JPH0730207U - Substrate storage state detector - Google Patents

Substrate storage state detector

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JPH0730207U
JPH0730207U JP5928893U JP5928893U JPH0730207U JP H0730207 U JPH0730207 U JP H0730207U JP 5928893 U JP5928893 U JP 5928893U JP 5928893 U JP5928893 U JP 5928893U JP H0730207 U JPH0730207 U JP H0730207U
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 基板がキャリア内に正しく収納されているか
否かを容易に検出できるようにする。 【構成】 基板収納状態検出装置は、多数枚の基板を整
列させて収納する多数の保持溝34を有するキャリアC
の基板収納状態を検出する装置であって、基板保持具2
0と昇降駆動装置と光センサとを備えている。基板保持
具20は、キャリアC内に正しく収納された基板W1が
入り込む多数の溝33bを有する基板検出部31と、キ
ャリア内に傾斜して収納された基板W2をキャリアCに
対して相対的に押し上げる押し上げ部32とを有してい
る。昇降駆動部は、キャリアC内に正しく収納された基
板W1が溝33b内に入り込むように基板保持具20を
下降させる。光センサは、基板保持具20が昇降駆動部
により下降させられたときに、溝33内に基板が入り込
んだか否かを検出する。
(57) [Summary] [Purpose] To make it possible to easily detect whether or not the substrate is correctly stored in the carrier. A substrate storage state detection device includes a carrier C having a large number of holding grooves 34 for storing a large number of substrates aligned.
Is a device for detecting the substrate storage state of the substrate holder 2
0, a lifting drive device, and an optical sensor. The substrate holder 20 includes a substrate detection unit 31 having a large number of grooves 33b into which the substrates W1 correctly stored in the carrier C are inserted, and a substrate W2 tilted and stored in the carrier C relative to the carrier C. It has the pushing-up part 32 which pushes up. The elevating / lowering drive unit lowers the substrate holder 20 so that the substrate W1 correctly stored in the carrier C enters into the groove 33b. The optical sensor detects whether or not the substrate has entered the groove 33 when the substrate holder 20 is lowered by the lifting drive unit.

Description

【考案の詳細な説明】[Detailed description of the device]

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】[Industrial applications]

本考案は、基板収納状態検出装置、特に、多数枚の基板を整列させて収納する 多数の保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する基板収納状態検出装置 に関する。 The present invention relates to a substrate storage state detection device, and more particularly to a substrate storage state detection device for detecting the substrate storage state of a carrier having a plurality of holding grooves for aligning and storing a large number of substrates.

【0002】[0002]

【従来の技術及びその課題】[Prior art and its problems]

たとえば半導体や液晶表示装置の製造工程では、多数の基板がキャリア内に収 納された状態で一括して搬送される。基板処理装置では、基板がキャリアから取 り出され、処理槽等の処理部において種々の処理が基板に施される。処理の済ん だ基板は、再びキャリア内に収納される。キャリアと処理部との間の基板の受け 渡しは、キャリアの保持溝に対応する多数の保持溝を有するアームを備えた基板 搬送ロボットが行う。 For example, in the manufacturing process of semiconductors and liquid crystal display devices, a large number of substrates are stored in a carrier and are collectively transported. In the substrate processing apparatus, the substrate is taken out from the carrier and various kinds of processing are performed on the substrate in a processing unit such as a processing tank. The processed substrate is stored in the carrier again. The substrate transfer between the carrier and the processing unit is performed by a substrate transfer robot having an arm having a large number of holding grooves corresponding to the holding grooves of the carrier.

【0003】 基板搬送ロボットによる基板受け渡しの際には、キャリア内の基板の収納状態 を検出する必要がある。たとえば、キャリア内に斜めに基板が収納されていると 、基板が正常に受け渡されなかったり、受け渡しの際に基板が損傷することがあ る。 ところで、キャリア内の基板の有無を検出するため装置として、特開昭64− 743号公報に開示されたウエハカウンタがある。このウエハカウンタは、キャ リア内に収納された基板が入り込む多数の溝を有する検出部と、キャリア内に収 納された基板が検出部の溝内に入り込むように検出部を昇降させる駆動部と、検 出部の溝内に基板が入り込んだか否かを検出する基板検知手段とを備えている。When the substrate is transferred by the substrate transfer robot, it is necessary to detect the storage state of the substrate in the carrier. For example, if the substrates are obliquely housed in the carrier, the substrates may not be delivered normally, or the substrates may be damaged during delivery. By the way, as a device for detecting the presence / absence of a substrate in a carrier, there is a wafer counter disclosed in JP-A-64-743. This wafer counter has a detection unit having a large number of grooves into which the substrates stored in the carrier enter, and a drive unit that raises and lowers the detection units so that the substrates stored in the carrier enter the grooves of the detection unit. And a substrate detection means for detecting whether or not the substrate has entered the groove of the detection portion.

【0004】 このウエハカウンタでは、キャリア内に基板が所定枚数存在するか否かについ ての検出はできるが、キャリア内に斜めに基板が収納されている不具合は検出で きない。すなわち、斜め収納の問題も含めて基板収納状態の不具合を検出するこ とはできない。場合によっては、検出部の溝に基板が斜めに入り込むことで、基 板割れ等の新たな問題をも生じる。This wafer counter can detect whether or not a predetermined number of substrates are present in the carrier, but cannot detect a defect that the substrates are obliquely accommodated in the carrier. In other words, it is not possible to detect defects in the substrate storage state, including the problem of diagonal storage. In some cases, the substrate may enter the groove of the detection section at an angle, which may cause new problems such as substrate cracking.

【0005】 本考案の目的は、基板がキャリア内に正しく収納されているか否かを容易に検 出できるようにすることにある。An object of the present invention is to make it possible to easily detect whether or not a substrate is correctly stored in a carrier.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

本考案に係る基板収納状態検出装置は、多数枚の基板を整列させて保持する多 数の保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する装置であって、検出部と 駆動部と基板検知手段とを備えている。 検出部は、キャリア内に正しく収納された基板が入り込む多数の溝と、キャリ ア内に傾斜して収納された基板をキャリアに対して相対的に押し上げる押し上げ 部とを有している。駆動部は、キャリア内に正しく収納された基板が溝内に入り 込むように検出部をキャリアに対して相対的に昇降させる。基板検知手段は、検 出部が駆動部により昇降させられたときに、溝内に基板が入り込んだか否かを検 知する。 The substrate storage state detection device according to the present invention is a device for detecting the substrate storage state of a carrier having a plurality of holding grooves for aligning and holding a large number of substrates, and includes a detection unit, a drive unit, and a substrate detection unit. It has and. The detection unit has a large number of grooves into which the substrates correctly stored in the carrier enter, and a push-up unit that pushes up the substrates that are tilted and stored in the carrier relative to the carrier. The drive unit raises and lowers the detection unit relative to the carrier so that the substrate correctly accommodated in the carrier enters the groove. The substrate detection means detects whether or not the substrate has entered the groove when the detection unit is moved up and down by the drive unit.

【0007】[0007]

【作用】[Action]

本考案に係る基板収納状態検出装置では、正しくキャリアに収納された基板は 、検出部の溝に入り込み、基板検知手段によって検出される。一方、キャリア内 に傾斜して収納された不良状態の基板は、押し上げ部により押し上げられ、溝に 入り込まないので、基板検知手段によっては検知されない。これにより、キャリ ア内の全ての基板が正しく収納されているか否かを検出できる。 In the substrate housed state detecting device according to the present invention, the substrate correctly housed in the carrier is inserted into the groove of the detecting portion and detected by the substrate detecting means. On the other hand, a substrate in a defective state stored in the carrier in an inclined state is pushed up by the pushing-up portion and does not enter the groove, so that it is not detected by the substrate detection means. This makes it possible to detect whether all the substrates in the carrier are properly stored.

【0008】[0008]

【実施例】【Example】

図1において、本考案の一実施例が採用された浸漬型基板処理装置1は、基板 を収納するためのキャリアCを搬入・搬出するための搬入搬出部2と、基板移載 装置3と、基板処理槽4と、乾燥装置5と、基板搬送ロボット6とを備えている 。また、基板処理装置1は、複数の薬液貯留容器7a〜7eを有している。各容 器7a〜7e内の薬液は、所定のプログラムに従って基板処理槽4に供給される 。 In FIG. 1, an immersion type substrate processing apparatus 1 to which an embodiment of the present invention is applied includes a loading / unloading section 2 for loading / unloading a carrier C for storing a substrate, a substrate transfer apparatus 3, and A substrate processing tank 4, a drying device 5, and a substrate transfer robot 6 are provided. The substrate processing apparatus 1 also has a plurality of chemical liquid storage containers 7a to 7e. The chemical liquid in each of the containers 7a to 7e is supplied to the substrate processing bath 4 according to a predetermined program.

【0009】 搬入搬出部2には、搬入されたキャリアC内の基板の収納状態を検出する基板 収納状態検出装置9と、キャリアCを搬送するキャリア移載ロボット10とが設 けられている。キャリア移載ロボット10は、昇降及び回転が可能であり、また 図1の矢印Aに示す方向(装置奥行き方向)に移動可能である。 基板移載装置3、基板処理槽4及び乾燥装置5は、左右方向に並設されている 。基板搬送ロボット6は、基板を把持するための1対のアーム11を有している 。また基板搬送ロボット6は、矢印Bで示す方向(装置左右方向)に移動可能で あり、かつ昇降可能である。この基板搬送ロボット6により、基板を基板移載装 置3から乾燥装置5の間で搬送可能である。また、基板処理槽4には、処理液内 で基板を浸漬するための昇降可能な基板保持具12が設けられている。The loading / unloading section 2 is provided with a substrate storage state detection device 9 for detecting the storage state of the substrate in the loaded carrier C, and a carrier transfer robot 10 for transporting the carrier C. The carrier transfer robot 10 can move up and down and rotate, and can move in the direction indicated by arrow A in FIG. 1 (the device depth direction). The substrate transfer device 3, the substrate processing tank 4, and the drying device 5 are arranged side by side in the left-right direction. The substrate transfer robot 6 has a pair of arms 11 for holding the substrate. The substrate transfer robot 6 can be moved in the direction indicated by arrow B (left and right direction of the apparatus) and can be moved up and down. The substrate transfer robot 6 can transfer the substrate between the substrate transfer device 3 and the drying device 5. Further, the substrate processing tank 4 is provided with a substrate holder 12 capable of moving up and down for immersing the substrate in the processing liquid.

【0010】 基板収納状態検出装置9は、図2に示すように、第1及び第2の基板保持装置 15,16と、2つのキャリアCを載置して昇降する昇降テーブル18と、昇降 テーブル18を昇降させるための昇降駆動装置19とを有している。 第1及び第2の基板保持装置15,16は、多数の基板を保持する基板保持具 20,21と、基板保持具20,21をそれぞれ支持する支持具22,23と、 支持具22,23を基板処理装置1のフレーム(図示せず)に固定するための固 定フレーム24とを有している。昇降テーブル18には、キャリアCを位置決め するための位置決め部材45が設けられている。As shown in FIG. 2, the substrate storage state detecting device 9 includes first and second substrate holding devices 15 and 16, an elevating table 18 for elevating and lowering by placing two carriers C, and an elevating table. It has a lifting drive device 19 for lifting and lowering 18. The first and second substrate holders 15 and 16 include substrate holders 20 and 21 for holding a large number of substrates, supports 22 and 23 for supporting the substrate holders 20 and 21, respectively, and supports 22 and 23. Is fixed to a frame (not shown) of the substrate processing apparatus 1. The lifting table 18 is provided with a positioning member 45 for positioning the carrier C.

【0011】 基板保持具20,21は同じ構成であるので、基板保持具20について以下に 説明する。 基板保持具20は、図3〜図6に示すように、基板Wの配列方向に長いベース フレーム30と、ベースフレーム30上の中央部に長手方向等間隔で配置された 基板検出部31と、基板検出部31の両側方(図3の上下両側方)に配置された 基板押し上げ部32とを有している。ベースフレーム30は支持具22の上端に 固定されている。Since the substrate holders 20 and 21 have the same configuration, the substrate holder 20 will be described below. As shown in FIGS. 3 to 6, the substrate holder 20 includes a base frame 30 that is long in the arrangement direction of the substrates W, a substrate detection unit 31 that is arranged in the center of the base frame 30 at equal intervals in the longitudinal direction, It has a substrate pushing-up unit 32 arranged on both sides (both upper and lower sides in FIG. 3) of the substrate detection unit 31. The base frame 30 is fixed to the upper end of the support tool 22.

【0012】 基板押し上げ部32及び基板検出部31は、ベースフレーム30上に矩形の薄 板を立設した櫛歯形状であり、ガイド溝33a,33bがそれぞれ形成されてい る。このガイド溝33a,33bは、キャリアCに形成された基板保持溝34と 等間隔に形成されている。なお、斜めに収納された基板W2を確実に押し上げ得 るように、ガイド溝33aの溝幅はガイド溝33bの溝幅より狭くなっており、 また基板押し上げ部32の上端は水平面となっている。The substrate pushing-up portion 32 and the substrate detecting portion 31 are comb-teeth shapes in which a rectangular thin plate is erected on the base frame 30, and guide grooves 33a and 33b are formed therein. The guide grooves 33a and 33b are formed at equal intervals with the substrate holding groove 34 formed in the carrier C. The groove width of the guide groove 33a is narrower than the groove width of the guide groove 33b so that the substrate W2 stored obliquely can be surely pushed up, and the upper end of the substrate pushing-up portion 32 is a horizontal plane. .

【0013】 隣り合う基板検出部31には、ガイド溝33bに入り込んだ基板W1を検出す るための透過型の光センサ35が配置されている。各光センサ35は、1対の投 光部35T及び受光部35Rが対向配置されて構成されている。1つの基板検出 部31には、1つの光センサの透光部35Tと、それに隣り合う別の光センサ3 5の受光部35Rとが配置されており、この結果、光センサ35は千鳥状に配列 されている。なお、投光部35T及び受光部35Rの先端部は、たとえばサイド ビュー型の光ファイバにより構成されている。A transmissive optical sensor 35 for detecting the substrate W1 that has entered the guide groove 33b is disposed in the adjacent substrate detection units 31. Each optical sensor 35 is configured by a pair of a light projecting portion 35T and a light receiving portion 35R facing each other. In one substrate detection unit 31, a light transmitting unit 35T of one optical sensor and a light receiving unit 35R of another optical sensor 35 adjacent thereto are arranged, and as a result, the optical sensors 35 are staggered. It is arranged. The tip portions of the light projecting portion 35T and the light receiving portion 35R are formed of, for example, a side-view type optical fiber.

【0014】 昇降駆動装置19は、図2に示すように、基板処理装置1のフレームに、上下 方向に配置されたガイドレール40を有している。昇降テーブル18の側壁部1 8aには、このガイドレール40にスライド自在に係合するガイド部41が設け られている。また、昇降テーブル18の側壁部18aには、ボールナット42が 設けられている。As shown in FIG. 2, the elevating and lowering drive device 19 has a guide rail 40 arranged vertically in the frame of the substrate processing apparatus 1. A guide portion 41 slidably engaged with the guide rail 40 is provided on the side wall portion 18a of the lifting table 18. A ball nut 42 is provided on the side wall portion 18 a of the lifting table 18.

【0015】 一方、基板処理装置1の図示しないフレームには、上下方向に延びるボールね じ43が支持されており、その下端はモータ44に連結されている。ボールねじ 43に昇降テーブル18のボールナット42が螺合している。これにより、昇降 テーブル18は、モータ44の駆動によってガイドレール40に沿い昇降が可能 である。On the other hand, a frame (not shown) of the substrate processing apparatus 1 supports a ball screw 43 extending in the vertical direction, and its lower end is connected to a motor 44. The ball nut 42 of the lifting table 18 is screwed onto the ball screw 43. As a result, the lifting table 18 can be moved up and down along the guide rail 40 by driving the motor 44.

【0016】 基板移載装置3は、図7に示すように、第1及び第2の基板保持装置55,5 6と、2つのカセットCを載置して昇降する昇降テーブル58と、昇降テーブル 58を昇降させるための昇降駆動装置59とを有している。 第1及び第2の基板保持装置55,56は、それぞれ基板を保持する保持手段 60,61と、保持手段60,61を支持する支持手段62,63と、支持手段 62,63を相互に接近、離反させるための移動機構64とを有している。この 移動機構64は、2つのキャリアCから取り出された基板Wを、アーム11で一 括して保持するために接近させるものである。As shown in FIG. 7, the substrate transfer device 3 includes first and second substrate holding devices 55 and 56, an elevating table 58 for elevating and lowering two cassettes C, and an elevating table. It has a lifting drive device 59 for lifting and lowering 58. The first and second substrate holding devices 55 and 56 respectively hold the holding means 60 and 61 for holding the substrate, the supporting means 62 and 63 for supporting the holding means 60 and 61, and the supporting means 62 and 63 close to each other. , And a moving mechanism 64 for separating them. The moving mechanism 64 moves the substrates W taken out from the two carriers C so as to be held together by the arm 11.

【0017】 支持手段62,63は、基板処理装置1のフレーム(図示せず)に固定された 固定フレーム65に図7の左右方向に移動自在に支持されている。この左右方向 の移動を移動機構64が行う。 昇降駆動装置59は、基板処理装置1のフレームに、上下方向に配置されたガ イドレール66を有している。昇降テーブル58の側壁部58cには、このガイ ドレール66にスライド自在に係合するガイド部67が設けられている。また、 昇降テーブル58の側壁部58aにはボールナット68が設けられている。The supporting means 62 and 63 are supported by a fixed frame 65 fixed to a frame (not shown) of the substrate processing apparatus 1 so as to be movable in the left-right direction in FIG. The movement mechanism 64 performs the movement in the left-right direction. The lifting drive device 59 has a guide rail 66 arranged vertically in the frame of the substrate processing apparatus 1. A guide portion 67 slidably engaged with the guide rail 66 is provided on the side wall portion 58c of the lifting table 58. A ball nut 68 is provided on the side wall portion 58a of the lifting table 58.

【0018】 一方、基板処理装置1の図示しないフレーム側には、上下方向に延びるボール ねじ69が支持されており、この下端には、モータ70が連結されている。この モータ70によって、ガイドレール66に沿い昇降テーブル58が昇降可能であ る。 基板処理装置1は、図8に示すような制御部80を有している。制御部80は 、CPU,ROM,RAMを含むマイクロコンピュータから構成されている。制 御部80には、操作パネル81、基板収納状態検出装置9のモータ44、キャリ ア移載ロボット10、基板搬送ロボット6、基板移載装置3、基板処理槽4及び 乾燥装置5が接続されている。また制御部80には、多数の光センサ35及び他 の入出力部も接続されている。On the other hand, a ball screw 69 extending in the vertical direction is supported on the frame side (not shown) of the substrate processing apparatus 1, and a motor 70 is connected to the lower end of the ball screw 69. The motor 70 enables the lifting table 58 to move up and down along the guide rail 66. The substrate processing apparatus 1 has a control unit 80 as shown in FIG. The control unit 80 is composed of a microcomputer including a CPU, ROM and RAM. An operation panel 81, a motor 44 of the substrate storage state detection device 9, a carrier transfer robot 10, a substrate transfer robot 6, a substrate transfer device 3, a substrate processing tank 4, and a drying device 5 are connected to the control unit 80. ing. A large number of optical sensors 35 and other input / output units are also connected to the control unit 80.

【0019】 次に上述の実施例の動作について説明する。 基板が搬入搬出部2に載置されると、基板収納状態検出装置9がキャリアC内 に収納された基板Wの収納状態を検出する。 ここでは、制御部80は図9に示す制御を行う。まず、ステップS1でキャリ アCが載置されたか否かを判断する。この判断は図示しないセンサからの入力に より行う。キャリアCが載置されるとステップS2に移行する。ステップS2で は、モータ44を駆動して昇降テーブル18を下降させる。この下降中において 、図3及び図5に示すように、正しく基板保持溝34に保持された基板W1は、 ガイド溝33a,33b内に嵌め込まれ、投光部35Tから受光部35Rに向か う光を遮断する。一方、たとえば隣り合う保持溝34に誤って斜めに収納された 基板W2は、図5に示すように基板押し上げ部32上に乗った状態で、基板押し 上げ部32により押し上げられる。この結果、投光部35Tから出た光は、斜め に収納された基板W2によっては遮断されず、受光部35Rで受光される。Next, the operation of the above embodiment will be described. When the substrate is placed on the carry-in / carry-out unit 2, the substrate storage state detection device 9 detects the storage state of the substrate W stored in the carrier C. Here, the control unit 80 performs the control shown in FIG. First, in step S1, it is determined whether the carrier C is placed. This judgment is made by input from a sensor (not shown). When the carrier C is placed, the process proceeds to step S2. In step S2, the motor 44 is driven to lower the lifting table 18. During this descent, as shown in FIGS. 3 and 5, the substrate W1 correctly held in the substrate holding groove 34 is fitted into the guide grooves 33a and 33b, and goes from the light projecting portion 35T to the light receiving portion 35R. Block the light. On the other hand, for example, the substrate W2, which is erroneously stored obliquely in the adjacent holding grooves 34, is pushed up by the substrate pushing-up unit 32 while being placed on the substrate pushing-up unit 32 as shown in FIG. As a result, the light emitted from the light projecting unit 35T is not blocked by the substrate W2 that is obliquely accommodated, and is received by the light receiving unit 35R.

【0020】 ステップS3では、光センサ35の検出結果からキャリアCに正しく収納され た基板Wの枚数及び位置を検出する。ステップS4では、検出された枚数と予め 設定された枚数とを比較する。ステップS5では、比較結果が一致したか否かを 判断する。比較結果が一致していなければステップS6に移行し、エラー処理を 実行する。そして、ステップS7では、昇降テーブル18を上昇させ元の位置に 戻す。In step S 3, the number and position of the substrates W correctly stored in the carrier C are detected from the detection result of the optical sensor 35. In step S4, the detected number and the preset number are compared. In step S5, it is determined whether the comparison results match. If the comparison results do not match, the process proceeds to step S6 and error processing is executed. Then, in step S7, the lifting table 18 is raised and returned to the original position.

【0021】 なお、エラー処理では、操作者に対する警報が発せられ、またステップ7後の 基板処理動作が停止させられる。 基板Wの収納状態が正常であれば、キャリア移載ロボット10がキャリアCを 保持して基板移載装置3に搬送する。2つのキャリアCが基板移載装置3に移載 されると、基板移載装置3の昇降テーブル58が下降し、基板保持装置55,5 6によってキャリアC内から基板Wが取り出される。取り出された基板Wは、基 板搬送ロボット6のアーム11に一括して保持されて、基板処理槽4に搬送され る。基板処理槽4では、搬送された基板Wを基板保持具12が受け取って処理槽 内に浸漬させる。そして所定の薬液処理がなされる。薬液処理が終了した基板W は、基板保持具12から基板搬送ロボット6に渡され、乾燥装置5に搬送される 。乾燥装置5では、基板Wを受け取って乾燥させる。乾燥が終了した基板Wは、 基板移載装置3に搬送され、基板移載装置3でキャリアC内に収納される。基板 Wが収納されたキャリアCは、キャリア移載ロボット10により搬入搬出部2に 戻される。In the error processing, an alarm is given to the operator and the substrate processing operation after step 7 is stopped. If the stored state of the substrate W is normal, the carrier transfer robot 10 holds the carrier C and conveys it to the substrate transfer device 3. When the two carriers C are transferred to the substrate transfer device 3, the elevating table 58 of the substrate transfer device 3 is lowered, and the substrate W is taken out of the carrier C by the substrate holding devices 55 and 56. The substrates W taken out are collectively held by the arm 11 of the substrate transfer robot 6 and transferred to the substrate processing bath 4. In the substrate processing bath 4, the substrate holder 12 receives the transported substrate W and immerses it in the processing bath. Then, a predetermined chemical solution treatment is performed. The substrate W 1 which has been subjected to the chemical treatment is transferred from the substrate holder 12 to the substrate transfer robot 6 and transferred to the drying device 5. In the drying device 5, the substrate W is received and dried. The dried substrate W is conveyed to the substrate transfer device 3 and is stored in the carrier C by the substrate transfer device 3. The carrier C containing the substrate W is returned to the loading / unloading section 2 by the carrier transfer robot 10.

【0022】 この段階で、再び図9の処理が実行される。これによって、この段階でもキャ リアC内での基板Wの収納状態の良否が判断される。 〔他の実施例〕 キャリアCを下降させる代わりに、ベースフレーム30を上昇させてもよい。At this stage, the process of FIG. 9 is executed again. As a result, at this stage as well, it is judged whether the stored state of the substrate W in the carrier C is good or bad. [Other Embodiments] Instead of lowering the carrier C, the base frame 30 may be raised.

【0023】[0023]

【考案の効果】[Effect of device]

本考案に係る基板収納状態検出装置では、キャリア内に正しく収納された基板 だけが多数の溝に入り込み、傾斜して収納された基板は押し上げ部により押し上 げられるので、基板が正しくキャリア内に収納されているか否かを容易に検出で きる。 In the substrate housed state detecting device according to the present invention, only the substrate properly housed in the carrier enters into a large number of grooves, and the substrate housed at an angle is pushed up by the push-up section, so that the substrate is properly housed in the carrier. It is possible to easily detect whether or not it is stored.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本考案の一実施例が採用された浸漬型基板処理
装置の斜視図。
FIG. 1 is a perspective view of an immersion type substrate processing apparatus to which an embodiment of the present invention is applied.

【図2】基板収納状態検出装置の一部破断側面図。FIG. 2 is a partially cutaway side view of the substrate storage state detection device.

【図3】キャリアと基板保持具との関係を示す平面図。FIG. 3 is a plan view showing a relationship between a carrier and a substrate holder.

【図4】基板保持具の縦断面図。FIG. 4 is a vertical sectional view of a substrate holder.

【図5】図4のV−V断面拡大図。5 is an enlarged view taken along line VV of FIG.

【図6】図4のVI矢視部分拡大図。FIG. 6 is an enlarged view of a part of FIG.

【図7】基板移載装置の一部破断側面図。FIG. 7 is a partially cutaway side view of the substrate transfer device.

【図8】基板処理装置の制御ブロック図。FIG. 8 is a control block diagram of the substrate processing apparatus.

【図9】基板保持状態検出処理の制御フローチャート。FIG. 9 is a control flowchart of substrate holding state detection processing.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

9 基板収納状態検出装置 19 昇降駆動装置 20,21 基板保持具 31 基板検出部 32 基板押し上げ部 33b ガイド溝 35 光センサ 9 Substrate Storage State Detecting Device 19 Elevating / Driving Device 20, 21 Substrate Holding Tool 31 Substrate Detecting Section 32 Substrate Pushing Up Section 33b Guide Groove 35 Optical Sensor

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】[Scope of utility model registration request] 【請求項1】多数枚の基板を整列させて収納する多数の
保持溝を有するキャリアの基板収納状態を検出する基板
収納状態検出装置であって、 前記キャリア内に正しく収納された前記基板が入り込む
多数の溝と、前記キャリア内に傾斜して収納された前記
基板を前記キャリアに対し相対的に押し上げる押し上げ
部とを有する検出部と、 前記キャリア内に正しく収納された前記基板が前記溝内
に入り込むように前記検出部を前記キャリアに対し相対
的に昇降させる駆動部と、 前記溝内に前記基板が入り込んだか否かを検知する基板
検知手段と、 を備えた基板収納状態検出装置。
1. A substrate storage state detecting device for detecting a substrate storage state of a carrier having a plurality of holding grooves for aligning and storing a large number of substrates, wherein the properly stored substrate is inserted into the carrier. A detection unit having a large number of grooves and a push-up unit that pushes up the substrate that is tilted and stored in the carrier relative to the carrier; and the substrate that is correctly stored in the carrier is in the groove. A substrate storage state detection device comprising: a drive unit that raises and lowers the detection unit relative to the carrier so as to enter; and a substrate detection unit that detects whether or not the substrate has entered the groove.
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