JP2541887Y2 - Wafer surface treatment equipment - Google Patents

Wafer surface treatment equipment

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JP2541887Y2
JP2541887Y2 JP2174590U JP2174590U JP2541887Y2 JP 2541887 Y2 JP2541887 Y2 JP 2541887Y2 JP 2174590 U JP2174590 U JP 2174590U JP 2174590 U JP2174590 U JP 2174590U JP 2541887 Y2 JP2541887 Y2 JP 2541887Y2
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cassette
transfer
wafer
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processing
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俊作 児玉
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大日本スクリ−ン製造 株式会社
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【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、半導体、セラミック、ガラス等の薄板状
基板(以下、「ウエハ」という)を複数枚収納容器(以
下、「カセット」という)に収容して、カセットに収容
したままの状態でウエハに対し各種の表面処理を施すウ
エハの表面処理装置に関し、特にウエハの移し替え並び
にカセットの搬送及び移送の技術に係るものである。
[Detailed description of the invention] [Industrial application field] In this invention, a plurality of thin plate-like substrates (hereinafter, referred to as "wafers") such as semiconductors, ceramics, and glasses are stored in containers (hereinafter, referred to as "cassettes"). BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a wafer surface treatment apparatus for performing various surface treatments on a wafer while being housed and housed in a cassette, and particularly relates to a technique of transferring a wafer and transporting and transferring a cassette.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

例えば、半導体素子は、半導体ウエハに対し、金属蒸
着、フォトレジスト塗布、パターン焼付け、現像、エッ
チング、洗浄、剥膜、不純物拡散等といった多数の表面
処理を施して製造される。そして、処理工程の種類によ
り、ウエハを1枚ずつ処理する場合と、多数のウエハを
カセットに収容したままの状態で多数枚を同時に処理す
る場合とがある。
For example, semiconductor devices are manufactured by subjecting a semiconductor wafer to a number of surface treatments such as metal deposition, photoresist coating, pattern baking, development, etching, cleaning, film stripping, and impurity diffusion. Then, depending on the type of processing step, there are a case where wafers are processed one by one and a case where many wafers are processed simultaneously while a large number of wafers are housed in a cassette.

多数枚のウエハをカセットに収容したままの状態でウ
エハの表面処理を行なう場合においては、処理工程によ
って、処理に先立ちウエハを搬送専用カセットから処理
専用カセットへ移し替え、また処理終了後にウエハを処
理専用カセットから搬送専用カセットへ移し替える必要
のある場合がある。例えば、処理専用カセットとして熱
処理装置では石英製カセットを、また薬液内浸漬処理装
置ではフッ素樹脂製カセットを使用し、それらの処理専
用カセットと搬送専用のポリプロピレン製カセットとの
間でウエハの移し替えが行なわれる。
When performing wafer surface treatment with a large number of wafers stored in a cassette, the wafers are transferred from a transfer-only cassette to a processing-only cassette prior to processing, and the wafers are processed after processing is completed. There is a case where it is necessary to transfer from a dedicated cassette to a transport dedicated cassette. For example, a quartz cassette is used in the heat treatment apparatus as a processing cassette, and a fluororesin cassette is used in the chemical immersion processing apparatus. Wafers can be transferred between these processing-dedicated cassettes and transport-only polypropylene cassettes. Done.

また、それに伴って、カセット間におけるウエハの移
し替えを行なう移し替え装置と表面処理装置との間など
においてカセットを搬送したり移送したりする必要のあ
る場合がある。
Along with this, it may be necessary to transfer or transfer the cassette between a transfer device for transferring wafers between cassettes and a surface treatment device.

これらの技術に関して、従来、例えば雑誌「Semicond
uctor World」,1985年11月号の73〜84ページには、2種
類の処理装置間の搬送ラインと装置内の搬送ラインとを
カセットストッカーを介して連結し、カセットの授受、
保管、ロットの識別等を行ない、各工程間の処理タイミ
ングを制御する技術が開示されている。また、同誌の75
ページには、拡散システムにおけるウエハの出入口部と
ストッカーとを連結し、搬送用カセットと石英ボード間
でのウエハの移し替えを行ない、ウエハを支持した石英
ボードを拡散炉へ搬出入するフローが開示されている。
Regarding these technologies, conventionally, for example, the magazine "Semicond
uctor World ”, November 1985, pp. 73-84, a transfer line between two types of processing equipment and a transfer line in the equipment were connected via a cassette stocker to exchange cassettes.
There is disclosed a technique for performing storage, lot identification, and the like, and controlling processing timing between processes. Also, 75
The page discloses a flow that connects the wafer entrance and the stocker in the diffusion system, transfers wafers between the transport cassette and the quartz board, and carries the quartz board supporting the wafer into and out of the diffusion furnace. Have been.

また、ウエハの移し替え装置としては、例えば特公昭
56−44566号公報(発明の名称「物体整列装置」)にお
いて、第1及び第2カセットを載置し、各所定位置にそ
れぞれ貫通孔が形成されたテーブルと、カセット内に収
容されていたウエハを保持した状態で前記貫通孔を通し
て垂直方向に上下動する上下移動手段と、この上下移動
手段によってカセットの上方に移動させられたウエハを
一括して挾持し整列させる整列手段と、この整列手段と
前記テーブルとを相対移動させる駆動手段とから構成さ
れた装置が開示されている。
In addition, as a wafer transfer device, for example,
In Japanese Patent Application Laid-Open No. 56-44566 (title "Object Alignment Apparatus"), a table in which first and second cassettes are placed and through holes are formed at predetermined positions, and a wafer accommodated in the cassettes Vertically moving means vertically moving through the through-hole while holding the wafer, aligning means for clamping and aligning the wafers moved above the cassette by the vertical moving means at a time, and the aligning means. There is disclosed an apparatus constituted by driving means for relatively moving the table.

さらに、特開昭59−104138号公報(発明の名称「半導
体ウエハの移替え装置」)には、第1及び第2カセット
の各載置位置にカセット内のウエハを一括保持して上昇
する上下動手段をそれぞれ設け、一方の上下動手段によ
ってその一方のカセットの上方に移動させられたウエハ
を一括して挾持する挾持手段、及びこの挾持手段を他方
のカセットの上方へ180°回動させてウエハを他方の上
下動手段に移す回動手段を設けた装置が開示されてい
る。
Further, Japanese Patent Application Laid-Open No. 59-104138 (title of "Semiconductor Wafer Transfer Apparatus") discloses that the wafers in the cassettes are collectively held at the respective mounting positions of the first and second cassettes, Moving means, respectively, holding means for holding the wafers moved above one cassette by one vertical moving means at a time, and rotating the holding means by 180 ° above the other cassette. There is disclosed an apparatus provided with a rotating means for transferring a wafer to the other vertical moving means.

〔考案が解決しようとする課題〕[Problems to be solved by the invention]

上記したように、半導体装置の製造工程は各種の表面
処理工程よりなり、そのうち、多数枚のウエハをカセッ
トに収容したままの状態でウエハの表面処理を行なう場
合に、処理工程によっては、カセットの耐食性や防塵等
の問題から、処理工程ごとに専用のカセットを使用して
いる。そして、各表面処理工程において、搬送用のカセ
ットとその処理工程専用のカセット間でウエハを移し替
える装置が知られている。
As described above, the manufacturing process of a semiconductor device includes various surface treatment steps. Of these, when performing wafer surface treatment while a large number of wafers are housed in a cassette, depending on the treatment step, the cassette may be processed. Due to problems such as corrosion resistance and dust prevention, a dedicated cassette is used for each processing step. In each surface treatment step, an apparatus for transferring wafers between a transport cassette and a cassette dedicated to the treatment step is known.

しかしながら、上記したような構成のウエハの移し替
え装置を用い、搬送専用カセット(第1カセット)と処
理専用カセット(第2カセット)とを介して、処理装置
間の搬送ラインと表面処理装置との間におけるウエハの
移し替えを行なう場合においては、搬送専用カセットか
ら処理専用カセットへ移し替えられて表面処理装置によ
り所要の表面処理、例えば洗浄処理を施されたウエハ
を、処理専用カセットから再び元の搬送専用カセットへ
移し替える際に、洗浄処理前のウエハに触れた搬送専用
カセットや移し替え装置の、例えばウエハ上下動手段や
ウエハ挾持手段等に付着していたパーティクル等がウエ
ハに再付着し、表面処理装置による折角の洗浄効果が薄
れてしまう、といった問題点があった。
However, using the wafer transfer device having the above-described configuration, the transfer line between the processing devices and the surface processing device are connected via the transfer-only cassette (first cassette) and the processing-only cassette (second cassette). In the case of transferring wafers between the transfer cassettes, the wafers that have been transferred from the transfer-only cassette to the processing-dedicated cassette and have been subjected to the required surface treatment, for example, cleaning, by the surface treatment apparatus are returned from the processing-dedicated cassette to the original cassette again. At the time of transfer to the transfer-only cassette, particles that were attached to the transfer-only cassette or the transfer device, for example, the wafer vertical movement means or the wafer clamping means, which touched the wafer before the cleaning process, re-attached to the wafer, There is a problem in that the cleaning effect of the surface treatment device at the corner is weakened.

この考案は、上記問題点を解決するためになされたも
のであって、複数枚のウエハをカセットに収容したまま
の状態でウエハに対し各種の表面処理を施す表面処理装
置におけるウエハの移し替えに際し、表面処理を終えた
ウエハに、搬送専用カセット等に付着していたパーティ
クル等が再付着して、ウエハを汚染したりすることがな
いようにすることを技術的課題とする。
The present invention has been made to solve the above-described problem, and is intended for use in transferring a wafer in a surface processing apparatus that performs various types of surface processing on a wafer while a plurality of wafers is housed in a cassette. It is another technical object of the present invention to prevent particles or the like adhering to a transfer-only cassette or the like from re-adhering to a wafer that has been subjected to surface treatment, thereby preventing the wafer from being contaminated.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

この考案は、上記課題を達成するための手段として、
処理専用カセットに収容された複数枚のウエハに対して
所要の表面処理、例えばウエハの洗浄処理を施す表面処
理部を有するウエハの表面処理装置において、表面処理
前の複数枚のウエハを収容した搬送専用カセットから処
理専用カセットへ複数枚のウエハの移し替えを行なう搬
入ウエハ移し替え部、及び表面処理後の複数枚のウエハ
を収容した処理専用カセットから洗浄処理された搬送専
用カセットへ複数枚のウエハの移し替えを行なう搬出ウ
エハ移し替え部からなるウエハ移し替え部を設け、その
ウエハ移し替え部に前記表面処理部を連接させるととも
に、ウエハ移し替え後の空になった搬送専用カセットを
洗浄するカセット洗浄処理部をウエハ移し替え部に連接
して設けるようにした。また、表面処理部の長手方向に
沿って表面処理部専用カセット移送手段を配設し、表面
処理部内で処理専用カセットの移送を行なえるようにし
た。さらに、前記表面処理部と前記ウエハ移し替え部と
の間で処理専用カセットの移送を行なう処理専用カセッ
ト移送手段を設け、また、前記ウエハ移し替え部と前記
カセット洗浄処理部との間で搬送専用カセットの移送を
行なう搬送専用カセット移送手段を設けるようにしたこ
とを要旨として構成されている。
This invention is a means to achieve the above-mentioned subject,
In a wafer surface treatment apparatus having a surface treatment unit for performing a required surface treatment on a plurality of wafers accommodated in a processing-dedicated cassette, for example, a cleaning treatment of the wafers, a conveyance accommodating a plurality of wafers before the surface treatment. A loading wafer transfer unit for transferring a plurality of wafers from a dedicated cassette to a processing dedicated cassette, and a plurality of wafers from a processing dedicated cassette containing a plurality of surface-treated wafers to a cleaning dedicated transfer cassette. A cassette for providing a wafer transfer unit comprising an unloading wafer transfer unit for transferring the wafer, connecting the surface treatment unit to the wafer transfer unit, and cleaning the empty transfer-only cassette after the wafer transfer. The cleaning section is provided in connection with the wafer transfer section. Further, a cassette transfer means dedicated to the surface treatment section is provided along the longitudinal direction of the surface treatment section so that the cassette dedicated to the treatment can be transferred within the surface treatment section. Further, a processing cassette transfer means for transferring a processing cassette between the surface processing section and the wafer transfer section is provided, and a transfer cassette dedicated to transfer between the wafer transfer section and the cassette cleaning processing section. The gist of the invention is to provide a dedicated cassette transfer means for transferring a cassette.

〔作用〕[Action]

上記のように構成されたウエハの表面処理装置におい
ては、前段の処理装置から搬送専用カセットに収容され
て搬入されてきた複数枚のウエハは、搬入ウエハ移し替
え部により搬送専用カセットから処理専用カセットへ移
し替えられる。そして、ウエハ移し替え後の空になった
搬送専用カセットは、搬送専用カセット移送手段により
ウエハ移し替え部に連接したカセット洗浄処理部へ移送
され、その洗浄処理部で洗浄される。一方、処理専用カ
セットに移し替えられたウエハは表面処理部へ移送さ
れ、表面処理部へ移送されたウエハは、表面処理部専用
カセット移送手段により処理専用カセットに収容された
ままの状態で表面処理部内を移送され、所要の表面処理
が施される。このように、表面処理部内では、表面処理
部のみに使用されるカセット移送手段によって処理専用
カセットが移送されるため、搬送専用カセットに付着し
ていたパーティクル等がカセット移送手段を媒介にして
表面処理部内へ持ち込まれ表面処理液中に混入するとい
ったことを無くすことができ、また、表面処理の影響が
カセット移送手段を媒介にして洗浄済みの搬送専用カセ
ットに与えられる心配も無い。
In the wafer surface treatment apparatus configured as described above, a plurality of wafers that are accommodated in and carried in the transfer-only cassette from the preceding processing apparatus are transferred from the transfer-only cassette by the transfer-in wafer transfer unit to the processing-only cassette. Transferred to. Then, the empty transfer-only cassette after the wafer transfer is transferred to a cassette cleaning processing unit connected to the wafer transfer unit by the transfer-only cassette transfer unit, and cleaned by the cleaning processing unit. On the other hand, the wafers transferred to the processing cassette are transferred to the surface processing section, and the wafers transferred to the surface processing section are subjected to surface processing while being accommodated in the processing cassette by the cassette transferring means for the surface processing section. It is transported inside the department and subjected to the required surface treatment. As described above, in the surface treatment section, the processing cassette is transferred by the cassette transfer means used only for the surface treatment section, so that particles and the like adhering to the transfer cassette are subjected to surface treatment through the cassette transfer means. It can be prevented from being brought into the unit and mixed into the surface treatment liquid, and there is no concern that the influence of the surface treatment is given to the cleaned transfer-only cassette via the cassette transfer means.

表面処理部で表面処理されたウエハは、処理専用カセ
ット移送手段を使用し、直接に、或いは他の処理専用カ
セット搬送手段を介在させて、表面処理部から搬出ウエ
ハ移し替え部へ移送される。このようにして表面処理が
済んだ複数枚のウエハは、搬出ウエハ移し替え部におい
て処理専用カセットから搬送専用カセットへ移し替えら
れた後、搬出される。
The wafer subjected to the surface treatment in the surface treatment section is transferred from the surface treatment section to the unloading wafer transfer section directly or through another processing dedicated cassette transfer section using a dedicated cassette transfer section. The plurality of wafers having been subjected to the surface treatment in this manner are transferred from the processing-dedicated cassette to the transfer-dedicated cassette in the unloading wafer transfer unit, and are then unloaded.

そして、搬出ウエハ移し替え部において処理専用カセ
ットからそのカセットに収容された処理済みウエハを移
し替える搬送専用カセットとしては、搬入ウエハ移し替
え部において処理専用カセットへ未処理ウエハを移し替
えた後カセット洗浄装置により洗浄され乾燥させられた
ものを使用するため、また、搬出ウエハ移し替え部が搬
入ウエハ移し替え部とは別に設けられていて、搬出ウエ
ハ移し替え部は、表面処理後のウエハとのみ接触し表面
処理前のウエハとは触れることがないため、処理済みウ
エハの移し替えに際し、搬送専用カセットやウエハ移し
替え部を媒介としてウエハへパーティクル等が転移し付
着するといったことは起こらない。
The transfer-only wafer transfer unit transfers the processed wafers stored in the cassette from the processing-only cassette. The transfer-in wafer transfer unit transfers unprocessed wafers to the processing-only cassette, and then performs cassette cleaning. To use the wafer that has been cleaned and dried by the equipment, the unloading wafer transfer unit is provided separately from the incoming wafer transfer unit, and the unloading wafer transfer unit contacts only the wafers after surface treatment. Since the wafer does not come into contact with the wafer before the surface treatment, the transfer of the processed wafer does not cause the transfer of particles and the like to the wafer via the transfer-only cassette or the wafer transfer unit.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照しながらこの考案の好適な実施例に
ついて説明する。
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図はこの考案の1実施例を示し、ウエハの表面処
理装置の全体を表した斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention and showing an entire surface treatment apparatus for a wafer.

このウエハの表面処理装置は、搬入ウエハ移し替え部
1と搬出ウエハ移し替え部1′とからなるウエハ移し替
え部、その上方に設けられたカセット収納棚2、一端部
においてウエハ移し替え部1、1′に連接した表面処理
部3、この表面処理部3の一側に沿って、表面処理部3
の他端部とウエハ移し替え部1、1′との間を連絡する
処理専用カセット搬送部4、並びに表面処理部3の他側
に配設され、ウエハ移し替え部1、1′とカセット収納
棚2、ウエハ移し替え部1、1′とカセット搬送部4、
及び表面処理部3とウエハ移し替え部1、1′の各間に
おいてそれぞれカセットを移送するカセット移送装置
5、表面処理部3においてカセットを移送する表面処理
部専用カセット移送装置60、並びにカセット搬送部4と
表面処理部3との間においてカセットを移送する表面処
理部ローダ専用カセット移送装置70から構成されてい
る。尚、図では制御盤は図示を省略している。
This wafer surface treatment apparatus includes a wafer transfer section including a carry-in wafer transfer section 1 and a carry-out wafer transfer section 1 ', a cassette storage shelf 2 provided above the wafer transfer section, and a wafer transfer section 1 at one end. 1 ′, a surface treatment section 3 along one side of the surface treatment section 3
And a cassette transfer unit 4 for exclusive use for processing, which communicates between the other end of the wafer transfer unit 1 and 1 ', and the other side of the surface processing unit 3 to accommodate the cassette for wafer transfer. Shelf 2, wafer transfer units 1, 1 'and cassette transport unit 4,
A cassette transfer device 5 for transferring a cassette between the surface processing unit 3 and the wafer transfer units 1 and 1 '; a cassette transfer device 60 for transferring a cassette in the surface processing unit 3; It comprises a cassette transfer device 70 dedicated to the surface treatment section loader for transferring the cassette between the surface treatment section 4 and the surface treatment section 3. The control panel is not shown in the figure.

搬入ウエハ移し替え部1には、例えば、搬送専用カセ
ットC1を載置する第1テーブル(搬送専用カセット載置
テーブル)10及び処理専用カセットC2を載置する第2テ
ーブル(処理専用カセット載置テーブル)12が、それぞ
れ各矢印で示した水平方向に往復動自在に配設されてい
る。これら第1テーブル10及び第2テーブル12の中央部
には、それぞれ矩形の貫通孔14、16が形成されており、
また第1テーブル10と第2テーブル12との中間位置に
は、その貫通孔14、16より若干小さい外形を有する昇降
板18が、矢印で示した上下方向に昇降自在に配設されて
いる。この昇降板18の上面には、ウエハWの下端部分が
緩挿されウエハWを保持する保持溝が複数本切設されて
いる。尚、昇降板18の保持溝は、搬送専用カセットC1
び処理専用カセットC2の各長手側内面のウエハ収容溝と
同一ピッチの溝がそれぞれ切設されているとともに、各
底部は、昇降板18が貫入することができるよう開口して
いる。図中の符号24は、図示していない外部のカセット
搬送手段により前段の処理装置から搬送され搬入された
搬送専用カセットC1を載置するカセット搬出入台であ
る。
The carry-in wafer transfer section 1 includes, for example, a first table (transfer cassette mounting table) 10 for mounting the transfer cassette C 1 and a second table (processing cassette mount) for mounting the processing cassette C 2. Table 12 is disposed so as to be able to reciprocate in the horizontal direction indicated by each arrow. At the center of the first table 10 and the second table 12, rectangular through holes 14 and 16 are formed, respectively.
At an intermediate position between the first table 10 and the second table 12, an elevating plate 18 having an outer shape slightly smaller than the through holes 14 and 16 is provided so as to be able to move up and down as indicated by arrows. On the upper surface of the elevating plate 18, a plurality of holding grooves into which the lower end of the wafer W is loosely inserted and which holds the wafer W are cut out. The holding groove of the lift plate 18, together with the wafer housing groove and the groove of the same pitch of the longitudinal side inner surface of the conveying dedicated cassette C 1 and process only the cassette C 2 is Setsu設respectively, each bottom, lift plate 18 is open so that it can penetrate. Reference numeral 24 in the figure, a cassette unloading Iridai for placing preceding processing unit is a carried-in conveyor only the cassette C 1 transported from the outside of the cassette transfer means (not shown).

また、昇降板18の上方には一対の挾持腕20、20が配置
されており、この一対の挾持腕20、20は、支持駆動手段
22により、互いに対向する側面間の間隔を拡狭自在に支
持されて、移動又は回動させられる。昇降板18の位置に
移動してきた第1テーブル10又は第2テーブル12上に載
置されたカセットに収容されたウエハWは、昇降板18の
昇降動作によってカセットから上昇移動させられ、その
上昇移動したウエハWを、この一対の挾持腕20、20によ
り挾持する。また、これら一対の挾持腕20、20の対向側
面にも、カセットC1、C2の収容溝や昇降板18の保持溝と
同一ピッチのウエハ挾持溝がそれぞれ切設されている。
A pair of clamping arms 20, 20 are disposed above the lifting plate 18, and the pair of clamping arms 20, 20 are supported by driving means.
By 22, the space between the opposing side surfaces is supported so as to be able to expand and contract, and is moved or rotated. The wafer W stored in the cassette placed on the first table 10 or the second table 12 that has moved to the position of the lifting plate 18 is moved upward from the cassette by the lifting operation of the lifting plate 18, and the upward movement is performed. The wafer W is clamped by the pair of clamping arms 20, 20. Further, wafer holding grooves having the same pitch as the accommodation grooves of the cassettes C 1 and C 2 and the holding grooves of the elevating plate 18 are also formed in the opposing side surfaces of the pair of holding arms 20, 20.

上記した搬入ウエハ移し替え部1に隣接して搬出ウエ
ハ移し替え部1′が配設されており、これら搬入、搬出
ウエハ移し替え部1、1′によりウエハ移し替え部が構
成される。搬出ウエハ移し替え部1′の構成は搬入ウエ
ハ移し替え部1と同一であり、搬出ウエハ移し替え部
1′にも、貫通孔14′が形成され、搬送専用カセットC1
を載置する第1テーブル(搬送専用カセット載置テーブ
ル)10′、及び貫通孔16′が形成され、処理専用カセッ
トC2を載置する第2テーブル(処理専用カセット載置テ
ーブル)12′、昇降板18′、一対の挾持腕20′、20′、
並びに支持駆動手段22′がそれぞれ設けられている。
An unloading wafer transfer section 1 'is provided adjacent to the above-described transfer wafer transfer section 1, and these transfer wafer transfer sections 1 and 1' constitute a wafer transfer section. The configuration of the unloading wafer transfer unit 1 'is the same as that of the unloading wafer transfer unit 1, and the unloading wafer transfer unit 1' also has a through hole 14 'formed therein, and the transfer-only cassette C 1
, A first table (transfer cassette mounting table) 10 ′, and a second table (processing cassette mounting table) 12 ′ in which a through-hole 16 ′ is formed to mount the processing cassette C 2 . Lifting plate 18 ', a pair of clamping arms 20', 20 ',
In addition, support driving means 22 'are provided.

また、図示していないが、ウエハ移し替え部1、1′
には、ウエハを処理専用カセットC2へ移し替えた後の空
になった搬送専用カセットC1を洗浄するためのカセット
洗浄装置が連接されており、また、そのカセット洗浄装
置とウエハ移し替え部1、1′との間で搬送専用カセッ
トC1を移送するための搬送専用カセット移送装置が配設
されている。カセット洗浄装置は、公知の洗浄技術を利
用した装置、例えば、スプレー式洗浄装置、超音波洗浄
装置、高圧ジェット式洗浄装置又は浸漬型洗浄装置と、
公知の乾燥技術、例えば熱風、赤外線等を利用した乾燥
装置とを組み合わせて構成されている。また、搬送専用
カセット移送装置は、カセット搬送部4或いはカセット
移送装置5と同様の機構であってもよいし、また、ベル
ト等を用いた公知の搬送手段により構成してもよい。
Although not shown, the wafer transfer units 1, 1 '
In is a cassette cleaning apparatus for cleaning a transport dedicated cassette C 1 became empty after transferred the wafer to the processing-dedicated cassette C 2 is connected, also, the cassette cleaning device and the wafer sorting unit conveying dedicated cassette transfer device for transferring the conveying dedicated cassette C 1 between 1 and 1 'are provided. Cassette cleaning device is a device using a known cleaning technology, for example, spray type cleaning device, ultrasonic cleaning device, high pressure jet type cleaning device or immersion type cleaning device,
It is configured by combining with a known drying technique, for example, a drying apparatus using hot air, infrared rays, or the like. Further, the cassette transfer device dedicated to transfer may be a mechanism similar to that of the cassette transfer unit 4 or the cassette transfer device 5, or may be configured by a known transfer unit using a belt or the like.

尚、搬入・搬出ウエハ移し替え部の構成としては、例
えば特公昭56−44566号公報に記載されているように、
1個のテーブル上に2個のカセットを載置できるように
してもよい。また、必要により、カセット搬出入台24を
特に設けないで、搬入ウエハ移し替え部1の搬送専用カ
セットC1用の第1テーブル10をカセット搬出入台に兼用
することもできる。
In addition, as a configuration of the loading / unloading wafer transfer unit, for example, as described in JP-B-56-44566,
Two cassettes may be placed on one table. Further, if necessary, without particularly providing a cassette unloading Iridai 24 as above may also be used the first table 10 for conveying dedicated cassette C 1 carry-wafer sorting unit 1 into the cassette unloading Iridai.

カセット収納棚2は、内部が複数区画(この実施例で
は2段×6列=12区画)に分けられており、1側面が開
口してカセットの出入口となっている。このカセット収
納棚2には、処理の進行状況等に応じてウエハ移し替え
部1、1′の搬送専用カセットC1又は処理専用カセット
C2が一時保管され、ウエハ移し替え部1、1′との間で
カセットの授受が行なわれる。尚、カセット収納棚は、
それを省略することもできる。
The inside of the cassette storage shelf 2 is divided into a plurality of sections (2 sections × 6 rows = 12 sections in this embodiment), and one side face is opened to serve as a cassette entrance. This cassette storage rack 2, the transport private cassette C 1 or process dedicated cassette wafer sorting unit 1, 1 'in accordance with the progress status of processing
C 2 is temporarily stored, transfer cassettes is performed between the wafer sorting unit 1, 1 '. The cassette storage shelf is
It can be omitted.

表面処理部3、この実施例では浸漬型表面処理部3
は、その一端部、すなわち処理終了位置側において搬出
ウエハ移し替え部1′に連接しており、所要の表面処理
液を充満させた複数の表面処理槽26、28、30、…から構
成されている。それら各処理槽26、28、30、…内に処理
専用カセットC2が順次挿入、浸漬され、各処理槽26、2
8、30、…に貯留された各表面処理液中に、処理専用カ
セットC2に収容された状態のウエハWが浸漬させられ
る。図中の符号32、33は、それぞれローダ部及びアンロ
ーダ部である。
Surface treatment unit 3, in this embodiment, immersion type surface treatment unit 3
Is connected to the unloading wafer transfer section 1 'at one end thereof, that is, at the processing end position side, and is constituted by a plurality of surface treatment tanks 26, 28, 30,... I have. They processing tanks 26, 28, 30, ... in the processing-dedicated cassette C 2 are sequentially inserted, is immersed, each processing tank 26,2
8,30, in each surface treatment liquid stored in ..., the wafer W in a state of being accommodated in the processing only the cassette C 2 is immersed. Reference numerals 32 and 33 in the figure are a loader unit and an unloader unit, respectively.

次に、処理専用カセット搬送部4は、表面処理部3の
一側に沿ってその全長にわたり一対の走行自在のワイヤ
34、34′を張設し、そのワイヤ34、34′にカセット載置
台板36を固定して構成されている。カセット載置台板36
は、搬入ウエハ移し替え部1の近傍と表面処理部3の他
端部、すなわち表面処理部3の処理開始位置近傍との間
を往復動することができる。カセット搬送部4の一端部
には、複数対のカセット保持枠38、40、42が、矢印で示
した上下方向に昇降自在に配設されている。また、一対
の保持枠38、40、42の各中間位置には、それぞれ光セン
サー44が配設されており、この光センサー44によってカ
セット載置台板36の有無を検知できるようにしている。
このような構成により、処理専用カセットC2を載せたカ
セット載置台板36が第1図の左端部まで走行すると、光
センサー44がカセット載置台板36の存在を検知し、その
検知信号により台板36が停止し、次いで一対の保持枠38
が上昇して、台板36から処理専用カセットC2を上方へ浮
かせて保持枠38が処理専用カセットC2を保持する。これ
ら保持枠及び光センサーは必要個数だけ配設され、処理
専用カセットC2のバッファ機構としても作用する。
Next, the processing-specific cassette transport unit 4 includes a pair of freely movable wires along one side of the surface processing unit 3 over its entire length.
34, 34 'are stretched, and the cassette mounting base plate 36 is fixed to the wires 34, 34'. Cassette mounting base plate 36
Can reciprocate between the vicinity of the loaded wafer transfer unit 1 and the other end of the surface processing unit 3, that is, the vicinity of the processing start position of the surface processing unit 3. At one end of the cassette transport section 4, a plurality of pairs of cassette holding frames 38, 40, and 42 are disposed so as to be able to move up and down in the vertical direction indicated by arrows. An optical sensor 44 is provided at each intermediate position between the pair of holding frames 38, 40, and 42, and the presence or absence of the cassette mounting base plate 36 can be detected by the optical sensor 44.
With this arrangement, when the cassette table plate 36 which carries a process dedicated cassette C 2 travels to the left portion of FIG. 1, the optical sensor 44 detects the presence of the cassette mounting table plate 36, the platform by the detection signal The plate 36 stops, and then a pair of holding frames 38
There rises, the holding frame 38 by floating processing a dedicated cassette C 2 upward from the base plate 36 holds the processing-dedicated cassette C 2. These holding frames and the light sensor is disposed only required number, also acts as a buffer mechanism dedicated to handling the cassette C 2.

尚、この実施例におけるようにワイヤは一対に限ら
ず、1本で構成してもよい。また、ワイヤ及びカセット
載置台板の代わりに、ウォーキングビーム方式によりカ
セットを搬送するようにしてもよい。
It should be noted that the number of wires is not limited to a pair as in this embodiment, and may be one. Further, instead of the wires and the cassette mounting base plate, the cassette may be transported by a walking beam method.

カセット移送装置5は、開閉自在の一対のカセット挾
持フィンガ46、46、この一対のカセット挾持フィンガ4
6、46を開閉駆動させる挾持駆動手段48、この挾持駆動
手段48を上下動させる上下動駆動手段50、この上下動駆
動手段50を前後方向に移動させる前後方向移動手段52、
並びにこの前後方向移動手段52を左右方向に移動させる
左右方向移動手段54から構成されている。
The cassette transfer device 5 includes a pair of cassette holding fingers 46 that can be opened and closed, and a pair of cassette holding fingers 4.
Clamping drive means 48 for driving the opening and closing of 6, 46; vertical movement drive means 50 for vertically moving the clamping drive means 48; front-rear movement means 52 for moving the vertical movement means 50 in the front-rear direction;
Further, a left-right moving means 54 for moving the front-rear moving means 52 in the left-right direction is provided.

このカセット移送装置5により、カセット搬出入台24
と搬入ウエハ移し替え部1の第1テーブル10との間で搬
送専用カセットC1を、搬入ウエハ移し替え部1又は搬出
ウエハ移し替え部1′とカセット収納棚2との間で搬送
専用カセットC1又は処理専用カセットC2を、また搬入ウ
エハ移し替え部1とカセット搬送部4との間及び表面処
理部3と搬出ウエハ移し替え部1′との間で処理専用カ
セットC2をそれぞれ移送することができる。
The cassette transfer device 5 allows the cassette loading / unloading table 24
Transfer cassette 1 between the loading wafer transfer unit 1 and the first table 10 of the loading wafer transfer unit 1, and the transfer cassette C 1 between the loading wafer transfer unit 1 or the unloading wafer transfer unit 1 ′ and the cassette storage shelf 2. 1 or processes dedicated cassette C 2, also to transfer respectively process the dedicated cassette C 2 and between the surface treatment unit 3 and the unloading wafer sorting unit 1 'of the loading wafer sorting unit 1 and the cassette transport part 4 be able to.

表面処理部専用カセット移送装置60は、一対のカセッ
ト挾持用フィンガ61、61、この一対のカセット挾持用フ
ィンガ61、61を揺動させる揺動機構62、この揺動機構62
を上下動させる昇降手段63、並びにこの昇降手段63を表
面処理部3に沿って水平移動させる水平移動手段64から
構成されている。このカセット移送装置60により、ロー
ダ32から各処理槽26、28、30、…を経てアンローダ33ま
で処理専用カセットC2を移送し、所定の処理槽に処理専
用カセットC2を順次浸漬させることにより、必要な浸漬
処理を行なうことができる。
The cassette transfer device 60 dedicated to the surface treatment unit includes a pair of cassette holding fingers 61, 61, a swing mechanism 62 for swinging the pair of cassette holding fingers 61, 61, and a swing mechanism 62.
And a horizontal moving means 64 for horizontally moving the elevating means 63 along the surface treatment unit 3. The cassette transporting device 60, the processing tanks from the loader 32 26, 28, 30 ... transfer the processing-dedicated cassette C 2 to the unloader 33 via, by sequentially immersing the processed dedicated cassette C 2 to a predetermined processing tank The necessary immersion treatment can be performed.

また、表面処理部ローダ専用カセット移送装置70は、
一対のカセット挾持フィンガ71、71、この一対のカセッ
ト挾持フィンガ71、71を開閉させる開閉機構72、この開
閉機構72を上下動させる昇降手段73、並びにこの昇降手
段73を前後方向に水平移動させて一対の挾持フィンガ7
1、71をカセット搬送部4の前端位置からローダ32へ水
平移動させる水平移動手段74とから構成されている。こ
のカセット移送装置70により、カセット搬送部4に一時
保管されたカセットC2をローダ32へ1組ずつ移送するこ
とができる。
In addition, the cassette transfer device 70 dedicated to the surface treatment unit loader
A pair of cassette holding fingers 71, 71, an opening / closing mechanism 72 for opening and closing the pair of cassette holding fingers 71, 71, elevating means 73 for vertically moving the opening / closing mechanism 72, and moving the elevating means 73 horizontally in the front-rear direction. A pair of clamping fingers 7
And a horizontal moving means 74 for horizontally moving 1, 71 from the front end position of the cassette transport section 4 to the loader 32. The cassette transfer device 70 can transfer cassettes C 2 which is temporarily stored in the cassette transport part 4 to the loader 32 one set.

次に、上記装置の動作について説明する。 Next, the operation of the above device will be described.

まず、図示していない外部のカセット搬送手段により
前段の処理装置からウエハWを収容した搬送専用カセッ
トC1が搬送され、カセット搬出入台24に載置されると、
その搬送専用カセットC1は、カセット移送装置5により
カセット搬出入台24から搬入ウエハ移し替え部1の第1
テーブル10上へ移送される。また、必要により、搬送専
用カセットC1は、カセット収納棚2内に一時保管するこ
ともできる。この際、第2テーブル12上には、ウエハを
収容していない処理専用カセットC2が載置されているこ
とが必要で、それが載置されていない場合には、カセッ
ト収納棚2からカセット移送装置5により処理専用カセ
ットC2が移送されて第2テーブル12上に載置される。
First, the transport private cassette C 1 accommodating the wafer W from the preceding processing unit is conveyed by the external cassette transfer means not shown, when it is placed on the cassette carrying-out Iridai 24,
The cassette for transfer C 1 is moved from the cassette loading / unloading table 24 by the cassette transfer device 5 to the first wafer transfer unit 1
It is transferred onto the table 10. Further, if necessary, the transport private cassette C 1 can also be temporarily stored in the cassette storage shelf 2. At this time, on the second table 12, when the processing-dedicated cassette C 2 that do not accommodate the wafer is required to have been placed, it is not placed, the cassette from the cassette storage rack 2 processing-dedicated cassette C 2 is placed on the second table 12 on which is transferred by the transfer device 5.

次に、搬送専用カセットC1を載置した第1テーブル10
を昇降板18の直上位置へ移動させてから、図示していな
いエアシリンダ等の昇降手段により昇降板18を上昇させ
て、第1テーブル10の貫通孔14及び搬送専用カセットC1
底部の開口を貫通させ、処理専用カセットC1内の複数枚
のウエハWを処理専用カセットC1から浮かせて昇降板18
に保持する。そして、昇降板18をさらに挾持腕20の高さ
位置まで上昇させ、ウエハWを一対の挾持腕20、20によ
って挾持する。
Then, the first table 10 mounted with the conveying dedicated cassette C 1
Is moved to a position immediately above the elevating plate 18, and then the elevating plate 18 is raised by an elevating means such as an air cylinder (not shown), so that the through-hole 14 of the first table 10 and the transfer-only cassette C 1 are moved.
Passed through the opening in the bottom, lifting float a plurality of wafers W to be processed only cassette C 1 treatment from a dedicated cassette C 1 plate 18
To hold. Then, the elevating plate 18 is further raised to the level of the holding arm 20, and the wafer W is held between the pair of holding arms 20, 20.

一対の挾持腕20、20でウエハWを挾持している間に、
昇降板18は下降し、それが下降し終わったとき、第1テ
ーブル10が右方へ移動し、それと入れ替って第2テーブ
ル12が左方から昇降板18の直上位置へ移動する。処理専
用カセットC2が昇降板18の直上位置に停止したところ
で、昇降板18を再び上昇させて、第2テーブル12の貫通
孔16及び処理専用カセットC2底部の開口を貫通させ、一
対の挾持腕20、20によって挾持されているウエハWの下
端部分を昇降板18の保持溝に挿入する。そして、一対の
挾持腕20、20を拡開し、複数枚のウエハWを一括して昇
降板18上面の保持溝で保持し、次いで昇降板18を下降さ
せ、処理専用カセットC2内にウエハWを挿入して収容す
る。
While holding the wafer W with the pair of holding arms 20, 20,
The elevating plate 18 descends, and when it has finished descending, the first table 10 moves to the right and, in lieu thereof, the second table 12 moves from the left to a position directly above the elevating plate 18. When the processing-dedicated cassette C 2 is stopped at a position immediately above the elevating plate 18, the elevator plate 18 is raised again, passed through the opening of the through hole 16 and the processing-dedicated cassette C 2 bottom portion of the second table 12, a pair of sandwiching The lower end of the wafer W held between the arms 20, 20 is inserted into the holding groove of the elevating plate 18. Then, expanding the pair of clamping arms 20, 20, a plurality of wafers W to collectively held by the holding groove of the lifting plate 18 upper surface, and then lowers the lift plate 18, the wafer dedicated to handling the cassette C in 2 W is inserted and accommodated.

このようにして処理専用カセットC2内にウエハWが収
容されると、第2テーブル12は昇降板18の直上位置から
左方へ移動する。次いで、処理専用カセットC2は、カセ
ット移送装置5の一対の挾持フィンガ46、46で挾持さ
れ、カセット移送装置5により第2テーブル12上からカ
セット搬送部4の右端部位置のカセット載置台板36上へ
移送されて載置される。処理専用カセットC2がカセット
載置台板36上に載置されると、台板36を左方へ走行さ
せ、台板36がカセット保持枠38の位置まで走行すると、
光センサー44の検知信号によって台板40が停止させられ
る。カセット載置台板36が停止すると、次に、保持枠38
を上昇させ、この保持枠38の上昇動作により処理専用カ
セットC2をカセット載置台板36より浮かせて保持枠38に
処理専用カセットC2を保持し、一時保管される。そし
て、カセット載置台板36は元の位置に走行して戻る。
Thus the wafer W is accommodated in the processing only the cassette C in 2, the second table 12 is moved from the position immediately above the lifting plate 18 to the left. Then, the process only the cassette C 2 is sandwiched by the pair of clamping fingers 46, 46 of the cassette transfer device 5, the cassette at the right end position of the cassette transport part 4 from the second table 12 on the cassette transfer device 5 susceptor plate 36 It is transferred and placed on top. When processing only the cassette C 2 is placed on the cassette table plate 36, thereby running the base plate 36 to the left, the base plate 36 travels to a position of the cassette holding frame 38,
The base plate 40 is stopped by the detection signal of the optical sensor 44. When the cassette mounting base plate 36 stops, the holding frame 38
Was elevated to the processing-dedicated cassette C 2 by the upward movement of the holding frame 38 holds the processing-dedicated cassette C 2 to the holding frame 38 to float from the cassette table plate 36, and temporarily stored. Then, the cassette mounting base plate 36 travels to the original position and returns.

次に、カセット移送装置70により、最初に搬送された
カセット保持枠42に保持されている処理専用カセットC2
を一対のカセット挾持フィンガ71、71で挾持して表面処
理部3のローダ32へ1組ずつ移送する。そして、表面処
理部専用カセット移送装置60を左方端部まで移動させ、
カセット移送装置60により、ローダ32上の処理専用カセ
ットC2を一対のカセット挾持用フィンガ61、61で挾持
し、表面処理部3の所要の表面処理槽26、28、30、…内
に処理専用カセットC2を順次挿入して、処理専用カセッ
トC2に収容されたウエハWを表面処理液中に浸漬し、ウ
エハWに対して所要の表面処理を施す。
Next, by the cassette transfer device 70, the processing-dedicated cassette C 2 held in the cassette holding frame 42 transported first.
Are transported one by one to the loader 32 of the surface treatment unit 3 while being clamped by a pair of cassette clamping fingers 71, 71. Then, move the cassette transfer device 60 dedicated to the surface treatment unit to the left end,
The cassette transporting device 60, dedicated to processing the processing-dedicated cassette C 2 on the loader 32 and sandwiched by a pair of cassette clamping for finger 61, the required surface treatment tank 26, 28, 30 of the surface treatment unit 3, ... in the sequentially inserting the cassette C 2, then immersed wafers W accommodated in the processing-dedicated cassette C 2 in the surface treatment liquid, subjected to a predetermined surface treatment to the wafer W.

そして、ウエハWに対して表面処理が施されている間
に、ウエハを処理専用カセットC2へ移し替えて空になっ
た搬送専用カセットC1を図示しないカセット洗浄装置へ
搬送専用カセット移送装置により移送して、カセット洗
浄装置で空の搬送専用カセットC1を洗浄し、洗浄処理を
終えた搬送専用カセットC1を搬送専用カセット移送装置
により搬出ウエハ移し替え部1′の第1テーブル10′上
へ移送して載置しておく。
Then, while the surface processing for the wafer W is subjected Transfer the wafer to the processing-dedicated cassette C 2 into the cassette cleaning device (not shown) conveying dedicated cassette C 1 emptied by conveying a dedicated cassette transporting device transfer to a cassette cleaning device to clean the air conveying dedicated cassette C 1 in the conveying dedicated cassette C 1 having been subjected to the cleaning process the transport dedicated cassette transferring device by unloading the wafer sorting unit 1 above 'first table 10' Transfer to and place it.

表面処理部3において所要の表面処理が施されたウエ
ハを収容した処理専用カセットC2は、表面処理部3のア
ンローダ33に移送されて載置される。次いで、処理専用
カセットC2は、カセット移送装置5によって表面処理部
3のアンローダ33から搬出ウエハ移し替え部1′の第2
テーブル12′上へ移送され、搬出ウエハ移し替え部1′
において、上記したのと同様の動作により、処理済みの
ウエハが処理専用カセットC2から洗浄済みの搬送専用カ
セットC1へ移し替えられる。その後に、処理済みウエハ
を収容した搬送専用カセットC1は、カセット移送装置5
により、搬出ウエハ移し替え部1′からカセット搬出入
台24へ移送され、図示していない外部のカセット搬送手
段により搬出される。
Processing-dedicated cassette C 2 which required surface treatment containing a wafer that has been subjected to the surface treatment section 3 is placed is transported to the unloader 33 of the surface treatment unit 3. Next, the cassette for processing C 2 is transferred from the unloader 33 of the surface processing section 3 to the second wafer of the wafer transfer section 1 ′ by the cassette transfer device 5.
The wafer is transferred onto the table 12 ', and the unloading wafer transfer unit 1'
In, the same operation as described above, processed wafers are transferred from the processing-dedicated cassette C 2 to cleaned conveying dedicated cassette C 1. After that, the cassette C 1 for exclusive use containing the processed wafers is transferred to the cassette transfer device 5.
As a result, the wafer is transferred from the unloading wafer transfer section 1 'to the cassette loading / unloading table 24, and is unloaded by an external cassette transport means (not shown).

上記したように、この表面処理装置では、搬入ウエハ
移し替え部1の昇降板18及び一対の挾持腕20、20は、表
面処理前のウエハとのみ接触し、搬出ウエハ移し替え部
1′の昇降板18′及び一対の挾持腕20′、20′は、表面
処理済みのウエハとのみ接触することになるため、ま
た、表面処理済みのウエハは、洗浄処理された搬送専用
カセットC1へ移し替えられて搬出されるため、表面処理
済みのウエハが搬入ウエハ移し替え部1の、未処理ウエ
ハと接触した部分や、未処理ウエハを収容して搬送して
きたままの搬送専用カセットC1と接触することがないの
で、表面処理済みウエハに塵埃等が付着することがな
く、ウエハの処理品質が極めて向上することになる。
As described above, in this surface treatment apparatus, the elevating plate 18 and the pair of holding arms 20, 20 of the incoming wafer transfer unit 1 come into contact only with the wafer before surface processing, and the unloading wafer transfer unit 1 'moves up and down. plate 18 'and a pair of clamping arms 20', 20 ', since will contact only with the surface processed wafer, also surface treated wafer is re transferred to that cleaning conveying dedicated cassette C 1 to be carried out is a surface treated wafer is carried wafer sorting unit 1, portions and in contact with the unprocessed wafer into contact with the conveying dedicated cassette C 1 that remains has been conveyed to accommodate the unprocessed wafer Therefore, dust and the like do not adhere to the surface-treated wafer, and the processing quality of the wafer is significantly improved.

以上のようにして、搬送専用カセットC1内に収容され
て搬入されてきた処理前のウエハが、一旦処理専用カセ
ットC2へ移し替えられた後、所要の表面処理が施され、
表面処理された処理済みのウエハが、逆に処理専用カセ
ットC2から洗浄済みの搬送専用カセットC1へ移し替えら
れて装置外へ搬出される。そして、その間に、必要に応
じて、各カセットがカセット収納棚2に一時保管され
る。
As described above, the unprocessed wafers housed and carried in the transfer-only cassette C 1 are temporarily transferred to the processing-only cassette C 2, and then subjected to a required surface treatment.
Surface-treated processed wafers, is transferred contrary to the process from a dedicated cassette C 2 to cleaned conveying dedicated cassette C 1 is unloaded from the apparatus. In the meantime, each cassette is temporarily stored in the cassette storage shelf 2 as needed.

尚、カセット搬送部4は、表面処理部3の側面であっ
て第1図とは反対側に配設するようにしてもよく、ま
た、表面処理部3の上方に配設するようにしてもよい。
Incidentally, the cassette transport section 4 may be disposed on the side surface of the surface processing section 3 and on the side opposite to FIG. 1, or may be disposed above the surface processing section 3. Good.

また、表面処理部ローダ専用カセット移送装置70を省
略し、カセット移送装置60によって処理専用カセットC2
をカセット搬送部4の前端位置からローダ32上へ移送す
るような構成としてもよい。
Also, the cassette transfer device 70 dedicated to the surface treatment unit loader is omitted, and the cassette C 2
May be transferred from the front end position of the cassette transport section 4 onto the loader 32.

また、表面処理部3のローダ32とアンローダ33とを逆
に配置し、処理専用カセットC2を上記実施例における場
合とは逆に搬送及び移送するようにしてもよい。また、
上記実施例では、搬入ウエハ移し替え部1と搬出ウエハ
移し替え部1′とを連接させているが、それら両移し替
え部を表面処理装置の搬入口及び搬出口にそれぞれ分け
て配設することもできる。
Also, placing the loader 32 and the unloader 33 of the surface treatment unit 3 Conversely, a process dedicated cassette C 2 may be transported and transferred to the contrary to the case in the above embodiment. Also,
In the above embodiment, the carry-in wafer transfer unit 1 and the carry-out wafer transfer unit 1 'are connected. However, both transfer units are separately provided at the entrance and the exit of the surface treatment apparatus. Can also.

また、上記実施例では、表面処理部やウエハ移し替え
部にはそれぞれ1個のカセットを載置するようにしてい
るが、カセットを2個直列に配置できるように構成した
装置であってもよい。
In the above embodiment, one cassette is placed on each of the surface treatment unit and the wafer transfer unit. However, an apparatus configured so that two cassettes can be arranged in series may be used. .

さらに、所要の位置に、それぞれカセットの有無を検
知する光センサーを配設しておいて、カセット移送装置
5の運転を完全に自動化することもできる。
Furthermore, an optical sensor for detecting the presence / absence of a cassette is provided at each required position, and the operation of the cassette transfer device 5 can be completely automated.

また、搬送専用カセットC1をカセット洗浄装置へ移送
するための搬送専用カセット移送装置を別に設けない
で、カセット移送装置5をカセット洗浄装置への搬送専
用カセットC1の移送用に兼用するようにしてもよい。
Further, without providing a separate conveyance dedicated cassette transfer device for transferring the conveying dedicated cassette C 1 into the cassette cleaning device, and double as a cassette transfer device 5 for transferring the conveying dedicated cassette C 1 to cassette cleaning device You may.

そして、上記実施例では、浸漬型表面処理を例にとっ
て説明したが、表面処理の種類は熱処理等、他の種類の
ものであってもよく、この考案は各種のウエハの表面処
理装置に適用し得るものである。
In the above embodiment, the immersion type surface treatment is described as an example. However, the type of the surface treatment may be other types such as heat treatment, and the present invention is applied to various types of wafer surface treatment apparatuses. What you get.

〔考案の効果〕[Effect of the invention]

この考案は以上説明したように構成されかつ作用する
ので、この考案のウエハの表面処理装置によると、表面
処理を終了したウエハは、表面処理前のウエハが触れた
移し替え装置の各部には接触することなく処理専用カセ
ットから搬送専用カセットへ移し替えられ、また、その
ときの搬送専用カセットは洗浄済みであるため、処理済
みウエハの移し替えの際に、移し替え装置や搬送専用カ
セットを媒介して処理済みウエハにパーティクル等が再
付着する心配が全くなくなり、ウエハの表面処理の品質
が向上する。
Since the present invention is configured and operates as described above, according to the wafer surface treating apparatus of the present invention, the wafer that has been subjected to the surface treatment comes into contact with each part of the transfer apparatus that the wafer before the surface treatment touched. The transfer-only cassette can be transferred from the processing-dedicated cassette to the transfer-dedicated cassette without any need for cleaning, and the transfer-dedicated cassette at that time has been cleaned. As a result, there is no fear that particles or the like will reattach to the processed wafer, and the quality of the surface treatment of the wafer is improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

第1図は、この考案の1実施例を示し、ウエハの表面処
理装置の全体を表した斜視図である。 1……搬入ウエハ移し替え部、1′……搬出ウエハ移し
替え部、2……カセット収納棚、3……表面処理部、4
……処理専用カセット搬送部、5……カセット移送装
置、10……搬送専用カセット載置テーブル、12……処理
専用カセット載置テーブル、10′……洗浄済み搬送専用
カセット載置テーブル、12′……処理専用カセット載置
テーブル、60……表面処理部専用カセット移送装置、C1
……搬送専用カセット、C2……処理専用カセット、W…
…ウエハ。
FIG. 1 is a perspective view showing one embodiment of the present invention and showing an entire surface treatment apparatus for a wafer. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Loading wafer transfer part, 1 '... Unloading wafer transfer part 2, ... Cassette storage shelf, 3 ... Surface treatment part, 4
… Processing cassette transfer section, 5… Cassette transfer device, 10… Transfer cassette mounting table, 12… Processing cassette mounting table, 10 ′… Washed transfer cassette mounting table, 12 ′ …… Cassette mounting table for processing only, 60 …… Cassette transfer device for surface treatment section, C 1
…… Transfer cassette, C 2 …… Processing cassette, W…
... wafers.

Claims (2)

(57)【実用新案登録請求の範囲】(57) [Scope of request for utility model registration] 【請求項1】表面処理前の複数枚のウエハを収容した搬
送専用カセットから処理専用カセットへ複数枚のウエハ
の移し替えを行なう搬入ウエハ移し替え部、及び表面処
理後の複数枚のウエハを収容した処理専用カセットから
洗浄処理された搬送専用カセットへ複数枚のウエハの移
し替えを行なう搬出ウエハ移し替え部からなるウエハ移
し替え部と、このウエハ移し替え部に連接し、処理専用
カセットに収容された複数枚のウエハに対して所要の表
面処理を施す表面処理部と、前記ウエハ移し替え部に連
接して設けられ、ウエハ移し替え後の空になった搬送専
用カセットを洗浄するカセット洗浄処理部と、前記表面
処理部に沿って配設され、表面処理部内において処理専
用カセットの移送を行なう表面処理部専用カセット移送
手段と、前記表面処理部と前記ウエハ移し替え部との間
で処理専用カセットの移送を行なう処理専用カセット移
送手段と、前記ウエハ移し替え部と前記カセット洗浄処
理部との間で搬送専用カセットの移送を行なう搬送専用
カセット移送手段とを備えてなるウエハの表面処理装
置。
1. A loading wafer transfer section for transferring a plurality of wafers from a transfer cassette containing a plurality of wafers before surface treatment to a processing cassette, and containing a plurality of wafers after surface treatment. A wafer transfer unit composed of an unloading wafer transfer unit for transferring a plurality of wafers from the processing-dedicated cassette to the cleaning-dedicated transfer cassette, and a wafer transfer unit connected to the wafer transfer unit and housed in the processing-dedicated cassette. A surface treatment unit for performing a required surface treatment on the plurality of wafers, and a cassette cleaning unit provided in connection with the wafer transfer unit and cleaning an empty transfer-only cassette after the wafer transfer. And a cassette transfer means dedicated to the surface treatment section, which is disposed along the surface treatment section and transfers the cassette dedicated to the treatment in the surface treatment section; Processing cassette transfer means for transferring a processing cassette between the processing section and the wafer transfer section, and transfer dedicated for transferring a transfer cassette between the wafer transfer section and the cassette cleaning processing section. A wafer surface treatment apparatus comprising a cassette transfer means.
【請求項2】表面処理部でウエハの洗浄処理を行なう実
用新案登録請求の範囲第1項記載のウエハの表面処理装
置。
2. A wafer surface treatment apparatus according to claim 1, wherein the surface treatment section performs a cleaning process on the wafer.
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