JPH05268054A - 集積回路装置 - Google Patents
集積回路装置Info
- Publication number
- JPH05268054A JPH05268054A JP4065736A JP6573692A JPH05268054A JP H05268054 A JPH05268054 A JP H05268054A JP 4065736 A JP4065736 A JP 4065736A JP 6573692 A JP6573692 A JP 6573692A JP H05268054 A JPH05268054 A JP H05268054A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- buffer circuit
- voltage
- power supply
- input buffer
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外部のインターフェイス・レベル振幅の信号
を内部論理振幅の信号に変換・増幅するための入力バッ
ファ回路における反転電圧の電源電圧依存性を低減す
る。 【構成】 入力バッファ回路を含む集積回路装置は、電
圧分割により電源電圧を検出して出力信号Vcchを形
成する検出回路を有する。入力バッファ回路には、電源
電圧との間に、検出回路の出力信号Vcchによってオ
ン・オフが制御されるPMOSトランジスタが接続され
る。このPMOSトランジスタのVcchの信号レベル
による動作により上記入力バッファ回路への供給電流を
制御して反転電圧を制御する。
を内部論理振幅の信号に変換・増幅するための入力バッ
ファ回路における反転電圧の電源電圧依存性を低減す
る。 【構成】 入力バッファ回路を含む集積回路装置は、電
圧分割により電源電圧を検出して出力信号Vcchを形
成する検出回路を有する。入力バッファ回路には、電源
電圧との間に、検出回路の出力信号Vcchによってオ
ン・オフが制御されるPMOSトランジスタが接続され
る。このPMOSトランジスタのVcchの信号レベル
による動作により上記入力バッファ回路への供給電流を
制御して反転電圧を制御する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は集積回路装置に関し、特
に外部のインターフェイス・レベル振幅の信号を内部論
理振幅の信号に変換・増幅する入力バッファ回路に関す
る。
に外部のインターフェイス・レベル振幅の信号を内部論
理振幅の信号に変換・増幅する入力バッファ回路に関す
る。
【0002】
【従来の技術】各種の電子機器は通常種々の機能部分が
組合わされてなり、これら各部はそれぞれの機能に最適
の集積回路を用いて構成される。機器が全体として所期
の機能を果たすために、これら各部の機能を互いに結合
することが必要になるが、このとき結合する集積回路の
入出力信号間に整合が採れていなければならない。従っ
て集積回路の入力部には信号間の整合を採るためにバッ
ファ回路が組み込まれている。
組合わされてなり、これら各部はそれぞれの機能に最適
の集積回路を用いて構成される。機器が全体として所期
の機能を果たすために、これら各部の機能を互いに結合
することが必要になるが、このとき結合する集積回路の
入出力信号間に整合が採れていなければならない。従っ
て集積回路の入力部には信号間の整合を採るためにバッ
ファ回路が組み込まれている。
【0003】従来の一般的な入力バッファ回路及びその
入出力特性を図3(a),(b)に示す。入力バッファ
回路は電源Vccと接地レベル間にPMOSトランジス
タとNMOSトランジスタを接続して構成され、入力さ
れた信号(Vin)は高・低レベルが反転された信号と
なり、出力信号Voutが形成される。このような入力
バッファ回路において、高レベル入力(Vih)及び低
レベル入力(Vil)の特性は、入力バッファ回路の反
転電圧(Vinv)に依存する。例えば、外部のインタ
ーフェイス・レベル振幅がTTLレベルの場合、入力バ
ッファ回路は、低レベル入力(Vil)0.8v、高レ
ベル入力(Vih)2.2vに対して、それぞれ応答す
るようにNMOS,PMOSトランジスタが設定され、
反転電圧(Vinv)が決定される。
入出力特性を図3(a),(b)に示す。入力バッファ
回路は電源Vccと接地レベル間にPMOSトランジス
タとNMOSトランジスタを接続して構成され、入力さ
れた信号(Vin)は高・低レベルが反転された信号と
なり、出力信号Voutが形成される。このような入力
バッファ回路において、高レベル入力(Vih)及び低
レベル入力(Vil)の特性は、入力バッファ回路の反
転電圧(Vinv)に依存する。例えば、外部のインタ
ーフェイス・レベル振幅がTTLレベルの場合、入力バ
ッファ回路は、低レベル入力(Vil)0.8v、高レ
ベル入力(Vih)2.2vに対して、それぞれ応答す
るようにNMOS,PMOSトランジスタが設定され、
反転電圧(Vinv)が決定される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記回路において、電
源電圧Vccが上昇すると入力バッファ回路の反転電圧
(Vinv)も上昇する。さらに実際の集積回路では、
PMOS,NMOSトランジスタ特性である閾値電圧の
量産によるバラツキを考慮すると、高レベル入力信号と
反転電圧との差(Vih−Vinv)が小さくなり、十
分なノイズマージン確保が困難になるという傾向にあ
る。図4に特性のバラツキを含めた入力反転電圧の電源
電圧依存性を示し、この図から電源電圧Vccの上昇に
伴って(Vih−Vinv)が小さくなっていることが
判る。
源電圧Vccが上昇すると入力バッファ回路の反転電圧
(Vinv)も上昇する。さらに実際の集積回路では、
PMOS,NMOSトランジスタ特性である閾値電圧の
量産によるバラツキを考慮すると、高レベル入力信号と
反転電圧との差(Vih−Vinv)が小さくなり、十
分なノイズマージン確保が困難になるという傾向にあ
る。図4に特性のバラツキを含めた入力反転電圧の電源
電圧依存性を示し、この図から電源電圧Vccの上昇に
伴って(Vih−Vinv)が小さくなっていることが
判る。
【0005】本発明は上記従来の集積回路の問題点に鑑
みてなされたもので、入力バッファ回路の反転電圧にお
ける電源電圧依存性を低減することにより、入力バッフ
ァ回路特性の電源電圧マージンの拡大を図ることを目的
とする。
みてなされたもので、入力バッファ回路の反転電圧にお
ける電源電圧依存性を低減することにより、入力バッフ
ァ回路特性の電源電圧マージンの拡大を図ることを目的
とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、外部のインターフェイス・レベル振幅の信
号を内部論理振幅の信号に変換・増幅する入力バッファ
回路を含む集積回路において、電源電圧を検出する検出
手段と、上記検出手段の出力が与えられて上記入力バッ
ファ回路の反転電圧を制御する制御回路とを備えて構成
する。
に本発明は、外部のインターフェイス・レベル振幅の信
号を内部論理振幅の信号に変換・増幅する入力バッファ
回路を含む集積回路において、電源電圧を検出する検出
手段と、上記検出手段の出力が与えられて上記入力バッ
ファ回路の反転電圧を制御する制御回路とを備えて構成
する。
【0007】入力バッファ回路はCMOSトランジスタ
からなり、電源電圧検出回路の出力が与えられたPMO
Sトランジスタからなる制御回路を上記CMOSトラン
ジスタに接続して集積回路を構成する。
からなり、電源電圧検出回路の出力が与えられたPMO
Sトランジスタからなる制御回路を上記CMOSトラン
ジスタに接続して集積回路を構成する。
【0008】
【作用】電源電圧の検出信号が与えられた制御回路の動
作により、入力バッファ回路への電流供給を低減するこ
とでバッファ回路の反転電圧を下げ、入力電圧マージン
を大きくする。
作により、入力バッファ回路への電流供給を低減するこ
とでバッファ回路の反転電圧を下げ、入力電圧マージン
を大きくする。
【0009】
【実施例】以下に一実施例を挙げて本発明を詳細に説明
する。図1(a)は外部のインターフェイス・レベル振
幅の入力信号Vinを集積回路本体の論理振幅が持つべ
き信号Voutに変換・増幅する入力バッファ回路であ
る。入力バッファ回路は、直列に接続されたNMOSト
ランジスタQn1とPMOSトランジスタQp3の両ゲ
ートに共通に入力信号Vinが与えられ、両トランジス
タのドレインから出力信号Voutが取り出される。上
記NMOSトランジスタQn1のソースは接地レベルに
接続され、他方PMOSトランジスタQp3のソースは
ゲートが接地されたPMOSトランジスタQp2を介し
て電源電圧Vccに接続されている。
する。図1(a)は外部のインターフェイス・レベル振
幅の入力信号Vinを集積回路本体の論理振幅が持つべ
き信号Voutに変換・増幅する入力バッファ回路であ
る。入力バッファ回路は、直列に接続されたNMOSト
ランジスタQn1とPMOSトランジスタQp3の両ゲ
ートに共通に入力信号Vinが与えられ、両トランジス
タのドレインから出力信号Voutが取り出される。上
記NMOSトランジスタQn1のソースは接地レベルに
接続され、他方PMOSトランジスタQp3のソースは
ゲートが接地されたPMOSトランジスタQp2を介し
て電源電圧Vccに接続されている。
【0010】ここで上記PMOSトランジスタQp2に
は並列に制御回路が挿入されている。この制御回路は、
後述する電源電圧検出回路の出力信号Vcchがゲート
に入力されたPMOSトランジスタQp1からなり、こ
のPMOSトランジスタQp1のソースは電源電圧Vc
cに、ドレインは上記入力バッファ回路のPMOSトラ
ンジスタQp3のソースに接続されている。
は並列に制御回路が挿入されている。この制御回路は、
後述する電源電圧検出回路の出力信号Vcchがゲート
に入力されたPMOSトランジスタQp1からなり、こ
のPMOSトランジスタQp1のソースは電源電圧Vc
cに、ドレインは上記入力バッファ回路のPMOSトラ
ンジスタQp3のソースに接続されている。
【0011】上記制御回路をなすPMOSトランジスタ
Qp1のゲートに入力する電圧検出信号Vcchは、電
源電圧検出回路の出力信号から与えられる。電源電圧検
出回路は例えば図1(b)に示す回路からなり、電源電
圧Vccと接地レベル間に接続された負荷1と複数のダ
イオード接続されたMOSトランジスタ2,3,・・・
との接続点からインバータ4を介して電源電圧検出信号
Vcchが導き出される。
Qp1のゲートに入力する電圧検出信号Vcchは、電
源電圧検出回路の出力信号から与えられる。電源電圧検
出回路は例えば図1(b)に示す回路からなり、電源電
圧Vccと接地レベル間に接続された負荷1と複数のダ
イオード接続されたMOSトランジスタ2,3,・・・
との接続点からインバータ4を介して電源電圧検出信号
Vcchが導き出される。
【0012】図2は上記実施例の入力バッファ回路にお
ける入力反転電圧の電源電圧依存性を示し、次に上記入
力バッファ回路の動作を説明する。
ける入力反転電圧の電源電圧依存性を示し、次に上記入
力バッファ回路の動作を説明する。
【0013】ここで電源電圧検出信号Vcchのレベル
は、図2に示すように、反転電圧Vinvが高レベル入
力Vihと低レベルVilとのほぼ中間になるときの電
源電圧Vaで高・低レベルが反転するように電源電圧検
出回路の分割電圧が設計されている。
は、図2に示すように、反転電圧Vinvが高レベル入
力Vihと低レベルVilとのほぼ中間になるときの電
源電圧Vaで高・低レベルが反転するように電源電圧検
出回路の分割電圧が設計されている。
【0014】電源電圧Vccが上記Va以下において
は、図1のMOSトランジスタ2,3,・・・がOFF
となるため(イ)点の電位が上がる。この電位はインバ
ータ4で反転されるため電源電圧検出回路の出力信号V
cchが低レベルとなる。そのためPMOSトランジス
タQp1がオン状態にあり、このトランジスタQp1を
流れた電流がPMOSトランジスタQp3に供給され、
入力バッファ回路の反転電圧はNMOSトランジスタQ
n1,PMOSトランジスタQp1,Qp2,Qp3で
決定される。次に電源電圧Vccが上昇して上記Va以
上になると、電源電圧検出回路の出力信号VcchはM
OSトランジスタ2,3,・・・がONになるため低レ
ベルから高レベルに変化する。これにより、PMOSト
ランジスタQp1はオフ状態になり、トランジスタQp
3への電流IpはトランジスタQp2からのみとなって
低減し、入力バッファ回路の反転電圧はNMOSトラン
ジスタQn1及びPMOSトランジスタQp2,Qp3
により決定されることになる。
は、図1のMOSトランジスタ2,3,・・・がOFF
となるため(イ)点の電位が上がる。この電位はインバ
ータ4で反転されるため電源電圧検出回路の出力信号V
cchが低レベルとなる。そのためPMOSトランジス
タQp1がオン状態にあり、このトランジスタQp1を
流れた電流がPMOSトランジスタQp3に供給され、
入力バッファ回路の反転電圧はNMOSトランジスタQ
n1,PMOSトランジスタQp1,Qp2,Qp3で
決定される。次に電源電圧Vccが上昇して上記Va以
上になると、電源電圧検出回路の出力信号VcchはM
OSトランジスタ2,3,・・・がONになるため低レ
ベルから高レベルに変化する。これにより、PMOSト
ランジスタQp1はオフ状態になり、トランジスタQp
3への電流IpはトランジスタQp2からのみとなって
低減し、入力バッファ回路の反転電圧はNMOSトラン
ジスタQn1及びPMOSトランジスタQp2,Qp3
により決定されることになる。
【0015】以上のように、電源電圧がVa以上に上昇
した場合には、入力バッファ回路に供給される電流が低
減し、従来の入力バッファ回路に比べて反転電圧を下げ
ることができる。このことはまた消費電流も抑えること
になる。
した場合には、入力バッファ回路に供給される電流が低
減し、従来の入力バッファ回路に比べて反転電圧を下げ
ることができる。このことはまた消費電流も抑えること
になる。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、電源電圧に対する入力
電圧のマージンの拡大及びノイズ・マージンの拡大を図
ることができ、集積回路設計時の負担が軽減され、また
周辺回路との結合による制約が緩和され、電子機器の設
計をも容易する。また入力バッファ回路での消費電流を
抑えることができる。
電圧のマージンの拡大及びノイズ・マージンの拡大を図
ることができ、集積回路設計時の負担が軽減され、また
周辺回路との結合による制約が緩和され、電子機器の設
計をも容易する。また入力バッファ回路での消費電流を
抑えることができる。
【図1】 本発明の一実施例を示す入力バッファ回路図
及び電源電圧検出回路図。
及び電源電圧検出回路図。
【図2】 同実施例の入力バッファ回路における反転電
圧の電源電圧依存性を示す図。
圧の電源電圧依存性を示す図。
【図3】 従来の入力バッファ回路図及びその入出力特
性図。
性図。
【図4】 従来の入力バッファ回路における反転電圧の
電源電圧依存性を示す図。
電源電圧依存性を示す図。
Vin 入力信号 Vout 出力信号 Vcch 電源電圧検出回路出力信号 Qp1,Qp2,Qp3 PMOSトランジスタ Qn1 NMOSトランジスタ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 H03K 19/0185 7342−4M H01L 27/08 321 L 8941−5J H03K 19/00 101 D
Claims (2)
- 【請求項1】 外部のインターフェイス・レベル振幅の
信号を内部論理振幅の信号に変換・増幅する入力バッフ
ァ回路を含む集積回路装置において、電源電圧を検出す
る検出手段と、上記検出手段の出力が与えられて上記入
力バッファ回路の反転電圧を制御する制御回路とを備え
てなることを特徴とする集積回路装置。 - 【請求項2】 前記入力バッファ回路はCMOSトラン
ジスタからなり、電源電圧検出回路の出力が与えられた
PMOSトランジスタからなる制御回路により、上記C
MOSトランジスタへの供給電流を制御して反転電圧を
制御することを特徴とする請求項1記載の集積回路装
置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4065736A JPH05268054A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 集積回路装置 |
DE69327125T DE69327125T2 (de) | 1992-03-12 | 1993-03-12 | Halbleiterspeicher |
EP93301888A EP0560623B1 (en) | 1992-03-12 | 1993-03-12 | A semiconductor memory |
US08/031,177 US5402387A (en) | 1992-03-12 | 1993-03-12 | Semiconductor memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4065736A JPH05268054A (ja) | 1992-03-24 | 1992-03-24 | 集積回路装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05268054A true JPH05268054A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=13295606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4065736A Pending JPH05268054A (ja) | 1992-03-12 | 1992-03-24 | 集積回路装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH05268054A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19706069C1 (de) * | 1997-02-17 | 1998-07-02 | Siemens Ag | Integrierte Buffer-Schaltung |
US6069491A (en) * | 1997-02-17 | 2000-05-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Integrated buffer circuit |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256220A (ja) * | 1988-04-05 | 1989-10-12 | Nec Corp | 入力回路 |
-
1992
- 1992-03-24 JP JP4065736A patent/JPH05268054A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01256220A (ja) * | 1988-04-05 | 1989-10-12 | Nec Corp | 入力回路 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19706069C1 (de) * | 1997-02-17 | 1998-07-02 | Siemens Ag | Integrierte Buffer-Schaltung |
US6069491A (en) * | 1997-02-17 | 2000-05-30 | Siemens Aktiengesellschaft | Integrated buffer circuit |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0884849B1 (en) | Voltage-level shifter | |
US4551841A (en) | One-chip semiconductor device incorporating a power-supply-potential detecting circuit with reset function | |
US6320423B1 (en) | MOS logic circuit and semiconductor apparatus including the same | |
US6127841A (en) | CMOS buffer having stable threshold voltage | |
KR20010049227A (ko) | 레벨조정회로 및 이를 포함하는 데이터 출력회로 | |
KR950004745B1 (ko) | 반도체 디지탈 회로 | |
KR930000972B1 (ko) | Cmos인버터를 구비한 반도체 집적회로 | |
KR100348931B1 (ko) | 노이즈 면역성이 개선된 저전력 디지털 회로 | |
US6750696B2 (en) | Level conversion circuit converting logic level of signal | |
US4642488A (en) | CMOS input buffer accepting TTL level inputs | |
US6249146B1 (en) | MOS output buffer with overvoltage protection circuitry | |
US5371419A (en) | CMOS well switching circuit | |
US6281731B1 (en) | Control of hysteresis characteristic within a CMOS differential receiver | |
US6784700B1 (en) | Input buffer circuit | |
JPH05122017A (ja) | シユミツトトリガ入力バツフア回路 | |
JPH05268054A (ja) | 集積回路装置 | |
EP0533332A1 (en) | CMOS self-boost circuit | |
US6137314A (en) | Input circuit for an integrated circuit | |
EP0740417B1 (en) | Input circuit and semiconductor integrated circuit device including same | |
US6335649B1 (en) | Schmitt trigger circuit | |
JP3420113B2 (ja) | Mosトランジスタ回路 | |
US7737734B1 (en) | Adaptive output driver | |
US5939900A (en) | Input buffer | |
JPH04154207A (ja) | シュミットトリガー回路 | |
US5412264A (en) | Signal input/output circuit for semiconductor integrated circuit |