の像と第2
の像に対応して光電変換する第1の光電変換素子列と第
2の光電変換素子列を対にする1対以上の光電変換素子
列を備え、前記光電変換素子列に蓄積信号の最大値と最
小値を検出する蓄積信号検出回路をもたせ、検出された
蓄積信号に基づいて電荷の蓄積制御を行う光電変換素子
の蓄積制御装置であり、かつ、最大値を検出する蓄積最
大信号検出回路を備えた光電変換素子列と、最小値を検
出する蓄積最小信号検出回路を備えた光電変換素子列と
を、1対の光電変換素子列として、それぞれ第1の光電
変換素子列と第2の光電変換素子列に分割配置して構成
される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は2像の相対的な位置関
係より焦点状態を検出する方式を用いた、カメラの焦点
検出装置等に用いられる光電変換素子の蓄積制御を行
う、光電変換素子の蓄積制御装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の装置として、例えば、特
開昭61−167916号公報及び特開昭62−113
468号公報,特願昭61−219668号,及び特願
昭62−27267号等に開示されたものがある。特開
昭61−167916号公報に開示された装置の構成
は、光電変換素子アレイに入射する光量の平均値もしく
は和信号に基づいて蓄積を制御するものである。また、
後者の構成は、光電変換素子アレイの略最大値に基づい
て蓄積時間を制御するものである。いずれの構成も後段
の信号処理を行い易くするように信号のレベルができる
だけ一定になるような制御を行っている。後段における
信号処理としては、遮光画素(オプティカルブラック)
を基準に増幅してA/D変換を行ったのち、特開昭58
−142306号,特開昭59−107313号,特開
昭60−101513号の各公報あるいは特願昭61−
160824号に開示されている演算を行う構成を採用
することができる。
【0003】しかし、前記の各構成を用いて合焦状態を
判別する装置を構成するに際しては、被写体の輝度分布
を光電変換素子アレイでサンプリングし、これを電気的
に信号処理して合焦状態を判別している。すなわち、遮
光画素を基準に信号のA/D変換を行うため、低コント
ラスト(輝度分布の場所的変化が小さい場合)の被写体
においては、被写体の特徴を示すパターン部よりも演算
に寄与しない信号の直流分の方が圧倒的に多くなり、量
子化エラーやノイズの影響を受けて演算の信頼性を低下
させるという問題があったため、これを解決すべく、特
願昭63−47644号等に開示された構成では例えば
図9に示すような、光電変換装置に蓄積信号の最大値と
最小値を検出する機能を持たせ、蓄積時間を制御する装
置が知られており、焦点検出装置の低コントラスト限界
を改善するのに大いに貢献している。
【0004】図9は1従来例を示したものである。同図
は、光電変換素子に蓄積信号の最大値と最小値を検出す
る機能を持たせ、これに基づいて蓄積制御する1対の光
電変換素子列からなる光電変換装置である。また、図1
0は該光電変換装置を構成する1つの光電変換素子列の
回路ブロック図を示したものであり、ブロックSNSC
TL,SNOUT,PDET,BDETからなる。な
お、図11に図9の光電変換素子列複数を同一チップ上
に配置した例として、光電変換素子列4対からなる光電
変換装置を示す。同図には図9の主要部のみを表してお
り、SNS−1,2,3,4がそれぞれ対をなす光電変
換素子列である。
【0005】図9中のブロックSNSPX−AとSNS
PX−B,SNSCTLU−AとSNSCTLU−B,
PDETU−AとPDETU−B,BDETU−AとB
DETU−B,SNOUTU−AとSNOUTU−Bは
互いに同じ構成であり、それぞれブロックSNSPX−
AはSNSPX,SNSCTLU−AはSNSCTL,
PDETU−AはPDET,BDETU−AはBDE
T,SNOUTU−AはSNOUTが複数個集まったも
のである。
【0006】ブロックSNSCTLは光電変換素子であ
るバイポーラトランジスタTR1の制御回路であり、複
数のMOSトランジスタMOS5,MOS8から構成さ
れる。ブロックSNOUTは光電変換素子の蓄積信号を
読み出す回路でMOS10,MOS11,MOS12,
MOS13及びキャパシタCtn,Ctsから構成され
る。さらに差動出力アンプSNAMP,MOSトランジ
スタMOS14,MOS15から構成される。ブロック
PDETは光電変換素子列に入射する光束を光電変換し
た出力の最も大きな信号を検出する最大信号検出回路で
ありバイポーラトランジスタTR2,MOSトランジス
タMOS6と図示されている数個のMOSトランジスタ
から構成される。ブロックBDETは光電変換素子列に
入射する光束を光電変換した出力の最も小さな信号を検
出する最小信号検出回路でありバイポーラトランジスタ
TR3,MOSトランジスタMOS7と図示されている
数個のMOSトランジスタから構成される。ブロックS
NBOUTはブロックBDETにより検出された蓄積最
小信号を読みだす回路である。
【0007】図10において、光電変換素子であるバイ
ポーラ・トランジスタTR1のベースに接続されたP−
チャンネルMOSトランジスタMOS5のゲートは共通
に接続されて、光電変換素子のリセット用クロックφr
esが入力される。同MOSトランジスタのソースも共
通に接続されて定電位VBBが供給されている。TR1
のエミッタに接続されたMOSトランジスタMOS8の
ゲートは共通に接続されていて、リセット用クロックφ
vrsが入力される。また、同エミッタはMOSトラン
ジスタMOS10を介して、キャパシタCtnに、MO
SトランジスタMOS11を介して、キャパシタCts
にそれぞれ接続されており、各キャパシタCtn,Ct
sの電荷はそれぞれMOSトランジスタMOS12,M
OS13を介してRDLN,RDLSに出力され出力ア
ンプSNAMPに入力される。また、MOS12,MO
S13はシフトレジスタSNSRにより順次オンされ
る。レジスタSNSRは入力される読みだし用クロック
φreadにより、“H”となる信号端が順次シフトす
るように構成されている。
【0008】MOS10のゲートは共通に接続されてい
て蓄積開始用クロックφTnが入力される。MOS11
のゲートは共通に接続されていて蓄積終了用クロックφ
Tsが入力される。また、出力アンプSNAMPの入力
RDLN,RDLSは、それぞれ各光電変換素子に接続
されていて蓄積信号読みだし回路の共通出力ラインとな
っている。また、MOSトランジスタMOS14,MO
S15を介してGNDに接続されている。MOS14,
MOS15のゲートには読みだし用クロックφhrsが
入力されている。
【0009】また、光電変換素子であるバイポーラ・ト
ランジスタTR1のエミッタはN−チャンネルMOSト
ランジスタMOS6のゲート,P−チャンネルMOSト
ランジスタMOS7のゲートにも接続しており、光電変
換素子出力は蓄積時間中常に最大信号検出回路PDE
T、および最小信号検出回路BDETに供給される。最
大信号検出回路と最小信号検出回路は互いにコンプリメ
ンタリーな差動アンプ構成で、出力段はそれぞれNPN
トランジスタ,PNPトランジスタのエミッタフォロワ
形式をとっており、それぞれ出力アンプVpAMPを介
してVmax、出力アンプVbAMPを介してVmin
に出力される。
【0010】VpAMPの入力ラインVpLには各光電
変換素子に接続されている最大信号検出ブロックPDE
Tの出力Vpmaxが、VbAMPの入力ラインVbL
には最小信号検出ブロックBDETの出力Vbminが
それぞれ共通に接続されている。このとき各光電変換素
子に照射される光束の照度によってバイポーラ・トラン
ジスタTR1のエミッタ出力は様々なレベルにあり、最
大レベルにないエミッタと接続されている最大信号検出
回路はコンパレータ動作を行うため、バイポーラ・トラ
ンジスタTR2は総てがカットオフし、最大レベルにあ
るエミッタと接続されている最大信号検出回路のみボル
テージフォロワ動作となる。バイポーラ・トランジスタ
TR2の出力VpmaxはMOSトランジスタMOS6
のゲートに入力される電位と等しく値を出力し、定電流
負荷ILmaxとバッファアンプVpAMPを介し出力
される。
【0011】また、最小レベルにないエミッタと接続さ
れている最小信号検出回路はコンパレータ動作を行うた
め、バイポーラ・トランジスタTR3は、総てがカット
オフし、最小レベルにあるエミッタと接続されている最
小信号検出回路のみボルテージフォロワ動作となる。バ
イポーラ・トランジスタTR3の出力VbminはMO
SトランジスタMOS7のゲートに入力される電位と等
しい値を出力し、定電流負荷ILminとバッファアン
プVbAMPを介して出力される。バッファアンプVp
AMP出力VmaxとバッファアンプVbAMP出力V
minは蓄積制御回路および蓄積信号処理回路にそれぞ
れ入力されている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ような従来の光電変換素子の蓄積制御装置にあっては、
光電変換素子受光部(フォトトランジスタ)に比べ、最
大信号検出回路,最小信号検出回路からなる制御部の占
める面積の割合が非常に大きくなるためチップ面積の増
加と歩留まりの低下を招く。この発明は以上のような従
来例の問題点を解消するためになされたもので、歩留ま
りと光電変換素子受光部の配置の自由度の向上を目的と
している。
【0013】
【課題を解決するための手段】このため、この発明に係
る光電変換素子の蓄積制御装置は、最大値を検出する蓄
積最大信号検出回路を備えた光電変換素子列と、最小値
を検出する蓄積最小信号検出回路を備えた光電変換素子
列とを、1対の光電変換素子列として、それぞれ第1の
光電変換素子列と第2の光電変換素子列に分割配置する
ことにより、前記目的を達成しようとするものである。
【0014】
【作用】以上のように構成したことにより、チップ上で
の制御部の占める割合が小さくなり、光電変換素子受光
部の配置の自由度も向上できる。
【0015】
【実施例】以下、この発明の一実施例を図面に基づいて
説明する。
【0016】(構成)この実施例の光電変換装置は特開
昭60−12579号公報,特開昭60−12765号
公報等に開示されているフォトトランジスタアレイから
なる蓄積型光電変換素子列で構成されている。同光電変
換素子列は公知のCCDセンサやMOSセンサとは異な
り、入射光に比例した電荷をトランジスタのベース部に
蓄積し、読みだしに際しては、各素子ごとに蓄積電荷量
に応じた信号を出力する。上記光電変換素子単体の動作
については、上記公報等に開示されているので説明は省
略する。
【0017】図1〜図7は本発明の一実施例である。図
1,図2は本発明の特徴を最もよく表す1対の光電変換
素子列とその周辺回路からなる光電変換装置の構成図お
よびブロック図、図3,図4は本光電変換装置を構成す
る光電変換素子の1画素に相当する回路図で、図3には
受光部と信号読みだし系のほかに最大信号検出回路が、
図4には受光部と信号読みだし系のほかに最小信号検出
回路が付加されている。図5に光電変換素子の駆動タイ
ミングを表わす図、図6に光電変換装置の蓄積時間制御
及び蓄積信号処理を行う蓄積制御装置のブロック図、図
7に蓄積制御プログラムのフローチャートをそれぞれ示
している。図中、従来例と同一または相当部分は同一符
号で表わす。
【0018】図1,図2において示すブロックSNSC
TLU−Aが受光部であるセンサアレイSNSPX−A
を含むセンサ制御アレイであり、SNOUTU−Aが蓄
積信号読みだし回路SNOUT複数個からなる像信号読
みだし回路、SNBOUTが蓄積最小信号VBを読みだ
す回路、PDETUが蓄積信号の最大値検出機能を備え
た回路PDET複数個からなる蓄積最大信号検出回路、
BDETUが蓄積信号の最小値検出機能を備えた回路B
DET複数個からなる蓄積最小信号検出回路である。同
図中のブロックSNSPX−AとSNSPX−B,SN
SCTLU−AとSNSCTLU−B,SNOUTU−
AとSNOUTU−Bは互いに同じ構成である。
【0019】図3,図4は図2の光電変換装置を構成す
る1つの光電変換素子とその付随回路を示したもので、
図3はブロックSNSCTL,PDET,SNOUTか
らなる。図4はブロックSNSCTL,BDET,SN
OUTからなる。SNSCTLはセンサ受光部とその周
辺回路である。PDETは最大信号検出回路、BDET
は最小信号検出回路である。従来例である図9と実施例
である図2とで、その機能,構成が同じブロックはブロ
ック名も同じにしている。よって、既に説明した内容と
重複する部分の説明は省略する。
【0020】次に図6に基づいて蓄積制御装置の構成を
説明する。図6において、11は図1に示した蓄積中に
蓄積信号の最大値Vmaxと最小値Vminを検出する
機能を持った、複数の光電変換素子からなる光電変換装
置であって、制御信号φcontによりその蓄積が制御
される。ここでφcontは光電変換装置11に入力さ
れるクロック信号φres,φvrs,φTn,φT
s,φsh,φhrs,φreadの総称である。
【0021】12は前記最大値Vmaxと最小値Vmi
nの差をとる差動増幅器、13,14は前記差動増幅器
12より最大値Vmaxと最小値Vminの差信号をそ
れぞれ所定レベルVref,Vref/10と比較する
比較器、15は最大値Vmaxを光電変換素子の飽和レ
ベルより若干小さい所定のレベルVref−Lと比較す
る比較器、16は蓄積終了時の最小値VBを記憶する記
憶回路、17は前記記憶回路16の出力を基準に光電変
換装置11よりの像信号VIDEOを増幅する増幅器で
あって、ゲインコントロール信号Gcont(G1,G
2)によってその増幅率(ゲイン)が1倍あるいは10
倍に切り換えられる。具体的には、G1=ハイレベル、
G2=ロウレベル時において、該増幅器17のゲインは
1倍となり、G1=ロウレベル、G2=ハイレベル時に
おいて、ゲインは10倍となる。18は、ワンチップマ
イクロコンピュータ、19は発振器、20は蓄積開始直
後所定時間TMaxを計数するカウンタを示す。
【0022】(動作)次に、図3,図4に示されるブロ
ックSNSCTL,SNOUTの動作を図5のタイミン
グチャートに基づいて説明する。PDET,BDETの
動作は従来例で説明済なので省略する。同図中、φre
s,φvrs,φTn,φTs,φsh,φhrs,φ
readは図6のワンチップマイクロコンピュータ18
から光電変換装置11に入力されるクロック信号であ
り、図6中においてはその総称をφcontとして図示
している。
【0023】φresを“L”とすることで総てのP−
チャンネルMOSトランジスタMOS5がオンとなり、
各トランジスタTR1のベースに電位VBBが印加され
る。これによって、TR1のベースの残留電位がVBB
より大きければ余分な電荷は再結合され、最終的にベー
ス電位をVBBとする電荷がベースに保持される。ま
た、t1からt2の間はφTn,φTs,φvrsも
“H”であるから、キャパシタCts,Ctn内の電荷
もMOSトランジスタMOS8を介してクリアされる。
【0024】次に、時刻t4でφresが“H”になっ
たのち、t5でφvrsは“H”になるため、ベースに
保持された電荷は徐々に再結合し消滅してゆく。各トラ
ンジスタTR1のベースには時刻t4でベース電位をV
BBとする電荷が保持されていたわけであるから、時刻
t6においてベースに残る電荷量は、時刻t3以前に保
持されていた電荷量の多少にかかわらず、総てのTR1
で等しくなる。
【0025】時刻t6にφvrsが“L”になると、M
OS8がオフとなり、この時点より光励起により発生し
た電荷はトランジスタのベースに蓄積されてゆく。時刻
t1からt6までの期間がセンサのリセット動作であ
る。所定の蓄積時間を経過し、時刻t9からt10のφ
Tsのパルスによって、パルス幅の時間だけMOS11
がオンし、TR1のベースに蓄積された電荷量に応じた
信号が、トランジスタ動作によってキャパシタCtsに
移される。従って、このときにベースに蓄積される電荷
は減少することなく、引き続きTR1はベースに光励起
された電荷を蓄積してゆく。
【0026】この後、先ず時刻t1からt11までφh
rsが所定時間“H”となることで、MOS14,MO
S15がその時間オンし、読みだしラインRDLN,R
DLSの浮遊容量に残っていた電荷をGNDに流し、時
刻t12からt13のφreadのパルスによって、シ
フトレジスタSNSRによる各MOSトランジスタMO
S12とMOS13の走査を開始する。MOS12,M
OS13がオンすると、蓄積最小信号読みだし回路SN
BOUTのキャパシタCtn,Ctsに保持されている
信号が読みだしラインRDLNとRDLSを通り、差動
出力アンプSNAMPを介して、その差出力VIDEO
が出力され、続いて各センサ出力読みだし回路SNOU
TのキャパシタCtn,Ctsの信号が同様にVIDE
Oに出力される。
【0027】以上の動作を繰り返すことにより、時刻t
6からt9までの蓄積時間中に光電変換された信号を順
次読みだすことができる。このようにして、総てのバイ
ポーラ・トランジスタTR1の信号の読みだしが終了す
ると、再び時刻t1からt6までのリセット動作を行っ
て次の蓄積動作が開始される。以上が像信号検出系の動
作説明である。
【0028】次に図7のフローチャートに従って図6の
動作説明を行う。図7はサブルーチン形式で記述されて
いる。一般にこのようなセンサの蓄積制御プログラムは
それ単独で使用されることは少なく、サブルーチン形式
の記述の方が、汎用性があるためである。また、以下の
説明の中で用いる制御信号φcontは、図5に示すタ
イミングチャートのφres,φvrs,φTn,φT
s,φhrs,φreadの総称である。
【0029】(ステップ201)本サブルーチンがコー
ルされる。
【0030】(ステップ202)制御信号φcont及
びリセット信号を発生し、光電変換装置11は、初期化
動作の後、直ちに蓄積動作に自動的に移行する。
【0031】(ステップ203)蓄積動作が開始された
後所定時間Tmaxが経過したかどうかをカウンタ20
よりの信号によって検知する。所定時間Tmaxが経過
している場合は、蓄積を終了し、増幅器17のゲインを
決定すべくステップ206に移行し、それ以外はステッ
プ204に移行する。
【0032】(ステップ204)蓄積信号が、光電変換
装置11の飽和レベルに達するかどうかを検知する。そ
のため、光電変換装置11の最大値Vmaxが飽和に近
いレベルを示すVref−Lを上回ったか否かを示す信
号φmaxがハイレベルの場合は、蓄積を終了し、増幅
器17のゲインを決定するべくステップ206に移行
し、それ以外はステップ205に移行する。
【0033】(ステップ205)光電変換装置11の最
大値Vmaxと最小値Vminの差が所定レベルVre
fに達したかどうかを調べるため、信号φcomp2が
ハイレベルであれば、蓄積を終了し、増幅器17のゲイ
ンを決定するべくステップ206へ移行し、それ以外は
ステップ203へ戻る。
【0034】(ステップ206)蓄積信号読みだし時の
増幅器17のゲインを決定するため、最大値Vmaxと
最小値Vminの差と所定レベルVref/10を比較
した信号φcomp1の状態を調べる。この結果該信号
φcomp1がハイレベルの場合はステップ207に移
行し、該信号φcomp1がローレベルの場合はステッ
プ208へ移行する。
【0035】(ステップ207)信号φcomp1がハ
イレベルであったので(信号φcomp1がハイレベル
の場合は必ず該ステップへ進むことになる)であれば増
幅器17のゲインを1倍に設定するため、G1=ハイレ
ベル(H)、G2=ローレベル(L)にする。この場合
は被写体のコントラストが比較的高い。
【0036】(ステップ208)信号φcomp1がロ
ーレベルであったので、増幅器17のゲインを10倍に
設定するため、G1=ローレベル、G2=ハイレベルに
する。この場合は被写体のコントラストが比較的低い。
【0037】(ステップ209)光電変換装置11の蓄
積を終了すべく制御信号φcontを発生する。
【0038】(ステップ210)このサブルーチンを終
了する。
【0039】次に第2の実施例を説明する。実施例1で
は、第1と第2の光電変換素子列からなる1対光電変換
素子列の、第1の光電変換素子列には蓄積最大信号検出
回路、第2の光電変換素子列には蓄積最小信号検出回路
を設けたが、かかる焦点検出装置においては、第1と第
2の光電変換素子列の構成を入れ換えてもなんら支障を
きたすことはなく、センサレイアウトの内容に応じてこ
れを選択することも可能である。
【0040】次に第3の実施例を説明する。実施例1,
2では、1対の光電変換素子列からなる光電変換装置へ
の実施を取り上げたが、本発明は複数個の光電変換素子
列からなる光電変換装置へ応用したとき、さらなる効果
を与える。図8に4対の光電変換素子列からなる光電変
換装置のブロック図を示す。なお、同図は図2の主要部
のみをブロックで示しており、SNS−1,2,3,4
はそれぞれ1対の光電変換素子列である。
【0041】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれば
光電変換装置に蓄積信号の最大値と最小値を検出する機
能をもたせ、これに基づいた蓄積制御により焦点検出装
置の低コントラスト限界の改善効果を保持し、蓄積最大
信号検出回路と蓄積最小信号検出回路を消滅することが
できたので、回路規模の縮小と歩留まりの改善が可能と
なり資源の節約とコストダウンが実現する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 実施例1の光電変換装置の構成図
【図2】 実施例1の光電変換装置のブロック図
【図3】 最大信号検出回路を付加した光電変換素子の
1画素相当分の回路図
【図4】 最小信号検出回路を付加した光電変換素子の
1画素相当分の回路図
【図5】 光電変換素子の駆動タイミング図
【図6】 光電変換装置の蓄積時間制御及び蓄積信号処
理を行う蓄積制御装置のブロック図
【図7】 蓄積制御プログラムのフローチャート
【図8】 実施例3の4対の光電変換素子列からなる光
電変換装置のブロック図
【図9】 従来例の光電変換装置のブロック図
【図10】 従来例の光電変換装置を構成する1光電変
換素子のブロック図
【図11】 従来例の4対の光電変換素子列からなる光
電変換装置のブロック図
【符号の説明】
A 第1の光電変換素子列 B 第2の光電変換素子列 SNSCTLU−A,−B センサ制御アレイ PDETU 蓄積最大信号検出回路 BDETU 蓄積最小信号検出回路 SNOUTU−A,−B 像信号読み出し回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H04N 5/335 Q 8838−5C

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 結像光学系により形成された第1の像と
    第2の像に対応して光電変換する第1の光電変換素子列
    と第2の光電変換素子列を対にする1対以上の光電変換
    素子列を備え、前記光電変換素子列に蓄積信号の最大値
    と最小値を検出する蓄積信号検出回路を持たせ、検出さ
    れた蓄積信号に基づいて電荷の蓄積制御を行う光電変換
    素子の蓄積制御装置において、最大値を検出する蓄積最
    大信号検出回路を備えた光電変換素子列と、最小値を検
    出する蓄積最小信号検出回路を備えた光電変換素子列と
    を、1対の光電変換素子列として、それぞれ第1の光電
    変換素子列と第2の光電変換素子列に分割配置すること
    を特徴とする光電変換素子の蓄積制御装置。
JP3149143A 1991-06-21 1991-06-21 光電変換素子の蓄積制御装置 Withdrawn JPH0534588A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2012048064A (ja) * 2010-08-27 2012-03-08 Canon Inc 光電変換装置、焦点検出装置、および撮像システム

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