JPH05206251A - Alignment equipment for orientation flat - Google Patents

Alignment equipment for orientation flat

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Publication number
JPH05206251A
JPH05206251A JP1051492A JP1051492A JPH05206251A JP H05206251 A JPH05206251 A JP H05206251A JP 1051492 A JP1051492 A JP 1051492A JP 1051492 A JP1051492 A JP 1051492A JP H05206251 A JPH05206251 A JP H05206251A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
orientation flat
orientation
carrier
wafers
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP1051492A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Endo
博行 遠藤
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPH05206251A publication Critical patent/JPH05206251A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To improve precision of orientation flat alignment in a structure of an equipment for arranging the position of orientation flats of wafers. CONSTITUTION:The title equipment is provided with the following; a carrier stand 11, a driving roller 12 which is in contact with the periphery of a wafer 1 and rotates it, two retaining parts 13, 14 whose upper surfaces are equal in height, and a vertical movement means 15 which moves the retaining parts 13, 14 up and down. Firstly, a wafer carrier 2 which vertically retains a plurality of wafers 1 is mounted on the carrier stand 11, the wafer 1 is rotated by the driving roller 12, and roughly aligned in the manner in which an orientation flat 1a is positioned on e lower side. Secondly, two retaining parts 13, 14 retain both sides of the central part of the orientation flat 1a and lift up the wafer 1, and descend after the orientation flat 1a is set to be horizontal, and the wafer 2 is again vertically retained.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は半導体装置の製造工程に
おいてウェーハのオリエンテイション・フラット(以
下、オリフラと記す)の位置を揃えるオリフラ合わせ装
置の構造に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a structure of an orientation flat aligning device for aligning the positions of orientation flats (hereinafter referred to as orientation flats) of a wafer in a semiconductor device manufacturing process.

【0002】半導体装置の製造工程のうちウェーハ処理
工程では、ウェーハを処理装置にローディングする前に
オリフラを基準として所定の向きに位置決めすることが
一般に行われている。これをオリフラ合わせと称し、ウ
ェーハ処理装置がバッチ方式の場合には通常、装置間搬
送用の汎用ウェーハキャリア(カセット)等に収容した
多数のウェーハを一括してオリフラ合わせする。
In the wafer processing step of the semiconductor device manufacturing process, it is generally performed to position the wafer in a predetermined direction with the orientation flat as a reference before loading the wafer into the processing apparatus. This is referred to as orientation flat alignment, and when the wafer processing apparatus is a batch system, generally, a large number of wafers accommodated in a general-purpose wafer carrier (cassette) for inter-apparatus transportation are collectively aligned.

【0003】[0003]

【従来の技術】従来のオリフラ合わせ装置の例を図2を
参照しながら説明する。図2は従来例の説明図であり、
(a)→(c) がオリフラ合わせの過程を順に示している。
尚、同図において図1と同じものには同一の符号を付与
した。この装置はキャリア台11、駆動ローラ12等からな
っている。2は多数のウェーハ1を直立保持するウェー
ハキャリアであり、各ウェーハ1はウェーハキャリア2
内部の対向する傾斜面2aに接触して支持される。
2. Description of the Related Art An example of a conventional orientation flat aligning device will be described with reference to FIG. FIG. 2 is an explanatory diagram of a conventional example,
(a) → (c) shows the process of orientation flat matching in order.
In the figure, the same parts as those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals. This device comprises a carrier table 11, a driving roller 12 and the like. A wafer carrier 2 holds a large number of wafers 1 upright, and each wafer 1 is a wafer carrier 2
It is supported in contact with the inner inclined surfaces 2a facing each other.

【0004】駆動ローラ12はモータ等からなる回転手段
(図示は省略)により水平の回転軸の周りを回転する。
この駆動ローラ12はウェーハキャリア2に収容される総
てのウェーハ1に接触可能な長さを有する。又、この駆
動ローラ12の高さは、ウェーハキャリア2をキャリア台
11の所定の位置に載置した際に水平状態のオリフラ1aと
の間隙が略ゼロとなるように調整されている。
The drive roller 12 is rotated around a horizontal rotation axis by a rotation means (not shown) including a motor and the like.
The drive roller 12 has a length capable of contacting all the wafers 1 accommodated in the wafer carrier 2. The height of the drive roller 12 is set so that the wafer carrier 2
It is adjusted such that the gap between the orientation flat 1a in the horizontal state and the orientation flat 1a when placed at a predetermined position 11 is substantially zero.

【0005】この装置により次のようにしてオリフラ合
わせを行う。先ず、駆動ローラ12を回転した状態で、オ
リフラ1aの位置がランダムな多数のウェーハ1を収容し
たウェーハキャリア2を、オリフラ合わせ装置の上方か
らキャリア台11上の所定の位置にセットする。ウェーハ
1はその外周が駆動ローラ12に接触し、ウェーハキャリ
ア2から持ち上げられて回転するが、オリフラ1aが下側
で略水平になるとウェーハ1はその外周がウェーハキャ
リア2の傾斜面2aに接触して回転が止まる。
With this device, orientation flat alignment is performed as follows. First, while the drive roller 12 is being rotated, the wafer carrier 2 accommodating a large number of wafers 1 having random orientation flats 1a is set at a predetermined position on the carrier base 11 from above the orientation flat aligning device. The outer periphery of the wafer 1 comes into contact with the drive roller 12 and is lifted from the wafer carrier 2 to rotate, but when the orientation flat 1a becomes substantially horizontal on the lower side, the outer periphery of the wafer 1 comes into contact with the inclined surface 2a of the wafer carrier 2. Rotation stops.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】このような従来の装置
では、たとえ装置を高精度に調整しても、ウェーハ及び
ウェーハキャリアの寸法のバラツキ等の影響を受けて充
分なオリフラ合わせ精度が得られない、という問題があ
った。オリフラ合わせ精度が充分でないと、例えばオリ
フラ部でウェーハの有無を検出する自動ウェーハ・ハン
ドリング装置では検出ミスの原因となる。
In such a conventional apparatus, even if the apparatus is adjusted with high accuracy, sufficient orientation flat alignment accuracy is obtained under the influence of variations in dimensions of the wafer and wafer carrier. There was a problem that there was not. If the orientation flat alignment accuracy is not sufficient, for example, an automatic wafer handling device that detects the presence or absence of a wafer in the orientation flat portion may cause a detection error.

【0007】本発明はこのような問題を解決して、ウェ
ーハキャリアに直立保持された多数のウェーハを一括し
て高精度のオリフラ合わせを行うことが可能なオリフラ
合わせ装置を提供することを目的とする。
It is an object of the present invention to solve such a problem and to provide an orientation flat aligning apparatus capable of collectively performing highly accurate orientation flat alignment on a large number of wafers held upright on a wafer carrier. To do.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】この目的は、本発明によ
れば、[1] 上面の高さが等しい二個の支持部と該支持部
を上下に移動させる上下移動手段とを備え、該二個の支
持部が直立保持されたウェーハの下方から上昇して該ウ
ェーハのオリエンテイションフラットに接触して該ウェ
ーハを持ち上げるように構成したことを特徴とするオリ
エンテイションフラット位置合わせ装置とすることで、
[2] 前記[1] に加え、直立保持された前記ウェーハの外
周に接触して前記オリエンテイションフラットの位置が
下側となるまで該ウェーハを回転させる駆動ローラを有
することを特徴とするオリエンテイションフラット位置
合わせ装置とすることで、達成される。
According to the present invention, the object is to provide [1] two support parts having an equal upper surface height and vertical moving means for moving the support parts up and down. An orientation flat alignment device characterized in that the two supporting portions are configured to rise from below the wafer held upright and contact the orientation flat of the wafer to lift the wafer. ,
[2] In addition to the above [1], an orientation which is characterized in that it has a driving roller that comes into contact with the outer periphery of the wafer held upright and rotates the wafer until the position of the orientation flat is on the lower side. This is achieved by using a flat alignment device.

【0009】[0009]

【作用】本発明によれば、ウェーハキャリアに直立保持
されているウェーハを、予めオリフラがウェーハの下側
で水平に比較的近い姿勢になるように従来技術によりプ
リアライメントを行った後、二個の支持部がオリフラ上
の二点で支持して持ち上げる。この二個の支持部の上面
の高さは等しいから、オリフラが傾斜していると先ず一
方の支持部だけがオリフラに接触する。支持部が上昇す
るに従ってオリフラの傾斜は次第に矯正され、他方の支
持部がオリフラに接触した時点で水平になる。従って、
プリアライメントの精度がラフであっても、従来技術で
は得られない高精度のオリフラ合わせが可能となる。
尚、ウェーハが僅かでも持ち上がれば、二個の支持部が
共に接触していることになる。
According to the present invention, two wafers, which are held upright on the wafer carrier, are pre-aligned by the prior art so that the orientation flat has a posture relatively close to the horizontal under the wafer in advance. The support part of supports at two points on the orientation flat and lifts. Since the heights of the upper surfaces of the two support portions are equal, when the orientation flat is inclined, only one of the support portions first comes into contact with the orientation flat. The inclination of the orientation flat is gradually corrected as the support portion rises, and becomes horizontal when the other support portion comes into contact with the orientation flat. Therefore,
Even if the precision of the pre-alignment is rough, it is possible to perform highly accurate orientation flat alignment that cannot be obtained by the conventional technique.
If the wafer is lifted up even slightly, it means that the two support parts are in contact with each other.

【0010】[0010]

【実施例】本発明に基づくオリフラ合わせ装置の実施例
を図1を参照しながら説明する。図1は本発明の実施例
の説明図であり、 (a)→(c) がオリフラ合わせの過程を
順に示している。同図において、1はウェーハ、1aはウ
ェーハ1のオリフラ、2はウェーハキャリア、2aはウェ
ーハキャリア2の傾斜面、11はキャリア台、12は駆動ロ
ーラ、13及び14は支持部、15は上下移動手段である。こ
れらのうち、11〜15がオリフラ合わせ装置の構成部分で
ある。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of an orientation flat aligning device according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 1 is an explanatory view of an embodiment of the present invention, in which (a) → (c) shows the process of orientation flat alignment in order. In the figure, 1 is a wafer, 1a is an orientation flat of the wafer 1, 2 is a wafer carrier, 2a is an inclined surface of the wafer carrier 2, 11 is a carrier base, 12 is a drive roller, 13 and 14 are supporting portions, and 15 is a vertical movement. It is a means. Of these, 11 to 15 are components of the orientation flat alignment device.

【0011】ウェーハキャリア2は多数(例えば25枚)
のウェーハ1を直立保持するものであり、上下面が開口
している。各ウェーハ1はウェーハキャリア2内部の対
向する傾斜面2aに接触して支持される。
A large number of wafer carriers 2 (for example, 25 wafers)
The wafer 1 is held upright, and the upper and lower surfaces are open. Each wafer 1 is supported in contact with the opposing inclined surfaces 2a inside the wafer carrier 2.

【0012】駆動ローラ12はモータ等からなる回転手段
(図示は省略)により水平の回転軸の周りを回転する。
この駆動ローラ12はウェーハキャリア2に収容される総
てのウェーハ1に接触可能な長さを有する。又、この駆
動ローラ12の高さは、ウェーハキャリア2をキャリア台
11の所定の位置に載置した際に水平状態のオリフラ1aと
僅かな間隙を生じるように調整されている。
The drive roller 12 is rotated around a horizontal rotation axis by a rotation means (not shown) including a motor and the like.
The drive roller 12 has a length capable of contacting all the wafers 1 accommodated in the wafer carrier 2. The height of the drive roller 12 is set so that the wafer carrier 2
It is adjusted so as to form a slight gap with the orientation flat 1a in the horizontal state when it is placed at a predetermined position of 11.

【0013】支持部13及び14は駆動ローラ12と平行にこ
れを挟んで対峙した状態で連結されている。この支持部
13及び14はウェーハキャリア2に収容される総てのウェ
ーハ1に接触可能な長さを有する。これらは上下移動手
段15(例えばエアシリンダ)により上下に移動するが、
これらの上面の高さは常に等しい。
The supporting portions 13 and 14 are connected in parallel with the driving roller 12 so as to face each other with the driving roller 12 interposed therebetween. This support
13 and 14 have such a length that they can contact all the wafers 1 accommodated in the wafer carrier 2. These are moved up and down by the vertical moving means 15 (for example, an air cylinder),
The heights of these tops are always equal.

【0014】この装置により次のようにしてオリフラ合
わせを行う。先ず、支持部13及び14を下方に下げ、駆動
ローラ12を回転した状態で、オリフラ1aの位置がランダ
ムな多数のウェーハ1を収容したウェーハキャリア2
を、オリフラ合わせ装置の上方からキャリア台11上の所
定の位置にセットする。ウェーハ1はその外周が駆動ロ
ーラ12に接触し、ウェーハキャリア2から持ち上げられ
て回転するが、接触点がオリフラ1aの中央に近づくとウ
ェーハ1はその外周がウェーハキャリア2の傾斜面2aに
接触して回転が止まる。この時オリフラ1aは水平に対し
て若干傾斜している(この傾斜は5°程度まで許容され
る)。ここで駆動ローラ12の回転を停止する。
With this device, orientation flat alignment is performed as follows. First, the wafer carrier 2 containing a large number of wafers 1 in which the orientation flats 1a are randomly placed in a state in which the supporting portions 13 and 14 are lowered downward and the drive roller 12 is rotated.
Is set at a predetermined position on the carrier base 11 from above the orientation flat aligning device. The outer periphery of the wafer 1 comes into contact with the drive roller 12 and is lifted from the wafer carrier 2 to rotate. Rotation stops. At this time, the orientation flat 1a is slightly inclined with respect to the horizontal (this inclination is allowed up to about 5 °). Here, the rotation of the drive roller 12 is stopped.

【0015】次に、支持部13及び14を上昇させる。これ
らの一方がオリフラ1aに接触した時点で他方は接触しな
い。この状態が図1(a) である。更に上昇を続けるとウ
ェーハ1の姿勢は次第に矯正され、双方の支持部13及び
14がオリフラ1aに接触した時点でオリフラ1aは水平にな
る。この状態が図1(b) である。その後支持部13及び14
を下降させるとオリフラ1aが水平に保たれたままウェー
ハ1がウェーハキャリア2に直立保持される。この状態
が図1(c) である。
Next, the supports 13 and 14 are raised. When one of these contacts the orientation flat 1a, the other does not contact. This state is shown in FIG. As the wafer 1 is further raised, the posture of the wafer 1 is gradually corrected, and the support portions 13 and
The orientation flat 1a becomes horizontal when 14 contacts the orientation flat 1a. This state is shown in FIG. 1 (b). Then supports 13 and 14
When is lowered, the wafer 1 is held upright on the wafer carrier 2 while the orientation flat 1a is kept horizontal. This state is shown in FIG. 1 (c).

【0016】本発明は以上の実施例に限定されることな
く、更に種々変形して実施することが出来る。例えば、
駆動ローラ12とは異なるプリアライメント機構を備えた
装置であっても、本発明は有効である。又、プリアライ
メントがなされた状態で直立保持されたウェーハのオリ
フラ合わせを行う装置においてはプリアライメント機構
は不要である。
The present invention is not limited to the above embodiments, but can be implemented with various modifications. For example,
The present invention is effective even for a device provided with a pre-alignment mechanism different from the drive roller 12. Further, the pre-alignment mechanism is not required in the apparatus for aligning the orientation flat of the wafer held upright in the pre-aligned state.

【0017】[0017]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によればウ
ェーハキャリアに直立保持された多数のウェーハを一括
して高精度のオリフラ合わせを行うことが可能なオリフ
ラ合わせ装置を提供することが出来る。
As described above, according to the present invention, it is possible to provide an orientation flat aligning device capable of collectively performing highly accurate orientation flat alignment on a large number of wafers held upright on a wafer carrier. ..

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の実施例の説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of an example of the present invention.

【図2】 従来例の説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ウェーハ 1a オリエンテイションフラット(オリフラ) 2 ウェーハキャリア 2a 傾斜面 11 キャリア台 12 駆動ローラ 13, 14 支持部 15 上下移動手段 1 Wafer 1a Orientation flat (orientation flat) 2 Wafer carrier 2a Inclined surface 11 Carrier stand 12 Drive roller 13, 14 Support 15 Vertical movement means

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 上面の高さが等しい二個の支持部(13, 1
4)と該支持部(13,14) を上下に移動させる上下移動手段
(15)とを備え、 該二個の支持部(13, 14)が直立保持されたウェーハ(1)
の下方から上昇して該ウェーハ(1) のオリエンテイショ
ンフラット(1a)に接触して該ウェーハ(1) を持ち上げる
ように構成したことを特徴とするオリエンテイションフ
ラット位置合わせ装置。
1. Two support parts (13, 1) having an upper surface having the same height.
4) and vertically moving means for vertically moving the supporting portion (13, 14)
(15) and a wafer (1) in which the two support portions (13, 14) are held upright.
1. An orientation flat alignment device, characterized in that it is configured to rise from below and contact the orientation flat (1a) of the wafer (1) to lift the wafer (1).
【請求項2】 直立保持された前記ウェーハ(1) の外周
に接触して前記オリエンテイションフラット(1a)の位置
が下側となるまで該ウェーハ(1) を回転させる駆動ロー
ラ(12)を有することを特徴とする請求項1記載のオリエ
ンテイションフラット位置合わせ装置。
2. A drive roller (12) for rotating the wafer (1) in contact with the outer periphery of the wafer (1) held upright until the orientation flat (1a) is located on the lower side. The orientation flat alignment device according to claim 1, wherein
JP1051492A 1992-01-24 1992-01-24 Alignment equipment for orientation flat Withdrawn JPH05206251A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1051492A JPH05206251A (en) 1992-01-24 1992-01-24 Alignment equipment for orientation flat

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1051492A JPH05206251A (en) 1992-01-24 1992-01-24 Alignment equipment for orientation flat

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05206251A true JPH05206251A (en) 1993-08-13

Family

ID=11752334

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1051492A Withdrawn JPH05206251A (en) 1992-01-24 1992-01-24 Alignment equipment for orientation flat

Country Status (1)

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JP (1) JPH05206251A (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5636960A (en) * 1992-07-29 1997-06-10 Tokyo Electron Limited Apparatus for detecting and aligning a substrate
US6462411B1 (en) * 1997-12-05 2002-10-08 Kokusai Electric Co., Ltd Semiconductor wafer processing apparatus for transferring a wafer mount

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5636960A (en) * 1992-07-29 1997-06-10 Tokyo Electron Limited Apparatus for detecting and aligning a substrate
US6462411B1 (en) * 1997-12-05 2002-10-08 Kokusai Electric Co., Ltd Semiconductor wafer processing apparatus for transferring a wafer mount

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Legal Events

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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990408