JPH05330024A - Method and device for correcting deviation of position of image and image inspection device - Google Patents

Method and device for correcting deviation of position of image and image inspection device

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JPH05330024A
JPH05330024A JP4144091A JP14409192A JPH05330024A JP H05330024 A JPH05330024 A JP H05330024A JP 4144091 A JP4144091 A JP 4144091A JP 14409192 A JP14409192 A JP 14409192A JP H05330024 A JPH05330024 A JP H05330024A
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image
correction
area
unit
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Masashi Nishida
真史 西田
Yoshito Abe
淑人 阿部
Hiroshi Sato
博 佐藤
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Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To reduce the processing amount during the inspection by dividing one image into partial zones and correcting the deviation of positions in respective partial zones in the position deviation correction method for images for inspecting an image to be inspected and a reference image while comparing both. CONSTITUTION:The difference between a digital image of an inspection image memory updatedly successively and a reference image memory is computed for every renewed frame, every partial zone and every pixel while the digital image is divided into a plurality of given partial zones. When the difference is computed, the position deviation is corrected or the completion of conformity of partial zones corresponding reference image sections is carried out in the laminating range of reference zones, not comparing and referring all the pixels constituting the partial zones. The reference zones are determined preliminarily for respective partial zones and should be set up to include the sections forming the features of patterns in the partial zones. For correcting the position deviation, the digital image stored in the inspection image memory is divided into four successively to form 0-7 hierarchies, and the correction of position deviation in a rough manner is carried out for the topmost hierarchy, and as the hierarchies go down from top to bottom, the correction is applied in a more and more fine manner.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、被検査画像と基準画像
とを比較しながら該被検査画像を検査するために、一方
の画像と他方の画像との間の位置ずれ補正を行う画像の
位置ずれ補正方法、あるいは該方法を用いた画像の位置
ずれ補正装置、あるいは該方法を用いた画像検査装置に
係り、特に、被検査画像の歪み等の影響を低減すること
ができ、又、検査中の処理量を低減することができる画
像の位置ずれ補正方法及びその装置及び画像検査装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image for performing positional deviation correction between one image and the other image in order to inspect the image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image. The present invention relates to a positional deviation correction method, an image positional deviation correction apparatus using the method, or an image inspection apparatus using the method, and in particular, it is possible to reduce the influence of distortion or the like of an image to be inspected. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an image position shift correction method, an apparatus thereof, and an image inspection apparatus capable of reducing the amount of processing therein.

【0002】[0002]

【従来の技術】印刷物の不良には、印刷用紙の汚れや、
印刷不良など様々なものがある。又、その欠陥部分が微
小なものであっても、印刷物の品質上問題となる場合が
ある。更に、輪転印刷機等、印刷済みの印刷物が高速で
連続走行している場合、個々の印刷物の検査も高速に行
わなければならない。
2. Description of the Related Art Defects in printed matter include stains on printing paper,
There are various things such as printing defects. Even if the defective portion is minute, it may cause a problem in the quality of the printed matter. Furthermore, when printed matter such as a rotary printing machine is continuously running at high speed, it is necessary to inspect each printed matter at high speed.

【0003】従来、印刷物検査は、種々の方法で人手に
よって行われていた。例えば、印刷機や印刷物の種類に
よっては、印刷後の印刷物を適宜抜き取り、目視により
検査を行っていた。あるいは、一定速度で連続的に走行
する印刷物では、該走行速度に同期させてストロボを発
光し、該印刷物の目視検査を行っていた。
Conventionally, printed matter inspection has been performed manually by various methods. For example, depending on the printing machine and the type of printed matter, the printed matter after printing has been appropriately extracted and visually inspected. Alternatively, in the case of a printed matter that continuously travels at a constant speed, a strobe emits light in synchronization with the traveling speed to perform a visual inspection of the printed matter.

【0004】近年、印刷物検査を自動的に行う様々な技
術が開示されている。
In recent years, various techniques for automatically inspecting printed matter have been disclosed.

【0005】例えば、特公平1−47823では、所定
の時点で走行印刷物の絵柄から読み取った画像データの
記憶が可能なメモリを備え、該メモリから読み出した画
像データを基準データ、上記走行印刷物の残余の絵柄か
ら読み取った画像データを検査データとし、これら基準
データと検査データとの比較に基づいて印刷の良否判定
を行う方式の印刷物の検査装置に関する技術が開示され
ている。この技術は、上記基準データの特徴と検査デー
タの特徴とを、それぞれ対応する画素単位毎に抽出比較
して印刷の良否判定を行う第1の特徴抽出比較判定手段
を用いると共に、上記基準データの特徴と検査データの
特徴とを、同一絵柄内での所定の範囲における画素の総
和として抽出比較することにより印刷の良否判定を行う
第2の特徴抽出比較判定手段を用い、更に、上記基準デ
ータの特徴と検査データの特徴とを、印刷物の走行方向
に沿って同一直線上に配列された画素の同一絵柄内にお
ける総和として抽出比較することにより印刷の良否判定
を行う第3の特徴抽出比較判定手段をも用い、これら第
1〜第3の各特徴抽出比較判定手段の判定結果を総合判
定して、最終的な印刷物の良否判定を行う。又、この技
術では、所定時点における走行印刷物の走行速度と、検
査データの読取り時における走行印刷物の走行速度との
差を所定値と比較する比較手段を用い、該比較の結果に
基づいて、このときの走行印刷物の絵柄から読み取った
検査データを上記基準データとして新たに書替える手段
をも備えている。この特公平1−47823で開示され
ている技術によれば、印刷物の絵柄など濃度変化が広い
範囲に亘っている場合の良否判定の精度を向上させると
共に、マスキング機能等も備え、印刷物の状態変化に対
しても常に安定した動作を得ることができる。
For example, Japanese Examined Patent Publication No. 1-47823 includes a memory capable of storing image data read from a design of a traveling printed matter at a predetermined time, and the image data read from the memory is used as reference data, and the remaining portion of the traveling printed matter. There is disclosed a technique relating to a printed matter inspection apparatus of a system in which image data read from a pattern is used as inspection data and whether the printing is good or bad is determined based on a comparison between the reference data and the inspection data. This technique uses a first feature extraction / comparison / determination unit for performing a print quality determination by extracting and comparing the features of the reference data and the features of the inspection data for each corresponding pixel unit, and A second characteristic extraction / comparison / determination means for determining the quality of printing by extracting and comparing the characteristic and the characteristic of the inspection data as the total sum of pixels in a predetermined range within the same pattern is further used. Third characteristic extraction / comparison / determination means for performing a quality judgment of printing by extracting and comparing the characteristics and the characteristics of the inspection data as the total sum of the pixels arranged on the same straight line along the traveling direction of the printed matter in the same pattern. Is also used to make a comprehensive determination of the determination results of the first to third feature extraction comparison determination means to make a final quality determination of the printed material. Further, in this technique, the comparison means for comparing the difference between the traveling speed of the traveling printed material at a predetermined time point and the traveling speed of the traveling printed material at the time of reading the inspection data with a predetermined value is used, and based on the result of the comparison, There is also provided means for newly rewriting the inspection data read from the pattern of the running printed matter at this time as the reference data. According to the technique disclosed in Japanese Patent Publication No. 1-47823, the accuracy of the quality judgment in the case where the density change such as the pattern of the printed matter is wide is improved, and the masking function is provided to change the state of the printed matter. It is possible to always obtain a stable operation.

【0006】又、特公平1−20477では、印刷物の
試料絵柄を画素マトリックスに分解して検出した試料デ
ータを、標本印刷物から予め取り出されメモリに記録さ
れている標本データと1画素ずつ比較し、絵柄の良否判
定を行う印刷物の絵柄検査方法に関する技術が開示され
ている。この技術は、前記試料データ及び標本データの
一方を1画素ずつ印刷物の横方向に位置ずれさせて、前
記両データの他方と比較し、両データが最も一致に近付
いたときの前記両データ間の位置ずれ量により、前記試
料データ又は標本データを印刷物横方向に関し位置ずれ
補正した上で、前記標本データと比較するという技術で
ある。この特公平1−20477で開示されている技術
によれば、印刷物搬送系に位置ずれがあっても、比較的
安価な装置で高精度で絵柄検査を行うことができる。
In Japanese Patent Publication No. 1-20477, sample data detected by decomposing a sample pattern of a printed matter into a pixel matrix is compared with sampled data preliminarily extracted from a sampled printed matter and recorded in a memory, pixel by pixel. A technique relating to a pattern inspection method for a printed matter, which determines whether the pattern is good or bad, is disclosed. In this technique, one of the sample data and the sample data is displaced by one pixel in the lateral direction of the printed matter and compared with the other of the two data, and when the two data are closest to each other This is a technique in which the sample data or the sample data is corrected in position in the lateral direction of the printed matter according to the amount of position deviation and then compared with the sample data. According to the technique disclosed in Japanese Patent Publication No. 1-20477, the pattern inspection can be performed with high accuracy by a relatively inexpensive device even if the printed material conveying system is misaligned.

【0007】又、特開昭62−11152では、印刷物
の走行方向と直角方向に互いに視野が重なり合い、画像
同士が重なり合った状態の画素データを取り出す検出手
段を用い、まず良品データを取り込んで基準データと
し、次に被検査データを取り込んで基準データと比較す
るようにしている。この比較は、各画素比較を行った上
で加算データ同士の比較を行うというものである。この
特開昭62−11152で開示されている技術によれ
ば、走行中の印刷物では避けられない位置ずれに影響さ
れることなく、正確な検査を行うことができる。
Further, in Japanese Patent Laid-Open No. 62-11152, the detection means for extracting the pixel data in a state where the fields of view overlap each other in the direction perpendicular to the running direction of the printed matter and the images overlap each other, first, the non-defective product data is acquired and the reference data is acquired. Then, the data to be inspected is taken in and compared with the reference data. In this comparison, each pixel is compared and then the addition data are compared. According to the technique disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 62-11152, accurate inspection can be performed without being affected by misalignment that is inevitable in running printed matter.

【0008】このように、印刷物検査を自動的に行う技
術においては、被検査画像と基準画像とを比較しながら
該被検査画像を検査する際には、一方の画像と他方の画
像との間の位置ずれに対する対策が成されている。例え
ば、前記特公平1−20477では、試料データ及び標
本データの一方を1画素ずつ印刷物の横方向に位置ずれ
させながら位置ずれ補正を行うようにしている。
As described above, in the technique for automatically inspecting the printed matter, when inspecting the image to be inspected while comparing the image to be inspected with the reference image, the image between one image and the other image is Measures have been taken against the misalignment. For example, in Japanese Patent Publication No. 1-20477, one of the sample data and the sample data is displaced pixel by pixel in the lateral direction to perform the displacement correction.

【0009】[0009]

【発明が達成しようとする課題】しかしながら、これら
の技術など従来の技術では、被検査画像に歪みが発生し
てしまうと、被検査画像と基準画像との位置ずれを正し
く補正することができなかった。被検査画像や基準画像
の絵柄で濃度変化が激しい部分では、1画素単位の位置
ずれであっても、その影響が非常に大きくなるものであ
る。この場合、従来の技術では、該当部分を欠陥と判定
してしまっていた。あるいは、このように濃度変化の激
しい部分を、検査対象から除いていた。即ち、未検査部
分が生じてしまっていた。
However, in the conventional techniques such as these techniques, if the inspection image is distorted, the positional deviation between the inspection image and the reference image cannot be correctly corrected. It was In the portion of the pattern of the image to be inspected or the reference image in which the density changes drastically, even if the displacement is in units of one pixel, the influence thereof is extremely large. In this case, the related art has determined that the relevant portion is defective. Alternatively, such a portion where the concentration changes drastically is excluded from the inspection target. That is, the uninspected part had occurred.

【0010】又、これらの技術など従来の技術では、画
像の位置ずれ補正の際、被検査画像と基準画像とのどち
らか一方を、例えば1画素ずつずらす度に、これら被検
査画像と基準画像とを比較するというものであるため
に、膨大な処理時間を要してしまうという問題があっ
た。
Further, in the conventional techniques such as these techniques, when the image position deviation is corrected, each time one of the inspected image and the reference image is shifted by, for example, one pixel, the inspected image and the reference image. There is a problem that a huge amount of processing time is required because it is to compare and.

【0011】本発明は、前記従来の問題点を解決するべ
くなされたもので、まず、第1の課題として、被検査画
像の歪み等の影響を低減することができ、又、検査中の
処理量を低減することができる画像の位置ずれ補正方法
及びその装置及び画像検査装置を提供することを目的と
する。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems. First, as a first problem, it is possible to reduce the influence of distortion or the like of the image to be inspected, and the process during the inspection. An object of the present invention is to provide an image position shift correction method, an apparatus therefor, and an image inspection apparatus capable of reducing the amount.

【0012】又、第2の課題として、より綿密に位置ず
れ補正を行うことができる画像の位置ずれ補正装置を提
供することを目的とする。
A second object of the present invention is to provide an image positional deviation correcting device which can perform positional deviation correction more closely.

【0013】[0013]

【課題を達成するための手段】本願の第1発明である画
像の位置ずれ補正方法は、被検査画像と基準画像とを比
較しながら該被検査画像を検査するために、一方の画像
と他方の画像との間の位置ずれ補正を行う画像の位置ず
れ補正方法において、前記2つの画像のうち、少なくと
も一方の画像を部分領域に分割し、該部分領域毎に前記
位置ずれ補正を行うことにより、前記第1の課題を達成
したものである。
According to a first aspect of the present invention, there is provided a method for correcting a positional deviation of an image, in order to inspect the image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image, one image and another image are inspected. In the image position shift correction method for correcting the position shift between the two images, at least one of the two images is divided into partial regions, and the position shift correction is performed for each partial region. That is, the first object is achieved.

【0014】又、本願の第2発明の画像の位置ずれ補正
装置は、被検査画像と基準画像とを比較しながら該被検
査画像を検査するために、一方の画像と他方の画像との
間の位置ずれ補正を行う画像の位置ずれ補正装置におい
て、前記2つの画像のうちの一方の画像の少なくとも一
部の画像を、部分領域に分割する領域分割手段と、該部
分領域毎に前記位置ずれ補正を行う領域毎補正手段とを
備えたことにより、前記第1の課題を達成したものであ
る。
Further, the image position shift correcting apparatus according to the second aspect of the present invention is arranged so that the image between the one image and the other image is inspected in order to inspect the image to be inspected while comparing the image to be inspected with the reference image. In an image position shift correcting apparatus that performs position shift correction, at least a part of one of the two images is divided into partial regions, and the position shift is performed for each partial region. The first problem is achieved by including the correction unit for each area for correction.

【0015】又、前記第2発明の画像の位置ずれ補正装
置において、前記領域毎補正手段が、所定精度Kでの位
置ずれ補正を行う手段であって、更に、前記領域毎補正
手段での補正不良により欠陥候補部分領域を抽出し、該
欠陥候補部分領域を前記領域分割手段で分割対象となる
画像とすると共に、前記所定精度Kをより高精度化し、
前記領域分割手段及び前記領域毎補正手段で行う処理を
再実行させる判定手段とを備えたことにより、前記第1
の課題をより達成したものである。
In the image position shift correcting apparatus according to the second aspect of the present invention, the area correction means is a means for correcting the position shift with a predetermined accuracy K, and the area correction means further corrects the position shift. A defect candidate partial area is extracted due to a defect, the defect candidate partial area is used as an image to be divided by the area dividing unit, and the predetermined accuracy K is further increased,
By providing the area dividing means and the judging means for re-executing the processing performed by the area correcting means, the first
This is a more fulfilling task.

【0016】又、前記第2発明の画像の位置ずれ補正装
置において、前記2つの画像が画素画像であって、又、
前記領域毎補正手段が、前記位置ずれ補正の際に、画素
間の位置での濃度を近傍画素の濃度からの内挿によって
求めることにより、1画素の距離より細かい位置ずれ補
正をも可能な手段であることにより、前記第1の課題に
加え、前記第2の課題を達成したものである。
In the image position shift correcting apparatus of the second invention, the two images are pixel images, and
The region-by-region correction unit obtains the density at the position between pixels by interpolation from the densities of neighboring pixels at the time of the positional deviation correction, and is capable of performing positional deviation correction finer than the distance of one pixel. Thus, the second problem is achieved in addition to the first problem.

【0017】又、本願の第3発明の画像検査装置は、被
検査画像と基準画像とを比較しながら該被検査画像の欠
陥を検出する画像検査装置において、前記2つの画像の
うちの一方の画像の少なくとも一部の画像を、部分領域
に分割する領域分割手段と、該部分領域毎に前記位置ず
れ補正を行う領域毎補正手段と、前記領域毎補正手段で
の補正不良を検出する判定手段とを備え、該補正不良の
検出により前記被検査画像の欠陥を検出することによ
り、前記第1の課題を達成したものである。
The image inspection apparatus of the third invention of the present application is an image inspection apparatus for detecting a defect in an image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image, and one of the two images is detected. A region dividing unit that divides at least a part of the image into partial regions, a region correcting unit that performs the positional deviation correction for each partial region, and a determining unit that detects a correction defect in the region correcting unit. And detecting the defect in the image to be inspected by detecting the correction defect, thereby achieving the first object.

【0018】[0018]

【作用】検査対象となる画像が、例えば印刷物である場
合には、紙やフィルム等の印刷媒体の伸縮や歪み等によ
り、被検査画像が歪んでしまうことがある。又、該印刷
物が輪転印刷機で印刷されたものである場合には、印刷
中の該印刷物の蛇行等によっても、印刷された絵柄に歪
みが生じてしまう。あるいは、被検査画像や基準画像を
取り込む際に用いられる撮影手段にも歪みがあり、例え
ば撮影用レンズには湾曲歪み等の収差があるものであ
る。被検査画像と基準画像とを同一の撮影用レンズによ
り撮影したとしても、その視野内での相対的位置がこれ
ら被検査画像と基準画像とで異なってしまうと、これら
画像間には湾曲歪みの生じ方に差異が生じ、結果として
被検査画像に歪みが生じてしまう。本発明は、画像検査
に際して行われる位置ずれ補正をより良好に行うため
に、このような被検査画像の歪み等の影響に着目して成
されたものである。
When the image to be inspected is a printed matter, for example, the image to be inspected may be distorted due to expansion and contraction or distortion of the print medium such as paper or film. Further, when the printed matter is printed by a rotary printing machine, the printed pattern may be distorted due to meandering of the printed matter during printing. Alternatively, the photographing means used when capturing the image to be inspected or the reference image also has distortion, and for example, the photographing lens has aberration such as curvature distortion. Even if the image to be inspected and the reference image are photographed by the same photographing lens, if the relative position in the field of view is different between these images to be inspected and the reference image, there is a bending distortion between these images. A difference occurs in the way of occurrence, and as a result, the image to be inspected is distorted. The present invention has been made by paying attention to the influence of such distortion of the image to be inspected in order to better perform the positional deviation correction performed in the image inspection.

【0019】図1は、前記第1発明の要旨を示すフロー
チャートである。
FIG. 1 is a flowchart showing the gist of the first invention.

【0020】この図1のステップ500において、ま
ず、被検査画像と基準画像との少なくとも一方の画像を
部分領域に分割する。続いてステップ502では、該部
分領域毎に位置ずれ補正を行う。このように、前記第1
発明では、被検査画像全体と基準画像全体とを一度に位
置ずれ補正するのではなく、まず複数の部分領域に分割
して、該部分領域毎に位置ずれ補正を行い、この後、例
えば該部分領域毎に画像検査を行うようにしている。こ
れにより、被検査画像の歪み等の影響を低減している。
In step 500 of FIG. 1, first, at least one of the inspection image and the reference image is divided into partial areas. Then, in step 502, the positional deviation is corrected for each of the partial areas. Thus, the first
According to the invention, instead of correcting the positional deviation of the entire inspection image and the entire reference image at once, first, the image is divided into a plurality of partial areas and the positional deviation is corrected for each of the partial areas. The image inspection is performed for each area. This reduces the influence of distortion of the image to be inspected.

【0021】又、本発明はこれに限定するものではない
が、このような部分領域毎の位置ずれ補正や画像検査の
精度(細かさ)を異ならせた場合には、位置ずれ補正処
理の処理量や画像検査処理の処理量の全体量を低減する
ことができ、処理速度の改善等を図ることが可能であ
る。
Although the present invention is not limited to this, when the accuracy (fineness) of the positional deviation correction or the image inspection is different for each partial area, the processing of the positional deviation correction processing is performed. It is possible to reduce the total amount of the image processing and the processing amount of the image inspection processing, and it is possible to improve the processing speed.

【0022】なお、本発明はこれに限定されるものでは
ないが、前記位置ずれ補正の際、画素間の位置での濃度
を近傍画素からの内挿によって求めることにより、1画
素の距離より細かい位置ずれ補正を行うことをも見出し
ている。このような近傍画素の濃度からの内挿によれ
ば、より細かい位置ずれ補正を行うことができ、より綿
密に位置ずれ補正を行うことができる。
Although the present invention is not limited to this, when the positional deviation is corrected, the density at the position between the pixels is obtained by interpolation from the neighboring pixels, and the density is smaller than the distance of one pixel. It has also been found that positional deviation correction is performed. By performing the interpolation from the densities of the neighboring pixels as described above, it is possible to perform a finer positional deviation correction and a more precise positional deviation correction.

【0023】なお、本発明において、所定精度Kとは、
後述する実施例のシフト移動ステップ量やシフト移動範
囲等であり、これは特に限定されるものではない。
In the present invention, the predetermined accuracy K is
It is a shift movement step amount, a shift movement range, or the like in an embodiment described later, and is not particularly limited.

【0024】[0024]

【実施例】以下、図を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

【0025】図2は、本発明が適用された印刷機及び印
刷物集中検査装置の構成を示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing the construction of a printing machine and a printed matter concentrated inspection apparatus to which the present invention is applied.

【0026】この図2においては、図示されない印刷機
を含む複数の印刷機を1箇所で検査する印刷物集中検査
装置本体80が示されている。又、この図1に示されて
いる印刷機10は、最終印刷ユニット12から送り出さ
れる帯状の印刷物1を、フィードロール14及び巻上部
16によりロール状に巻き取られる。又、該印刷機10
からは、該印刷機が運転中であるか否か等を示す印刷状
態信号と、前記印刷ユニット12に取付けられたロータ
リエンコーダ18により、前記印刷物1の走行に従った
パルス信号を出力する。前記印刷ユニット12等、前記
印刷機10が備える印刷ユニットの版胴の周長が印刷さ
れる絵柄1つ(以降、1面とも称する)より長い場合、
版胴−回転で複数の絵柄が印刷される。このような面位
置を検出するため等、前記ロータリエンコーダ18は、
所定回転毎パルス信号を出力する。 この図2に示され
る印刷機10においては、走行中の印刷物表面状態を撮
影し、所定の画像信号を出力する検出部30が、前記印
刷ユニット12と前記フィードロール14との間に配置
されている。又、中継器40には、前記印刷状態信号
と、前記ロータリエンコーダ18によるパルス信号が入
力され、又前記検出部30が接続されている。なお、図
示される合計3台の中継器40と同様に、図示されない
他の中継器についても、図示されない他の印刷機に対応
して設けられている。これら中継器40は、それぞれ前
記集中検査装置本体80中の判定部100に接続されて
いる。
FIG. 2 shows a printed matter centralized inspection apparatus body 80 for inspecting a plurality of printing machines including a printing machine (not shown) at one location. In the printing machine 10 shown in FIG. 1, the strip-shaped printed matter 1 sent from the final printing unit 12 is wound into a roll shape by the feed roll 14 and the winding portion 16. Also, the printing machine 10
From the above, a printing state signal indicating whether or not the printing machine is in operation and the like, and a pulse signal according to the traveling of the printed matter 1 are output by the rotary encoder 18 attached to the printing unit 12. When the perimeter of the plate cylinder of the printing unit included in the printing machine 10 such as the printing unit 12 is longer than one pattern to be printed (hereinafter, also referred to as one surface),
Plate cylinder-Several pictures are printed by rotation. In order to detect such a surface position, the rotary encoder 18 is
A pulse signal is output every predetermined rotation. In the printing machine 10 shown in FIG. 2, a detection unit 30 that photographs the surface state of a printed material while it is running and outputs a predetermined image signal is arranged between the printing unit 12 and the feed roll 14. There is. Further, the printing state signal and the pulse signal from the rotary encoder 18 are input to the repeater 40, and the detection unit 30 is connected. Similar to the total of three repeaters 40 shown, other repeaters not shown are provided corresponding to other printing machines not shown. Each of these relays 40 is connected to the determination unit 100 in the centralized inspection apparatus body 80.

【0027】図3は、前記印刷物集中検査装置の検出部
の、印刷物走行方向から見た側面図である。
FIG. 3 is a side view of the detection section of the printed matter concentration inspection apparatus as seen from the printed matter running direction.

【0028】この図3において、印刷物1は手前から向
こう側へと走行している。又、検出部30は、主とし
て、ランプハウス32a に収められた光源32b と、該
光源32b からの光をライトガイド34へと導く光ファ
イバ33とを備え、該ライトガイド34に設けられたス
リットから前記印刷物1を照明する。前記ランプハウス
32a には図示されぬ放熱ファンが内蔵され、前記光源
32b で生じる熱が放熱される。該光源32b には、例
えばハロゲンランプや、クセノンランプ等の放電光源等
が用いられる。又、前記検出部30は、前記印刷物1の
走行方向に直交して配列された複数のラインセンサカメ
ラ36を有している。これら個々のラインセンサカメラ
36で撮影される、前記印刷物1上の1次元ライン状の
被撮影部分も、前記印刷物1の走行方向に直交してい
る。又、これら複数のラインセンサカメラ36のそれぞ
れの視野は、隣接する他のラインセンサカメラ36の視
野と重複している。なお、電気回路38は、前記複数の
ラインセンサカメラ36からの1次元ライン状の画像の
画像信号から、前記印刷物1のほぼ幅全体に亘る1つの
1次元ライン状の画像の信号を得ると共に、これを前記
中継器40へと伝送する処理等を行う。
In FIG. 3, the printed matter 1 is running from the front side to the other side. Further, the detection unit 30 mainly includes a light source 32b housed in the lamp house 32a and an optical fiber 33 that guides light from the light source 32b to a light guide 34, and a slit provided in the light guide 34 The printed matter 1 is illuminated. A heat radiation fan (not shown) is built in the lamp house 32a to radiate heat generated by the light source 32b. A discharge light source such as a halogen lamp or a xenon lamp is used as the light source 32b. Further, the detection unit 30 has a plurality of line sensor cameras 36 arranged orthogonally to the traveling direction of the printed matter 1. The one-dimensional line-shaped imaged portion on the printed matter 1 photographed by each of the line sensor cameras 36 is also orthogonal to the traveling direction of the printed matter 1. Further, the visual fields of the plurality of line sensor cameras 36 overlap with the visual fields of other adjacent line sensor cameras 36. The electric circuit 38 obtains one one-dimensional line-shaped image signal over substantially the entire width of the printed matter 1 from the one-dimensional line-shaped image signals from the plurality of line sensor cameras 36, and Processing for transmitting this to the repeater 40 is performed.

【0029】図4は、前記印刷物集中検査装置の検出部
電気回路の電気回路図である。
FIG. 4 is an electric circuit diagram of a detection part electric circuit of the printed matter concentration inspection apparatus.

【0030】この図4に示されるように、前記複数のラ
インセンサカメラ36から得られた画像信号を前記中継
器40へ出力するための当該検出部電気回路38は、主
に、A/D変換部38a と、フレームメモリ38b と、
画像圧縮回路38c と、光通信部38d と、ドライバ3
8e とを備えている。
As shown in FIG. 4, the detection section electric circuit 38 for outputting the image signals obtained from the plurality of line sensor cameras 36 to the repeater 40 mainly includes A / D conversion. Part 38a, frame memory 38b,
The image compression circuit 38c, the optical communication unit 38d, and the driver 3
8e and.

【0031】前記A/D変換部38a は、A/D変換器
38g により前記複数のラインセンサカメラ36それぞ
れからの画像アナログ信号を画像デジタル信号に変換す
る。又、該A/D変換部38a は、隣接する前記ライン
センサカメラ36同士の画像を統合することにより、前
記印刷物1のほぼ幅全体に亘る連続した1次元ライン状
のデジタル画像を生成する。又、該生成されたデジタル
画像は、前記印刷物1の走行に同期して順次前記フレー
ムメモリ38b へと書き込まれる。これにより、前記複
数のラインセンサカメラ36で、前記印刷物1の走行に
同期して走査した2次元フレームの画像を得ることがで
きる。
The A / D converter 38a converts an image analog signal from each of the plurality of line sensor cameras 36 into an image digital signal by the A / D converter 38g. Further, the A / D converter 38a integrates the images of the adjacent line sensor cameras 36 to generate a continuous one-dimensional linear digital image over substantially the entire width of the printed matter 1. Further, the generated digital images are sequentially written in the frame memory 38b in synchronization with the traveling of the printed matter 1. Accordingly, it is possible to obtain an image of a two-dimensional frame scanned by the plurality of line sensor cameras 36 in synchronization with the traveling of the printed matter 1.

【0032】該フレームメモリ38b に書き込まれた1
画面(1フレーム)分のデジタル画像は、前記画像圧縮
回路38c によりデータ圧縮され、前記光通信部38d
へと出力される。この画像圧縮回路38c で行われるデ
ータ圧縮は、静止画像符号化で近年用いられるようにな
ってきているJPEG(joint picture expert group)
方式の符号化が用いられている。この画像圧縮回路38
c で行うデータ圧縮は、画像デジタル信号の伝送時間短
縮等、伝送能率を向上させるためであり、他のデータ圧
縮方式であってもよい。例えば、従来から知られている
エントロピー符号化やハフマン符号化やランレングス符
号化等を単一に用いるものであってもよい。前記画像圧
縮回路38c からの画像デジタル信号は、前記光通信部
38d において光変調され、前記中継器40へと送信さ
れる。
1 written in the frame memory 38b
The digital image for the screen (one frame) is data-compressed by the image compression circuit 38c, and the optical communication unit 38d
Is output to. The data compression performed by the image compression circuit 38c is a JPEG (joint picture expert group) that has recently been used in still image coding.
The scheme encoding is used. This image compression circuit 38
The data compression performed in step c is for improving the transmission efficiency such as shortening the transmission time of the image digital signal, and may be another data compression method. For example, conventionally known entropy coding, Huffman coding, run length coding, etc. may be used singly. The image digital signal from the image compression circuit 38c is optically modulated in the optical communication unit 38d and transmitted to the repeater 40.

【0033】一方、前記中継器40から伝送される、前
記印刷物1の走行に同期するタイミング信号、即ち該走
行によって走査しながら該印刷物1上を1次元ライン状
に撮影するタイミングの信号は、前記ドライバ38e に
より、前記複数のラインセンサカメラ36それぞれへと
出力される。又、前記中継器40からは、印刷される絵
柄に対応した前記面毎のタイミング信号も送られるが、
該信号は前記A/D変換部38a が前記フレームメモリ
38b へとデジタル画像を書き込む際に1フレームの開
始の検知のために用いられている。
On the other hand, the timing signal transmitted from the repeater 40 in synchronism with the traveling of the printed matter 1, that is, the signal of the timing of photographing the printed matter 1 in a one-dimensional line form while scanning by the traveling is the above-mentioned. The output is output to each of the line sensor cameras 36 by the driver 38e. Also, from the repeater 40, a timing signal for each surface corresponding to the pattern to be printed is also sent,
The signal is used for detecting the start of one frame when the A / D converter 38a writes a digital image in the frame memory 38b.

【0034】図5は、前記印刷物集中検査装置の中継器
のハードウェア構成を示すブロック図である。
FIG. 5 is a block diagram showing the hardware structure of the relay of the printed matter concentration inspection apparatus.

【0035】各印刷機1台ずつ接近して設置された前記
中継器40は、この図5に示されるように、主として、
CPU(central processing unit )40a と、ROM
(read only menory)40b と、RAM(random acces
s menory)40c と、並列入出力回路40d と、カウン
タ40e と、O/E(optical to electrical )変換器
40f と、シリアル変換器40g と、シリアル変換器4
0h と、E/O(electrical to optical )変換器40
i と、バス40j とにより構成されている。
As shown in FIG. 5, the repeater 40 installed close to each one of the printing machines is mainly
CPU (central processing unit) 40a and ROM
(Read only menory) 40b and RAM (random acces
40 c, a parallel input / output circuit 40 d, a counter 40 e, an O / E (optical to electrical) converter 40 f, a serial converter 40 g, and a serial converter 4
0h and E / O (electrical to optical) converter 40
i and a bus 40j.

【0036】前記CPU40a は、前記ROM40b に
予め書き込まれているプログラムに従って、前記バス4
0j を介して、前記RAM40c や、前記並列入出力回
路40d や、前記シリアル変換器40g や、前記シリア
ル変換器40h にアクセスし、所定の処理を行う。例え
ば、該CPU40a は、前記ROM40b に予め書き込
まれているプログラムに従って、前記印刷機10からの
信号に主として従った前記検出部30へのタイミング信
号の生成処理や、前記検出部30からの画像デジタル信
号を前記判定部100へ中継する処理等を行う。
The CPU 40a uses the bus 4 according to a program previously written in the ROM 40b.
The RAM 40c, the parallel input / output circuit 40d, the serial converter 40g, and the serial converter 40h are accessed via 0j to perform a predetermined process. For example, the CPU 40a is configured to generate a timing signal to the detection unit 30 mainly according to a signal from the printing machine 10 according to a program previously written in the ROM 40b, and an image digital signal from the detection unit 30. Is relayed to the determination unit 100.

【0037】前記RAM40c は、前記CPU40a で
のプログラム実行時のデータ一時記憶に用いられるだけ
でなく、前記検出部30から前記判定部100へ画像デ
ジタル信号を中継する際に、該画像デジタル信号のバッ
ファメモリとしても用いられる。前記並列入出力回路4
0d は、前記印刷機10や前記検出部30に対して、ビ
ット単位あるいは所定ビット数毎の入出力を、前記CP
U40a や前記バス40j での処理単位となるビット数
幅で行う。前記カウンタ40e は、前記ロータリエンコ
ーダ18から送られてくる前記印刷物1の走行位置に相
対的に対応したエンコーダ信号から、該印刷物1の絶対
的な走行位置を求める。前記O/E変換器40f は、光
ファイバを用いて前記検出部から送られてきた光変調さ
れた画像デジタル信号を復調し、前記シリアル変換器4
0g へと出力する。該シリアル変換器40g は、前記O
/E変換器40f が出力するシリアルの画像デジタル信
号を、前記CPU40a がアクセス可能な所定ビット数
幅のパラレルデータに変換する。前記シリアル変換器4
0h は、前記CPU40a が書き込んだ所定ビット数幅
の画像デジタル信号をシリアルに変換して、これを前記
E/O変換器40iへと出力する。該E/O変換器40i
は、前記シリアル変換器40h から順次送られてくる
シリアルの画像デジタル信号を光変調し、光ファイバに
て前記判定部100へと送信する。
The RAM 40c is used not only for temporary storage of data when the CPU 40a executes a program, but also for buffering the image digital signal when the image digital signal is relayed from the detection unit 30 to the determination unit 100. Also used as memory. The parallel input / output circuit 4
0d indicates the input / output in bit units or every predetermined number of bits to the printing machine 10 and the detection unit 30 by the CP
U40a and the bus 40j are processed in a bit number width which is a unit of processing. The counter 40e determines an absolute traveling position of the printed matter 1 from an encoder signal sent from the rotary encoder 18 and relatively corresponding to the traveling position of the printed matter 1. The O / E converter 40f demodulates the light-modulated image digital signal sent from the detector using an optical fiber, and the serial converter 4f
Output to 0g. The serial converter 40g is
The serial image digital signal output by the / E converter 40f is converted into parallel data having a predetermined number of bits width accessible by the CPU 40a. The serial converter 4
0h serially converts the image digital signal of a predetermined bit number width written by the CPU 40a and outputs it to the E / O converter 40i. The E / O converter 40i
Optically modulates the serial image digital signals sequentially sent from the serial converter 40h and sends them to the judging section 100 through an optical fiber.

【0038】図6は、前記中継器の機能構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 6 is a block diagram showing the functional arrangement of the repeater.

【0039】この図6に示されるように、前記中継器4
0の主な機能は、画像タイミング制御部40m と、画像
信号中継部40p と、メモリ40n とにより構成され
る。
As shown in FIG. 6, the repeater 4
The main function of 0 is composed of an image timing control section 40m, an image signal relay section 40p, and a memory 40n.

【0040】前記画像タイミング制御部40m は、前記
印刷機10のロータリエンコーダ18からの信号、例え
ば前記A相信号等に従って、前記検出部30が用いるタ
イミング信号、例えば前記カメラスタート信号や前記読
出イネーブル信号を生成する。この際、該画像タイミン
グ制御部40m は、後述するキーボード62からオペレ
ータが予め入力した面付情報をも用いる。この面付情報
は、前記印刷機10の版胴の印刷内容等に関する情報で
あり、例えば何面の印刷を行うものであるか等の情報で
ある。
The image timing control section 40m is a timing signal used by the detection section 30 according to a signal from the rotary encoder 18 of the printing press 10, for example, the A phase signal, for example, the camera start signal or the read enable signal. To generate. At this time, the image timing control unit 40m also uses the imposition information previously input by the operator from the keyboard 62 described later. This imposition information is information relating to the printing contents of the plate cylinder of the printing machine 10 and is, for example, information such as the number of pages to be printed.

【0041】前記画像信号中継部40p は、前記検出部
電気回路38から光ファイバを介して送られてきた画像
デジタル信号を受信し、これを前記メモリ40n に記憶
する。又、該画像信号中継部40p は、前記集中検査装
置本体80の判定部100からの要求に応じて、該メモ
リ40n に記憶されているデジタル画像を画像デジタル
信号として該判定部100へと光ファイバを介して出力
する。前記メモリ40n には、複数フレームのデジタル
画像を記憶することができる。前記判定部100は複数
の中継器40(40a 〜40c )が接続されているが、
このように前記画像信号中継部40p や前記メモリ40
n を用いた当該中継器40の中継処理により、それぞれ
の中継器40に対応するそれぞれの印刷機の印刷物検査
を順次行うことが可能である。
The image signal relay section 40p receives the image digital signal sent from the detection section electric circuit 38 through the optical fiber and stores it in the memory 40n. Further, the image signal relay section 40p sends the digital image stored in the memory 40n to the judging section 100 as an image digital signal in response to a request from the judging section 100 of the centralized inspection apparatus body 80. Output via. A plurality of frames of digital images can be stored in the memory 40n. A plurality of repeaters 40 (40a to 40c) are connected to the determination unit 100,
In this way, the image signal relay unit 40p and the memory 40
By performing the relay process of the relay device 40 using n, it is possible to sequentially perform the printed matter inspection of each printing press corresponding to each relay device 40.

【0042】図7は、前記印刷物集中検査装置本体のハ
ードウェア構成を示すブロック図である。
FIG. 7 is a block diagram showing the hardware configuration of the main body of the printed matter concentration inspection apparatus.

【0043】この図7に示されるように、前記印刷物集
中検査装置本体80は、主として、CPU(central pr
ocessing unit )50と、主記憶装置52と、ハードデ
ィスク装置54と、フロッピディスク装置58と、入出
力装置60と、O/E変換器60a と、キーボード62
と、CRT(cathode ray tube)制御装置64a と、C
RT64b と、ネットワーク制御装置66と、プリンタ
装置68と、システムバス70とにより構成されてい
る。
As shown in FIG. 7, the printed matter centralized inspection apparatus main body 80 mainly comprises a CPU (central pr
cessing unit) 50, main storage device 52, hard disk device 54, floppy disk device 58, input / output device 60, O / E converter 60a, and keyboard 62.
And a CRT (cathode ray tube) controller 64a, and C
The RT 64b, the network control device 66, the printer device 68, and the system bus 70.

【0044】前記CPU50は、印刷物検査処理に係る
もの等、前記ハードディスク装置54から前記主記憶装
置52へと読み込まれたプログラムモジュール等を実行
する。前記ハードディスク装置54には、本実施例に係
るプログラムモジュールやデータ等が記憶されており、
必要に応じて前記主記憶装置52へと読み出されるよう
になっている。前記フロッピディスク装置58は、種々
のプログラムモジュールやデータの、他のコンピュータ
システム等との受け渡しに用いられている。前記入出力
装置60は、他のデジタル処理装置との接続に用いられ
ている。例えば、複数の前記O/E変換器60a を介し
て、複数の前記中継器40(40a 〜40c )と接続さ
れ、各印刷機の印刷物検査に係る画像デジタル信号が入
力される。
The CPU 50 executes a program module or the like read from the hard disk device 54 into the main storage device 52, such as one relating to a printed matter inspection process. The hard disk device 54 stores program modules, data, etc. according to the present embodiment,
The data is read out to the main storage device 52 as needed. The floppy disk device 58 is used for exchanging various program modules and data with other computer systems. The input / output device 60 is used to connect to another digital processing device. For example, it is connected to the plurality of relays 40 (40a to 40c) through the plurality of O / E converters 60a, and image digital signals relating to the printed matter inspection of each printing machine are input.

【0045】前記キーボード62は、前記CRT制御装
置64a 及び前記CRT64b と共に、オペレータが当
該集中検査装置本体80を操作する際に用いられる。
又、該キーボード62は、種々のデータ設定等の際にも
用いられる。又、前記CRT制御装置64a 及びCRT
64b は、当該集中検査装置本体80での印刷物検査結
果や、これに基づいた異常検出をオペレータに伝達する
ために用いられる。
The keyboard 62 is used together with the CRT control device 64a and the CRT 64b when the operator operates the centralized inspection device body 80.
The keyboard 62 is also used for various data settings and the like. Also, the CRT controller 64a and the CRT
The reference numeral 64b is used to inform the operator of the printed matter inspection result of the centralized inspection apparatus body 80 and the abnormality detection based on the result.

【0046】前記ネットワーク制御装置66は、当該集
中検査装置本体80をオンラインで他のコンピュータシ
ステムに接続するために用いられている。例えば、当該
集中検査装置本体80で収集することができるデータや
印刷物検査結果、更には、当該集中検査装置本体80の
自己診断結果や、当該集中検査装置本体80に接続され
る機器や装置、例えば前記中継器40や前記検出部30
や印刷機10の異常診断結果等を、他のコンピュータシ
ステムで集中監視することができるようになっている。
前記プリンタ装置68は、当該集中検査装置本体80で
の印刷物検査結果や、これに関する情報等を印字する。
The network control device 66 is used to connect the centralized inspection device main body 80 online to another computer system. For example, data and printed matter inspection results that can be collected by the centralized inspection apparatus main body 80, further self-diagnosis results of the centralized inspection apparatus main body 80, devices and devices connected to the centralized inspection apparatus main body 80, for example, The repeater 40 and the detection unit 30
The results of abnormality diagnosis of the printer and the printing machine 10 can be centrally monitored by another computer system.
The printer device 68 prints a printed matter inspection result in the centralized inspection device body 80, information relating to the inspection result, and the like.

【0047】なお、前記システムバス70は、前記CP
U50が、前記主記憶装置52や、前記ハードディスク
装置54や、前記フロッピディスク装置58や、前記入
出力装置60や、前記キーボード62や、前記CRT制
御装置64a や、前記ネットワーク制御装置66や、前
記プリンタ装置68にアクセスする際用いられる。該シ
ステムバス70は、該システムバス70に接続される装
置選択等に用いられるアドレスバスと、前記CPU50
がアクセスする際のデータ受け渡しに用いられるデータ
バスとを有している。
The system bus 70 is connected to the CP
U50 is the main storage device 52, the hard disk device 54, the floppy disk device 58, the input / output device 60, the keyboard 62, the CRT control device 64a, the network control device 66, the It is used when accessing the printer device 68. The system bus 70 includes an address bus used for selecting devices connected to the system bus 70 and the CPU 50.
And a data bus used for data transfer at the time of access.

【0048】図8は、前記印刷物集中検査装置本体の機
能構成を示すブロック図である。
FIG. 8 is a block diagram showing the functional arrangement of the main body of the printed matter concentration inspection apparatus.

【0049】この図8に示されるように、当該印刷物集
中検査装置本体80は、主として、判定部100と、不
良画像記憶部82と、不良表示部84と、データ集計部
86と、ネットワーク接続部88とを有している。又、
キーボード62、CRT制御装置64a 、CRT64b
及びプリンタ68等が用いられている。これら判定部1
00や不良画像記憶部82等で行われる処理や操作は、
当該集中検査装置本体80に接続されている複数の印刷
機10について行われる。又、印刷物検査結果等のデー
タは、これら印刷機10間で共用されている。
As shown in FIG. 8, the printed matter concentrated inspection apparatus main body 80 mainly includes a determination unit 100, a defective image storage unit 82, a defective display unit 84, a data totaling unit 86, and a network connection unit. And 88. or,
Keyboard 62, CRT controller 64a, CRT 64b
A printer 68 and the like are used. These determination unit 1
00 and the processing and operations performed in the defective image storage unit 82, etc.
This is performed for the plurality of printing machines 10 connected to the centralized inspection apparatus body 80. The data such as the printed matter inspection result is shared among the printing machines 10.

【0050】前記判定部100は、光ファイバにより前
記中継器40から光変調されて伝送された画像デジタル
信号を復調し、前記検出部電気回路38の画像圧縮回路
38c で行われたデータ圧縮を復元し、この結果のデジ
タル画像に従って印刷物検査を行う。
The judging section 100 demodulates the image digital signal optically modulated and transmitted from the repeater 40 by the optical fiber, and restores the data compression performed by the image compression circuit 38c of the detection section electric circuit 38. Then, the printed matter is inspected according to the resulting digital image.

【0051】前記不良画像記憶部82は、前記判定部1
00で印刷物の不良が検出された場合、対応するフレー
ムのデジタル画像をデータ圧縮し、不良発生場所情報等
と共に前記ハードディスク装置54に記憶する。該不良
発生場所情報は、印刷物の不良が検出されたフレーム番
号や、該フレーム内での欠陥部分の場所を示す情報であ
る。
The defective image storage section 82 is connected to the judging section 1
When a defect of the printed matter is detected at 00, the digital image of the corresponding frame is data-compressed and stored in the hard disk device 54 together with the defect occurrence location information and the like. The defect occurrence location information is information indicating the frame number in which the defect of the printed matter is detected and the location of the defective portion in the frame.

【0052】前記不良表示部84は、前記キーボード6
2や前記CRT制御装置64a や前記CRT64b によ
るオペレータの操作で、あるいは印刷物不良発生時に自
動的に、前記不良画像記憶部82で記憶された画像やこ
れに係る不良発生場所情報等を表示する。該不良表示部
84では、この際、記憶されていた表示するデータ圧縮
されていたデジタル画像の復元を行う。
The defect display section 84 is the keyboard 6
The image stored in the defective image storage unit 82 and the defect occurrence location information related to the image are displayed by an operator's operation of the CRT control device 64a or the CRT 64b, or automatically when a print defect occurs. At this time, the defective display section 84 restores the stored digital data which has been compressed and is to be displayed.

【0053】このように、本実施例では印刷物不良が発
生した際に、そのフレームの画像及びこれに関する不良
発生場所情報を記憶するようにしているので、オペレー
タは随時印刷物不良の状態を把握したり観察したりする
ことができる。輪転印刷機で目視で印刷物不良が発見さ
れた場合、従来、ラベルの挿入やマーキング等が行われ
ていたが、その不良箇所や欠陥部分を観察するためには
巻き取られている印刷物を巻き戻さなければならないと
いう問題があった。しかしながら、本実施例によれば、
随時、印刷物の不良の把握や検査を行うことができる。
As described above, in this embodiment, when a printed matter defect occurs, the image of the frame and the defect occurrence location information related thereto are stored, so that the operator can grasp the state of the defective printed matter at any time. You can observe it. When a print defect is visually detected on a rotary printing machine, labels have been inserted and marking has been performed in the past.To observe the defective part or defective part, rewind the wound print product. There was a problem that had to be. However, according to this embodiment,
At any time, it is possible to grasp and inspect the printed matter for defects.

【0054】前記データ集計部86は、前記判定部10
0で検出された印刷物不良の数等を集計し、この結果を
記憶する。又、この集計結果は、前記キーボード62か
らのオペレータの操作等により、前記CRT64b に表
示したり、前記プリンタ装置68に印字したりして出力
することができる。
The data aggregating unit 86 includes the determining unit 10
The number of printed matter defects detected at 0 is totaled, and the result is stored. Further, the totalized result can be output by being displayed on the CRT 64b or being printed on the printer device 68 by an operation of the operator from the keyboard 62 or the like.

【0055】なお、前記ネットワーク接続部88は、当
該集中検査装置本体の故障等の異常や、当該集中検査装
置本体80に接続される機器や装置、例えば前記検出部
30や前記中継器40や印刷機10の故障等の異常を検
出し、これをオンラインで他のコンピュータシステムに
伝達する。
The network connection unit 88 is provided with an abnormality such as a failure of the centralized inspection apparatus main body, a device or a device connected to the centralized inspection apparatus main body 80, such as the detection unit 30, the relay 40 or the printing. An abnormality such as a failure of the machine 10 is detected, and this is transmitted online to another computer system.

【0056】図9は、前記印刷物集中検査装置本体の判
定部の機能構成を示すブロック図である。
FIG. 9 is a block diagram showing the functional arrangement of the determination unit of the main body of the printed matter concentration inspection apparatus.

【0057】この図9に示されるように、前記判定部1
00は、主に、光受信部102と、画像復元部104
と、切替手段106と、基準画像メモリ108と、検査
画像メモリ110と、差分部112と、判定回路116
と、記録部118とを備えている。これらの構成は、前
記印刷機10の前記検出器30毎に備える。あるいは、
これらの構成を1組備え、前記検出器30毎の印刷物不
良判定を順次行う。
As shown in FIG. 9, the judging unit 1
00 is mainly the light receiving unit 102 and the image restoration unit 104.
A switching unit 106, a reference image memory 108, an inspection image memory 110, a difference unit 112, and a determination circuit 116.
And a recording unit 118. These configurations are provided for each of the detectors 30 of the printing press 10. Alternatively,
One set of these configurations is provided, and the print defect determination for each of the detectors 30 is sequentially performed.

【0058】前記光受信部102は、光ファイバを介し
て前記中継器40から光変調されて送信された画像デジ
タル信号の復調を行う。前記画像復元部104は、前記
検出部電気回路38内の画像圧縮回路38c でデータ圧
縮されたデジタル画像を復元する。
The light receiving section 102 demodulates the image digital signal optically modulated and transmitted from the repeater 40 via the optical fiber. The image decompression unit 104 decompresses the digital image data-compressed by the image compression circuit 38c in the detection unit electric circuit 38.

【0059】前記切替手段106は、該復元されたデジ
タル画像の出力先を、前記基準画像メモリ又は前記検査
画像メモリ110へと切り替えるデータ切替手段であ
る。該切替手段106が接点a と接点c とがオン状態と
なると、前記復元されたデジタル画像は前記検査画像メ
モリ110に書き込まれる。一方、接点b と接点c とが
オン状態となると、前記復元されたデジタル画像は前記
基準画像メモリ108へと書き込まれる。本実施例の印
刷物集中検査装置において、所定の印刷機の印刷物検査
開始にあたっては、前記切替手段106を接点b へと切
り替えることで、まず良品の印刷物のデジタル画像を前
記基準画像メモリ108に書き込む。又、この後の印刷
物の検査中には、前記切替手段を接点a へと切り替え、
逐次前記検出部30及び前記中継器40から送られ、前
記画像復元部104で復元されたデジタル画像を前記検
査画像メモリ110へと書き込む。
The switching means 106 is a data switching means for switching the output destination of the restored digital image to the reference image memory or the inspection image memory 110. When the switching means 106 turns on the contact points a and c, the restored digital image is written in the inspection image memory 110. On the other hand, when the contact b and the contact c are turned on, the restored digital image is written in the reference image memory 108. In the printed matter centralized inspection apparatus of the present embodiment, when the printed matter inspection of a predetermined printing machine is started, the switching means 106 is switched to the contact b so that a digital image of a non-defective printed matter is first written in the reference image memory 108. During the subsequent inspection of the printed matter, the switching means is switched to the contact a,
The digital images sequentially sent from the detection unit 30 and the repeater 40 and restored by the image restoration unit 104 are written in the inspection image memory 110.

【0060】前記差分部112は、逐次更新される前記
検査画像メモリ110のデジタル画像を、その更新され
たフレーム毎に、所定の複数の部分領域に分割しながら
該部分領域毎に、前記基準画像メモリ108と1画素毎
に差分演算を行う。具体的には、該差分演算は、前記検
査画像メモリ110のデジタル画像の各画素をラスタス
キャンしながら、各画素の濃度値と、該画素に対応する
前記基準画像メモリ108の画素の濃度値との差の絶対
値を順次求めるというものである。このような差分演算
の際、前記差部分112は、前記分割領域毎に位置ずれ
補正等の補正を行う。
The difference unit 112 divides the digital image in the inspection image memory 110, which is sequentially updated, into a plurality of predetermined partial areas for each updated frame, and the reference image for each partial area. Difference calculation is performed for each pixel with the memory 108. Specifically, the difference calculation is performed by raster-scanning each pixel of the digital image in the inspection image memory 110, and the density value of each pixel and the density value of the pixel of the reference image memory 108 corresponding to the pixel. That is, the absolute value of the difference is sequentially obtained. When performing such a difference calculation, the difference portion 112 performs a correction such as a positional deviation correction for each of the divided areas.

【0061】前記判定回路116は、前記差分部112
から出力される差分演算結果を1フレーム(1画面)の
範囲で積分し、該積分結果を所定の閾値と比較すること
により、前記検査画像メモリ110に書き込まれたデジ
タル画像に対応する印刷物表面の良否を判定する。該判
定結果は、前記記録部118へと出力される。該記録部
118は、前記判定回路116から印刷物不良の入力が
あると、該印刷物不良に対応する前記検査画像メモリ1
10のデジタル画像と前記基準画像メモリ108のデジ
タル画像とを読み出し、不良発生時刻や不良発生箇所等
の各種情報と共に、一時記憶する。この際、該記録部1
18は、これらデジタル画像のデータ圧縮をも行う。
又、これらデジタル画像を、前記不良画像記憶部82や
前記データ集計部86からの要求に応じて出力する。
The determination circuit 116 is configured to include the difference unit 112.
The difference calculation result output from the above is integrated in the range of one frame (one screen), and the integration result is compared with a predetermined threshold value, whereby the surface of the printed matter corresponding to the digital image written in the inspection image memory 110 is printed. Determine pass / fail. The determination result is output to the recording unit 118. When the recording unit 118 receives a print defect from the determination circuit 116, the inspection image memory 1 corresponding to the print defect is received.
The digital image of 10 and the digital image of the reference image memory 108 are read out and temporarily stored together with various information such as a defect occurrence time and a defect occurrence location. At this time, the recording unit 1
18 also performs data compression of these digital images.
In addition, these digital images are output in response to requests from the defective image storage unit 82 and the data totaling unit 86.

【0062】図10は、前記判定部に用いられている差
分部の機能構成を示すブロック図である。
FIG. 10 is a block diagram showing the functional arrangement of the difference section used in the judgment section.

【0063】この図10に示されるように、前記判定部
100に備えられている前記差分部112は、主とし
て、領域分割回路112a と、部分領域記憶メモリ11
2b と、テンプレートシフト回路112c と、シフト範
囲記憶メモリ112d と、シフトステップ記憶メモリ1
12e と、シフト量記憶メモリ112f と、マッチング
判定回路112g とを備えている。又、該差分部112
は、前記図9で前述した前記基準画像メモリ108と、
前記検査画像メモリ110と、前記判定回路116とに
接続されている。
As shown in FIG. 10, the difference section 112 provided in the determination section 100 mainly includes an area dividing circuit 112a and a partial area storage memory 11.
2b, template shift circuit 112c, shift range storage memory 112d, shift step storage memory 1
12e, a shift amount storage memory 112f, and a matching determination circuit 112g. In addition, the difference unit 112
Is the reference image memory 108 described above with reference to FIG.
It is connected to the inspection image memory 110 and the determination circuit 116.

【0064】前記領域分割回路112a は、前記部分領
域記憶メモリ112b に記憶されている各分割領域の座
標データに従って、前記検査画像メモリ110に記憶さ
れているデジタル画像から、所定の部分領域の画像を切
り出す。前記部分領域記憶メモリ112b に記憶されて
いる前記座標データは、図12等を用いて後述するよう
な各部分領域の範囲を示す座標データである。
The area dividing circuit 112a forms an image of a predetermined partial area from the digital image stored in the inspection image memory 110 according to the coordinate data of each divided area stored in the partial area storage memory 112b. cut. The coordinate data stored in the partial area storage memory 112b is coordinate data indicating the range of each partial area as described later with reference to FIG.

【0065】前記マッチング判定回路112g は、前記
領域分割回路112a で切り出された部分領域のデジタ
ル画像を、前記基準画像メモリ108に記憶されている
デジタル画像の該部分領域に対応する部分で、前記テン
プレートシフト回路112cで逐次シフトしながらテン
プレートマッチングを行う。該テンプレートシフト回路
112c で逐次行われる部分領域のデジタル画像(テン
プレート)のシフトは、前記部分領域記憶メモリ112
b に記憶されている当該部分領域の座標に対応する前記
基準画像メモリ108のデジタル画像での位置を中心と
して、前記シフト範囲記憶メモリ112d に記憶されて
いるシフト移動範囲で、前記シフトステップ記憶メモリ
112e に記憶されているシフト移動ステップ量毎に逐
次シフトするというものである。このように逐次シフト
する際、そのシフト量の累積は、前記シフト量記憶メモ
リ112f に記憶される。このように逐次シフトしなが
ら、前記マッチング判定回路112g は、前記領域分割
回路112a で切り出された部分領域のデジタル画像が
前記基準画像メモリ108上で最も一致する座標位置を
求める。又、該マッチング判定回路112g はこの際、
次式で示されるような類似度R(i ,j )を求める。こ
れら座標位置及び類似度R(i ,j )は、前記判定回路
116へと出力される。
The matching judgment circuit 112g is a portion of the digital image of the partial area cut out by the area dividing circuit 112a, which corresponds to the partial area of the digital image stored in the reference image memory 108, and is the template. Template matching is performed while sequentially shifting by the shift circuit 112c. The shift of the digital images (templates) of the partial areas, which is sequentially performed by the template shift circuit 112c, is performed by the partial area memory 112.
The shift step storage memory has the shift movement range stored in the shift range storage memory 112d with the position in the digital image of the reference image memory 108 corresponding to the coordinates of the partial area stored in b as the center. This is to sequentially shift for each shift movement step amount stored in 112e. When sequentially shifting in this way, the accumulated shift amount is stored in the shift amount storage memory 112f. While sequentially shifting in this manner, the matching determination circuit 112g finds the coordinate position on the reference image memory 108 at which the digital image of the partial area cut out by the area dividing circuit 112a is the best match. At this time, the matching determination circuit 112g
The degree of similarity R (i, j) as shown by the following equation is obtained. The coordinate position and the similarity R (i, j) are output to the determination circuit 116.

【0066】 R(i ,j )=Σ1 Σk {(I(i ,j )(k ,l )−T(k ,l )}2 …(1)R (i, j) = Σ 1 Σ k {(I (i, j) (k, l) −T (k, l)} 2 (1)

【0067】ここで、座標(i ,j )はシフトされた部
分領域の基準画像に対する座標位置(相対的なシフト位
置)であり、座標(k ,l )は該部分領域のデジタル画
像中のそれぞれの画像(画素の位置)であり、I
(i ,j )(k ,l )は、シフトされた前記部分領域の
デジタル画像の各画素の濃度値であり、T(k ,l )
は、基準画像メモリの対応する画素の濃度値である。
Here, the coordinates (i, j) are the coordinate position (relative shift position) of the shifted partial area with respect to the reference image, and the coordinates (k, l) are the respective positions in the digital image of the partial area. Image (pixel position) of I
(I, j) (k, l) is the density value of each pixel of the shifted digital image of the partial area, and T (k, l)
Is the density value of the corresponding pixel in the reference image memory.

【0068】なお、前記判定回路116は、前記マッチ
ング判定回路112g から入力された座標位置(i ,j
)と、次式により求められる不一致画素数N(i ,j
)とに従って、前記領域分割回路112a で切り出さ
れ、その後テンプレートマッチングが行われた部分領域
についての良否判定、即ち画像欠陥を有する可能性のあ
る欠陥候補部分領域であるか、欠陥のない無欠陥部分領
域であるかの判定を行う。
Incidentally, the judging circuit 116 is arranged so that the coordinate position (i, j) inputted from the matching judging circuit 112g is inputted.
) And the number of mismatched pixels N (i, j
) According to the above, the pass / fail judgment is made for the partial area cut out by the area dividing circuit 112a and then subjected to the template matching, that is, a defect candidate partial area that may have an image defect or a defect-free partial area. It is determined whether it is a region.

【0069】 N(i ,j )={(I(i ,j )(k ,l )−T(k ,l )}>D となるものの画素数} …(2)N (i, j) = {(I (i, j) (k, l) -T (k, l))> D The number of pixels of the pixel} ... (2)

【0070】なお、上記(2)式において、Dは所定の
閾値である。このような判定で欠陥候補部分領域とされ
た場合には、該判定回路116は、前記差分部112で
の位置ずれ補正を再実行させる。この際、該欠陥候補部
分領域は更に分割され、前記シフト範囲記憶メモリ11
2d 及び前記シフトステップ記憶メモリ112e の値
は、より小さい値とされ、より細かい位置ずれ補正で再
実行される。なお、欠陥補正部分領域であるにも拘ら
ず、部分領域の分割の限界となると、前記座標位置(i
,j )と、類似度R(i ,j )と、不一致画素数N(i
,i )とを前記記録部118へと出力する。この出力
段階で、欠陥候補部分領域の欠陥有りの判定が確定す
る。
In the equation (2), D is a predetermined threshold value. When it is determined as a defect candidate partial area by such a determination, the determination circuit 116 causes the difference unit 112 to re-execute the positional deviation correction. At this time, the defect candidate partial area is further divided, and the shift range storage memory 11 is divided.
The values of 2d and the shift step storage memory 112e are set to smaller values, and re-execution is performed with finer positional deviation correction. It should be noted that, even though the defect correction partial area is reached, when the division of the partial area reaches the limit, the coordinate position (i
, J), the degree of similarity R (i, j), and the number of non-matching pixels N (i
, I) to the recording unit 118. At this output stage, it is determined that there is a defect in the defect candidate partial area.

【0071】図11は、前記差分部で行われるテンプレ
ートマッチングの説明図である。
FIG. 11 is an explanatory diagram of template matching performed by the difference section.

【0072】この図11において、画素数(N1×N
1)の部分領域Na は、前記領域分割回路112a によ
り切り出された、検査画像の部分領域である。前記マッ
チング判定回路112g でテンプレートマッチングを行
いながら、逐次シフトされた当該部分領域の座標位置は
(i ,j )である。この座標位置は、前記シフト量記憶
メモリ112f に記憶されている。一方、画素数(M1
×M1)の領域Ma は、前記シフト範囲記憶メモリ11
2d に記憶されているデータにより定まる、テンプレー
トマッチングの際のシフト範囲(シフトの限界)であ
る。
In FIG. 11, the number of pixels (N1 × N
The partial area Na of 1) is a partial area of the inspection image cut out by the area dividing circuit 112a. While performing the template matching by the matching determination circuit 112g, the coordinate position of the partial region sequentially shifted is (i, j). This coordinate position is stored in the shift amount storage memory 112f. On the other hand, the number of pixels (M1
The area Ma of × M1) is the shift range storage memory 11
It is a shift range (shift limit) in template matching, which is determined by the data stored in 2d.

【0073】図12は、前記差分部で行われる部分領域
分割の一例を示す線図である。
FIG. 12 is a diagram showing an example of partial area division performed by the difference section.

【0074】この図12において、前記検査画像メモリ
110に記憶されるデジタル画像N全体は、合計16個
の部分領域に分割されている。この合計16個への分割
は、次に述べる第2階層の分割に該当する。前記図10
で前述したようなテンプレートマッチングは、このよう
に分割された部分領域毎に行われる。
In FIG. 12, the entire digital image N stored in the inspection image memory 110 is divided into a total of 16 partial areas. This division into a total of 16 corresponds to the division of the second layer described below. FIG. 10
The template matching as described above in step 1 is performed for each of the divided partial areas.

【0075】前記検査画像メモリ110に記憶されてい
る本実施例の被検査対象のデジタル画像は、(256×
256=65536)画素の画像である。又、このよう
なデジタル画像を順次4分割したものを、以下に述べる
ように第0階層〜第7階層として定義する。
The digital image to be inspected of the present embodiment stored in the inspection image memory 110 is (256 ×
It is an image of 256 = 65536) pixels. Further, such digital images sequentially divided into four are defined as the 0th layer to the 7th layer as described below.

【0076】第0階層:部分領域個数1個:部分領域当
りの画素数2562 画素: 第1階層:部分領域個数4個:部分領域当りの画素数1
282 画素: 第2階層:部分領域個数6個:部分領域当りの画素数6
2 画素: 第3階層:部分領域個数64個:部分領域当りの画素数
322 画素: 第4階層:部分領域個数256個:部分領域当りの画素
数162 画素:シフト範囲8画素:1回のシフト量4画
素: 第5階層:部分領域個数1024個:部分領域当りの画
素数82 画素:シフト範囲4画素:1回のシフト量2画
素: 第6階層:部分領域個数4096個:部分領域当りの画
素数42 画素:シフト範囲2画素:1回のシフト量1画
素: 第7階層:部分領域個数16384個:部分領域当りの
画素数22 画素:シフト範囲1画素:1回のシフト量1
/2画素:
Layer 0: Number of partial areas: 1 Number of pixels per partial area 256 2 pixels: Layer 1: Number of partial areas 4: Number of pixels per partial area 1
28 2 pixels: Second layer: 6 partial areas: 6 pixels per partial area
4 2 pixels: 3rd hierarchy: 64 partial areas: 32 pixels per partial area: 4 2nd hierarchy: 256 partial areas: 16 pixels per partial area 16 2 pixels: 8 pixels shift range: 1 pixel Shift amount of 4 pixels: Fifth layer: Number of partial regions 1024: Number of pixels per partial region 8 2 pixels: Shift range 4 pixels: Shift amount of 2 pixels per time: Sixth layer: Number of partial regions 4096: Number of pixels per partial area 4 2 pixels: Shift range 2 pixels: 1 shift amount 1 pixel: 7th layer: Number of partial areas 16384: Number of pixels per partial area 2 2 pixels: Shift range 1 pixel: 1 time Shift amount 1
/ 2 pixels:

【0077】なお、本実施例では、前記第0階層〜第3
階層でのテンプレートマッチング等の処理は行わず、前
記検査画像メモリ110のデジタル画像は、まず256
分割される。即ち、第4階層から第7階層までの処理の
みが行われる。
In this embodiment, the 0th to 3rd layers are used.
No processing such as template matching in the hierarchy is performed, and the digital image in the inspection image memory 110 is initially 256.
Will be divided. That is, only the processing from the fourth layer to the seventh layer is performed.

【0078】図13は、前記差分部で行われる検査画像
と基準画像との画素毎の比較検査の説明図である。
FIG. 13 is an explanatory diagram of the comparison inspection for each pixel between the inspection image and the reference image, which is performed in the difference section.

【0079】この図13においては、前記領域分割回路
112a で切り出された部分領域Na の画素Np と、前
記基準画像メモリ108に記憶されているデジタル画像
のシフト範囲Ma 中の画素Mp との、前記(1)式に従
ったテンプレートマッチングの様子が示されている。こ
れは、各画像毎に前記(1)式に従って、前記マッチン
グ判定回路112g が対象となる部分領域Na 中の欠陥
部分の有無の判定に用いることができる類似度R(i ,
j )を算出し、これに基づいてテンプレートマッチング
を行うというものである。又、前記判定回路116は、
前記不一致画素数N(i ,j )と所定閾値とに従って、
欠陥候補部分領域であるか、無欠陥候補部分領域である
か判定する。
In FIG. 13, the pixel Np of the partial area Na cut out by the area dividing circuit 112a and the pixel Mp in the shift range Ma of the digital image stored in the reference image memory 108 are described above. The state of template matching according to the equation (1) is shown. This is the similarity R (i, which can be used by the matching determination circuit 112g for determining the presence or absence of a defective portion in the target partial area Na according to the equation (1) for each image.
j) is calculated, and template matching is performed based on this. Further, the determination circuit 116 is
According to the non-matching pixel number N (i, j) and a predetermined threshold value,
It is determined whether the area is a defect candidate partial area or a defect-free candidate partial area.

【0080】図14は、前記差分部で行われる部分領域
分割に従った階層構成図である。
FIG. 14 is a hierarchical block diagram according to the partial area division performed by the difference section.

【0081】この図14では、部分領域個数が1個であ
る第0階層と、部分領域個数が256個である第4階層
と、部分領域個数が1024個の第5階層と、部分領域
個数が4096個の第6階層と、部分領域個数が163
84個の第7階層とが示されている。又、この図14に
おいて、“●”は、前記差分部112でテンプレートマ
ッチング完了後の前記不一致画素数N(i ,j )の値が
所定閾値以上であることにより、何等かの欠陥がある可
能性有りとされた部分領域を示すノードである。一方、
“○”は、前記不一致画素数N(i ,j )が所定閾値以
下であって、一応欠陥の可能性はないとされた部分領域
を示すノードである。又、前記“●”印に付された座標
(i ,j )は、テンプレートマッチングがされた該当す
る階層におけるシフト量である。
In FIG. 14, the 0th layer having the number of partial areas is 1, the fourth layer having the number of partial areas of 256, the fifth layer having the number of partial areas of 1024, and the number of partial areas. 4096 sixth layers and the number of partial areas is 163
There are 84 seventh hierarchies shown. Further, in FIG. 14, “●” indicates that there is some defect because the value of the number N (i, j) of the mismatched pixels after the template matching is completed by the difference unit 112 is equal to or more than a predetermined threshold value. It is a node that indicates a partial area that has been determined to have nature. on the other hand,
“O” is a node indicating a partial area in which the number N (i, j) of mismatched pixels is equal to or less than a predetermined threshold value and there is no possibility of a defect. Further, the coordinates (i, j) attached to the "●" mark are the shift amount in the corresponding layer for which template matching has been performed.

【0082】この図14に示されるように、本実施例で
は、●ノード、即ち欠陥の可能性有りとされた部分領域
についてのみ、更に細かく部分領域に分割し、該更に分
割された部分領域に対して前記差分部112による処理
を再実行するようにしている。即ち、○ノードについて
は、更に細かい部分領域への分割を行うことはなく、前
記差分部112による処理を再実行することはない。
As shown in FIG. 14, in the present embodiment, only a node, that is, a partial area determined to have a possibility of a defect is further finely divided into partial areas, and the partial area is further divided. On the other hand, the processing by the difference unit 112 is re-executed. That is, with respect to the ∘ node, it is not divided into smaller partial areas, and the processing by the difference section 112 is not re-executed.

【0083】又、本実施例では、第n 階層の●ノードで
示される欠陥候補部分領域については、更に細かい部分
領域に分割された第(n +1)階層での前記差分部11
2による処理を再実行する際、前記シフト範囲記憶メモ
リ112d に書き込まれているデータや、前記シフトス
テップ記憶メモリ112e に書き込まれているデータを
書き替えるようにしている。即ち、第(n +1)階層で
は、第n 階層に比べて、前記差分部112でのテンプレ
ートマッチングの際逐次行われるシフトのシフト範囲が
狭められ、又、1回のシフト量(シフトステップ)の大
きさも小さくされる。即ち、より上位の階層ほど粗い位
置ずれ補正を行い、階層がより下層になるに連れ細かな
補正を行うようになっている。従って、本実施例によれ
ば、濃度差がほとんどない、あるいは全くない絵柄の部
分領域については、比較的上位の階層で欠陥部分の有無
の見極めを行う。従って、前記検査画像メモリ110に
書き込まれた1フレームのデジタル画像全体に対する欠
陥有無の判定に要する処理量や処理時間をより減少する
ことができる。
In this embodiment, the defect candidate partial area indicated by the ● node in the nth hierarchy is divided into smaller partial areas, and the difference section 11 in the (n + 1) th hierarchy is divided.
When the process of 2 is re-executed, the data written in the shift range storage memory 112d and the data written in the shift step storage memory 112e are rewritten. That is, in the (n +1) th layer, the shift range of shifts that are sequentially performed at the time of template matching in the difference unit 112 is narrower than in the nth layer, and one shift amount (shift step) The size is also reduced. That is, the higher the hierarchy, the coarser the positional deviation correction, and the lower the hierarchy, the finer the correction. Therefore, according to the present embodiment, the presence or absence of a defective portion is determined in a relatively higher hierarchy for a partial area of a pattern having little or no density difference. Therefore, it is possible to further reduce the processing amount and the processing time required for determining the presence / absence of a defect in the entire digital image of one frame written in the inspection image memory 110.

【0084】なお、本発明はこれに限定されるものでは
ないが、本実施例では、図21〜図24を用いて後述す
るように、前記第7階層での前記差分部112でのテン
プレートマッチングのシフトの際には、隣接する画素間
の位置での濃度を近傍画素の濃度からの内挿によって求
めることにより、1画素の距離より細かい位置ずれ補正
をも可能としている。又、本実施例では、図25を用い
て後述するように、前記差分部112でのテンプレート
マッチングの際、該当する部分領域中の全画素を参照す
るものではなく、当該部分領域の一部の領域のみを参照
して比較するようにしている。これにより、テンプレー
トマッチングの際の、主として前記マッチング判定回路
112g での前記基準画素メモリ108に記憶されてい
るデジタル画像との画素毎の比較処理における、処理量
や処理時間を減少している。
Although the present invention is not limited to this, in the present embodiment, as will be described later with reference to FIGS. 21 to 24, template matching in the difference section 112 in the seventh layer is performed. At the time of shifting, the density at the position between the adjacent pixels is obtained by interpolation from the density of the neighboring pixels, so that the positional deviation smaller than the distance of one pixel can be corrected. Further, in the present embodiment, as will be described later with reference to FIG. 25, at the time of template matching in the difference unit 112, not all pixels in the corresponding partial area are referred to, but a part of the partial area is referred to. Only areas are referenced and compared. As a result, the amount of processing and the processing time are reduced mainly in the matching processing for each pixel with the digital image stored in the reference pixel memory 108 in the matching determination circuit 112g at the time of template matching.

【0085】図15は、前記差分部で行われる処理の第
1例のフローチャートである。
FIG. 15 is a flowchart of a first example of the processing performed by the difference section.

【0086】この図15のフローチャートにおいて、ま
ずステップ602では、第0階層が第4階層へと分割さ
れている。分割された後の部分領域の画素数は(16×
16)画素である。ステップ604では、前記ステップ
602で分割された各部分領域毎に、順次前記差分部1
12でのテンプレートマッチング及び位置ずれ補正を行
う。ステップ606では、前記ステップ604でのテン
プレートマッチング後のそれぞれの部分領域の不一致画
素数N(i ,j )により、欠陥候補部分領域であるか、
あるいは無欠陥部分領域であるの判定を行う。これらス
テップ602〜606で行われる処理は、前記第4階層
に対応する処理である。
In the flowchart of FIG. 15, first, in step 602, the 0th layer is divided into the 4th layer. The number of pixels in the partial area after the division is (16 ×
16) Pixels. In step 604, the difference unit 1 is sequentially added to each of the partial areas divided in step 602.
Template matching and positional deviation correction in 12 are performed. In step 606, whether the pixel is a defect candidate partial area or not depending on the number N (i, j) of mismatched pixels in each partial area after the template matching in step 604,
Alternatively, it is determined that the area is a defect-free partial area. The processing performed in these steps 602 to 606 is processing corresponding to the fourth layer.

【0087】続いてステップ610では、第5階層とし
て、前記ステップ606で欠陥候補部分領域とされたも
のを4分割する。この4分割によれば、(8×8)画素
の部分領域に分割される。ステップ612では、前記ス
テップ610で分割された各部分領域毎に、テンプレー
ト移動範囲、即ち前記シフト範囲記憶メモリ112dに
書き込まれるデータを算出する。又、このステップ61
2では、前記シフトステップ記憶メモリ112e に書き
込むデータをも算出する。ステップ614では、前記ス
テップ610で分割された部分領域毎に、前記差分部1
12でのテンプレートマッチング及び位置ずれ補正を行
う。ステップ616では、前記ステップ614での位置
ずれ補正後の不一致画素数N(i ,j )の大きさを所定
閾値と比較することにより、前記ステップ610で分割
された後の各部分領域毎の、欠陥候補部分領域であるか
あるいは無欠陥部分領域であるかの判定を行う。これら
ステップ610〜616で行われる処理は、前記第5階
層に対応する処理である。
Subsequently, at step 610, the defect candidate partial area determined at step 606 is divided into four as a fifth layer. According to this 4-division, it is divided into partial areas of (8 × 8) pixels. In step 612, the template movement range, that is, the data to be written in the shift range storage memory 112d is calculated for each of the partial areas divided in step 610. In addition, this step 61
In 2, the data to be written in the shift step storage memory 112e is also calculated. In step 614, the difference part 1 is calculated for each of the partial areas divided in step 610.
Template matching and positional deviation correction in 12 are performed. In step 616, by comparing the size of the number N (i, j) of mismatched pixels after the misregistration correction in step 614 with a predetermined threshold value, for each partial area divided in step 610, It is determined whether the area is a defect candidate partial area or a defect-free partial area. The processing performed in these steps 610 to 616 is processing corresponding to the fifth layer.

【0088】続いてステップ620及びステップ622
では、前記ステップ602〜606で説明した第4階層
に対応する処理や、前記ステップ610〜616で説明
した前記第5階層に対応する処理と同様の処理を行う。
Subsequently, step 620 and step 622.
Then, the same processing as the processing corresponding to the fourth layer described in steps 602 to 606 and the processing corresponding to the fifth layer described in steps 610 to 616 is performed.

【0089】続いてステップ624では、前記ステップ
602から前記ステップ622までの処理で補正し切れ
なかった部分領域、即ち、前記ステップ622での位置
ずれ補正後の不一致画素数N(i ,j )の値が所定閾値
以上であって、欠陥候補部分領域とされたものについ
て、残画像の生成を行う。この残画像の生成は、前記検
査画像メモリ110に書き込まれているデジタル画像に
おいて、欠陥部分の画像である。
Subsequently, at step 624, the partial area which has not been completely corrected by the processing from step 602 to step 622, that is, the number N (i, j) of mismatched pixels after the positional deviation correction at step 622 is performed. A residual image is generated for a defect candidate partial area whose value is equal to or larger than a predetermined threshold value. The generation of this residual image is an image of a defective portion in the digital image written in the inspection image memory 110.

【0090】図16〜図19は、それぞれ、前記差分部
で行われる部分領域分割による、第2階層〜第5階層を
示す線図である。
16 to 19 are diagrams showing the second to fifth hierarchies by the partial area division performed in the difference section, respectively.

【0091】これら図16〜図19においては、前記図
14の階層構成図で用いられた検査画像と同一のものに
ついて、欠陥候補部分領域が次の階層で4分割されてい
く様子が示されている。なお、これら図16〜図19に
おいて、ハッチングされた部分領域及び左下りの斜線が
付された部分領域は、いずれも、前記図14の●ノード
で示される欠陥候補部分領域に対応する。又、これら図
16〜図19において、ハッチングされた部分領域は、
次の階層で4分割されたいずれの部分領域も無欠陥部分
領域とされたものである。一方、左下りの斜線が付され
た部分領域は、次の階層で4分割された部分領域のうち
少なくとも1つの部分領域について、欠陥候補部分領域
とされたものである。
FIGS. 16 to 19 show that the defect candidate partial area is divided into four in the next layer for the same inspection image used in the layer configuration diagram of FIG. There is. 16 to 19, the hatched partial area and the partial area with a diagonal line to the lower left correspond to the defect candidate partial area indicated by the ● node in FIG. Further, in these FIGS. 16 to 19, the hatched partial regions are
Any of the four partial areas in the next layer is a defect-free partial area. On the other hand, the partial area with a diagonal line to the left is a candidate candidate partial area for at least one of the four partial areas in the next layer.

【0092】まず、図16において、第4階層では、前
記図14でも示されたように、合計3個の部分領域が欠
陥候補部分領域とされる。続いて図17では、第5階層
として、前記図16の欠陥候補部分領域それぞれが4分
割されている。又、前記図14でも示されたように、こ
の第5階層では、4分割された後の部分領域のうち、合
計2個が欠陥候補部分領域とされている。続いて図18
では、第6階層として、前記図17で欠陥候補部分領域
とされたものが更に4分割されている。これら更に4分
割された後の部分領域のうち、前記図14でも示された
ように、合計1個が欠陥候補部分領域とされている。続
いて図19では、第7階層として、前記図17で欠陥候
補部分領域とされたものが更に4分割されている。この
図19では、前記図14と同様に、4分割された後のも
のの1つが欠陥候補部分領域とされている。
First, in FIG. 16, in the fourth layer, as shown in FIG. 14, a total of three partial areas are set as defect candidate partial areas. Subsequently, in FIG. 17, each of the defect candidate partial areas in FIG. 16 is divided into four as a fifth layer. Also, as shown in FIG. 14, in the fifth layer, a total of two partial areas after being divided into four are considered as defect candidate partial areas. Then, in FIG.
In the sixth hierarchy, the defect candidate partial area in FIG. 17 is further divided into four. Of these partial regions after being further divided into four, as shown in FIG. 14, a total of one is considered as a defect candidate partial region. Next, in FIG. 19, the defect candidate partial area in FIG. 17 is further divided into four as the seventh layer. In FIG. 19, as in FIG. 14, one after being divided into four is a defect candidate partial area.

【0093】図20は、前記差分部で行われる処理の第
2例のフローチャートである。
FIG. 20 is a flowchart of the second example of the processing performed by the difference section.

【0094】この図20のフローチャートで示される処
理は、ステップ650及び652は、それぞれ、前記図
19のステップ602及び604の処理と同様である。
In the process shown in the flowchart of FIG. 20, steps 650 and 652 are similar to the processes of steps 602 and 604 of FIG. 19, respectively.

【0095】この図20のフローチャートにおいて、ス
テップ660では、前記ステップ652のテンプレート
マッチングや位置ずれ補正の後、前記ステップ650で
分割された部分領域全てを4分割する。この分割の後に
は、各部分領域は(8×8)画素となる。次にステップ
662では、前記ステップ660で分割された部分領域
毎に、前記(2)式に従って前記不一致画素数N(i ,
j )を求め、該不一致画素数N(i ,j )と所定の閾値
との比較により、欠陥候補部分領域であるかあるいは無
欠陥部分領域であるかの判定を行っている。該ステップ
662に続くステップ664、666は、それぞれ、前
記図19のステップ612及び614と同様の処理を行
う。これらステップ664及び666では、前記ステッ
プ662で欠陥候補部分領域とされた部分領域毎に、前
記シフト範囲記憶メモリに設定するデータや、前記シフ
トステップ記憶メモリ112e に設定するためのデータ
を算出したり、前記差分部112によるテンプレートマ
ッチングや位置ずれ補正を行う。
In the flowchart of FIG. 20, in step 660, after the template matching and positional deviation correction in step 652, all the partial areas divided in step 650 are divided into four. After this division, each partial area becomes (8 × 8) pixels. Next, in step 662, for each partial area divided in step 660, the number N (i,
j) is obtained, and the number N (i, j) of mismatched pixels is compared with a predetermined threshold value to determine whether it is a defect candidate partial region or a defect-free partial region. Steps 664 and 666 following step 662 respectively perform the same processes as steps 612 and 614 of FIG. In these steps 664 and 666, data to be set in the shift range storage memory and data to be set in the shift step storage memory 112e are calculated for each partial area determined as the defect candidate partial area in step 662. The template matching and the positional deviation correction are performed by the difference unit 112.

【0096】続くステップ670での第6階層に対応す
る処理や、ステップ672での第7階層に対応する処理
は、前記ステップ650から前記ステップ666までの
前述のような第4階層や第5階層に対応する処理と同様
の処理を行う。なお、この図20のステップ674は前
記図19のステップ624と同様の処理である。
The processing corresponding to the sixth layer in the following step 670 and the processing corresponding to the seventh layer in step 672 are the fourth layer and the fifth layer as described above from step 650 to step 666. The same process as the process corresponding to is performed. Note that step 674 in FIG. 20 is the same processing as step 624 in FIG.

【0097】図21は、前記差分部で行われる画素単位
での位置ずれ補正を示す説明図である。又、図22は、
前記差分部で行われる画素単位以下での位置ずれ補正を
示す説明図である。
FIG. 21 is an explanatory diagram showing the positional deviation correction for each pixel performed by the difference section. Also, FIG.
It is explanatory drawing which shows the misregistration correction in a pixel unit or less performed by the said difference part.

【0098】これら図21及び図22において、L1
は、基準画像中のラスタスキャン方向の1ラインの各画
素の濃度を、直線補間したものである。又、符号L2a
及びL2b は、検査画像中の1ラインの各画素の濃度を
直線補間したものを示している。符号P1は、前記基準
画像中の所定画素の濃度を示している。符号P2a 〜P
2d は、前記検査画像中の所定画素の濃度を示してい
る。
In these FIGS. 21 and 22, L1
Is a linear interpolation of the densities of pixels in one line in the raster scan direction in the reference image. Also, reference numeral L2a
And L2b are linear interpolations of the densities of the pixels of one line in the inspection image. Reference numeral P1 indicates the density of a predetermined pixel in the reference image. Reference symbols P2a to P
2d indicates the density of a predetermined pixel in the inspection image.

【0099】まず、図21において、基準画像に対して
検査画像を1画素単位で位置ずれ補正した場合には、十
分な結果を得ることができない。これは、前記画素P
1、P2a 、P2c 、P2d 付近で、濃度変化が急激で
あるためである。このため、1画素単位で位置ずれ補正
を行ったとしても、符号P1の濃度と符号P2a の濃度
との濃度差が比較的大きくなってしまう。
First, in FIG. 21, when the displacement of the inspection image is corrected pixel by pixel with respect to the reference image, a sufficient result cannot be obtained. This is the pixel P
This is because the concentration change is rapid near 1, P2a, P2c, and P2d. Therefore, even if the positional deviation correction is performed on a pixel-by-pixel basis, the density difference between the density of the code P1 and the density of the code P2a becomes relatively large.

【0100】比較して図22では、隣接する2つの画素
間の中間の位置での濃度を、その両端の画素の濃度から
内挿によって求めている。例えば、符号P2a の画素の
濃度と符号P2c の画素の濃度との内挿から、これら画
素の間の中間の位置の濃度、即ち符号P2b で示される
位置の濃度を求めている。又、この図22では、このよ
うな内挿によって求められた濃度を用いながら、1/2
画素単位での位置ずれ補正を行っている。この結果、前
記図21に比べてより良好な位置ずれ補正結果が得られ
ている。即ち、基準画像の符号P1で示される画素の濃
度と、これに対して位置ずれ補正された検査画像の符号
P2b の位置の濃度との濃度差は、前記図21の場合と
比べ、極めて小さくなっている。
For comparison, in FIG. 22, the density at the intermediate position between two adjacent pixels is obtained by interpolation from the density of the pixels at both ends. For example, the density at the intermediate position between these pixels, that is, the density at the position indicated by the reference symbol P2b is obtained from the interpolation of the density of the pixel indicated by the reference symbol P2a and the density of the pixel indicated by the reference symbol P2c. Further, in FIG. 22, while using the density obtained by such interpolation,
The positional deviation is corrected in pixel units. As a result, a better positional deviation correction result is obtained as compared with FIG. That is, the density difference between the density of the pixel indicated by the symbol P1 of the reference image and the density at the position of the symbol P2b of the inspection image that has been subjected to the positional shift correction is extremely small compared to the case of FIG. ing.

【0101】図23は、前記差分部で行われる複数画素
間での内挿を示す説明図である。
FIG. 23 is an explanatory diagram showing interpolation between a plurality of pixels performed by the difference section.

【0102】この図23に示されるように、本実施例で
は、互いに隣接する4画素によって、これら4画素の中
心を結ぶ長方形内の位置の濃度を、次式により内挿して
求めている。
As shown in FIG. 23, in the present embodiment, the density of a position within a rectangle connecting the centers of four pixels adjacent to each other is determined by the following equation.

【0103】 b (i ,j )= a1 (1−i )(1−j )+ a2 (1−i )j + a3 i (1−j )+ a4 ij …(3)[0103] b (i, j) = a 1 (1-i) (1-j) + a 2 (1-i) j + a 3 i (1-j) + a 4 ij ... (3)

【0104】ここで、 a1 〜 a4 は、それぞれ前記図2
3の同符号で位置が示された各画素の濃度である。又、
i 及びj は、b の位置から画素 a1 までの距離を示す。
Here, a 1 to a 4 are respectively shown in FIG.
3 is the density of each pixel whose position is indicated by the same sign. or,
i and j indicate the distance from the position of b to the pixel a 1 .

【0105】なお、本実施例では、近傍画素の濃度から
の内挿は1次内挿法によっているが、本発明はこれに限
定されるものではなく、例えば3次畳み込み内挿法のよ
うな高次の補間法を用いてもよい。
In the present embodiment, the interpolation from the densities of the neighboring pixels is performed by the linear interpolation method, but the present invention is not limited to this. For example, the cubic convolution interpolation method is used. Higher order interpolation methods may be used.

【0106】図24は、前記差分部で順次行われる位置
ずれ補正の過程を示す説明図である。
FIG. 24 is an explanatory diagram showing a process of positional deviation correction sequentially performed by the difference section.

【0107】この図24は、前記図14に対応して描か
れている。即ち、この図24で描かれている検査画像
は、前記図14で用いられた検査画像と同じものであ
る。この図24の符号P3a 〜P3e は、前記図14の
同符号のものに対応するものである。
This FIG. 24 is drawn corresponding to FIG. That is, the inspection image drawn in FIG. 24 is the same as the inspection image used in FIG. Reference numerals P3a to P3e in FIG. 24 correspond to the same reference numerals in FIG.

【0108】この図24に示されるように、第4階層に
おいては、(+4,−4)だけ位置ずれ補正される。第
5階層には、(+2,+2)だけ位置ずれ補正される。
第6階層では、(+1,0)だけ位置ずれ補正される。
第7階層では、(−0.5,+0.5)だけ位置ずれ補
正される。なお、これらの位置ずれ補正の単位は、検査
画素を構成する画素の大きさ(一辺の長さ)である。
As shown in FIG. 24, the positional deviation is corrected by (+4, -4) in the fourth layer. On the fifth layer, the positional deviation is corrected by (+2, +2).
In the sixth layer, the positional deviation is corrected by (+1,0).
In the seventh layer, the positional deviation is corrected by (-0.5, +0.5). The unit of these misalignment corrections is the size (length of one side) of the pixels forming the inspection pixel.

【0109】このように、本実施例では、上位の階層ほ
ど粗い位置ずれ補正を行い、階層が下に進むほどより細
かな位置ずれ補正を行うようになっている。
As described above, in this embodiment, the coarser positional deviation correction is performed in the higher hierarchy, and the smaller positional deviation correction is performed in the lower hierarchy.

【0110】図25は、前記差分部での位置ずれ補正の
際の参照領域を示す説明図である。
FIG. 25 is an explanatory diagram showing a reference area when the positional deviation is corrected in the difference section.

【0111】この図25において、符号Na は、前記領
域分割回路112a で切り出された部分領域である。符
号Ma は、該部分領域Na によるテンプレートマッチン
グの際のシフト範囲である。符号Nb は、参照領域を示
す。
In FIG. 25, reference numeral Na is a partial area cut out by the area dividing circuit 112a. A symbol Ma is a shift range when template matching is performed by the partial area Na. Reference numeral Nb indicates a reference area.

【0112】本実施例では、前記差分部112でテンプ
レートマッチングを行いながら位置ずれ補正量を求める
際に、前記部分領域Na とこれに対応する基準画像部分
との一致を、該部分領域Na を構成する全画素について
比較参照するのではなく、前記参照領域Nb の範囲に限
定して比較参照している。この参照領域は、前記部分領
域Na 毎に予め決められているもので、該部分領域Na
中の絵柄の特徴となる部分を含むように設定される。例
えば、前記部分領域Na のうち、濃度差が大きい絵柄の
境界部分を含み、且つ絵柄が細かすぎない部分などを前
記参照領域Nbに設定する。
In this embodiment, when the positional deviation correction amount is obtained while performing the template matching in the difference section 112, the partial area Na is matched with the corresponding reference image portion to form the partial area Na. Instead of comparing and referring to all the pixels, the reference is limited to the range of the reference region Nb. This reference area is predetermined for each of the partial areas Na, and
It is set to include the characteristic part of the picture inside. For example, in the partial area Na, the reference area Nb is set to include a boundary portion of a pattern having a large density difference and the pattern is not too fine.

【0113】このように本実施例では、位置ずれ補正の
際の基準画像との比較参照の際に、前記部分領域Na 内
の予め設定された前記参照領域Nb 内の画素のみを比較
参照するようにしている。これにより、テンプレートマ
ッチングの際の処理量や処理時間を減少できるだけでな
く、テンプレートマッチングの際の誤りの発生等を低減
している。例えば絵柄の細かい部分ではテンプレートマ
ッチングの誤りを生じることがあるが、これを防ぐこと
ができる。
As described above, in the present embodiment, only the pixels in the preset reference area Nb in the partial area Na are compared and referenced in the comparison and reference with the standard image in the correction of the positional deviation. I have to. This not only reduces the processing amount and processing time at the time of template matching, but also reduces the occurrence of errors at the time of template matching. For example, a template matching error may occur in a fine pattern portion, which can be prevented.

【0114】なお、本実施例は、前記図12等を用いて
前述したように、部分領域への分割は順次4分割に等分
するというものである。しかしながら、本発明はこのよ
うな部分領域への分割に限定されるものではなく、検査
対象となる印刷物の絵柄等に従って分割するものであっ
てもよい。この場合には、分割された部分領域相互の広
さや形状は等しくならない場合もある。又、このような
部分領域への分割は、検査対象の画像から得られる微分
値やテクスチェア等の属性に応じて分割するものであっ
てもよい。
In this embodiment, as described above with reference to FIG. 12 and the like, the division into the partial regions is sequentially divided into four. However, the present invention is not limited to such division into partial areas, and may be division according to the pattern or the like of the printed matter to be inspected. In this case, the divided partial areas may not have the same width or shape. Further, such division into partial areas may be performed according to an attribute such as a differential value or a texture chair obtained from an image to be inspected.

【0115】[0115]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、検
査画像の歪み等の影響を低減することができ、又、検査
中の処理量を低減することができるという優れた効果を
得ることができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain the excellent effect that the influence of the distortion of the inspection image can be reduced and the processing amount during the inspection can be reduced. You can

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本願の第1発明の要旨を示すフローチャートFIG. 1 is a flowchart showing the gist of the first invention of the present application.

【図2】本発明が適用された印刷機及び印刷物集中検査
装置の構成を示すブロック図
FIG. 2 is a block diagram showing a configuration of a printing machine and a printed matter concentrated inspection apparatus to which the present invention is applied.

【図3】前記印刷物集中検査装置の検出部の印刷物走行
方向から見た側面図
FIG. 3 is a side view of the detection unit of the printed matter concentration inspection apparatus seen from the printed matter running direction.

【図4】前記検出部の検出部電気回路の電気回路図FIG. 4 is an electric circuit diagram of a detection unit electric circuit of the detection unit.

【図5】前記印刷物集中検査装置の中継器のハードウェ
ア構成を示すブロック図
FIG. 5 is a block diagram showing a hardware configuration of a repeater of the printed matter concentrated inspection apparatus.

【図6】前記中継器の機能構成を示すブロック図FIG. 6 is a block diagram showing a functional configuration of the repeater.

【図7】前記印刷物集中検査装置の本体のハードウェア
構成を示すブロック図
FIG. 7 is a block diagram showing a hardware configuration of a main body of the printed matter concentrated inspection apparatus.

【図8】前記印刷物集中検査装置本体の機能構成を示す
ブロック図
FIG. 8 is a block diagram showing a functional configuration of the main body of the printed matter concentration inspection apparatus.

【図9】前記印刷物集中検査装置本体の判定部の機能構
成を示すブロック図
FIG. 9 is a block diagram showing a functional configuration of a determination unit of the main body of the printed matter concentration inspection apparatus.

【図10】前記判定部の差分部の機能構成を示すブロッ
ク図
FIG. 10 is a block diagram showing a functional configuration of a difference unit of the determination unit.

【図11】前記差分部で行われるテンプレートマッチン
グの説明図
FIG. 11 is an explanatory diagram of template matching performed by the difference unit.

【図12】前記差分部で行われる部分領域の分割の一例
を示す線図
FIG. 12 is a diagram showing an example of division of partial regions performed by the difference unit.

【図13】前記差分部で行われる検査画像と基準画像と
の画素毎の比較検査の説明図
FIG. 13 is an explanatory diagram of a comparison inspection for each pixel of an inspection image and a reference image, which is performed by the difference unit.

【図14】前記差分部で行われる部分領域分割に従った
階層構成図
FIG. 14 is a hierarchical block diagram according to partial area division performed by the difference unit.

【図15】前記差分部で行われる部分領域分割による第
4階層を示す線図
FIG. 15 is a diagram showing a fourth layer by partial area division performed by the difference unit.

【図16】前記差分部で行われる部分領域分割による第
5階層を示す線図
FIG. 16 is a diagram showing a fifth layer by partial area division performed by the difference unit.

【図17】前記差分部で行われる部分領域分割による第
6階層を示す線図
FIG. 17 is a diagram showing a sixth layer by partial area division performed by the difference unit.

【図18】前記差分部で行われる部分領域分割による第
7階層を示す線図
FIG. 18 is a diagram showing a seventh layer by partial area division performed by the difference section.

【図19】前記差分部で行われる処理の第1例のフロー
チャート
FIG. 19 is a flowchart of a first example of processing performed by the difference unit.

【図20】前記差分部で行われる処理の第2例のフロー
チャート
FIG. 20 is a flowchart of a second example of processing performed by the difference unit.

【図21】前記差分部で行われる画素単位での位置ずれ
補正を示す説明図
FIG. 21 is an explanatory diagram showing pixel-by-pixel positional deviation correction performed by the difference unit.

【図22】前記差分部で行われる画素単位以下での位置
ずれ補正を示す説明図
FIG. 22 is an explanatory diagram showing positional deviation correction in pixel units or less performed by the difference unit.

【図23】前記差分部で行われる複数画素間での内挿を
示す説明図
FIG. 23 is an explanatory diagram showing interpolation between a plurality of pixels performed by the difference unit.

【図24】前記差分部で順次行われる位置ずれ補正の過
程を示す説明図
FIG. 24 is an explanatory diagram showing a process of positional deviation correction sequentially performed in the difference section.

【図25】前記差分部での位置ずれ補正の際の参照領域
を示す説明図
FIG. 25 is an explanatory diagram showing a reference area when the positional deviation is corrected in the difference section.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…印刷物 10…印刷機 12…印刷ユニット 14…フィードロール 16…巻上部 18…ロータリエンコーダ 30…検出部 32a …ランプハウス 32b …光源 33…光ファイバ 34…ライトガイド 34a …スリット 34b …ケーシング 34c …ガラス棒 34d …塗料 36…ラインセンサカメラ 38…検出部電気回路 38a …A/D変換部 38b …フレームメモリ 38c …画像圧縮回路 38d …光通信部 38e …ドライバ 38g …A/D変換器 40…中継器 40a …CPU 40b …ROM 40c …RAM 40d …並列入出力回路 40e …カウンタ 40f …O/E変換器 40g 、40h …シリアル変換器 40i …E/O変換器 40j …バス 40m …画像タイミング制御部 40n …メモリ 40p …画像信号中継部 50…CPU 52…主記憶装置 54…ハードディスク装置 58…フロッピディスク装置 60…入出力装置 60a …O/E変換器 62…キーボード 64a …CRT制御装置 64b …CRT 66…ネットワーク制御装置 68…プリンタ装置 80…印刷物集中検査装置本体 82…不良画像記憶部 84…不良表示部 86…データ集計部 88…ネットワーク接続部 100…判定部 102…光受信部 104…画像復元部 106…切替手段 108…基準画像メモリ 110…検査画像メモリ 112…差分部 112a …領域分割回路 112b …部分領域記憶メモリ 112c …テンプレートシフト回路 112d …シフト範囲記憶メモリ 112e …シフトステップ記憶メモリ 112f …シフト量記憶メモリ 112g …マッチング判定回路 114…画像座標決定部 116…判定回路 118…記録部 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Printed matter 10 ... Printing machine 12 ... Printing unit 14 ... Feed roll 16 ... Winding part 18 ... Rotary encoder 30 ... Detection part 32a ... Lamp house 32b ... Light source 33 ... Optical fiber 34 ... Light guide 34a ... Slit 34b ... Casing 34c ... Glass rod 34d ... Paint 36 ... Line sensor camera 38 ... Detection part electric circuit 38a ... A / D conversion part 38b ... Frame memory 38c ... Image compression circuit 38d ... Optical communication part 38e ... Driver 38g ... A / D converter 40 ... Relay Unit 40a ... CPU 40b ... ROM 40c ... RAM 40d ... Parallel input / output circuit 40e ... Counter 40f ... O / E converters 40g, 40h ... Serial converter 40i ... E / O converter 40j ... Bus 40m ... Image timing control unit 40n ... Memory 40p ... Image signal relay unit 50 ... CPU 52 ... Main memory device 54 ... Hard disk device 58 ... Floppy disk device 60 ... Input / output device 60a ... O / E converter 62 ... Keyboard 64a ... CRT control device 64b ... CRT 66 ... Network control device 68 ... Printer device 80 ... Printed matter intensive inspection device main body 82 ... Defect image storage unit 84 ... Defect display unit 86 ... Data aggregation unit 88 ... Network connection unit 100 ... Judgment unit 102 ... Optical reception unit 104 ... Image restoration unit 106 ... Switching means 108 ... Reference image memory 110 ... Inspection image memory 112 ... Difference Part 112a ... Region division circuit 112b ... Partial region storage memory 112c ... Template shift circuit 112d ... Shift range storage memory 112e ... Shift step storage memory 112f ... Shift amount storage memory 112g ... Matching determination circuit 114 ... Image coordinate determination unit 116 ... Determination circuit18 ... recording unit

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被検査画像と基準画像とを比較しながら該
被検査画像を検査するために、一方の画像と他方の画像
との間の位置ずれ補正を行う画像の位置ずれ補正方法に
おいて、 前記2つの画像のうち、少なくとも一方の画像を部分領
域に分割し、 該部分領域毎に前記位置ずれ補正を行うことを特徴とす
る画像の位置ずれ補正方法。
1. An image position shift correction method for correcting a position shift between one image and the other image in order to inspect the image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image, At least one of the two images is divided into partial areas, and the positional deviation correction is performed for each of the partial areas.
【請求項2】被検査画像と基準画像とを比較しながら該
被検査画像を検査するために、一方の画像と他方の画像
との間の位置ずれ補正を行う画像の位置ずれ補正装置に
おいて、 前記2つの画像のうちの一方の画像の少なくとも一部の
画像を、部分領域に分割する領域分割手段と、 該部分領域毎に前記位置ずれ補正を行う領域毎補正手段
とを備えたことを特徴とする画像の位置ずれ補正装置。
2. An image position shift correction apparatus for correcting a position shift between one image and the other image in order to inspect the image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image, An area dividing unit that divides at least a part of one of the two images into partial areas, and an area correction unit that performs the positional deviation correction for each partial area are provided. Image misregistration correction device.
【請求項3】請求項2において、 前記領域毎補正手段が、所定精度Kでの位置ずれ補正を
行う手段であって、 更に、前記領域毎補正手段での補正不良により欠陥候補
部分領域を抽出し、該欠陥候補部分領域を前記領域分割
手段で分割対象となる画像とすると共に、前記所定精度
Kをより高精度化し、前記領域分割手段及び前記領域毎
補正手段で行う処理を再実行させる判定手段とを備えた
ことを特徴とする画像の位置ずれ補正装置。
3. The defect correction sub-region according to claim 2, wherein the region-by-region correction unit is a unit that performs a positional deviation correction with a predetermined accuracy K, and further, a defect candidate partial region is extracted due to a correction failure in the region-by-region correction unit. Then, the defect candidate partial area is set as an image to be divided by the area dividing means, the predetermined accuracy K is made higher, and the processing performed by the area dividing means and the area correcting means is re-executed. An image misregistration correction device comprising:
【請求項4】請求項2又は3のいずれか一方において、 前記2つの画像が画素画像であって、 又、前記領域毎補正手段が、前記位置ずれ補正の際に、
画素間の位置での濃度を近傍画素の濃度からの内挿によ
って求めることにより、1画素の距離より細かい位置ず
れ補正をも可能な手段であることを特徴とする画像の位
置ずれ補正装置。
4. The method according to claim 2 or 3, wherein the two images are pixel images, and the correction unit for each area corrects the positional deviation.
An image misregistration correction apparatus, which is a means that can also perform misregistration correction finer than the distance of one pixel by obtaining the density at a position between pixels by interpolation from the densities of neighboring pixels.
【請求項5】被検査画像と基準画像とを比較しながら該
被検査画像の欠陥を検出する画像検査装置において、 前記2つの画像のうちの一方の画像の少なくとも一部の
画像を、部分領域に分割する領域分割手段と、 該部分領域毎に前記位置ずれ補正を行う領域毎補正手段
と、 前記領域毎補正手段での補正不良を検出する判定手段と
を備え、 該補正不良の検出により前記被検査画像の欠陥を検出す
ることを特徴とする画像検査装置。
5. An image inspection apparatus for detecting a defect in an image to be inspected while comparing the image to be inspected with a reference image, wherein at least a part of one of the two images is a partial area. Area dividing means for dividing into partial areas, area-by-area correction means for performing the positional deviation correction for each of the partial areas, and determination means for detecting a correction failure in the area-by-area correction means. An image inspection apparatus characterized by detecting a defect in an image to be inspected.
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