JPH05264698A - Squid測定装置 - Google Patents
Squid測定装置Info
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- JPH05264698A JPH05264698A JP4285330A JP28533092A JPH05264698A JP H05264698 A JPH05264698 A JP H05264698A JP 4285330 A JP4285330 A JP 4285330A JP 28533092 A JP28533092 A JP 28533092A JP H05264698 A JPH05264698 A JP H05264698A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/02—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
- G01R33/035—Measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux using superconductive devices
- G01R33/0354—SQUIDS
- G01R33/0356—SQUIDS with flux feedback
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Superconductor Devices And Manufacturing Methods Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 直流SQUID2を有するSQUID測定装
置であって、出力信号のなかの雑音成分を低減するた
め、SQUIDを通って流れるバイアス電流Ibを変調
するための手段5と、測定磁束Φeに対して追加的にS
QUIDのなかに入結合される追加磁束Φmを変調する
ための手段12とが設けられており、その際に両変調が
等しい周波数および等しい波形の変調信号Ib、Imによ
り行われるSQUID測定装置を簡単化する。 【構成】 1つの周期のなかで短時間のみ占められる2
つの極値の間を連続的に延びる曲線を有する周期的な変
調信号Ib、Imが用いられている。
置であって、出力信号のなかの雑音成分を低減するた
め、SQUIDを通って流れるバイアス電流Ibを変調
するための手段5と、測定磁束Φeに対して追加的にS
QUIDのなかに入結合される追加磁束Φmを変調する
ための手段12とが設けられており、その際に両変調が
等しい周波数および等しい波形の変調信号Ib、Imによ
り行われるSQUID測定装置を簡単化する。 【構成】 1つの周期のなかで短時間のみ占められる2
つの極値の間を連続的に延びる曲線を有する周期的な変
調信号Ib、Imが用いられている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、直流SQUIDを有す
るSQUID測定装置であって、出力信号のなかの雑音
成分を低減するため、SQUIDを通って流れるバイア
ス電流を変調するための手段と、測定磁束に対して追加
的にSQUIDのなかに入結合される追加磁束を変調す
るための手段とが設けられており、その際に両変調が等
しい周波数および等しい波形の変調信号により行われる
SQUID測定装置に関する。相応の変調を有するSQ
UID測定装置は刊行物“IEEE Trans.Ma
gn.”、第MAG‐23巻、第2号、1987年5
月、第1150〜1153頁に記載されている。
るSQUID測定装置であって、出力信号のなかの雑音
成分を低減するため、SQUIDを通って流れるバイア
ス電流を変調するための手段と、測定磁束に対して追加
的にSQUIDのなかに入結合される追加磁束を変調す
るための手段とが設けられており、その際に両変調が等
しい周波数および等しい波形の変調信号により行われる
SQUID測定装置に関する。相応の変調を有するSQ
UID測定装置は刊行物“IEEE Trans.Ma
gn.”、第MAG‐23巻、第2号、1987年5
月、第1150〜1153頁に記載されている。
【0002】
【従来の技術】超伝導量子干渉計、いわゆるSQUID
は特にそれらにより発生される信号の雑音成分の制限を
顧慮して直流(DC)SQUIDとして構成され得る。
相応のSQUIDは主構成部分として、2つのジョセフ
ソン素子が一体に組み入れられている超伝導ループを含
んでいる。このループを介して一般に、SQUIDの電
流‐電圧特性を特定のレベルにおくべきいわゆるバイア
ス電流が導かれる。さらに、SQUIDのなかの動作点
を安定化するため、DC‐SQUIDを磁束を一定に保
つ回路(“フラックス‐ロックループ”)のなかで作動
させるのが一般に通常である。それはフィードバック信
号に起因する磁束のSQUID中への誘導的な入結合に
関する問題である。フィードバック信号はその際にSQ
UIDの後に配置されている増幅器、一般にロックイン
増幅器の出力端から取り出される。このフィードバック
信号フローはSQUIDに、検出すべき入力信号により
生ぜしめられる測定磁束に対して追加的に供給される。
は特にそれらにより発生される信号の雑音成分の制限を
顧慮して直流(DC)SQUIDとして構成され得る。
相応のSQUIDは主構成部分として、2つのジョセフ
ソン素子が一体に組み入れられている超伝導ループを含
んでいる。このループを介して一般に、SQUIDの電
流‐電圧特性を特定のレベルにおくべきいわゆるバイア
ス電流が導かれる。さらに、SQUIDのなかの動作点
を安定化するため、DC‐SQUIDを磁束を一定に保
つ回路(“フラックス‐ロックループ”)のなかで作動
させるのが一般に通常である。それはフィードバック信
号に起因する磁束のSQUID中への誘導的な入結合に
関する問題である。フィードバック信号はその際にSQ
UIDの後に配置されている増幅器、一般にロックイン
増幅器の出力端から取り出される。このフィードバック
信号フローはSQUIDに、検出すべき入力信号により
生ぜしめられる測定磁束に対して追加的に供給される。
【0003】低雑音の周波数範囲内でSQUIDの後に
配置されている増幅器が動作するために、さらに、SQ
UIDにおいて生ぜしめられる電圧信号が予め定められ
た搬送周波数または変調周波数の上に載せられ得る。そ
の場合、測定信号成分を、擾乱信号が少ない他の周波数
帯域にもたらし、またこうして擾乱および測定信号の電
子的分離を行うことが可能である。そのために必要な発
生器を有する発振器部分は、誘導作用により追加磁束と
してSQUIDのなかに入結合される相応の変調信号を
発生する。多重に変調信号がフィードバック枝路のなか
に供給され、またこうしてフィードバック信号に重畳さ
れる。変調のために用いられる追加磁束はこうしてフィ
ードバック信号をも含んでいる(たとえば“IEEE
Trans.Electron Dev.”、第ED‐
27巻、第10号、1980年10月、第1896〜1
908頁を参照)。
配置されている増幅器が動作するために、さらに、SQ
UIDにおいて生ぜしめられる電圧信号が予め定められ
た搬送周波数または変調周波数の上に載せられ得る。そ
の場合、測定信号成分を、擾乱信号が少ない他の周波数
帯域にもたらし、またこうして擾乱および測定信号の電
子的分離を行うことが可能である。そのために必要な発
生器を有する発振器部分は、誘導作用により追加磁束と
してSQUIDのなかに入結合される相応の変調信号を
発生する。多重に変調信号がフィードバック枝路のなか
に供給され、またこうしてフィードバック信号に重畳さ
れる。変調のために用いられる追加磁束はこうしてフィ
ードバック信号をも含んでいる(たとえば“IEEE
Trans.Electron Dev.”、第ED‐
27巻、第10号、1980年10月、第1896〜1
908頁を参照)。
【0004】このように作動させられるDC‐SQUI
D、従ってまたこのようなSQUIDを有する装置は、
後に配置されている増幅器部分から取り出すべき出力信
号のなかに、いわゆる1/f雑音に帰せられる雑音成分
を呈する。それは周波数fに関してほぼスペクトル1/
fエネルギー分布を示す低周波雑音である。この雑音の
原因は特にDC‐SQUIDのジョセフソン素子のなか
の動揺である(“Journ.of Low Tem
p.Phys.”、第51巻、第1/2号、第207〜
224頁を参照)。
D、従ってまたこのようなSQUIDを有する装置は、
後に配置されている増幅器部分から取り出すべき出力信
号のなかに、いわゆる1/f雑音に帰せられる雑音成分
を呈する。それは周波数fに関してほぼスペクトル1/
fエネルギー分布を示す低周波雑音である。この雑音の
原因は特にDC‐SQUIDのジョセフソン素子のなか
の動揺である(“Journ.of Low Tem
p.Phys.”、第51巻、第1/2号、第207〜
224頁を参照)。
【0005】この1/f雑音を低減するべく、冒頭に記
載した文献“IEEE Trans.Magn.”に
は、磁束変調を有するDC‐SQUIDの特別な作動の
仕方が記載されている。この作動の仕方はSHAD(第
2調波検出)と呼ばれている。そのためにバイアス電流
の変調と、およびそれぞれの変調信号の統一的な変調周
波数および統一的な形態を有する追加磁束の変調とが行
われている。
載した文献“IEEE Trans.Magn.”に
は、磁束変調を有するDC‐SQUIDの特別な作動の
仕方が記載されている。この作動の仕方はSHAD(第
2調波検出)と呼ばれている。そのためにバイアス電流
の変調と、およびそれぞれの変調信号の統一的な変調周
波数および統一的な形態を有する追加磁束の変調とが行
われている。
【0006】公知のSQUID測定装置では、それぞれ
の変調信号の波形として、振動周期あたり比較的大きい
滞在時間を有する(追加磁束の3/4Φ0、1/4Φ0お
よび1/2Φ0における)3つの離散的な振動振幅レベ
ルが生ずるような波形が用いられている。その場合、S
QUIDの後に配置されているロックイン増幅器の出力
端から2倍の変調周波数を有する出力または参照信号が
得られる。それに応じてバイアス電流変調および追加磁
束変調のための相応の発振器の電子的回路費用は高い。
の変調信号の波形として、振動周期あたり比較的大きい
滞在時間を有する(追加磁束の3/4Φ0、1/4Φ0お
よび1/2Φ0における)3つの離散的な振動振幅レベ
ルが生ずるような波形が用いられている。その場合、S
QUIDの後に配置されているロックイン増幅器の出力
端から2倍の変調周波数を有する出力または参照信号が
得られる。それに応じてバイアス電流変調および追加磁
束変調のための相応の発振器の電子的回路費用は高い。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、冒頭
に記載した特徴を有するSQUID測定装置を簡単化す
ることである。
に記載した特徴を有するSQUID測定装置を簡単化す
ることである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この課題は、本発明によ
れば、1つの周期のなかで短時間のみ占められる2つの
極値の間を連続的に延びる曲線を有する周期的な変調信
号が用いられていることにより解決される。
れば、1つの周期のなかで短時間のみ占められる2つの
極値の間を連続的に延びる曲線を有する周期的な変調信
号が用いられていることにより解決される。
【0009】ヨーロッパ特許第 B-0053625号明細書から
同じく、DC‐SQUIDのバイアス電流のみのAC変
調を有するSQUID測定装置は公知である。しかし、
この測定装置では相い異なる周波数を有する多くの変調
器が必要とされる。そのために設けるべき電子回路は著
しく高価である。
同じく、DC‐SQUIDのバイアス電流のみのAC変
調を有するSQUID測定装置は公知である。しかし、
この測定装置では相い異なる周波数を有する多くの変調
器が必要とされる。そのために設けるべき電子回路は著
しく高価である。
【0010】それにくらべて、本発明による措置と結び
付けられる利点はまさに、非常に簡単な電子式発振器
(発生器)によりSHAD法に相応する変調器が得られ
ることにある。本発明による測定装置の変調信号はその
ためにダイアグラムにおいて、各周期のなかで最大レベ
ルおよび最小レベルを公知のSHAD法と異なり短時間
のみ、すなわち周期継続時間の本質的でない部分の間の
みを占め、またこれらの極値を連続的な曲線形状を介し
て結ぶ時間に関係する曲線経過を示さなければならな
い。相応の特に簡単に実現される曲線形状は正弦波また
はのこぎり波である。
付けられる利点はまさに、非常に簡単な電子式発振器
(発生器)によりSHAD法に相応する変調器が得られ
ることにある。本発明による測定装置の変調信号はその
ためにダイアグラムにおいて、各周期のなかで最大レベ
ルおよび最小レベルを公知のSHAD法と異なり短時間
のみ、すなわち周期継続時間の本質的でない部分の間の
みを占め、またこれらの極値を連続的な曲線形状を介し
て結ぶ時間に関係する曲線経過を示さなければならな
い。相応の特に簡単に実現される曲線形状は正弦波また
はのこぎり波である。
【0011】本発明による測定装置の有利な実施態様は
請求項2以下にあげられている。
請求項2以下にあげられている。
【0012】
【実施例】以下、図面に示されている実施例により本発
明を一層詳細に説明する。
明を一層詳細に説明する。
【0013】図1に概要を示されているDC‐SQUI
Dの回路は公知のフラックスロックループから出発して
おり、その際にSHAD原理に相応する変調方法がとら
れている。回路は本発明にとって重要ないくつかの部分
のみを示している。相応の測定装置の作動のために必要
な他の部分は一般に知られており、従って図示されてい
ない。低温の作動温度に保つべき部分を有する低温範囲
Kは破線により示されている。
Dの回路は公知のフラックスロックループから出発して
おり、その際にSHAD原理に相応する変調方法がとら
れている。回路は本発明にとって重要ないくつかの部分
のみを示している。相応の測定装置の作動のために必要
な他の部分は一般に知られており、従って図示されてい
ない。低温の作動温度に保つべき部分を有する低温範囲
Kは破線により示されている。
【0014】回路は、そのSQUIDループ3のなかに
2つのジョセフソン素子4aおよび4bを含んでいるD
C‐SQUID2を示している。SQUIDを経て、R
C回路6を介してSQUID2に接続されているAC発
振器5のバイアス電圧Vbに基づいて生ずる特別な曲線
形状を有するバイアス電流Ibが導かれている。SQU
IDから取り出すべき電圧信号Vsは整合回路網7を介
して増幅器部分8に供給されている。この増幅器部分の
後にロックイン増幅器9が位相感知検出器として配置さ
れている。この増幅器は公知の仕方で図面には示されて
いない電子回路に爾後処理のために供給される出力信号
Vaを発生する。
2つのジョセフソン素子4aおよび4bを含んでいるD
C‐SQUID2を示している。SQUIDを経て、R
C回路6を介してSQUID2に接続されているAC発
振器5のバイアス電圧Vbに基づいて生ずる特別な曲線
形状を有するバイアス電流Ibが導かれている。SQU
IDから取り出すべき電圧信号Vsは整合回路網7を介
して増幅器部分8に供給されている。この増幅器部分の
後にロックイン増幅器9が位相感知検出器として配置さ
れている。この増幅器は公知の仕方で図面には示されて
いない電子回路に爾後処理のために供給される出力信号
Vaを発生する。
【0015】SQUIDループ3のなかに結合コイル1
0を介して誘導作用により入結合すべき、検出された入
力信号に由来する測定磁束Φeは変調された追加磁束Φm
により重畳されていなければならない。そのために変調
発振器12がRC回路13を介して、SQUIDループ
3に対応付けるべき変調コイル14に接続されている。
これらのコイルを通る変調電流Imには、ロックイン増
幅器9の出力端から取り出されるフィードバック信号の
電流Ifも重畳され得る。しかし場合によっては、それ
から隔離されたフィードバックを行うことも可能である
(“Journ.of Low Temp.Phy
s.”、第25巻、第1/2号、1976年、第99〜
144頁、特に第122頁を参照)。本発明によれば、
発振器5および12から発生すべき電圧信号Vbまたは
Vmは同一の周波数および同一の特別な波形を有する。
従って、両発振器に対して単一の発生器を設けることも
有利に可能である。特別な波形は電圧‐時間ダイアグラ
ムのなかで2つの極値の間を連続的に延びている時間に
関係する周期的な曲線経過を示すべきである。さらに曲
線は1つの周期のなかで短時間のみ極値に滞在すべきで
ある。これらの条件は特に曲線経過の正弦波形状または
のこぎり波形状により満足され得る。上記の両曲線形状
の重畳から成る混合形状も適している。市販の発振器に
よる正弦波形状は非常に容易に実現され得るので、本発
明による測定装置の以後の説明に対してはこのような曲
線形状が前提とされる。
0を介して誘導作用により入結合すべき、検出された入
力信号に由来する測定磁束Φeは変調された追加磁束Φm
により重畳されていなければならない。そのために変調
発振器12がRC回路13を介して、SQUIDループ
3に対応付けるべき変調コイル14に接続されている。
これらのコイルを通る変調電流Imには、ロックイン増
幅器9の出力端から取り出されるフィードバック信号の
電流Ifも重畳され得る。しかし場合によっては、それ
から隔離されたフィードバックを行うことも可能である
(“Journ.of Low Temp.Phy
s.”、第25巻、第1/2号、1976年、第99〜
144頁、特に第122頁を参照)。本発明によれば、
発振器5および12から発生すべき電圧信号Vbまたは
Vmは同一の周波数および同一の特別な波形を有する。
従って、両発振器に対して単一の発生器を設けることも
有利に可能である。特別な波形は電圧‐時間ダイアグラ
ムのなかで2つの極値の間を連続的に延びている時間に
関係する周期的な曲線経過を示すべきである。さらに曲
線は1つの周期のなかで短時間のみ極値に滞在すべきで
ある。これらの条件は特に曲線経過の正弦波形状または
のこぎり波形状により満足され得る。上記の両曲線形状
の重畳から成る混合形状も適している。市販の発振器に
よる正弦波形状は非常に容易に実現され得るので、本発
明による測定装置の以後の説明に対してはこのような曲
線形状が前提とされる。
【0016】図2にはDC‐SQUIDの電流(Is)
‐電圧(Vs)特性が著しく簡単化して示されている。
このSQUIDを介して図3により正弦波状のバイアス
電流Ibが導かれるべきである。この電流に基づいて次
いで、図2中に太い線で記入されている曲線部分が両方
向に延びている。その際にImaxおよび−Imaxはバイア
ス電流の波高値、I0は特定の磁束バイアスにおけるS
QUIDの臨界電流、またVmaxおよび−VmaxはSQU
ID電圧の最大値である。図4には、図3によるバイア
ス電流からSQUIDに生ずる相応の電圧特性Vsが示
されている。この図から明らかなように、電圧Vsは3
つの少なくとも十分に離散的な電圧レベルをVmax、−
VmaxおよびV0(電圧の零値)において占める。
‐電圧(Vs)特性が著しく簡単化して示されている。
このSQUIDを介して図3により正弦波状のバイアス
電流Ibが導かれるべきである。この電流に基づいて次
いで、図2中に太い線で記入されている曲線部分が両方
向に延びている。その際にImaxおよび−Imaxはバイア
ス電流の波高値、I0は特定の磁束バイアスにおけるS
QUIDの臨界電流、またVmaxおよび−VmaxはSQU
ID電圧の最大値である。図4には、図3によるバイア
ス電流からSQUIDに生ずる相応の電圧特性Vsが示
されている。この図から明らかなように、電圧Vsは3
つの少なくとも十分に離散的な電圧レベルをVmax、−
VmaxおよびV0(電圧の零値)において占める。
【0017】図5ないし図9のダイアグラム中に示され
ている曲線は、図1に相応する回路を有する冒頭に記載
した“IEEE Trans.Magn.”の文献によ
る公知の測定装置において前提とすべき関係を示す。こ
れらの図面中では従来の技術であることを示すために、
それぞれの縦軸に追加的に“´”が付されている。
ている曲線は、図1に相応する回路を有する冒頭に記載
した“IEEE Trans.Magn.”の文献によ
る公知の測定装置において前提とすべき関係を示す。こ
れらの図面中では従来の技術であることを示すために、
それぞれの縦軸に追加的に“´”が付されている。
【0018】図5は時間に関係するバイアス電流Ib'の
曲線形状を示す。振動周期Tの継続時間中に電流Ib'は
3つの離散的レベル(ステップ)Imax'、I0'および−
Ima x'を占める。
曲線形状を示す。振動周期Tの継続時間中に電流Ib'は
3つの離散的レベル(ステップ)Imax'、I0'および−
Ima x'を占める。
【0019】図6によれば、SQUIDのなかに入結合
される追加磁束Φm'も相応に変調されているべきであ
る。すなわち同一の3段の曲線形状を有するべきであ
る。3つの離散的なレベルはその際に(3/4)・
Φ0、(1/4)Φ0および(1/2)Φ0に位置してい
る。
される追加磁束Φm'も相応に変調されているべきであ
る。すなわち同一の3段の曲線形状を有するべきであ
る。3つの離散的なレベルはその際に(3/4)・
Φ0、(1/4)Φ0および(1/2)Φ0に位置してい
る。
【0020】図7はこの追加磁束に基づいてSQUID
から取り出すべき電圧Vs *'を示す。特別な磁束Φeはそ
の際にSQUIDのなかに入結合されていてはならな
い。
から取り出すべき電圧Vs *'を示す。特別な磁束Φeはそ
の際にSQUIDのなかに入結合されていてはならな
い。
【0021】しかし、図7の基礎となっている関係に対
して追加的に測定磁束Φeの予め定められた値がとられ
ると、図8中に示されている電圧曲線Vs'の経過が生ず
る。
して追加的に測定磁束Φeの予め定められた値がとられ
ると、図8中に示されている電圧曲線Vs'の経過が生ず
る。
【0022】図9には、測定磁束Φeのみに帰せられる
べき、SQUID信号Vs'における信号成分Ve'のその
場合に得るべき経過が示されている。この信号成分はこ
うして測定信号に相応する。曲線5ないし8の振動周期
Tとの比較から、この信号成分Ve'の振動周期が半分の
長さ(T/2)に過ぎないこと、すなわちこの信号成分
が変調信号の2倍の周波数を有することは明らかであ
る。
べき、SQUID信号Vs'における信号成分Ve'のその
場合に得るべき経過が示されている。この信号成分はこ
うして測定信号に相応する。曲線5ないし8の振動周期
Tとの比較から、この信号成分Ve'の振動周期が半分の
長さ(T/2)に過ぎないこと、すなわちこの信号成分
が変調信号の2倍の周波数を有することは明らかであ
る。
【0023】図5ないし図9のダイアグラム中に示され
ている、公知のSQUID測定装置に対して生ずる曲線
経過に、本発明による測定装置に対する相応の曲線が図
10ないし図14に対比して示されている。図2ないし
図4により説明した理由から特に正弦状のバイアス電流
Ib(図10参照)およびSQUIDにおける追加磁束
Φmの正弦状の変調(図11参照)は、少なくともほぼ
公知のSHAD法によるもの(図7参照)に相応する電
圧信号Vs *(図12参照)に通ずる。変調周波数はその
際にSQUIDの構成形態およびそれと結び付けられる
測定装置の構成部分に応じて数100HzとMHz範囲
との間、一般に10kHzと500kHzとの間に位置
している。SQUID電圧Vs(図13)における測定
磁束Φeの顧慮のもとに次いで同じく倍増された変調周
波数を有する測定信号成分Veが得られる(図14)。
出力信号Va(図1参照)は次いでこの比較的高い周波
数によっても変調される。倍増された周波数は特に簡単
に実現するのに確かに有利である(図10ないし図14
参照)が、場合によってはSQUIDはその特性曲線の
非直線性のゆえに、変調周波数の2倍よりも高い周波数
の信号または信号成分を発生する。
ている、公知のSQUID測定装置に対して生ずる曲線
経過に、本発明による測定装置に対する相応の曲線が図
10ないし図14に対比して示されている。図2ないし
図4により説明した理由から特に正弦状のバイアス電流
Ib(図10参照)およびSQUIDにおける追加磁束
Φmの正弦状の変調(図11参照)は、少なくともほぼ
公知のSHAD法によるもの(図7参照)に相応する電
圧信号Vs *(図12参照)に通ずる。変調周波数はその
際にSQUIDの構成形態およびそれと結び付けられる
測定装置の構成部分に応じて数100HzとMHz範囲
との間、一般に10kHzと500kHzとの間に位置
している。SQUID電圧Vs(図13)における測定
磁束Φeの顧慮のもとに次いで同じく倍増された変調周
波数を有する測定信号成分Veが得られる(図14)。
出力信号Va(図1参照)は次いでこの比較的高い周波
数によっても変調される。倍増された周波数は特に簡単
に実現するのに確かに有利である(図10ないし図14
参照)が、場合によってはSQUIDはその特性曲線の
非直線性のゆえに、変調周波数の2倍よりも高い周波数
の信号または信号成分を発生する。
【0024】図1による回路図によれば、本発明による
測定装置において、図示されていないループ装置(マグ
ネトメータまたはグラディオメータ)により検出された
入力信号が測定磁束Φeとして誘導作用によりSQUI
Dループ3のなかに入結合される。しかしSQUIDは
ループ装置の集積化された構成部分であ得る(たとえば
“IEEE Trans.Magn.”、第MAG‐1
9巻、第3号、1983年5月、第648〜651
頁)。
測定装置において、図示されていないループ装置(マグ
ネトメータまたはグラディオメータ)により検出された
入力信号が測定磁束Φeとして誘導作用によりSQUI
Dループ3のなかに入結合される。しかしSQUIDは
ループ装置の集積化された構成部分であ得る(たとえば
“IEEE Trans.Magn.”、第MAG‐1
9巻、第3号、1983年5月、第648〜651
頁)。
【0025】さらに、同様に良好に、変調された追加磁
束を直接にSQUIDループに作用させずに、このルー
プの前に配置されており、検出された測定磁束をSQU
IDに供給する磁束トランスフォーマに作用させること
も可能である(たとえば“Journ.of Low
Temp.Phys.”、第25巻、第1/2号、第1
28頁または米国特許第 A-4320341号明細書を参照)。
束を直接にSQUIDループに作用させずに、このルー
プの前に配置されており、検出された測定磁束をSQU
IDに供給する磁束トランスフォーマに作用させること
も可能である(たとえば“Journ.of Low
Temp.Phys.”、第25巻、第1/2号、第1
28頁または米国特許第 A-4320341号明細書を参照)。
【図1】本発明による測定装置のSQUIDを変調する
ための原理回路図。
ための原理回路図。
【図2】SQUIDの特性曲線。
【図3】SQUIDのバイアス電流。
【図4】SQUIDの電圧信号。
【図5】公知のSHAD法で動作する測定装置における
信号。
信号。
【図6】公知のSHAD法で動作する測定装置における
信号。
信号。
【図7】公知のSHAD法で動作する測定装置における
信号。
信号。
【図8】公知のSHAD法で動作する測定装置における
信号。
信号。
【図9】公知のSHAD法で動作する測定装置における
信号。
信号。
【図10】本発明による測定装置における信号を図5と
対比して示す図。
対比して示す図。
【図11】本発明による測定装置における信号を図6と
対比して示す図。
対比して示す図。
【図12】本発明による測定装置における信号を図7と
対比して示す図。
対比して示す図。
【図13】本発明による測定装置における信号を図8と
対比して示す図。
対比して示す図。
【図14】本発明による測定装置における信号を図9と
対比して示す図。
対比して示す図。
2 DC‐SQUID 3 SQUIDループ 4a、4b ジョセフソン素子 5 AC発振器 6 RC回路 7 整合回路網 8 増幅器部分 9 ロックイン増幅器 10 結合コイル 12 変調発振器 13 RC回路 14 変調コイル K 低温範囲 Ib バイアス電流 Vb バイアス電圧 Vs SQUID電圧信号 Φe 測定磁束 Φm 追加磁束 Im 変調電流 If フィードバック電流 Imax' −Imax バイアス電流の波高値 I0 臨界的SQUID電流 Vmax' −Vmax バイアス電圧の波高値 V0 SQUID電圧の零値 t 時間座標 T 振動周期 Vs * 測定磁束なしのSQUID電圧 Va 出力信号の電圧 Ve SQUID電圧中の測定信号成分
Claims (8)
- 【請求項1】 直流SQUIDを有するSQUID測定
装置であって、出力信号のなかの雑音成分を低減するた
め、SQUIDを通って流れるバイアス電流を変調する
ための手段と、測定磁束に対して追加的にSQUIDの
なかに入結合される追加磁束を変調するための手段とが
設けられており、その際に両変調が等しい周波数および
等しい波形の変調信号により行われるSQUID測定装
置において、1つの周期のなかで短時間のみ占められる
2つの極値の間を連続的に延びる曲線を有する周期的な
変調信号(Ib、Im)が用いられていることを特徴とす
るSQUID測定装置。 - 【請求項2】 変調信号が単一の発生器から発生される
ことを特徴とする請求項1記載の測定装置。 - 【請求項3】 測定磁束(Φe)が誘導作用により結合
コイル(10)を介してSQUID(2)のなかに入結
合されることを特徴とする請求項1または2記載の測定
装置。 - 【請求項4】 SQUIDが磁界感知ループ装置の集積
化された構成部分であることを特徴とする請求項1また
は2記載の測定装置。 - 【請求項5】 追加磁束(Φm)が誘導作用によりSQ
UID(2)のなかに入結合されることを特徴とする請
求項1ないし4の1つに記載の測定装置。 - 【請求項6】 追加磁束(Φm)が誘導作用によりSQ
UID(2)の前に配置されている磁束変成器のなかに
入結合されることを特徴とする請求項1ないし3の1つ
に記載の測定装置。 - 【請求項7】 SQUID(2)の後に配置されている
増幅器部分(8、9)において、倍増された変調周波数
により変調された出力信号(Va)が得られることを特
徴とする請求項1ないし6の1つに記載の測定装置。 - 【請求項8】 少なくとも近似的に正弦波形またはのこ
ぎり波形または両波形の重畳から得られる信号波形を有
する変調信号(Ib、Im)が用いられていることを特徴
とする請求項1ないし7の1つに記載の測定装置。
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JP (1) | JPH05264698A (ja) |
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