JPH05234072A - 磁気ディスク媒体の評価方法、磁気ディスク媒体及び磁気ディスク装置 - Google Patents

磁気ディスク媒体の評価方法、磁気ディスク媒体及び磁気ディスク装置

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JPH05234072A
JPH05234072A JP3604792A JP3604792A JPH05234072A JP H05234072 A JPH05234072 A JP H05234072A JP 3604792 A JP3604792 A JP 3604792A JP 3604792 A JP3604792 A JP 3604792A JP H05234072 A JPH05234072 A JP H05234072A
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JP
Japan
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magnetic disk
disk medium
lubricating film
medium
film
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Application number
JP3604792A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Matsumoto
浩之 松本
Junko Shintani
順子 新谷
Kenzo Masuda
賢三 益田
Fumio Nakano
文雄 中野
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】表面が潤滑膜で被覆されている磁気ディスク媒
体において、潤滑剤による媒体と磁気ヘッドとの粘着が
起こらない磁気ディスク媒体の評価方法と、潤滑剤によ
る媒体と磁気ヘッドとの粘着が起こらない磁気ディスク
媒体と、該磁気ディスク媒体を備えた磁気ディスク装置
を提供すること。 【構成】 媒体表面に形成される潤滑膜として、その原
子間力顕微鏡で測定した吸着力が潤滑膜を形成する前の
吸着力の1.5倍を超えるか否かで評価する。1.5倍
を越えない場合には、潤滑膜厚に無関係に粘着力が小さ
くなり、磁気ヘッドとの粘着は生じない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、磁気ディスク媒体の評
価方法、磁気ディスク媒体及び磁気ディスク装置にかか
り、特に磁気ディスク媒体の表面に磁気ヘッドと粘着し
ない良好な潤滑膜を備えているか否かを適切に評価する
のに好適な磁気ディスク媒体の評価方法と、表面に磁気
ヘッドと粘着しない良好な潤滑膜を備えている磁気ディ
スク媒体と、該良好な潤滑膜を備えている磁気ディスク
媒体を備えた磁気ディスク装置に関する。
【0002】
【従来の技術】磁気ディスク媒体は、読み書きの動作を
行う磁気ヘッドとの摺動による媒体の損傷を防止するた
め、磁性膜の上にカーボンなどの硬質の保護膜を形成
し、さらにその上に摩擦力を低減するために潤滑膜を形
成しているのが一般的である。潤滑膜を厚くすれば摺動
に対する信頼性が著しく向上することは公知であるが、
一方潤滑剤をたくさん付着させると磁気ヘッドが媒体表
面に強く吸着し、装置を起動させるために、磁気ディス
ク媒体を回転させてもヘッドが浮上せず、結果としてヘ
ッドあるいは磁気ディスク媒体を傷めてしまうことにな
る。特に、高記録密度での読み書きに有利な薄膜媒体で
は、磁気ヘッドと媒体の間隔を極端に小さくする必要が
あり、媒体の表面は非常に平滑に作られ、潤滑剤を厚く
塗布することはできないとされている。
【0003】例えば、特開平2−260126号公報に
開示された発明は、媒体表面粗さに応じて潤滑膜厚を制
御する必要性を述べている。しかし、これでは薄膜媒体
のように、磁気ヘッドと媒体の間隔が小さくなるほど磁
気ヘッドとの摺動による媒体の損傷の機会が増えるの
に、潤滑膜厚は厚く出来ないという矛盾が生じてくる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】従って、上記従来技術
では媒体表面が平滑になった場合の摺動に対する信頼性
を保証できる潤滑膜を得ることが出来ないという問題点
があった。
【0005】本発明の第1の目的は、磁気ディスク媒体
が、潤滑剤の種類、潤滑膜の形成法などに依らず、平滑
な表面に対しても摺動や吸着に対する信頼性を保証する
に足る良好な潤滑膜を備えているか否かを確実に検査す
ることが可能な磁気ディスク媒体の評価方法を提供する
ことにある。
【0006】また、本発明の第2の目的は、上記磁気デ
ィスク媒体の評価方法により良好な潤滑膜を備えている
と評価される磁気記録媒体を提供することにある。
【0007】また、本発明の第3の目的は、上記検査方
法により良好な潤滑膜を備えていると評価された磁気デ
ィスク媒体を備えた磁気ディスク装置を提供することに
あり、これは上記評価方法が磁気ヘッドと磁気ディスク
媒体の組合せからなる磁気記録再生装置においてその有
用性が発揮されるものであるので、必然的に磁気ヘッド
と磁気ディスク媒体との間隔を小さくして用いられる磁
気ディスク装置の信頼性を高めることにつながるもので
ある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の磁気ディスク媒
体の評価方法は、潤滑膜形成後における磁気ディスク媒
体表面における探針の垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前
の磁気ディスク媒体表面の垂直方向吸着力の1.5倍を
超えるか否かを判定し、1.5倍を越えない場合に該磁
気ディスク媒体を良品と判定するものである。
【0009】また、本発明の磁気ディスク媒体は、潤滑
膜形成後における磁気ディスク媒体表面における探針の
垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前の磁気ディスク媒体表
面の垂直方向吸着力の1.5倍を超えないことを特徴と
するものである。
【0010】また、本発明の磁気ディスク装置は、潤滑
膜形成後における磁気ディスク媒体表面における探針の
垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前の磁気ディスク媒体表
面の垂直方向吸着力の1.5倍を超えない磁気ディスク
媒体を搭載したことを特徴とするものである。
【0011】
【作用】次に、本発明の原理について説明する。発明者
らは磁気ディスク媒体表面における吸着力を詳細に検討
し、その吸着力がある条件を満足していれば、潤滑剤の
種類や潤滑膜の形成法に依存せず、一定の良好な粘着特
性が得られ、磁気ディスク媒体の表面が平滑でも、必要
な量の潤滑剤を塗布できることを明らかにした。上記吸
着力の測定は原子間力顕微鏡(Atomic Forc
e Microscope;以下「AFM」と略称す
る。)を用いて行われた。これは、微細な探針の先端が
磁気ディスク媒体の表面にnmオーダで接近した状態で
の吸着力を計測するもので、表面に存在する物質の性質
や存在する形態によって異なる吸着力を示すと考えられ
ている。一方、従来技術では、特開平2−260126
号公報に開示されているように、磁気ディスク媒体の表
面とヘッドとの粘着力については、主として表面の形状
と関連していると考えられ、上述したような吸着力との
関連については言及されることはなかった。
【0012】発明者らは、吸着力と磁気ディスク媒体の
表面とヘッドとの粘着力の関係を詳細に検討し、その結
果に基づいて潤滑膜を形成した後のAFMによる吸着力
が潤滑膜を形成する前のAFMによる吸着力の1.5倍
を超えなければ潤滑膜厚を厚くしても媒体表面とヘッド
との間に大きな粘着力を発生することはなく、実用し得
る磁気ディスク媒体、ひいては磁気ディスク装置を提供
できることを見出したものである。
【0013】本発明によって、実質的に従来よりも潤滑
剤を多く表面に付着させ、ヘッドとの摺動に強い媒体と
するとともに、ヘッドとの組合せにおいて装置起動時の
粘着力が小さく、起動に支障を来すことのない磁気ディ
スク装置を実現できる。
【0014】
【実施例】以下、添付の図面を用いて、本発明の実施例
について説明する。 (磁気ディスク媒体の構造)図1は、本発明が適用され
る磁気ディスク媒体の膜構成を示す部分断面図である。
図中、基板1は、Al−Mg合金にメッキ処理を施し、
NiP膜を被覆したものである。基板1としては、非磁
性の硬質材料であれば良いので、特に限定せずに他の材
料、例えばTi合金、強化ガラスなども使用できる。
【0015】下地膜2は、スパッタ法で形成されたCr
膜からなり、50−300nmの厚さで形成されてい
る。下地膜2としては、Cr合金膜が用いられることも
あり、時には下地膜2を全く形成しない場合もありう
る。
【0016】磁性膜3は、スパッタ法で形成されたCo
系の合金膜であるが、これも通常用いられる他の磁性膜
のいずれも用いることが可能である。
【0017】保護膜4は、スパッタ法によって形成され
たアモルファスカーボン膜であるが、他に、酸化シリコ
ン、酸化ジルコニューム、酸化タンタルなどの金属酸化
物、シリコンカーバイド、タングステンカーバイドなど
の炭化物を用いても良い。
【0018】保護膜4は、潤滑剤との結合性を高めるた
めに、表面を清浄化するなどの前処理を行うこともあ
る。
【0019】潤滑膜5は、分子構造の主成分がパーフロ
ロポリエーテル構造から成る潤滑剤を薄膜状に形成した
ものである。本発明の目的を高度に達成するためには、
分子の末端に少なくとも1個以上の保護膜と作用して媒
体表面に対する付着力を高める構造(一般に「極性基」
と総称される構造)を有する潤滑剤が効果的である。例
えば、エステル基、アミン塩構造、芳香族環構造などが
挙げられる。
【0020】下地膜2、磁性膜3、保護膜4は真空チャ
ンバ内でスパッタ法によって連続して形成される。
【0021】(吸着力の定義及び測定方法)磁気ディス
ク媒体表面における吸着力測定は、米国デジタル・イン
ストルメント社製のAFMを用いて行った。図2と図3
は、吸着力を測定する装置構造の一例を示す図であり、
図2は側面図、図3は底面図を示している。図示するよ
うに、微小バネ6の先端部に探針7(高さ3.6μm、
最大径5.1μm)が設けられ、この探針7を磁気ディ
スク媒体の表面に接触させることにより、吸着力測定を
行う。ただし、微小バネ6と探針7は駆動される事な
く、磁気ディスク媒体を3次元方向に応答できるピエゾ
素子を備えた試料台上に載置し、該ピエゾ素子に加える
電圧を変化させることにより、磁気ディスク媒体を探針
7に近づけたり、遠ざけたりする(図示せず)。
【0022】図4は、吸着力測定の際における試料(磁
気ディスク媒体)と探針7の間の距離と微小バネ6の変
形量の関係を示す図である。図中に矢印Y1で示すよう
に、探針7の先端を媒体の表面に近づけていくと、媒体
表面と探針7が接触する手前のある点Aにおいて吸着力
(引力)が作用し、矢印Y2で示すように、探針7が媒
体表面に引きつけられる。このため、微小バネ6は、点
Aから点Bに変位し、大きく変形する。この状態から、
矢印Y3に示すように、さらに探針7と媒体表面を近づ
ける方向にピエゾ素子を操作すると、探針7と媒体表面
の間には微小バネ6の斥力が働くようになる。
【0023】さらに、この状態から、今度は矢印Y4,
Y5で示すように、探針7と媒体表面を近づけて行く
と、探針7と媒体表面の吸着力と微小バネ6による引力
が均衡するまでは、微小バネ6が変形し、点Cにおいて
探針7が媒体表面からはずれ、微小バネ6の変形はゼロ
に戻る。
【0024】図4において、点Aは、吸着力によって微
小バネ6が変形した点であり、この時の微小バネ6の変
形量δが吸着力に比例する量になる。
【0025】上記変形量δの測定を潤滑膜がない場合
と、潤滑膜がある場合とで測定し、それぞれの微小バネ
6の変形量δをδ0、δ1とし吸着力の代わりに用い
た。
【0026】測定は、それぞれ実施例、比較例ごとに、
磁気ディスク媒体表面の任意の20から30の点につい
て行われた。
【0027】(実施例1)図1に示す保護膜4まで形成
した媒体を、酸素プラズマ雰囲気で処理した後、モンテ
フロース社製潤滑剤(Fomblin AM2001
(登録商標))の0.1〜1wt%溶液(溶剤;デュポ
ン社製のフロン113)に10分間浸漬して潤滑剤を塗
布し、そのあとフロン113に3分間浸漬して潤滑剤の
一部を洗い流し、所定の潤滑膜を形成した。以後、この
潤滑膜の形成方法を潤滑膜形成方法Aと称する。
【0028】(比較例)図1に示す保護膜4まで形成し
た媒体を、そのままモンテフロース社製潤滑剤(Fom
blin AM2001(登録商標))の0.1〜1w
t%溶液(溶剤;デュポン社製のフロン113)に10
分間浸漬して潤滑膜を形成した。以後、この潤滑膜の形
成方法を潤滑膜形成方法B等称する。
【0029】図5は、上記実施例1と比較例における吸
着力の変化率(δ1/δ0)と潤滑膜厚の関係を示す図
である。
【0030】また、図6は、対応する媒体の潤滑膜形成
後の粘着力と潤滑膜厚の関係を示す図である。ここで、
粘着力は、磁気ヘッドを磁気ディスク媒体の表面に垂直
加重10グラムで静置し、80℃、80%相対湿度の雰
囲気中に72時間放置し、その後磁気ヘッドを磁気ディ
スク媒体の接線方向に引いたときの最大接線力(S)で
ある。
【0031】実施例1では、図5から明らかなように、
吸着力の変化率(δ1/δ0)は潤滑膜厚が厚くなって
も変化せず、小さい値(約1.0)を保持している。ま
た、図6から明らかなように、実施例1では潤滑膜厚の
厚さに無関係に、粘着力が小さい値(約2.0)を保持
している。したがって、実施例1の磁気ディスク媒体
は、潤滑膜厚を厚くしても粘着力が小さな値を保持して
変化せず、良好な潤滑膜が形成されていることがわか
る。
【0032】これに対して、比較例は、図5から明らか
なように、吸着力の変化率(δ1/δ0)が潤滑膜厚4
nm位から大きくなり、また図6から明らかなように、
粘着力も潤滑膜厚4nm位から大きくなる。比較例にお
いては、図5から明らかなように、潤滑膜厚4nm程度
における吸着力の変化率(δ1/δ0)は1.5であ
る。
【0033】このように、潤滑膜の微細な構造は不明で
あっても、吸着力の変化率(δ1/δ0)を指標にする
ことにより、潤滑膜の良否を判定できることが明らかに
なる。すなわち、実施例1と比較例から明らかなよう
に、吸着力の変化率(δ1/δ0)が1.5以下である
磁気ディスク媒体は、粘着力が潤滑膜厚に無関係に一定
になり、良好な潤滑膜を備えていると判定できる。
【0034】(実施例2〜6)潤滑剤の種類、潤滑膜形
成方法をかえて実験した例についての結果をまとめて表
1に示す。
【0035】
【表1】
【0036】表1は、実施例1と比較例を含めて、潤滑
剤の種類、潤滑膜の形成方法、潤滑膜厚、吸着力変化
率、粘着力を明記している。
【0037】これらの実施例1〜6においては、いづれ
も吸着力の変化率(δ1/δ0)が1.5を超えておら
ず、粘着力が小さい媒体を実現している。
【0038】なお、上記した吸着力の変化率(δ1/δ
0)が1.5を越えない潤滑膜を形成しやすい潤滑剤と
しては、表1に示すように、分子末端に極性基を有する
パーフロロポリエーテル化合物を主成分とするものや、
分子末端にアミン塩構造を有するパーフロロポリエーテ
ル化合物を主成分とするものがある。
【0039】なお、これらの実施例1〜6は、既に述べ
たように本発明の要件を達成し得る手段の実例を列挙し
たのみであり、従って本発明を実現する手段を限定する
ものではない。
【0040】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、表面に潤滑膜が形成されてなる磁気ディスク
媒体において、AFMで測定される吸着力が潤滑膜のな
い媒体に比べ1.5倍を超えるか否かによって、良好な
潤滑膜か否かを判定でき、1.5倍を越えないように潤
滑膜を形成すれば、潤滑膜厚が厚くても粘着を起こさな
い磁気ディスク媒体を得ることができ、さらには粘着を
起こさないで記録再生を行うことができる磁気ディスク
装置を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される磁気ディスク媒体の膜構成
を示す部分断面図。
【図2】吸着力測定に用いた原子間力顕微鏡の探針付き
微小バネの構造を示す側面説明図。
【図3】吸着力測定に用いた原子間力顕微鏡の探針付き
微小バネの構造を示す底面説明図。
【図4】吸着力測定の際における試料(磁気ディスク媒
体)と探針間の距離と微小バネの変形量の関係を示す図
【図5】実施例1及び比較例の吸着力変化率の潤滑膜厚
依存性を示す図。
【図6】実施例1及び比較例の粘着力の潤滑膜厚依存性
を示す図。
【符号の説明】 1…基板、2…下地膜、3…磁性膜、4…保護膜、5…
潤滑膜、6…微小バネ、7…探針。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 中野 文雄 神奈川県小田原市国府津2880番地 株式会 社日立製作所小田原工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板上に少なくとも磁気的に記録再生可能
    な磁性膜を有し、最表面に潤滑膜を有する磁気ディスク
    媒体の評価方法において、 潤滑膜形成後における磁気ディスク媒体表面における探
    針の垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前の磁気ディスク媒
    体表面の深針の垂直方向吸着力の1.5倍を超えるか否
    かを判定し、1.5倍を越えない場合に該磁気ディスク
    媒体を良品と判定することを特徴とする磁気ディスク媒
    体の評価方法。
  2. 【請求項2】基板上に少なくとも磁気的に記録再生可能
    な磁性膜を有し、最表面に潤滑膜を有する磁気ディスク
    媒体において、 潤滑膜形成後における磁気ディスク媒体表面における探
    針の垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前の磁気ディスク媒
    体表面の探針の垂直方向吸着力の1.5倍を超えないこ
    とを特徴とする磁気ディスク媒体。
  3. 【請求項3】上記潤滑膜は、分子末端に極性基を有する
    パーフロロポリエーテル化合物を主成分とすることを特
    徴とする請求項2記載の磁気ディスク媒体。
  4. 【請求項4】上記潤滑膜は、分子末端にアミン塩構造を
    有するパーフロロポリエーテル化合物を主成分とするこ
    とを特徴とする請求項2記載の磁気ディスク媒体。
  5. 【請求項5】基板上に少なくとも磁気的に記録再生可能
    な磁性膜を有し、最表面に潤滑膜を有する磁気ディスク
    媒体であって、潤滑膜形成後における磁気ディスク媒体
    表面における探針の垂直方向吸着力が、潤滑膜形成前の
    磁気ディスク媒体表面の探針の垂直方向吸着力の1.5
    倍を超えない磁気ディスク媒体を搭載したことを特徴と
    する磁気ディスク装置。
JP3604792A 1992-02-24 1992-02-24 磁気ディスク媒体の評価方法、磁気ディスク媒体及び磁気ディスク装置 Pending JPH05234072A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007299473A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 磁気ディスク評価方法

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JP2007299473A (ja) * 2006-04-28 2007-11-15 Fuji Electric Device Technology Co Ltd 磁気ディスク評価方法

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