JPS61278149A - Positioning device for wafer - Google Patents

Positioning device for wafer

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JPS61278149A
JPS61278149A JP11870985A JP11870985A JPS61278149A JP S61278149 A JPS61278149 A JP S61278149A JP 11870985 A JP11870985 A JP 11870985A JP 11870985 A JP11870985 A JP 11870985A JP S61278149 A JPS61278149 A JP S61278149A
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JP
Japan
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wafer
pantograph
hand
sensor
wafers
Prior art date
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Application number
JP11870985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takao Ukaji
隆夫 宇梶
Kazumasa Matsumoto
和正 松本
Ryozo Hiraga
平賀 亮三
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

PURPOSE:To eliminate the need for pre-alignment on a stage by executing pre-alignment for a connecting wafer on a pantograph during the treatment of a preceding wafer. CONSTITUTION:A pantograph hand 3 is stretched, wafers 1 to be pre-aligned are sucked by a support member 2 for the pantograph hand 3 at a position where the edges of the wafers 1 in a wafer carrier 5 are detected by a sensor 6 for the support member 2 for the pantograph hand 3, and the pantograph 3 is shrunk. Arms 15, 16 are expanded and contracted to a position where signals from the sensor 6 detect the edges of the wafers 1 at said positions, and the positions of the edges of the wafers are memorized to a memory storage for a controller. The pantograph hand 3 is turned only by a fixed quantity, and the positions of the edges of the wafers are detected and memorized in the same manner. The position of the centers of the wafers and the direction of orientational flats thereof are computed from the informations of the memories, the pantograph hand 3 is rotated and expanded and contracted so that the wafers are positioned at a desired position, and a lifting base 13 is elevated, and the wafers 1 are received from a fixing chuck 7, and delivered to the next stage.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は円板状の半導体ウェハ(以下「ウェハ」という
)を測定装置、検査装置、または露光装置等に載置する
際ウェハを常に所定の向きに配置するためのウェハ位置
決め装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a method for keeping the wafer in a predetermined position when placing a disk-shaped semiconductor wafer (hereinafter referred to as "wafer") on a measuring device, an inspection device, an exposure device, etc. The present invention relates to a wafer positioning device for arranging wafers in the following directions.

[従来の技術] 半導体製造装置において、従来は、一つのウェハカセッ
トから取り出したウェハをウエハチャッり等に装着し、
種々異なる処1!11をした後、別のカセットに収納し
ていた。しかし、近年スペースを減少して装置の小型化
を計るため、処理したつ■ハを元のウェハカセットにも
どすことが考えられている。その一つとしてパンタグラ
フ式ロボットハンドを使ったものがある。
[Prior Art] Conventionally, in semiconductor manufacturing equipment, a wafer taken out from one wafer cassette is mounted on a wafer chuck, etc.
After playing 1!11 in various places, I stored it in another cassette. However, in recent years, in order to reduce the space and make the apparatus more compact, it has been considered to return the processed wafers to their original wafer cassettes. One of these uses a pantograph-type robot hand.

ところで、ウェハカセット内に収納されたウェハの中心
位置やオリエンデーショナルフラットの向きは一定でな
く、しかもこのパンタグラフ式1コボツl=ハンド(以
下「パンタグラフハンド」という)にも、カロット内で
のウェハ位置のバラツキを補正する機構を設けていない
ので、パンタグラフハンド上でのウェハの中心位置とオ
リエンテーションフラットの向ぎとは不規則のままであ
る。
By the way, the center position of the wafer stored in the wafer cassette and the orientation of the orientation flat are not constant, and even in this pantograph type one-piece hand (hereinafter referred to as the "pantograph hand"), the wafer inside the cassette is not fixed. Since no mechanism is provided to correct positional variations, the center position of the wafer on the pantograph hand and the direction of the orientation flat remain irregular.

このため、ウェハのセンタリングやオリエンテーショナ
ルフラツ1〜の検出2位置合わせをパンタグラフハンド
からウェハを受取り次の工程を実施するステージで行な
われなければならない。このためパンタグラフハンドか
らウェハが移されるステージのウェハチャック等にオリ
エンテーションフラット検出機構や位置合わt!機構を
設けなければならない。しかし、これでステージにウェ
ハを移1毎にステージ上で配向のための時間を費すこと
となり、結局半導体製造装置のスルーブツトが低下する
という問題があった。
For this reason, centering of the wafer and detection and alignment of the orientational flats 1 to 2 must be performed at the stage that receives the wafer from the pantograph hand and carries out the next process. For this reason, the orientation flat detection mechanism and positioning t! A mechanism must be established. However, this requires time for orientation on the stage each time a wafer is transferred to the stage, resulting in a problem that the throughput of the semiconductor manufacturing apparatus is reduced.

[発明が解決しようとする問題点と解決手段1本発明の
目的は、ステージにつ」〜ハを移す毎にステージ上でウ
ェハを正確に配向するということを不要とし、それによ
り半導体製造装置のスルーブッ(・を増進ざけることに
あり、この目的はステージ上でウェハを処理している間
に次に処理するためカセットから取り出したウェハをパ
ンタグラフハンド上で配向して、正しく配向したウェハ
をパンタグラフからステージに移すようにしてパンタグ
ラフハンドの待機時間を利用してウェハの位置決めを行
なう装置により達成される。
[Problems to be Solved by the Invention and Means for Solving 1] An object of the present invention is to eliminate the need for accurately orienting a wafer on a stage each time it is moved from one stage to another, thereby improving semiconductor manufacturing equipment. The purpose of this is to increase throughput, and while the wafer is being processed on the stage, the wafer taken out from the cassette for next processing is oriented on the pantograph hand, and the correctly oriented wafer is transferred to the pantograph. This is achieved by a device that uses the waiting time of the pantograph hand to position the wafer by moving it from the wafer to the stage.

すなわち本発明のウェハ位置決め装置は、センサを設け
た支持部材を有するパンタグラフハンド:このパンタグ
ラフハンドを伸縮したり回転する伸縮回転機構:前記の
パンタグラフハンドの伸縮位置で前記の支持部材からウ
ェハを受取りこれを保持する固定チャック;前記のパン
タグラフハンドと前記の固定チせツクとを相対的に垂直
移動させて前記の支持部材と前記の固定チャックとを同
じ高さ又は前記の支持部材よりも前記の固定チャックを
低いもしくは高い位置に移す昇降機構:及び前記のセン
サと前記の伸縮回転機構に接続され、前記の固定チt/
ツタに保持されているウェハの縁を検知した前記のセン
サからの信号に応答して前記のセンサがウェハの縁を辿
るよう前記のパンタグラフハンドの伸縮回転を制御し、
前記のレンサからの信号からウェハの位置ずれを決定し
、そしてその位置ずれを修正するよう前記のパンタグラ
フハンドの伸縮回転を制御する制all装置を備えてい
る。特に、この制御装置は前記のパンタグラフハンドの
一定角度の回転毎に前記のセンサが検出したウェハの縁
の座標を記憶する記憶装置と、これらの座標からウェハ
の中心位置とオリエンテーションフラットの向きを算出
する手段とを含んでいる。
That is, the wafer positioning device of the present invention includes: a pantograph hand having a support member provided with a sensor; a telescoping/rotating mechanism that extends/contracts and rotates the pantograph hand; a wafer being received from the support member in the telescoping position of the pantograph hand; a fixed chuck that holds the pantograph hand and the fixed chuck by moving the pantograph hand and the fixed chuck relatively vertically so that the supporting member and the fixed chuck are at the same height or higher than the supporting member; a lifting mechanism for moving the chuck to a lower or higher position; and a lifting mechanism connected to the sensor and the telescopic rotation mechanism, and the fixed chuck t/
controlling the expansion and contraction rotation of the pantograph hand so that the sensor follows the edge of the wafer in response to a signal from the sensor that detects the edge of the wafer held by the vine;
A control device is provided which determines the positional deviation of the wafer from the signal from the sensor and controls the expansion/contraction rotation of the pantograph hand so as to correct the positional deviation. In particular, this control device includes a storage device that stores the coordinates of the edge of the wafer detected by the sensor each time the pantograph hand rotates by a certain angle, and calculates the center position of the wafer and the direction of the orientation flat from these coordinates. and means to do so.

[実施例] 第1図は本発明のウェハ位置決めvR置の機構を示す斜
視図である。第1図において、1はウェハ、2は支持部
材、3はパンタグラフハンド、5はウニハキセリア、6
は支持部材に設けたセンナ、7はウェハ固定用チャック
、8はウェハ固定用チャックのロッド、9は吸着器、1
0は基板、11は回転台、12は伸縮回転機、13は昇
降台、14はギア、15は第1アーム、そして16は第
2アームて゛ある。
[Embodiment] FIG. 1 is a perspective view showing a mechanism of a wafer positioning vR position according to the present invention. In FIG. 1, 1 is a wafer, 2 is a support member, 3 is a pantograph hand, 5 is a sea urchin flake, and 6
1 is a sensor provided on the support member, 7 is a wafer fixing chuck, 8 is a rod of the wafer fixing chuck, 9 is a suction device, 1
0 is a base plate, 11 is a rotary table, 12 is a telescopic rotating machine, 13 is a lifting table, 14 is a gear, 15 is a first arm, and 16 is a second arm.

図に示すように支持部材2、ギヤ14、第1アーム15
、第2アーム16がパンタグラフハンド3を構成してい
る。支持部材2にはセン1す6が設けられている。伸縮
回転機構12はパンタグラフハンド3を伸縮したり回転
したりする。ウェハ固定チ17ツク7はパンタグラフ3
の中心線上で、パンタグラフが収縮したときそれの支持
部材2のU字溝に嵌入するように配置されている。昇降
機構17は、この実施例では、パンタグラフハンド3を
垂直方向に昇降させる。ウェハ固定チャック7を支持し
ているロッド8は通常の位置では昇降台13または回私
金11によって支持されているがRIL’F台13台上
3すると、ロッド8は吸着器9により押し上げられて、
固定チャック 7はパンタグラフハンドよりも上方に位
置するようになっている。
As shown in the figure, the support member 2, gear 14, first arm 15
, the second arm 16 constitutes the pantograph hand 3. The support member 2 is provided with a sensor 16. The telescoping and rotating mechanism 12 extends and contracts the pantograph hand 3 and rotates it. Wafer fixing chip 17 is pantograph 3
The pantograph is arranged so as to fit into the U-shaped groove of the support member 2 when the pantograph is retracted. In this embodiment, the lifting mechanism 17 raises and lowers the pantograph hand 3 in the vertical direction. The rod 8 supporting the wafer fixing chuck 7 is supported by the lifting table 13 or the rotary metal 11 in the normal position, but when the RIL'F table 13 is lifted up, the rod 8 is pushed up by the suction device 9. ,
The fixed chuck 7 is positioned above the pantograph hand.

なお第1図には示していないが、センサ6と伸縮回転機
構に制御装置が接続されていて、この制御装置はパンタ
グラフハンド3の一定角度の回転毎にセンサ6が検出し
たウェハ1の縁の座標を記憶する記憶装置と、これらの
座標からウェハの中心位置とオリエンテーションフラッ
トの向きを算出する手段とを含んでいる。制御I装置は
、パンタグラフハンド3を間欠的に回転させ、パンタグ
ラフハンド3の停止時に固定チャック7に保持されでい
るウェハ 1の縁をセンサ6が検知するようセンサ6か
らの信号に応答してパンタグラフハンド3の伸縮回転を
制御しセンサ6がウェハ1の縁を辿るようにし、センサ
6からの検出信号からウェハの位置ずれを決定し、それ
からその位置ずれを修正するようパンタグラフハンド3
の伸縮回転を制御して固定ヂセックZ上のウェハ1に対
してパンタグラフ3を適正位置に配向する。この適正位
置で固定チャック7からウェハ1を受取って支持部材2
上にウェハ1を保持する。
Although not shown in FIG. 1, a control device is connected to the sensor 6 and the telescopic rotation mechanism, and this control device controls the edge of the wafer 1 detected by the sensor 6 every time the pantograph hand 3 rotates by a certain angle. It includes a storage device for storing coordinates, and means for calculating the center position of the wafer and the direction of the orientation flat from these coordinates. The control I device rotates the pantograph hand 3 intermittently, and rotates the pantograph in response to a signal from the sensor 6 so that the sensor 6 detects the edge of the wafer 1 held by the fixed chuck 7 when the pantograph hand 3 is stopped. The pantograph hand 3 controls the expansion and contraction rotation of the hand 3 so that the sensor 6 follows the edge of the wafer 1, determines the positional deviation of the wafer from the detection signal from the sensor 6, and then corrects the positional deviation.
The pantograph 3 is oriented at an appropriate position with respect to the wafer 1 on the fixed desk Z by controlling the expansion and contraction rotation of the pantograph 3. At this proper position, the wafer 1 is received from the fixed chuck 7 and the support member 2
Hold wafer 1 on top.

第1,2図を参照して本発明のウェハ位置決め装置の実
施例のプリアライメント動作を説明する。
The pre-alignment operation of the embodiment of the wafer positioning apparatus of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2.

まず、パンタグラフハンド3を伸展してウェハキャリア
5内にあるプリアライメントすべぎウェハ1の縁をパン
タグラフハンド3の支持部材2のセンサ6が検出した位
nにてウェハ1を支持部材2に吸着しく第1図破線、第
2a図参照)、次にパンタグラフ3を収縮する(第1図
実線、第2b図参照)。
First, extend the pantograph hand 3 and attach the wafer 1 to the support member 2 at a position where the edge of the pre-aligned wafer 1 in the wafer carrier 5 is detected by the sensor 6 of the support member 2 of the pantograph hand 3. (see broken line in Figure 1, Figure 2a), then retract the pantograph 3 (see solid line in Figure 1, Figure 2b).

昇降機構17により昇降台13を下降させてウェハ固定
チャックのロッド8を吸着器9に押しつける(第2b図
参照)。そのまま昇降台13を下降させ、パンタグラフ
ハンドの支持部材2上のウェハ1を固定チャック7に渡
たし、さらにパンタグラフハンドの支持部材2はウェハ
1と接触しない位置まで下降する(第2C図)、。
The lifting table 13 is lowered by the lifting mechanism 17 and the rod 8 of the wafer fixing chuck is pressed against the suction device 9 (see FIG. 2b). The elevator table 13 is lowered as it is, the wafer 1 on the support member 2 of the pantograph hand is transferred to the fixed chuck 7, and the support member 2 of the pantograph hand is further lowered to a position where it does not come into contact with the wafer 1 (FIG. 2C). .

その位置で、センサ6からの信号がウェハ1の縁を検出
する位置へアーム15.16を伸縮させ、ウェハの縁の
位置を制御′JA買(図示せず)の記憶装置に記憶する
。次にパンタグラフハンドを一定m回転させたのら、同
様にウェハの縁の位置を検出して記憶する。これを繰り
返し、ウェハ全周の縁位置をパンタグラフの回転角につ
いで記憶する。
At that position, the arms 15, 16 are extended and retracted to a position where the signal from the sensor 6 detects the edge of the wafer 1, and the position of the wafer edge is stored in the memory of the controller (not shown). Next, after rotating the pantograph hand for a certain number of meters, the position of the edge of the wafer is similarly detected and stored. This is repeated, and the edge position around the entire wafer is memorized along with the rotation angle of the pantograph.

この情報から、ウェハの中心位置とオリエンテーショナ
ルフラットの向きを算出する。このKt II結果から
、所望の場所にウェハの中心位置J3よびオリエンテー
ショナルフラットが位置するようにパンタグラフハンド
を回転、伸縮させたのちに、昇降台13を上背させてウ
ェハ1を固定ヂ(?ツク 7I))ら受は取り、ウェハ
の検査測定もしくは処理をする次のステージへ渡たす。
From this information, the center position of the wafer and the direction of the oriented flat are calculated. Based on this Kt II result, the pantograph hand is rotated and expanded/contracted so that the wafer center position J3 and the orientation flat are located at the desired locations, and then the lifting table 13 is raised and the wafer 1 is fixed (? 7I)) The receiver is removed and passed to the next stage where the wafer is inspected, measured or processed.

このようにして、プリアライメントの終えたウェハをパ
ンタグラフハンドで次のステージへ供給することができ
る。
In this way, the wafer that has undergone pre-alignment can be supplied to the next stage by the pantograph hand.

センサ6はウェハの縁を精度よく、非接触で検出できる
ものが望ましい。反OA’l’!または透過型の光セン
サ等が使用できる。
It is desirable that the sensor 6 be capable of detecting the edge of the wafer with high precision and without contact. Anti-OA'l'! Alternatively, a transmission type optical sensor or the like can be used.

ウェハの全周を検出するため、この実施例ではパンタグ
ラフハンドを回転させていたが、固定チャックを回転さ
せて、その角度を記憶しながらウェハ端をセンサによっ
て検出してもよい。固定チャックとパンタグラフハンド
との間でのウェハの受は渡しは1回であり、オ“リエン
テーショナルフラットの方向合わせはこの1回の受は渡
しで実現できる。正確にセンタリングを行なうとぎは、
2回受は渡しを行なえばよい。
In this embodiment, the pantograph hand is rotated to detect the entire circumference of the wafer, but it is also possible to rotate the fixed chuck and memorize the angle while detecting the edge of the wafer using a sensor. The wafer is transferred once between the fixed chuck and the pantograph hand, and orientation of the orientational flat can be achieved by passing the wafer once.The key to accurate centering is as follows.
If you receive the item twice, you can pass it on.

し発明の効果] 本発明により先行1クエハの処理中パンタグラフ上で後
続ウェハのプリアライメントが実施できるのでステージ
上でのプリアライメン1−は不要となり、それによって
従来ステージ上でウェハのアライメントに要した時間を
節約でき、スルーブツトを増大させることができるよう
になった。
[Effects of the Invention] According to the present invention, pre-alignment of the subsequent wafer can be carried out on the pantograph during the processing of the preceding 1 wafer, so pre-alignment 1- on the stage is no longer necessary, which eliminates the need for wafer alignment on the stage conventionally. This saves time and increases throughput.

又、ウェハの受は渡しを完全にそれの裏面のみで行って
おり、このことにより半導体製造プロセスにお1′jる
ゴミの付着やウェハ欠け、割れ等の搬送時の問題を解消
している。
In addition, wafers are transferred only on the back side of the wafer, which eliminates problems during transportation such as dust adhesion, wafer chips, and cracks that occur during the semiconductor manufacturing process. .

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明のウェハ位置決め装置の実施例の斜視図
である。 第2a、2b及び20図は本発明のウェハ位置決め装置
の動作の説明図であり、第2a図はウェハキャリアから
パンタグラフがウェハを引出す状態を示し、第2b図は
パンタグラフハンドがウェハを固定チャックまで運んで
きた状態を示し、そして第2C図はパンタグラフハンド
がウェハを固定チャックに渡した状態を示す。 図中; 1:ウェハ、2:支持部材、3:パンタグラフハンド、
5:ウェハキャリア、6:センサ、7:ウェハ固定チャ
ック、8:ロッド、9:吸着器、10:基板、11:回
転台、12:伸縮回転機構、14:ギア、15.16:
アーム、17:昇降機構。
FIG. 1 is a perspective view of an embodiment of the wafer positioning apparatus of the present invention. Figures 2a, 2b, and 20 are explanatory diagrams of the operation of the wafer positioning device of the present invention. Figure 2a shows a pantograph pulling out a wafer from a wafer carrier, and Figure 2b shows a pantograph hand holding a wafer up to a fixed chuck. FIG. 2C shows the state in which the pantograph hand transfers the wafer to the fixed chuck. In the figure; 1: wafer, 2: support member, 3: pantograph hand,
5: Wafer carrier, 6: Sensor, 7: Wafer fixing chuck, 8: Rod, 9: Adsorption device, 10: Substrate, 11: Rotating table, 12: Telescopic rotation mechanism, 14: Gear, 15.16:
Arm, 17: Lifting mechanism.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、センサを設けた支持部材を有するパンタグラフハン
ド; このパンタグラフハンドを伸縮したり回転する伸縮回転
機構; 前記のパンタグラフハンドの収縮位置で前記の支持部材
からウェハを受取りこれを保持するウェハ固定チャック
; 前記のパンタグラフハンドと前記の固定チャックとを相
対的に垂直移動させて前記の支持部材と前記の固定チャ
ックとを同じ高さ又は前記の支持部材よりも前記の固定
チャックを低いもしくは高い位置に移す昇降機構;及び 前記のセンサと前記の伸縮回転機構に接続され、前記の
固定チャックに保持されているウェハの縁を検知した前
記のセンサからの信号に応答して前記のセンサがウェハ
の縁を辿るよう前記のパンタグラフハンドの伸縮回転を
制御し、前記のセンサからの信号からウェハの位置ずれ
を決定し、そしてその位置ずれを修正するよう前記パン
タグラフハンドの伸縮回転を制御する制御装置 を備えたことを特徴とするウェハ位置決め装置。 2、前記の制御装置が前記のパンタグラフハンドの一定
角度の回転毎に前記のセンサが検出したウェハの縁の座
標を記憶する記憶装置と、これらの座標からウェハの中
心位置とオリエンテーションフラットの向きを算出する
手段とを含む特許請求の範囲第1項に記載のウエハ位置
決め装置。
[Claims] 1. A pantograph hand having a support member provided with a sensor; A telescoping/rotating mechanism that extends, contracts, and rotates the pantograph hand; Receives a wafer from the support member at the retracted position of the pantograph hand; Holding a wafer fixing chuck; moving the pantograph hand and the fixing chuck relatively vertically so that the supporting member and the fixing chuck are at the same height, or the fixing chuck is lower than the supporting member. a lifting mechanism for moving the wafer to a lower or higher position; and a lifting mechanism connected to the sensor and the telescoping rotation mechanism in response to a signal from the sensor detecting an edge of the wafer held in the stationary chuck. Controlling the telescopic rotation of the pantograph hand so that a sensor follows the edge of the wafer, determining misalignment of the wafer from a signal from the sensor, and controlling the telescopic rotation of the pantograph hand so as to correct the misalignment. A wafer positioning device characterized by comprising a control device for controlling the wafer. 2. The control device includes a storage device that stores the coordinates of the edge of the wafer detected by the sensor each time the pantograph hand rotates by a certain angle, and determines the center position of the wafer and the direction of the orientation flat from these coordinates. The wafer positioning apparatus according to claim 1, further comprising calculating means.
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