JPH0522269A - Delay correction circuit - Google Patents
Delay correction circuitInfo
- Publication number
- JPH0522269A JPH0522269A JP3197459A JP19745991A JPH0522269A JP H0522269 A JPH0522269 A JP H0522269A JP 3197459 A JP3197459 A JP 3197459A JP 19745991 A JP19745991 A JP 19745991A JP H0522269 A JPH0522269 A JP H0522269A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- pattern
- input
- circuit
- frame
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【産業上の利用分野】本発明は、データ伝送装置におい
て用いられる遅延補正回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a delay correction circuit used in a data transmission device.
【0002】[0002]
【従来の技術】一定時間長のフレームにより構成される
データを取扱うループ型伝送路のデータ伝送装置におい
ては、伝送路上のデータと局部的なデータとの位相差を
補償するため遅延補正回路が使用されており、これに
は、複数ビットの入力およびこれと対応する出力を備え
たメモリが用いられ、この遅延補正回路が正常か否かを
チェックするには、メモリの書込みおよび読出しに誤り
が生じないことを確認する目的上、垂直パリテイによる
チェックが主として適用されている。2. Description of the Related Art In a data transmission device of a loop type transmission line that handles data composed of frames of a fixed time length, a delay correction circuit is used to compensate for a phase difference between data on the transmission line and local data. A memory with multiple bit inputs and corresponding outputs is used to check if this delay compensation circuit is normal and there are errors in writing and reading the memory. Vertical parity checks are mainly applied for the purpose of confirming the absence.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかし、垂直パリテイ
によるチェックのみでは、フレーム単位によるチェック
が行えず、遅延補正の動作に障害の発生した場合、これ
の生じたフレームを切り分けることが不可能となる欠点
を生じている。したがって、本発明の目的は、フレーム
毎のチェックも行うことのできる遅延補正回路を提供す
るものである。However, if only the vertical parity check cannot be performed on a frame-by-frame basis, and if a delay correction operation fails, it becomes impossible to separate the generated frames. There are drawbacks. Therefore, it is an object of the present invention to provide a delay correction circuit that can also check each frame.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】本発明は上記の目的を達
成するため、上述の遅延補正回路において、監視用ビッ
トに割当てたメモリの入力に対しフレームと同期した特
定パターンを発生して送出するパターン発生回路と、パ
リテイチェックビットに割当てたメモリの入力に対し垂
直パリテイ信号を発生して送出するパリテイ発生回路
と、監視用ビットに割当てた入力と対応するメモリの出
力から送出されるパターンを特定パターンと比較照合す
るパターン照合回路と、パリテイチェックビットに割当
てた入力と対応するメモリの出力から送出される信号を
チェックするパリテイチェック回路とを設けたものであ
る。In order to achieve the above object, the present invention generates and sends a specific pattern in synchronization with a frame to the input of the memory assigned to the monitoring bit in the delay correction circuit described above. A pattern generation circuit, a parity generation circuit that generates and sends a vertical parity signal to the input of the memory assigned to the parity check bit, and a pattern sent from the output of the memory corresponding to the input assigned to the monitoring bit. A pattern matching circuit for comparing and matching with a specific pattern and a parity check circuit for checking a signal sent from an output of a memory corresponding to an input assigned to a parity check bit are provided.
【0005】[0005]
【作用】したがって、パリテイチェックが行われると共
に、フレームと同期した特定パターンの書込みおよび読
出しがなされ、読出したパターンと特定パターンとの比
較照合により、フレーム毎のチェックも行われる。Therefore, the parity check is performed, the specific pattern is written and read in synchronization with the frame, and the check is performed for each frame by comparing and collating the read pattern and the specific pattern.
【0006】[0006]
【実施例】以下、実施例を示す図1のブロック図により
本発明の詳細を説明する。同図においては、複数ビット
の入力およびこれらと対応する出力を備えたメモリ(以
下、MM)1が設けてあり、これには、監視用ビットに
割当てた入力B1、および、パリテイチェックビットに
割当てた入力B2が定めてあると共に、入力B1と対応
する出力B3、および、入力B2と対応する出力B4が
定まっている。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The details of the present invention will be described below with reference to the block diagram of FIG. In the figure, a memory (hereinafter referred to as MM) 1 having a plurality of bits of inputs and outputs corresponding to these is provided, which includes an input B1 assigned to a monitoring bit and a parity check bit. The assigned input B2 is determined, and the output B3 corresponding to the input B1 and the output B4 corresponding to the input B2 are determined.
【0007】MM1の他の入力には、一定時間長のフレ
ームからなるデータの入力信号S1が与えられていると
共に、フレーム毎の書込みタイミングを示すタイミング
信号S2が与えられており、パターン発生回路(以下、
PTG)2がタイミング信号S2にしたがい、フレーム
と同期して監視用の特定パターンS3を発生し、これを
入力B1へ送出する一方、パリテイ発生回路(以下、P
RG)3が入力信号S1および特定パターンS3に基づ
き、パリテイチェック用の垂直パリテイ信号S4を発生
し、これを入力B2へ送出している。The other input of the MM1 is supplied with an input signal S1 of data consisting of a frame of a fixed time length and a timing signal S2 indicating a write timing for each frame, so that the pattern generation circuit ( Less than,
PTG) 2 generates a specific pattern S3 for monitoring in synchronization with the frame in accordance with the timing signal S2 and sends it to the input B1.
RG) 3 generates a vertical parity signal S4 for parity check based on the input signal S1 and the specific pattern S3, and sends this to the input B2.
【0008】したがって、入力信号S1と共に、特定パ
ターンS3および垂直パリテイ信号S4も、タイミング
信号S2に応じフレーム毎にMM1へ順次に書込まれ
る。Therefore, along with the input signal S1, the specific pattern S3 and the vertical parity signal S4 are sequentially written to the MM1 for each frame according to the timing signal S2.
【0009】MM1の内容は、出力信号S5として読み
出されるが、この読出しは局部的なタイミング信号S6
にしたがって順次に行われ、出力B3からのパターンS
7は、パターン照合回路(以下、REF)4においてP
TG2の発生する特定パターンS3との比較照合がなさ
れる一方、出力B4からの信号S8は、パリテイチェッ
ク回路(以下、CHK)5によりパリテイチェックが行
われるものとなっており、いずれかの結果に異常を生ず
れば、図上省略した経路によりREF4またはCHK5
から警報の送出が行われるものとなっている。The contents of MM1 are read out as an output signal S5, which is read locally by a timing signal S6.
Pattern S from output B3
7 is P in the pattern matching circuit (hereinafter referred to as REF) 4.
While the comparison with the specific pattern S3 generated by TG2 is performed, the signal S8 from the output B4 is subjected to the parity check by the parity check circuit (hereinafter, CHK) 5, and either If the result is abnormal, REF4 or CHK5 is drawn by the route omitted in the figure.
The alarm will be sent from the.
【0010】したがって、PRG3およびCHK5によ
り、従来と同等のチェックが行われると同時に、PTG
2およびREF4による特定パターンS3のチェックが
フレーム毎に行われ、障害の生じたフレームを直ちに検
出することができる。Therefore, PRG3 and CHK5 perform the same check as before, and at the same time, PTG
The check of the specific pattern S3 by 2 and REF4 is performed for each frame, and the frame in which the failure has occurred can be immediately detected.
【0011】[0011]
【発明の効果】以上の説明により明らかなとおり本発明
によれば、監視用ビットに割当てたメモリの入力に対し
特定パターンをフレームと同期して送出する一方、この
入力と対応するメモリの出力からのパターンを特定パタ
ーンと比較照合し、パリテイチェックと共にフレーム毎
のチェックも行うものとしたことにより、遅延補正の状
況を同時に監視できるため、障害の生じたフレームを切
り分けることが自在となり、データ伝送装置の遅延補正
において顕著な効果が得られる。As is apparent from the above description, according to the present invention, a specific pattern is transmitted to the input of the memory assigned to the monitoring bit in synchronization with the frame, while the output of the memory corresponding to this input is output. By comparing and collating the pattern with the specific pattern and checking each frame as well as the parity check, it is possible to monitor the delay correction status at the same time. A remarkable effect is obtained in the delay correction of the device.
【図1】本発明の実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.
【符号の説明】 1 メモリ 2 パターン発生回路 3 パリテイ発生回路 4 パターン照合回路 5 パリテイチェック回路[Explanation of reference numerals] 1 memory 2 pattern generation circuit 3 parity generation circuit 4 pattern matching circuit 5 parity check circuit
Claims (1)
データを取扱うと共に複数ビットの入力およびこれと対
応する出力を備えたメモリを用いるデータ伝送装置の遅
延補正回路において、監視用ビットに割当てた前記メモ
リの入力に対しフレームと同期した特定パターンを発生
して送出するパターン発生回路と、パリテイチェックビ
ットに割当てた前記メモリの入力に対し垂直パリテイ信
号を発生して送出するパリテイ発生回路と、前記監視用
ビットに割当てた入力と対応する前記メモリの出力から
送出されるパターンを前記特定パターンと比較照合する
パターン照合回路と、前記パリテイチェックビットに割
当てた入力と対応する前記メモリの出力から送出される
信号をチェックするパリテイチェック回路とを設けたこ
とを特徴とする遅延補正回路。Claim: What is claimed is: 1. A delay compensation circuit for a data transmission device, comprising: a memory for handling data constituted by a frame having a fixed time length and using a memory having a plurality of bits of input and an output corresponding thereto; Pattern generating circuit for generating and transmitting a specific pattern in synchronization with the frame to the input of the memory assigned to the memory bit, and generating and transmitting a vertical parity signal to the input of the memory assigned to the parity check bit. Corresponding to a parity generation circuit, a pattern matching circuit for comparing and matching the pattern sent from the output of the memory corresponding to the input assigned to the monitoring bit with the specific pattern, and the input assigned to the parity check bit. A parity check circuit for checking a signal sent from the output of the memory is provided. Delay correction circuit according to claim and.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3197459A JPH0522269A (en) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | Delay correction circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3197459A JPH0522269A (en) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | Delay correction circuit |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0522269A true JPH0522269A (en) | 1993-01-29 |
Family
ID=16374858
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3197459A Pending JPH0522269A (en) | 1991-07-12 | 1991-07-12 | Delay correction circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0522269A (en) |
-
1991
- 1991-07-12 JP JP3197459A patent/JPH0522269A/en active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7444540B2 (en) | Memory mirroring apparatus and method | |
JPH0522269A (en) | Delay correction circuit | |
US5077744A (en) | Method for error protection in telephone switching installations | |
JPH07200419A (en) | Bus interface device | |
JPH10312340A (en) | Error detection and correction system of semiconductor storage device | |
JP2958087B2 (en) | Communication test circuit | |
JPS63231551A (en) | Trouble recovering processing system | |
JP2734613B2 (en) | Failure information collection method | |
JPH01216448A (en) | Memory monitoring device | |
JPH0588992A (en) | Memory control system | |
JPH0324601A (en) | Control method | |
JPS61253564A (en) | Storage device | |
JPH0216658A (en) | Memory device | |
JPH09204363A (en) | Data memory device | |
JPH0612273A (en) | Data memory monitor system | |
JPS5851364A (en) | Doubled peripheral storage controller | |
JPH1145189A (en) | Data setting method and data processor | |
JPS61134846A (en) | Electronic computer system | |
JPH04319817A (en) | Counter fault detecting circuit | |
JPH01231151A (en) | Address distributing system in storage device | |
JPH0546729B2 (en) | ||
JPH1165942A (en) | Control memory unit failure recovery system | |
JPS6146541A (en) | Data write system | |
JPH05241869A (en) | Error detection circuit of information processor | |
JPS6362042A (en) | Fault detecting circuit |