JPH05266532A - 光ヘッド装置 - Google Patents
光ヘッド装置Info
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- JPH05266532A JPH05266532A JP4093507A JP9350792A JPH05266532A JP H05266532 A JPH05266532 A JP H05266532A JP 4093507 A JP4093507 A JP 4093507A JP 9350792 A JP9350792 A JP 9350792A JP H05266532 A JPH05266532 A JP H05266532A
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- light
- laser
- optical head
- head device
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 レーザ光を偏光分離する偏光ビームスプリッ
タと楕円状のレーザ光を円形に整形するアナモルフィッ
クプリズムを１つの部材で構成して簡略化、小型化を達
成する。 【構成】 記録媒体１に記録されている情報を記録、再
生する光ヘッドにおいて、レーザダイオード２からレー
ザ光を出射し、レーザ光の光路に設けられた複屈折性材
料からなるウェッジ形状プリズム１１によってレーザ光
を略円形に整形するとともに、Ｐ偏光成分のみを対物レ
ンズ７に入射させ、Ｓ偏光成分を対物レンズ７の外に出
すようにして、消光比を改善する。
タと楕円状のレーザ光を円形に整形するアナモルフィッ
クプリズムを１つの部材で構成して簡略化、小型化を達
成する。 【構成】 記録媒体１に記録されている情報を記録、再
生する光ヘッドにおいて、レーザダイオード２からレー
ザ光を出射し、レーザ光の光路に設けられた複屈折性材
料からなるウェッジ形状プリズム１１によってレーザ光
を略円形に整形するとともに、Ｐ偏光成分のみを対物レ
ンズ７に入射させ、Ｓ偏光成分を対物レンズ７の外に出
すようにして、消光比を改善する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、例えば光学的に情報を
記録、再生可能な光磁気ディスク装置に用いて好適な光
ヘッド装置に関する。
記録、再生可能な光磁気ディスク装置に用いて好適な光
ヘッド装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光ヘッド装置として、図１０に示
すものが知られている。同図において、記録媒体１に
は、ＶＤ（ビデオディスク）やＣＤ（コンパクトディス
ク）等のようにピット列が形成されている。レーザダイ
オード２は、断面が楕円状になるようにレーザ光を所定
の放射角（例えば、その比は１：３）で出力する。コリ
メートレンズ３は、レーザダイオード２から出力された
レーザ光を平行光に変換する。アナモルフィックプリズ
ム４は、ウェッジ形状のもので、楕円形状のレーザ光の
断面を略円形に整形する。１／４波長板６は、入射され
るレーザ光を直線偏光から円偏光に偏光する。対物レン
ズ７は、レーザ光を記録媒体１の記録面に集光する。偏
光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）５は、レーザ光のＰ偏光
成分を通過させ、入射面に垂直なＳ偏光成分を反射す
る。レンズ８は、入射される平行なレーザ光をフォトデ
ィテクタ９に集光する。
すものが知られている。同図において、記録媒体１に
は、ＶＤ（ビデオディスク）やＣＤ（コンパクトディス
ク）等のようにピット列が形成されている。レーザダイ
オード２は、断面が楕円状になるようにレーザ光を所定
の放射角（例えば、その比は１：３）で出力する。コリ
メートレンズ３は、レーザダイオード２から出力された
レーザ光を平行光に変換する。アナモルフィックプリズ
ム４は、ウェッジ形状のもので、楕円形状のレーザ光の
断面を略円形に整形する。１／４波長板６は、入射され
るレーザ光を直線偏光から円偏光に偏光する。対物レン
ズ７は、レーザ光を記録媒体１の記録面に集光する。偏
光ビームスプリッタ（ＰＢＳ）５は、レーザ光のＰ偏光
成分を通過させ、入射面に垂直なＳ偏光成分を反射す
る。レンズ８は、入射される平行なレーザ光をフォトデ
ィテクタ９に集光する。
【０００３】次に以上の構成に基づいて、その動作を説
明する。まず、レーザダイオード２から所定の放射角で
出射された断面が楕円形状のレーザ光は、コリメートレ
ンズ３に入射される。入射したレーザ光は平行な光束に
変換される。さらに平行光に変換されたレーザ光は、ア
ナモルフィックプリズム４の斜面に所定の入射角で入射
される。これによって、レーザ光は楕円形状から略円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光のＳ偏
光成分は、ＰＢＳ５の斜面（偏光面）で反射されるが、
Ｐ偏光成分は通過する。Ｐ偏光成分は１／４波長板６に
入射され、直線偏光から円偏光に偏光される。円偏光に
偏光されたレーザ光は、対物レンズ７によって集光さ
れ、記録媒体１の記録面に照射される。
明する。まず、レーザダイオード２から所定の放射角で
出射された断面が楕円形状のレーザ光は、コリメートレ
ンズ３に入射される。入射したレーザ光は平行な光束に
変換される。さらに平行光に変換されたレーザ光は、ア
ナモルフィックプリズム４の斜面に所定の入射角で入射
される。これによって、レーザ光は楕円形状から略円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光のＳ偏
光成分は、ＰＢＳ５の斜面（偏光面）で反射されるが、
Ｐ偏光成分は通過する。Ｐ偏光成分は１／４波長板６に
入射され、直線偏光から円偏光に偏光される。円偏光に
偏光されたレーザ光は、対物レンズ７によって集光さ
れ、記録媒体１の記録面に照射される。
【０００４】この記録面で反射したレーザ光は、対物レ
ンズ７を介して再び１／４波長板６に入射され、直線偏
光に戻される。この直線偏光の偏光成分はＳ偏光成分と
なっているので、ＰＢＳ５の斜面で反射され、レンズ８
に導かれる。レンズ８は、入射するレーザ光を集光して
フォトディテクタ９に照射する。フォトディテクタ９
は、照射される光量に応じて電気信号を出力する。
ンズ７を介して再び１／４波長板６に入射され、直線偏
光に戻される。この直線偏光の偏光成分はＳ偏光成分と
なっているので、ＰＢＳ５の斜面で反射され、レンズ８
に導かれる。レンズ８は、入射するレーザ光を集光して
フォトディテクタ９に照射する。フォトディテクタ９
は、照射される光量に応じて電気信号を出力する。
【０００５】以上のように、従来の光ヘッド装置は、ア
ナモルフィックプリズム４によって楕円形状のレーザ光
を円形に整形することによって、レンズの開口数（Ｎ
Ａ）を実質的に大きくしている。
ナモルフィックプリズム４によって楕円形状のレーザ光
を円形に整形することによって、レンズの開口数（Ｎ
Ａ）を実質的に大きくしている。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】従来の光ヘッド装置
は、以上のように構成されているので、部品点数が多く
なり、コスト高となる課題があった。また、光ヘッド装
置の小型化に限界がある等の問題を有している。
は、以上のように構成されているので、部品点数が多く
なり、コスト高となる課題があった。また、光ヘッド装
置の小型化に限界がある等の問題を有している。
【０００７】本発明は、以上の点を考慮してなされたも
ので、簡単な構成で、消光比を改善し、かつ小型の光ヘ
ッド装置を提供することを目的とする。
ので、簡単な構成で、消光比を改善し、かつ小型の光ヘ
ッド装置を提供することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の光ヘッド装置
は、光学的に情報を記録または再生可能な記録媒体に照
射するレーザ光を出射するレーザダイオード２と、レー
ザダイオード２から出射されたレーザ光の光路中に配置
され、その断面形状を略円形に整形するようにウェッジ
形状にされるとともに、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に対し
て異なる屈折率を呈する複屈折性材料から構成されたプ
リズム１１とを備えることを特徴とする。
は、光学的に情報を記録または再生可能な記録媒体に照
射するレーザ光を出射するレーザダイオード２と、レー
ザダイオード２から出射されたレーザ光の光路中に配置
され、その断面形状を略円形に整形するようにウェッジ
形状にされるとともに、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に対し
て異なる屈折率を呈する複屈折性材料から構成されたプ
リズム１１とを備えることを特徴とする。
【０００９】この光ヘッド装置は、記録媒体により反射
されたレーザ光を受光するフォトディテクタ９と、レー
ザダイオード２より発生されたレーザ光を平行光にして
プリズム１１に出射するとともに、プリズム１１より出
射された記録媒体からの反射光をフォトディテクタに出
射するコリメートレンズ３とをさらに備えることができ
る。
されたレーザ光を受光するフォトディテクタ９と、レー
ザダイオード２より発生されたレーザ光を平行光にして
プリズム１１に出射するとともに、プリズム１１より出
射された記録媒体からの反射光をフォトディテクタに出
射するコリメートレンズ３とをさらに備えることができ
る。
【００１０】また、記録媒体とプリズム１１の間に１／
４波長板６をさらに備えることができる。
４波長板６をさらに備えることができる。
【００１１】この記録媒体を光磁気記録媒体２１とする
とき、レーザダイオード２のバック光を検出するバック
光検出用フォトディテクタ４１をさらに設けることがで
きる。
とき、レーザダイオード２のバック光を検出するバック
光検出用フォトディテクタ４１をさらに設けることがで
きる。
【００１２】さらに、フォトディテクタ７２，７３を、
２個設け、記録媒体からの反射光が２個のフォトディテ
クタ７２，７３の中間でコリメートレンズ３により一旦
集束され、２個のフォトディテクタ７２，７３の出力か
らフォーカスエラー信号を生成することができる。
２個設け、記録媒体からの反射光が２個のフォトディテ
クタ７２，７３の中間でコリメートレンズ３により一旦
集束され、２個のフォトディテクタ７２，７３の出力か
らフォーカスエラー信号を生成することができる。
【００１３】
【作用】上記構成の光ヘッド装置においては、レーザダ
イオード２からレーザ光を出射し、レーザ光の光路中に
設けられた複屈折性材料からなるウェッジ形状プリズム
１１によってレーザ光を略円形に整形するとともに、Ｐ
偏光成分とＳ偏光成分を分離する。従って、記録媒体に
入射する光の消光比を向上することができる。
イオード２からレーザ光を出射し、レーザ光の光路中に
設けられた複屈折性材料からなるウェッジ形状プリズム
１１によってレーザ光を略円形に整形するとともに、Ｐ
偏光成分とＳ偏光成分を分離する。従って、記録媒体に
入射する光の消光比を向上することができる。
【００１４】
【実施例】以下、図１を参照して本発明の一実施例を説
明する。尚、図１０における場合と同一要件については
同一符号を付してある。図１において、アナモルフィッ
クプリズム１１は、複屈折性結晶等の材料からなるウェ
ッジ形状のプリズムである。光軸１２は、複屈折性の結
晶で屈折光が複屈折を起さない方向（光軸）を示してい
る。
明する。尚、図１０における場合と同一要件については
同一符号を付してある。図１において、アナモルフィッ
クプリズム１１は、複屈折性結晶等の材料からなるウェ
ッジ形状のプリズムである。光軸１２は、複屈折性の結
晶で屈折光が複屈折を起さない方向（光軸）を示してい
る。
【００１５】次に図１に基づいて、その動作を説明す
る。レーザダイオード２から出射したレーザ光は、コリ
メートレンズ３で平行光に変換された後、アナモルフィ
ックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射角で
入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形にビ
ーム整形されるとともに、異常光線であるＳ偏光成分が
破線で示すように伝搬する。よって、対物レンズ７に入
射されるＳ偏光成分は減少する。従って、記録媒体に入
射するレーザ光の消光比（Ｐ波の占める割合）を向上さ
せることができる。
る。レーザダイオード２から出射したレーザ光は、コリ
メートレンズ３で平行光に変換された後、アナモルフィ
ックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射角で
入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形にビ
ーム整形されるとともに、異常光線であるＳ偏光成分が
破線で示すように伝搬する。よって、対物レンズ７に入
射されるＳ偏光成分は減少する。従って、記録媒体に入
射するレーザ光の消光比（Ｐ波の占める割合）を向上さ
せることができる。
【００１６】図２は、本発明の第２の実施例の具体的構
成を示している。同図において、レーザダイオード２と
フォトディテクタ９は隣接して設けられている。光磁気
記録媒体２１は磁化の向きとして情報が記録されている
光磁気記録膜２２を有している。
成を示している。同図において、レーザダイオード２と
フォトディテクタ９は隣接して設けられている。光磁気
記録媒体２１は磁化の向きとして情報が記録されている
光磁気記録膜２２を有している。
【００１７】図２に基づいて、その動作を説明する。レ
ーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏光）は、
コリメートレンズ３で平行光に変換された後、アナモル
フィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射
角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光は、対
物レンズ７に入射され、集光されて光磁気記録媒体２１
の光磁気記録膜２２に照射される。
ーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏光）は、
コリメートレンズ３で平行光に変換された後、アナモル
フィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射
角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光は、対
物レンズ７に入射され、集光されて光磁気記録媒体２１
の光磁気記録膜２２に照射される。
【００１８】光磁気記録膜２２から反射されたレーザ光
は、記録情報に対応してカー効果の影響を受け、Ｓ偏光
成分が発生する。このＰ偏光成分とＳ偏光成分の合成波
は、再びアナモルフィックプリズム１１に入射される。
この時、アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａに
よって、異常光線であるＳ偏光成分はＰ偏光成分と異な
る屈折角で出射される。このＳ偏光成分は、コリメート
レンズ３を介してフォトディテクタ９に照射され、ＲＦ
信号やサーボ信号として取り出される。ここで、コリメ
ートレンズ３の焦点距離をＦとし、コリメートレンズ３
の光軸と斜面１１ａから出射するレーザ光との角度をθ
とした時、コリメートレンズ３の光軸とレーザ光の結像
位置の距離（レーザダイオード２とフォトディテクタ９
の距離）Ｄは、Ｄ＝Ｆ・θとなる。
は、記録情報に対応してカー効果の影響を受け、Ｓ偏光
成分が発生する。このＰ偏光成分とＳ偏光成分の合成波
は、再びアナモルフィックプリズム１１に入射される。
この時、アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａに
よって、異常光線であるＳ偏光成分はＰ偏光成分と異な
る屈折角で出射される。このＳ偏光成分は、コリメート
レンズ３を介してフォトディテクタ９に照射され、ＲＦ
信号やサーボ信号として取り出される。ここで、コリメ
ートレンズ３の焦点距離をＦとし、コリメートレンズ３
の光軸と斜面１１ａから出射するレーザ光との角度をθ
とした時、コリメートレンズ３の光軸とレーザ光の結像
位置の距離（レーザダイオード２とフォトディテクタ９
の距離）Ｄは、Ｄ＝Ｆ・θとなる。
【００１９】図３は、本発明の第３の実施例の具体的構
成を示している。この実施例においては、図２に示した
構成に対して、対物レンズ７とアナモルフィックプリズ
ム１１との間に、１／４波長板６を挿入した構成になっ
ている。また、記録媒体３１は、位相ピットにより情報
が記録されている記録層３２を有している。
成を示している。この実施例においては、図２に示した
構成に対して、対物レンズ７とアナモルフィックプリズ
ム１１との間に、１／４波長板６を挿入した構成になっ
ている。また、記録媒体３１は、位相ピットにより情報
が記録されている記録層３２を有している。
【００２０】以下、図３に基づいてその動作を説明す
る。レーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏
光）は、コリメートレンズ３で平行光に変換された後、
アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所
定の入射角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状
から円形にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ
光は、１／４波長板６によって直線偏光から円偏光に偏
光される。円偏光とされたレーザ光は対物レンズ７に入
射され、集光されて記録媒体３１の記録層３２に照射さ
れる。この記録層３２には、位相ピットにより情報が記
録されている。
る。レーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏
光）は、コリメートレンズ３で平行光に変換された後、
アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所
定の入射角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状
から円形にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ
光は、１／４波長板６によって直線偏光から円偏光に偏
光される。円偏光とされたレーザ光は対物レンズ７に入
射され、集光されて記録媒体３１の記録層３２に照射さ
れる。この記録層３２には、位相ピットにより情報が記
録されている。
【００２１】記録層３２から反射されたレーザ光は、再
び１／４波長板６によって円偏光から直線偏光（Ｓ偏
光）に偏光された後、アナモルフィックプリズム１１に
入射される。この時、アナモルフィックプリズム１１の
斜面１１ａにおいて異常光線であるＳ偏光成分はＰ偏光
成分と異なる屈折率で出射される。このＳ偏光成分は、
コリメートレンズ３を介してフォトディテクタ９に照射
される。従って、フォトディテクタ９の出力から記録信
号の再生が可能になる。また、Ｓ偏光成分がレーザダイ
オード２に戻らないので、レーザダイオード２を安定し
て動作させることができる。
び１／４波長板６によって円偏光から直線偏光（Ｓ偏
光）に偏光された後、アナモルフィックプリズム１１に
入射される。この時、アナモルフィックプリズム１１の
斜面１１ａにおいて異常光線であるＳ偏光成分はＰ偏光
成分と異なる屈折率で出射される。このＳ偏光成分は、
コリメートレンズ３を介してフォトディテクタ９に照射
される。従って、フォトディテクタ９の出力から記録信
号の再生が可能になる。また、Ｓ偏光成分がレーザダイ
オード２に戻らないので、レーザダイオード２を安定し
て動作させることができる。
【００２２】図４は、本発明の第４の実施例の具体的構
成を示している。同図において、ミラー５１は４５度の
全反射面を有しており、その反射面に１／４波長板５２
が蒸着されている。このミラー５１が、図３における１
／４波長板６の代わりに挿入されている。
成を示している。同図において、ミラー５１は４５度の
全反射面を有しており、その反射面に１／４波長板５２
が蒸着されている。このミラー５１が、図３における１
／４波長板６の代わりに挿入されている。
【００２３】図４に基づいて、その動作を説明する。レ
ーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏光）は、
コリメートレンズ３で平行光に変換された後、アナモル
フィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射
角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光は、ミ
ラー５１の反射面（１／４波長板５２）によって９０度
曲げられ、かつ１／４波長板５２によって直線偏光から
円偏光に偏光される。円偏光とされたレーザ光は対物レ
ンズ７に入射され、集光されて記録媒体３１の記録層３
２に照射される。
ーザダイオード２から出射したレーザ光（Ｐ偏光）は、
コリメートレンズ３で平行光に変換された後、アナモル
フィックプリズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射
角で入射される。この時、レーザ光は楕円形状から円形
にビーム整形される。ビーム整形されたレーザ光は、ミ
ラー５１の反射面（１／４波長板５２）によって９０度
曲げられ、かつ１／４波長板５２によって直線偏光から
円偏光に偏光される。円偏光とされたレーザ光は対物レ
ンズ７に入射され、集光されて記録媒体３１の記録層３
２に照射される。
【００２４】記録層３２から反射されたレーザ光は、再
び１／４波長板５２によって円偏光から直線偏光（Ｓ偏
光）に偏光されるとともに、ミラー５１の反射面によっ
て９０度曲げられ、アナモルフィックプリズム１１に入
射される。この時、アナモルフィックプリズム１１の斜
面１１ａによってＰ偏光と異なる屈折率で出射されたＳ
偏光成分は、コリメートレンズ３を介してフォトディテ
クタ９に照射される。
び１／４波長板５２によって円偏光から直線偏光（Ｓ偏
光）に偏光されるとともに、ミラー５１の反射面によっ
て９０度曲げられ、アナモルフィックプリズム１１に入
射される。この時、アナモルフィックプリズム１１の斜
面１１ａによってＰ偏光と異なる屈折率で出射されたＳ
偏光成分は、コリメートレンズ３を介してフォトディテ
クタ９に照射される。
【００２５】図５は、本発明の第５の実施例の具体的構
成を示している。同図において、フォトディテクタ４１
は、戻り光によって変化するレーザダイオード２の後方
光出力を受光する。検出回路４２は、フォトディテクタ
４１からの出力に基づいて、ＲＦ信号を検出する。サー
ボ回路４３は、フォトディテクタ９からの出力に基づい
て、サーボ信号を出力する。
成を示している。同図において、フォトディテクタ４１
は、戻り光によって変化するレーザダイオード２の後方
光出力を受光する。検出回路４２は、フォトディテクタ
４１からの出力に基づいて、ＲＦ信号を検出する。サー
ボ回路４３は、フォトディテクタ９からの出力に基づい
て、サーボ信号を出力する。
【００２６】図５に基づいて、その動作を説明する。レ
ーザダイオード２から出射したレーザ光は、コリメート
レンズ３で平行光に変換された後、アナモルフィックプ
リズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射角で入射さ
れる。この時、レーザ光は楕円形状から円形にビーム整
形される。ビーム整形されたレーザ光は、１／４波長板
６によって直線偏光（Ｐ偏光）から円偏光に偏光され
る。円偏光とされたレーザ光は対物レンズ７に入射さ
れ、集光されて光磁気記録媒体２１の光磁気記録膜２２
に照射される。
ーザダイオード２から出射したレーザ光は、コリメート
レンズ３で平行光に変換された後、アナモルフィックプ
リズム１１の斜面１１ａに対して所定の入射角で入射さ
れる。この時、レーザ光は楕円形状から円形にビーム整
形される。ビーム整形されたレーザ光は、１／４波長板
６によって直線偏光（Ｐ偏光）から円偏光に偏光され
る。円偏光とされたレーザ光は対物レンズ７に入射さ
れ、集光されて光磁気記録媒体２１の光磁気記録膜２２
に照射される。
【００２７】光磁気記録膜２２から反射されたレーザ光
は、カー効果により発生したＳ偏光成分を含む。このレ
ーザ光のうち円偏光成分は、１／４波長板６によって直
線偏光（Ｓ偏光）に偏光される。また、Ｓ偏光成分（カ
ー効果成分）はＰ偏光に偏光される。このようなレーザ
光がアナモルフィックプリズム１１に入射される。この
時、アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａにおい
て、Ｓ偏光成分とＰ偏光成分は異なる屈折率で出射され
る。Ｐ偏光成分（カー効果成分）はレーザダイオード２
に入射され、Ｓ偏光成分はフォトディテクタ９に入射さ
れる。
は、カー効果により発生したＳ偏光成分を含む。このレ
ーザ光のうち円偏光成分は、１／４波長板６によって直
線偏光（Ｓ偏光）に偏光される。また、Ｓ偏光成分（カ
ー効果成分）はＰ偏光に偏光される。このようなレーザ
光がアナモルフィックプリズム１１に入射される。この
時、アナモルフィックプリズム１１の斜面１１ａにおい
て、Ｓ偏光成分とＰ偏光成分は異なる屈折率で出射され
る。Ｐ偏光成分（カー効果成分）はレーザダイオード２
に入射され、Ｓ偏光成分はフォトディテクタ９に入射さ
れる。
【００２８】フォトディテクタ９から出力される信号
は、サーボ回路４３に入力され、フォーカスやＡＰＣ等
のサーボ信号として用いられる。また、レーザダイオー
ド２の後方から出力される光（バック光）は、フォトデ
ィテクタ４１に照射される。フォトディテクタ４１から
の出力信号は検出回路４２に入力され、いわゆるスクー
プ方式によるＲＦ信号が検出される。
は、サーボ回路４３に入力され、フォーカスやＡＰＣ等
のサーボ信号として用いられる。また、レーザダイオー
ド２の後方から出力される光（バック光）は、フォトデ
ィテクタ４１に照射される。フォトディテクタ４１から
の出力信号は検出回路４２に入力され、いわゆるスクー
プ方式によるＲＦ信号が検出される。
【００２９】図６は、本発明の第６の実施例の具体的構
成を示している。同図において、光学ブロック６１はフ
ォーカスエラー信号及びＲＦ信号を検出するもので、他
の構成は図３に示す第３の実施例と同じである。
成を示している。同図において、光学ブロック６１はフ
ォーカスエラー信号及びＲＦ信号を検出するもので、他
の構成は図３に示す第３の実施例と同じである。
【００３０】光学ブロック６１の具体的を図７に示す。
同図において、入射されるレーザ光Ｌはプリズム７１の
斜面（ハーフミラー）７１ａで一部反射し、一部透過し
て第１のフォトディテクタ７２に照射される。一方、反
射された一部のレーザ光は、焦点ｆで焦点を結んだ後、
斜面（ミラー）７１ｂで全反射されて第２のフォトディ
テクタ７３に照射される。
同図において、入射されるレーザ光Ｌはプリズム７１の
斜面（ハーフミラー）７１ａで一部反射し、一部透過し
て第１のフォトディテクタ７２に照射される。一方、反
射された一部のレーザ光は、焦点ｆで焦点を結んだ後、
斜面（ミラー）７１ｂで全反射されて第２のフォトディ
テクタ７３に照射される。
【００３１】図８は、第１及び第２のフォトディテクタ
７２、７３に照射されるレーザ光の光量によってフォー
カスエラー信号を得るための原理を説明する図である。
同図において、いまレーザ光Ｌが焦点があっている場合
を考える。この時、第１のフォトディテクタ７２に照射
されるレーザ光の径の大きさはＤ１１である。一方、斜
面７１ａで反射されたレーザビームの焦点位置はｆ１で
あるから、第２のフォトディテクタ７３に照射されるレ
ーザ光の径の大きさはＤ２１となる。即ち、第１と第２
のフォトディテクタ７２、７３に照射されるレーザ光の
径の大きさは等しい。
７２、７３に照射されるレーザ光の光量によってフォー
カスエラー信号を得るための原理を説明する図である。
同図において、いまレーザ光Ｌが焦点があっている場合
を考える。この時、第１のフォトディテクタ７２に照射
されるレーザ光の径の大きさはＤ１１である。一方、斜
面７１ａで反射されたレーザビームの焦点位置はｆ１で
あるから、第２のフォトディテクタ７３に照射されるレ
ーザ光の径の大きさはＤ２１となる。即ち、第１と第２
のフォトディテクタ７２、７３に照射されるレーザ光の
径の大きさは等しい。
【００３２】レーザ光Ｌの焦点が遠い場合、第１のフォ
トディテクタ７２に照射されるレーザ光の大きさはＤ１
２である。一方、斜面７１ａで反射されたレーザビーム
の焦点位置はｆ２であるから、第２のフォトディテクタ
７３に照射されるレーザ光の大きさはＤ２２となる。即
ち、第１のフォトディテクタ７２に照射されるレーザ光
の大きさは、第２のフォトディテクタ７３に照射される
レーザ光の大きさより大きい。
トディテクタ７２に照射されるレーザ光の大きさはＤ１
２である。一方、斜面７１ａで反射されたレーザビーム
の焦点位置はｆ２であるから、第２のフォトディテクタ
７３に照射されるレーザ光の大きさはＤ２２となる。即
ち、第１のフォトディテクタ７２に照射されるレーザ光
の大きさは、第２のフォトディテクタ７３に照射される
レーザ光の大きさより大きい。
【００３３】レーザ光Ｌの焦点が近い場合、第１のフォ
トディテクタ７２に照射されるレーザ光の大きさはＤ１
３である。一方、斜面７１ａで反射されたレーザビーム
の焦点位置はｆ３であるから、第２のフォトディテクタ
７３に照射されるレーザ光の大きさはＤ２３となる。即
ち、第１のフォトディテクタ７２に照射されるレーザ光
の大きさは、第２のフォトディテクタ７３に照射される
レーザ光の大きさより小さい。
トディテクタ７２に照射されるレーザ光の大きさはＤ１
３である。一方、斜面７１ａで反射されたレーザビーム
の焦点位置はｆ３であるから、第２のフォトディテクタ
７３に照射されるレーザ光の大きさはＤ２３となる。即
ち、第１のフォトディテクタ７２に照射されるレーザ光
の大きさは、第２のフォトディテクタ７３に照射される
レーザ光の大きさより小さい。
【００３４】図９は、第１と第２のフォトディテクタ７
２、７３から出力される信号に基づいてフォーカスエラ
ー信号及びＲＦ信号を得るための具体的構成を示してい
る。同図において、第１及び第２のフォトディテクタ７
２、７３は、各々短冊状に３分割されたディテクタＡ
１、Ｂ１、Ｃ１及びディテクタＡ２、Ｂ２、Ｃ２を有し
ている。アンプ８９乃至９２は入力される信号のゲイン
を調整して出力する。
２、７３から出力される信号に基づいてフォーカスエラ
ー信号及びＲＦ信号を得るための具体的構成を示してい
る。同図において、第１及び第２のフォトディテクタ７
２、７３は、各々短冊状に３分割されたディテクタＡ
１、Ｂ１、Ｃ１及びディテクタＡ２、Ｂ２、Ｃ２を有し
ている。アンプ８９乃至９２は入力される信号のゲイン
を調整して出力する。
【００３５】次に、図９を参照して、その動作を説明す
る。まず、ＲＦ信号を出力する場合について説明する。
ディテクタＡ１、Ｂ１から出力される各々の信号は、加
算器８１に入力され、加算される。さらに、この加算さ
れた信号とディテクタＣ１から出力される信号は加算器
８２に入力され、加算される。即ち、ディテクタＡ２、
Ｂ２、Ｃ２から出力される各々の信号が加算される。一
方、ディテクタＡ２、Ｂ２から出力される各々の信号は
加算器８４に入力され、加算される。さらに、この加算
された信号とディテクタＣ２から出力される信号は加算
器８５に入力され、加算される。即ち、ディテクタＡ
２、Ｂ２、Ｃ２から出力される各々の信号が加算され
る。さらに、加算器８２、８５の出力は加算器８８に入
力されて、加算される。これによって、ＲＦ信号が得ら
れる。
る。まず、ＲＦ信号を出力する場合について説明する。
ディテクタＡ１、Ｂ１から出力される各々の信号は、加
算器８１に入力され、加算される。さらに、この加算さ
れた信号とディテクタＣ１から出力される信号は加算器
８２に入力され、加算される。即ち、ディテクタＡ２、
Ｂ２、Ｃ２から出力される各々の信号が加算される。一
方、ディテクタＡ２、Ｂ２から出力される各々の信号は
加算器８４に入力され、加算される。さらに、この加算
された信号とディテクタＣ２から出力される信号は加算
器８５に入力され、加算される。即ち、ディテクタＡ
２、Ｂ２、Ｃ２から出力される各々の信号が加算され
る。さらに、加算器８２、８５の出力は加算器８８に入
力されて、加算される。これによって、ＲＦ信号が得ら
れる。
【００３６】次に、フォーカスエラー信号を出力する場
合について説明する。まず、加算器８１から出力される
信号とディテクタＣ１から出力される信号は、各々アン
プ８９，９０を介して所定のレベルに調整された後、減
算器８３に入力され、減算される。一方、加算器８４か
ら出力される信号とディテクタＣ２から出力される信号
は、各々アンプ９２，９１を介して所定のレベルに調整
された後、減算器８６に入力され、減算される。このよ
うにして得られた減算器８３及び８６からの信号は、各
々減算器８７に入力され、減算される。これによって、
フォーカスエラー信号が得られる。
合について説明する。まず、加算器８１から出力される
信号とディテクタＣ１から出力される信号は、各々アン
プ８９，９０を介して所定のレベルに調整された後、減
算器８３に入力され、減算される。一方、加算器８４か
ら出力される信号とディテクタＣ２から出力される信号
は、各々アンプ９２，９１を介して所定のレベルに調整
された後、減算器８６に入力され、減算される。このよ
うにして得られた減算器８３及び８６からの信号は、各
々減算器８７に入力され、減算される。これによって、
フォーカスエラー信号が得られる。
【００３７】
【発明の効果】以上のように、本発明の光ヘッド装置に
よれば、プリズムを、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に対して
異なる屈折率を呈する複屈折性材料により構成するよう
にしたので、記録媒体に入射する光の消光比を、簡単な
構成で、装置を大型化することなく改善することができ
る。また、部品点数を少なくし、低コスト化を図ること
ができる。
よれば、プリズムを、Ｐ偏光成分とＳ偏光成分に対して
異なる屈折率を呈する複屈折性材料により構成するよう
にしたので、記録媒体に入射する光の消光比を、簡単な
構成で、装置を大型化することなく改善することができ
る。また、部品点数を少なくし、低コスト化を図ること
ができる。
【００３８】また、記録媒体により反射されたレーザ光
を、コリメートレンズを介してフォトディテクタにより
受光するようにした場合、記録媒体を光磁気記録媒体と
すると、フォトディテクタより光磁気記録信号を再生す
ることができる。
を、コリメートレンズを介してフォトディテクタにより
受光するようにした場合、記録媒体を光磁気記録媒体と
すると、フォトディテクタより光磁気記録信号を再生す
ることができる。
【００３９】また、記録媒体とプリズムの間に１／４波
長板を設けた場合においては、レーザダイオードへの戻
り光をきわめて小さくすることができる。
長板を設けた場合においては、レーザダイオードへの戻
り光をきわめて小さくすることができる。
【００４０】また、記録媒体を光磁気記録媒体とし、レ
ーザダイオードのバック光を検出するようにした場合に
おいては、スクープ方式による光磁気信号を再生するこ
とができる。
ーザダイオードのバック光を検出するようにした場合に
おいては、スクープ方式による光磁気信号を再生するこ
とができる。
【００４１】さらに、記録媒体からの反射光を２個のフ
ォトディテクタの中間で一旦集束させ、２個のフォトデ
ィテクタの出力からフォーカスエラー信号を生成するよ
うにした場合においては、より構成の簡略化及び小型化
を図ることができる。
ォトディテクタの中間で一旦集束させ、２個のフォトデ
ィテクタの出力からフォーカスエラー信号を生成するよ
うにした場合においては、より構成の簡略化及び小型化
を図ることができる。
【図１】本発明の光ヘッド装置の第１の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図２】本発明の光ヘッド装置の第２の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図３】本発明の光ヘッド装置の第３の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図４】本発明の光ヘッド装置の第４の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図５】本発明の光ヘッド装置の第５の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図６】本発明の光ヘッド装置の第６の実施例の具体的
構成を示す側面図である。
構成を示す側面図である。
【図７】本発明の光ヘッド装置の図６の光学ブロック６
１の具体的構成を示す側面図である。
１の具体的構成を示す側面図である。
【図８】本発明の光ヘッド装置の図６の光学ブロック６
１の動作原理を説明する動作原理図である。
１の動作原理を説明する動作原理図である。
【図９】本発明の光ヘッド装置の図６の光学ブロック６
１からＲＦ信号及びフォーカスエラー信号を得るための
具体的構成を示す回路図である。
１からＲＦ信号及びフォーカスエラー信号を得るための
具体的構成を示す回路図である。
【図１０】従来の光ヘッド装置の一例の構成を示す側面
図である。
図である。
１ 記録媒体 ２ レーザダイオード ４、１１ アナモルフィックプリズム（ウェッジ形状プ
リズム） ９ フォトディテクタ ２１ 光磁気記録媒体（記録媒体） ２２ 光磁気記録膜 ３１ 記録媒体 ３２ 記録層 ６１ 光学ブロック
リズム） ９ フォトディテクタ ２１ 光磁気記録媒体（記録媒体） ２２ 光磁気記録膜 ３１ 記録媒体 ３２ 記録層 ６１ 光学ブロック
Claims (5)
- 【請求項１】 光学的に情報を記録または再生可能な記
録媒体に照射するレーザ光を出射するレーザダイオード
と、 前記レーザダイオードから出射された前記レーザ光の光
路中に配置され、その断面形状を略円形に整形するよう
にウェッジ形状にされるとともに、Ｐ偏光成分とＳ偏光
成分に対して異なる屈折率を呈する複屈折性材料から構
成されたプリズムとを備えることを特徴とする光ヘッド
装置。 - 【請求項２】 前記記録媒体により反射されたレーザ光
を受光するフォトディテクタと、 前記レーザダイオードより発生されたレーザ光を平行光
にして前記プリズムに出射するとともに、前記プリズム
より出射された前記記録媒体からの反射光を前記フォト
ディテクタに出射するコリメートレンズとをさらに備え
ることを特徴とする請求項１に記載の光ヘッド装置。 - 【請求項３】 前記記録媒体と前記プリズムの間に配置
された１／４波長板ををさらに備えることを特徴とする
請求項２に記載の光ヘッド装置。 - 【請求項４】 前記記録媒体は光磁気記録媒体であり、 前記レーザダイオードのバック光を検出するバック光検
出用フォトディテクタをさらに備えることを特徴とする
請求項４に記載の光ヘッド装置。 - 【請求項５】 前記フォトディテクタは、２個設けら
れ、 前記記録媒体からの反射光が前記２個のフォトディテク
タの中間で前記コリメートレンズにより一旦集束され、 前記２個のフォトディテクタの出力からフォーカスエラ
ー信号が生成されることを特徴とする請求項３に記載の
光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4093507A JPH05266532A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光ヘッド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4093507A JPH05266532A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光ヘッド装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05266532A true JPH05266532A (ja) | 1993-10-15 |
Family
ID=14084266
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4093507A Withdrawn JPH05266532A (ja) | 1992-03-19 | 1992-03-19 | 光ヘッド装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05266532A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6396638B1 (en) | 1999-07-08 | 2002-05-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup device capable of stable tracking |
| KR100480635B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 광픽업 및 쐐기형 빔스프리터 |
| US7251209B2 (en) | 2002-04-30 | 2007-07-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup and a wedge beam splitter |
| CN112254044A (zh) * | 2020-10-29 | 2021-01-22 | 广州明道文化科技集团股份有限公司 | 一种舞台灯光系统 |
-
1992
- 1992-03-19 JP JP4093507A patent/JPH05266532A/ja not_active Withdrawn
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6396638B1 (en) | 1999-07-08 | 2002-05-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup device capable of stable tracking |
| KR100480635B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2005-03-31 | 삼성전자주식회사 | 광픽업 및 쐐기형 빔스프리터 |
| US7251209B2 (en) | 2002-04-30 | 2007-07-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Optical pickup and a wedge beam splitter |
| CN112254044A (zh) * | 2020-10-29 | 2021-01-22 | 广州明道文化科技集团股份有限公司 | 一种舞台灯光系统 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990608 |