JPH05215681A - 光学的表面特性測定装置 - Google Patents

光学的表面特性測定装置

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JPH05215681A
JPH05215681A JP4236292A JP4236292A JPH05215681A JP H05215681 A JPH05215681 A JP H05215681A JP 4236292 A JP4236292 A JP 4236292A JP 4236292 A JP4236292 A JP 4236292A JP H05215681 A JPH05215681 A JP H05215681A
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須賀  蓊
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清 茶木
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 1台の光学系で、試料4の測定位置を変えず
に、測色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性の4通りの光
学的表面特性を連続して測定可能とする。 【構成】 第1の照射装置2の反射ミラー11aを、第
1の光ダクト9aを通る平行光束を遮らない位置まで移
動可能とし、測色の場合以外は、この反射ミラー11a
を移動して第2の照射装置19の第3の反射ミラー11
cでこの平行光束を反射し、試料4を照射するようにす
ると共に遮光板25で第2の光ダクト9bの光束を遮光
する。さらに第2の受光装置26の鏡面光沢用絞り、視
感光沢用絞り及び写像性用光学くしを一体にした絞りパ
ターン板30を移動可能として構成した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】塗装、プラスチック、着色アルミ
ニウムなどの色、光沢、つや及び写像性を測定するため
の装置に関する。
【0002】
【従来の技術】塗装、プラスチック、着色アルミニウ
ム、カラーステンレスなどの工業製品は、その外観の仕
上がりの優劣が販売、価格競争の結果に大きな影響を与
える。特に、自動車、家電製品などの外観の色、光沢、
つや、写像性の測定は製品管理、検査の重要な課題であ
り、各産業界では種々の方法が採用され、実施されてい
る。
【0003】色彩と光沢は視覚に与える心理的効果とし
ては切り離せないものであり、光沢感とつや感とは関連
がありながら感覚的にはそれぞれ独立した特性である。
又、写像性は光沢では評価できない外観の美観を表現す
るものである。外観の仕上がりの優劣が販売に大きく影
響する工業製品では、これらの4つの光学的表面特性全
部を測定することによってはじめて総合的かつ十分な外
観管理が可能となる。
【0004】さて、従来、色の測定は、JIS(日本工
業規格)Z 8722(物体色の測定方法)に規定する
照明と受光の光学条件を満足する光学系を用いた測色計
によって行われている。
【0005】図4は上記JISに規定の光学系で特に塗
装面の色の測定に多用されている45度照明垂直受光方
式の光学系の構成図である。図4において、光源3の光
は同一平面内でこの中心を通る直線7に対象な45度方
向の光として取り出し、これをそれぞれ、コリメーター
レンズ10a、10bを用いて平行光束にし、両平行行
束の光路途中に固定した反射ミラー11a、11bを介
して、90度に曲げ、直線7に対して45度方向から試
料4面を照射するようにし、この反射光の中で、垂直方
向の拡散反射光を集光レンズ16でとらえて光拡散筒1
5の底面に集光し、光拡散筒15中に集積した試料4の
色による光を3刺激値XYZ受光器17で測定するよう
に構成したものである。尚、直線7は試料4の測定面の
中心を通る法線と一致する。
【0006】鏡面光沢の測定は、JIS(日本工業規
格)Z 8741(鏡面光沢度測定方法)で規定され、
±20度、±45度、±60度、±75度及び±85度
の入射角、受光角の条件で、測定対象物の種類によっ
て、その角度を選択して光沢度の測定を行うとされてい
る。塗装面の測定の場合には測定面への入射角度60
度、測定面からの反射角度60度の条件で、試料面の6
0度方向の正反射光を測定するのが一般的で、図5がそ
の光学系の構成原理図である。
【0007】図5において、光源3の光はコンデンサー
レンズ23cでスリット状の絞り板24b上に集光さ
れ、ここで常に同一条件の一定の光源となり、直線7
(法線)に対して60度の角度で試料4を照射するよう
になっている。試料4の反射光の中で、正反射方向の光
(直線7に対して60度方向の正反射光)を受光するよ
うに受光器27が配してある。又、この受光器27に
は、受光角度に応じて開孔の大きさが規定されている鏡
面光沢用絞り31bが設けてあり(図5の点線位置に配
置)、試料4からの正反射光方向の光をコンデンサーレ
ンズ23dで集光してこの絞り31bの開孔に結像し、
光沢測定用の受光器27で測定するものである。
【0008】視感光沢計はISO/TC79/SC2/
WGで検討されていて、光学条件は基本的に前記鏡面光
沢度の測定に用いる光学系と同じ構造をもち、試料から
の反射光の中、正反射を除き、正反射光近傍の反射光を
測定するものである。このため、上述の鏡面光沢用絞り
31bの代りに、この絞りの開孔部を閉じ、他の部分
(鏡面光沢用絞り31bで閉じてある部分に相当)を開
孔部とした形の視感光沢用絞り32bにおきかえた条件
で測定を行うものである。従って、視感光沢計の光学系
原理図は、図5の鏡面光沢計の光学系の構成原理図と同
一で、絞りの形状が上述したよう鏡面光沢用絞り31b
を反転した形状の視感光沢用絞り32bとなっただけの
ものである。
【0009】写像性の測定は、JIS H8686(ア
ルミニウム及びアルミニウム合金の陽極酸化皮膜の写像
性試験方法)で規定され、試料に対する入射角、受光角
の光学条件は45度照明45度受光又は60度照明60
度受光が多用されている。
【0010】図6において、写像性の測定原理は、微小
スリット43から光源3の光を通過させ、コリメーター
レンズ10dで平行光束として、この像を試料4の表面
に投影する。この投影像は試料4表面の微細な凹凸や微
小なそりなどによってゆがみを生じる。このゆがみを生
じている投影像の反射光をコンデンサーレンズ23eに
よって写像性測定用光学くしの上に結像させた状態で、
この光学くしパターン33bを左右に移動させて、写像
性用光学くしパターン33b上の暗部、明部のパターン
を通して鏡面光沢と同一の受光器27に光の変化を与
え、明部の透過光の最大値M、暗部の光のモレによって
生じる透過光の最小値mをそれぞれ測定して、(M−
m)÷(M+m)×100の演算によって写像性の値を
求めるものである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定器及び方法
で工業製品の外観の管理を精度高く、かつ充分におこな
うためには、色の測定用に測色計、鏡面光沢度の測定用
に鏡面光沢計、視感光沢の測定用に視感光沢計及び写像
性の測定用に写像性測定器の4台の計測器をそろえるこ
とが必要であった。
【0012】ここで、特に問題となるのは、同一試料で
あっても、4台の計測器で測定しようとするとき、同一
位置での測定が不可能である点にある。
【0013】一般に試料表面は、測定位置がわずかにズ
レても、色むら、凹凸の状態、ゆがみ、そりなどが若干
ではあるが異っており、不均一である。一方測定は、各
計測器を使用するたびに、試料の置き換えを行わなけれ
ばならないため、測定しようとする試料面の位置をどの
計測器においても常に同一に保持することは不可能に近
い。又、試料の置き換えによって生じる測定光の光軸に
対する方向性の不統一も避けられない。このため、同一
箇所を測定したつもりでも実際は異なった箇所を測定す
ることになり、同一試料でも異なった評価を行う可能性
があり、評価に信頼性が得られなかった。
【0014】特に塗装板などでは、屋外暴露や、ウエザ
ーメータやフェードメーターなどによる促進耐候光試験
後、その表面にチョーキング(白亜化:塗膜の表面が粉
末状になる現象)が発生する。チョーキングは一般に微
細な塗装ムラなどの表面欠陥が増幅され均一に発生する
ものではないため、各種の光学的表面特性測定のバラツ
キとして現れ問題となっている。従って、こうしたチョ
ーキング面の色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性をそれ
ぞれ測定して、総合的に光学的表面特性を評価しようと
する場合は、その評価の信頼性を得るために測定個所を
常に同一とすることが必要である。
【0015】
【表1】
【0016】表1は1つの試料(促進耐候光試験を行う
前の青色塗装板)を、測色計、鏡面光沢計、視感光沢計
及び写像性測定器の順番で測定し、これを5回繰り返し
た結果である。表中、ΔE*ab は1回目の測定値に対し
て2回目以降の各測定値との色差、Δは1回目の測定値
に対して2回目以降の各測定値との差を表す。
【0017】さて、この測定は、各測定ごとに試料を移
動して行うもので、各測定で試料の測定位置が変化しな
いように十分注意して移動したものであるが、表中のΔ
E*ab (色差)及びΔ(差)でわかる通り、測定値に大
幅なバラツキを生じている。これは、測定位置による測
定誤差と認めざるを得ない。このように促進耐候光試験
を行う前の試料であっても、上記4種の光学的表面特性
を測定する際に、試料を移動して測定する方法では、同
一測定箇所の評価ができないことになる。さらに、一般
には各測定の都度、零合せ及び標準合わせ(写像性測定
は除く)の操作を行う必要があるため、試料を移動する
手間を含めて、測定操作に時間がかかるものであった。
【0018】従って、このように複数(4台)の計測器
を用いて測定する必要性はあるが、試料の同一測定面を
正確に維持できず、高精度かつ正確な計測評価ができな
かった。又、測定操作も各計測器ごとにそれぞれ零合
せ、標準合せなどの測定準備の操作を繰り返し行わなけ
ればならないため、測定に手間がかかるものであった。
【0019】このため、1台の光学系で、試料を移動せ
ずに(測定面を動かさず)、測色、鏡面光沢、視感光沢
及び写像性の4通りの光学的表面特性を連続して測定で
きる装置の開発が望まれていた。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、(ア)測定用の光源を1個設け、この光源の中心を
通る平面内にあって、中心線が光源の中心を通る直線に
対象な45度方向の2つの平行光束として光源の光を取
り出し、それぞれ第1の平行光束及び第2の平行光束と
し、第1の平行光束の光路途中にこの光束を90度の角
度で反射しかつこの平行光束を遮らない位置まで移動可
能に配した第1の反射ミラーを設け、第2の平行光束の
光路途中にこの平行光束を90度の角度で反射するよう
に固定して配した第2の反射ミラーを設け、前記第1及
び第2の平行光束を90度の角度で反射したとき、両平
行光束の中心線の交点が前記直線上に位置するようにし
た第1の照射装置と、(イ)試料の測定面が前記両平行
光束の交点に位置できるように配した試料台と、(ウ)
前記第1及び第2の平行光束を同時に試料台上の試料に
照射したとき、試料の反射光中、前記直線方向への拡散
反射光を受光する測色用の第1の受光装置と、(エ)前
記第1の反射ミラーが第1の光束を遮らない位置に移動
したとき、このの反射ミラーと同期し、光源と第2の平
行光束との間に移動して光源の光を遮る遮光板と、
(オ)前記第1の反射ミラーが第1の光束を遮らない位
置に移動したとき、第1の平行光束を反射する第3の反
射ミラーを備え、この反射光を第3の平行光束とし、そ
の中心線が前記第1及び第2の平行光束の中心線の交点
と一致しかつ前記直線に対して60度の角度で照射する
ように配した第2の照射装置と、(カ)試料台上の試料
に第3の平行光束を照射したとき、試料の反射光中、前
記直線に対して60度方向の正反射光を受光する位置に
配した、視感光沢用絞りと鏡面光沢用絞りと写像性測定
用光学くしパターンとを有する絞りパターン板を移動可
能に備え、この絞りパターン板の移動によって視感光
沢、鏡面光沢及び写像性を切り換えて受光する第2の受
光装置と、(キ)測色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性
の測定を行うための動作を制御しかつ測定値を求めるた
めの演算記憶回路を有する制御装置とから構成され、1
台の光学系で、試料の測定位置を変えずにその同一測定
面の、上記4種類の光学的表面特性を測定することを特
徴とする光学的表面特性測定装置を手段とした。
【0021】
【作用】上記の手段を採用したため、第1の照射装置の
一方の平行光束を曲げるために設けた反射ミラーを、こ
の平行光束を遮らない位置まで移動し、この反射ミラー
に同期した遮光板で他方の平行光束を遮断することによ
り、第1の照射装置で用いた光源を、鏡面光沢、視感光
沢及び写像性を測定するための第2の照射装置の光源と
することができる。又、第2の受光装置に視感光沢用絞
り、鏡面光沢用絞り及び写像性測定用光学くしとを有す
る絞り板を移動可能に取り付けたため、1個の受光装置
で鏡面光沢、視感光沢及び写像性の3通りの受光ができ
る。さらに、制御装置により測色を行うための動作、反
射ミラーの移動動作とこれに同期した遮光板の動作、絞
り板の移動動作を行うことにより、1台の光学系で、試
料を移動せずに測色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性の
4通りの光学的表面特性を連続して測定できるものとな
る。
【0022】
【実施例】以下図面に従って本発明の1実施例を説明す
る。図1は本発明で、測色、鏡面光沢、視感光沢及び写
像性の4種類の光学的表面特性を測定するための光学条
件を1台の光学系1として構成するための基本構成図で
ある。又、図2は、図1で特に第2の照射装置19と第
2の受光装置26及び試料4との関係を示す概念平面図
で、第2の照射装置19の絞り板24a及び第2の受光
装置26の絞りパターン板30の拡大図を併せて図示し
たものである。
【0023】図1において、第1の照射装置2は光源3
の光を試料4に45度方向から照射し、試料4の反射光
中、垂直方向の光を受光しこれを拡散し、この拡散光を
受光して測色するためのものである。
【0024】この構成は、暗箱状のケース5の底部に固
定した光源ボックス6内に光源3(本実施例では12V
50Wのハロゲンランプを採用した)を1個配し、この
光源3の中心を通る平面内で、光源3の中心を通る直線
7に対象な45度方向の2光束を取り出すために、この
光源ボックス6に、前記直線7に対してそれぞれ45度
の位置の2カ所に光束取り出し窓8a、8bが設けてあ
る。
【0025】又、この2光束の光路として、角柱状でそ
の中心線が前記平面内にありかつ途中で90度に折れ曲
がった、同一形状の第1の光ダクト9a及び第2の光ダ
クト9bを設け、それぞれの一方の口を光取り出し窓8
a、8bに接続し、前記直線7に対して対象に配してあ
る。
【0026】この両光ダクト9a、9bには、光源ボッ
クス6の光束取り出し窓8a、8bに近接してそれぞれ
コリメーターレンズ10a、10bが固定してあり、光
源3から取り出した光をそれぞれ平行光束にしている。
【0027】又、第1の光ダクト9aの折れ曲がり部分
には、このダクト内を通る平行光束を90度方向に反射
するための第1の反射ミラー11aが移動可能(詳細後
述)に取り付けてあり、第2の光ダクト9bの折れ曲が
り部分には同様に第2の反射ミラー11bが固定(移動
不可)してある。このため、両光ダクト9a、9b内を
通る平行光束は第1及び第2の反射ミラー11a、11
bによってそれぞれ90度に曲げられることになり、両
光束の中心線は前記直線7に対して45度の角度で交わ
ることになる。更にこの両光ダクト9a、9bは、前記
両中心線が前記直線7の同一点を交点とするように正確
に調整されている。又、両光ダクト9a、9bの他方の
口にはそれぞれ、反射ミラー11a、11bで反射され
た平行光束を、試料4の測定面積に応じた所定の大きさ
の光束に絞るために、コンデンサーレンズ(図示せず)
などを持つ光束絞り12a、12bが取り外し可能に取
り付けてある。
【0028】ケース5には前記直線7を中心に持つ試料
4の測定開孔13が光源3と対象位置にある。試料4
は、この測定開孔13を通じて前記2光束の交点位置で
照射されるように、ケース5外面上部に、中心をこの測
定開孔13と一致させ、交換可能に取り付けた、試料4
の測定面の大きさに応じた開孔を持つ試料台14上に、
測定面を光源3に向けて載置してある。
【0029】又、試料4の下方でかつ光源ボックス6と
の間に、前記直線7を中心に持つ、円筒に半球を接続し
た形状の光拡散筒15が第1の受光装置として配してあ
る。この光拡散筒15には、試料4の反射光中で垂直方
向の光を受光しこの底部に集光するために、円筒部分に
短焦点の集光レンズ16(本実施例ではフレネルレンズ
を採用した)が取り付けてある。又、光拡散筒15の内
面は光を平均に拡散するために硫酸バリウムなどが塗ら
れており、この拡散光を取り出し測色するために、この
半球の外周に3刺激値X、Y、Zの受光器17がそれぞ
れ別個に取り付けてある。
【0030】このように構成した第1の照射装置2と第
1の受光装置(光拡散筒15)では、直線7に対して4
5度方向に取り出された光源3の光は、それぞれ平行光
束となり、反射ミラー11a、11bで90度方向に曲
げられ、所定の大きさの光束に絞り込まれ、直線7上で
両平行光束の交点に位置する試料4面に照射する。さら
に試料4面からの反射光は、光拡散筒15内に集光さ
れ、この内部で拡散され、この拡散光が3刺激値X、
Y、Zの受光器17で受光されることになる。尚、直線
7は試料4の測定面の中心を通る法線と一致する。
【0031】次に、図1及び図2を用いて鏡面光沢、視
感光沢及び写像性の測定を行うための光学系を説明す
る。
【0032】前記第1の光ダクト9aの折れ曲がり部分
に取り付けた第1の反射ミラー11aは、ミラー移動台
18a上に固定されており、この移動台18aは、一般
に周知のラックとピニオン(図示せず)の技術を用いて
直線的に、前記平行光束を遮らない位置まで移動可能と
なっている。又、第1の反射ミラー11aはミラー移動
台18aの両端部に設けたフォトセンサー(図示せず)
によって正確に所定の位置を維持できるようになってい
る。
【0033】第2の照射装置19は、この第1の反射ミ
ラー11aを平行光束を遮らない位置まで移動したとき
(図1の点線位置まで移動)、この平行光束を取り入れ
る開孔20aを持ち、この平行光束の中心を前記直線7
に対して光源3と反対側で、60度の角度で反射するよ
うに固定した第3の反射ミラー11cを備えたミラーボ
ックス21と、このボックス21に開けた第3の反射ミ
ラー11cの反射光を通過するための開孔20bに、円
筒状のダクト22aをその中心が開孔20bの中心と一
致するように取り付けてある。又、円筒状のダクト22
aの端部で前記開孔20b側に反射光を集光するための
コンデンサーレンズ23aが固定されており、このレン
ズ23aの焦点位置にごく細い幅のスリット状の絞り板
24a(図2の24bは絞り板24aの平面図)が配し
てあり、他端部には、このスリットを通過した光を平行
光束にするためのコリメーターレンズ10cを固定して
構成してある。さらに、この平行光束の中心線が前記第
1の照射装置2の2光束の交点と一致する位置に正確に
調整して固定してある。
【0034】又、第2の光ダクト9bの途中に、光源3
の光を遮光するように円盤状の遮光板25が配してあ
る。この遮光板25は、モーター(図示せず)によっ
て、前記第1の反射ミラー11aが平行光束を遮らない
位置まで移動したとき、第2の光ダクト9bを通る光束
を遮るように回転するものである。尚、この円盤25も
フォトセンサー(図示せず)によって所定の位置を維持
できるようにしてある。
【0035】第2の受光装置26は、上記第2の照射装
置19で照射した試料4面の反射光の中で、直線7に対
して60度方向の正反射光成分を受光するもので、第2
の照射装置19と同一平面上にあり、先端にコンデンサ
ーレンズ23bを固定した円筒上のダクト22bが底部
に受光器27(本実施例ではシリコンフォトセルを用い
た)を配した受光器ボックス28に一体に固定されてい
る。又、コンデンサーレンズ23bの焦点位置に、小開
孔を持つ仕切板29があり、これに接して前記第1の反
射ミラー11aの移動台18aと同じく、ラックとピニ
オンで水平移動する絞り移動台18bに固定した絞りパ
ターン板30(後述)が配してある。
【0036】図2において、絞りパターン板30は、鏡
面光沢用絞り31aとしての長方形のスリット状の絞り
と、視感光沢用絞り32aとしての円形開孔の中央に鏡
面光沢用絞りと同一形状の遮光部分を設けた絞り及び写
像性測定用の長方形の小スリットをくし形に配列した写
像性用光学くしパターン33aとを有した長方形の平板
である。又、この絞りパターン板30もフォトセンサー
(図示せず)によって所定の位置を維持できるようにな
っている。
【0037】従って第2の照射装置19は、第1の反射
ミラー11aが第1の光ダクト9aを通過する平行光束
を遮らない位置まで移動したとき、上記第1の照射装置
2の場合と同様に載置した試料4の測定面を、第3の反
射ミラー11cで反射した平行光束が照射することにな
る。このとき第2のダクト9bを通過する平行光束は遮
光板25に遮られているため、試料4面は第1のダクト
9aを通った平行光束のみで照射されることになり、第
2の受光装置26でこの平行光束のみの反射光を受光で
きることになる。
【0038】図3は、測色測定動作、鏡面光沢測定動
作、視感光沢測定動作及び写像性測定動作を行うための
制御装置34のパネル部分35の図である。この制御装
置34の内部にはマイクロコンピュータなどよりなる演
算記憶回路(図示せず)などが内蔵されていて、パネル
部分35上の該当するスイッチを押すことにより、上記
4種類の光学的表面特性の中から1つを選択し、所定の
測定動作を行うように制御するものである。
【0039】以下に上記4種の光学的表面特性で試料を
測定する操作手順及びそのときの動作を図1、図2及び
図3を用いて説明する。
【0040】ここで、36は4種の光学的表面特性選択
スイッチ群で、37aは測色、37bは鏡面光沢、37
cは視感光沢及び37dは写像性選択スイッチとなって
いる。38は零合せスイッチ、39は標準合せスイッ
チ、40は測定スイッチである。又、41は数値キー群
で、例えば既知のX、Y、Z値を入力しておいて、測定
試料との色差を計る場合などに用いるものであり、表示
窓42は、測定データを表示する液晶パネルである。
【0041】(1)零合せ操作:制御装置34内部の演
算記憶回路(図示せず)に電気的レベルの零ラインを設
定し記憶させるための操作で、測色と鏡面光沢、視感光
沢及び写像性測定とを別に行う。鏡面光沢、視感光沢及
び写像性測定の場合は、第2の照射装置19及び受光器
27が同一であるため、例えば鏡面光沢の測定を選択し
てそれで一度行えばよい。操作は、試料台14に暗箱
(図示せず)を乗せて測定開孔13に外光が入らない状
態にして、測色の場合は測色選択スイッチ37aを、鏡
面光沢、視感光沢及び写像性のいづれかの測定の場合は
鏡面光沢選択スイッチ37bを押し、続けて零合せスイ
ッチ38を押す。
【0042】測色選択スイッチ37aを押した場合は、
第1の照射装置2及び第1の受光装置を用いた測色動作
の零合せで、前記XYZ受光器17の零レベルが記憶さ
れる。又、鏡面光沢選択スイッチ37bを押した場合
は、第1の光ダクト9aの折れ曲がり部分の第1の反射
ミラー11aが平行光束を遮らない位置まで移動し、同
時に遮光板25が第2の光ダクト9bを通過すべき平行
光束を遮る位置に回転移動する。さらに、第2の受光装
置26では、絞りパターン板30の鏡面光沢用絞り31
aが仕切板29の小開孔位置に移動する。ここで受光器
27の零レベルが記憶される。
【0043】さて、零合せは、装置の迷光のレベルを受
光器で検出し演算記憶回路に記憶させるためのものであ
るが、絞りパターン板30に設けた鏡面光沢用絞り31
a、視感光沢用絞り32a及び写像性用光学くしパター
ン33aの開孔面積はそれぞれ異なるが、測定上の障害
になるほどの問題ではないので、本実施例では、操作の
簡便性を優先して、3者のいずれを用いてもよいように
演算記憶回路を構成してある。もちろん、鏡面光沢、視
感光沢及び写像性のそれぞれで零合せを行うように演算
記憶回路を構成してもよい。
【0044】(2)標準合せ:予め記憶されている標準
値に対して、演算記憶回路に電気的レベルの標準ライン
を設定し記憶させるための操作で、測色、鏡面光沢及び
視感光沢について別々に行う。写像性については行う必
要がない。操作は、試料台14の測定開孔13に当該の
標準板を当て、測色選択スイッチ37a、鏡面光沢選択
スイッチ37b又は視感光沢選択スイッチ37cを押
し、ついで標準合せスイッチ39を押す。このとき、第
1の反射ミラー11a及び遮光板25の動作は上記
(1)と同様であり、絞りパターン板30も鏡面光沢及
び視感光沢の各選択スイッチ37b、37cに対応して
移動する。ここで、測色の場合はXYZ受光器17に、
又、鏡面光沢及び視感光沢の場合は第2の受光装置26
の受光器27で測定し、演算記憶回路に標準レベルが記
憶される。
【0045】上記(1)及び(2)の操作を、測定開始
前に1度だけ行えば、制御装置34内の演算記憶回路
(図示せず)に記憶されるため、以降測定するごとにこ
の操作を行う必要はない。
【0046】(3)測定操作:(1)及び(2)の操作
終了後、4つの光学的表面特性の中から測定したい光学
条件の選択スイッチを押し、続けて測定スイッチ40を
押す。光学条件を変更しない限り以降の操作は、測定ご
とに測定スイッチ40を押せばよい。又、第1の反射ミ
ラー11a、遮光板25及び絞りパターン板30の動作
は(1)及び(2)と同様である。
【0047】なお、写像性測定の場合は、絞りパターン
板30が写像性光学くしパターン33のA点からB点ま
で移動する動作を行う。
【0048】
【発明の効果】以上のように、測色を行うための第1の
照射装置の一方の平行光束を曲げるために設けた反射ミ
ラーを、この平行光束を遮らない位置まで移動し、この
反射ミラーに同期した遮光板で他方の平行光束を遮断す
ることにより、第1の照射装置で用いる光源を鏡面光
沢、視感光沢及び写像性を測定するための第2の照射装
置の光源とすることができ、又、鏡面光沢用絞りと、視
感光沢用絞り及び写像性用光学くしパターンとを有した
絞りパターン板を移動可能とし、測色、鏡面光沢、視感
光沢及び写像性の4種の光学的表面特性を1台の光学系
で測定できるように構成し、さらに、各光学的表面特性
の零合せ、標準合せを記憶できるようにしたため、異な
る光学的表面特性の測定であっても試料を動かさずにそ
れぞれ連続して測定できることになる。
【0049】従って、測定に要する操作が簡略化できる
と共に試料を移動する必要がないため、試料の測定位置
による測定結果のバラツキなしに各光学的表面特性で測
定できることになり、評価の信頼性が大いに向上した。
【図面の簡単な説明】
【図1】測色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性の測定を
1台で可能とする光学系の基本構成図。
【図2】図1における第2の照射装置と第2の受光装置
及び試料との関係を示す概念平面図。
【図3】制御装置のパネル部分図。
【図4】従来の45度照射垂直受光方式の光学系の構成
図。
【図5】鏡面光沢及び視感光沢測定の光学系の構成原理
図。
【図6】写像性測定の光学系の構成原理図。
【符号の説明】
1 光学系 2 第1の照射装置 3 光源 4 試料 5 ケース 7 直線 9a 第1の光ダクト 9b 第2の光ダクト 11a 第1の反射ミラー 11b 第2の反射ミラー 11c 第3の反射ミラー 13 測定開孔 14 試料台 15 光拡散筒(第1の受光装置) 16 集光レンズ 17 XYZ受光器 18a ミラー移動台 18b 絞り移動台 19 第2の照射装置 25 遮光板 26 第2の受光装置 27 受光器 29 仕切板 30 絞りパターン板 31a 鏡面光沢用絞り 32a 視感光沢用絞り 33a 写像性用光学くしパターン 34 制御装置 35 パネル部分 36 光学的表面特性選択スイッチ群 38 零合せスイッチ 39 標準合せスイッチ 40 測定スイッチ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 1台の光学系で試料面の色、鏡面光沢、
    視感光沢及び写像性の全てを測定できる装置であって、
    (ア)測定用の光源を1個設け、この光源の中心を通る
    平面内にあって、中心線が光源の中心を通る直線に対象
    な45度方向の2つの平行光束として光源の光を取り出
    し、それぞれ第1の平行光束及び第2の平行光束とし、
    第1の平行光束の光路途中にこの光束を90度の角度で
    反射しかつこの平行光束を遮らない位置まで移動可能に
    配した第1の反射ミラーを設け、第2の平行光束の光路
    途中にこの平行光束を90度の角度で反射するように固
    定して配した第2の反射ミラーを設け、前記第1及び第
    2の平行光束を90度の角度で反射したとき、両平行光
    束の中心線の交点が前記直線上に位置するようにした第
    1の照射装置と、(イ)試料の測定面が前記両平行光束
    の交点に位置できるように配した試料台と、(ウ)前記
    第1及び第2の平行光束を同時に試料台上の試料に照射
    したとき、試料の反射光中、前記直線方向への拡散反射
    光を受光する測色用の第1の受光装置と、(エ)前記第
    1の反射ミラーが第1の光束を遮らない位置に移動した
    とき、このの反射ミラーと同期し、光源と第2の平行光
    束との間に移動して光源の光を遮る遮光板と、(オ)前
    記第1の反射ミラーが第1の光束を遮らない位置に移動
    したとき、第1の平行光束を反射する第3の反射ミラー
    を備え、この反射光を第3の平行光束とし、その中心線
    が前記第1及び第2の平行光束の中心線の交点と一致し
    かつ前記直線に対して60度の角度で照射するように配
    した第2の照射装置と、(カ)試料台上の試料に第3の
    平行光束を照射したとき、試料の反射光中、前記直線に
    対して60度方向の正反射光を受光する位置に配した、
    視感光沢用絞りと鏡面光沢用絞りと写像性測定用光学く
    しパターンとを有する絞りパターン板を移動可能に備
    え、この絞りパターン板の移動によって視感光沢、鏡面
    光沢及び写像性を切り換えて受光する第2の受光装置
    と、(キ)測色、鏡面光沢、視感光沢及び写像性の測定
    を行うための動作を制御しかつ測定値を求めるための演
    算記憶回路を有する制御装置とから構成され、1台の光
    学系で、試料の測定位置を変えずにその同一測定面の、
    上記4種類の光学的表面特性を測定することを特徴とす
    る光学的表面特性測定装置。
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