JPH05189263A - 製造試験装置 - Google Patents
製造試験装置Info
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- JPH05189263A JPH05189263A JP4005421A JP542192A JPH05189263A JP H05189263 A JPH05189263 A JP H05189263A JP 4005421 A JP4005421 A JP 4005421A JP 542192 A JP542192 A JP 542192A JP H05189263 A JPH05189263 A JP H05189263A
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明はＲＯＭ内に格納されている複数のテ
スト用プログラムの任意の１つを容易に選択してＣＰＵ
に実行させ且つその結果得られる詳細なテスト結果情報
をオペレータに提示することを目的としている。 【構成】 本発明において、外部端末装置２のＣＰＵ２
１はＬＣＤ２４にＣＰＵ１１に実行させたいテスト項目
のメニューを表示する。オペレータはこのメニューを見
て実行させたいテスト項目をキーボード２３を操作して
選択する。これにより、ＣＰＵ２１は選択されたテスト
項目を示す選択指令をインタフェース２３、コード３、
入出力ポート１３及びバスライン１４を介してＣＰＵ１
１に知らせる。これにより、ＣＰＵ１１はＲＯＭ１１内
の対応するテスト用プログラムを実行し、得られたテス
ト結果をバスライン１４、入出力ポート１３、コード
３、インタフェース２６を介してＣＰＵ２１に出力す
る。ＣＰＵ２１は得られたテスト結果をＬＣＤ２４に表
示する。
スト用プログラムの任意の１つを容易に選択してＣＰＵ
に実行させ且つその結果得られる詳細なテスト結果情報
をオペレータに提示することを目的としている。 【構成】 本発明において、外部端末装置２のＣＰＵ２
１はＬＣＤ２４にＣＰＵ１１に実行させたいテスト項目
のメニューを表示する。オペレータはこのメニューを見
て実行させたいテスト項目をキーボード２３を操作して
選択する。これにより、ＣＰＵ２１は選択されたテスト
項目を示す選択指令をインタフェース２３、コード３、
入出力ポート１３及びバスライン１４を介してＣＰＵ１
１に知らせる。これにより、ＣＰＵ１１はＲＯＭ１１内
の対応するテスト用プログラムを実行し、得られたテス
ト結果をバスライン１４、入出力ポート１３、コード
３、インタフェース２６を介してＣＰＵ２１に出力す
る。ＣＰＵ２１は得られたテスト結果をＬＣＤ２４に表
示する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明はマイクロプロセッサを用
いた各種電子機器に対して製造時の機能試験（ファンク
ションテスト）を行う製造試験装置に関する。
いた各種電子機器に対して製造時の機能試験（ファンク
ションテスト）を行う製造試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来からマイクプロセッサを用いた電子
機器では、ＣＰＵを中心としてその周辺回路であるメモ
リやデータの入出力ポート等が搭載されている。従っ
て、製造時のファンクションテストとしては前記メモリ
にデータが正しく読み書きされるか、ＣＰＵに所定のタ
イミングで割り込みが入るか、前記入出力ポートにおけ
るデータのパラレル／シリアル変換等が正しく行われて
いるか等のテスト項目が挙げられる。
機器では、ＣＰＵを中心としてその周辺回路であるメモ
リやデータの入出力ポート等が搭載されている。従っ
て、製造時のファンクションテストとしては前記メモリ
にデータが正しく読み書きされるか、ＣＰＵに所定のタ
イミングで割り込みが入るか、前記入出力ポートにおけ
るデータのパラレル／シリアル変換等が正しく行われて
いるか等のテスト項目が挙げられる。
【０００３】このようなファンクションテストは被テス
ト対象にテスト信号を入力し、その結果前記被テスト対
象から出力される結果を出力期待値と比較することによ
り行われるのが一般的である。ところで、上記したマイ
クロプロセッサを用いた電子機器では各種周辺回路を動
作させる信号の発生源はマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
で、このＣＰＵから出力される信号を入力して前述した
周辺回路が動作される。従って、前記ファンクションテ
ストを行う際に被テスト対象に与える信号の発生源とし
て最も相応しいのはＣＰＵということになる。
ト対象にテスト信号を入力し、その結果前記被テスト対
象から出力される結果を出力期待値と比較することによ
り行われるのが一般的である。ところで、上記したマイ
クロプロセッサを用いた電子機器では各種周辺回路を動
作させる信号の発生源はマイクロプロセッサ（ＣＰＵ）
で、このＣＰＵから出力される信号を入力して前述した
周辺回路が動作される。従って、前記ファンクションテ
ストを行う際に被テスト対象に与える信号の発生源とし
て最も相応しいのはＣＰＵということになる。
【０００４】上記のような背景から、マイクロプロセッ
サを用いた電子機器のファンクションテストはＣＰＵに
所定の信号を発生させて、これを被テスト対象に入力す
ることによって行われる。このＣＰＵに所定の信号を発
生させるには前記所定の信号を発生させるプログラムを
実行させればよいが、これには大別して２つの方法があ
る。第１の方法はＲＯＭにファンクションテスト用のプ
ログラムを格納して、このプログラムをＣＰＵに実行さ
せる方法である。第２の方法はインサーキットエミュレ
ータ（ＩＣ）を用い、このＩＣ上にテスト用のプログラ
ムを配置して実行させる方法である。
サを用いた電子機器のファンクションテストはＣＰＵに
所定の信号を発生させて、これを被テスト対象に入力す
ることによって行われる。このＣＰＵに所定の信号を発
生させるには前記所定の信号を発生させるプログラムを
実行させればよいが、これには大別して２つの方法があ
る。第１の方法はＲＯＭにファンクションテスト用のプ
ログラムを格納して、このプログラムをＣＰＵに実行さ
せる方法である。第２の方法はインサーキットエミュレ
ータ（ＩＣ）を用い、このＩＣ上にテスト用のプログラ
ムを配置して実行させる方法である。
【０００５】ここで、上記ファンクションテストの項目
は複数あるのが一般的で、従ってＣＰＵに実行させるプ
ログラムは前記項目数分だけ存在するため、実施しよう
とするテスト項目に対応するプログラムを選んで前記Ｃ
ＰＵに実行させる必要がある。従って、前記第１の方法
により複数項目のテストを行うには、（１）１つのＲＯ
Ｍに対して１本のプログラムを格納するようにして、テ
スト項目数分だけＲＯＭを用意する。（２）１つのＲＯ
Ｍに全テスト項目のプログラムを格納して、このＲＯＭ
の中からテストしようとする項目のプログラムを選択し
て前記ＣＰＵに実行させる。しかし、（１）の方法では
テスト項目数が多くなるとその分ＲＯＭの数が増えるた
め、ＲＯＭ作成に手間がかると共に、テストの項目を変
える都度何度もＲＯＭを取り替えなければならず、テス
トの際の操作性が悪いという欠点があった。（２）の方
法では、ＲＯＭ内に格納されている複数のプログラムの
中の目的のものをどのようにして選択するかが問題にな
る。即ち、この選択はプログラムの分岐によって行われ
るが、分岐するためにはきっかけが必要であり、このき
っかけは被テスト対象機器の外部から与えてやる必要が
あるため、この時前記被テスト対象機器のインタフェー
スの有無や種類が問題になる。
は複数あるのが一般的で、従ってＣＰＵに実行させるプ
ログラムは前記項目数分だけ存在するため、実施しよう
とするテスト項目に対応するプログラムを選んで前記Ｃ
ＰＵに実行させる必要がある。従って、前記第１の方法
により複数項目のテストを行うには、（１）１つのＲＯ
Ｍに対して１本のプログラムを格納するようにして、テ
スト項目数分だけＲＯＭを用意する。（２）１つのＲＯ
Ｍに全テスト項目のプログラムを格納して、このＲＯＭ
の中からテストしようとする項目のプログラムを選択し
て前記ＣＰＵに実行させる。しかし、（１）の方法では
テスト項目数が多くなるとその分ＲＯＭの数が増えるた
め、ＲＯＭ作成に手間がかると共に、テストの項目を変
える都度何度もＲＯＭを取り替えなければならず、テス
トの際の操作性が悪いという欠点があった。（２）の方
法では、ＲＯＭ内に格納されている複数のプログラムの
中の目的のものをどのようにして選択するかが問題にな
る。即ち、この選択はプログラムの分岐によって行われ
るが、分岐するためにはきっかけが必要であり、このき
っかけは被テスト対象機器の外部から与えてやる必要が
あるため、この時前記被テスト対象機器のインタフェー
スの有無や種類が問題になる。
【０００６】例えば被テスト対象の電子機器がＣＲＴ等
のインタフェースを持っているならば、ファンクション
テストの結果などをこのＣＲＴに出力させることによ
り、詳細なテスト結果情報をオペレータに提示すること
ができる。しかし、表示出力手段として数個のＬＥＤし
か持っていない被テスト対象機器の場合、テスト結果に
問題が生じた場合等に必要になる詳細なテスト結果情報
等を表示できないため、オペレータは何が原因で不具合
が生じたのかを知ることができないという欠点があっ
た。
のインタフェースを持っているならば、ファンクション
テストの結果などをこのＣＲＴに出力させることによ
り、詳細なテスト結果情報をオペレータに提示すること
ができる。しかし、表示出力手段として数個のＬＥＤし
か持っていない被テスト対象機器の場合、テスト結果に
問題が生じた場合等に必要になる詳細なテスト結果情報
等を表示できないため、オペレータは何が原因で不具合
が生じたのかを知ることができないという欠点があっ
た。
【０００７】そこで、ファンクショクテストの第２の方
法であるインサーキットエミュレータを用いた場合、こ
のインサーキットエミュレータはキーボード等の入力手
段とＣＲＴやＬＣＤ等の画面表示手段を持っているた
め、上記した問題点は解決されるが、インサーキットエ
ミュレータはサイズも大きく重量もかさばり且つ高価で
あるため、開発用の設備としては重宝であるが、製造用
試験設備としてはあまり適していないという問題点があ
る。しかも、仮にインサーキットエミュレータを用いた
場合、被テスト対象機器に入力するテスト信号の発生源
はこのインサーキットエミュレータのＣＰＵで、被テス
ト対象機器のＣＰＵでないため、テスト信号の出力タイ
ミングが微妙に異なって、場合によっては精度の高いフ
ァンクションテストを行うことができない恐れもあり、
安易に採用することができないという欠点があった。
法であるインサーキットエミュレータを用いた場合、こ
のインサーキットエミュレータはキーボード等の入力手
段とＣＲＴやＬＣＤ等の画面表示手段を持っているた
め、上記した問題点は解決されるが、インサーキットエ
ミュレータはサイズも大きく重量もかさばり且つ高価で
あるため、開発用の設備としては重宝であるが、製造用
試験設備としてはあまり適していないという問題点があ
る。しかも、仮にインサーキットエミュレータを用いた
場合、被テスト対象機器に入力するテスト信号の発生源
はこのインサーキットエミュレータのＣＰＵで、被テス
ト対象機器のＣＰＵでないため、テスト信号の出力タイ
ミングが微妙に異なって、場合によっては精度の高いフ
ァンクションテストを行うことができない恐れもあり、
安易に採用することができないという欠点があった。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】上記の如くファンクシ
ョンテストの方法として、１つのＲＯＭに全テスト項目
のプログラムを格納し、このＲＯＭ内のプログラムをテ
スト項目毎に選択して、被テスト対象の電子機器に搭載
されているＣＰＵに実行させる方法を採用した場合、前
記ＲＯＭ内のプログラムを選択させるための情報を入力
するインタフェースと、テスト結果を出力するインタフ
ェースを被テスト対象電子機器によっては持っていない
か或いは貧弱なため、前記プログラムの選択をいかにし
て行わせるか、或いはテスト結果の詳細情報をオペレー
タにいかにして提示させるかという、マンマシンインタ
フェース上の問題点があった。
ョンテストの方法として、１つのＲＯＭに全テスト項目
のプログラムを格納し、このＲＯＭ内のプログラムをテ
スト項目毎に選択して、被テスト対象の電子機器に搭載
されているＣＰＵに実行させる方法を採用した場合、前
記ＲＯＭ内のプログラムを選択させるための情報を入力
するインタフェースと、テスト結果を出力するインタフ
ェースを被テスト対象電子機器によっては持っていない
か或いは貧弱なため、前記プログラムの選択をいかにし
て行わせるか、或いはテスト結果の詳細情報をオペレー
タにいかにして提示させるかという、マンマシンインタ
フェース上の問題点があった。
【０００９】そこで本発明は上記の欠点を除去し、ＲＯ
Ｍ内に格納されている複数のテスト用プログラムをテス
ト項目毎に容易に選択して被テスト対象機器のＣＰＵに
実行させ、且つその結果得られる詳細なテスト結果情報
をオペレータに提示することができる安価な製造試験装
置を提供することを目的としている。
Ｍ内に格納されている複数のテスト用プログラムをテス
ト項目毎に容易に選択して被テスト対象機器のＣＰＵに
実行させ、且つその結果得られる詳細なテスト結果情報
をオペレータに提示することができる安価な製造試験装
置を提供することを目的としている。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明の製造試験装置は
被テスト対象機器のＣＰＵに実行させる複数のテスト用
プログラムを格納した記憶手段と、この記憶手段に格納
されている複数のテスト用プログラムのいずれを前記Ｃ
ＰＵに実行させるかをオペレータに選択させる手段であ
って且つ前記被テスト対象機器の外部に設けられた選択
手段と、この選択手段の選択結果を前記ＣＰＵに伝達す
る第１の伝達手段と、前記ＣＰＵが前記テスト用プログ
ラムを実行した結果得られるテスト結果を外部に設けら
れた表示手段に伝達する第２の伝達手段と、前記被テス
ト対象機器の外部に設けられ且つ前記第２の伝達手段に
より伝達された前記テスト結果を表示する表示手段とを
具備した構成を有する。
被テスト対象機器のＣＰＵに実行させる複数のテスト用
プログラムを格納した記憶手段と、この記憶手段に格納
されている複数のテスト用プログラムのいずれを前記Ｃ
ＰＵに実行させるかをオペレータに選択させる手段であ
って且つ前記被テスト対象機器の外部に設けられた選択
手段と、この選択手段の選択結果を前記ＣＰＵに伝達す
る第１の伝達手段と、前記ＣＰＵが前記テスト用プログ
ラムを実行した結果得られるテスト結果を外部に設けら
れた表示手段に伝達する第２の伝達手段と、前記被テス
ト対象機器の外部に設けられ且つ前記第２の伝達手段に
より伝達された前記テスト結果を表示する表示手段とを
具備した構成を有する。
【００１１】
【作用】本発明の製造試験装置において、記憶手段は被
テスト対象機器のＣＰＵに実行させる複数のテスト用プ
ログラムを格納している。前記被テスト対象機器の外部
に設けられた選択手段は前記記憶手段に格納されている
複数のテスト用プログラムのいずれを前記ＣＰＵに実行
させるかをオペレータに選択させる。第１の伝達手段は
前記選択手段の選択結果を前記ＣＰＵに伝達する。第２
の伝達手段は前記ＣＰＵが前記テスト用プログラムを実
行した結果得られるテスト結果を前記被テスト対象機器
の外部に設けられた表示手段に伝達する。前記被テスト
対象機器の外部に設けらた表示手段は前記第２の伝達手
段により伝達された前記テスト結果を表示する。
テスト対象機器のＣＰＵに実行させる複数のテスト用プ
ログラムを格納している。前記被テスト対象機器の外部
に設けられた選択手段は前記記憶手段に格納されている
複数のテスト用プログラムのいずれを前記ＣＰＵに実行
させるかをオペレータに選択させる。第１の伝達手段は
前記選択手段の選択結果を前記ＣＰＵに伝達する。第２
の伝達手段は前記ＣＰＵが前記テスト用プログラムを実
行した結果得られるテスト結果を前記被テスト対象機器
の外部に設けられた表示手段に伝達する。前記被テスト
対象機器の外部に設けらた表示手段は前記第２の伝達手
段により伝達された前記テスト結果を表示する。
【００１２】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照して説
明する。図１は本発明の製造試験装置の一実施例を示し
たブロック図である。１はテスト対象の電子機器、１１
は電子機器１内の制御及びファンクションテストを実行
するＣＰＵ、２は例えばパーソナルコンピュータ等の外
部端末装置、３は前記電子機器１と外部端末装置２を接
続するコードである。１２は複数のテスト項目に対応す
るプログラム、入出力ポート１３を動作させるプログラ
ム、外部端末装置２から入力される指令を解釈して実行
するプログラム及びテストの実行結果を外部端末装置２
に出力するプログラム等を格納しているＲＯＭ、１３は
外部端末装置２との間でデータの入出力を行う入出力ポ
ート、１４はデータが伝送されるバスライン、１５〜１
７はＣＰＵ１１のメモリ等の周辺回路を示しており、電
子機器１内の被テスト対象物である。２１は外部端末装
置２に搭載されているＣＰＵ、２２はＣＰＵ２１が動作
する上で必要なプログラムやデータ等を記憶する主メモ
リ、２３はファンクションテストを行うオペレータが各
種動作指令やデータを入力するキーボード、２５はファ
ンクションテストをこの外部端末装置２に行わせるため
のプログラムを格納しているフロッピーディスクドライ
ブ、２６は外部端末装置２と前記電子機器１との間のデ
ータの入出力を行うインタフェースである。
明する。図１は本発明の製造試験装置の一実施例を示し
たブロック図である。１はテスト対象の電子機器、１１
は電子機器１内の制御及びファンクションテストを実行
するＣＰＵ、２は例えばパーソナルコンピュータ等の外
部端末装置、３は前記電子機器１と外部端末装置２を接
続するコードである。１２は複数のテスト項目に対応す
るプログラム、入出力ポート１３を動作させるプログラ
ム、外部端末装置２から入力される指令を解釈して実行
するプログラム及びテストの実行結果を外部端末装置２
に出力するプログラム等を格納しているＲＯＭ、１３は
外部端末装置２との間でデータの入出力を行う入出力ポ
ート、１４はデータが伝送されるバスライン、１５〜１
７はＣＰＵ１１のメモリ等の周辺回路を示しており、電
子機器１内の被テスト対象物である。２１は外部端末装
置２に搭載されているＣＰＵ、２２はＣＰＵ２１が動作
する上で必要なプログラムやデータ等を記憶する主メモ
リ、２３はファンクションテストを行うオペレータが各
種動作指令やデータを入力するキーボード、２５はファ
ンクションテストをこの外部端末装置２に行わせるため
のプログラムを格納しているフロッピーディスクドライ
ブ、２６は外部端末装置２と前記電子機器１との間のデ
ータの入出力を行うインタフェースである。
【００１３】次に本実施例の動作について説明する。電
子機器１のファンクションテストを行うオペレータは、
まず、外部端末装置２のフロッピーディスクドライブ２
５からファンクションテスト用のプログラムを読み出し
て主メモリ２２にロードする。これにより、ＣＰＵ２１
は以降前記ファンクションテスト用のプログラムを実行
し、まずＬＣＤ２４の画面に電子機器１で行わせるファ
ンクションテストのテスト項目をメニュー表示する。こ
のＬＣＤ２４の画面には例えば（１）ファンクションテ
ストＡ、（２）ファンクションテストＢ…というテスト
項目が表示されるため、オペレータはこのテスト項目の
中から実行させたいテスト項目を選択して、これをキー
ボード２３からＣＰＵ２１に与える。これにより、ＣＰ
Ｕ２１は例えばファンクションテストＡを電子機器１内
のＣＰＵ１１に行わせる指令をインタフェース２６を介
して電子機器１の入出力ポート１３に入力する。尚、イ
ンタフェース２６はＣＰＵ２１から出力される指令やデ
ータをパラレル／シリアル変換し、得られたシリアルデ
ータをコード３を介して入出力ポート１３に送るものと
する。入出力ポート１３は外部端末装置２から入力され
たシリアルデータをパラレルデータに変換し、これをバ
スライン１４を介してＣＰＵ１１に送る。これにより、
ＣＰＵ１１はＲＯＭ１２内のファンクションテストＡ用
のプログラムを実行して、例えば周辺回路１５に対する
テスト用の信号を発生し、発生した信号を周辺回路１５
に入力し、その結果、周辺回路１５から出力される信号
を期待値と比較してテスト結果を得る。このようにして
テスト結果が得られると、ＣＰＵ１１はこのテスト結果
をバスライン１４、入出力ポート１３及びコード３を介
して外部端末装置２に送出する。尚、この際、入出力ポ
ート１３は入力されるパラレルデータをシリアルデータ
に変換して、これを外部端末装置２に送出する。
子機器１のファンクションテストを行うオペレータは、
まず、外部端末装置２のフロッピーディスクドライブ２
５からファンクションテスト用のプログラムを読み出し
て主メモリ２２にロードする。これにより、ＣＰＵ２１
は以降前記ファンクションテスト用のプログラムを実行
し、まずＬＣＤ２４の画面に電子機器１で行わせるファ
ンクションテストのテスト項目をメニュー表示する。こ
のＬＣＤ２４の画面には例えば（１）ファンクションテ
ストＡ、（２）ファンクションテストＢ…というテスト
項目が表示されるため、オペレータはこのテスト項目の
中から実行させたいテスト項目を選択して、これをキー
ボード２３からＣＰＵ２１に与える。これにより、ＣＰ
Ｕ２１は例えばファンクションテストＡを電子機器１内
のＣＰＵ１１に行わせる指令をインタフェース２６を介
して電子機器１の入出力ポート１３に入力する。尚、イ
ンタフェース２６はＣＰＵ２１から出力される指令やデ
ータをパラレル／シリアル変換し、得られたシリアルデ
ータをコード３を介して入出力ポート１３に送るものと
する。入出力ポート１３は外部端末装置２から入力され
たシリアルデータをパラレルデータに変換し、これをバ
スライン１４を介してＣＰＵ１１に送る。これにより、
ＣＰＵ１１はＲＯＭ１２内のファンクションテストＡ用
のプログラムを実行して、例えば周辺回路１５に対する
テスト用の信号を発生し、発生した信号を周辺回路１５
に入力し、その結果、周辺回路１５から出力される信号
を期待値と比較してテスト結果を得る。このようにして
テスト結果が得られると、ＣＰＵ１１はこのテスト結果
をバスライン１４、入出力ポート１３及びコード３を介
して外部端末装置２に送出する。尚、この際、入出力ポ
ート１３は入力されるパラレルデータをシリアルデータ
に変換して、これを外部端末装置２に送出する。
【００１４】外部端末装置２のＣＰＵ２１はＣＰＵ１１
から送られてきたテスト結果データをインタフェース２
６によりパラレルデータ化して取り込み、得られたデー
タを主メモリ２２に記憶すると共に、ＬＣＤ２４に出力
して表示する。オペレータはＬＣＤ２４に表示されたテ
スト項目（１）に対するテスト結果を見た後、再びキー
ボード２３を操作して、再びＬＣＤ２４の画面にテスト
項目選択メニューを表示させ、次に電子機器１のＣＰＵ
１１に実行させたいテスト項目を選択する。以降の動作
は前述した動作と同様で、結局ＣＰＵ１１はＲＯＭ１２
に格納されている各テスト項目に対応するプログラムを
外部端末装置２からの指令によって順次実行し、そのテ
スト結果は外部端末装置２のＬＣＤ２４に表示される。
尚、本例では各テスト項目のテスト結果が主メモリ２２
に記憶されるため、全てのテスト項目が終了した後、主
メモリ２２に記憶されている全てのテスト項目に対する
テスト結果データを読み出して、これをＬＣＤ２４に一
括表示させることができる。
から送られてきたテスト結果データをインタフェース２
６によりパラレルデータ化して取り込み、得られたデー
タを主メモリ２２に記憶すると共に、ＬＣＤ２４に出力
して表示する。オペレータはＬＣＤ２４に表示されたテ
スト項目（１）に対するテスト結果を見た後、再びキー
ボード２３を操作して、再びＬＣＤ２４の画面にテスト
項目選択メニューを表示させ、次に電子機器１のＣＰＵ
１１に実行させたいテスト項目を選択する。以降の動作
は前述した動作と同様で、結局ＣＰＵ１１はＲＯＭ１２
に格納されている各テスト項目に対応するプログラムを
外部端末装置２からの指令によって順次実行し、そのテ
スト結果は外部端末装置２のＬＣＤ２４に表示される。
尚、本例では各テスト項目のテスト結果が主メモリ２２
に記憶されるため、全てのテスト項目が終了した後、主
メモリ２２に記憶されている全てのテスト項目に対する
テスト結果データを読み出して、これをＬＣＤ２４に一
括表示させることができる。
【００１５】本実施例によれば、外部端末装置２のキー
ボード２３から電子機器１に対するファンクションテス
トに係わる指令やデータを入力できるため、ＲＯＭ１２
に格納されている複数項目のテスト用プログラムの選択
切り替え指令を容易に電子機器１のＣＰＵ１１に与える
ことができる。又、ＣＰＵ１１が行ったファンクション
テストの結果は外部端末装置２のＬＣＤ２４に表示され
るため、詳細なテスト結果データをオペレータに提示す
ることができる。従ってオペレータは特にテスト結果に
異常があった場合の詳細な情報収集を容易に行うことが
できる。更に、本例の外部端末装置２としては小型軽量
のパーソナルコンピュータ等を流用できるため、インサ
ーキットエミュレータに比べて遥かに装置を安価とし、
且つ小型軽量にすることができる。しかも、インサーキ
ットエミュレータと異なり、テスト用の信号を発生する
ＣＰＵは被テスト対象機器のＣＰＵ１１であるため、テ
スト用の信号の発生タイミングが微妙に異なることがな
く、精度の高いファンクションテストを行うことができ
る。
ボード２３から電子機器１に対するファンクションテス
トに係わる指令やデータを入力できるため、ＲＯＭ１２
に格納されている複数項目のテスト用プログラムの選択
切り替え指令を容易に電子機器１のＣＰＵ１１に与える
ことができる。又、ＣＰＵ１１が行ったファンクション
テストの結果は外部端末装置２のＬＣＤ２４に表示され
るため、詳細なテスト結果データをオペレータに提示す
ることができる。従ってオペレータは特にテスト結果に
異常があった場合の詳細な情報収集を容易に行うことが
できる。更に、本例の外部端末装置２としては小型軽量
のパーソナルコンピュータ等を流用できるため、インサ
ーキットエミュレータに比べて遥かに装置を安価とし、
且つ小型軽量にすることができる。しかも、インサーキ
ットエミュレータと異なり、テスト用の信号を発生する
ＣＰＵは被テスト対象機器のＣＰＵ１１であるため、テ
スト用の信号の発生タイミングが微妙に異なることがな
く、精度の高いファンクションテストを行うことができ
る。
【００１６】
【発明の効果】以上記述した如く本発明の製造試験装置
によれば、ＲＯＭ内に格納されている複数のテスト用プ
ログラムをテスト項目毎に容易に選択して被テスト対象
機器のＣＰＵに実行させ、且つその結果得られる詳細な
テスト結果情報をオペレータに提示することができる。
によれば、ＲＯＭ内に格納されている複数のテスト用プ
ログラムをテスト項目毎に容易に選択して被テスト対象
機器のＣＰＵに実行させ、且つその結果得られる詳細な
テスト結果情報をオペレータに提示することができる。
【図１】本発明の製造試験装置の一実施例を示したブロ
ック図。
ック図。
１…電子機器 ２…外部端末装
置 １１、２１…ＣＰＵ １２…ＲＯＭ １３…入出力ポート １５、１６、１
７…周辺回路 ２２…主メモリ ２３…キーボー
ド ２４…ＬＣＤ ２５…フロッピ
ーディスクドライブ ２６…インタフェース
置 １１、２１…ＣＰＵ １２…ＲＯＭ １３…入出力ポート １５、１６、１
７…周辺回路 ２２…主メモリ ２３…キーボー
ド ２４…ＬＣＤ ２５…フロッピ
ーディスクドライブ ２６…インタフェース
Claims (1)
- 【請求項１】 被テスト対象機器のＣＰＵに実行させる
複数のテスト用プログラムを格納した記憶手段と、この
記憶手段に格納されている複数のテスト用プログラムの
いずれを前記ＣＰＵに実行させるかをオペレータに選択
させる手段であって且つ前記被テスト対象機器の外部に
設けられた選択手段と、この選択手段の選択結果を前記
ＣＰＵに伝達する第１の伝達手段と、前記ＣＰＵが前記
テスト用プログラムを実行した結果得られるテスト結果
を外部に設けられた表示手段に伝達する第２の伝達手段
と、前記被テスト対象機器の外部に設けられ且つ前記第
２の伝達手段により伝達された前記テスト結果を表示す
る表示手段とを具備したことを特徴とする製造試験装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005421A JPH05189263A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 製造試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4005421A JPH05189263A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 製造試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05189263A true JPH05189263A (ja) | 1993-07-30 |
Family
ID=11610700
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4005421A Withdrawn JPH05189263A (ja) | 1992-01-16 | 1992-01-16 | 製造試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05189263A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113846A (ja) * | 2020-01-16 | 2021-08-05 | アルパイン株式会社 | 表示装置および表示制御方法 |
| CN113466674A (zh) * | 2021-07-06 | 2021-10-01 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种GaN功率器件单粒子效应脉冲激光试验方法 |
-
1992
- 1992-01-16 JP JP4005421A patent/JPH05189263A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2021113846A (ja) * | 2020-01-16 | 2021-08-05 | アルパイン株式会社 | 表示装置および表示制御方法 |
| CN113466674A (zh) * | 2021-07-06 | 2021-10-01 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种GaN功率器件单粒子效应脉冲激光试验方法 |
| CN113466674B (zh) * | 2021-07-06 | 2022-02-22 | 中国科学院国家空间科学中心 | 一种GaN功率器件单粒子效应脉冲激光试验方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |