JPH05175806A - Variable delay circuit - Google Patents

Variable delay circuit

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JPH05175806A
JPH05175806A JP3354480A JP35448091A JPH05175806A JP H05175806 A JPH05175806 A JP H05175806A JP 3354480 A JP3354480 A JP 3354480A JP 35448091 A JP35448091 A JP 35448091A JP H05175806 A JPH05175806 A JP H05175806A
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JP
Japan
Prior art keywords
circuit
signal
write
delay circuit
sample
Prior art date
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Pending
Application number
JP3354480A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Toshiro Kondo
敏郎 近藤
Toshio Ogawa
俊雄 小川
Shinichi Kondo
真一 近藤
Hiroshi Kanda
浩 神田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Healthcare Manufacturing Ltd
Original Assignee
Hitachi Medical Corp
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Publication date
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Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To operate a variable delay circuit without degrading its S/N by eliminating the noise generated synchronously with a clock signal. CONSTITUTION:The variable delay circuit having a delay circuit 1, a capacitor memory circuit 2, and a write/read control circuit 4 is provided with a sample and hold circuit 10 which receives the output of the capacitor memory circuit 2 and is operated by a control signal phih from the write/read control circuit 4 and a sample and hold circuit 10' which receives the output of the sampling and holding circuit 10 and is operated by a control signal phih' from the write/ read control circuit 4. These two sample and hold circuits 10 and 10' are used to obtain a noiseless ultrasonic signal. That is, an ultrasonic tomographic image is obtained without degrading S/N of the variable delay circuit.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、超音波診断装置に係
り、特にS/N比の劣化防止に好適な超音波診断装置の
可変遅延回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic diagnostic apparatus, and more particularly to a variable delay circuit of the ultrasonic diagnostic apparatus suitable for preventing deterioration of S / N ratio.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の可変遅延回路は、特開平3−19
6709号に記載のように遅延回路1と、この遅延回路
1に従属接続されたコンデンサメモリ回路2と、上記遅
延回路1に対して制御電圧を送り出しその遅延時間を制
御する制御部3と、上記コンデンサメモリ回路2の書き
込み及び読み出しを制御する制御回路4とを有する。そ
して、サンプリング周波数fsは一定として、コンデン
サメモリ回路2ではサンプリング周期1/fsごとに最
大N/fsの遅延を行い、上記サンプリング周期1/f
s以下の短い遅延は遅延回路1の遅延時間を制御するこ
とにより実行するようになっている。すなわち、入力端
子INから入力した信号は、遅延データDSに基づいて
制御電圧を発生する制御部3により遅延時間が制御され
る遅延回路1を経て、コンデンサメモリ回路2によって
遅延された後、出力端子OUTに遅延信号が出力され
る。
2. Description of the Related Art A conventional variable delay circuit is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 3-19.
6709, a delay circuit 1, a capacitor memory circuit 2 subordinately connected to the delay circuit 1, a control unit 3 for sending a control voltage to the delay circuit 1 to control the delay time thereof, The control circuit 4 controls writing and reading of the capacitor memory circuit 2. Then, with the sampling frequency fs kept constant, the capacitor memory circuit 2 delays the sampling period 1 / fs by a maximum of N / fs to obtain the sampling period 1 / f.
A short delay of s or less is executed by controlling the delay time of the delay circuit 1. That is, the signal input from the input terminal IN passes through the delay circuit 1 whose delay time is controlled by the control unit 3 which generates the control voltage based on the delay data DS, is delayed by the capacitor memory circuit 2, and then is output from the output terminal. The delayed signal is output to OUT.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記従来装置では、コ
ンデンサメモリ回路のクロック信号を一定周期としてノ
イズの混入を防いでいたが、このクロック信号に同期し
てノイズが発生していた。そのため、可変遅延回路とし
てのS/N比が劣化していた。
In the above-mentioned conventional device, noise is prevented from being mixed in with the clock signal of the capacitor memory circuit being set to a constant period to prevent noise from mixing therein. Therefore, the S / N ratio of the variable delay circuit is deteriorated.

【0004】そこで本発明の目的は、クロック信号と同
期して発生するノイズをなくし、可変遅延回路としての
S/N比を劣化させることなく動作させることにある。
Therefore, an object of the present invention is to eliminate the noise generated in synchronization with the clock signal and to operate the variable delay circuit without degrading the S / N ratio.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、インダクタと逆電圧の大きさにより静電容量が変化
する可変容量ダイオードとを用いこの可変容量ダイオー
ドの逆電圧の変化により遅延時間が変化する可変遅延線
を構成し、この可変遅延線の信号源抵抗および終端抵抗
として利得が電気信号で制御できる増幅器に一定抵抗で
帰還を施して回路の抵抗値を可変とする可変抵抗回路を
用いてなる遅延回路と、この遅延回路に従属接続された
コンデンサメモリ回路と、前記コンデンサメモリ回路の
書き込み及び読み出しを制御する書き込み読み出し制御
回路とを有する可変遅延回路において、上記コンデンサ
メモリ回路の出力を受け上記書き込み読み出し制御回路
の一定周期で発生する信号と同期した制御信号で動作す
るサンプルホールド回路と、前記サンプルホールド回路
の出力を受け上記書き込み読み出し制御回路の一定周期
で発生する信号の周期を外した制御信号で動作するサン
プルホールド回路とを備えたものである。
In order to achieve the above object, an inductor and a variable capacitance diode whose electrostatic capacitance changes according to the magnitude of the reverse voltage are used, and the delay time is changed by the change of the reverse voltage of this variable capacitance diode. A variable resistance circuit is used that forms a variable delay line that changes, and that feeds back with a constant resistance to an amplifier whose gain can be controlled by an electric signal as a signal source resistance and a termination resistance of this variable delay line to make the resistance value of the circuit variable. In a variable delay circuit having a delay circuit configured as follows, a capacitor memory circuit cascade-connected to the delay circuit, and a write / read control circuit that controls writing and reading of the capacitor memory circuit, the output of the capacitor memory circuit is received. A sample hole that operates with a control signal that is synchronized with the signal generated at a fixed cycle of the write / read control circuit. And a circuit, in which a sample and hold circuit operated by a control signal Disconnect periodic signals generated at a constant period of the writing and reading control circuit receiving the output of said sample and hold circuit.

【0006】[0006]

【作用】コンデンサメモリ回路からの信号を入力するサ
ンプルホールド回路は、書き込み読み出し制御回路から
の一定周期で発生する信号に同期した信号を受けて超音
波信号を発生する。また、この超音波信号を入力するサ
ンプルホールド回路は、一定周期で発生する信号と同期
を外した信号を受けてノイズのない超音波信号を出力す
る。
The sample and hold circuit, which receives the signal from the capacitor memory circuit, receives the signal synchronized with the signal generated from the write / read control circuit at a constant cycle and generates the ultrasonic signal. Further, the sample-hold circuit for inputting the ultrasonic signal receives the signal out of synchronization with the signal generated at a constant cycle and outputs the ultrasonic signal without noise.

【0007】[0007]

【実施例】以下、本発明の一実施例を図1乃至図3によ
り説明する。図1は本発明による可変遅延回路の実施例
を示すブロック図、図2は本発明の可変遅延回路の回路
図、図3は本発明の動作を表すタイミングチャートであ
る。1は遅延時間を制御する遅延回路、2は入力信号を
前記遅延時間によって遅延させるコンデンサメモリ回
路、3は遅延データDSを読み込み遅延回路1に制御電
圧を送る制御部、4は遅延データDL及びクロック信号
CLKを入力しコンデンサメモリ回路2の書き込み、読
み出しをするための書込信号φw、読出信号φrとサン
プルホールド回路10、10´を制御するホールド制御
信号φh、φh´を出力する書き込み読み出し制御回
路、9はコンデンサメモリ回路2からの出力を加算する
加算器、10及び10´は制御信号h、φh´により超
音波信号US、US´をサンプルホールドするサンプル
ホールド回路、11はサンプルホールド回路10´から
の超音波信号US´をディジタル変換するADコンバー
タである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 is a block diagram showing an embodiment of a variable delay circuit according to the present invention, FIG. 2 is a circuit diagram of the variable delay circuit of the present invention, and FIG. 3 is a timing chart showing the operation of the present invention. Reference numeral 1 is a delay circuit for controlling a delay time, 2 is a capacitor memory circuit for delaying an input signal by the delay time, 3 is a control unit for reading delay data DS and sending a control voltage to the delay circuit 1, 4 is delay data DL and a clock. A write / read control circuit that inputs the signal CLK and outputs hold signals φh and φh ′ for controlling the write signal φw and the read signal φr and the sample and hold circuits 10 and 10 ′ for writing and reading the capacitor memory circuit 2. , 9 are adders for adding the outputs from the capacitor memory circuit 2, 10 and 10 ′ are sample and hold circuits for sampling and holding the ultrasonic signals US and US ′ according to the control signals h and φh ′, and 11 are sample and hold circuits 10 ′. It is an AD converter for digitally converting the ultrasonic signal US ′ from

【0008】つぎに本発明の可変遅延回路の動作を説明
する。入力端子INからの入力信号は、遅延回路1に入
力され、この遅延回路1では遅延データDSを受けた制
御部3の制御電圧を入力し、遅延時間を決定する。そし
て、遅延時間の決定した信号をコンデンサメモリ回路2
に入力し、書き込み及び読み出しの動作を行う。この書
き込み及び読み出しの動作は書き込み読み出し制御回路
4の書込信号φw、読出信号φrにより制御される。
Next, the operation of the variable delay circuit of the present invention will be described. The input signal from the input terminal IN is input to the delay circuit 1, and the delay circuit 1 inputs the control voltage of the control unit 3 which has received the delay data DS to determine the delay time. Then, the signal whose delay time is determined is sent to the capacitor memory circuit 2
, And write and read operations are performed. The write and read operations are controlled by the write signal φw and read signal φr of the write / read control circuit 4.

【0009】そして、読み出された信号をサンプルホー
ルド回路10へ入力し超音波信号USを出力する。この
超音波信号USを加算器9へ入力して、加算された信号
をサンプルホールド回路10´へ入力しノイズのない超
音波信号US´を出力する。この超音波信号US´をA
Dコンバータ11でディジタル変換すると、超音波信号
の絶対値への変換、任意の期間内における振幅の最大
値、あるいは平均値処理等のディジタル信号処理を検波
回路で行うことにより超音波断層像を表示する。
Then, the read signal is input to the sample hold circuit 10 to output the ultrasonic signal US. The ultrasonic signal US is input to the adder 9, and the added signal is input to the sample hold circuit 10 'to output a noise-free ultrasonic signal US'. This ultrasonic signal US '
When the digital conversion is performed by the D converter 11, an ultrasonic tomographic image is displayed by performing digital signal processing such as conversion of an ultrasonic signal into an absolute value, maximum value of amplitude in an arbitrary period, or average value processing in a detection circuit. To do.

【0010】次にコンデンサメモリ回路2及びサンプル
ホールド回路10及び10´の動作を図2及び図3を用
いて詳細に説明する。遅延回路1からの出力はコンデン
サメモリ回路2の入力部のバッファアンプA3を介し、
書き込みスイッチX1〜XnによってコンデンサC1〜
Cnに書き込まれ、読み出しスイッチY1〜Ynによっ
て遅延出力される。この書き込みスイッチX1〜Xn
は、書き込み読み出し制御回路4の書込信号φw及びク
ロック信号CLKがシフトレジスタSHR−Wを介して
入力されると、遅延回路1からの入力信号を受け、コン
デンサC1〜Cnに入力、すなわち書き込みをする。ま
た読み出しスイッチもY1〜Yn同様に書き込み読み出
し制御回路4の読出信号φr及びクロック信号CLKが
シフトレジスタSHR−Rを介して入力されると、コン
デンサC1〜Cnに書き込まれた信号を出力、すなわち
読み出しをする。
Next, the operations of the capacitor memory circuit 2 and the sample and hold circuits 10 and 10 'will be described in detail with reference to FIGS. The output from the delay circuit 1 is passed through the buffer amplifier A3 in the input section of the capacitor memory circuit 2,
The write switches X1 to Xn enable capacitors C1 to C1.
It is written in Cn and delayed by the read switches Y1 to Yn. These write switches X1 to Xn
When the write signal φw of the write / read control circuit 4 and the clock signal CLK are input via the shift register SHR-W, the input signal from the delay circuit 1 is received and input to the capacitors C1 to Cn, that is, write is performed. To do. Similarly to the read switches Y1 to Yn, when the read signal φr and the clock signal CLK from the write / read control circuit 4 are input through the shift register SHR-R, the read switches output the signals written in the capacitors C1 to Cn, that is, read the signals. do.

【0011】ここで、任意の書き込みスイッチXi及び
読み出しスイッチYiを選択した場合、シフトレジスタ
SHR−W、SHR−Rからの書込信号φw、読出信号
φr及びクロック信号CLKを受けて、コンデンサCi
の書き込み、読み出しをする。この時の書き込みのタイ
ミングを図3のWiで示し、読み出しのタイミングをR
iで示す。
Here, when the arbitrary write switch Xi and read switch Yi are selected, the capacitor Ci receives the write signal φw, the read signal φr, and the clock signal CLK from the shift registers SHR-W and SHR-R.
Write and read. The write timing at this time is shown by Wi in FIG. 3, and the read timing is R
Denote by i.

【0012】コンデンサC1〜Cnに書き込まれた信号
は、読み出しスイッチY1〜YnがONされるとリセッ
トスイッチX0及びオペアンプA2を介して、サンプル
ホールド回路10に入力される。このサンプルホールド
回路10は、スイッチZ0、コンデンサCz、アンプA
4より構成され、クロック信号CLKの立上りに同期し
た書き込み読み出し制御回路4のホールド制御信号φh
を受けて、超音波信号USが発生し、この超音波信号U
Sを加算器9に入力する。
The signals written in the capacitors C1 to Cn are input to the sample hold circuit 10 via the reset switch X0 and the operational amplifier A2 when the read switches Y1 to Yn are turned on. The sample hold circuit 10 includes a switch Z0, a capacitor Cz, and an amplifier A.
4 and the hold control signal φh of the write / read control circuit 4 synchronized with the rising edge of the clock signal CLK.
In response to this, an ultrasonic signal US is generated, and this ultrasonic signal U
Input S to the adder 9.

【0013】そして、超音波信号USを加算器9で加算
して、サンプルホールド回路10´へ入力する。このサ
ンプルホールド回路10´は、超音波信号USのクロッ
ク信号CLKの立上り、立下り時に発生する誘導ノイズ
を回避するためのもので、書き込み、読み出し制御信号
4からのホールド制御信号φh´を受けて超音波信号U
S´を出力する。このホールド制御信号は、クロック信
号CLKの立上り及び立下りのタイミングから離れた所
で信号を出すことにより、誘導ノイズに重畳した超音波
信号USの立上り及び立下り時以外の信号をサンプルホ
ールドする。これにより、ノイズのない超音波信号US
´を得ることができる。
Then, the ultrasonic signal US is added by the adder 9 and input to the sample hold circuit 10 '. The sample and hold circuit 10 ′ is for avoiding inductive noise generated when the clock signal CLK of the ultrasonic signal US rises and falls, and receives the hold control signal φh ′ from the write / read control signal 4. Ultrasonic signal U
Output S '. This hold control signal outputs a signal at a position apart from the rising and falling timings of the clock signal CLK to sample and hold signals other than the rising and falling edges of the ultrasonic signal US superimposed on the induction noise. This allows the ultrasonic signal US without noise
´ can be obtained.

【0014】[0014]

【発明の効果】本発明によれば、二つのサンプルホール
ド回路を用いることにより、従来コンデンサメモリ回路
の一定周期の信号に同期して発生していたノイズを取り
込むことがなくなる。つまり、可変遅延回路のS/N比
を劣化することなく超音波断層像を得ることができる。
According to the present invention, by using the two sample hold circuits, it is possible to prevent the noise generated in synchronization with the signal of the constant cycle of the conventional capacitor memory circuit from being taken in. That is, an ultrasonic tomographic image can be obtained without deteriorating the S / N ratio of the variable delay circuit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による可変遅延回路の実施例を示すブロ
ック図
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a variable delay circuit according to the present invention.

【図2】本発明の可変遅延回路の回路図FIG. 2 is a circuit diagram of a variable delay circuit of the present invention.

【図3】本発明の動作を表すタイミングチャートFIG. 3 is a timing chart showing the operation of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 遅延回路 2 コンデンサメモリ回路 3 制御部 4 書き込み読み出し制御回路 9 加算器 10 サンプルホールド回路 10´ サンプルホールド回路 11 ADコンバータ CLK クロック信号 φw 書込信号 φr 読出信号 φh ホールド制御信号 φh´ ホールド制御信号 1 Delay Circuit 2 Capacitor Memory Circuit 3 Controller 4 Write / Read Control Circuit 9 Adder 10 Sample Hold Circuit 10 'Sample Hold Circuit 11 AD Converter CLK Clock Signal φw Write Signal φr Read Signal φh Hold Control Signal φh' Hold Control Signal

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神田 浩 東京都国分寺市東恋ヶ窪一丁目28番地 株 式会社日立製作所中央研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hiroshi Kanda 1-28 Higashi Koigakubo, Kokubunji City, Tokyo Inside the Central Research Laboratory, Hitachi, Ltd.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】インダクタと逆電圧の大きさにより静電容
量が変化する可変容量ダイオードとを用いこの可変容量
ダイオードの逆電圧の変化により遅延時間が変化する可
変遅延線を構成し、この可変遅延線の信号源抵抗および
終端抵抗として利得が電気信号で制御できる増幅器に一
定抵抗で帰還を施して回路の抵抗値を可変とする可変抵
抗回路を用いてなる遅延回路と、この遅延回路に従属接
続されたコンデンサメモリ回路と、前記コンデンサメモ
リ回路の書き込み及び読み出しを制御する書き込み読み
出し制御回路とを有する可変遅延回路において、上記コ
ンデンサメモリ回路の出力を受け上記書き込み読み出し
制御回路の一定周期で発生する信号と同期した制御信号
で動作するサンプルホールド回路と、前記サンプルホー
ルド回路の出力を受け上記書き込み読み出し制御回路の
一定周期で発生する信号の周期を外した制御信号で動作
するサンプルホールド回路とを備えたことを特徴とする
可変遅延回路。
Claim: What is claimed is: 1. An inductor and a variable capacitance diode whose capacitance changes according to the magnitude of the reverse voltage are used to form a variable delay line whose delay time changes according to the change of the reverse voltage of the variable capacitance diode. A delay circuit that uses a variable resistance circuit that varies the resistance value of the circuit by feeding back with a constant resistance to an amplifier whose gain can be controlled by an electric signal as a signal source resistance and a termination resistance of the line, and a subordinate connection to this delay circuit. A variable delay circuit having a stored capacitor memory circuit and a write / read control circuit for controlling writing and reading of the capacitor memory circuit, and a signal generated at a constant cycle of the write / read control circuit in response to an output of the capacitor memory circuit. The sample and hold circuit that operates with the control signal synchronized with Only the variable delay circuit, characterized in that a sample and hold circuit operated by a control signal Disconnect periodic signals generated at a constant period of the writing and reading control circuit.
JP3354480A 1991-12-20 1991-12-20 Variable delay circuit Pending JPH05175806A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003093385A (en) * 2001-07-31 2003-04-02 Koninkl Philips Electronics Nv Beam forming system using analog random access memory

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