JPH05288525A - Three-dimensional shape measuring device - Google Patents

Three-dimensional shape measuring device

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Publication number
JPH05288525A
JPH05288525A JP8580892A JP8580892A JPH05288525A JP H05288525 A JPH05288525 A JP H05288525A JP 8580892 A JP8580892 A JP 8580892A JP 8580892 A JP8580892 A JP 8580892A JP H05288525 A JPH05288525 A JP H05288525A
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JP
Japan
Prior art keywords
mirror
laser beam
lens
optical system
rotating mirror
Prior art date
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Pending
Application number
JP8580892A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Satoru Takahashi
悟 高橋
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Hitachi Ltd
Akita Electronics Systems Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Akita Electronics Co Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Akita Electronics Co Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH05288525A publication Critical patent/JPH05288525A/en
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Abstract

PURPOSE:To precisely measure the three-dimensional shape of a measured object on a real-time basis. CONSTITUTION:A three-dimensional shape measuring device is provided with a semiconductor laser 1 generating a laser beam, a polygon mirror 3 performing the one-dimensional scanning on the laser beam from the semiconductor laser 1, relay lenses 6, 7 focusing the outgoing light of the polygon mirror 3 at the preset positions, a rotary plane mirror 8 arranged at the focal points of the relay lenses 6, 7 to perform the two-dimensional scanning, relay lenses 11, 12 and a light projecting lens 13 radiating the outgoing light of the mirror 8 to the surface of an object 15, a condensing lens 18 guiding the reflected light from the surface of the object 15 to the mirror face of the rotary plane mirror 8, field lenses 19, 20, and a position detecting element 21 arranged at the focal position of the field lens 20 on the reflection optical path of the rotary plane mirror 8.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は物体の形状を三次元的に
測定する技術、特に、非接触で立体物の形状を三次元的
に測定するために用いて効果のある技術に関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for three-dimensionally measuring the shape of an object, and more particularly to a technique effective for non-contactly measuring the three-dimensional shape of a three-dimensional object. ..

【0002】[0002]

【従来の技術】物体の形状を非接触で三次元的に測定す
る方法の1つにステレオ法がある。この方法は、両目に
相当する2枚の画像から対応点を例えば相関演算によっ
て求め、その座標の開き(視差)から物体までの距離を
計算し、当初明るさ情報として表現された情景を距離情
報に変換し、遠近の度合いを画素値とした距離画像を
得、これを物体の分離、構造化のための有力な情報とし
て利用することで三次元情報を得るものである。
2. Description of the Related Art A stereo method is one of the methods for three-dimensionally measuring the shape of an object without contact. In this method, corresponding points are obtained from two images corresponding to both eyes by, for example, a correlation operation, the distance from the coordinates (parallax) to the object is calculated, and the scene initially expressed as brightness information is distance information. 3D information is obtained by converting the image into a distance image with pixel values representing the degree of perspective and using this as powerful information for separating and structuring the object.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】本発明者の検討によれ
ば、ステレオ法による物体の三次元的な形状測定技術
は、測定に時間がかかる、測定精度が悪い、測定
点が明確でないなどの問題がある。
According to the study by the present inventor, the three-dimensional shape measuring technique of an object by the stereo method takes a long time for measurement, the measurement accuracy is poor, and the measurement point is not clear. There's a problem.

【0004】そこで、本発明の目的は、三次元形状の測
定を高精度かつリアルタイムに行うことのできる技術を
提供することにある。
Therefore, an object of the present invention is to provide a technique capable of measuring a three-dimensional shape with high accuracy and in real time.

【0005】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかにな
るであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will be apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
以下の通りである。
Among the inventions disclosed in the present application, a brief description will be given to the outline of typical ones.
It is as follows.

【0007】すなわち、レーザビームを発生するレーザ
光源と、該レーザ光源からのレーザビームに対し一次元
の走査を行う第1の回転鏡と、該回転鏡の出射光を所定
位置に合焦させる第1の光学系と、該第1の光学系の焦
点位置に配設されて二次元の走査を行う第2の回転鏡
と、該回転鏡の出射光を被測定物体の表面に照射する第
2の光学系と、前記被測定物体の表面からの反射光を前
記第2の回転鏡の鏡面に導く第3の光学系と、該第3の
光学系の焦点位置でかつ前記第2の回転鏡の反射光路上
に配設される位置検出素子とを設けるようにしている。
That is, a laser light source for generating a laser beam, a first rotary mirror for performing one-dimensional scanning with respect to the laser beam from the laser light source, and a first rotary mirror for focusing light emitted from the rotary mirror at a predetermined position. No. 1 optical system, a second rotating mirror arranged at the focal point of the first optical system for two-dimensional scanning, and a second rotating mirror for irradiating the surface of the object to be measured with light emitted from the rotating mirror. Optical system, a third optical system that guides the reflected light from the surface of the object to be measured to the mirror surface of the second rotating mirror, and the focus position of the third optical system and the second rotating mirror. And a position detecting element disposed on the reflected optical path of the.

【0008】[0008]

【作用】上記した手段によれば、レーザ光源からのビー
ムは第1の回転鏡で反射される際に横方向の走査が行わ
れ、ついで第2の回転鏡で縦方向の走査が行われ、光学
系を介して被測定物体の表面に照射され、物体面からの
反射光は位置検出素子に焦点を定めた第3の光学系を介
して第2の回転鏡の鏡面に入射され、その反射光が位置
検出素子に入射される。したがって、三次元形状の測定
を高精度にしかもリアルタイムに行うことが可能にな
る。
According to the above-mentioned means, the beam from the laser light source is scanned in the horizontal direction when reflected by the first rotating mirror, and then is scanned in the vertical direction by the second rotating mirror. The surface of the object to be measured is irradiated through the optical system, and the reflected light from the object surface is incident on the mirror surface of the second rotating mirror through the third optical system that focuses on the position detection element, and the reflection thereof is performed. Light is incident on the position detection element. Therefore, it becomes possible to measure the three-dimensional shape with high accuracy and in real time.

【0009】[0009]

【実施例】図1は本発明による三次元形状測定装置の一
実施例を示す斜視図である。また、図2は図1に示した
実施例の正面図であり、図3は側面図である。
1 is a perspective view showing an embodiment of a three-dimensional shape measuring apparatus according to the present invention. 2 is a front view of the embodiment shown in FIG. 1, and FIG. 3 is a side view.

【0010】半導体レーザ1の出射光路上にはコリメー
トレンズ2が配設され、このコリメートレンズ2の出射
光路上には横方向走査用のポリゴンミラー3が配設され
ている。ポリゴンミラー3はモータ4を駆動源として回
転する。この回転速度を検出するために、モータ4には
ロータリーエンコーダ5が取り付けられており、その検
出信号は不図示の制御部へ送出される。
A collimator lens 2 is arranged on the emission optical path of the semiconductor laser 1, and a polygon mirror 3 for lateral scanning is arranged on the emission optical path of the collimator lens 2. The polygon mirror 3 rotates using a motor 4 as a drive source. In order to detect this rotation speed, a rotary encoder 5 is attached to the motor 4, and its detection signal is sent to a control unit (not shown).

【0011】ポリゴンミラー3の反射光路上には、第1
の光学系としてのリレーレンズ6(L1 )及びリレーレ
ンズ7(L2 )が順次配設され(リレーレンズ7は、リ
レーレンズ6と同一形状でありリレーレンズ6の2倍の
焦点距離位置に配設する)、このリレーレンズ7の出射
光路上には縦方向走査用の回転平面ミラー8が配設され
ている。この回転平面ミラー8の出射光とポリゴンミラ
ー3の入射光とは直交するように光学系が形成されてい
る。そして回転平面ミラー8の回転軸には、駆動源とな
るモータ9が連結され、このモータ9にはロータリーエ
ンコーダ10が取り付けられており、その検出信号は不
図示の制御部へ送出される。
On the reflection optical path of the polygon mirror 3, the first
The relay lens 6 (L 1 ) and the relay lens 7 (L 2 ) as an optical system are sequentially arranged (the relay lens 7 has the same shape as the relay lens 6 and is located at a focal length position twice that of the relay lens 6). A rotary plane mirror 8 for vertical scanning is arranged on the output optical path of the relay lens 7. An optical system is formed so that the light emitted from the rotary plane mirror 8 and the light incident on the polygon mirror 3 are orthogonal to each other. A motor 9 serving as a drive source is connected to the rotary shaft of the rotary flat mirror 8, and a rotary encoder 10 is attached to the motor 9, and a detection signal thereof is sent to a control unit (not shown).

【0012】回転平面ミラー8の反射光路上には、リレ
ーレンズ11(L3 ),12(L4:リレーレンズ12
はリレーレンズ11と同一仕様のもので、リレーレンズ
11の2倍の焦点位置に置かれる)が順次配設され、リ
レーレンズ12の出射光路上にはレーザビームを投光す
る投光レンズ13(L5 )がリレーレンズ12の焦点位
置上に配設されている(以上のリレーレンズ11,12
及び投光レンズ13により第2の光学系が形成され
る)。投光レンズ13により投光されるレーザビーム1
4は、凹凸表面形状を有する物体15に照射され、レー
ザビームスポット16になる。このレーザビームスポッ
ト16は反射光17となり、集光レンズ18(L6 )に
よって集光される。集光レンズ18の焦点位置にはフィ
ールドレンズ19(L7 :リレーレンズ11,12と同
一のもの)が配設され、さらにフィールドレンズ19の
出射光路上にはフィールドレンズ20(L8 )が配設さ
れ(以上の集光レンズ18、フィールドレンズ19,2
0により第3の光学系が形成される)、この出射光路上
に回転平面ミラー8がくるように位置決めされている。
Relay lenses 11 (L 3 ) and 12 (L 4 : relay lens 12 are provided on the reflection optical path of the rotating plane mirror 8.
Has the same specifications as the relay lens 11 and is placed at a focal position twice as large as that of the relay lens 11), and the projection lens 13 (projects a laser beam on the exit optical path of the relay lens 12). L 5 ) is disposed on the focal position of the relay lens 12 (the above relay lenses 11 and 12).
And the light projecting lens 13 forms a second optical system). Laser beam 1 projected by the projection lens 13
4 is irradiated onto an object 15 having an uneven surface shape and becomes a laser beam spot 16. The laser beam spot 16 becomes reflected light 17, which is condensed by the condenser lens 18 (L 6 ). A field lens 19 (L 7 : the same as the relay lenses 11 and 12) is arranged at the focal position of the condenser lens 18, and a field lens 20 (L 8 ) is arranged on the outgoing optical path of the field lens 19. Installed (above condenser lens 18, field lens 19, 2
The third optical system is formed by 0), and the rotary plane mirror 8 is positioned so as to be on this outgoing optical path.

【0013】また、フィールドレンズ20の焦点位置に
は、位置検出素子(SPD)21が配設されている。
A position detecting element (SPD) 21 is arranged at the focal position of the field lens 20.

【0014】次に、以上の構成による実施例の動作につ
いて説明する。
Next, the operation of the embodiment having the above configuration will be described.

【0015】半導体レーザ1によって生成されたレーザ
ビームは、図3に示すように、ポリゴンミラー3の一面
のA点に入射し、図示の実線方向へ反射する。このポリ
ゴンミラー3によって横方向の走査が行われることで、
リレーレンズ7の焦点を中心にして一次元的な走査が行
われる。ここで、コリメートレンズ2の焦点位置がポリ
ゴンミラー3上の反射点Aになるようにリレーレンズ6
が配置されているので、レーザビームはリレーレンズ6
を通過後、リレーレンズ6の中心軸と平行に進行する。
As shown in FIG. 3, the laser beam generated by the semiconductor laser 1 is incident on a point A on one surface of the polygon mirror 3 and reflected in the direction of the solid line shown in the figure. By scanning in the horizontal direction by this polygon mirror 3,
One-dimensional scanning is performed centering on the focus of the relay lens 7. Here, the relay lens 6 is arranged so that the focal position of the collimator lens 2 becomes the reflection point A on the polygon mirror 3.
Is placed, the laser beam is relay lens 6
After passing through, it travels parallel to the central axis of the relay lens 6.

【0016】また、ポリゴンミラー3が実線位置から点
線位置へと回転すると、レーザビームは反射点Aからリ
レーレンズ6の図示右側の端縁を経由して軸心と平行に
進行し、リレーレンズ7の焦点位置Dに到達する。この
焦点位置Dが回転軸上に有り、かつ、その回転軸がポリ
ゴンミラー3の回転軸と直角になるように回転平面ミラ
ー8が配置されているので、レーザビームは焦点位置D
を中心にして二次元的に走査される。更に、図2に示す
ように、リレーレンズ11が点Dを焦点位置となるよう
に配置され、またリレーレンズ12がリレーレンズ11
と共焦点位置になるように配置され、さらに投光レンズ
13の中心がリレーレンズ12の焦点位置になるように
配置されているので、レーザビームは投光レンズ13の
中心から物体15をめざして二次元的に走査される。
When the polygon mirror 3 is rotated from the solid line position to the dotted line position, the laser beam travels from the reflection point A through the right edge of the relay lens 6 shown in the figure in parallel with the axis, and the relay lens 7 To the focal position D. Since the focus position D is on the rotation axis and the rotary plane mirror 8 is arranged so that the rotation axis is perpendicular to the rotation axis of the polygon mirror 3, the laser beam is focused on the focus position D.
It is scanned two-dimensionally around the center. Further, as shown in FIG. 2, the relay lens 11 is arranged so that the point D becomes the focal position, and the relay lens 12 is
Are arranged so as to be at the confocal position, and the center of the light projecting lens 13 is located at the focus position of the relay lens 12, so that the laser beam is aimed at the object 15 from the center of the light projecting lens 13. It is scanned two-dimensionally.

【0017】物体15上に照射されたレーザビームスポ
ット16は、集光レンズ18によって集光され、フィー
ルドレンズ19の主要面D7 上に結像される。その像
は、フィールドレンズ19とフィールドレンズ20を介
して回転平面ミラー8に入射され、再び回転平面ミラー
8によって反射され、さらに、位置検出素子21上に結
像される。
The laser beam spot 16 irradiated on the object 15 is condensed by the condenser lens 18 and imaged on the main surface D 7 of the field lens 19. The image is incident on the rotary plane mirror 8 via the field lens 19 and the field lens 20, is reflected again by the rotary plane mirror 8, and is further imaged on the position detecting element 21.

【0018】図2において、走査/投光されるレーザビ
ームは、集光された反射光の光軸に常に一致する。よっ
て、二次元的な幾何学計算によって求められる投光レン
ズ13と物体表面上のP点との距離d、ロータリーエン
コーダ5によって検出されるレーザビームの三次元の方
向のベクトルAによって測定点Pが求められる。
In FIG. 2, the laser beam that is scanned / projected always coincides with the optical axis of the reflected light that is condensed. Therefore, the measurement point P is determined by the distance d between the projection lens 13 and the point P on the object surface obtained by the two-dimensional geometric calculation and the vector A in the three-dimensional direction of the laser beam detected by the rotary encoder 5. Desired.

【0019】すなわち、距離dは次式で求められる。That is, the distance d is obtained by the following equation.

【0020】 d=1/a・{(Δxb/m)+l} ・・・(1) ここで、各定数は図4に示す関係にあり、各々の意味は
以下の通りである。
D = 1 / a · {(Δxb / m) + l} (1) Here, the respective constants have the relationship shown in FIG. 4, and the respective meanings are as follows.

【0021】A:レーザビームの照射口(投光レンズの
中心) B:集光レンズ18の中心 C:位置検出素子21上の像点 P:測定点 γ:レーザビームの二次元単位ベクトル l:レーザビームの照射口と集光レンズ18の中心との
間の距離 m:集光レンズ18の中心と位置検出素子21の受光面
との間の距離 Δx:位置検出素子21上の像点の変位 d:レーザビームの照射口と測定点の間の距離 そして、レーザビームの三次元単位ベクトルをα(A
x,Ay,Az)とすると、測定点Pの位置P′は、 P′=dα ・・・(2) になる。
A: Laser beam irradiation port (center of projection lens) B: Center of condenser lens C: Image point on position detecting element 21 P: Measurement point γ: Two-dimensional unit vector of laser beam l: Distance between laser beam irradiation port and center of condensing lens 18 m: Distance between center of condensing lens 18 and light receiving surface of position detecting element 21 Δx: Displacement of image point on position detecting element 21 d: Distance between laser beam irradiation port and measurement point Then, the three-dimensional unit vector of the laser beam is α (A
x, Ay, Az), the position P ′ of the measurement point P becomes P ′ = dα (2)

【0022】以上のようにして、物体15上の反射点は
常に位置検出素子21上に結像させることができ、その
像の変位は物体15の三次元的な情報になる。
As described above, the reflection point on the object 15 can always be imaged on the position detecting element 21, and the displacement of the image becomes three-dimensional information of the object 15.

【0023】次に、実施結果について説明する。まず、
測定時間Tを求める。ここで、各値は次のように設定し
た。
Next, the implementation results will be described. First,
The measurement time T is calculated. Here, each value was set as follows.

【0024】ポリゴンミラー3の面数:n ポリゴンミラー3の回転数:m1 (rpm) 回転平面ミラー8の回転数:m2 画素数:500×500(テレビジョンと同程度の値) すると、測定時間T=500÷(n×m1 ÷60)とな
り、例えば、n=12、m1 =10000であるとする
と、T=0.25秒になる。
Number of faces of polygon mirror 3: n Number of rotations of polygon mirror 3: m 1 (rpm) Number of rotations of rotating plane mirror 8: m 2 Number of pixels: 500 × 500 (value equivalent to that of television) The measurement time T = 500 ÷ (n × m 1 ÷ 60). For example, if n = 12 and m 1 = 10000, then T = 0.25 seconds.

【0025】次に、分解能について求める。ここで、測
定深度範囲をs(m)とすると、一次元位置検出素子2
1の分解能は40000であるので、 分解能S=s÷40000 で表される。例えば、s=1mとすれば、分解能Sは2
5μmになる。
Next, the resolution will be determined. Here, assuming that the measurement depth range is s (m), the one-dimensional position detecting element 2
Since the resolution of 1 is 40,000, it is represented by the resolution S = s / 40000. For example, if s = 1 m, the resolution S is 2
It becomes 5 μm.

【0026】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることは言うまでもない。
The invention made by the present inventor has been specifically described above based on the embodiments, but the present invention is not limited to the embodiments and can be variously modified without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0027】また、以上の説明では、主として本発明者
によってなされた発明をその利用分野である三次元形状
測定に適用した場合について説明したが、これに限定さ
れるものではなく、例えば、ロボットの視覚となるセン
シング部などに適用することが可能である。そして、そ
の応用分野(利用分野)には、画像処理、外観検査、形
状認識などがある。
In the above description, the case where the invention mainly made by the present inventor is applied to the three-dimensional shape measurement, which is the field of use of the invention, has been described, but the invention is not limited to this. It can be applied to a sensing unit that becomes visual. The application fields (application fields) thereof include image processing, visual inspection, shape recognition, and the like.

【0028】[0028]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.
It is as follows.

【0029】すなわち、レーザビームを発生するレーザ
光源と、該レーザ光源からのレーザビームに対し一次元
の走査を行う第1の回転鏡と、該回転鏡の出射光を所定
位置に合焦させる第1の光学系と、該第1の光学系の焦
点位置に配設されて二次元の走査を行う第2の回転鏡
と、該回転鏡の出射光を被測定物体の表面に照射する第
2の光学系と、前記被測定物体の表面からの反射光を前
記第2の回転鏡の鏡面に導く第3の光学系と、該第3の
光学系の焦点位置でかつ前記第2の回転鏡の反射光路上
に配設される位置検出素子とを設けるようにしたので、
三次元形状の測定を高精度にしかもリアルタイムに行う
ことが可能になる。
That is, a laser light source for generating a laser beam, a first rotating mirror for performing one-dimensional scanning with respect to the laser beam from the laser light source, and a light beam emitted from the rotating mirror for focusing on a predetermined position. No. 1 optical system, a second rotating mirror arranged at the focal point of the first optical system for two-dimensional scanning, and a second rotating mirror for irradiating the surface of the object to be measured with light emitted from the rotating mirror. Optical system, a third optical system that guides the reflected light from the surface of the object to be measured to the mirror surface of the second rotating mirror, and the focus position of the third optical system and the second rotating mirror. Since the position detecting element disposed on the reflection optical path of is provided,
It becomes possible to measure the three-dimensional shape with high accuracy and in real time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による三次元形状測定装置の一実施例を
示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of a three-dimensional shape measuring apparatus according to the present invention.

【図2】図1に示した実施例の正面図である。FIG. 2 is a front view of the embodiment shown in FIG.

【図3】図1に示した実施例の側面図である。FIG. 3 is a side view of the embodiment shown in FIG.

【図4】測定点の位置ベクトルの計算方法を示す説明図
である。
FIG. 4 is an explanatory diagram showing a method of calculating a position vector of a measurement point.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 半導体レーザ 2 コリメートレンズ 3 ポリゴンミラー 4,9 モータ 5,10 ロータリーエンコーダ 6,7,11,12 リレーレンズ 8 回転平面ミラー 13 投光レンズ 14 レーザビーム 15 物体 16 レーザビームスポット 17 反射光 18 集光レンズ 19,20 フィールドレンズ 21 位置検出素子 1 Semiconductor Laser 2 Collimating Lens 3 Polygon Mirror 4,9 Motor 5,10 Rotary Encoder 6,7,11,12 Relay Lens 8 Rotating Flat Mirror 13 Projecting Lens 14 Laser Beam 15 Object 16 Laser Beam Spot 17 Reflected Light 18 Condensed Lens 19, 20 Field lens 21 Position detector

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザビームを発生するレーザ光源と、
該レーザ光源からのレーザビームに対し一次元の走査を
行う第1の回転鏡と、該回転鏡の出射光を所定位置に合
焦させる第1の光学系と、該第1の光学系の焦点位置に
配設されて二次元の走査を行う第2の回転鏡と、該回転
鏡の出射光を被測定物体の表面に照射する第2の光学系
と、前記被測定物体の表面からの反射光を前記第2の回
転鏡の鏡面に導く第3の光学系と、該第3の光学系の焦
点位置でかつ前記第2の回転鏡の反射光路上に配設され
る位置検出素子とを具備することを特徴とする三次元形
状測定装置。
1. A laser light source for generating a laser beam,
A first rotating mirror that performs one-dimensional scanning with respect to a laser beam from the laser light source, a first optical system that focuses light emitted from the rotating mirror to a predetermined position, and a focus of the first optical system. A second rotating mirror arranged at a position for two-dimensional scanning, a second optical system for irradiating the surface of the object to be measured with light emitted from the rotating mirror, and reflection from the surface of the object to be measured. A third optical system that guides light to the mirror surface of the second rotating mirror, and a position detecting element that is disposed at the focal position of the third optical system and on the reflected light path of the second rotating mirror. A three-dimensional shape measuring device characterized by being provided.
【請求項2】 前記第1の回転鏡はポリゴンミラーであ
ると共に、前記第2の回転鏡は回転平面ミラーであるこ
とを特徴とする請求項1記載の三次元形状測定装置。
2. The three-dimensional shape measuring apparatus according to claim 1, wherein the first rotating mirror is a polygon mirror, and the second rotating mirror is a rotating plane mirror.
【請求項3】 前記第1,第2の回転鏡の各々にロータ
リーエンコーダを設け、その検出によるレーザビームの
三次元の方向ベクトルに基づいて測定点の位置ベクトル
を算出することを特徴とする請求項1記載の三次元形状
測定装置。
3. A rotary encoder is provided in each of the first and second rotary mirrors, and the position vector of the measurement point is calculated based on the three-dimensional direction vector of the laser beam detected by the rotary encoder. Item 3. The three-dimensional shape measuring apparatus according to item 1.
JP8580892A 1992-04-08 1992-04-08 Three-dimensional shape measuring device Pending JPH05288525A (en)

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