JPH05235656A - 高周波回路用半導体装置 - Google Patents

高周波回路用半導体装置

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JPH05235656A
JPH05235656A JP3595192A JP3595192A JPH05235656A JP H05235656 A JPH05235656 A JP H05235656A JP 3595192 A JP3595192 A JP 3595192A JP 3595192 A JP3595192 A JP 3595192A JP H05235656 A JPH05235656 A JP H05235656A
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transistor
grounded
gate
drain
source
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JP3595192A
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Yukio Sakai
幸雄 堺
Michio Tsuneoka
道朗 恒岡
Takeshi Sato
毅 佐藤
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Panasonic Holdings Corp
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 RF広帯域増幅器として用いられる半導体装
置において、イメージ周波数妨害を防止する。 【構成】 トランジスタ11のゲートを接地し、ソース
はRF入力端子10とし、コイル12を介して接地す
る。またトランジスタ11のドレインをコイル13を介
して電源端子18に接続し、さらにコンデンサー14を
介してRF出力端子19とする。電源18とトランジス
タ11のドレインの間には、誘導性負荷となる可変帯域
フイルター80が接続される。フイルター80はインダ
クタンスライン81〜84、コンデンサー85〜88が
それぞれ直列に接続され、インダクタンスラインの一端
はすべて接地される。さらにコンデンサー85は電源1
8に、コンデンサー88はトランジスタ11のドレイン
に接続される。コンデンサー86及び87の一端は直列
抵抗92,93で結ばれると共に、可変容量ダイオード
90,91で接地される。抵抗92,93の接点は同調
電圧入力端子89となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はチューナなどの広帯域の
周波数特性をもつRF増幅器として用いられる高周波回
路用半導体装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の高周波回路を集積化した
半導体装置は図7に示すように構成されていた。すなわ
ち、トランジスタ1のゲートを接地し、このトランジス
タ1のソースをコイル2を介して接地するとともにRF
入力端子0とし、前記トランジスタ1のドレインを抵抗
3を介して電源端子8に接続するとともにRF出力端子
9として構成されていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上記の構成とした場
合、トランジスタ1で構成されているゲート接地型増幅
器は、負荷の抵抗3によって広帯域な周波数特性になっ
ており、そのためイメージ周波数に対してもゲート接地
型増幅器の後段に接続される周波数変換回路によって中
間周波数に変換されてしまい、その結果希望波の受信に
妨害を与えるという課題を有していた。
【0004】本発明は上記課題を解決し、イメージ周波
数に対する希望波の妨害を防止する高周波回路用半導体
装置を提供することを目的とするものである。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題を解決するため
に本発明による高周波回路用半導体装置は、第1のトラ
ンジスタのゲートを接地し、この第1のトランジスタの
ソースを第1のコイルを介して接地するとともにRF入
力端子とし、前記第1のトランジスタのドレインを第2
のコイルを介して電源端子に接続するとともに第5のコ
ンデンサを介してRF出力端子とし、前記電源端子を第
1のコンデンサを介して第1のインダクタンスラインの
一端に接続し、前記第1のインダクタンスラインの他端
を接地し、前記第1のトランジスタのドレインを第4の
コンデンサを介して第4のインダクタンスラインの一端
に接続し、前記第4のインダクタンスラインの他端を接
地し、第1のダイオードのアノードを接地し、前記第1
のダイオードのカソードを第2のコンデンサを介して第
2のインダクタンスラインの一端に接続するとともに第
1の抵抗を介して同調電圧端子に接続し、前記第2のイ
ンダクタンスラインの他端を接地し、第2のダイオード
のアノードを接地し、前記第2のダイオードのカソード
を第3のコンデンサを介して第3のインダクタンスライ
ンの一端に接続するとともに第2の抵抗を介して同調電
圧端子に接続し、前記第3のインダクタンスラインの他
端を接地したものである。
【0006】
【作用】以上の構成とした場合、第1のトランジスタで
構成されたゲート接地型増幅器の負荷は、可変帯域フィ
ルタと第5のコンデンサによる同調型の負荷となり、希
望のRF入力周波数に対して選択的な負荷として作用す
ることになるので、妨害波となるイメージ周波数に対し
てはゲート接地型増幅器が増幅器としての増幅作用をし
なくなり、その結果イメージ周波数に対する希望波の妨
害を防止することができる。
【0007】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。
【0008】(実施例1)図1は本発明の第1の実施例
による高周波回路を集積化した高周波回路用半導体装置
を示す回路図である。第1のトランジスタ11は低入力
インピーダンスのゲート接地型増幅器を構成しており、
その特性はしきい値−0.4V、相互コンダクタンス1
80mS/mm、ゲート幅が200μmのGaAsMES
FET(メタルショットキーゲート電界効果トランジス
タ)である(以降、トランジスタはゲート幅以外、全て
同じ特性を有するGaAsMESFETを用いるものと
する。)。なお、この第1のトランジスタ11のRF入
力端子10であるソースは、入力インピーダンスを50
Ωにするためにゲート幅を200μmにしている。第1
のコイル12は第1のトランジスタ11のソースを直流
的に接地するために設けてある。また、RF入力端子1
0から入力される信号を高周波的に阻止し、第1のトラ
ンジスタ11のソースに効率よく信号を入力させる働き
も兼ねている。第2のコイル13はゲート接地型増幅器
を構成する第1のトランジスタ11のドレインの負荷を
高周波的に高くするために設けてある。また第1のトラ
ンジスタ11のドレインに直流バイアスを与える働きも
兼ねている。
【0009】図1に示すように、本実施例においては可
変帯域フィルタ80を用いた。第1のインダクタンスラ
イン81は第2のインダクタンスライン82と誘導的に
結合しており、第3のインダクタンスライン83は第4
のインダクタンスライン84と誘導的に結合している。
第1のコンデンサ85と第4のコンデンサ88は、第1
のトランジスタ11のドレインの直流バイアスがショー
トしないように設けてある。第1の抵抗92は同調電圧
端子89から与えられる直流バイアスを第1のダイオー
ド90のカソードに与えるために設けてあり、高周波的
にはインピーダンスが高くなるようにしてある。第2の
抵抗93も同調電圧端子89から与えられる直流バイア
スを第2のダイオード91のカソードに与えるために設
けてあり、高周波的にはインピーダンスが高くなるよう
にしてある。第2のコンデンサ86と第3のコンデンサ
87は、同調電圧端子89から与えられる直流バイアス
によって第1の抵抗92と第2の抵抗93に電流が流れ
るのを防ぐために設けてある。また、第1のダイオード
90と第2のダイオード91は可変容量ダイオードであ
る。この可変帯域フィルタ80は、第1のインダクタン
スライン81と第2のインダクタンスライン82による
誘導性の結合を第1のダイオード90によって変化させ
ており、第3のインダクタンスライン83と第4のイン
ダクタンスライン84による誘導性の結合を第2のダイ
オード91によって変化させている。
【0010】そしてこの状態においてゲート接地型増幅
器を構成する第1のトランジスタ11のドレインの負荷
が、可変帯域フィルタ80と第5のコンデンサ14によ
る同調型で実現されている。同調電圧端子89に与えら
れた電圧によって第1のダイオード90と第2のダイオ
ード91の容量が同時に変化し、第1のインダクタンス
ライン81と第2のインダクタンスライン82による誘
導性の結合と第3のインダクタンスライン83と第4の
インダクタンスライン84による誘導性の結合も同時に
変化するので、この可変帯域フィルタ80がゲート接地
型増幅器の誘導性の負荷として作用することになり、希
望のRF入力周波数に対して選択的にゲート接地型増幅
器の負荷を同調することができる。その結果、イメージ
周波数に対してはゲート接地型増幅器が増幅作用をしな
くなりイメージ周波数に対する希望波の妨害を防止する
ことが可能となる。
【0011】なお、第1のダイオード90と第2のダイ
オード91は、実際には素子のばらつきによる周波数特
性の違いを防ぐため同一ウエハ上の隣接したものをペア
リングさせて使用しており、高域の周波数領域において
周波数特性を安定化させている。
【0012】(実施例2)次に本発明の他の実施例を図
面を用いて説明する。図2は本発明の第2の実施例によ
る高周波回路を集積化した高周波回路用半導体装置を示
す回路図である。第1のトランジスタ11は低入力イン
ピーダンスのゲート接地型増幅器を構成しており、その
特性はしきい値−0.4V、相互コンダクタンス180
mS/mm、ゲート幅200μmのGaAsMESFET
(メタルショットキーゲート電界効果トランジスタ)で
ある。本発明の第1の実施例においては、ゲート接地型
増幅器を構成する第1のトランジスタ11のドレインの
負荷は、可変帯域フィルタ80と第5のコンデンサ14
による同調型を用いたが、図2に示すように本実施例に
おいては第3の抵抗13aを用い、可変帯域フィルタ8
0はRF入力信号に対して通過方向に接続してある。こ
のように接続した場合、通過特性を直接調整することが
できるのでよりイメージ周波数に対する妨害排除能力を
高めることが可能となる。
【0013】なお、本実施例の場合のようにRF入力信
号に対して通過方向に可変帯域フィルタ80を接続した
場合、第1のインダクタンスライン81と第2のインダ
クタンスライン82の誘導性の結合にトラップを設ける
ことができ、このトラップをイメージ周波数に合わせる
ことになお一層の妨害排除ができることを付け加えてお
く。また、第2のインダクタンスライン82と第3のイ
ンダクタンスライン83の誘導性の結合を調整すること
により可変帯域フィルタ80の帯域幅及び挿入損失を変
化できることも加えておく。
【0014】(実施例3)次に本発明のさらに他の実施
例を図面を用いて説明する。図3は本発明の第3の実施
例による高周波回路を集積化した高周波回路用半導体装
置を示す回路図である。第1のトランジスタ11は低入
力インピーダンスのゲート接地型増幅器を構成してお
り、その特性はしきい値−0.4V、相互コンダクタン
ス180mS/mm、ゲート幅200μmのGaAsME
SFET(メタルショットキーゲート電界効果トランジ
スタ)である。本発明の第1の実施例においては、ゲー
ト接地型増幅器を構成する第1のトランジスタ11のド
レインの負荷は、可変帯域フィルタ80と第5のコンデ
ンサ14による同調型を用いたが、図3に示すごとく本
実施例においては、さらに第2のトランジスタ15を可
変帯域フィルタ80に並列に接続している。この第2の
トランジスタ15のドレインとソースの間には第2のコ
イル13が接続されており、第2のトランジスタ15の
ドレイン−ソース間電圧(Vds)を直流的に同電位にす
るとともに高周波的にはインピーダンスが高くなるよう
にしてある。第3のトランジスタ16はゲートとソース
を共通にしてあり、第2のトランジスタ15のドレイン
の直流バイアス値を設定するためのレベルシフト用のト
ランジスタである。
【0015】本実施例の場合は電源端子18に与える電
圧の半分の電圧が第2のトランジスタ15のドレインに
与えられることになるが、電源端子18に与える電圧の
3分の1の電圧が必要な場合には、さらにレベルシフト
用のトランジスタを電源端子18と第3のトランジスタ
16のドレインの間に接続すればよく、必要な電圧値に
より何個でも追加することが可能である。第6のコンデ
ンサ17は第3のトランジスタ16がアクティブロード
とならないように設けているバイパスコンデンサであ
る。
【0016】また、第2のトランジスタ15のゲートは
利得制御端子15aとして半導体装置の外部に取り出し
ている。この利得制御端子15aに直流バイアスを与え
ることにより、ドレインとソースが直流的に同電位に保
たれた第2のトランジスタ15を非飽和領域で動作させ
ることができ、第2のトランジスタ15のゲート−ソー
ス間電圧(Vgs)の変化でかわるドレインコンダクタン
スを利用して第1のトランジスタ11で構成されたゲー
ト接地型増幅器の利得を制御している。
【0017】なお、第2のトランジスタ15のゲートに
はゲート保護のために利得制御端子15aと第2のトラ
ンジスタ15のゲートの間に抵抗を接続する場合がある
ことを加えておく。そしてこの状態においてゲート接地
型増幅器の利得が第2のトランジスタによって利得制御
されている。この場合、可変帯域フィルタ80と第5の
トランジスタ14によって構成されたゲート接地型増幅
器の同調型の負荷が第2のトランジスタ15によってダ
ンピングされることになり、利得制御動作を行うととも
にイメージ周波数による妨害を防止することができる。
このように本実施例ではより一層の半導体装置の付加価
値を向上させており集積化の規模を高めている。
【0018】なお、本実施例のように第1のトランジス
タ11で構成されたゲート接地型増幅器の負荷を第2の
トランジスタ15で構成し、第1のトランジスタ11の
ドレインの直流バイアスをレベルシフト用の第3のトラ
ンジスタ16で与えるように構成した場合、半導体装置
の製造上において、トランジスタのしきい値が変動し、
それにともなって回路を流れる電流が変化しても、第1
のトランジスタ11のドレインの直流バイアス値は変動
せず安定して動作するので半導体装置の歩留まりが向上
することを加えておく。
【0019】(実施例4)続いて本発明のさらに他の実
施例を図面を用いて説明する。図4は本発明の第4の実
施例による高周波回路を集積化した高周波回路用半導体
装置を示す回路図である。第4のトランジスタ21、第
5のトランジスタ22、第6のトランジスタ23、第7
のトランジスタ24の4つのトランジスタは、ダブルバ
ランスドミキサ回路を構成するトランジスタである。ダ
ブルバランスドミキサ回路を構成する第4のトランジス
タ21のゲートと第7のトランジスタ24のゲート及び
第5のトランジスタ22のゲートと第6のトランジスタ
23のゲートは差動型のローカル入力端子30であり、
第4のトランジスタ21のドレインと第5のトランジス
タ22のドレイン及び第6のトランジスタ23のドレイ
ンと第7のトランジスタ24のドレインは、それぞれ差
動型のIF出力端子20である。第8のトランジスタ2
5と第9のトランジスタ26はダブルバランスドミキサ
回路を構成する第4のトランジスタ21のソースと第6
のトランジスタ23のソース及び第5のトランジスタ2
2のソースと第7のトランジスタ24のソースに差動型
で入力するRF緩衝増幅器用のトランジスタであり、前
段に接続されたゲート接地型増幅器からの不平衡出力を
平衡出力に変えるとともにRF信号のバッファ回路とし
ての効果をもたせている。
【0020】第4の抵抗28と第5の抵抗29は第8の
トランジスタ25のゲートと第9のトランジスタ26の
ゲートに同じ直流バイアスを与えるために設けてあり、
その直流バイアス値は電源電圧を第6の抵抗31と第7
の抵抗32で分割したブリーダ抵抗によって決められて
いる。また第8のトランジスタ25のゲートと接地間に
接続された第7のコンデンサ33は、差動対を構成する
第8のトランジスタ25のゲートを高周波的に接地する
ために設けてある。また第10のトランジスタ27は定
電流源である。なお、この第10のトランジスタ27の
ゲート幅はRF緩衝増幅器用のトランジスタである第8
のトランジスタ25、第9のトランジスタ26のゲート
幅の2倍の大きさにしており、増幅特性の最適な動作点
を選択していることを加えておく。
【0021】そしてこの状態において第1の実施例で説
明したゲート接地型増幅器のRF出力端子である第5の
コンデンサ14が第9のトランジスタ26のゲートに接
続されている。このように接続することにより、ゲート
接地型増幅器で抑圧されたイメージ周波数がRF緩衝増
幅器用のトランジスタである第9のトランジスタ26の
ゲートに入力されないのでイメージ周波数に対して周波
数変換が行われずその結果イメージ周波数による妨害を
防止することが可能となる。
【0022】(実施例5)続いて本発明のさらに他の実
施例を図面を用いて説明する。図5は本発明の第5の実
施例による高周波回路を集積化した高周波回路用半導体
装置を示す回路図である。図5に示すように、ダブルバ
ランスドミキサ回路を含むRF緩衝増幅器の構成は実施
例4で説明した回路と同様のものであり、RF緩衝増幅
器用のトランジスタである第9のトランジスタ26のゲ
ートとゲート接地型増幅器の出力である第1のトランジ
スタ11のドレインの間に可変帯域フィルタ80を接続
した構成になっている。このように接続することにより
RF入力信号の通過方向の特性を直接的に調整すること
ができ、イメージ周波数に対する妨害排除能力をさらに
高めることが可能となる。
【0023】なお、本実施例の場合のようにRF入力信
号に対して通過方向に可変帯域フィルタ80を接続した
場合、第1のインダクタンスライン81と第2のインダ
クタンスライン82の誘導性の結合にトラップを設ける
ことができ、このトラップをイメージ周波数に合わせる
ことになお一層の妨害排除ができることを付け加えてお
く。また、第2のインダクタンスライン82と第3のイ
ンダクタンスライン83の誘導性の結合を調整すること
により可変帯域フィルタ80の帯域幅及び挿入損失を変
化できることも加えておく。
【0024】(実施例6)続いて本発明のさらに他の実
施例を図面を用いて説明する。図6は本発明の第6の実
施例による高周波回路を集積化した高周波回路用半導体
装置を示す回路図である。図6に示すように、ダブルバ
ランスドミキサ回路を含むRF緩衝増幅器の構成は実施
例4で説明した回路と同様のものであり、RF緩衝増幅
器用のトランジスタである第9のトランジスタ26のゲ
ートに第1の実施例で説明したゲート接地型増幅器のR
F出力端子である第5のコンデンサ14を接続したもの
である。このように接続することにより、可変帯域フィ
ルタ80と第5のトランジスタ14によって構成された
ゲート接地型増幅器の同調型の負荷が第2のトランジス
タ15によってダンピングされることになり、利得制御
動作を行うとともにイメージ周波数に対する妨害を防止
することができ、より一層の半導体装置としての付加価
値を高めている。
【0025】なお本実施例では、利得制御動作が可能な
周波数変換回路を半導体装置で実現しており、この場合
RF入力端子10より入力される信号のレベルが−10
dBmの大入力になった場合においてもゲート接地型増
幅器を構成する第1のトランジスタ11で歪みを生じる
ことはなく、入力ダイナミックレンジの拡大が図られて
いる。利得の制御範囲は15dBであり利得制御動作の
ない第4の実施例と比較して強電界入力レベル特性が1
5dB向上することを付け加えておく。
【0026】
【発明の効果】以上のように本発明の高周波回路用半導
体装置は、第1のトランジスタのゲートを接地し、前記
第1のトランジスタのソースを第1のコイルを介して接
地するとともにRF入力端子とし、前記第1のトランジ
スタのドレインを第2のコイルを介して電源端子に接続
するとともに第5のコンデンサを介してRF出力端子と
し、前記電源端子を第1のコンデンサを介して第1のイ
ンダクタンスラインの一端に接続し、前記第1のインダ
クタンスラインの他端を接地し、前記第1のトランジス
タのドレインを第4のコンデンサを介して第4のインダ
クタンスラインの一端に接続し、前記第4のインダクタ
ンスラインの他端を接地し、第1のダイオードのアノー
ドを接地し、前記第1のダイオードのカソードを第2の
コンデンサを介して第2のインダクタンスラインの一端
に接続するとともに第1の抵抗を介して同調電圧端子に
接続し、前記第2のインダクタンスラインの他端を接地
し、第2のダイオードのアノードを接地し、前記第2の
ダイオードのカソードを第3のコンデンサを介して第3
のインダクタンスラインの一端に接続するとともに第2
の抵抗を介して同調電圧端子に接続し、前記第3のイン
ダクタンスラインの他端を接地したものであるので、第
1のトランジスタで構成されたゲート接地型増幅器の負
荷は、可変帯域フィルタと第5のコンデンサによる同調
型の負荷となり、希望のRF入力周波数に対して選択的
な負荷として作用することになるので、妨害波となるイ
メージ周波数に対してはゲート接地型増幅器が増幅器と
しての増幅作用をしなくなり、その結果イメージ周波数
に対する希望波の妨害を防止することができるものであ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図2】本発明の第2の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図3】本発明の第3の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図4】本発明の第4の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図5】本発明の第5の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図6】本発明の第6の実施例における高周波回路用半
導体装置を示す電気回路図
【図7】従来の電気回路図
【符号の説明】
10 RF入力端子 11 第1のトランジスタ 12 第1のコイル 13 第2のコイル 13a 第3の抵抗 14 第5のコンデンサ 15 第2のトランジスタ 15a 利得制御端子 16 第3のトランジスタ 17 第6のコンデンサ 18 電源端子 19 RF出力端子 20 IF出力端子 21 第4のトランジスタ 22 第5のトランジスタ 23 第6のトランジスタ 24 第7のトランジスタ 25 第8のトランジスタ 26 第9のトランジスタ 27 第10のトランジスタ 28 第4の抵抗 29 第5の抵抗 30 ローカル入力端子 31 第6の抵抗 32 第7の抵抗 33 第7のコンデンサ 50 RF増幅回路 51 RF増幅回路 52 RF増幅回路 80 可変帯域フィルタ 81 第1のインダクタンスライン 82 第2のインダクタンスライン 83 第3のインダクタンスライン 84 第4のインダクタンスライン 85 第1のコンデンサ 86 第2のコンデンサ 87 第3のコンデンサ 88 第4のコンデンサ 89 同調電圧端子 90 第1のダイオード 91 第2のダイオード 92 第1の抵抗 93 第2の抵抗

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】第1のトランジスタのゲートを接地し、前
    記第1のトランジスタのソースを第1のコイルを介して
    接地するとともにRF入力端子とし、前記第1のトラン
    ジスタのドレインを第2のコイルを介して電源端子に接
    続するとともに第5のコンデンサを介してRF出力端子
    とし、前記電源端子を第1のコンデンサを介して第1の
    インダクタンスラインの一端に接続し、前記第1のイン
    ダクタンスラインの他端を接地し、前記第1のトランジ
    スタのドレインを第4のコンデンサを介して第4のイン
    ダクタンスラインの一端に接続し、前記第4のインダク
    タンスラインの他端を接地し、第1のダイオードのアノ
    ードを接地し、前記第1のダイオードのカソードを第2
    のコンデンサを介して第2のインダクタンスラインの一
    端に接続するとともに第1の抵抗を介して同調電圧端子
    に接続し、前記第2のインダクタンスラインの他端を接
    地し、第2のダイオードのアノードを接地し、前記第2
    のダイオードのカソードを第3のコンデンサを介して第
    3のインダクタンスラインの一端に接続するとともに第
    2の抵抗を介して同調電圧端子に接続し、前記第3のイ
    ンダクタンスラインの他端を接地した高周波回路用半導
    体装置。
  2. 【請求項2】第1のトランジスタのゲートを接地し、前
    記第1のトランジスタのソースを第1のコイルを介して
    接地するとともにRF入力端子とし、前記第1のトラン
    ジスタのドレインを第3の抵抗を介して電源端子に接続
    するとともに第1のコンデンサを介して第1のインダク
    タンスラインの一端に接続し、前記第1のインダクタン
    スラインの他端を接地し、第1のダイオードのアノード
    を接地し、前記第1のダイオードのカソードを第2のコ
    ンデンサを介して第2のインダクタンスラインの一端に
    接続するとともに第1の抵抗を介して同調電圧端子に接
    続し、前記第2のインダクタンスラインの他端を接地
    し、第2のダイオードのアノードを接地し、前記第2の
    ダイオードのカソードを第3のコンデンサを介して第3
    のインダクタンスラインの一端に接続するとともに第2
    の抵抗を介して同調電圧端子に接続し、前記第3のイン
    ダクタンスラインの他端を接地し、RF出力端子を第4
    のコンデンサを介して第4のインダクタンスラインの一
    端に接続し、前記第4のインダクタンスラインの他端を
    接地した高周波回路用半導体装置。
  3. 【請求項3】第1のトランジスタのゲートを接地し、前
    記第1のトランジスタのソースを第1のコイルを介して
    接地するとともにRF入力端子とし、前記第1のトラン
    ジスタのドレインを第2のトランジスタのソースに接続
    するとともに第2のコイルを介して前記第2のトランジ
    スタのドレインに接続し、前記第2のトランジスタのゲ
    ートを利得制御端子とし、前記第1のトランジスタのド
    レインを第5のコンデンサを介してRF出力端子とし、
    第3のトランジスタのドレインを電源端子に接続し、前
    記第2のトランジスタのドレインを前記第3のトランジ
    スタのソースに接続するとともに前記第3のトランジス
    タのゲートに接続し、前記第2のトランジスタのドレイ
    ンを第6のコンデンサを介して接地するとともに第1の
    コンデンサを介して第1のインダクタンスラインの一端
    に接続し、前記第1のインダクタンスラインの他端を接
    地し、前記第1のトランジスタのドレインを第4のコン
    デンサを介して第4のインダクタンスラインの一端に接
    続し、前記第4のインダクタンスラインの他端を接地
    し、第1のダイオードのアノードを接地し、前記第1の
    ダイオードのカソードを第2のコンデンサを介して第2
    のインダクタンスラインの一端に接続するとともに第1
    の抵抗を介して同調電圧端子に接続し、前記第2のイン
    ダクタンスラインの他端を接地し、第2のダイオードの
    アノードを接地し、前記第2のダイオードのカソードを
    第3のコンデンサを介して第3のインダクタンスライン
    の一端に接続するとともに第2の抵抗を介して同調電圧
    端子に接続し、前記第3のインダクタンスラインの他端
    を接地した高周波回路用半導体装置。
  4. 【請求項4】少なくとも4つ以上のトランジスタで構成
    されたダブルバランスドミキサ回路において、第4のト
    ランジスタのドレインを第5のトランジスタのドレイン
    に接続するとともにIF出力端子とし、第6のトランジ
    スタのドレインを第7のトランジスタのドレインに接続
    するとともにIF出力端子とし、前記第4のトランジス
    タのゲートを前記第7のトランジスタのゲートに接続す
    るとともにローカル入力端子とし、前記第5のトランジ
    スタのゲートを前記第6のトランジスタのゲートに接続
    するとともにローカル入力端子とし、前記第4のトラン
    ジスタのソースを前記第6のトランジスタのソースに接
    続するとともに第8のトランジスタのドレインに接続
    し、前記第5のトランジスタのソースを前記第7のトラ
    ンジスタのソースに接続するとともに第9のトランジス
    タのドレインに接続し、第10のトランジスタのドレイ
    ンを前記第8のトランジスタのソースに接続するととも
    に前記第9のトランジスタのソースに接続し、前記第1
    0のトランジスタのソースを接地し、前記第10のトラ
    ンジスタのゲートを接地し、前記第8のトランジスタの
    ゲートを第7のコンデンサを介して接地するとともに第
    4の抵抗の一端に接続し、前記第4の抵抗の他端を第6
    の抵抗を介して電源端子に接続するとともに第7の抵抗
    を介して接地し、前記第9のトランジスタのゲートを第
    5の抵抗を介して前記第4の抵抗の他端に接続するとと
    もに請求項1に記載のRF出力端子を接続した高周波回
    路用半導体装置。
  5. 【請求項5】少なくとも4つ以上のトランジスタで構成
    されたダブルバランスドミキサ回路において、第4のト
    ランジスタのドレインを第5のトランジスタのドレイン
    に接続するとともにIF出力端子とし、第6のトランジ
    スタのドレインを第7のトランジスタのドレインに接続
    するとともにIF出力端子とし、前記第4のトランジス
    タのゲートを前記第7のトランジスタのゲートに接続す
    るとともにローカル入力端子とし、前記第5のトランジ
    スタのゲートを前記第6のトランジスタのゲートに接続
    するとともにローカル入力端子とし、前記第4のトラン
    ジスタのソースを前記第6のトランジスタのソースに接
    続するとともに第8のトランジスタのドレインに接続
    し、前記第5のトランジスタのソースを前記第7のトラ
    ンジスタのソースに接続するとともに第9のトランジス
    タのドレインに接続し、第10のトランジスタのドレイ
    ンを前記第8のトランジスタのソースに接続するととも
    に前記第9のトランジスタのソースに接続し、前記第1
    0のトランジスタのソースを接地し、前記第10のトラ
    ンジスタのゲートを接地し、前記第8のトランジスタの
    ゲートを第7のコンデンサを介して接地するとともに第
    4の抵抗の一端に接続し、前記第4の抵抗の他端を第6
    の抵抗を介して電源端子に接続するとともに第7の抵抗
    を介して接地し、前記第9のトランジスタのゲートを第
    5の抵抗を介して前記第4の抵抗の他端に接続するとと
    もに請求項2に記載のRF出力端子を接続した高周波回
    路用半導体装置。
  6. 【請求項6】少なくとも4つ以上のトランジスタで構成
    されたダブルバランスドミキサ回路において、第4のト
    ランジスタのドレインを第5のトランジスタのドレイン
    に接続するとともにIF出力端子とし、第6のトランジ
    スタのドレインを第7のトランジスタのドレインに接続
    するとともにIF出力端子とし、前記第4のトランジス
    タのゲートを前記第7のトランジスタのゲートに接続す
    るとともにローカル入力端子とし、前記第5のトランジ
    スタのゲートを前記第6のトランジスタのゲートに接続
    するとともにローカル入力端子とし、前記第4のトラン
    ジスタのソースを前記第6のトランジスタのソースに接
    続するとともに第8のトランジスタのドレインに接続
    し、前記第5のトランジスタのソースを前記第7のトラ
    ンジスタのソースに接続するとともに第9のトランジス
    タのドレインに接続し、第10のトランジスタのドレイ
    ンを前記第8のトランジスタのソースに接続するととも
    に前記第9のトランジスタのソースに接続し、前記第1
    0のトランジスタのソースを接地し、前記第10のトラ
    ンジスタのゲートを接地し、前記第8のトランジスタの
    ゲートを第7のコンデンサを介して接地するとともに第
    4の抵抗の一端に接続し、前記第4の抵抗の他端を第6
    の抵抗を介して電源端子に接続するとともに第7の抵抗
    を介して接地し、前記第9のトランジスタのゲートを第
    5の抵抗を介して前記第4の抵抗の他端に接続するとと
    もに請求項3に記載のRF出力端子を接続した高周波回
    路用半導体装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009207031A (ja) * 2008-02-29 2009-09-10 Hitachi Ltd 増幅回路
US7592873B2 (en) 2006-03-10 2009-09-22 Fujitsu Microelectronics Limited Low noise amplifier

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