JPH0528763Y2 - - Google Patents

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JPH0528763Y2
JPH0528763Y2 JP12127086U JP12127086U JPH0528763Y2 JP H0528763 Y2 JPH0528763 Y2 JP H0528763Y2 JP 12127086 U JP12127086 U JP 12127086U JP 12127086 U JP12127086 U JP 12127086U JP H0528763 Y2 JPH0528763 Y2 JP H0528763Y2
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resin
bonding
stamp
squeegee
thickness
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    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
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    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/741Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L24/743Apparatus for manufacturing layer connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
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    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/741Apparatus for manufacturing means for bonding, e.g. connectors
    • H01L2224/743Apparatus for manufacturing layer connectors

Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、樹脂ボンデイング装置におけるボ
ンデイング樹脂面の調整装置に関し、さらに詳し
くは、サイズの異なる複数種類の半導体チツプを
セラミツクなどの基板上に樹脂ダイボンドする樹
脂ボンデイング装置において、ボンデイング樹脂
面の高さを、半導体チツプの種類対応に調整する
ための調整装置の改良に係るものである。
[Detailed description of the invention] [Industrial field of application] This invention relates to a bonding resin surface adjustment device in a resin bonding device. This invention relates to an improvement of an adjustment device for adjusting the height of a bonding resin surface to correspond to the type of semiconductor chip in a resin bonding device for die bonding.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来例によるこの種の樹脂ボンデイング装置の
概要構成を第4図および第5図に示す。
A schematic configuration of a conventional resin bonding apparatus of this type is shown in FIGS. 4 and 5.

すなわち、これらの各図において、符号1は半
導体チツプを搭載する基板、こゝではサイズの異
なる複数種類の半導体チツプを樹脂ダイボンドす
るセラミツクなどからなる基板、2はこの基板1
を保持して、矢印で示す前後、左右の各方向に制
御移動し得るようにしたボンデイングステージで
ある。
That is, in each of these figures, reference numeral 1 indicates a substrate on which a semiconductor chip is mounted, here a substrate made of ceramic or the like to which semiconductor chips of different sizes are die-bonded with resin, and 2 indicates this substrate 1.
This is a bonding stage that can be held and controlled to move in the front/back and left/right directions shown by the arrows.

また、3は銀エポキシなどのボンデイング用の
樹脂、4はこのボンデイング樹脂3を受容するス
タンプ皿、5はこのスタンプ皿4を枢支々持する
と共に、回転機構5aにより所定速度で回転させ
るようにしたスタンプ台であり、6は水平方向に
延長された中間部分を、このスタンプ台5上に揺
動自在に枢支させ、その先端部を前記スタンプ皿
4上に臨ませた調整レバーであり、7はこの調整
レバー6の先端部に取付けられて、スタンプ皿4
内でのボンデイング樹脂3の上面に接触し、常
時、同樹脂面を調整された高さの水平面に掻きな
らすスキージである。
Further, 3 is a resin for bonding such as silver epoxy, 4 is a stamp plate that receives the bonding resin 3, and 5 is a rotary member that supports the stamp plate 4 and rotates it at a predetermined speed by a rotation mechanism 5a. 6 is an adjustment lever whose horizontally extended intermediate portion is pivotally supported on the stamp pad 5 so as to be able to swing freely, and whose tip portion faces the stamp tray 4; 7 is attached to the tip of this adjustment lever 6, and the stamp plate 4
This is a squeegee that contacts the upper surface of the bonding resin 3 in the interior and constantly scrapes the resin surface into a horizontal plane at an adjusted height.

また、8は前記スタンプ台5の延長上で、上下
方向に装着された高さ調整機構であつて、こゝで
は調整摘み8aの手動による操作回動で、上部に
突出される高さ設定ピン8bを、上下に進退作動
させ得るようになつている。そしてこの高さ設定
ピン8bの上端面には、バネ9の弾圧力により前
記調整レバー6の基端部側下面を当接させて、同
調整レバー6の遊びを除くようにしてある。
Reference numeral 8 denotes a height adjustment mechanism installed in the vertical direction on an extension of the stamp pad 5, in which a height setting pin is projected upward by manual rotation of the adjustment knob 8a. 8b can be moved up and down. The lower surface of the proximal end of the adjustment lever 6 is brought into contact with the upper end surface of the height setting pin 8b by the elastic force of the spring 9, thereby eliminating play in the adjustment lever 6.

さらに、10はチツプサイズに対応した先端形
状をなすスタンプピン、11はチツプサイズ毎の
複数個のスタンプピン10,10a,10bを、
放射状に等角間隔で装着させ、回動機構12によ
つて各装着角度対応に回動切換え自在にした回動
部材、13はこの回動部材11を、矢印で示す上
下方向に制御移動し得るようにすると共に、前記
基板1側とスタンプ皿4側との間を、矢印で示す
如く往復制御移動し得るようにしたスタンプヘツ
ドである。
Furthermore, 10 is a stamp pin having a tip shape corresponding to the chip size, 11 is a plurality of stamp pins 10, 10a, 10b for each chip size,
A rotating member 13 is mounted radially at equal angular intervals and can be freely switched to correspond to each mounting angle by a rotating mechanism 12. Reference numeral 13 is capable of controlling and moving the rotating member 11 in the vertical direction indicated by the arrow. The stamp head is capable of reciprocating control movement between the substrate 1 side and the stamp plate 4 side as shown by the arrow.

しかして、この従来例構成の場合には、調整レ
バー6、スキージ7および高さ調整機構8からな
る組み合せを用い、まず、最初に高さ調整機構8
の調整摘み8aを操作し、高さ設定ピン8bの上
部突出高さを調整して、スキージ7の水平方向高
さ位置を所定通りに設定し、また、スタンプヘツ
ド13の回動機構12を作動して、回動部材11
を回動操作させ、その時のチツプサイズ対応にス
タンプピン、こゝではスタンプピン10aを選択
しておく。
Therefore, in the case of this conventional configuration, a combination of the adjustment lever 6, the squeegee 7, and the height adjustment mechanism 8 is used, and the height adjustment mechanism 8 is first
Operate the adjustment knob 8a to adjust the upper protrusion height of the height setting pin 8b to set the horizontal height position of the squeegee 7 as specified, and also operate the rotation mechanism 12 of the stamp head 13. Then, the rotating member 11
is rotated to select a stamp pin, in this case stamp pin 10a, corresponding to the chip size at that time.

すなわち、これらの操作によつて、前者では、
回転されているスタンプ皿4内でのボンデイング
樹脂3の表面が、スキージ7によつて掻きならさ
れることで、常時、その全面が設定された高さ位
置対応に保たれる、つまり同皿4内で、スキージ
7の接するボンデイング樹脂の全面が、一定の厚
さを維持した状態で供給できるようにされ、また
後者では、選択されたスタンプピン10aが下方
に位置される。
That is, by these operations, in the former case,
By smoothing the surface of the bonding resin 3 in the rotating stamp pan 4 with the squeegee 7, the entire surface is always maintained at a set height position, that is, the same pan 4 In the latter case, the entire surface of the bonding resin in contact with the squeegee 7 can be supplied while maintaining a constant thickness, and in the latter case, the selected stamp pin 10a is positioned below.

そしてこの状態で、まず、スタンプヘツド13
を制御移動させて、スタンプ皿4上に移動させる
と共に上下作動させ、このときのチツプサイズ対
応に選択されているスタンプピン10aの下端
を、スタンプ皿4内での、予め一定の厚さに設定
されたボンデイング樹脂3面に接触させて、同樹
脂3の所要量だけをそのピン先端部に付着させて
取り出す。
In this state, first, press the stamp head 13.
The lower end of the stamp pin 10a, which is selected according to the chip size at this time, is moved to the top of the stamp pan 4 and moved up and down, and the lower end of the stamp pin 10a, which is selected according to the chip size at this time, is moved to the stamp pan 4 with a preset thickness. The pin is brought into contact with the surface of the bonding resin 3, and only the required amount of the resin 3 is attached to the tip of the pin and then taken out.

ついで、前記スタンプヘツド13は、スタンプ
皿4側からボンデイングステージ2側へ移動さ
れ、同様に上下作動されて、スタンプピン10a
の下端に付着された所要量のボンデイング樹脂3
を、このボンデイングステージ2に搭載されてい
る基板1上の所定位置、すなわちそのときのチツ
プボンデイング位置に転写塗布させる。
Next, the stamp head 13 is moved from the stamp plate 4 side to the bonding stage 2 side, and is similarly moved up and down, so that the stamp pin 10a
Required amount of bonding resin 3 attached to the lower end of
is transferred and applied to a predetermined position on the substrate 1 mounted on the bonding stage 2, that is, the chip bonding position at that time.

また続いて、前記スタンプヘツド13は、前回
選択されていたスタンプピン10aを、次の搭載
チツプサイズに対応した、例えばスタンプピン1
0bに切換えると共に、ボンデイングステージ2
についても、次に搭載する位置に移動して待機
し、以上の作動を順次に繰返えして、それぞれに
基板1上への樹脂3の塗布作動を、継続して行な
うのである。
Subsequently, the stamp head 13 replaces the previously selected stamp pin 10a with a stamp pin 10a corresponding to the next mounted chip size, for example, a stamp pin 10a that has been selected previously.
At the same time as switching to 0b, bonding stage 2
, the substrate 1 is moved to the next mounting position and stands by, and the above operations are repeated one after another to continue applying the resin 3 onto each substrate 1.

なお、このように所要量のボンデイング樹脂3
を所定位置に転写塗布した基板1上には、別工程
で半導体チツプがボンデイングされる。
In addition, in this way, the required amount of bonding resin 3
A semiconductor chip is bonded in a separate process onto the substrate 1 which has been transfer-coated to a predetermined position.

〔考案が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention attempts to solve]

しかしながら、前記のように構成さた従来例装
置の場合には、調整レバー6、スキージ7および
高さ調整機構8からなる組み合せを用い、そのス
キージ7によつて、これが接するスタンプ皿4内
のボンデイング樹脂3の表面を、常時、一定の厚
さに保たせてはいても、対象チツプサイズによつ
ては、必然的にスタンプピン10の先端サイズ、
形状が異なるために、その何れかを選択換えした
ときには、ボンデイング樹脂3自体の粘性などを
原因として、同先端部に付着される樹脂量、ひい
ては基板1上に転写塗布される樹脂量に差を生ず
ることになるもので、塗布量が多くなり過ぎる
と、半導体チツプのボンデイング搭載時にチツプ
表面側にまで樹脂が回り込み、また、塗布量が少
ないと、接合強度に不足をきたすなどの不都合を
生ずると云う問題点があつた。
However, in the case of the conventional device configured as described above, a combination of the adjustment lever 6, the squeegee 7, and the height adjustment mechanism 8 is used, and the squeegee 7 controls the bonding in the stamp pan 4 with which it comes into contact. Even if the surface of the resin 3 is always kept at a constant thickness, depending on the target chip size, the tip size of the stamp pin 10,
Because the shapes are different, when one of them is selected, there will be a difference in the amount of resin adhered to the same tip and, ultimately, the amount of resin transferred and coated onto the substrate 1 due to the viscosity of the bonding resin 3 itself. If the amount of resin applied is too large, the resin will wrap around the surface of the chip during bonding and mounting of the semiconductor chip, and if the amount of applied resin is too small, problems such as insufficient bonding strength may occur. There was a problem.

この考案は従来のこのような問題点を解消する
ためになされたものであつて、その目的とすると
ころは、チツプサイズ対応に選択されるスタンプ
ピンの先端サイズ、形状が異なつたときにも、常
時、一定量および厚さの樹脂を基板上に塗布し得
るようにした、この種の樹脂ボンデイング装置に
おけるボンデイング樹脂面の調整装置を提供する
ことである。
This invention was devised to solve these conventional problems, and its purpose is to always provide the same control even when the tip size and shape of the stamp pin selected to correspond to the chip size differs. An object of the present invention is to provide a bonding resin surface adjustment device in this type of resin bonding apparatus, which enables a fixed amount and thickness of resin to be applied onto a substrate.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

前記目的を達成するために、この考案に係る樹
脂ボンデイング装置におけるボンデイング樹脂面
の調整装置は、スタンプ皿での内底面、スキージ
での下端面の少なくとも何れか一方に、相互に高
低差のある複数の段差面を形成させて、これらの
各段差面対応に、スタンプ皿内でのボンデイング
樹脂の厚さを各別に設定し得るようにさせると共
に、選択切り換えされるスタンプピン対応に、各
別の厚さの樹脂部分から、それぞれ所要量のボン
デイング樹脂を各別に取り出し得るようにしたも
のである。
In order to achieve the above object, the bonding resin surface adjusting device in the resin bonding apparatus according to the present invention has a plurality of grooves having a height difference on at least one of the inner bottom surface of the stamp plate and the lower end surface of the squeegee. The thickness of the bonding resin in the stamp plate can be set separately for each of these stepped surfaces, and the thickness of the bonding resin can be set separately for each of the stamp pins to be selected. The required amount of bonding resin can be taken out separately from each resin part.

〔作用〕[Effect]

すなわち、この考案においては、スタンプ皿で
の内底面、スキージでの下端面の少なくとも何れ
か一方に、相互に高低差のある複数の段差面を形
成させてあるために、予めこれらの各段差面に対
応して、スタンプ皿内でのボンデイング樹脂の厚
さを各別に設定させることができ、選択切り換え
されるスタンプピン対応に、各別の厚さの樹脂部
分から、それぞれ所要量のボンデイング樹脂を取
り出し得るのである。
That is, in this invention, since a plurality of stepped surfaces having height differences are formed on at least one of the inner bottom surface of the stamp pan and the lower end surface of the squeegee, each of these stepped surfaces is formed in advance. The thickness of the bonding resin in the stamp pan can be set separately according to the selection of the stamp pin, and the required amount of bonding resin can be drawn from resin parts of different thicknesses depending on the stamp pin that is selected. It can be taken out.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この考案に係る樹脂ボンデイング装置に
おけるボンデイング樹脂面の調整装置の実施例に
つき、第1図ないし第3図を参照して詳細に説明
する。
Hereinafter, embodiments of the bonding resin surface adjusting device in the resin bonding apparatus according to this invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 3.

第1図はこの考案の一実施例装置の概要構成を
示す斜視図、第2図は同上スタンプ皿部の断面説
明図、第3図は同上他の実施例装置でのスタンプ
皿部の断面説明図であり、これらの第1図ないし
第3図各実施例装置において、前記第4図および
第5図従来例装置と同一符号は同一または相当部
分を表わしている。
Fig. 1 is a perspective view showing the general configuration of an embodiment of the device of this invention, Fig. 2 is a cross-sectional explanatory view of the stamp plate portion of the same as above, and Fig. 3 is a cross-sectional view of the stamp plate portion of another embodiment of the device. 1 to 3, the same reference numerals as in the conventional apparatus shown in FIGS. 4 and 5 represent the same or corresponding parts.

まず、第1図および第2図に示す一実施例装置
では、前記した従来例装置での回転機構5aによ
つて回転されるスタンプ皿4に代えて、これに対
応されるスタンプ皿14を設け、このスタンプ皿
14の内底面上のそれぞれ同心円範囲内、こゝで
は特に前記スキージ7の平坦な下端面によるボン
デイング樹脂3への当接範囲内にあつて、中心部
側から相互に高低差のある複数の各段差面14
a,14bを形成させ、これらの各段差面14
a,14bの存在によつて、スタンプ皿14内で
のボンデイング樹脂3が、それぞれ該当する各樹
脂面3a,3bで、前記スタンプピン10a,1
0bの先端サイズ、形状に対応した所定の厚さに
調整設定されるようにしたものである。
First, in one embodiment of the apparatus shown in FIGS. 1 and 2, a corresponding stamp plate 14 is provided in place of the stamp plate 4 rotated by the rotation mechanism 5a in the conventional apparatus described above. , within the respective concentric circles on the inner bottom surface of the stamp plate 14, particularly within the range of contact with the bonding resin 3 by the flat lower end surface of the squeegee 7, with a difference in height from the center side. Each of a plurality of stepped surfaces 14
a, 14b are formed, and each of these stepped surfaces 14
a, 14b, the bonding resin 3 in the stamp plate 14 is bonded to the stamp pins 10a, 1 on the corresponding resin surfaces 3a, 3b, respectively.
The thickness is adjusted to a predetermined thickness corresponding to the size and shape of the tip of the 0b.

従つて、この第1図および第2図実施例構成に
おいても、前記した従来例構成と同様の作用がな
されるが、この実施例の場合には、スタンプ皿1
4の内底面上に形成された相互に高低差のある各
段差面14a,14bによつて、ボンデイング樹
脂3の該当する各樹脂面3a,3bが、前記した
各スタンプピン10a,10bの先端サイズ、形
状に対応した厚さに調整設定される、つまりスタ
ンプピン10aに対しては、これに対応した厚さ
の樹脂面3aが得られ、また、別のスタンプピン
10bに対しては、これに対応した厚さの樹脂面
3bが得られる。
Therefore, the configurations of the embodiments shown in FIGS.
4, the corresponding resin surfaces 3a, 3b of the bonding resin 3 can be adjusted to the tip size of each of the stamp pins 10a, 10b by the step surfaces 14a, 14b formed on the inner bottom surface of the bonding resin 3. , the thickness is adjusted to correspond to the shape, that is, for the stamp pin 10a, a resin surface 3a having a thickness corresponding to this is obtained, and for another stamp pin 10b, a resin surface 3a having a thickness corresponding to this is obtained. A resin surface 3b having a corresponding thickness is obtained.

このためにこゝでは、スタンプヘツド13の回
動機構12を作動して、回動部材11を回動操作
させ、その時のチツプサイズ対応にスタンプピ
ン、こゝではスタンプピン10aを選択したとき
には、スタンプヘツド13の作動に際して、この
スタンプピン10aをスタンプ皿4内での対応す
る厚さの樹脂面3a上に移動させたのちに、上下
作動させることによつて、このスタンプピン10
aに適合した所要量のボンデイング樹脂3を、先
端部に付着させて取り出し得るのであり、また、
スタンプピン10bを選択したときには、同様に
樹脂面3bからこのスタンプピン10bに適合し
た所要量のボンデイング樹脂3を取り出し得るも
ので、換言すると、各別のスタンプピン10a,
10bによつて、各別の厚さに調整設定された樹
脂面3a,3bを、所期通りに使い分けることが
でき、、結果的には、これらの各スタンプピン1
0a,10bの先端サイズ、形状に適合した所要
量のボンデイング樹脂3を取り出して、基板1上
の所定位置に転写塗布し得るのである。
For this purpose, the rotating mechanism 12 of the stamp head 13 is operated to rotate the rotating member 11, and when the stamp pin corresponding to the chip size at that time, in this case the stamp pin 10a, is selected, the stamp pin 10a is selected. When the head 13 is operated, the stamp pin 10a is moved onto the resin surface 3a of the corresponding thickness in the stamp plate 4, and then moved up and down.
The required amount of bonding resin 3 that conforms to (a) can be attached to the tip and taken out, and
When the stamp pin 10b is selected, the required amount of bonding resin 3 suitable for the stamp pin 10b can be taken out from the resin surface 3b in the same way.In other words, each stamp pin 10a,
10b, the resin surfaces 3a and 3b adjusted to different thicknesses can be used properly as desired, and as a result, each of these stamp pins 1
A required amount of bonding resin 3 suitable for the size and shape of the tips 0a and 10b can be taken out and transferred and applied to a predetermined position on the substrate 1.

また、第3図に示す他の実施例装置では、前記
した従来例装置での回転機構5aによつて回転さ
れるスタンプ皿4をそのまゝとし、スキージ7に
代えて、これに対応されるスキージ15を用い、
このスキージ15の下端面に、相互に高低差のあ
る複数の段差面15a,15bを形成させたもの
である。
Further, in another embodiment of the apparatus shown in FIG. 3, the stamp plate 4 rotated by the rotation mechanism 5a in the conventional apparatus described above is kept as is, and the squeegee 7 is replaced with a corresponding one. Using squeegee 15,
The lower end surface of this squeegee 15 is formed with a plurality of step surfaces 15a and 15b having height differences.

仍つて、こゝでも前記した第1図および第2図
実施例装置と同様に、これらの各段差面15a,
15bの存在によつて、スタンプ皿14内でのボ
ンデイング樹脂3を、それぞれに該当する各樹脂
面3a,3b、スタンプピン10a,10bの先
端サイズ、形状に対応した所定の厚さに調整設定
できて、同様な作用、効果が得られるのである。
Similarly to the apparatus of the embodiment shown in FIG. 1 and FIG.
15b, the bonding resin 3 in the stamp pan 14 can be adjusted to a predetermined thickness corresponding to the respective resin surfaces 3a, 3b and the tip size and shape of the stamp pins 10a, 10b. Therefore, similar actions and effects can be obtained.

なお、前記実施例構成においては、2つの段差
面を形成させる場合について述べたが、必要に応
じて、より以上多くの段差面を形成させるように
してもよいことは勿論である。
Incidentally, in the configuration of the embodiment described above, a case has been described in which two stepped surfaces are formed, but it goes without saying that more stepped surfaces may be formed as necessary.

〔考案の効果〕[Effect of idea]

以上詳述したようにこの考案によれば、サイズ
の異なる複数種類の半導体チツプを、セラミツク
などの基板上に樹脂ダイボンドするために、ボン
デイング樹脂を受容して回転するスタンプ皿と、
スタンプ皿内の樹脂面を掻きならして樹脂の厚さ
を設定するスキージと、スキージの高さ位置を調
整する高さ調整機構とを有し、チツプサイズ対応
に切り換え選択されるスタンプピンによつて、掻
きならされて厚さの設定されたボンデイング樹脂
の一部を取り出す場合にあつて、スタンプ皿での
内底面、スキージでの下端面の少なくとも何れか
一方に、相互に高低差のある複数の段差面を形成
させたから、予めこれらの各段差面に対応して、
スタンプ皿内でのボンデイング樹脂の厚さを、各
スタンプピンの先端サイズ、形状に適合して調整
設定させることができるのであり、そしてまた、
これらの各別の厚さの樹脂面を、選択切り換えさ
れる各スタンプピン対応に使い分けて、各樹脂面
から、これらの各スタンプピンにより、それぞれ
所要量のボンデイング樹脂を各別に取り出し得る
ようにしたから、効果的には、ボンデイング樹脂
を過不足なく基板上に転写塗布させ得られ、しか
も構成が比較的簡単であつて、容易に実施できる
などの優れた特長を有するものである。
As detailed above, according to this invention, in order to resin die bond a plurality of types of semiconductor chips of different sizes onto a substrate such as ceramic, a stamp plate that receives bonding resin and rotates;
It has a squeegee that scrapes the resin surface in the stamp pan to set the thickness of the resin, and a height adjustment mechanism that adjusts the height position of the squeegee, and is switched to correspond to the chip size depending on the selected stamp pin. When taking out a part of the bonding resin that has been leveled and has a set thickness, a plurality of layers with different heights are placed on at least one of the inner bottom surface of the stamp plate and the lower end surface of the squeegee. Since the stepped surfaces were formed, in advance, corresponding to each of these stepped surfaces,
The thickness of the bonding resin in the stamp pan can be adjusted to suit the size and shape of the tip of each stamp pin, and also,
These resin surfaces with different thicknesses are used to correspond to each stamp pin that is selectively switched, so that the required amount of bonding resin can be separately taken out from each resin surface using each of these stamp pins. Therefore, the bonding resin can be effectively transferred onto the substrate in just the right amount, and has excellent features such as being relatively simple in structure and easy to implement.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの考案に係るボンデイング樹脂面の
調整装置の一実施例を適用した樹脂ボンデイング
装置の概要構成を示す斜視図、第2図は同上スタ
ンプ皿部の断面説明図、第3図は同上他の実施例
装置によるスタンプ皿部の断面説明図であり、ま
た第4図は従来例装置による同上樹脂ボンデイン
グ装置の概要構成を示す斜視図、第5図は同上ス
タンプ皿部の断面説明図である。 1……基板、2……ボンデイングステージ、3
……ボンデイング用の樹脂、3a,3b……樹脂
面(厚さの異なる樹脂面)、4および14……ス
タンプ皿、14a,14b……スタンプ皿段差
面、5……スタンプ台、5a……回転機構、6…
…調整レバー、7および15……スキージ、15
a,15b……スキージ段差面、8……高さ調整
機構、8a……調整摘み、8b……高さ設定ピ
ン、10,10a,10b……スタンプピン、1
1……回動部材、12……回動機構、13……ス
タンプヘツド。
FIG. 1 is a perspective view showing the general structure of a resin bonding apparatus to which an embodiment of the bonding resin surface adjustment device according to the invention is applied, FIG. FIG. 4 is a perspective view illustrating a general configuration of the resin bonding apparatus according to the conventional example, and FIG. be. 1...Substrate, 2...Bonding stage, 3
...Resin for bonding, 3a, 3b...Resin surface (resin surface with different thickness), 4 and 14...Stamp plate, 14a, 14b...Stamp plate stepped surface, 5...Stamp stand, 5a... Rotating mechanism, 6...
...Adjustment lever, 7 and 15...Squeegee, 15
a, 15b... Squeegee step surface, 8... Height adjustment mechanism, 8a... Adjustment knob, 8b... Height setting pin, 10, 10a, 10b... Stamp pin, 1
1... Rotating member, 12... Rotating mechanism, 13... Stamp head.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 (1) サイズの異なる複数種類の半導体チツプを、
セラミツクなどの基板上に樹脂ダイボンドする
ため、少なくとも、ボンデイング樹脂を受容し
て回転するスタンプ皿と、スタンプ皿内の樹脂
面を掻きならして樹脂の厚さを設定するスキー
ジと、スキージの高さ位置を調整する高さ調整
機構とを有し、チツプサイズ対応に切り換え選
択されるスタンプピンにより、厚さの設定され
た樹脂の一部を取り出すようにした樹脂ボンデ
イング装置において、前記スタンプ皿での内底
面、スキージでの下端面の少なくとも何れか一
方に、相互に高低差のある複数の段差面を形成
させ、これらの各段差面対応に、スタンプ皿内
でのボンデイング樹脂の厚さを各別に設定し得
るようにさせると共に、前記選択切り換えされ
るスタンプピン対応に、各別の厚さの樹脂部分
から、それぞれ所要量のボンデイング樹脂を各
別に取り出し得るようにしたことを特徴とする
樹脂ボンデイング装置におけるボンデイング樹
脂面の調整装置。 (2) スタンプ皿の内底面上で、ボンデイング樹脂
面に接するスキージの平坦な下端面に対応した
同心円範囲内に、相互に高低差のある複数の段
差面を形成させ、これらの各段差面によつて、
ボンデイング樹脂の該当部の厚さを、各スタン
プピンに対応して設定し得るようにしたことを
特徴とする実用新案登録請求の範囲第1項に記
載の樹脂ボンデイング装置におけるボンデイン
グ樹脂面の調整装置。 (3) スキージの下端面に、相互に高低差のある複
数の段差面を形成させ、これらの各段差面によ
つて、ボンデイング樹脂の該当部の厚さを、各
スタンプピンに対応して設定し得るようにした
ことを特徴とする実用新案登録請求の範囲第1
項に記載の樹脂ボンデイング装置におけるボン
デイング樹脂面の調整装置。
[Scope of claims for utility model registration] (1) Multiple types of semiconductor chips of different sizes,
In order to perform resin die bonding on a substrate such as ceramic, at least a stamp plate that receives the bonding resin and rotates, a squeegee that scrapes the resin surface in the stamp plate to set the thickness of the resin, and the height of the squeegee. In a resin bonding apparatus, a part of the resin having a set thickness is taken out by a stamp pin that is switched and selected according to the chip size and has a height adjustment mechanism that adjusts the position. A plurality of stepped surfaces with height differences are formed on at least one of the bottom surface and the lower end surface of the squeegee, and the thickness of the bonding resin in the stamp pan is set separately for each of these stepped surfaces. In the resin bonding apparatus, the required amount of bonding resin can be separately taken out from resin parts of different thicknesses corresponding to the stamp pins to be selectively switched. Bonding resin surface adjustment device. (2) On the inner bottom surface of the stamp plate, form a plurality of step surfaces with mutual height differences within a concentric range corresponding to the flat lower end surface of the squeegee in contact with the bonding resin surface, and Then,
A bonding resin surface adjusting device in a resin bonding apparatus according to claim 1 of the utility model registration claim, characterized in that the thickness of a corresponding portion of the bonding resin can be set corresponding to each stamp pin. . (3) Form multiple stepped surfaces with height differences on the lower end surface of the squeegee, and use these stepped surfaces to set the thickness of the corresponding portion of the bonding resin in correspondence with each stamp pin. Claim No. 1 for utility model registration, which is characterized by making it possible to
A device for adjusting a bonding resin surface in the resin bonding device described in 2.
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