JPH0531347A - Structure of exhaust port of vacuum container - Google Patents

Structure of exhaust port of vacuum container

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JPH0531347A
JPH0531347A JP16102291A JP16102291A JPH0531347A JP H0531347 A JPH0531347 A JP H0531347A JP 16102291 A JP16102291 A JP 16102291A JP 16102291 A JP16102291 A JP 16102291A JP H0531347 A JPH0531347 A JP H0531347A
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Abstract

PURPOSE:To prevent the whirling-up of particles caused by turblent flow by forming an exhaust port to the bottom part of a vacuum container so as to have a funnel shape by successively reducing the caliber thereof along an exhaust direction and holding the gas discharged through the exhaust port to a laminar flow state. CONSTITUTION:An exhaust port 30 is formed to the bottom part of a load lock chamber (vacuum container) so as to have a funnel shape by successively reducing the caliber of the exhaust port 30 along an exhaust direction and the gas passed through the exhaust port to be discharged is held to a laminar flow state. As a result, the whirling-up of particles caused by turblent flow can be prevented. Since an exhaust speed can be increased, an evacuating operation time can be shortened and, as a result, throughput can be enhanced.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、真空容器の排気口構造
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exhaust port structure for a vacuum container.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、例えば半導体製品を製造する場
合には、その製造過程における各処理プロセスにおいて
各種の真空容器、例えば成膜処理等を行なう、処理容
器、或いはこれらの処理容器等の前段に配置されるロー
ドロック室等が存在する。ところで半導体製造において
は、いかにして歩留まりを向上させるかが大きな問題と
なっているが、その対策の一つとして、不良品発生の原
因となるパーティクルが各種の処理プロセスにおいて介
在することを極力避けるようになされている。例えば、
上記ロードロック室を例にとれば、この真空容器の従来
の排気口の構造は、図4に示すように直方体状の開口部
に比較的管径の大きなメイン排気管6をフランジ8等に
より直接取付けていた。そして、このメイン排気管6
に、これよりも管径が小さくて有効断面積を絞ったバイ
パス排気管10を並列に設け、真空容器2内を真空ポン
プ12で真空引きするように構成されている。また、こ
の真空容器2内には、図示しないアーム等により支持さ
れて半導体ウエハ14を収容し得るように構成されてい
る。
2. Description of the Related Art Generally, for example, in the case of manufacturing a semiconductor product, various vacuum containers, for example, a film forming process or the like, is used in each process in the manufacturing process, or a process container or a preceding stage of these process containers or the like. There is a load lock room, etc. to be placed. By the way, in semiconductor manufacturing, how to improve the yield is a big problem, and one of the countermeasures is to avoid particles that cause defective products from intervening in various processing processes as much as possible. It is done like this. For example,
Taking the above load lock chamber as an example, the structure of the conventional exhaust port of this vacuum container is such that the main exhaust pipe 6 having a relatively large pipe diameter is directly connected to the flange 8 etc. in the rectangular parallelepiped opening as shown in FIG. It was installed. And this main exhaust pipe 6
Further, the bypass exhaust pipes 10 having a smaller pipe diameter and a smaller effective area are provided in parallel, and the inside of the vacuum container 2 is evacuated by the vacuum pump 12. The vacuum container 2 is configured to be supported by an arm (not shown) or the like so that the semiconductor wafer 14 can be housed therein.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ところで、真空容器を
真空引きする場合に、過度に気体の流速が速いと容器内
のパーティクルを巻き上げてしまい、これが半導体ウエ
ハ表面に付着して不良の原因となるので、容器2内を大
気圧から粗引きするときには有効断面積を絞ったバイパ
ス排気管10を用いることにより排気速度を落として真
空引きし、これにより気体流速を落としていた。そし
て、容器2内の圧力がある程度まで低下したならば上記
バイパス排気管8から有効判断面積の大きなメイン排気
管6に切り替えて真空引きしていた。しかしながら、上
述したようなスローな真空引きにあっては、所定の真空
度に達するまでに比較的長い時間を要し、半導体製造の
スループットを低下させてしまうという改善点を有して
いた。
By the way, when the vacuum container is evacuated and the flow velocity of the gas is excessively high, the particles in the container are wound up, which adheres to the surface of the semiconductor wafer and causes a defect. Therefore, when the inside of the container 2 is roughly evacuated from atmospheric pressure, the bypass exhaust pipe 10 having a narrowed effective cross-sectional area is used to reduce the evacuation speed to evacuate and thereby reduce the gas flow velocity. If the pressure in the container 2 has dropped to a certain extent, the bypass exhaust pipe 8 is switched to the main exhaust pipe 6 having a large effective judgment area for evacuation. However, in the slow vacuum evacuation as described above, it takes a relatively long time to reach a predetermined degree of vacuum, and there is an improvement point that the throughput of semiconductor manufacturing is reduced.

【0004】また、上記容器底部4へのメイン排気管6
の取付け構造は、底部4に設けた孔に直接フランジ8等
によって取付けるように構成されているので、容器2内
の底部4に向って流れてくる気体の一部が図示例のよう
に角部にて乱流を起こしてしまい、この結果、パーティ
クルを巻き上げてしまうという改善点もあった。本発明
は、以上のような問題点に着目し、これを有効に解決す
べく創案されたものである。本発明の目的は、排気口の
構造を層流が生ずるような形状にした真空容器の排気口
構造を提供することにある。
The main exhaust pipe 6 to the bottom 4 of the container is also provided.
Since the mounting structure is configured so as to be directly mounted in the hole provided in the bottom portion 4 by the flange 8 or the like, a part of the gas flowing toward the bottom portion 4 in the container 2 has a corner portion as in the illustrated example. There was also an improvement point that turbulence was caused in the result, and as a result, particles were wound up. The present invention has been made to pay attention to the above problems and to solve them effectively. An object of the present invention is to provide an exhaust port structure for a vacuum container in which the structure of the exhaust port is shaped so that a laminar flow is generated.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、上記した問題
点を解決するために、真空容器内の気体を排出する排気
口の構造において、前記排気口の口径を排気方向に沿っ
て順次縮径させてロート状に形成するように構成したも
のである。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention has a structure of an exhaust port for exhausting gas in a vacuum container, in which the diameter of the exhaust port is gradually reduced along the exhaust direction. It is configured to have a diameter and be formed into a funnel shape.

【0006】[0006]

【作用】本発明は、以上のように構成したので、真空容
器内の気体が排気口から排出する際に、ロート状にその
開口面積が順次縮径されているので気体は層流となって
排出されることになり、乱流が発生せず、パーティクル
の巻き上げも生ずることがない。
Since the present invention is configured as described above, when the gas in the vacuum container is discharged from the exhaust port, the opening area of the funnel is gradually reduced, so that the gas becomes a laminar flow. As a result, the particles are discharged, turbulence does not occur, and particles do not wind up.

【0007】[0007]

【実施例】以下に、本発明に係る排気口構造の一実施例
を添付図面に基づいて詳述する。図1及び図2に示すよ
うに、本実施例においては真空容器としてロードロック
室を例にとって説明する。このロードロック室16は、
例えばステンレススチール等によりほぼ直方体状に形成
されており、このロードロック室16の一側には、大気
側に通じるゲートバルブ18が設けられると共に、他側
には、半導体ウエハを処理するための真空処理容器20
がゲートバルブ22を介して連通可能に接続されてい
る。そして、このロードロック室16内には、搬送体と
しての半導体ウエハ24を搬送するためのロボットアー
ムのごとき搬送機26が収容されており、この搬送機2
6のアーム28を屈伸させることにより上記処理容器2
0内を大気開放することなく上記半導体ウエハ24の取
り入れ、取出しを行い得るように構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the exhaust port structure according to the present invention will be described in detail below with reference to the accompanying drawings. As shown in FIGS. 1 and 2, in this embodiment, a load lock chamber will be described as an example of a vacuum container. This load lock chamber 16
The load lock chamber 16 is formed into a substantially rectangular parallelepiped shape, for example, and a gate valve 18 communicating with the atmosphere side is provided on one side of the load lock chamber 16, and a vacuum for processing a semiconductor wafer is provided on the other side. Processing container 20
Are connected via a gate valve 22 so that they can communicate with each other. Then, in the load lock chamber 16, a carrier 26 such as a robot arm for carrying the semiconductor wafer 24 as a carrier is housed.
By bending and extending the arm 28 of No. 6, the processing container 2
The semiconductor wafer 24 can be taken in and taken out without exposing the inside of 0 to the atmosphere.

【0008】そして、このロードロック室16の底部の
ほぼ全域にわたって排気口30が形成される。尚、図2
においては、図面の複雑化を防ぐために上記搬送機26
を省略したロードロック室16の斜視図を示している。
この排気口30を区画形成する区画壁30aは、例えば
ステンレススチールなどにより構成されており、この口
径を上部から下方、すなわち排気方向に向けて順次縮径
して成形することにより、排気口30をロート状に形成
している。そして、上記ロードロック室16の底部に接
続される、排気口30の前段開口部32は、排気の有効
断面積を大きくするために、容器底部の4辺に接する程
の大きな面積を有しており、この前段開口部32には、
例えばステンレススチール板などに多数の通気孔34a
を形成することにより一定の開口率をもった、バッフル
板34が設けられており、この下方にて真空排気時に乱
流が生じてもパーティクルの巻き上げが上方に移行する
ことを阻止し得るように構成されている。このバッフル
板34の開口率は、真空引き時に乱流が生じないよう
に、真空容器の容量と排気速度によって決定されるが、
例えば好ましくは50%以下に設定する。
An exhaust port 30 is formed over almost the entire bottom of the load lock chamber 16. Incidentally, FIG.
In order to prevent the drawings from becoming complicated,
The perspective view of the load lock chamber 16 which omitted is shown.
The partition wall 30a for partitioning and forming the exhaust port 30 is made of, for example, stainless steel or the like, and the exhaust port 30 is formed by sequentially reducing the diameter from the upper part to the lower part, that is, in the exhaust direction. It is formed like a funnel. The front opening 32 of the exhaust port 30, which is connected to the bottom of the load lock chamber 16, has a large area that is in contact with the four sides of the container bottom in order to increase the effective cross-sectional area of the exhaust. In this front opening 32,
For example, a large number of ventilation holes 34a are formed in a stainless steel plate or the like.
The baffle plate 34 having a constant aperture ratio is formed by forming the above, and it is possible to prevent the winding of particles from moving upward even if a turbulent flow is generated at the time of vacuum evacuation thereunder. It is configured. The aperture ratio of the baffle plate 34 is determined by the capacity of the vacuum container and the exhaust speed so that turbulent flow does not occur during evacuation.
For example, it is preferably set to 50% or less.

【0009】また、この排気口30の他端部の縮径され
た後段開口部36には、通常の排気管38が接続されて
おり、図示しない真空ポンプにより、上記真空容器16
内を真空引きし得るように構成されている。そして、上
記バッフル板34の下方、すなわち排気方向側の排気口
30内には、前記搬送機26の駆動源、例えばモータ4
0が、上記区画壁30aの内側に複数のモータ支持脚4
2を介して取付け固定されている。そして、このモータ
40の駆動軸40aは、上記バッフル板34の中心部を
上方へ貫通しており、これに上記アーム28を取付けて
いる。このモータ40に電力を供給するモータ線44
は、上記区画壁30aにシール部材46を介して貫通さ
せて設けた水冷パイプ48と図3に示すように被覆50
により一体的に被われており、上記モータ線44を伝わ
るモータの伝導熱を効率的に系外へ排除し得るように構
成されている。
An ordinary exhaust pipe 38 is connected to the reduced-diameter rear opening 36 at the other end of the exhaust port 30, and a vacuum pump (not shown) is used to connect the vacuum container 16 to the vacuum container 16.
It is configured so that the inside can be evacuated. Then, below the baffle plate 34, that is, inside the exhaust port 30 on the exhaust side, a drive source of the carrier 26, for example, the motor 4 is provided.
0 is a plurality of motor support legs 4 inside the partition wall 30a.
It is attached and fixed via 2. The drive shaft 40a of the motor 40 passes through the center of the baffle plate 34 upward, and the arm 28 is attached to the drive shaft 40a. A motor wire 44 for supplying electric power to this motor 40
Is a water-cooling pipe 48 provided through the partition wall 30a through a seal member 46 and a coating 50 as shown in FIG.
Are integrally covered with the motor wire 44, and are configured so that the conduction heat of the motor transmitted through the motor wire 44 can be efficiently removed to the outside of the system.

【0010】次に、以上のように構成された本実施例の
動作について説明する。まず、このロードロック室16
内に半導体ウエハ24を収容する場合には、この側部に
設けたゲートバルブ18を開き、搬送機26のアーム2
8を使用して大気圧のクリーンルーム側から半導体ウエ
ハ24を内部に取り込み、このゲートバルブ18を閉じ
て室内を密閉状態にする。
Next, the operation of this embodiment configured as described above will be described. First, this load lock chamber 16
When the semiconductor wafer 24 is to be housed inside, the gate valve 18 provided on this side is opened, and the arm 2 of the carrier 26 is opened.
8 is used to take in the semiconductor wafer 24 from the clean room side at atmospheric pressure, and the gate valve 18 is closed to hermetically seal the room.

【0011】次いで、図示しない真空ポンプを駆動する
ことによりロードロック室16内を所定の圧力まで真空
引きする。この際、室内の気体は、排気口30の前段開
口部32に設けたバッフル板34の通気孔34aを通過
して排気口30に流れ込み、この中を後段開口部36に
向けて流下して行く。ここでこの排気口30は、前段開
口部32の開口面積を大きくして容器に対する有効断面
積を大きく設定してあるので、排気速度が同じ場合には
排気気体の流速を相対的に低下させることができ、この
流速を乱流が発生するレイノルズ数以下にすることがで
きる。しかも、排気口30は、その排気方向に沿ってロ
ート状に形成されているので、取付け箇所における角部
がなくなり、排気気体は上記ロート形状に沿って円滑に
層流状態となって流れ、乱流の発生が一層抑制される。
従って、乱流に起因するパーティクルの巻き上げが発生
することを阻止することができる。このことは、排気速
度を上げても乱流が発生しないことを意味し、従って、
真空引きに要する時間を短くすることが可能となる。
Then, by driving a vacuum pump (not shown), the load lock chamber 16 is evacuated to a predetermined pressure. At this time, the gas in the room passes through the vent holes 34a of the baffle plate 34 provided in the front opening 32 of the exhaust port 30 and flows into the exhaust port 30, and flows down into the rear opening 36. . Here, since the exhaust port 30 has a large opening area of the pre-stage opening 32 and a large effective cross-sectional area with respect to the container, when the exhaust speed is the same, the flow velocity of the exhaust gas should be relatively reduced. And the flow velocity can be made equal to or lower than the Reynolds number at which turbulence occurs. Moreover, since the exhaust port 30 is formed in a funnel shape along the exhaust direction, there is no corner at the attachment point, and the exhaust gas smoothly flows in a laminar flow state along the funnel shape, causing turbulence. The generation of flow is further suppressed.
Therefore, it is possible to prevent the particles from being rolled up due to the turbulent flow. This means that turbulence does not occur even if the exhaust speed is increased, and therefore
It is possible to shorten the time required for evacuation.

【0012】また、排気流速が速くなって乱流が生じて
パーティクルの巻き上げが発生した場合には、この乱流
は排気口30の前段開口部32に設けたバッフル板34
の作用により、バッフル板34を通過してその上方へ行
くことが阻止され、結果的に巻き上げられたパーティク
ルが半導体ウエハ24に付着することはない。また、比
較的パーティクルを発生しやすい駆動源、すなわちモー
タ40は、上記バッフル板34の下方に設けてあるの
で、これより発生したパーティクルが、前記したバッフ
ル板34の作用により半導体ウエハ24側に流入するこ
とが防止され、また、発生したパーティクルはこの近傍
を流れる層流に乗ってそのまま排気管38へと排気され
ていくことになる。
When the exhaust flow velocity is increased and turbulent flow is generated to cause particles to be wound up, the turbulent flow is provided by the baffle plate 34 provided at the front opening 32 of the exhaust port 30.
By the action of, the baffle plate 34 is prevented from passing through and going above the baffle plate 34, and as a result, the particles wound up do not adhere to the semiconductor wafer 24. Further, since the drive source that relatively easily generates particles, that is, the motor 40 is provided below the baffle plate 34, the particles generated from this flow into the semiconductor wafer 24 side by the action of the baffle plate 34 described above. In addition, the generated particles ride on the laminar flow in the vicinity thereof and are exhausted as they are to the exhaust pipe 38.

【0013】そして、搬送機26のモータ40にて発生
したジュール熱は、真空雰囲気中なので対流による熱放
散は期待できないが、熱源であるモータコイルに直接接
続されて比較的熱伝導性の良好なモータ線44を水冷パ
イプ48と一体的に結合したので、モータ40は効果的
に冷却されることになり、従って、モータに熱がこもっ
てこれが破損したりすることを未然に防止することがで
きる。特に、本実施例を真空ベーキング装置へ適用した
場合には、モータは熱的に苛酷な条件に曝されるので、
モータの焼損、破損を確実の防止することができる。こ
のようにして、ロードロック室16内の真空引きが完了
したならば、ゲートバルブ22を開いて半導体ウエハ2
4を真空処理容器20内へ搬入することになる。尚、上
記実施例にあっては、ロードロック室16の矩形状の底
部に断面円形の排気口30を設けたが、これに限定され
ず、排気口の入口側を矩形状にして底部全体から真空排
気するように構成してもよい。この場合には、パーティ
クル等のゴミの溜まる場所が完全になくなるので、パー
ティクルの発生を一層抑制することが可能となる。
The Joule heat generated by the motor 40 of the carrier 26 is in a vacuum atmosphere, and therefore heat dissipation due to convection cannot be expected, but it is directly connected to the motor coil serving as a heat source and has relatively good thermal conductivity. Since the motor wire 44 is integrally connected with the water cooling pipe 48, the motor 40 is effectively cooled, and therefore, it is possible to prevent heat from being accumulated in the motor and damaging it. . In particular, when the present embodiment is applied to a vacuum baking apparatus, the motor is exposed to severe thermal conditions,
It is possible to reliably prevent burnout and damage of the motor. When the evacuation of the load lock chamber 16 is completed in this way, the gate valve 22 is opened to open the semiconductor wafer 2
4 will be carried into the vacuum processing container 20. Although the exhaust port 30 having a circular cross section is provided in the rectangular bottom of the load lock chamber 16 in the above-described embodiment, the present invention is not limited to this. It may be configured to evacuate. In this case, the place where dust such as particles accumulates is completely eliminated, so that the generation of particles can be further suppressed.

【0014】また、上記実施例をロードロック室でな
く、他の真空容器、例えば反応容器へも適用することが
可能である。この場合には、バッフル板により排気のコ
ンダクタンスが大きくなるので、大気からの真空引き
は、本実施例の構造による排気口を用い、反応ガスを引
く真空排気口を別に設けるようにしてもよい。更に、本
実施例にあっては、ロードロック室に適用した場合につ
いて説明しので、搬送機26が設けられているが、これ
を設けなくても、或いは、この搬送機26とバッフル板
34を設けなくても、単に排気口30をロート状に形成
してもよい。
The above embodiment can be applied not only to the load lock chamber but also to another vacuum container, for example, a reaction container. In this case, the baffle plate increases the conductance of the exhaust gas. Therefore, for evacuation from the atmosphere, the evacuation port having the structure of this embodiment may be used, and the evacuation port for drawing the reaction gas may be separately provided. Further, in the present embodiment, the case where the carrier 26 is provided because the case where it is applied to the load lock chamber is described. However, the carrier 26 may be omitted, or the carrier 26 and the baffle plate 34 may be omitted. Even if it is not provided, the exhaust port 30 may simply be formed in a funnel shape.

【0015】[0015]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば次
のような優れた作用効果を発揮することができる。真空
容器からの排気気体を層流状態に維持できるので、乱流
に起因するパーティクルの巻き上がりを防止することが
できる。また、排気速度を向上させることができるの
で、真空引き操作時間の短縮化を図るこたができ、結果
的にスループットを向上させることができる。
As described above, according to the present invention, the following excellent operational effects can be exhibited. Since the exhaust gas from the vacuum container can be maintained in a laminar flow state, it is possible to prevent particles from rolling up due to turbulent flow. Further, since the evacuation rate can be improved, the vacuuming operation time can be shortened, and as a result, the throughput can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る真空容器の排気口構造を示す断面
図である。
FIG. 1 is a sectional view showing an exhaust port structure of a vacuum container according to the present invention.

【図2】図1に示す排気口構造を示す斜視図である。FIG. 2 is a perspective view showing an exhaust port structure shown in FIG.

【図3】排気口に設けた搬送機のモータ線の冷却構造を
示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a cooling structure of a motor wire of a carrier provided at an exhaust port.

【図4】従来の真空容器の排気口構造を示す構成図であ
る。
FIG. 4 is a configuration diagram showing an exhaust structure of a conventional vacuum container.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

16 ロードロック室(真空容器) 20 真空処理容器 24 半導体ウエハ(搬送体) 26 搬送機 30 排気口 32 前段開口部 34 バッフル板 34a 通気孔 36 後段開口部 40 モータ(駆動源) 44 モータ線 48 水冷パイプ 16 load lock chamber (vacuum container) 20 Vacuum processing container 24 Semiconductor wafer (carrier) 26 carrier 30 exhaust port 32 Front opening 34 baffle board 34a vent 36 Rear opening 40 motor (drive source) 44 motor wire 48 water cooling pipe

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空容器内の気体を排出する排気口の構
造において、前記排気口の口径を排気方向に沿って順次
縮径させてロート状に形成するように構成したことを特
徴とする真空容器の排気口構造。
1. A structure of an exhaust port for exhausting gas in a vacuum container, wherein the diameter of the exhaust port is gradually reduced along the exhaust direction to form a funnel shape. Vent structure of container.
【請求項2】 前記排気口に、前記排気口側から前記真
空容器内側へのパーティクルの巻き上げを防止するため
のバッフル板を設けるように構成したことを特徴とする
請求項1記載の排気口構造。
2. The exhaust port structure according to claim 1, wherein the exhaust port is provided with a baffle plate for preventing particles from being wound up from the exhaust port side to the inside of the vacuum container. .
【請求項3】 前記バッフル板より排気方向側の前記排
気口内に、前記真空容器内に搬送体を搬出入させる搬送
機の駆動源を収容するように構成したことを特徴とする
請求項2記載の排気口構造。
3. The drive source of a carrier for loading and unloading a carrier into and from the vacuum container is housed in the exhaust port on the exhaust side of the baffle plate. Exhaust structure.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6991701B2 (en) 1994-04-20 2006-01-31 Tokyo Electron Limited Plasma treatment method and apparatus
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