JPH05264559A - 自動分析装置 - Google Patents

自動分析装置

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JPH05264559A
JPH05264559A JP6184292A JP6184292A JPH05264559A JP H05264559 A JPH05264559 A JP H05264559A JP 6184292 A JP6184292 A JP 6184292A JP 6184292 A JP6184292 A JP 6184292A JP H05264559 A JPH05264559 A JP H05264559A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
reagent
damage
reaction container
degree
reaction
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6184292A
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English (en)
Inventor
由充 ▲高▼木
Yoshimitsu Takagi
Tomonori Mimura
智憲 三村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPH05264559A publication Critical patent/JPH05264559A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】臨床検査用の自動分析装置の反応容器におい
て、使用する試薬の性質と使用頻度から、損傷や汚れの
度合いを自動的に計算し、その寿命を事前に予測し、正
確かつ経済的な分析を行う。 【構成】マイクロコンピュータ51には、試薬液槽3
1,31′に配置された試薬の反応容器に対する損傷度
が定義され、反応容器22の各セルにおいて使用された
回数により、その損傷度が計算される。その損傷度にて
定義できる反応容器の寿命を超えた場合には、CRT5
6にそのアラームを表示する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、複数の容器において、
試料と試薬の化学反応により、その成分分析を行う臨床
検査用の自動分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】各種の分析装置では、使用する試薬の性
質や、試料と試薬の化学反応による生成物の付着などに
より、反応容器が損傷を受けたり、異常データを発生し
やすくしている。
【0003】従来は、反応容器の損傷度や寿命をリアル
タイムで知る方法はなく、検査技師の勘や経験則によ
り、反応容器の交換時期を決定している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従来の方法では、異常
データが多く発生した容器に対し、容器の汚れによるも
のと考えた場合、洗浄を行った後、再検査し、容器の損
傷によるものと考えた場合には、交換作業を行ってい
た。
【0005】これらの処理は、全て検査する人の勘によ
るものであるため、反応容器の損傷や汚れによる異常デ
ータの見過ごしや、ムダな再検査が多い。
【0006】本発明は、反応容器の損傷や汚れを、使用
する試薬の性質などから自動的に計算することで、事前
に予測し、正確かつ経済的な分析が行えることを目的と
している。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、容器の寿命に悪影響を与えたり、異常データを起こ
す汚れなどを発生する要因と、その度合いを任意に設定
できる損傷要因定義部と、各反応容器が、その要因の出
現回数により、どの程度環境を受けたかを計算し、各反
応容器の損傷度数を表示する損傷度表示部を設けた。
【0008】
【作用】分析された項目について、損傷要因定義部にて
定義した損傷度数を各反応容器の損傷度として加えてい
く。その値を同定義部にて定義した反応容器の寿命(限
界値)を比較し、それを超えた場合には、画面上にアラ
ームを表示する。ユーザはそれより容器の汚れや損傷度
を知ることができるので、異常データが起きる前に、容
器の交換時期を知ることができる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
【0010】図1を用いて、自動分析装置の測定法を説
明する。
【0011】図1において、サンプラー10は試料テー
ブル11と、イオン分析槽15と、これらを回転させる
駆動部を備えている。試料テーブル11には、外周側の
複数の孔に分析すべき血液試料を装填した普通試料容器
列12と、内周側の複数の孔に緊急検体用試料や、標準
試料を装填配列した特殊試料容器列13が形成されてお
り、これらの試料容器は必要に応じて試料吸入位置44
および44′に回転移送される。サンプリング機構によ
って、試料容器列からサンプリングされた試料が分析槽
15に導入され、希釈液によって希釈されたときに、そ
の液に浸漬される状態になるように調整される。
【0012】反応部20は、ドーナッツ上の恒温通路2
3と、その上に装填された反応テーブル21を備えてい
る。恒温通路23は恒温浴槽からなり、恒温水供給部2
9から恒温液が循環される。反応テーブル21には多数
の孔があり、それらの孔に角形透明セルからなる反応容
器22が装填され、反応容器列を形成する。反応容器の
下部は恒温液に浸される。
【0013】図示しない駆動機構によって、連続的およ
び間欠的に回転させる反応テーブル21の内側には、光
源25があり光源からの光束26は恒温通路23の反応
容器22を通過して光度計27に導かれ、光度計27内
で回析格子によって光分散された後、特定の波長光が光
検知器を介して取りだされる。反応容器22内の内容物
は撹拌器28によって撹拌される。
【0014】反応容器列上には純水吐出管をそれぞれ複
数個備えた洗浄機24があり、反応テーブル21の停止
時にこれらの管が反応容器内に挿入されて洗浄操作が行
なわれる。
【0015】サンプリング機構40は、試料吸排管41
を保持した回転腕と、この回転腕の上下機構と、サンプ
ル用ピッペタ42を備えており、試料吸排管41を試料
吸入位置44および44′と、試料吐出位置45の間に
移動し得、各位置において試料吸排管を上下動し得る。
【0016】試薬貯留部30は固定配置された冷蔵庫か
ら成り、内部には分析項目に応じた試薬液槽31,3
1′が準備される。試薬用ピペッタ35は、試薬ピペッ
ティング部36,37が備えており、これらのピペッテ
ィング部36,37には試薬吸排管38,39が取り付
けられている。
【0017】試薬吸排管38,39は分析項目に応じて
適切な試薬を試薬液槽31,31′から吸引し、試薬吐
出位置46,47にて吐出を行なう。
【0018】分析すべき試料を載置した試料テーブル1
1をサンプラー10に設定して、操作パネル52のスタ
ートボタンを押すと、分析装置の動作が開始される。サ
ンプリング機構40の試薬吸排管41が試料吸入位置4
4または44′から血液試料を吸入保持し、試料吐出位
置45に保持試料を吐出すると、反応容器22の列は光
束26を横切るように移送され、反応テーブル21が一
回転と1ステップして試料を受け入れた反応容器の次の
反応容器が試料吐出位置45に位置付けられる。このサ
ンプリング動作は連続的に繰り返される。反応テーブル
21が停止している間に、撹拌器28の撹拌棒や洗浄機
24の各管等が、それぞれ所定位置の反応容器内に挿入
され、必要な動作がなされる。
【0019】反応テーブル21が停止している間に、試
薬吐出位置46および47の位置で反応容器に試薬が添
付され、呈色反応が開始される。反応容器内の試料は、
反応テーブル21がサンプリング動作の都度回転される
から、サンプリング動作に伴って光束26を横切り、呈
色状態を観測できる。つまり、反応容器が洗浄機24の
位置に達するまでの間、複数回にわったて同じ試料につ
いて光学的特性が観測される。
【0020】光度計27の光電検出器によって受光され
た光は、図示しない波長選択回路により分析項目に応じ
で必要な波長が選択され、透過光強度に応じた大きさの
信号が対数変換器53に導かれる。アナログ信号は、そ
の後A/D変換器54によってディジタル信号に変換さ
れ、インターフェース50を介してマイクロコンピュー
タ51に導かれ、必要な演算が行なわれ、結果がメモリ
に記憶される。特定分析項目についての複数回にわたる
測光動作の全てが終了したとき、複数回の測光データが
比較され、必要な演算がなされて、当該分析項目の濃度
値がプリンタ55に印字される。CRT56は、分析結
果、統計データおよび各試薬液の残存量等を表示でき
る。
【0021】また、インターフェース50は通信機能を
有し、他のコンピュータとの接続が可能となっている。
【0022】次に実例における反応容器の寿命測定方法
について述べる。
【0023】反応容器の損傷要因定義部では、反応容器
22の寿命に対して悪影響を及ぼす条件が設定できる。
図2は自動分析装置の反応セルが試薬により受ける損傷
度の重みを定義する画面である。
【0024】ここでは、使用可能な試薬の一覧が表示さ
れ、それぞれについて一回の使用における損傷度が任意
に設定できる。また反応容器の寿命(上限値)も任意に
指定できる。
【0025】反応容器損傷度表示画面では、各々の反応
容器が、現在どの程度のダメージを受けているかを数値
として表示する。この値は、上記損傷要因定義部で設定
された損傷係数×使用回数により算出される。ここで損
傷度が反応容器の寿命値を超えるか、非常に近い値をと
った場合、画面上にそのアラームを表示する。
【0026】また使用限界を超えた反応容器は、測定に
使用せずに、分析時にその反応容器を飛ばして測定する
ことにより、正確な値を効率よく測定することができ
る。
【0027】
【発明の効果】本発明によれば、反応容器の損傷度、汚
染度がリアルタイムで知ることができるため、反応容器
の寿命を測定することができる。よって反応容器の損傷
や汚染から生じる異常データを前もって回避することが
できるため信頼性が向上する。また異常データの発生に
よる再検査を減少できる為、経済性も向上される。
【図面の簡単な説明】
【図1】自動分析装置の構成図である。
【図2】反応容器破損係数定義画面の例を示す図であ
る。
【図3】反応容器破損度表示画面の例を示す図である。
【符号の説明】
22…反応容器、31…試薬液槽、56…CRT。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】反応容器内への試料を分配するサンプリン
    グ装置と、各分析項目用の試薬液を収容した複数の試薬
    液槽を配列した試薬液槽群と、上記反応容器列の各反応
    容器へ分析項目に応じた試薬液を上記試薬液槽から選択
    的に供給する試薬分配装置とを備え、試薬ごとに、反応
    容器の寿命に悪影響を与える度合いが定義できる損傷要
    因定義部と、その使用頻度により反応容器の損傷度を計
    算する演算記憶部を備え、上記演算記憶部からの信号に
    基づき、表示画面に上記反応容器の寿命を表示する装置
    を備えたことを特徴とする自動分析装置。
JP6184292A 1992-03-18 1992-03-18 自動分析装置 Pending JPH05264559A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6184292A JPH05264559A (ja) 1992-03-18 1992-03-18 自動分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6184292A JPH05264559A (ja) 1992-03-18 1992-03-18 自動分析装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05264559A true JPH05264559A (ja) 1993-10-12

Family

ID=13182751

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6184292A Pending JPH05264559A (ja) 1992-03-18 1992-03-18 自動分析装置

Country Status (1)

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JP (1) JPH05264559A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009287947A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2011033425A (ja) * 2009-07-31 2011-02-17 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2019117208A (ja) * 2012-12-05 2019-07-18 株式会社日立ハイテクノロジーズ 自動分析装置およびメンテナンスの要否を推奨する方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009287947A (ja) * 2008-05-27 2009-12-10 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
JP2011033425A (ja) * 2009-07-31 2011-02-17 Hitachi High-Technologies Corp 自動分析装置
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