JPH05226085A - キセノンランプの保護回路 - Google Patents
キセノンランプの保護回路Info
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- JPH05226085A JPH05226085A JP5600192A JP5600192A JPH05226085A JP H05226085 A JPH05226085 A JP H05226085A JP 5600192 A JP5600192 A JP 5600192A JP 5600192 A JP5600192 A JP 5600192A JP H05226085 A JPH05226085 A JP H05226085A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 促進耐候試験機等に用いられるキセノンラン
プ放射エネルギー自動調節のための放射照度自動制御系
を備えたキセノンランプに多大な負荷がかかることを防
止する。 【構成】キセノンランプ光源、放射照度測定用受光器、
増幅器、調節回路、キセノンランプの放電電力を制御す
る電力制御回路からなる放射エネルギー自動調節のため
の放射照度自動制御系に、メモリ回路を挿入し、そのメ
モリ回路には保持スイッチを介してタイマー回路を接続
し、それによりキセノンランプの点灯後放射照度が安定
するに必要な時間を計時した時の制御信号を初期値とし
てメモリ回路に保持する。ランプ放電電力が過大となっ
ても、このメモリ回路の初期値を利用してランプ放電電
力を制御するようにしてランプの過負荷を防止し、ラン
プを保護する。
プ放射エネルギー自動調節のための放射照度自動制御系
を備えたキセノンランプに多大な負荷がかかることを防
止する。 【構成】キセノンランプ光源、放射照度測定用受光器、
増幅器、調節回路、キセノンランプの放電電力を制御す
る電力制御回路からなる放射エネルギー自動調節のため
の放射照度自動制御系に、メモリ回路を挿入し、そのメ
モリ回路には保持スイッチを介してタイマー回路を接続
し、それによりキセノンランプの点灯後放射照度が安定
するに必要な時間を計時した時の制御信号を初期値とし
てメモリ回路に保持する。ランプ放電電力が過大となっ
ても、このメモリ回路の初期値を利用してランプ放電電
力を制御するようにしてランプの過負荷を防止し、ラン
プを保護する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、促進耐候試験機等に用
いられる放射エネルギー自動調節のための放射照度自動
制御系を備えたキセノンランプの保護回路に関する。
いられる放射エネルギー自動調節のための放射照度自動
制御系を備えたキセノンランプの保護回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の促進耐候試験機の中には、光源と
して使用されるキセノンランプが例えば図５に示すよう
な使用に伴って放射エネルギーが減少する経時変化特性
を有しており、それに基いて試料に対する放射照度に時
間的変化が生じるので、それを補償するための自動制御
系を備えたもの、いわゆる放射エネルギー自動調節方式
のキセノンウェザメータがある。この種のウェザメータ
においては、例えば図４に概念的に示すように、試験室
１５内でキセノンランプ１の周りを回転する試料回転枠
１６に試料１７を装着して所定の耐候試験を行うが、そ
れら試料１７と同様の条件となるように試料面の位置で
ランプ放射を受光するために試料回転枠１６に放射照度
測定用受光器２を設置し、その出力を例えばスリップリ
ング機構を介して導出し、増幅器３、調節回路４を経て
制御信号として電力制御回路５に供給することによりラ
ンプ放電電力を試料への放射照度に応じて制御するよう
にした自動制御系が設けられている。
して使用されるキセノンランプが例えば図５に示すよう
な使用に伴って放射エネルギーが減少する経時変化特性
を有しており、それに基いて試料に対する放射照度に時
間的変化が生じるので、それを補償するための自動制御
系を備えたもの、いわゆる放射エネルギー自動調節方式
のキセノンウェザメータがある。この種のウェザメータ
においては、例えば図４に概念的に示すように、試験室
１５内でキセノンランプ１の周りを回転する試料回転枠
１６に試料１７を装着して所定の耐候試験を行うが、そ
れら試料１７と同様の条件となるように試料面の位置で
ランプ放射を受光するために試料回転枠１６に放射照度
測定用受光器２を設置し、その出力を例えばスリップリ
ング機構を介して導出し、増幅器３、調節回路４を経て
制御信号として電力制御回路５に供給することによりラ
ンプ放電電力を試料への放射照度に応じて制御するよう
にした自動制御系が設けられている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】このような構成のた
め、放射照度測定用受光器２の表面フィルタが耐候試験
に伴う降雨、結露、試料から出る化学物質、風によるホ
コリ等により汚れて透過率が低下したり、また、ランプ
冷却水によってランプ発光管が黒化して放射照度が低下
したりすると、キセノンランプ１の放電電力が増大する
ように制御されてキセノンランプに多大の負荷がかか
り、ランプ発光管の僅かなキズ等によってランプの寿命
は短くなり、ランプ破損等の事故につながることがあっ
た。加えて、試験中の試料が設定した放射照度より大き
い放射エネルギーを受けることとなり、適正な試験がで
きなくなるという問題もあった。本発明は、上記したよ
うな放射照度自動制御系を備えたキセノンランプに多大
な負荷がかかる場合に、ランプを保護することを目的と
する。
め、放射照度測定用受光器２の表面フィルタが耐候試験
に伴う降雨、結露、試料から出る化学物質、風によるホ
コリ等により汚れて透過率が低下したり、また、ランプ
冷却水によってランプ発光管が黒化して放射照度が低下
したりすると、キセノンランプ１の放電電力が増大する
ように制御されてキセノンランプに多大の負荷がかか
り、ランプ発光管の僅かなキズ等によってランプの寿命
は短くなり、ランプ破損等の事故につながることがあっ
た。加えて、試験中の試料が設定した放射照度より大き
い放射エネルギーを受けることとなり、適正な試験がで
きなくなるという問題もあった。本発明は、上記したよ
うな放射照度自動制御系を備えたキセノンランプに多大
な負荷がかかる場合に、ランプを保護することを目的と
する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、キセノ
ンランプ光源、キセノンランプの放射照度測定用受光
器、増幅器、調節回路、キセノンランプの放電電力を制
御する電力制御回路からなる放射エネルギー自動調節の
ための放射照度自動制御系に、メモリ回路を挿入し、メ
モリ回路には保持スイッチを介してタイマー回路を接続
し、それによりキセノンランプの点灯後放射照度が安定
するに必要な時間を計時した時の制御信号が初期値とし
てメモリ回路に保持されるようにする。ランプ放電電力
の制御を次の三種の方法で行うことにより、ランプの過
負荷を防止する。
ンランプ光源、キセノンランプの放射照度測定用受光
器、増幅器、調節回路、キセノンランプの放電電力を制
御する電力制御回路からなる放射エネルギー自動調節の
ための放射照度自動制御系に、メモリ回路を挿入し、メ
モリ回路には保持スイッチを介してタイマー回路を接続
し、それによりキセノンランプの点灯後放射照度が安定
するに必要な時間を計時した時の制御信号が初期値とし
てメモリ回路に保持されるようにする。ランプ放電電力
の制御を次の三種の方法で行うことにより、ランプの過
負荷を防止する。
【０００５】(1) 電力制御回路に接続されたランプ放電
電力監視回路により、ランプ放電電力を監視し、それが
規定値を超えると制御信号をメモリ回路に保持されてい
る初期値に切換えて、キセノンランプを初期と同じ放電
電力で点灯させる。 (2) メモリ回路に初期値が保持されると、以後はその初
期値を制御信号としてキセノンランプを一定電力で点灯
させる。この場合、メモリ回路の出力電圧はキセノンラ
ンプの放射エネルギーの経時変化に対応して変化するよ
うにプログラムされており、また、受光器の前面には開
閉自在な遮蔽板を設け、タイマー回路の出力により自動
的に閉状態に制御して受光器の表面フィルタの汚れを防
止する。 (3) 上記(1) の構成に加えて、受光器により測定された
放射照度と規定値とを比較する比較回路を設け、メモリ
回路の出力により制御されたランプ放電電力が低すぎる
場合には、メモリ回路をリセットし、タイマー回路を再
起動して新たなランプ放電電力の安定値を記憶させるよ
うにして、キセノンランプの放射エネルギーの経時変化
に追随させる。
電力監視回路により、ランプ放電電力を監視し、それが
規定値を超えると制御信号をメモリ回路に保持されてい
る初期値に切換えて、キセノンランプを初期と同じ放電
電力で点灯させる。 (2) メモリ回路に初期値が保持されると、以後はその初
期値を制御信号としてキセノンランプを一定電力で点灯
させる。この場合、メモリ回路の出力電圧はキセノンラ
ンプの放射エネルギーの経時変化に対応して変化するよ
うにプログラムされており、また、受光器の前面には開
閉自在な遮蔽板を設け、タイマー回路の出力により自動
的に閉状態に制御して受光器の表面フィルタの汚れを防
止する。 (3) 上記(1) の構成に加えて、受光器により測定された
放射照度と規定値とを比較する比較回路を設け、メモリ
回路の出力により制御されたランプ放電電力が低すぎる
場合には、メモリ回路をリセットし、タイマー回路を再
起動して新たなランプ放電電力の安定値を記憶させるよ
うにして、キセノンランプの放射エネルギーの経時変化
に追随させる。
【０００６】
【実施例】図１は、本発明によるキセノンランプの保護
回路を促進耐候試験機に適用した一実施例を示すブロッ
ク図である。図中、１は耐候試験用光源としてのキセノ
ンランプ、２は放射照度測定用受光器、３は増幅器、４
は比例帯（Ｐ）４１、微分回路（Ｄ）４２および積分回
路（Ｉ）４３からなるＰＩＤによる調節回路４、５はＳ
ＣＲ制御電圧出力回路５１およびランプ点灯用ＳＣＲ回
路５２からなる電力制御回路、６はメモリ回路、７は保
持スイッチ、８はタイマー回路、９はエネルギー（放射
照度）表示器、１０は放射照度積算計、１１はランプ放
電電力監視回路、１２は異常警報手段、１３は切換スイ
ッチである。
回路を促進耐候試験機に適用した一実施例を示すブロッ
ク図である。図中、１は耐候試験用光源としてのキセノ
ンランプ、２は放射照度測定用受光器、３は増幅器、４
は比例帯（Ｐ）４１、微分回路（Ｄ）４２および積分回
路（Ｉ）４３からなるＰＩＤによる調節回路４、５はＳ
ＣＲ制御電圧出力回路５１およびランプ点灯用ＳＣＲ回
路５２からなる電力制御回路、６はメモリ回路、７は保
持スイッチ、８はタイマー回路、９はエネルギー（放射
照度）表示器、１０は放射照度積算計、１１はランプ放
電電力監視回路、１２は異常警報手段、１３は切換スイ
ッチである。
【０００７】放射照度測定用受光器２は、図４に示した
従来の試験機と同様に、キセノンランプ１の周りを回転
する回転試料枠１６に試料１７と並置して固定されてお
り、ランプ１から試料１７が受ける放射照度を測定す
る。受光器２の検出出力は増幅器３で増幅された後、試
験室１５内の雰囲気の変化などにより影響されないよう
に所定の伝達特性を有する調節回路４により制御信号に
変換される。得られた制御信号は、切換スイッチ１３の
一方の接点ａに直接供給されるとともに、メモリ回路６
に記憶され、その読み出し出力が他方の接点ｂに供給さ
れる。切換スイッチ１３により選択された制御信号は電
力制御回路５のＳＣＲ制御電圧出力回路５１に印加され
てその値に応じたＳＣＲ制御電圧を発生し、ランプ点灯
用ＳＣＲ回路５２を制御してキセノンランプ１の放電電
力を調整して試料１７への放射照度が一定に保たれる。
従来の試験機と同様に、キセノンランプ１の周りを回転
する回転試料枠１６に試料１７と並置して固定されてお
り、ランプ１から試料１７が受ける放射照度を測定す
る。受光器２の検出出力は増幅器３で増幅された後、試
験室１５内の雰囲気の変化などにより影響されないよう
に所定の伝達特性を有する調節回路４により制御信号に
変換される。得られた制御信号は、切換スイッチ１３の
一方の接点ａに直接供給されるとともに、メモリ回路６
に記憶され、その読み出し出力が他方の接点ｂに供給さ
れる。切換スイッチ１３により選択された制御信号は電
力制御回路５のＳＣＲ制御電圧出力回路５１に印加され
てその値に応じたＳＣＲ制御電圧を発生し、ランプ点灯
用ＳＣＲ回路５２を制御してキセノンランプ１の放電電
力を調整して試料１７への放射照度が一定に保たれる。
【０００８】メモリ回路６にはリレーからなる保持スイ
ッチ７を介してタイマー回路８が接続されており、試験
機の初期設定時に切換スイッチ１３を接点ａに接続して
通常の放射照度自動制御系を形成した状態でキセノンラ
ンプ１を点灯し、その後放射照度自動制御系の作用によ
りキセノンランプ１からの放射照度が安定するまでの時
間、例えば２０分、をタイマー回路８で計って保持スイ
ッチ７を投入する。これにより、メモリ回路６に初期安
定時の制御信号が記憶される。 電力制御回路５に接続
されたランプ放電電力監視回路１１は、キセノンランプ
１の放電電力を初期安定時の放電電力に相当する規定値
と比較しつつ監視しており、上記した従来の試験機と同
様に受光器表面フィルタの透過率低下やランプ発光管の
黒化などにより放電電力がその規定値以上になった時に
切換スイッチ１３を自動的に切換え、アナログメモリ６
に記憶されている初期値を制御信号としてＳＣＲ制御電
圧出力回路５１に印加してキセノンランプ１を初期と同
じ放電電力で点灯駆動するようにする。また、ランプ放
電電力監視回路１１は、制御信号を初期値に切り換える
と同時に、異常警報手段１２を駆動してランプ放電電力
の異常警報を発する。これにより、キセノンランプ１は
初期安定時の放電電力で点灯することとなり、ランプ負
荷を軽減して保護することができる。なお、受光器２で
測定される放射照度の現在値がエネルギー（放射照度）
表示器９により表示され、積算値が放射照度積算計１０
により表示される。
ッチ７を介してタイマー回路８が接続されており、試験
機の初期設定時に切換スイッチ１３を接点ａに接続して
通常の放射照度自動制御系を形成した状態でキセノンラ
ンプ１を点灯し、その後放射照度自動制御系の作用によ
りキセノンランプ１からの放射照度が安定するまでの時
間、例えば２０分、をタイマー回路８で計って保持スイ
ッチ７を投入する。これにより、メモリ回路６に初期安
定時の制御信号が記憶される。 電力制御回路５に接続
されたランプ放電電力監視回路１１は、キセノンランプ
１の放電電力を初期安定時の放電電力に相当する規定値
と比較しつつ監視しており、上記した従来の試験機と同
様に受光器表面フィルタの透過率低下やランプ発光管の
黒化などにより放電電力がその規定値以上になった時に
切換スイッチ１３を自動的に切換え、アナログメモリ６
に記憶されている初期値を制御信号としてＳＣＲ制御電
圧出力回路５１に印加してキセノンランプ１を初期と同
じ放電電力で点灯駆動するようにする。また、ランプ放
電電力監視回路１１は、制御信号を初期値に切り換える
と同時に、異常警報手段１２を駆動してランプ放電電力
の異常警報を発する。これにより、キセノンランプ１は
初期安定時の放電電力で点灯することとなり、ランプ負
荷を軽減して保護することができる。なお、受光器２で
測定される放射照度の現在値がエネルギー（放射照度）
表示器９により表示され、積算値が放射照度積算計１０
により表示される。
【０００９】図２は本発明によるキセノンランプの保護
回路を促進耐候試験機に適用した他の実施例を示してお
り、図中、図１に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、切換
スイッチ１３、ランプ放電電力監視回路１１および異常
警報手段１２が除かれており、放射照度自動制御系によ
りキセノンランプ１の放電電力が安定すると予め時間設
定されたタイマー回路８が出力を生じて保持スイッチ７
を付勢し、メモリ回路６がその時の制御信号を保持す
る。これ以降は、メモリ回路６が出力する制御信号の値
によりキセノンランプの放電電力が設定され、電源電圧
の変動が無ければキセノンランプ１は初期と同じ放電電
力で点灯し続けることとなる。これにより、受光器２の
表面フィルタの汚れやキセノンランプ１の発光管の黒化
が生じても、ランプの負荷が過大となることはない。
回路を促進耐候試験機に適用した他の実施例を示してお
り、図中、図１に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、切換
スイッチ１３、ランプ放電電力監視回路１１および異常
警報手段１２が除かれており、放射照度自動制御系によ
りキセノンランプ１の放電電力が安定すると予め時間設
定されたタイマー回路８が出力を生じて保持スイッチ７
を付勢し、メモリ回路６がその時の制御信号を保持す
る。これ以降は、メモリ回路６が出力する制御信号の値
によりキセノンランプの放電電力が設定され、電源電圧
の変動が無ければキセノンランプ１は初期と同じ放電電
力で点灯し続けることとなる。これにより、受光器２の
表面フィルタの汚れやキセノンランプ１の発光管の黒化
が生じても、ランプの負荷が過大となることはない。
【００１０】この場合、メモリ回路６は、その出力する
制御信号の値が、図５に示されているキセノンランプの
放射エネルギー経時変化特性に対応するように、上記の
保持された初期値からキセノンランプ１の使用時間に応
じて変化するようにプログラムされている。また、受光
器２の前面に開閉自在な遮蔽板２０を設け、初期設定時
の開状態からタイマー回路８の出力により自動的に閉状
態にセットされるように構成すれば、受光器２の表面フ
ィルタを降雨、結露、試料からの化学物質、風によるホ
コリ等による汚れから防止することができる。あるい
は、受光器２を回転試料枠１６から取りはずし、冷暗所
に保存しておくことも可能である。
制御信号の値が、図５に示されているキセノンランプの
放射エネルギー経時変化特性に対応するように、上記の
保持された初期値からキセノンランプ１の使用時間に応
じて変化するようにプログラムされている。また、受光
器２の前面に開閉自在な遮蔽板２０を設け、初期設定時
の開状態からタイマー回路８の出力により自動的に閉状
態にセットされるように構成すれば、受光器２の表面フ
ィルタを降雨、結露、試料からの化学物質、風によるホ
コリ等による汚れから防止することができる。あるい
は、受光器２を回転試料枠１６から取りはずし、冷暗所
に保存しておくことも可能である。
【００１１】本発明によるキセノンランプの保護回路を
促進耐候試験機に適用した更に他の実施例を図３に示
す。図中、図１に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、図１
に示した実施例に加えて、エネルギー（放射照度）表示
器９に放射照度比較回路１４が接続されており、その出
力がメモリ回路６のリセット端子Ｒ、タイマー回路８の
スタート端子Ｓおよび警報手段ＡＬＭに供給されるよう
に構成されている。タイマー回路８とは別に放射照度比
較回路１４を設けているので、メモリ回路６の出力電圧
で点灯している時の放射照度と設定した放射照度とを比
較し、放射照度が設定値に対して低すぎる場合にはメモ
リ回路６の出力電圧のリセット端子Ｒを動作させると同
時にタイマー回路８のセット端子Ｓを動作させて再起動
し、放射照度自動制御系を動作させて放射照度が設定値
になるようにし、放射照度の安定を待ってタイマー回路
８の計時終了後に再度メモリ回路６に制御電圧の現在値
を保持させる。その後、メモリ回路６の出力電圧に応じ
た一定電力でキセノンランプ１を点灯させる。以後、こ
れを繰り返す。
促進耐候試験機に適用した更に他の実施例を図３に示
す。図中、図１に示した実施例と同一の構成要素には同
一の符号が付されている。この実施例においては、図１
に示した実施例に加えて、エネルギー（放射照度）表示
器９に放射照度比較回路１４が接続されており、その出
力がメモリ回路６のリセット端子Ｒ、タイマー回路８の
スタート端子Ｓおよび警報手段ＡＬＭに供給されるよう
に構成されている。タイマー回路８とは別に放射照度比
較回路１４を設けているので、メモリ回路６の出力電圧
で点灯している時の放射照度と設定した放射照度とを比
較し、放射照度が設定値に対して低すぎる場合にはメモ
リ回路６の出力電圧のリセット端子Ｒを動作させると同
時にタイマー回路８のセット端子Ｓを動作させて再起動
し、放射照度自動制御系を動作させて放射照度が設定値
になるようにし、放射照度の安定を待ってタイマー回路
８の計時終了後に再度メモリ回路６に制御電圧の現在値
を保持させる。その後、メモリ回路６の出力電圧に応じ
た一定電力でキセノンランプ１を点灯させる。以後、こ
れを繰り返す。
【００１２】これにより、キセノンランプ１の放射エネ
ルギーが使用時間に伴って低下しても、自動的に検知し
てメモリ回路６の出力電圧を補正し、常に一定の電力に
よりランプを点灯することができる。また、この放射照
度比較回路１４から警報信号を出力することにより、ラ
ンプ発光管の急激な黒化や受光器２の表面フィルタの急
激な汚れを検知してウェザメータの運転を停止すること
も可能である。
ルギーが使用時間に伴って低下しても、自動的に検知し
てメモリ回路６の出力電圧を補正し、常に一定の電力に
よりランプを点灯することができる。また、この放射照
度比較回路１４から警報信号を出力することにより、ラ
ンプ発光管の急激な黒化や受光器２の表面フィルタの急
激な汚れを検知してウェザメータの運転を停止すること
も可能である。
【００１３】
【発明の効果】本発明によれば、以上説明したように、
耐候試験機等に用いられるキセノンランプの保護回路が
構成されているので、放射エネルギー自動調節のための
放射照度自動制御系に設けられている放射照度測定用受
光器の表面フィルタの汚れやランプ冷却水によるランプ
発光管の黒化によって、キセノンランプの放電電力が増
大して多大な負荷がかかることを防止し、キセノンラン
プを効果的に保護することができる。また、本発明によ
る保護回路は、キセノンランプの放射エネルギーの経時
変化に対しても追随させることができる。
耐候試験機等に用いられるキセノンランプの保護回路が
構成されているので、放射エネルギー自動調節のための
放射照度自動制御系に設けられている放射照度測定用受
光器の表面フィルタの汚れやランプ冷却水によるランプ
発光管の黒化によって、キセノンランプの放電電力が増
大して多大な負荷がかかることを防止し、キセノンラン
プを効果的に保護することができる。また、本発明によ
る保護回路は、キセノンランプの放射エネルギーの経時
変化に対しても追随させることができる。
【図１】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した一実施例を示すブロック図であ
る。
耐候試験機に適用した一実施例を示すブロック図であ
る。
【図２】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した他の実施例を示すブロック図であ
る。
耐候試験機に適用した他の実施例を示すブロック図であ
る。
【図３】本発明によるキセノンランプの保護回路を促進
耐候試験機に適用した更に他の実施例を示すブロック図
である。
耐候試験機に適用した更に他の実施例を示すブロック図
である。
【図４】従来の放射エネルギー自動調節のための自動制
御系を備えた促進耐候試験機の構成を示す概念図であ
る。
御系を備えた促進耐候試験機の構成を示す概念図であ
る。
【図５】キセノンランプの放射エネルギーの経時変化特
性を示す図である。
性を示す図である。
１ キセノンランプ ２ 放射照度測定用受光器 ３ 増幅器 ４ 調節回路４ ５ 電力制御回路 ６ メモリ回路 ７ 切換スイッチ ８ タイマー回路 ９ エネルギー（放射照度）表示器 １０ 放射照度積算計 １１ ランプ放電電力監視回路 １２ 異常警報手段 １３ 切換スイッチ １４ 放射照度比較回路 １５ 試験室 １６ 試料回転枠 １７ 試料 ２０ 遮蔽板
Claims (3)
- 【請求項１】 光源としてのキセノンランプと、該キセ
ノンランプの放射照度を測定するための受光器と、該受
光器の出力が供給される所定の伝達特性を有する調節回
路と、該調節回路から出力される制御信号を受けて上記
キセノンランプの放電電力を制御する電力制御回路を含
むキセノンランプの放射エネルギー自動調節のための放
射照度自動制御系と、 上記調節回路の出力端に接続された記憶回路と、 該記憶回路に接続されて上記キセノンランプの点灯後所
定時間経過した時に記憶動作を行わせて上記調節回路の
出力制御信号を記憶させるタイマー回路と、 上記調節回路の出力制御信号に代えて上記記憶回路の出
力制御信号を上記電力制御回路に供給する切換手段と、 上記電力制御回路に接続されてランプ放電電力が規定値
を超えた時に該切換手段を作動して上記記憶回路の出力
制御信号を上記電力制御回路に供給させるランプ放電電
力監視回路とを備えたことを特徴とするキセノンランプ
の保護回路。 - 【請求項２】 光源としてのキセノンランプと、該キセ
ノンランプの放射照度を測定するための受光器と、該受
光器の出力が供給される所定の伝達特性を有する調節回
路と、該調節回路から出力される制御信号を受けて上記
キセノンランプの放電電力を制御する電力制御回路を含
むキセノンランプの放射エネルギー自動調節のための放
射照度自動制御系と、 上記受光器の前面に設けられた開閉自在の遮蔽板と、 上記調節回路と上記電力制御回路との間に挿入接続され
た記憶回路と、 該記憶回路に接続されて上記キセノンランプの点灯後所
定時間経過した時に記憶動作を行わせて上記調節回路の
出力制御信号を記憶させるとともに、上記遮蔽板を開状
態から閉状態に制御するタイマー回路とを備え、上記記
憶回路に制御信号が記憶された後は該記憶回路の出力制
御信号が上記電力制御回路に供給され、かつ、上記受光
器の受光面が遮蔽されることを特徴とするキセノンラン
プの保護回路。 - 【請求項３】 請求項１記載のキセノンランプの保護回
路に加えて、 上記受光器により測定された放射照度と規定値とを比較
し、規定値以下の場合には上記記憶回路をリセットし、
タイマー回路を再起動させることのできる出力を発生す
る比較回路を備え、上記記憶回路の出力制御信号により
制御されたランプ放電電力が低すぎる場合には、上記放
射照度自動制御系を働かせ、上記記憶回路に新たなラン
プ放電電力の安定値を記憶させるようにしたことを特徴
とするキセノンランプの保護回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4056001A JP2774010B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | キセノンランプの保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| JP4056001A JP2774010B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | キセノンランプの保護回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05226085A true JPH05226085A (ja) | 1993-09-03 |
| JP2774010B2 JP2774010B2 (ja) | 1998-07-09 |
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ID=13014841
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4056001A Expired - Fee Related JP2774010B2 (ja) | 1992-02-07 | 1992-02-07 | キセノンランプの保護回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2774010B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012018190A (ja) * | 2004-02-02 | 2012-01-26 | Atlas Material Testing Technology Llc | 全スペクトル校正、モニタリング、コントロールを備える促進耐候性試験装置 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5880300A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-14 | カシオ計算機株式会社 | 螢光灯調光装置 |
| JPS58157091A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-19 | 松下電工株式会社 | 放電灯点灯装置 |
| JPS60235396A (ja) * | 1984-05-04 | 1985-11-22 | 松下電工株式会社 | 放電灯点灯装置 |
| JPS6251193A (ja) * | 1985-08-28 | 1987-03-05 | イノヴエイテイヴ・コントロ−ルズ・インコ−ポレ−テツド | ランプの熱または輻射エネルギ−に感度を有する高強度放電ランプ自己調整安定器システム |
| JPH01135698U (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 |
-
1992
- 1992-02-07 JP JP4056001A patent/JP2774010B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5880300A (ja) * | 1981-11-09 | 1983-05-14 | カシオ計算機株式会社 | 螢光灯調光装置 |
| JPS58157091A (ja) * | 1982-03-15 | 1983-09-19 | 松下電工株式会社 | 放電灯点灯装置 |
| JPS60235396A (ja) * | 1984-05-04 | 1985-11-22 | 松下電工株式会社 | 放電灯点灯装置 |
| JPS6251193A (ja) * | 1985-08-28 | 1987-03-05 | イノヴエイテイヴ・コントロ−ルズ・インコ−ポレ−テツド | ランプの熱または輻射エネルギ−に感度を有する高強度放電ランプ自己調整安定器システム |
| JPH01135698U (ja) * | 1988-03-11 | 1989-09-18 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012018190A (ja) * | 2004-02-02 | 2012-01-26 | Atlas Material Testing Technology Llc | 全スペクトル校正、モニタリング、コントロールを備える促進耐候性試験装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2774010B2 (ja) | 1998-07-09 |
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