JPH05326486A - Wet etching tank - Google Patents

Wet etching tank

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Publication number
JPH05326486A
JPH05326486A JP13218992A JP13218992A JPH05326486A JP H05326486 A JPH05326486 A JP H05326486A JP 13218992 A JP13218992 A JP 13218992A JP 13218992 A JP13218992 A JP 13218992A JP H05326486 A JPH05326486 A JP H05326486A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tank
cassette
wet etching
wafer
chemicals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP13218992A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masafumi Iwashita
雅文 岩下
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electronics Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electronics Corp filed Critical Matsushita Electronics Corp
Priority to JP13218992A priority Critical patent/JPH05326486A/en
Publication of JPH05326486A publication Critical patent/JPH05326486A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To provide a wet etching tank in which an entire surface in the tank can be uniformly overflowed and an entire wafer can be uniformly etched. CONSTITUTION:Chemicals of an outer tank of an overflowing tank 11 are circulated by a pump 13. The chemicals passed through a filter 14 are fed to a plurality of branched tubes 18, and introduced from a discharge port 17 provided at a position directly under a disposing place of a cassette 15 in a bottom of an inner tank 10 thereinto. Thus, the port 17 of the chemicals is provided directly under the cassette 15 so that the chemicals flow uniformly between wafers 16 in the cassette 15 to etch the entire wafer 16.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体製造装置のウェ
ットエッチング処理槽に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wet etching treatment tank for semiconductor manufacturing equipment.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、ウェットエッチング処理は循環さ
せると同時にフィルタリングを行なった槽に、ウェハを
セットしたカセットを1カセットもしくは複数投入して
いる。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a wet etching process, one cassette or a plurality of cassettes in which wafers are set are put in a tank which is circulated and filtered at the same time.

【0003】以下、従来のウェットエッチング処理につ
いて説明する。図2は、従来のウェットエッチング処理
装置の概略図を示すものである。1はオーバーフロー
槽、2は底板、3はポンプ、4はフィルター、5はカセ
ット、6はウェハである。
The conventional wet etching process will be described below. FIG. 2 is a schematic view of a conventional wet etching processing apparatus. 1 is an overflow tank, 2 is a bottom plate, 3 is a pump, 4 is a filter, 5 is a cassette, and 6 is a wafer.

【0004】以上のように構成されたウェットエッチン
グ処理槽について具体的に説明する。オーバーフロー槽
1の外槽の薬液をポンプ3でフィルター4を通し内槽へ
循環される。この内槽にウェハ6をセットしたカセット
5を底板上2に投入し、エッチングする。
The wet etching treatment tank configured as described above will be specifically described. The chemical solution in the outer tank of the overflow tank 1 is circulated to the inner tank through the filter 4 by the pump 3. The cassette 5 with the wafer 6 set in this inner tank is put on the bottom plate 2 and etched.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ごとき従来のウェットエッチング処理槽は、オーバーフ
ロー槽1内への吐出口が平坦なオーバーフロー槽底板2
の中央に1箇所あるだけなので、オーバーフロー槽1の
端では液の流れが中央より少なくなり、端にあるウェハ
6は、カセット5の溝との接触部分が薬液に浸されにく
くなり、エッチングされない欠点を有していた。
However, in the conventional wet etching processing tank as described above, the overflow tank bottom plate 2 having a flat discharge port into the overflow tank 1 is used.
Since there is only one location in the center of the overflow tank 1, the liquid flow at the edge of the overflow tank 1 is less than that at the center, and the wafer 6 at the edge is less likely to be soaked in the chemical solution at the contact portion with the groove of the cassette 5 and is not etched. Had.

【0006】本発明は、上記従来の課題を解決するもの
で、オーバーフロー槽内の薬液の流れを均一にするため
のウェットエッチング処理槽を提供することを目的とす
るものである。
The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a wet etching treatment tank for making the flow of the chemical liquid in the overflow tank uniform.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明のウェットエッチング処理槽は、複数カセット
を処理できる第1の槽と、前記第1の槽の外側に設けら
れた第2の槽と、前記第2の槽に接続された第1の配管
と、前記配管をフィルターを介して複数に分岐した第2
の配管とを備え、前記第2の配管の吐出口が前記複数カ
セットの位置にそれぞれ接続されている。
In order to achieve this object, a wet etching treatment tank of the present invention comprises a first tank capable of processing a plurality of cassettes and a second tank provided outside the first tank. A tank, a first pipe connected to the second tank, and a second pipe branched from the pipe into a plurality of pipes through a filter.
And the discharge ports of the second pipe are connected to the positions of the plurality of cassettes.

【0008】[0008]

【作用】また、オーバーフロー槽への循環配管を分岐し
てカセットの真下の位置に吐出口を複数備えたことによ
り、カセット内のウェハに均一に薬液が流れるようにな
り、ウェハを均一にエッチングできる。
In addition, since the circulation pipe to the overflow tank is branched and a plurality of discharge ports are provided directly below the cassette, the chemical liquid can flow uniformly to the wafer in the cassette, and the wafer can be uniformly etched. .

【0009】[0009]

【実施例】図1は、本発明の一実施例において循環配管
を分岐したウェットエッチング処理槽の概略図を示すも
のである。
EXAMPLE FIG. 1 is a schematic view of a wet etching treatment tank in which a circulation pipe is branched in one embodiment of the present invention.

【0010】図1において、10は内槽、11は、複数
のカセットを処理できる石英または弗素化合物で形成さ
れたオーバーフロー槽、12はカセットをのせるための
底板、13はオーバーフロー槽11の薬液を循環するた
めのポンプ、14はオーバーフロー槽11の薬液を循環
フィルタリングするためのフィルター、15は石英また
は弗素化合物で形成されたカセット、16はウェハ、1
7はオーバーフロー槽11の薬液が循環フィルタリング
されて内槽10に入る部分である吐出口、18は循環配
管である。
In FIG. 1, 10 is an inner tank, 11 is an overflow tank formed of quartz or a fluorine compound capable of treating a plurality of cassettes, 12 is a bottom plate for mounting the cassette, and 13 is a chemical solution of the overflow tank 11. A pump for circulating, 14 is a filter for circulating and filtering the chemical solution in the overflow tank 11, 15 is a cassette made of quartz or a fluorine compound, 16 is a wafer, 1
Reference numeral 7 is a discharge port where the chemical solution in the overflow tank 11 is circulated and filtered and enters the inner tank 10, and 18 is a circulation pipe.

【0011】オーバーフロー槽11の外槽の薬液をポン
プ13により矢印A方向に循環させる。フィルター14
を流れた後の循環配管18を分岐させカセット15の真
下に吐出口17を設ける。カセット15の真下に薬液の
吐出口17を設けることによってカセット15内のウェ
ハ16に均一に薬液が流れるようになり、ウェハ16全
面をエッチングできる。特に、6インチ以上の大口径の
ウェハ16を処理するオーバーフロー槽11では槽自体
が大きくなるので、その効果は大きい。
The chemical solution in the outer tank of the overflow tank 11 is circulated in the direction of arrow A by the pump 13. Filter 14
The circulation pipe 18 after flowing through the above is branched and the discharge port 17 is provided directly below the cassette 15. By providing the chemical solution discharge port 17 just below the cassette 15, the chemical solution can flow uniformly to the wafer 16 in the cassette 15, and the entire surface of the wafer 16 can be etched. In particular, since the overflow tank 11 for processing the wafer 16 having a large diameter of 6 inches or more is large, the effect is great.

【0012】従来例において、高温のリン酸を用いてナ
イトライドのエッチングをした場合、内槽10の端のウ
ェハ16でカセット15の溝との接触部分にナイトライ
ド残りが見られた。このように内槽10内のウェハ16
を均一にエッチングすることは困難であったが、本発明
による装置を使用することによりエッチング残りがなく
なり、ウェハ16全面を均一にエッチングすることがで
きた。
In the conventional example, when the nitride was etched by using high temperature phosphoric acid, the residue of the nitride was found on the wafer 16 at the end of the inner tank 10 at the contact portion with the groove of the cassette 15. Thus, the wafer 16 in the inner tank 10
Was difficult to uniformly etch, but by using the apparatus according to the present invention, there was no etching residue and the entire surface of the wafer 16 could be uniformly etched.

【0013】[0013]

【発明の効果】以上説明したように、本発明のウェット
処理装置によれば、循環の配管を分岐してカセットの真
下に吐出口を設けることによってカセット内のウェハに
薬液が均一に流れウェハ全面を均一にエッチングでき
る。
As described above, according to the wet processing apparatus of the present invention, the circulation pipe is branched and the discharge port is provided directly below the cassette so that the chemical solution uniformly flows to the wafer in the cassette and the entire surface of the wafer is processed. Can be uniformly etched.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例においてウェットエッチング
処理槽の概略図
FIG. 1 is a schematic view of a wet etching treatment tank in one embodiment of the present invention.

【図2】従来のウェットエッチング処理装置の概略図FIG. 2 is a schematic view of a conventional wet etching processing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 内槽 11 オーバーフロー槽 12 底板 13 ポンプ 14 フィルター 15 カセット 16 ウェハ 17 吐出口 18 配管 10 Inner Tank 11 Overflow Tank 12 Bottom Plate 13 Pump 14 Filter 15 Cassette 16 Wafer 17 Discharge Port 18 Piping

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】複数カセットを処理できる第1の槽と、前
記第1の槽の外側に設けられた第2の槽と、前記第2の
槽に接続された第1の配管と、前記配管をフィルターを
介して複数に分岐した第2の配管とを備え、前記第2の
配管の吐出口が前記複数カセットの位置にそれぞれ接続
されたウェットエッチング処理槽。
1. A first tank capable of processing a plurality of cassettes, a second tank provided outside the first tank, a first pipe connected to the second tank, and the pipe. And a second pipe that is branched into a plurality of parts via a filter, and the discharge port of the second pipe is connected to the positions of the plurality of cassettes, respectively.
JP13218992A 1992-05-25 1992-05-25 Wet etching tank Pending JPH05326486A (en)

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JPH05326486A true JPH05326486A (en) 1993-12-10

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