JPH05264742A - 金属探知検出器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】 ２つのコイル対の設けられているセンサを用
いて、壁の中にかくれている金属を見付け出してその深
さを求めることのできる金属探知検出器を提供する。 【構成】 コイル対１，１′，２，２′はそれぞれ発振
器３，４と接続されていて、異なる周波数で連続的に振
動する。金属により影響される信号が測定されてさらに
評価のために重み付けされる。強さの表示が金属の位置
を識別させる。かくれている金属のための深さ測定の目
的で、金属の発見後に昇降装置が作動される。金属探知
機を所定の値だけ上昇させる。さらに実施された測定に
より、壁表面への所定の距離変化を考慮して、かくれて
いる金属の深さが算出される。手動操作されるマーキン
グ装置がこの測定の個所を識別する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は請求項１の上位概念に示
された、かくれている金属または通電状態を見つけ出す
ための金属探知検出器に関する。

【０００２】

【従来の技術】ヨーロッパ特許第３６６２２１Ａ２号に
既に金属探知検出器が示されている。この金属探知検出
器のセンサの場合、交差して設けられたコイル対は切り
換えスイッチを用いて交番的に所定の周波数で励磁され
る。かくれている金属をできるだけ全面積にわたるよう
に見つけ出す目的で、センサコイルを回転させる構成も
提案されている。両方の方法は、受信信号の評価のため
に著しく多くの時間を必要とし、そのため例えば著しく
速い運動により一層大きい壁面を走査する時は、かくれ
ている金属は場合により発見されないことがある。回転
するセンサコイルが機械的に損傷しやすいため建築現場
等における過酷な使用に対してはそれほど適さないこと
がわかっている。さらにこの装置が衝撃を受けた時にま
たは高所から地面へ落下した時に、機械装置が容易に損
傷されることがある。

【０００３】ブロッキング発振器の原理で動作し、さら
に金属が現われた時に振動周波数が変化される形式の金
属探知検出器も公知である。振動周波数の変化は金属か
らセンサコイルへの距離に著しく依存するため、感度調
整器が設けられている。この感度調整器により手動でセ
ンサコイルの感度が次のように設定される、即ち金属が
近傍にない時は表示装置が例えば発光ダイオードがちょ
うど遮断され、かつ金属が見つけ出されると直ちに投入
接続されるように、前記の設定が行なわれる。この装置
は動作が著しく不正確である、何故ならばブロッキング
発振器の磁界が著しく広範囲に漂遊し、そのため正確な
位置検出がほとんど行なえないからである。多くの適用
例において感度の手動設定は著しく困難である。この公
知の金属探知検出器は、かくれている金属の深さを検出
できない。

【０００４】さらに電気線路をアンテナを用いて位置検
出することも知られている。この場合、電流導体の電磁
界がアンテナの中に、相応に評価される電圧を発生す
る。もちろん電気導体のおよその位置しか検出可能でな
く、壁または壁構築物におけるその正確な位置は検出で
きない、何故ならば電気導体の電磁界が著しく広範囲に
漂遊するからである。

【０００５】

【発明の解決すべき問題点】本発明の課題は公知の検出
器の前述の欠点を除去した構成を提出することである。

【０００６】

【問題点を解決するための手段】この課題は請求項１の
特徴部分に示された構成により解決されている。

【０００７】

【発明の効果】本発明の利点は、かくれている金属の正
確な位置、方向および深さが検出できる。特に有利に、
受信信号の重み付けによりこの装置の感度が自動的に設
定され、これによりかくれている金属の位置測定が正確
になる。

【０００８】請求項２以下の構成により請求項１の具体
化が可能となる。かくれている金属の位置方向は、小さ
い方の信号の振幅を重み付けにより低減することによ
り、簡単に検出される。その結果、センサの検出信号
は、センサがかくれている金属の側面から離れると、著
しく急峻に低下する。他方、センサ信号は、センサが金
属の方向へ接近すると著しく急峻に上昇する。全体的
に、受信信号の重み付けによりかくれている金属に対す
る著しく正確な位置測定が可能となる。

【０００９】さらに有利に、評価回路は著しくわずかな
市販の部品により有利なコストで製造できる。

【００１０】センサの中心とする線路検出器のリング状
の配置も有利である。これにより電圧案内導体の正確な
位置検出が可能となる。

【００１１】この金属探知検出器はかくれている金属の
深さの測定にも使用できる。これにより例えばコンクリ
ート壁中の鋼鉄格子の場合、この鋼鉄格子の位置だけが
測定されるのではない。深さデータにより鋼鉄格子の近
傍をせん孔するだけでなく、この鋼鉄格子まで直接到達
可能となる。この場合、示された深さにより、このせん
孔過程を、せん孔器が鋼鉄格子に接触することなく、適
切な時点に遮断できる。

【００１２】正確な深さ測定を実施可能にする目的で、
テーブル形式のメモリの中に相応の補正係数が記憶され
ている。測定値にもとづいてマイクロコンピュータが測
定結果に補正係数を作用する。これにより深さ測定は一
層正確になる、何故ならば手数のかかる較正過程が必要
ないからである。金属検知検出器は、横方向へ曲げられ
た把手を有するケーシングを備えており、そのためこの
把手は手で簡単に、検出されるべき表面の上方を案内で
きる。

【００１３】かくれている金属の正確な探知および発見
個所のマーキングの目的で、センサの作用中心に孔がケ
ーシングに設けられており、この孔を通して例えばせん
孔機のせん孔器が案内される、またはこの孔を通ってマ
ーキングを実施できる。この個所に、深さ測定を実施す
る目的で、金属検知器の測定距離の所定の変化を形成す
る吊り上げ装置が設けられる。

【００１４】位置の検出された金属を表示する目的に液
晶表示装置が好適である。これは少なくとも量的にセン
サ信号に相応する帯状体グラフが表示される。金属の存
在の有無に対する付加的な表示は、簡単な色の発光ダイ
オードによりまたは音響信号により出力される。

【００１５】

【実施例】次に本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。

【００１６】図１に示されている様にセンサＳは、２つ
の十字形に設けられたコイル対１−１′および２−２′
を有する。これらのコイル対は互いに９０°の角度を形
成している。コイル対は相応のフエライトロッド上に巻
回されている。これらのロッドはそれらの一方の端部に
おいて円形のまたは長方形のヨークを介して互いに結合
されており、さらにそれらの第２の端部は開いていて測
定面へ向いている。この種のセンサは例えばヨーロッパ
特許第０３６６２２１号に示されている。各々のコイル
対１−１′，２−２′は一方の端部がそれぞれ発振器３
または４と接続されており、第２の端部が共通のアース
へ接続されている。発振器３，４は異なる周波数で、代
表的には６０ＫＨｚと８０ＫＨｚで振動するため、コイ
ル対１−１′，２−２′の中に異なる磁界が発生され
る。これらの磁界は９０°回転された方向で、探知され
るべき金属の方向へ伝播される。金属の無い場合は、発
振器は、この回路装置により前もって定められ較正され
ている所定の振幅で振動する。金属が検知されるとこの
振動は、金属の電気的磁気的な影響にもとづいて減衰さ
れる。振幅の減少として現われるこの減衰は、発振器３
の復調器１においてまたは発振器４の復調器２におい
て、測定される。発振器のおよび復調器の構成それ自体
は公知であるため、詳細な説明は必要とされない。

【００１７】発振器の出力側は評価回路５０と接続され
ている。この評価回路は入力段としてマルチプレクサ５
を有し、これにより発振器３，４の出力側が交番的に走
査検出される。マルチプレクサ５はマイクロプロセッサ
１０により制御され、そのためコイル対１−１′，２−
２′の両方の受信信号が交番的に、後置接続されている
増幅器（インピーダンス変換器）において増幅される。
この場合、増幅された信号は次のような電圧値に相応す
る、即ちその振幅が、探知された金属により発振器の自
由振動振幅よりも減衰された電圧値に相応する。有利な
実施例の場合、発振器電圧と減衰されて受信電圧との差
電圧が求められて記憶される。

【００１８】増幅器６の出力側は信号フィルタ７とアナ
ログディジタル変換器８を介して、マイクロプロセッサ
１０と接続されている。さらにマイクロプロセッサ１０
はディジタル・アナログ変換器９を介して、信号フィル
タ７の別の入力側と接続されている。

【００１９】マイクロプロセッサ１０に、発光ダイオー
ドを有する表示装置がならびに液晶表示装置（ＬＣＤ表
示装置）としての表示装置１２が、接続されている。さ
らに導線検出器１４がアンテナ１４ａと接続されてい
る。深さ測定用の切り換えスイッチ１５がならびに電圧
供給源１３がマイクロプロセッサ１０と接続されてい
る。

【００２０】第２図、第３図に基本的な較正−およ測定
シーケンスの流れ図が示されている。ブロック６０にお
ける装置の投入接続後に金属探知検出器が中空に保持さ
れると、まず最初に自動的に較正モードが進行できる。
この場合、金属の存在しない時の発振器電圧の振幅が測
定される。ブロック６１においてこれらのデータがメモ
リへ読み込まれる。

【００２１】較正過程中にＬＣＤ表示装置（ブロック６
２）において較正モードが表示される（図４，図５，１
８）。較正過程が終了（ブロック６４）されるとＬＣＤ
表示装置１８において較正記号が消える。次にこの装置
はかくれている金属の位置検出のために使用可能とな
り、手動による調整または目盛較正は必要とされない。

【００２２】図２，図３，図４，図５に示されているセ
ンサＳを有する金属探知装置が探知されるべき壁の上方
へ案内されて、金属が発見された時にＬＣＤ表示装置１
８（図４）の上に帯状態ダイヤグラム１９が可視化され
る。帯状体の長さは、金属への距離が小さいほど、大き
い。最大値に達すると即ちセンサがかくれている金属上
に位置すると、赤い発光ダイオードが発光（図９）す
る。他方、金属がセンサＳから離れると、緑の発光ダイ
オード１１が発光する。壁の走査検出の際、金属検出器
ＬＣＤ表示装置１８，１９の最大値が見出だされて同時
に赤い発光ダイオード１１が発光する迄、移動される。
図３の流れ図に示されている様にこのことは、金属の深
さ測定用の金属探知検出器の出発ブロックである。図３
のブロック７０において、金属探知検出壁は今やかくれ
ている金属の上方に位置している。深さ測定の投入接続
の目的で次に図６，図７，図８〜図１０に示されている
装置は、次のように９０°だけ旋回される。即ち昇降装
置４１がセンサを壁から離して、金属探知検出器（ケー
シング４０）と壁との間の間隔を所定の値だけ増加する
ように、旋回される。図６の左の部分には昇降装置４１
が下へ引き出された状態が示されている。他方、この図
の右の部分には、引き込められて休止位置にある状態が
示されている。昇降装置の引き出しは、図示されていな
い、著しく大きいピッチを有するねじを介して行なわれ
る。その結果、９０°の旋回後は壁への距離が例えば
７．５ｍｍだけ拡大される。同時に昇降装置４１の旋回
により、ブロック７１において深さ測定が投入接続され
る。ブロック７２において振幅が新たに測定される。２
つの異なる距離からの測定に基づいてマイクロプロセッ
サは、かくれている金属の深さを物理法則により算出す
る。結果を改善する目的で付加的に、経験的に求められ
たテーブルから補正係数が考慮される。測定電圧の変化
は距離変化だけにではなく、かくれている金属の直径ま
たは質量にも依存するため、かくれている金属の深さに
対して経験的に求められた値が比較テーブルの中に前も
って記憶されている。評価の結果はＬＣＤ表示装置１８
の上に帯状体１９で表示される。深さ測定の際は同時に
ミリメータの値で目盛りが現われる。その結果、帯状体
の長さから、かくれている金属の深さが読み取れる。図
５に示されている実施例の場合、金属は５０ｍｍの深さ
にかくれている。選択された目盛は比較的粗くつけられ
ているため、スケールの一層細かい目盛付けが可能であ
る。

【００２３】同時に導線検出器１４を用いて電気線路が
信号化されると、ＬＣＤ表示装置１８に付加的な警報記
号が例えば閃光の形式で示される。この電気線路は特別
な危険の潜在を表わすため、警報表示が優先的に投入接
続され、そのため安全の理由により以後の後続の検知に
おいては危険は生じ得ない（図５）。深さ測定はこの場
合は遮断される。

【００２４】図８〜図１０に金属探知検出器の平面図、
側面図、および正面図が示されている。ケーシング４０
は中央位置において孔４４を有し、ここを中心として昇
降装置が配置されている。検知装置においては内部にこ
の孔を中心としてコイル対１−１′，２−２′を有する
センサＳが設けられている。ケーシング４０へ、４５°
だけ曲げられた把手４７が続く。この把手は後方端部に
電池シート４５を電圧供給源１３として有する。曲げら
れた把手４７の上に下側に押圧キー４３が設けられてお
り、この押圧キーにより、金属探知装置の投入接続後に
同時に較正過程が作動される。把手４７とケーシング４
０との間の折り曲がり領域に、ＬＣＤ表示装置１２なら
び赤と緑のＬＥＤ１１が設けられている。さらに図６，
図７に示されている様に孔４４にマーキング装置４６が
設けられている。このマーキング装置は、昇降装置４１
の下端において孔４４に同心的に設けられているフエル
トリングを有している。このリングは乾燥しない洗いの
利くマーキングインクで湿めされている。マーキング装
置４６は上方から手で操作可能であり壁表面に、かくれ
ている金属の検知されたちょうどその領域の中に刻印を
残す。

【００２５】ケーシングの内部において、孔４４に同心
的にリング状の電極が設けられている。この電極は導線
検出器１４と接続されており、さらにアンテナ１４ａと
して、電圧案内用線路の電界の検出のために作動する。
孔４４を中心とするリング状の配置により、電気線路の
位置が著しく正確に固定可能となる。リング状電極は、
金属からまたは導電性のインキ付着により形成されてい
る。

【００２６】次にこの回路の動作を説明する。振動形成
の目的で発振器３，４は損失係数のわずかな並列コンデ
ンサを有する。コイル対−１′，２−２′により構成さ
れた振動回路は、発振器周波数を形成するための比較器
およびメモリにより形成されている。両方のチャンネル
の各々は、受信信号を復調する目的でダイオードとコン
デンサ−抵抗回路網を有し、この回路網により発振器電
圧から等価の直流電圧が取り出される。両方のチャンネ
ルのこの直流電圧はマイクロプロセッサ１０の監視の下
に、マルチプレクサ５、増幅器６および信号フィルタを
介してアナログ・ディジタル変換器８へ導びかれる。ア
ナログ・ディジタル変換器として１２ビット変換器が用
いられる。ディジタル化された電圧に応じてマイクロプ
ロセッサ１０がデジタル・アナログ変換器９を介して、
オフセット電圧を信号フィルタ７の比較器へ送出する。
このオフセット電圧は、求められた直流電圧価が常時、
ディジタル・アナログ変換器８に適する測定範囲におい
て処理されるように、作動する。

【００２７】コイル対１−１′および２−２′の両方の
直流電圧は平均値形成により１つの電圧値へまとめられ
る。平均値形成の際に当然、両方の電圧値の重み付けが
行なわれる。この場合、小さい方の信号が、係数０＞Ｋ
＜１を乗算され、その結果、大きい方の信号が小さい方
の信号よりも著しく大きく重み付けされることによりＫ
＝０．３の場合に電圧信号の有利な重み付けが存在する
ことが、示されている。重み付けされた信号と重み付け
されない信号とから平均値が形成される。この平均値
は、金属が近傍に存在するか否かに対する尺度である。
この重み付けされた平均値はＬＣＤ表示装置において、
準アナログ値として帯状体の形式で表示される。重み付
けされた平均値ではなく、重み付けされた信号と重み付
けされない信号との差を、金属の存在に対する指標とし
て用いることもできる。

【００２８】次に深さ測定を説明する。深さ測定の原理
は２つの測定を実施することによる。この場合、金属探
知検出器が第２の測定のために、探知されるべき壁の表
面から所定の間隔だけ持ち上げられる。信号変化−これ
は、距離変化の際に金属探知装置の横方向運動をさせる
ことなく、形成される−により、基準値が得られ、これ
によりかくれている金属の深さが求められる。

【００２９】発振器３と４が所定の、周波数で例えば６
０ＫＨｚと８０ＫＨｚで連続的に振動する。異なる周波
数により両方の発振器信号の相互の干渉が回避される。
発振器３，４の連続的な振動により有利に、振動回路に
対するオン・オフ切り換え時間がなくなる。他方、それ
にもかかわらず異なる周波数により振動信号が容易に区
別可能となる。連続的な振動により安定性の問題が一層
小さくなり、その結果、測定が全体的に一層正確にな
る。

【００３０】深さ測定の場合、まず最初に第１の測定が
実施される。この第１の測定においては、引き込められ
ている昇降装置４１によりかくれている金属は最大の信
号表示が検出される位置（ＬＣＤ表示装置またはＬＣＤ
装置）が見出される迄、サーチされる。この位置の下方
に、かくれている金属が存在する。この場合、前述の方
法により、第１の測定が重み付けされる。続いて昇降装
置４１のレバーが９０°旋回されて、昇降装置が金属発
見検出器を所定の値だけ例えば７．５ｍｍだけ壁から離
す。この場合、注意すべきことは、金属探知検出器を壁
の上で横方向へ移動させないことである。昇降装置の持
ち上げ後に自動的にスイッチ接点が閉じられ、これによ
り第２の測定が開始される。マイクロコンピュータ１０
が両方の測定を比較して、間隔７．５ｍｍと重み付けら
れた測定値の変化にもとづいて、例えば既知の物理公式
により、かくれている金属の深さを算出し、さらにこの
測定値を帯状体１９でＬＣＤ表示装置１８に表示する。
この場合、同時にミリメータ目盛がＬＣＤ表示装置１８
の上に現われる。深さを求めるために経験的に求められ
たテーブルを用いることもできる。このことは通常は一
層簡単である、何故ならば記憶されているデータを用い
て非直線性が簡単に補償できるからである。

【００３１】有利であると示されていることは、作動電
圧が所定の時間間隔後に自動的に遮断され、そのためこ
れにより電池の寿命が長くされることである。

【００３２】深さ測定が実施された後にマーキング装置
４６により測定個所が、円形のまたは類似のマーキング
により識別できる。この目的でマーキング装置の上部が
押圧される。そのため刻印器が引き出され、これが壁の
表面へマーキングを刻印する。マーキングされた個所は
続いて著しく容易に識別できる。

【００３３】深さ測定の後に昇降装置４１が再び基本位
置へ帰還旋回され、その結果、金属探知装置が新たな測
定に対して使用可能になる。

【００３４】センサＳにおける中央の孔４４を通して測
定孔が直接のぞけるため、壁の表面に存在することのあ
る金属部分が例えばくぎの頭が簡単に検出できて不所望
の測定結果を生ぜさせない。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の回路装置のブロック図である。

【図２】探知シーケンスの流れ図である。

【図３】検知シーケンスの流れ図である。

【図４】ディスプレー装置の図である。

【図５】ディスプレー装置の図である。

【図６】昇降装置を有する金属探知器のケーシングの部
分図である。

【図７】昇降装置を有する金属探知器のケーシングの部
分図である。

【図８】金属探知器のケーシングの平面図である。

【図９】金属探知器のケーシングの側面図である

【図１０】金属探知器のケーシングの側面図である。

【符号の説明】

１，１′，２，２′ コイル対 ２ 復調器 ３，４ 発振器 ５ マルチプレクサ ６ 増幅器 ７ 信号フィルタ ８ アナログ・ディジタル変換器 ９ ディジタル・アナログ変換器 １０ マイクロプロセッサ １１ 表示装置 １３ 電圧供給装置 １４ 線路検出器 １８ ＬＣＤ表示装置 １９ 帯状体 ４０ ケーシング ４１ 吊り上げ装置 ４４ 孔 ４５ 電池シート ４６ マーキング装置 ４７ 把手

Claims (18)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 非金属の物体の中にかくれている金属を
   探知するための金属探知検出器であって、該検出器は２
   つの交差状に配置されたコイル対を有する少なくとも１
   つのセンサを備えており、該コイル対の中を、かくれて
   いる金属の方向に向かうかつこの金属により影響される
   磁界を発生させる交流電流が流れ、さらに前記検出器
   は、該磁界の変化を検出して表示装置に表示するように
   構成されている評価回路を備えている、検出器におい
   て、 ａ）それぞれ、センサ（Ｓ）のコイル対（１−１′，２
   −２）が発振器（３，４）と接続されており、 ｂ）異なる周波数を有する２つの発振器（３，４）が連
   続的に振動し、 ｃ）評価回路（５）が、２つのコイル対（１−１′，２
   −２′）により受信される信号を少なくとも部分的に重
   み付け係数で重み付けして１つの重み付けされた測定信
   号へ合成し、さらに ｄ）前記評価回路が、前記重み付けされた測定信号の変
   化を、金属の発見に対するインジケータとして表示装置
   の上に送出することを特徴とする金属探知検出器。
2. 【請求項２】 小さい方の振幅を有する受信信号に対す
   る重み付けを係数Ｏ＜Ｋ＜１で実施するように、評価回
   路（５０）が構成されている、請求項１記載の金属探知
   検出器。
3. 【請求項３】 評価回路(５０)が、次の回路部材のうち
   の少なく１つを有している、即ちマルチプレクサ(５)、
   増幅器（６）、信号フィルタ（７）、アナログ・ディジ
   タル変換器（８）および／またはマイクロコンピュータ
   （１０）のうちの少なくとも１つを有している、請求項
   １又は２記載の金属探知検出器。
4. 【請求項４】 電圧案内用線路を検出するための線路検
   出器（１４）が設けられており、該検出器はセンサ
   （Ｓ）の中心のまわりにリング状に設けられている、請
   求項１から３までのいずれか１項記載の金属探知検出
   器。
5. 【請求項５】 評価回路（５０）が、かくれている金属
   を少なくとも次のステップで求めるように構成されてお
   り、即ち ａ）第１の測定過程においてかくれている金属の位置を
   検出して第１測定値を記憶するステップ、 ｂ）かくれている金属へセンサ(５)のまたは金属探知検
   出器の距離を所定の値だけ変化した後に、第２の測定過
   程を実施して第２測定値を記憶するステップ、 ｃ）両方の測定値の間の差を算出するステップ、 ｄ）両方の測定値および距離変化からのかくれている金
   属の深さの算出を、所定のアルゴリズムにより実施する
   ステップで求める、請求項１から４までのいずれか１項
   記載の金属探知検出器。
6. 【請求項６】 かくれている金属の深さ算出のための値
   が、評価回路（５０）のメモリの中にファイルされてい
   る請求項５記載の金属探知検出器。
7. 【請求項７】 測定信号に影響を与えるパラメータに対
   する補正係数がメモリの中にファイルされている請求項
   ５又は６記載の金属探知検出器。
8. 【請求項８】 補正係数が測定信号の補正のために用い
   られる、請求項５から７までのいずれか１項記載の金属
   探知検出器。
9. 【請求項９】 少なくとも１つのセンサ（Ｓ，１４ａ）
   が、把手（４７）を有するケーシング（５０）の中に設
   けられている、請求項１から８までのいずれか１項記載
   の金属探知検出器。
10. 【請求項１０】 把手（４７）がケーシング（４０）に
    対して横方向へ曲げられている、請求項９記載の金属探
    知検出器。
11. 【請求項１１】 ケーシング（４０）において、少なく
    とも１つのセンサ（Ｓ）の作用の中心に孔（４４）が設
    けられている、請求項１から１０までのいずれか１項記
    載の金属探知検出器。
12. 【請求項１２】 ケーシング（４０）がセンサ（Ｓ）の
    領域に、被測定体への測定距離を所定のように変化させ
    る昇降装置を有する、請求項１から１１までのいずれか
    １項記載の金属探知検出器。
13. 【請求項１３】 ケーシング(４０)が孔(４４)の領域に
    マーキング装置（４６）を有する、請求項１から１２ま
    でのいずれか１項記載の金属探知検出器。
14. 【請求項１４】 ケーシング（４０）が複数個の測定領
    域（１６〜２０）を有するＬＣＤ表示装置（１２）を備
    えている、請求項１から１３までのいずれか１項記載の
    金属探知検出器。
15. 【請求項１５】 ＬＣＤ表示装置（１２）は、金属の位
    置検出中に、金属への距離に比例する信号を表示する、
    請求項１４記載の金属探知検出器。
16. 【請求項１６】 深さ測定の結果がＬＣＤ表示装置（１
    ８）の正規化された目盛（１９）の上に送出される、請
    求項１４又は１５記載の金属探知検出器。
17. 【請求項１７】 線路検出器（１４）が設けられてお
    り、該線路検出器は通電状態を検出すると、音響警報信
    号をおよび／または表示警報を送出する、請求項１から
    は１６までのいずれか１項記載の金属探知検出器。
18. 【請求項１８】 警報信号をおよび／または表示警報を
    金属の深さ測定の前に優先的に送出する、請求項１７記
    載の金属探知検出器。