JPH05172694A - 光コネクタ反射減衰量測定方法及び装置 - Google Patents
光コネクタ反射減衰量測定方法及び装置Info
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- JPH05172694A JPH05172694A JP3340805A JP34080591A JPH05172694A JP H05172694 A JPH05172694 A JP H05172694A JP 3340805 A JP3340805 A JP 3340805A JP 34080591 A JP34080591 A JP 34080591A JP H05172694 A JPH05172694 A JP H05172694A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 被測定光コネクタ端面のみの反射減衰量を他
の反射点部分からの影響を受けずに高い測定限界で測定
できるようにする。 【構成】 光源１からの出射光を光ファイバカプラ２で
分岐し、一方の測定光を被測定光コネクタ４が接合され
たマスタ光コネクタ３に送り、また他方の参照光を可動
ミラー８で反射し、光コネクタ接合部での反射光と可動
ミラー８で反射した参照光とを光ファイバカプラ２で結
合する。そして、可動ミラー８を移動しながら結合した
光強度を光波形モニタ５で観測し、電力計６で干渉電力
を測定することにより、光コネクタ接合部での反射減衰
量を求める。
の反射点部分からの影響を受けずに高い測定限界で測定
できるようにする。 【構成】 光源１からの出射光を光ファイバカプラ２で
分岐し、一方の測定光を被測定光コネクタ４が接合され
たマスタ光コネクタ３に送り、また他方の参照光を可動
ミラー８で反射し、光コネクタ接合部での反射光と可動
ミラー８で反射した参照光とを光ファイバカプラ２で結
合する。そして、可動ミラー８を移動しながら結合した
光強度を光波形モニタ５で観測し、電力計６で干渉電力
を測定することにより、光コネクタ接合部での反射減衰
量を求める。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光通信用部品の評価技
術として、特に高精度、高感度の光コネクタの反射減衰
量を測定する光コネクタ反射減衰量測定方法及び装置に
関する。
術として、特に高精度、高感度の光コネクタの反射減衰
量を測定する光コネクタ反射減衰量測定方法及び装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来における光コネクタ反射減衰量測定
方法を図１４に示す。同図中、０１は光源、０２は光フ
ァイバカプラ、０３はマスタ光コネクタ、０４は被測定
光コネクタ、０５は光パワーメータである。光源０１は
光ファイバカプラ０２の第１の光ファイバ０２Ａに接続
されており、その出射光は第２の光ファイバ０２Ｂと第
３の光ファイバ０２Ｃとに分岐される。測定光が出射さ
れる第３の光ファイバ０２Ｃにはマスタ光コネクタ０３
が接続され、このマスタ光コネクタ０３には被測定光コ
ネクタ０４が接合されている。さらに、被測定光コネク
タ０４は光ファイバコード０７の一端に接合されてお
り、他端には測定対象ではない非測定光コネクタ０８が
存在するため、この非測定コネクタ０８の端面には屈折
率整合剤０６が塗布されている。また、参照光が出射さ
れる第２の光ファイバ０２Ｂの端面にも屈折率整合剤０
６が塗布されている。なお、光パワーメータ０５は光フ
ァイバコネクタ０２の残りの第４の光ファイバ０２Ｄに
接続されており、光ファイバ０２Ｃからの反射光が光パ
ワーメータ０５に入射するようになっている。
方法を図１４に示す。同図中、０１は光源、０２は光フ
ァイバカプラ、０３はマスタ光コネクタ、０４は被測定
光コネクタ、０５は光パワーメータである。光源０１は
光ファイバカプラ０２の第１の光ファイバ０２Ａに接続
されており、その出射光は第２の光ファイバ０２Ｂと第
３の光ファイバ０２Ｃとに分岐される。測定光が出射さ
れる第３の光ファイバ０２Ｃにはマスタ光コネクタ０３
が接続され、このマスタ光コネクタ０３には被測定光コ
ネクタ０４が接合されている。さらに、被測定光コネク
タ０４は光ファイバコード０７の一端に接合されてお
り、他端には測定対象ではない非測定光コネクタ０８が
存在するため、この非測定コネクタ０８の端面には屈折
率整合剤０６が塗布されている。また、参照光が出射さ
れる第２の光ファイバ０２Ｂの端面にも屈折率整合剤０
６が塗布されている。なお、光パワーメータ０５は光フ
ァイバコネクタ０２の残りの第４の光ファイバ０２Ｄに
接続されており、光ファイバ０２Ｃからの反射光が光パ
ワーメータ０５に入射するようになっている。
【０００３】図１４に示した方法では、光源０１の出射
光を光ファイバカプラ０２に入射し、一方の分岐光を被
測定光コネクタ０４が接合したマスタ光コネクタ０３に
入射してその光コネクタ接合面からの反射光を光パワー
メータ０５に入射するようにする。なお、被測定光コネ
クタ０４には光ファイバコード０７を介して非測定光コ
ネクタ０８が接続されているため、その端面に屈折率整
合剤０６を塗布すると共に、第２のファイバ０２Ｂの端
面に屈折率整合剤０６を塗布し、他の反射光をできるだ
け低減するようにする。
光を光ファイバカプラ０２に入射し、一方の分岐光を被
測定光コネクタ０４が接合したマスタ光コネクタ０３に
入射してその光コネクタ接合面からの反射光を光パワー
メータ０５に入射するようにする。なお、被測定光コネ
クタ０４には光ファイバコード０７を介して非測定光コ
ネクタ０８が接続されているため、その端面に屈折率整
合剤０６を塗布すると共に、第２のファイバ０２Ｂの端
面に屈折率整合剤０６を塗布し、他の反射光をできるだ
け低減するようにする。
【０００４】このようにすると、理想的には光パワーメ
ータ０５にはマスタ光コネクタ０３と被測定光コネクタ
０４との光コネクタ接合部からの反射光のみが入射する
ようになる。したがって、光パワーメータ０５で反射光
パワーＰs を測定することにより、下記数１に示す式に
基づいてマスタ光コネクタ０３への入射光パワーＰinに
対しての反射減衰量Γ（ｄＢ）が求められる。
ータ０５にはマスタ光コネクタ０３と被測定光コネクタ
０４との光コネクタ接合部からの反射光のみが入射する
ようになる。したがって、光パワーメータ０５で反射光
パワーＰs を測定することにより、下記数１に示す式に
基づいてマスタ光コネクタ０３への入射光パワーＰinに
対しての反射減衰量Γ（ｄＢ）が求められる。
【０００５】
【数１】
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
測定方法では測定毎に非測定光コネクタ０８端面からの
反射を除去するための作業が必要であり、特に非測定光
コネクタ０８が遠隔地に存在する場合は作業量が増加す
るという問題がある。また、屈折率整合剤０６として最
適な整合剤を選択してもその端面からの反射減衰量が５
０〜６０ｄＢ程度存在するため、反射減衰量測定限界が
これに支配されることになる。また、整合剤と端面の屈
折率の整合が完全である場合においても、直接検波方式
のために、６０ｄＢ以上の測定が困難である。さらに、
非測定光コネクタ０８からの反射を除去できない場合あ
るいは光ファイバコード０７の途中に他の反射点が存在
する場合に反射減衰量が測定できないという問題もあ
る。
測定方法では測定毎に非測定光コネクタ０８端面からの
反射を除去するための作業が必要であり、特に非測定光
コネクタ０８が遠隔地に存在する場合は作業量が増加す
るという問題がある。また、屈折率整合剤０６として最
適な整合剤を選択してもその端面からの反射減衰量が５
０〜６０ｄＢ程度存在するため、反射減衰量測定限界が
これに支配されることになる。また、整合剤と端面の屈
折率の整合が完全である場合においても、直接検波方式
のために、６０ｄＢ以上の測定が困難である。さらに、
非測定光コネクタ０８からの反射を除去できない場合あ
るいは光ファイバコード０７の途中に他の反射点が存在
する場合に反射減衰量が測定できないという問題もあ
る。
【０００７】本発明はこのような従来技術に鑑みてなさ
れたものであり、被測定光コネクタ端面のみの反射減衰
量を他の反射点部分からの影響を受けずに高い測定限界
で測定可能な方法および装置を提供することを目的とす
る。
れたものであり、被測定光コネクタ端面のみの反射減衰
量を他の反射点部分からの影響を受けずに高い測定限界
で測定可能な方法および装置を提供することを目的とす
る。
【０００８】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成する本発
明に係る光コネクタ反射減衰量測定方法は、被測定光コ
ネクタとマスタ光コネクタとの光コネクタ接続部での反
射減衰量を測定する方法であって、光源出射光を測定光
と参照光とに分岐して該測定光を前記マスタ光コネクタ
に接続された被測定光コネクタに導き、当該光コネクタ
接続部での反射光と前記参照光とを結合すると共にこれ
ら反射光と参照光との伝搬光路長を調整して両者を干渉
させ、その干渉信号の強度から前記光コネクタ接続部で
の反射減衰量を測定することを特徴とする。
明に係る光コネクタ反射減衰量測定方法は、被測定光コ
ネクタとマスタ光コネクタとの光コネクタ接続部での反
射減衰量を測定する方法であって、光源出射光を測定光
と参照光とに分岐して該測定光を前記マスタ光コネクタ
に接続された被測定光コネクタに導き、当該光コネクタ
接続部での反射光と前記参照光とを結合すると共にこれ
ら反射光と参照光との伝搬光路長を調整して両者を干渉
させ、その干渉信号の強度から前記光コネクタ接続部で
の反射減衰量を測定することを特徴とする。
【０００９】また、本発明に係る光コネクタ反射減衰量
測定装置は、マスタ光コネクタと被測定光コネクタとの
光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法であっ
て、光源と、該光源に接続されて光源出射光を測定光及
び参照光に分岐する光分岐器と、該光分岐器の測定光出
射側に接続されると共に被測定光コネクタと接合される
マスタ光コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光コ
ネクタとの光コネクタ接合部での反射光と前記参照光と
を結合する光結合器と、該反射光と参照光との伝搬光路
長差を調整する調整機構と、前記光結合器で結合された
反射光と参照光との干渉信号を検出する光波形モニタと
を備えたことを特徴とする。
測定装置は、マスタ光コネクタと被測定光コネクタとの
光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法であっ
て、光源と、該光源に接続されて光源出射光を測定光及
び参照光に分岐する光分岐器と、該光分岐器の測定光出
射側に接続されると共に被測定光コネクタと接合される
マスタ光コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光コ
ネクタとの光コネクタ接合部での反射光と前記参照光と
を結合する光結合器と、該反射光と参照光との伝搬光路
長差を調整する調整機構と、前記光結合器で結合された
反射光と参照光との干渉信号を検出する光波形モニタと
を備えたことを特徴とする。
【００１０】また、本発明に係る他の光コネクタ反射減
衰量測定方法は、マスタ光コネクタと被測定光コネクタ
との光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法で
あって、光源出射光を参照光とＮ個の測定光とに分岐
し、この光分岐部から各端面までの光路長を光源の可干
渉距離程度ずつ変化させた地点に配置されると共に被測
定光コネクタに接続されたＮ個のマスタ光コネクタに前
記Ｎ個の測定光を導き、当該Ｎ個の光コネクタ接続部で
の反射光と前記参照光とを結合すると共に各反射光と参
照光との伝搬光路長差を調整して順次干渉させ、各干渉
信号の強度から各光コネクタ接続部での反射減衰量を測
定することを特徴とする。
衰量測定方法は、マスタ光コネクタと被測定光コネクタ
との光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法で
あって、光源出射光を参照光とＮ個の測定光とに分岐
し、この光分岐部から各端面までの光路長を光源の可干
渉距離程度ずつ変化させた地点に配置されると共に被測
定光コネクタに接続されたＮ個のマスタ光コネクタに前
記Ｎ個の測定光を導き、当該Ｎ個の光コネクタ接続部で
の反射光と前記参照光とを結合すると共に各反射光と参
照光との伝搬光路長差を調整して順次干渉させ、各干渉
信号の強度から各光コネクタ接続部での反射減衰量を測
定することを特徴とする。
【００１１】さらに、本発明に係る他の光コネクタ反射
減衰量測定装置は、マスタ光コネクタと被測定光コネク
タとの光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する装置
であって、光源と、該光源に接続されて光源出射光を参
照光とＮ個の測定光とに分岐する光分岐器と、該光分岐
器の測定光出射側に接続されて当該光分岐部から各端面
までの光路長を光源の可干渉距離程度ずつ変化させた地
点に配置されると共に被測定コネクタと接続されるＮ個
のマスタ光コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光
コネクタとの光コネクタ接続部でのＮ個の反射光と前記
参照光とを結合する光結合器と、該反射光と前記参照光
との伝搬光路長差を調整する調整機構と、前記光結合器
で結合された各反射光と参照光との干渉信号を検出する
光波形モニタとを備えたことを特徴とする。
減衰量測定装置は、マスタ光コネクタと被測定光コネク
タとの光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する装置
であって、光源と、該光源に接続されて光源出射光を参
照光とＮ個の測定光とに分岐する光分岐器と、該光分岐
器の測定光出射側に接続されて当該光分岐部から各端面
までの光路長を光源の可干渉距離程度ずつ変化させた地
点に配置されると共に被測定コネクタと接続されるＮ個
のマスタ光コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光
コネクタとの光コネクタ接続部でのＮ個の反射光と前記
参照光とを結合する光結合器と、該反射光と前記参照光
との伝搬光路長差を調整する調整機構と、前記光結合器
で結合された各反射光と参照光との干渉信号を検出する
光波形モニタとを備えたことを特徴とする。
【００１２】
【作用】本発明では、測定光の光コネクタ接合部での反
射光と参照光とを伝搬光路長差を調整して結合し、光コ
ネクタ接合部での反射光と参照光とを干渉させる。この
ときの干渉信号電力は反射光強度に比例するので、干渉
信号強度から反射減衰量を測定することができる。かか
る場合、光源出射光の可干渉距離内に光コネクタ接合部
以外の反射点が存在しなければ、その反射点での反射光
に影響されることなく、光コネクタ接合部での反射減衰
量を測定することができる。また、本発明では反射光と
参照光とを干渉させるコヒーレント検波方式によるの
で、従来の直接検波方式よりも測定限界が高い。
射光と参照光とを伝搬光路長差を調整して結合し、光コ
ネクタ接合部での反射光と参照光とを干渉させる。この
ときの干渉信号電力は反射光強度に比例するので、干渉
信号強度から反射減衰量を測定することができる。かか
る場合、光源出射光の可干渉距離内に光コネクタ接合部
以外の反射点が存在しなければ、その反射点での反射光
に影響されることなく、光コネクタ接合部での反射減衰
量を測定することができる。また、本発明では反射光と
参照光とを干渉させるコヒーレント検波方式によるの
で、従来の直接検波方式よりも測定限界が高い。
【００１３】さらに、マスタ光コネクタをＮ個配した場
合、Ｎ個を可干渉距離程度ずつ変化させた地点に配置
し、各光コネクタ接合部からの反射光と参照光とを結合
すると、参照光と各反射光とを順次干渉させることによ
り各干渉信号からＮ個の被測定光コネクタの反射減衰量
を別個に測定することができる。
合、Ｎ個を可干渉距離程度ずつ変化させた地点に配置
し、各光コネクタ接合部からの反射光と参照光とを結合
すると、参照光と各反射光とを順次干渉させることによ
り各干渉信号からＮ個の被測定光コネクタの反射減衰量
を別個に測定することができる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
【００１５】図１には第１の実施例を示す。図中、１は
光源、２は２×２の光ファイバカプラ、３はマスタ光コ
ネクタ、４は被測定光コネクタ、５は光波形モニタ、６
は電力計、７はレンズ、８は可動ミラーである。光源１
は光ファイバカプラ２の第１の光ファイバ２Ａに接続さ
れており、その出射光は第２の光ファイバ２Ｂへの参照
光と第３の光ファイバ２Ｃへの測定光とに分岐されるよ
うになっている。ここで、第３の光ファイバ２Ｃにはマ
スタ光コネクタ３が接続されており、このマスタ光コネ
クタ３には被測定光コネクタ４が接合されている。一
方、第２の光ファイバ２Ｂの端面にはレンズ７を介して
光軸方向に移動自在の可動ミラー８が光学的に結合され
ており、第２の光ファイバ２Ｂの端面から出射した参照
光は可動ミラー８で反射されて再び第２の光ファイバ２
Ｂの端面から入射するようになっている。そして、この
反射した参照光と、マスタ光コネクタ３と被測定光コネ
クタ４との光コネクタ接合部での反射光とは光ファイバ
カプラ２で結合されて第４の光ファイバ２Ｄに出射する
ようになっており、また、この光ファイバ２Ｄには光波
形モニタ５及び電力計６が接続されている。
光源、２は２×２の光ファイバカプラ、３はマスタ光コ
ネクタ、４は被測定光コネクタ、５は光波形モニタ、６
は電力計、７はレンズ、８は可動ミラーである。光源１
は光ファイバカプラ２の第１の光ファイバ２Ａに接続さ
れており、その出射光は第２の光ファイバ２Ｂへの参照
光と第３の光ファイバ２Ｃへの測定光とに分岐されるよ
うになっている。ここで、第３の光ファイバ２Ｃにはマ
スタ光コネクタ３が接続されており、このマスタ光コネ
クタ３には被測定光コネクタ４が接合されている。一
方、第２の光ファイバ２Ｂの端面にはレンズ７を介して
光軸方向に移動自在の可動ミラー８が光学的に結合され
ており、第２の光ファイバ２Ｂの端面から出射した参照
光は可動ミラー８で反射されて再び第２の光ファイバ２
Ｂの端面から入射するようになっている。そして、この
反射した参照光と、マスタ光コネクタ３と被測定光コネ
クタ４との光コネクタ接合部での反射光とは光ファイバ
カプラ２で結合されて第４の光ファイバ２Ｄに出射する
ようになっており、また、この光ファイバ２Ｄには光波
形モニタ５及び電力計６が接続されている。
【００１６】図１に示す装置を用いて光コネクタ接合部
の反射減衰量を測定するには、光源１からの出射光を光
ファイバカプラ２で分岐し、マスタ光コネクタ３と被測
定光コネクタ４との光コネクタ接合部での反射光と可動
ミラー８で反射した参照光とを光ファイバカプラ２で結
合して光波形モニタ５に入射させる。そして、可動ミラ
ー８を移動させながら光強度を光波形モニタ５で観測
し、電力計６で干渉信号の電力を測定する。
の反射減衰量を測定するには、光源１からの出射光を光
ファイバカプラ２で分岐し、マスタ光コネクタ３と被測
定光コネクタ４との光コネクタ接合部での反射光と可動
ミラー８で反射した参照光とを光ファイバカプラ２で結
合して光波形モニタ５に入射させる。そして、可動ミラ
ー８を移動させながら光強度を光波形モニタ５で観測
し、電力計６で干渉信号の電力を測定する。
【００１７】このときの光波形モニタ５及び電力計６の
出力を図２及び図３に示す。両図に示すように、その出
力は、光ファイバカプラ２の光分岐点と可動ミラー８の
距離が光ファイバカプラ２の光分岐点からマスタ光コネ
クタ３の端面までの距離と一致した地点で最大値を示
し、光源１の可干渉距離Ｌc 程度の幅をもつ。なお、可
干渉距離Ｌc はファブリペロー型レーザダイオードで１
ｃｍ程度、発光ダイオードで０．１ｍｍ程度である。
出力を図２及び図３に示す。両図に示すように、その出
力は、光ファイバカプラ２の光分岐点と可動ミラー８の
距離が光ファイバカプラ２の光分岐点からマスタ光コネ
クタ３の端面までの距離と一致した地点で最大値を示
し、光源１の可干渉距離Ｌc 程度の幅をもつ。なお、可
干渉距離Ｌc はファブリペロー型レーザダイオードで１
ｃｍ程度、発光ダイオードで０．１ｍｍ程度である。
【００１８】ここで、参照光の電界振幅をＥ0 、マスタ
光コネクタ３と被測定光コネクタ４との接続部への入射
光の電界振幅をＥ1 、接続部での反射率をＲとすると、
反射光の電界振幅は√Ｒ・Ｅ1 となり、波形モニタ５の
出力の干渉信号強度Ｉは√Ｒ・Ｅ0 ・Ｅ1 に比例し、干
渉信号電力ＰはＲＥ0 2Ｅ1 2に比例し且つ接合部の反射率
Ｒに比例する。したがって、干渉信号の最大値Ｐmax を
測定し、１００％反射率のときの信号電力Ｐmax （１０
０％）に対しての反射減衰量Γ（ｄＢ）は次の数２に示
す式で求められる。
光コネクタ３と被測定光コネクタ４との接続部への入射
光の電界振幅をＥ1 、接続部での反射率をＲとすると、
反射光の電界振幅は√Ｒ・Ｅ1 となり、波形モニタ５の
出力の干渉信号強度Ｉは√Ｒ・Ｅ0 ・Ｅ1 に比例し、干
渉信号電力ＰはＲＥ0 2Ｅ1 2に比例し且つ接合部の反射率
Ｒに比例する。したがって、干渉信号の最大値Ｐmax を
測定し、１００％反射率のときの信号電力Ｐmax （１０
０％）に対しての反射減衰量Γ（ｄＢ）は次の数２に示
す式で求められる。
【００１９】
【数２】
【００２０】図１の装置によると、このようにして反射
減衰量を求めることができるが、コヒーレント検波であ
るので、光コネクタ接合部以外の反射点があっても可干
渉距離外にあるようにすれば影響を受けることはない。
例えば被測定光コネクタ４以降に反射点があっても可干
渉距離外であれば問題はなく、また、第２の光ファイバ
２Ｂの端面で反射する参照光も可干渉距離外とすれば問
題はない。
減衰量を求めることができるが、コヒーレント検波であ
るので、光コネクタ接合部以外の反射点があっても可干
渉距離外にあるようにすれば影響を受けることはない。
例えば被測定光コネクタ４以降に反射点があっても可干
渉距離外であれば問題はなく、また、第２の光ファイバ
２Ｂの端面で反射する参照光も可干渉距離外とすれば問
題はない。
【００２１】また、従来例の直接検波方式では測定信号
が光源出射パワーの一乗に比例するのに対して、コヒー
レント検波では測定信号が反射光パワーＥ1 2と参照光パ
ワーＥ0 2との積、つまり、光源出射光パワーの二乗に比
例する。したがって、この理由から本発明では高い測定
感度で反射減衰量を測定できる。
が光源出射パワーの一乗に比例するのに対して、コヒー
レント検波では測定信号が反射光パワーＥ1 2と参照光パ
ワーＥ0 2との積、つまり、光源出射光パワーの二乗に比
例する。したがって、この理由から本発明では高い測定
感度で反射減衰量を測定できる。
【００２２】さらに、コヒーレント検波では原理的にシ
ョットノイズ限界までの測定感度向上が可能であり、反
射率に換算したショットノイズレベルΓshot（ｄＢ）は
次の数３に示す式で表される。なお、式中、ｈはプラン
ク定数、νは光周波数、Ｂは受信器の帯域、ηは光検出
器の変換効率、Ｐは１００％反射光パワーを示す。
ョットノイズ限界までの測定感度向上が可能であり、反
射率に換算したショットノイズレベルΓshot（ｄＢ）は
次の数３に示す式で表される。なお、式中、ｈはプラン
ク定数、νは光周波数、Ｂは受信器の帯域、ηは光検出
器の変換効率、Ｐは１００％反射光パワーを示す。
【００２３】
【数３】
【００２４】ここで、ν＝２３０ＴＨｚ（波長λ＝１．
３μｍ）、Ｂ＝１００Ｈｚ、η＝０．７５、Ｐ＝０．１
ｍＷのとき、Γshot＝１２７ｄＢであり、１３０ｄＢ程
度の反射減衰量を測定可能であることがわかる。
３μｍ）、Ｂ＝１００Ｈｚ、η＝０．７５、Ｐ＝０．１
ｍＷのとき、Γshot＝１２７ｄＢであり、１３０ｄＢ程
度の反射減衰量を測定可能であることがわかる。
【００２５】図４は第２の実施例を示すものであり、図
１と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は光ファイバカプラ２の第２の光ファイ
バ２Ｂを円筒型ピエゾ電歪素子（以下、ピエゾ素子とい
う）９に巻き付け、その端面を開放状態としている以外
は図１と同一の構成を有する。
１と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は光ファイバカプラ２の第２の光ファイ
バ２Ｂを円筒型ピエゾ電歪素子（以下、ピエゾ素子とい
う）９に巻き付け、その端面を開放状態としている以外
は図１と同一の構成を有する。
【００２６】本実施例では、参照光の反射を第２の光フ
ァイバ２Ｂの端面で行うようにし、また、参照光の光路
長をピエゾ素子９により行うようにしている。すなわ
ち、ピエゾ素子９は電圧を印加すると半径方向に膨張す
るものであり、この膨張により光ファイバ２Ｂを長手方
向に伸ばすことにより、光路長を調整するものである。
本実施例ではピエゾ素子９、当該ピエゾ素子９の直径、
光ファイバ２Ｂの巻数、印加電圧の設定によりΔＬ＝
０．１ｍｍ程度の光ファイバ長の調整が可能であり、石
英系光ファイバの屈折率ｎは約１．５なので、ｎΔＬ＝
１．５×ΔＬ程度の光路長調整が可能である。したがっ
て、光源１として可干渉距離０．１ｍｍ以下の発光ダイ
オードを選択し、光ファイバカプラ２の分岐点から第２
の光ファイバ２Ｂの端面まで、及びマスタ光コネクタ３
の端面までの光ファイバ長を０．１ｍｍ以下の精度で揃
えておくことにより、第１の実施例と同様に、図２、図
３で説明した結果が得られる。
ァイバ２Ｂの端面で行うようにし、また、参照光の光路
長をピエゾ素子９により行うようにしている。すなわ
ち、ピエゾ素子９は電圧を印加すると半径方向に膨張す
るものであり、この膨張により光ファイバ２Ｂを長手方
向に伸ばすことにより、光路長を調整するものである。
本実施例ではピエゾ素子９、当該ピエゾ素子９の直径、
光ファイバ２Ｂの巻数、印加電圧の設定によりΔＬ＝
０．１ｍｍ程度の光ファイバ長の調整が可能であり、石
英系光ファイバの屈折率ｎは約１．５なので、ｎΔＬ＝
１．５×ΔＬ程度の光路長調整が可能である。したがっ
て、光源１として可干渉距離０．１ｍｍ以下の発光ダイ
オードを選択し、光ファイバカプラ２の分岐点から第２
の光ファイバ２Ｂの端面まで、及びマスタ光コネクタ３
の端面までの光ファイバ長を０．１ｍｍ以下の精度で揃
えておくことにより、第１の実施例と同様に、図２、図
３で説明した結果が得られる。
【００２７】図５は第３の実施例を示すものであり、図
１と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は光ファイバカプラ２の第２の光ファイ
バ２Ｂを温度コントローラ１０内に配置し、その端面を
開放状態としている以外は図１と同一の構成を有してい
る。
１と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は光ファイバカプラ２の第２の光ファイ
バ２Ｂを温度コントローラ１０内に配置し、その端面を
開放状態としている以外は図１と同一の構成を有してい
る。
【００２８】本実施例では、参照光の反射を第２の光フ
ァイバ２Ｂの端面で行うようにし、また、参照光の光路
長を温度コントローラ１０により行うようにしている。
すなわち、温度コントローラ１０で光ファイバ２Ｂの温
度を変化することにより、その屈折率を変化させて光路
長を調整するものである。
ァイバ２Ｂの端面で行うようにし、また、参照光の光路
長を温度コントローラ１０により行うようにしている。
すなわち、温度コントローラ１０で光ファイバ２Ｂの温
度を変化することにより、その屈折率を変化させて光路
長を調整するものである。
【００２９】石英系光ファイバの屈折率温度依存性（１
／Ｌ）・（ｄｎ／ｄＴ）は１０-5程度であり、ガラスの
線膨張係数（１／Ｌ）・（ｄＬ／ｄＴ）は１０-6程度で
あるので、屈折率温度依存性が光路長温度依存性をほぼ
支配する。したがって、光ファイバ２ＢのうちＬ＝１ｍ
の温度をΔＴ＝１０℃変化させることにより、次の数４
で示すように０．１５ｍｍ程度の光路長調整が可能であ
り、これにより第１の実施例と同様に、図２、図３で説
明したような結果が得られる。
／Ｌ）・（ｄｎ／ｄＴ）は１０-5程度であり、ガラスの
線膨張係数（１／Ｌ）・（ｄＬ／ｄＴ）は１０-6程度で
あるので、屈折率温度依存性が光路長温度依存性をほぼ
支配する。したがって、光ファイバ２ＢのうちＬ＝１ｍ
の温度をΔＴ＝１０℃変化させることにより、次の数４
で示すように０．１５ｍｍ程度の光路長調整が可能であ
り、これにより第１の実施例と同様に、図２、図３で説
明したような結果が得られる。
【００３０】
【数４】
【００３１】図６は第４の実施例を示すものであり、図
４，５と同一部材には同一符号を付してある。同図に示
すように、本実施例は第２又は第３の実施例において、
光路長調整精度に余裕をとるための例であり、光ファイ
バ２Ｂの端面に厚さｔの多重反射用光学薄膜１１を張り
付けてある以外は第２又は第３の実施例と同一である。
なお、図中のピエゾ素子９及び温度コントローラ１０は
何れか一方を採用するようにする。
４，５と同一部材には同一符号を付してある。同図に示
すように、本実施例は第２又は第３の実施例において、
光路長調整精度に余裕をとるための例であり、光ファイ
バ２Ｂの端面に厚さｔの多重反射用光学薄膜１１を張り
付けてある以外は第２又は第３の実施例と同一である。
なお、図中のピエゾ素子９及び温度コントローラ１０は
何れか一方を採用するようにする。
【００３２】本実施例において、薄膜１１と光ファイバ
２Ｂの端面との接合面、及び薄膜１１が空気に接する面
での反射率をそれぞれ５０％，１００％とすると、参照
光は２つの面で多重反射し、図７に示すように光路長が
２ｎｔずつ異なる点と干渉を起こすことが可能である。
したがって、第２又は第３の実施例で調整可能な光路長
調整距離０．１５ｍｍ毎に参照光が存在するように、薄
膜１１の厚さｔを２ｎｔ＝０．１５ｍｍとなるように選
択すれば、調整可能な光路長を拡大することができる。
なお、Ｎ番目の参照光は入射光の（０．５）N の電力と
なるが、元来、測定限界が１３０ｄＢと高いので、１０
番目の反射光を参照光として測定結果が、（０．５）10
＝１／１０００＝−３０ｄＢとなったとしても、１００
ｄＢの反射減衰量測定が可能である。
２Ｂの端面との接合面、及び薄膜１１が空気に接する面
での反射率をそれぞれ５０％，１００％とすると、参照
光は２つの面で多重反射し、図７に示すように光路長が
２ｎｔずつ異なる点と干渉を起こすことが可能である。
したがって、第２又は第３の実施例で調整可能な光路長
調整距離０．１５ｍｍ毎に参照光が存在するように、薄
膜１１の厚さｔを２ｎｔ＝０．１５ｍｍとなるように選
択すれば、調整可能な光路長を拡大することができる。
なお、Ｎ番目の参照光は入射光の（０．５）N の電力と
なるが、元来、測定限界が１３０ｄＢと高いので、１０
番目の反射光を参照光として測定結果が、（０．５）10
＝１／１０００＝−３０ｄＢとなったとしても、１００
ｄＢの反射減衰量測定が可能である。
【００３３】したがって、本実施例では、光ファイバカ
プラ２の分岐点からマスタ光コネクタ３の端面まで、及
び光ファイバ２Ｂの路面までのそれぞれ光ファイバ長を
１ｍｍ以内の精度で調整すれば、ピエゾ素子９又は温度
コントローラ１０による光路長調整により、マスタ光コ
ネクタ３端面での反射光を１０番目以内の多重反射した
参照光と干渉させることができ、反射減衰量を測定でき
る。
プラ２の分岐点からマスタ光コネクタ３の端面まで、及
び光ファイバ２Ｂの路面までのそれぞれ光ファイバ長を
１ｍｍ以内の精度で調整すれば、ピエゾ素子９又は温度
コントローラ１０による光路長調整により、マスタ光コ
ネクタ３端面での反射光を１０番目以内の多重反射した
参照光と干渉させることができ、反射減衰量を測定でき
る。
【００３４】図８は第５の実施例を示すものであり、図
６と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は第４の実施例と同様に、第２又は第３
の実施例において、光路長調整に余裕をとるための例で
あり、第３の光ファイバ２Ｃの一部を複屈折光ファイバ
１２で置き換えてある以外は第４の実施例と同一であ
る。
６と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は第４の実施例と同様に、第２又は第３
の実施例において、光路長調整に余裕をとるための例で
あり、第３の光ファイバ２Ｃの一部を複屈折光ファイバ
１２で置き換えてある以外は第４の実施例と同一であ
る。
【００３５】本実施例では、複屈折光ファイバ１２の２
つの偏光軸で屈折率が異なることを利用し、光ファイバ
カプラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面まで、及び
マスタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ長の調整精
度にさらに余裕をとっている。
つの偏光軸で屈折率が異なることを利用し、光ファイバ
カプラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面まで、及び
マスタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ長の調整精
度にさらに余裕をとっている。
【００３６】複屈折光ファイバ１２の複屈折率は２つの
偏光軸の屈折率差であり、Ｂ＝ｎ1 −ｎ2 ≒１０-4程度
で、長さＬの複屈折光ファイバではｎ1 ・Ｌとｎ2 ・Ｌ
との２つの光路長が存在し、Ｌ＝１ｍのとき２つの光路
長差はｎ1 ・Ｌ−ｎ2 ・Ｌ＝ＢＬ＝１００μｍとなる。
例えば、長さＬ1 ＝１ｍ、Ｌ2 ＝２ｍの複屈折光ファイ
バ１２を２段接続した場合、光路長の組み合わせはｎ2
・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 、ｎ1 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ＝（ｎ2
・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋１００μｍ、ｎ2 ・Ｌ 1 ＋ｎ1
・Ｌ2 ＝（ｎ2 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋２００μｍ、ｎ
1 ・Ｌ1 ＋ｎ1 ・Ｌ2 ＝（ｎ2 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋
３００μｍの１００μｍ間隔の４つとなる。このように
長さを適当に選んだ複屈折光ファイバ１２によりある間
隔でいくつかの光路長で干渉を起こす可能性がある。し
たがって、これにより光ファイバ長の調整精度に余裕を
とることができる。
偏光軸の屈折率差であり、Ｂ＝ｎ1 −ｎ2 ≒１０-4程度
で、長さＬの複屈折光ファイバではｎ1 ・Ｌとｎ2 ・Ｌ
との２つの光路長が存在し、Ｌ＝１ｍのとき２つの光路
長差はｎ1 ・Ｌ−ｎ2 ・Ｌ＝ＢＬ＝１００μｍとなる。
例えば、長さＬ1 ＝１ｍ、Ｌ2 ＝２ｍの複屈折光ファイ
バ１２を２段接続した場合、光路長の組み合わせはｎ2
・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 、ｎ1 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ＝（ｎ2
・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋１００μｍ、ｎ2 ・Ｌ 1 ＋ｎ1
・Ｌ2 ＝（ｎ2 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋２００μｍ、ｎ
1 ・Ｌ1 ＋ｎ1 ・Ｌ2 ＝（ｎ2 ・Ｌ1 ＋ｎ2 ・Ｌ2 ）＋
３００μｍの１００μｍ間隔の４つとなる。このように
長さを適当に選んだ複屈折光ファイバ１２によりある間
隔でいくつかの光路長で干渉を起こす可能性がある。し
たがって、これにより光ファイバ長の調整精度に余裕を
とることができる。
【００３７】図９は第６の実施例を示すものであり、図
６と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は第４の実施例と同様に、第２又は第３
の実施例において、光路長調整に余裕をとるための例で
あり、第３の光ファイバ２Ｃを途中で一旦切断すると共
に、Ｖ溝光ファイバ接続器１３で接続し、２つの光ファ
イバ端面間の間隔を調整することにより、光ファイバカ
プラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面まで、及びマ
スタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ長の調整精度
にさらに余裕をとるようにした以外は、第４の実施例と
同一である。
６と同一部材には同一符号を付してある。同図に示すよ
うに、本実施例は第４の実施例と同様に、第２又は第３
の実施例において、光路長調整に余裕をとるための例で
あり、第３の光ファイバ２Ｃを途中で一旦切断すると共
に、Ｖ溝光ファイバ接続器１３で接続し、２つの光ファ
イバ端面間の間隔を調整することにより、光ファイバカ
プラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面まで、及びマ
スタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ長の調整精度
にさらに余裕をとるようにした以外は、第４の実施例と
同一である。
【００３８】Ｖ溝光ファイバ接続器１３の光ファイバ端
面間隔をｄとすると、伝搬光の損失は下記数５に示す式
で表される。
面間隔をｄとすると、伝搬光の損失は下記数５に示す式
で表される。
【００３９】
【数５】
【００４０】これによると、ｄ＝１ｍｍの長さ調整をし
た場合でも損失は約６ｄＢ、往復で１２ｄＢであり、反
射減衰量測定限界を１２ｄＢ劣化させるだけで済む。な
お、接合部に屈折率整合剤を塗布すればさらに劣化を抑
えることができる。
た場合でも損失は約６ｄＢ、往復で１２ｄＢであり、反
射減衰量測定限界を１２ｄＢ劣化させるだけで済む。な
お、接合部に屈折率整合剤を塗布すればさらに劣化を抑
えることができる。
【００４１】第７の実施例として、第２又は第３の実施
例において、光ファイバカプラ２の分岐点から光ファイ
バ２Ｂの端面まで、及びマスタ光コネクタ３の端面まで
の光ファイバ長さ調整精度に余裕をとるための他の例を
説明する。
例において、光ファイバカプラ２の分岐点から光ファイ
バ２Ｂの端面まで、及びマスタ光コネクタ３の端面まで
の光ファイバ長さ調整精度に余裕をとるための他の例を
説明する。
【００４２】本実施例は光源１（図４，５参照）として
ファブリペロー型レーザダイオードを用いるものであ
る。ファブリペロ型レーザダイオードの光スペクトル
は、図１０に示すようないくつかの縦モードを有するも
のであり、これを光源１として、図１に示す構成で可動
ミラー８を移動した場合、その位置に対して干渉信号電
力は図１１に示すように、１ｃｍ程度にわたって数１０
０μｍ間隔でピークを示す。したがって、本実施例では
光ファイバカプラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面
まで、及びマスタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ
長をそれぞれ１ｃｍの精度で調整すれば、第２又は第３
の実施例による光路長調整機構（ピエゾ素子９又は温度
コントローラ１０）の調整可能範囲に必ず１つのピーク
が存在し、そのピーク値を用いて反射減衰量が測定可能
である。
ファブリペロー型レーザダイオードを用いるものであ
る。ファブリペロ型レーザダイオードの光スペクトル
は、図１０に示すようないくつかの縦モードを有するも
のであり、これを光源１として、図１に示す構成で可動
ミラー８を移動した場合、その位置に対して干渉信号電
力は図１１に示すように、１ｃｍ程度にわたって数１０
０μｍ間隔でピークを示す。したがって、本実施例では
光ファイバカプラ２の分岐点から光ファイバ２Ｂの端面
まで、及びマスタ光コネクタ３の端面までの光ファイバ
長をそれぞれ１ｃｍの精度で調整すれば、第２又は第３
の実施例による光路長調整機構（ピエゾ素子９又は温度
コントローラ１０）の調整可能範囲に必ず１つのピーク
が存在し、そのピーク値を用いて反射減衰量が測定可能
である。
【００４３】以上、第１〜第７の実施例について説明し
たが、第２又は第３の実施例のピエゾ素子９及び温度コ
ントローラ１０は参照光ではなく光コネクタ接合部の反
射光が伝搬する光ファイバ２Ｃ側に設けてもよく、ま
た、第４又は第５の実施例の複屈折光ファイバ１１及び
Ｖ溝光ファイバ接続器１２は反射光ではなく参照光が伝
搬する光ファイバ２Ｂ側に設けてもよい。さらに第１〜
第７の実施例は互いに組合せることも可能である。な
お、以上は被測定光コネクタ４が１つの例を示したが、
次に、Ｎ個の被測定光コネクタを同時に検査できる例を
示す。
たが、第２又は第３の実施例のピエゾ素子９及び温度コ
ントローラ１０は参照光ではなく光コネクタ接合部の反
射光が伝搬する光ファイバ２Ｃ側に設けてもよく、ま
た、第４又は第５の実施例の複屈折光ファイバ１１及び
Ｖ溝光ファイバ接続器１２は反射光ではなく参照光が伝
搬する光ファイバ２Ｂ側に設けてもよい。さらに第１〜
第７の実施例は互いに組合せることも可能である。な
お、以上は被測定光コネクタ４が１つの例を示したが、
次に、Ｎ個の被測定光コネクタを同時に検査できる例を
示す。
【００４４】図１２は第８の実施例を示すものであり、
図１と同一部材には同一符号を付して重複する説明は省
略する。本実施例は測定光が出射する光ファイバカプラ
２の第３の光ファイバ２Ｃに１×Ｎ光分岐器１４を接続
して測定光をＮ個に分岐し、各分岐光が出射するＮ本の
出射光ファイバ１５に、それぞれ被測定光コネクタ４が
接合されるマスタ光コネクタ３を接続したものである。
ここで、Ｎ個の各マスタ光コネクタ３は、光ファイバカ
プラ２の分岐点から測長して光源１の可干渉距離Ｌc 程
度であるΔＬずつ光路長を変化させてある。因みに、可
干渉距離は上述したように、ファブリペロー型レーザダ
イオードで１ｃｍ程度、発光ダイオードで０．１ｍｍ程
度である。
図１と同一部材には同一符号を付して重複する説明は省
略する。本実施例は測定光が出射する光ファイバカプラ
２の第３の光ファイバ２Ｃに１×Ｎ光分岐器１４を接続
して測定光をＮ個に分岐し、各分岐光が出射するＮ本の
出射光ファイバ１５に、それぞれ被測定光コネクタ４が
接合されるマスタ光コネクタ３を接続したものである。
ここで、Ｎ個の各マスタ光コネクタ３は、光ファイバカ
プラ２の分岐点から測長して光源１の可干渉距離Ｌc 程
度であるΔＬずつ光路長を変化させてある。因みに、可
干渉距離は上述したように、ファブリペロー型レーザダ
イオードで１ｃｍ程度、発光ダイオードで０．１ｍｍ程
度である。
【００４５】図９の装置で光コネクタ反射減衰量を測定
するには、光源１の出射光を光ファイバカプラ２で参照
光と測定光に分岐し、参照光は光ファイバ２Ｂの端面か
らレンズ７を介して可動ミラー８で反射させ、測定光は
１×Ｎ光分岐器１４でＮ分割してＮ個のマスタ光コネク
タ３と被測定光コネクタ４との接合部に入射するように
する。これにより、Ｎ個の光コネクタ接合部の反射光は
屈折率をｎとすると伝搬光路長の差２ｎΔＬずつの遅延
をもって１×Ｎ光分岐器１４を逆行して光ファイバカプ
ラ２で参照光と結合される。そして、可動ミラー８によ
り参照光の伝搬光路長を変化させてゆくと、参照光は光
ファイバカプラ２の光分岐部からの光路長が一致した反
射光と順次干渉し、光波形モニタ５の後段に設けられた
電力計６の出力は図１３に示すような結果となる。
するには、光源１の出射光を光ファイバカプラ２で参照
光と測定光に分岐し、参照光は光ファイバ２Ｂの端面か
らレンズ７を介して可動ミラー８で反射させ、測定光は
１×Ｎ光分岐器１４でＮ分割してＮ個のマスタ光コネク
タ３と被測定光コネクタ４との接合部に入射するように
する。これにより、Ｎ個の光コネクタ接合部の反射光は
屈折率をｎとすると伝搬光路長の差２ｎΔＬずつの遅延
をもって１×Ｎ光分岐器１４を逆行して光ファイバカプ
ラ２で参照光と結合される。そして、可動ミラー８によ
り参照光の伝搬光路長を変化させてゆくと、参照光は光
ファイバカプラ２の光分岐部からの光路長が一致した反
射光と順次干渉し、光波形モニタ５の後段に設けられた
電力計６の出力は図１３に示すような結果となる。
【００４６】ここで参照光の電界振幅をＥ0 、Ｎ番目の
マスタ光コネクタと被測定光コネクタ接続部への入射光
の電界振幅をＥN 、接続部の反射率をＲN とすると、反
射光の電界振幅は√ＲN ・ＥN となり、波形モニタの干
渉信号強度ＩN は√ＲN ・Ｅ 0 ・ＥN に比例し、干渉信
号電力ＰがＲN Ｅ0 2ＥN 2 に比例し接合部の反射率Ｒ N
に比例する。したがって、各干渉信号の最大値ＰNmaxを
測定すると、各マスタ光コネクタ３で１００％反射率の
ときの信号電力ＰNmax（１００％）に対して反射減衰量
ΓN （ｄＢ）は次の数６に示す式で求められる。
マスタ光コネクタと被測定光コネクタ接続部への入射光
の電界振幅をＥN 、接続部の反射率をＲN とすると、反
射光の電界振幅は√ＲN ・ＥN となり、波形モニタの干
渉信号強度ＩN は√ＲN ・Ｅ 0 ・ＥN に比例し、干渉信
号電力ＰがＲN Ｅ0 2ＥN 2 に比例し接合部の反射率Ｒ N
に比例する。したがって、各干渉信号の最大値ＰNmaxを
測定すると、各マスタ光コネクタ３で１００％反射率の
ときの信号電力ＰNmax（１００％）に対して反射減衰量
ΓN （ｄＢ）は次の数６に示す式で求められる。
【００４７】
【数６】
【００４８】コヒーレント検波では上述したように１３
０ｄＢ程度の反射減衰量を測定可能であるが、Ｎ個の光
コネクタの測定では反射光は往復でパワーがＮ2 分の１
に低下する。しかし、例えばＮ＝１２８のときの信号は
Ｎ＝１の場合と比較して（１／１２８2 ）＝６×１０-5
＝−４２ｄＢとなり、依然として９０ｄＢ程度の反射減
衰測定が可能であり、従来の測定限界である６０ｄＢを
はるかに上回る。なお、本実施例に上述した第２〜第７
の実施例を応用すれば光ファイバ長さの調整精度に余裕
をとることができるようになることは言うまでもない。
０ｄＢ程度の反射減衰量を測定可能であるが、Ｎ個の光
コネクタの測定では反射光は往復でパワーがＮ2 分の１
に低下する。しかし、例えばＮ＝１２８のときの信号は
Ｎ＝１の場合と比較して（１／１２８2 ）＝６×１０-5
＝−４２ｄＢとなり、依然として９０ｄＢ程度の反射減
衰測定が可能であり、従来の測定限界である６０ｄＢを
はるかに上回る。なお、本実施例に上述した第２〜第７
の実施例を応用すれば光ファイバ長さの調整精度に余裕
をとることができるようになることは言うまでもない。
【００４９】
【発明の効果】以上説明したように、光源出射光を測定
光と参照光とに分岐して測定光をマスタ光コネクタに送
ると共に、光コネクタ接合部での反射光と参照光とを結
合して干渉するようにし、且つ光源出射光の可干渉距離
内に被測定光コネクタ端面以外の反射点が存在しないよ
うにすれば、被測定光コネクタ端面の反射光と参照光の
伝搬光路長差を調整することにより、被測定光コネクタ
端面の反射光のみを参照光と干渉させることができ、干
渉信号電力は反射光強度に比例するので、干渉信号強度
から反射減衰量が他の反射点の影響を受けずに高い測定
限界で測定することができる。また、さらに、測定光を
Ｎ個に分岐してこの分岐光を、光源の可干渉距離ずつ変
化させた地点に配置したマスタ光コネクタに送ると共
に、各光コネクタ接合部での反射光と参照光とを結合す
るようにすれば、参照光とＮ個の反射光とを一度の伝搬
光路長差調整で順次干渉させ、干渉信号からＮ個の被測
定光コネクタの反射減衰量を別個に測定することによ
り、非測定コネクタ端面の処理なしで、且つ一度の測定
操作で多数の光コネクタの反射減衰量測定が可能とな
る。
光と参照光とに分岐して測定光をマスタ光コネクタに送
ると共に、光コネクタ接合部での反射光と参照光とを結
合して干渉するようにし、且つ光源出射光の可干渉距離
内に被測定光コネクタ端面以外の反射点が存在しないよ
うにすれば、被測定光コネクタ端面の反射光と参照光の
伝搬光路長差を調整することにより、被測定光コネクタ
端面の反射光のみを参照光と干渉させることができ、干
渉信号電力は反射光強度に比例するので、干渉信号強度
から反射減衰量が他の反射点の影響を受けずに高い測定
限界で測定することができる。また、さらに、測定光を
Ｎ個に分岐してこの分岐光を、光源の可干渉距離ずつ変
化させた地点に配置したマスタ光コネクタに送ると共
に、各光コネクタ接合部での反射光と参照光とを結合す
るようにすれば、参照光とＮ個の反射光とを一度の伝搬
光路長差調整で順次干渉させ、干渉信号からＮ個の被測
定光コネクタの反射減衰量を別個に測定することによ
り、非測定コネクタ端面の処理なしで、且つ一度の測定
操作で多数の光コネクタの反射減衰量測定が可能とな
る。
【図１】第１の実施例の構成図である。
【図２】光波形モニタの出力の一例を示す説明図であ
る。
る。
【図３】電力計の出力の一例を示す説明図である。
【図４】第２の実施例を示す構成図である。
【図５】第３の実施例を示す構成図である。
【図６】第４の実施例を示す構成図である。
【図７】第４の実施例の作用を示す説明図である。
【図８】第５の実施例を示す構成図である。
【図９】第６の実施例を示す構成図である。
【図１０】ファブリペロー型レーザダイオードの光スペ
クトルを示す図である。
クトルを示す図である。
【図１１】第７の実施例の干渉信号電力を示す説明図で
ある。
ある。
【図１２】第８の実施例を示す構成図である。
【図１３】第８の実施例の干渉信号電力を示す説明図で
ある。
ある。
【図１４】従来技術を示す構成図である。
１ 光源 ２ 光ファイバカプラ ２Ａ〜２Ｄ 光ファイバ ３ マスタ光コネクタ ４ 被測定光コネクタ ５ 光波形モニタ ６ 電力計 ７ レンズ ８ 可動ミラー ９ 円筒型ピエゾ電歪素子 １０ 温度コントローラ １１ 多重反射用光学薄膜
Claims (4)
- 【請求項１】 マスタ光コネクタと被測定光コネクタと
の光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法であ
って、 光源出射光を測定光と参照光とに分岐して該測定光を前
記被測定光コネクタに接続されたマスタ光コネクタに導
き、当該光コネクタ接続部での反射光と前記参照光とを
結合すると共にこれら反射光と参照光との伝搬光路長を
調整して両者を干渉させ、 その干渉信号の強度から前記光コネクタ接続部での反射
減衰量を測定することを特徴とする光コネクタ反射減衰
量測定方法。 - 【請求項２】 マスタ光コネクタと被測定光コネクタと
の光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する装置であ
って、 光源と、該光源に接続されて光源出射光を測定光及び参
照光に分岐する光分岐器と、該光分岐器の測定光出射側
に接続されると共に被測定光コネクタと接合されるマス
タ光コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光コネク
タとの光コネクタ接合部での反射光と前記参照光とを結
合する光結合器と、該反射光と参照光との伝搬光路長差
を調整する調整機構と、前記光結合器で結合された反射
光と参照光との干渉信号を検出する光波形モニタとを備
えたことを特徴とする光コネクタ反射減衰量測定装置。 - 【請求項３】 マスタ光コネクタと被測定光コネクタと
の光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する方法であ
って、 光源出射光を参照光とＮ個の測定光とに分岐し、 この光分岐部から各端面までの光路長を光源の可干渉距
離程度ずつ変化させた地点に配置されると共に被測定光
コネクタに接続されたＮ個のマスタ光コネクタに前記Ｎ
個の測定光を導き、 当該Ｎ個の光コネクタ接続部での反射光と前記参照光と
を結合すると共に各反射光と参照光との伝搬光路長差を
調整して順次干渉させ、 各干渉信号の強度から各光コネクタ接続部での反射減衰
量を測定することを特徴とする光コネクタ反射減衰量測
定方法。 - 【請求項４】 マスタ光コネクタと被測定光コネクタと
の光コネクタ接続部での反射減衰量を測定する装置であ
って、 光源と、該光源に接続されて光源出射光を参照光とＮ個
の測定光とに分岐する光分岐器と、該光分岐器の測定光
出射側に接続されて当該光分岐部から各端面までの光路
長を光源の可干渉距離程度ずつ変化させた地点に配置さ
れると共に被測定コネクタと接続されるＮ個のマスタ光
コネクタと、該マスタ光コネクタと被測定光コネクタと
の光コネクタ接続部でのＮ個の反射光と前記参照光とを
結合する光結合器と、該反射光と前記参照光との伝搬光
路長差を調整する調整機構と、前記光結合器で結合され
た各反射光と参照光との干渉信号を検出する光波形モニ
タとを備えたことを特徴とする光コネクタ反射減衰量測
定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34080591A JP2657018B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 光コネクタ反射減衰量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP34080591A JP2657018B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 光コネクタ反射減衰量測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05172694A true JPH05172694A (ja) | 1993-07-09 |
| JP2657018B2 JP2657018B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=18340456
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP34080591A Expired - Lifetime JP2657018B2 (ja) | 1991-12-24 | 1991-12-24 | 光コネクタ反射減衰量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2657018B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0650842A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-02-25 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光反射率計の較正方法及び光コヒーレンス領域反射率計 |
| US7346126B2 (en) | 2001-11-28 | 2008-03-18 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Method and apparatus for channel estimation using plural channels |
| JP2010066523A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Ojima Shisaku Kenkyusho:Kk | 光路長の調節方法及び装置 |
| JP2014194526A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-10-09 | Boeing Co | 広帯域幅の周波数範囲にわたる長期間における光路差（ｏｐｄ）でのファイバ安定化 |
| US11016036B2 (en) * | 2018-04-03 | 2021-05-25 | Opt Gate Co., Ltd. | Reflected light measurement device |
-
1991
- 1991-12-24 JP JP34080591A patent/JP2657018B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0650842A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-02-25 | Hewlett Packard Co <Hp> | 光反射率計の較正方法及び光コヒーレンス領域反射率計 |
| US7346126B2 (en) | 2001-11-28 | 2008-03-18 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Method and apparatus for channel estimation using plural channels |
| JP2010066523A (ja) * | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Ojima Shisaku Kenkyusho:Kk | 光路長の調節方法及び装置 |
| JP2014194526A (ja) * | 2013-01-18 | 2014-10-09 | Boeing Co | 広帯域幅の周波数範囲にわたる長期間における光路差（ｏｐｄ）でのファイバ安定化 |
| US11016036B2 (en) * | 2018-04-03 | 2021-05-25 | Opt Gate Co., Ltd. | Reflected light measurement device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2657018B2 (ja) | 1997-09-24 |
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