JPH05235246A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

Info

Publication number
JPH05235246A
JPH05235246A JP4038125A JP3812592A JPH05235246A JP H05235246 A JPH05235246 A JP H05235246A JP 4038125 A JP4038125 A JP 4038125A JP 3812592 A JP3812592 A JP 3812592A JP H05235246 A JPH05235246 A JP H05235246A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
tape
semiconductor device
lead
chip
stuck
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP4038125A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3080333B2 (ja
Inventor
Takashi Suzumura
村 隆 志 鈴
Toshio Kawamura
村 敏 雄 川
Hiroshi Sugimoto
本 洋 杉
Hiroyuki Kosaka
坂 博 之 高
Yasuharu Kameyama
山 康 晴 亀
Hiromichi Suzuki
木 博 通 鈴
Takahiro Naito
藤 孝 洋 内
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Cable Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Cable Ltd
Priority to JP04038125A priority Critical patent/JP3080333B2/ja
Publication of JPH05235246A publication Critical patent/JPH05235246A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3080333B2 publication Critical patent/JP3080333B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/4826Connecting between the body and an opposite side of the item with respect to the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/102Material of the semiconductor or solid state bodies
    • H01L2924/1025Semiconducting materials
    • H01L2924/10251Elemental semiconductors, i.e. Group IV
    • H01L2924/10253Silicon [Si]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Die Bonding (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】ロジック系IC用の設計自由度が大きく、かつ
高速化が可能な半導体装置を提供する。 【構成】インナリードのワイヤボンディングを行わない
面に絶縁テープを貼り付け、インナリード間の中央部分
で、前記テープのインナリードが貼り付いていない面に
シリコンチップの機能面側を貼り付けたことを特徴とす
る半導体装置。 【効果】シリコンチップの任意位置に電極パッドを配置
し、十分な絶縁を介してインナリードとの間をワイヤに
より結ぶことができ、チップ設計をし易くし、かつ高速
処理が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ASIC(Application
Specific I C)等に用いられる100ピン程度以上の多
ピンQFP(Quad Flat Package) の構造を有する半導体
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】100ピン程度以上のQFPは図8に示
すように、リードフレーム1の一部分であるアイランド
2の上にシリコンチップ3をペーストと呼ばれる接着剤
で固定し搭載している。シリコンチップ3はアイランド
2とは反対側の面が機能面であり、この面とインナリー
ド1とをボンディングワイヤ4で結線している。
【0003】また多ピン系では、インナリードは細く、
かつ隣りのリードとも近いので、インナリードの変形に
よる接触が考えられ、これを防止するためにリード固定
テープ5が貼り付けられるのが一般的である。
【0004】最近、ロジック系ICは、最終ユーザ専用
ICの傾向が進み、いわゆるASIC、さらにはCBI
C(Cell Base IC)といった方向に進んでいる。即ち、ユ
ーザ毎に異なったICとなるため、その種類は極めて多
くなり、従って異なる大きさのICでも同一のパッケー
ジあるいはリードフレームを用いて収納しようとする方
向にある。図8に示す従来構造パッケージにおいて、小
さなICを載せると、ボンディングワイヤが長くなるた
め、アイランド2に接触する恐れがある。これに対して
例えば、特開昭54−126465号によれば、リード
に接着保持させたテープを設け、その上に半導体ペレッ
トを配設したものが開示されている。
【0005】また、最近のもう一つの傾向として、各種
ICの処理速度の高速化がある。これに対してIC内の
配線を短かくする、あるいは比較的電流容量の大きい電
源・アース線をバスバ化し、IC内のほぼ任意の位置か
ら取り出せるようにする等の手段がパッケージ構造とし
てとられている(例えば、特開昭61−241959
号、特開昭60−167454号参照)。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】前記特開昭54−12
6465号では、シリコンチップの周辺部に電極チップ
を配置し、ワイヤボンディングしてリードと電気的に結
ぶことになり、バスバ化等ができないので、最近のIC
の高速化の要求に答えられない。
【0007】また、特開昭61−241959号あるい
は特開昭60−167454号で提示された構造では、
リード先端間の中央部分にシリコンチップを載せること
が難しく、QFPパッケージへの応用はできない。
【0008】本発明の目的は、ロジック系IC用の設計
自由度が大きく、かつ高速化が可能な半導体装置を提供
することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明によれば、インナリードのワイヤボンディング
を行わない面に絶縁テープを貼り付け、前記絶縁テープ
のインナリードが貼り付いていない面に、前記インナリ
ードの先端間にわたってシリコンチップの機能面を固着
させたことを特徴とする半導体装置が提供される。
【0010】ここで、前記絶縁テープのインナリードが
貼り付いている面に電源用のバスバを有するのが好まし
い。
【0011】
【実施例】以下に本発明を実施例に基づき具体的に説明
する。
【0012】図1〜3、図4〜6および図7は、それぞ
れ本発明の第1〜3の実施例を示す。これらはいずれも
136ピンQFP(28mm角)パッケージである。
【0013】第1の実施例では、図1(断面図)、図2
(モールド前の部分平面図)および図3(拡大斜視図)
に示すように厚さ0.2mm、Fe−42Ni合金リー
ドフレーム7のインナリード1の下面にテープを貼り付
けてある。インナリード上面にはワイヤボンディングの
ための銀めっき(図示せず)が施されている。テープ6
は、50μm厚のポリイミドフィルムの両面に約20μ
mのポリエーテルアミドイミド熱可塑性接着剤がコート
されている。テープ6の中央部分に、約6mm角、厚さ
0.25mmのシリコンチップ3が前記テープ6に用い
たものと同様の接着剤で貼り付けてある。テープ6には
断面(図1にて紙面に対し前後方向の)台形状の穴8が
あけてあり、この穴を通してインナリード1とチップ3
とがボンディングワイヤ4で結線されている。テープ6
との接着はリード、チップいずれの場合も350〜40
0℃に加熱したホットプレートと、ほぼ常温に水冷却し
ているプレートとではさみこみ、加熱圧着すればよい。
このとき、テープに直接当たるプレート側を冷却プレー
トとし、この冷却プレートで押すようにするとよい。
【0014】なお、本発明は上記範囲に限定されるもの
でないことは言うまでもない。
【0015】第2の実施例は、基本的には前記第1の実
施例と同様であるが、図4〜6に示すように電源用また
はグランド用のバスバ9をもたせている。バスバ9はア
ウタリードにつながっている。また、チップ3とボンデ
ィングワイヤ4で結ばれている。バスバにより、電源ま
たはグランドの電気抵抗が低下し、高周波特性を改善で
きるので、ICの高速化を図ることが可能になる。ま
た、電源またはグランドのインナリードを節約できるの
で、多ピン化が容易となる等の利点がある。
【0016】図7は第3の実施例を示す。ここでは、テ
ープとしてインナリード1貼り付けテープ6とチップ3
貼り付けテープ10の2枚を用いている。これらのテー
プ6および10は、いずれも片面にポリエーテルアミド
イミド熱可塑性接着剤がコートしてある。そして、テー
プ6と10の間もこの接着剤で接合されている。本実施
例は、両面接着剤コートテープの場合に治工具に接着剤
が付いて貼り付けられない場合、あるいはテープ厚さ分
でもパッケージを薄くしたい場合等に有利である。
【0017】
【発明の効果】本発明は以上説明したように構成されて
いるので、以下の効果を奏する。 (1)チップおよびパッケージの設計がし易くなる。 (2)ICの高速化が図れる。 (3)種々の大きさのICを同一のリードフレームに塔
載することができ、納期短縮、コスト低減が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例を示す断面図である。
【図2】第1の実施例のモールド前の状態を示す部分平
面図である。
【図3】ボンディング後の図2のA部の拡大斜視図であ
る。
【図4】本発明の第2の実施例を示す断面図である。
【図5】第2の実施例のモールド前の状態を示す部分平
面図である。
【図6】ボンディング後の図5のB部の拡大斜視図であ
る。
【図7】本発明の第3の実施例を示す断面図である。
【図8】従来のQFP構造の半導体装置の断面図であ
る。
【符号の説明】
1 インナリード 2 アイランド 3 シリコンチップ 4 ボンディングワイヤ 5 リード固定テープ 6 テープ 7 リードフレーム 8 テープの穴 9 バスバ 10 テープ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 杉 本 洋 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内 (72)発明者 高 坂 博 之 茨城県日立市助川町3丁目1番1号 日立 電線株式会社電線工場内 (72)発明者 亀 山 康 晴 茨城県土浦市木田余町3550番地 日立電線 株式会社システムマテリアル研究所内 (72)発明者 鈴 木 博 通 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内 (72)発明者 内 藤 孝 洋 東京都小平市上水本町5丁目20番1号 株 式会社日立製作所武蔵工場内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】インナリードのワイヤボンディングを行わ
    ない面に絶縁テープを貼り付け、前記絶縁テープのイン
    ナリードが貼り付いていない面に、前記インナリードの
    先端間にわたってシリコンチップの機能面を固着させた
    ことを特徴とする半導体装置。
  2. 【請求項2】前記シリコンチップは、ロジック系ICで
    あり、QFP構造を有する請求項1記載の半導体装置。
JP04038125A 1992-02-25 1992-02-25 半導体装置 Expired - Fee Related JP3080333B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04038125A JP3080333B2 (ja) 1992-02-25 1992-02-25 半導体装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04038125A JP3080333B2 (ja) 1992-02-25 1992-02-25 半導体装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05235246A true JPH05235246A (ja) 1993-09-10
JP3080333B2 JP3080333B2 (ja) 2000-08-28

Family

ID=12516736

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04038125A Expired - Fee Related JP3080333B2 (ja) 1992-02-25 1992-02-25 半導体装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3080333B2 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6429507B1 (en) * 2000-04-03 2002-08-06 Artesyn Technologies, Inc. Electrical device including a leaded cell assembly
US6661081B2 (en) 2000-10-20 2003-12-09 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and its manufacturing method
JP2009231425A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Toppan Printing Co Ltd テープ基板貼り合わせ構造体及び半導体装置
US9070883B2 (en) 2007-12-21 2015-06-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anthracene derivative, and light-emitting material, light-emitting element, light-emitting device, and electronic device using the same

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6429507B1 (en) * 2000-04-03 2002-08-06 Artesyn Technologies, Inc. Electrical device including a leaded cell assembly
US6661081B2 (en) 2000-10-20 2003-12-09 Hitachi, Ltd. Semiconductor device and its manufacturing method
US6962836B2 (en) 2000-10-20 2005-11-08 Renesas Technology Corp. Method of manufacturing a semiconductor device having leads stabilized during die mounting
US9070883B2 (en) 2007-12-21 2015-06-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Anthracene derivative, and light-emitting material, light-emitting element, light-emitting device, and electronic device using the same
JP2009231425A (ja) * 2008-03-21 2009-10-08 Toppan Printing Co Ltd テープ基板貼り合わせ構造体及び半導体装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3080333B2 (ja) 2000-08-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5563443A (en) Packaged semiconductor device utilizing leadframe attached on a semiconductor chip
JP2582013B2 (ja) 樹脂封止型半導体装置及びその製造方法
US5473514A (en) Semiconductor device having an interconnecting circuit board
EP0247775B1 (en) Semiconductor package with high density i/o lead connection
EP0843356B1 (en) Lead-on-chip semiconductor device
US6261865B1 (en) Multi chip semiconductor package and method of construction
US5541446A (en) Integrated circuit package with improved heat dissipation
KR100269281B1 (ko) 반도체장치
US5084753A (en) Packaging for multiple chips on a single leadframe
EP0590986B1 (en) Lead-on-chip lead frame
JPH0831560B2 (ja) 回路パツケージ・アセンブリ
JPH0550134B2 (ja)
US5796159A (en) Thermally efficient integrated circuit package
KR930024140A (ko) 반도체장치 및 그 제조방법
JPH1056124A (ja) リードフレーム及びボトムリード型半導体パッケージ
JPH1064946A (ja) 半導体装置及びその製造方法
JPS63246851A (ja) 半導体装置の保持器および集積回路をプラスチック・パッケージの内部に収納する方法
JPS60167454A (ja) 半導体装置
JPH05235246A (ja) 半導体装置
JPH11259620A (ja) Icモジュールおよびicカード
JPS622628A (ja) 半導体装置
JPH104167A (ja) 半導体装置
JPS6046038A (ja) 集積回路装置
JP2587722Y2 (ja) 半導体装置
JPH07201928A (ja) フィルムキャリア及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20000530

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees
S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350