JPH05161055A - 合焦制御装置 - Google Patents

合焦制御装置

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JPH05161055A
JPH05161055A JP3319286A JP31928691A JPH05161055A JP H05161055 A JPH05161055 A JP H05161055A JP 3319286 A JP3319286 A JP 3319286A JP 31928691 A JP31928691 A JP 31928691A JP H05161055 A JPH05161055 A JP H05161055A
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Eiji Katase
英治 片瀬
Tomoo Fujimori
知雄 藤森
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 映像信号中の高周波成分に基づいて合焦制御
を行う合焦制御装置において、正確な合焦制御を可能と
すること。 【構成】 撮影画面の全部または一部をサンプル領域と
し、さらに、このサンプル領域を複数の区画に分割し、
映像信号の走査フレーム毎に区画単位で高周波成分に基
づく評価値を決定する手段と、区画毎の評価値を前の走
査フレームの同一区画の評価値と大小比較し、その結果
から予め定められた2以上の定数の中から一つの定数を
区画毎に選択する手段と、区画毎に高輝度部分の有無を
検出し、その結果に応じて重み係数を選択する手段と、
区画毎に前記定数に前記重み係数を乗じて区画別判定値
を算出し、1走査フレーム内でこれらを積算して方向判
定値を算出する手段と、方向判定値に基づいて前記フォ
ーカシングレンズの移動制御を行う手段とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、撮像素子から得られる
映像信号の高周波成分に基づいてビデオカメラ等の撮影
レンズの焦点整合を行う合焦制御装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】この種の装置として、撮像素子からの映
像信号出力をバンドパスフィルタを通すことにより被写
体のコントラストに応じた高周波成分を抽出し、この高
周波成分が最大となるようにフォーカシングレンズ(F
L)を移動制御する合焦制御装置が従来からある。この
従来装置においては、合焦制御が可能な程度に十分なコ
ントラストをもつ合焦すべき被写体中に、高輝度な部分
が存在する場合には、高輝度部分に起因する高周波成分
が増大するため、フォーカシングレンズが合焦すべき被
写体に合焦していないにも拘らず、フォーカシングレン
ズが合焦の位置にあるものと誤った判断がなされてしま
うという問題を有していた。
【0003】そこで、図8に示す構成を有する改良型の
装置が考えられた。同図において、符号81はフォーカ
シングレンズ、82は撮像素子、83は前置増幅器、8
4はバンドパスフィルタ、85はゲイン制御回路、86
はサンプル領域ゲート、87はサンプルホールド回路、
88はA/D変換回路、89は高輝度検出回路、90は
タイミング制御回路、91はマイクロコンピュータ、9
2はモータ駆動回路、93はパルスモータ、94はメモ
リ、95はゲート回路を示している。この装置では、高
輝度検出回路89およびゲート回路95により、高輝度
被写体に起因する高周波成分を除去し、残りの信号で合
焦に必要な高周波成分を抽出する。したがって、高輝度
部分に起因する誤判断がない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この改良型の
従来装置によると、高輝度部分以外は合焦制御を行うの
に十分なコントラストが得られないような被写体の場合
でも、高輝度部分による高周波成分を除去してしまうの
で、もはや高周波成分に基づくフォーカシングレンズの
移動制御が不可能となり、フォーカシングレンズがハン
チングを起こしてしまうという新たな問題が生じた。
【0005】また、フォーカシングレンズの移動制御を
可能とするレベルのコントラストを有する撮影物体中に
高輝度部分がある場合は、撮像素子上に結像される高輝
度部分のフォーカシングレンズの移動に伴うボケ量の変
化や、手振れ等による撮像素子上での振れにより、高輝
度部分として除去される信号が走査フレーム毎に変動す
るため、フォーカシングレンズの移動制御がスムーズに
行えないといった問題も生じた。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、このような問
題に鑑みてなされたものであり、撮影画面の全部または
一部をサンプル領域とし、さらに、このサンプル領域を
複数の区画に分割し、映像信号の走査フレーム毎に区画
単位で高周波成分に基づく評価値を決定する手段と、区
画毎の評価値を前の走査フレームの同一区画の評価値と
大小比較し、その結果から予め定められた2以上の定数
のから一つの定数を区画毎に選択する手段と、区画毎に
高輝度部分の有無を検出し、その結果に応じて重み係数
を選択する手段と、区画毎に前記定数に前記重み係数を
乗じて区画別判定値を算出し、1走査フレーム内でこれ
らを積算して方向判定値を算出する手段と、方向判定値
に基づいて前記フォーカシングレンズの移動制御を行う
手段とを備えたものである。また、上述の評価値決定手
段に、映像信号から抽出された高周波成分の電圧レベル
を区画単位で所定の値に近づけるためのゲイン制御回路
を設け、このゲイン制御回路でレベル調整された高周波
成分に基づいて区画単位で評価値を決定するように構成
することが望ましい。
【0007】
【作用】フォーカシングレンズの移動制御が可能なレベ
ルのコントラストを有する撮影物体中に高輝度部分があ
る場合は、重み係数が適当に選択されて高輝度部分によ
る高周波成分の方向判定値への寄与度が小さくなり、高
輝度部分以外の撮影物体のコントラストに基づく高周波
成分の方向判定値の寄与が大きくなる。これにより、高
輝度部分による高周波成分の増大に起因した合焦位置の
誤判断がなくなり、しかも、高輝度部分による高周波成
分の方向判定値への寄与度を小さくするだけで、完全に
除去するものでもないので、完全に除去したときのよう
な走査フレーム毎のフォーカシングレンズの移動のぎこ
ちなさもなくなる。また、ゲイン制御回路を設ければ、
コントラストの低い撮影物体中に高輝度部分がある場合
に、レベルを抑えた高輝度部分の高周波成分に基づいて
方向判定値を得ることができるので、高輝度部分の映像
信号をすべて除去していた従来装置のときのように、合
焦制御に必要な高周波成分を失ってハンチングを起こし
てしまうということがない。
【0008】
【実施例】図1は、本発明の合焦制御装置の一実施例の
構成を示すブロック図である。フォーカシングレンズ
(FL)1は、マイクロコンピュータ11からの制御信
号に基づいて、モータ駆動回路12により駆動されるパ
ルスモータ13により合焦位置へ移動する。撮像手段と
してのCCD(電荷結合素子)2は、フォーカシングレ
ンズ1により結像される撮影物体像を映像信号である電
気信号に変換する手段であり、このCCD2からの出力
信号は、前置増幅器3により増幅される。バンドパスフ
ィルタ(BPF)4は、前置増幅器3の出力信号である
映像信号から高周波成分を抽出するためのものであり、
このバンドパスフィルタ4の出力信号の平均レベルは、
ゲイン制御回路5によって所定電圧レベルに調整され
る。サンプル領域ゲート6は、ゲイン制御回路5から出
力された信号のうちの、予め定められた撮影画面内の合
焦範囲(サンプル領域)に相当する部分を選択的に通過
させる手段である。サンプルホールド回路7は、サンプ
ル領域ゲート6を通過した信号に対して、所定のタイミ
ングでサンプリングを行いその値をホールドする回路で
ある。A/D変換回路8は、サンプルホールド回路7か
らの出力信号をデジタル値に変換して、マイクロコンピ
ュータ11に対して出力する回路である。高輝度検出回
路9は、CCD2の撮像面上に結像される撮影物体中の
高輝度部分にサンプル領域中の走査線が掛かっているか
いないかに関する情報(高輝度情報)を走査線ごとに検
出し、マイクロコンピュータ11に対して出力する回路
である。タイミング回路10は、マイクロコンピュータ
11により制御され、サンプル領域ゲート6、サンプル
ホールド回路7、A/D変換回路8、高輝度検出回路9
のそれぞれのタイミング制御を行う回路である。マイク
ロコンピュータ11は、ゲイン制御回路5、A/D変換
回路8、高輝度検出回路9および記憶手段としてのメモ
リ14からのデータに基づき、フォーカシングレンズ1
を合焦位置へ移動制御するための演算を行うものであ
る。
【0009】つぎに、図2ないし図5のフローチャート
と共にマイクロコンピュータ11の動作を説明する。図
2は動作全体のフローを示しており、動作は、A,B,
Cの3つのルーチンから構成されている。Aルーチンで
は、走査フレームを複数の走査区画に分割し、各走査区
画毎に映像信号に基づいてフォーカシングレンズ1の移
動制御を行うための基礎データの収集を行う。そして、
Bルーチンでは、Aルーチンで得た基礎データから、フ
ォーカシングレンズ1の移動方向の判定を行うための値
(方向判定値)Xを決定し、Cルーチンにおいては、方
向判定値Xに基づいてフォーカシングレンズ1の移動制
御を行う。
【0010】以下に、A,B,Cの各ルーチンの詳細な
動作を、それぞれ、図3、図4、図5に示したフローチ
ャートに基づいて順次説明する。初めに、Aルーチンを
図3と共に説明する。まず、イニシャライズで、走査線
数をカウントするカウンタsおよび走査区画数をカウン
トするカウンタnの初期値をそれぞれ1にセットする
(ステップA1,A2)。ついで、カウンタsの値が
「128」を越えたか否かの判断を行う(ステップA
3)。これは、後述するA4からA14の動作が走査区
画毎に、サンプル領域内の全走査区画について完了した
か否かの判断に相当する。図6は撮影画面31内の測定
領域32を示す概念図であり、本実施例では、斜線で表
されている合焦用の測定領域すなわちサンプル領域32
を128本の走査線で構成し、一つの区画が16本の走
査線で構成される8つの走査区画33に分割している。
したがって、本実施例では、1つの走査区画について、
後述するステップA4からA12−1あるいはA12−
2までの動作が終了すると、ステップA13およびA1
4で各カウンタが1づつカウントアップされ、カウンタ
sの値がs=129に達すると、サンプル領域32内の
全走査区画についてステップA4からA12−1あるい
はA12−2までの動作が終了したものと判断され、フ
ローはBルーチンへ移行する(ステップA3)。カウン
ト値sが上記の所定値(s=129)に達していないと
きは、ステップA3において、全走査区画についてステ
ップA4からA12−1あるいはA12−2までの動作
が終了していないと判断され、残りの走査区画において
もステップA4からA12−1あるいはA12−2まで
の動作を繰り返し実行する。この実施例では、カウンタ
sの値に基づいて、Bルーチンへ移行するか否かを判断
するが、走査区画数のカウンタnの値に基づいてこの判
断を行ってもよい。また、走査線数が走査区画数の整数
倍に設定されていない場合には、走査区画数のカウント
値に基づいてこの判断を行うことが考えられる。
【0011】ステップA4では、現走査フレームの走査
区画(以下、現走査区画という)と同じ位置の前走査フ
レームの走査区画(以下、前走査区画という)の評価値
* nに基づいて、現走査区画内の走査線の高周波成分
の抽出ゲインGnを設定する。たとえば、抽出ゲインG
nを設定しようとしている走査区画が、現走査フレーム
の第1番目の走査区画であれば、前走査フレームの第1
番目の走査区画、また、現走査フレームの第2番目の走
査区画であれば、前走査フレームの第2番目の走査区画
がそれぞれ前走査区画に相当する。そして、このように
現走査区画毎に設定されたゲインGnをメモリ14に記
憶する(ステップA5)。なお、評価値の意義について
は後述する。
【0012】このように、ゲインの設定が、走査区画毎
に行われることにより、撮影物体中に高輝度部分を含む
場合であっても、CCD2の撮像面上に結像される高輝
度部分にかかっていない走査区画の高周波成分を、高輝
度部分を含む走査区画とは異なるゲインで抽出すること
ができる。
【0013】すなわち、高輝度部分を含む走査区画では
評価値Bnが所定のレベル範囲内に収まるように高周波
成分の抽出ゲインは低く設定されるが、高輝度部分以外
の撮影物体を含む走査区画は、高輝度部分を含む走査区
画とは異なるゲイン設定がされるため高周波成分の抽出
レベルが低くなってしまうことがない。
【0014】ステップA6では、走査区画内の走査線の
高周波成分に基づいて、決定される走査線毎の基本評価
値Bsをバッファに記憶する。ここで、図7を用いて、
基本評価値Bsの一例を説明する。いま、同図(a)に
示すように、黒丸状の模様71が描かれている画面70
における走査線72を考える。この走査線72の映像信
号(輝度信号)は、同図(b)のようになる。そして、
これを微分すると、同図(c)のような微分信号を得
る。この微分信号の最大値P1と最小値P2との差すな
わち(P1−P2)を基本評価値Bsとすることができ
る。この例では、ピークが2か所であるが、実際には多
数のピークが発生する。その場合の評価値としては、ピ
ーク差の最大値を採る方法、ピークの平均値を採る方
法、ピークの総和値を採る方法などが考えられる。
【0015】ステップA6で、基本評価値Bsのバッフ
ァへの記憶が行われると、カウンタsの値が16のn倍
(但し、n≦8)であるか否かを判断する(ステップA
7)。ここで、n倍となっていなければ、カウンタsを
1アップして次の走査線に進み(ステップA8)、この
走査線の基本評価値Bsをバッファに記憶する(ステッ
プA6)。この動作(ステップA6〜A8)をカウンタ
sのカウント数が16の倍数になるまで行うことによ
り、走査区画内の走査線の基本評価値Bsが走査線毎に
バッファに記憶される。
【0016】このようにして、16本の走査線すなわち
1つの走査区画内の各走査線について、基本評価値Bs
のバッファへの入力が終了すると、走査区画毎の評価値
Bnとして、バッファに記憶された16個の基本評価値
Bsの最大値を得る(ステップA9)。この場合、評価
値Bnとして、16個の基本評価値Bsの最大値の代わ
りに、平均値、あるいは総和値を用いてもよい。つい
で、この走査区画の評価値Bnをメモリ14に記憶する
(ステップA10)。なお、上述した評価値B* nは、
前走査フレームの走査区画の評価値という意味でBnの
肩に*印を付しているのであり、評価値の算出方法がB
nと異なるものではない。
【0017】ステップA11では、高輝度検出回路9に
より、走査線の高輝度情報を得て、走査区画内の高輝度
情報を有する走査線の有無を判断する。走査区画内に高
輝度情報を有する走査線がある場合には、その走査区画
の高輝度フラグFnを1にセットし(ステップA12−
1)、高輝度情報を有する走査線がない場合には、高輝
度フラグFnを0にセットする(ステップA12−
2)。
【0018】ついで、カウンタsおよびカウンタnのカ
ウントをそれぞれ1アップさせて(ステップA13,A
14)、つぎの走査区画に移行し、再び、A4からA1
2の動作を行い現走査フレームの全走査区画について評
価値Bnの決定および高輝度フラグFnの設定を行い、
それが終了すると、カウンタsの値が129となり、ス
テップA3においてBルーチンに移行する。
【0019】つぎに、フォーカシングレンズ1の移動方
向の判定を行うBルーチンの動作を図4と共に説明す
る。Bルーチンでは、まず、方向判定値Xの基準値とし
て所定の値X0 をバッファにセットし(ステップB
1)、カウンタmの初期値を1にセットする(ステップ
B2)。ステップB3では、方向判定値Xを決定する後
述のステップB4からB11までの動作が全走査区画に
ついて終了したか否かが判断される。すなわち、一つの
走査区画についてステップB4からB11までの動作が
終了すると、ステップB12でカウンタmが1アップさ
れ、カウンタmの値が9に達すると、全走査区画につい
て、ステップB4からB11までの動作が終了したと判
断され、フローはCルーチンに移行する。カウンタmの
値が9に達しない場合は、残りの走査区画について、前
記動作を行うべくステップB4へ移行する。
【0020】ステップB4では、現在対象となっている
走査区画、たとえばm=1であれば、第1番目の走査区
画について、前走査フレームと現走査フレームの設定ゲ
インの比較を行う。設定ゲインのデータは、メモリ14
に格納されている。2つの設定ゲインの値が等しい場合
にはステップB5に移行し、異なる場合には、評価値B
nが方向判定値Xに寄与しないようにステップB10−
3に移行し、方向判定値Xの基礎データとなる走査区画
別判定値Lの値を零にする。
【0021】ステップB5では、前走査区画あるいは現
走査区画のいずれかの評価値Bn(但し、添字n=m)
が所定の値以下の場合は、ノイズ誤差を多く含むものと
して、方向判定値Xへ寄与しないように、ステップB1
0−3に移行する。所定値よりも大きい場合は、ステッ
プB6へ移行する。ステップB6では、メモリ14に記
憶されている前走査区画の評価値Bnと現走査区画の評
価値Bnとの大小比較を行う。このとき、現走査区画の
方が大きければ+1の定数Kを設定し(ステップB7−
1)、小さければ−1の定数Kを設定する(ステップB
7−2)。両者が等しい場合は、方向判定値Xに評価値
Bnを寄与させないためにステップB10−3に移行す
る。
【0022】ステップB8では、Aルーチンのステップ
A12−1またはA12−2でセットされた高輝度フラ
グFn(但し、添字n=m)が前走査区画と現走査区画
とで等しいか否かを判断し、等しい場合は、つぎの判断
処理であるステップB9へ移行する。異なる場合は、高
輝度フラグFnが方向判定値Xへ寄与しないように、ス
テップB10−3に移行する。高輝度フラグFnが異な
る場合とは、前走査区画と現走査区画のいずれか一方に
のみ高輝度情報が含まれる場合であって、これは、フォ
ーカシングレンズ1の移動に伴うCCD2上の高輝度被
写体による高輝度部分のボケ方や手振れによる高輝度部
分の振れによるものであるから、前走査フレームと現走
査フレームとで異なる高輝度フラグFnが立っている走
査区画の評価値Bnを方向判定値Xに寄与させることは
好ましくないからである。
【0023】ステップB9では、高輝度フラグFnの内
容が判断される。この判断の結果、Fn=0であるなら
ば、すなわち、前走査区画および現走査区画がいずれも
高輝度情報を含んでいなければ、ステップB7−1また
はB7−2で設定された定数KにJ1>J2の関係にあ
る所定の定数J1を乗算して、方向判定値Xを算出する
ための基礎データである走査区画別判定値Lを定める
(ステップB10−1)。高輝度フラグFnが0でない
場合、すなわち、前走査区画および現走査区画がいずれ
も高輝度情報を含んでいる場合には、定数KにJ2(<
J1)を乗じて走査区画別判定値Lを求める(ステップ
B10−2)。
【0024】このようにして、算出された走査区画別判
定値Lは、ステップB11での演算Xn =Xn-1 +L
(但し、添字n=m)の実行、ステップB12でのカウ
ンタmの値の+1インクリメントおよびステップB3に
よる判断によって、全走査区画(ここでは8走査区画)
について積算される。最終積算結果X8 がその走査フレ
ームにおける方向判定値Xとなる。
【0025】この方向判定値Xは、J1、J2をJ1>
J2の関係とすることにより高輝度部分以外の撮影物体
による映像信号に重み付けがされて決定されるものであ
る。したがって、フォーカシングレンズの移動制御が可
能なレベルのコントラストを有する撮影物体中に高輝度
部分がある場合は、高輝度部分による高周波成分の方向
判定値Xへの寄与度が小さくなり、高輝度部分以外の撮
影物体のコントラストに基づく高周波成分の方向判定値
Xへの寄与が大きくなる。これにより、高輝度部分によ
る高周波成分の増大に起因した合焦位置の誤判断がなく
なり、しかも、高輝度部分による高周波成分の方向判定
値Xへの寄与度を小さくするだけで、完全に除去するも
のでもないので、完全に除去したときのような走査フレ
ーム毎のフォーカシングレンズの移動のぎこちなさもな
くなる。また、コントラストの低い撮影物体中に高輝度
部分がある場合は、レベルを抑えた高輝度部分の高周波
成分に基づいて方向判定値Xを得ることができるので、
高輝度部分の映像信号をすべて除去していた従来装置の
場合のように、合焦制御に必要な高周波成分を失ってハ
ンチングを起こしてしまうということがない。
【0026】このようにして、Bルーチンで方向判定値
Xが得られると、ステップB3においてCルーチンに移
行し、方向判定値Xに基づくフォーカシングレンズ1の
移動制御が実行される。ステップC1では、方向判定値
Xの基準値X0 とステップB11で得られた方向判定値
Xとの比較を行う。その結果、X≧X0 ならば、フォー
カシングレンズ1を予め定められた単位移動量だけ同方
向に移動させ(ステップC2−1)、X<X0 であれ
ば、反対方向に移動させる(ステップC2−2)。そし
て、つぎの走査フレームでは、現走査フレームとつぎの
走査フレームとによりフォーカシングレンズ1の移動方
向を決めてやることになるから、現走査フレームで得た
評価値Bn、高輝度フラグFnおよびゲイン設定値Gn
をつぎの走査フレームに対しては前走査フレームのデー
タとするためにメモリシフトを行う(ステップC3)。
つぎの走査フレームに移行して、今度は、上述の現走査
フレームを前走査フレームに、つぎの走査フレームを現
走査フレームとして、以上に述べた一連の動作を実行す
る。これを、走査フレーム毎に繰り返すことにより、フ
ォーカシングレンズ1を合焦位置に移動制御することが
できる。
【0027】上記の実施例では、サンプル領域32を8
つの走査区画に分割した例を示したが、分割数はこれに
限定されるものではない。分割数を多くすれば、処理量
は増大するが、より精度の高い合焦制御が可能となる。
【0028】また、走査区画の分割のパターンとして、
上記実施例では横方向(走査方向)に区分しているが、
これに限定されない。縦に分割してもよいし、マトリク
ス状に分割してもよい。
【0029】さらに、上記実施例では、現走査フレーム
に対する前走査フレームとして、直前の走査フレームを
用いることにより、全走査フレーム毎に方向判定値Xを
算出し、移動制御を行っているが、1ないし数フレーム
おきに、ピックアップした走査フレームを利用して、上
記実施例と同様の処理を行ってもよい。その場合の現走
査フレームに対する前走査フレームというのは、1ない
し数走査フレーム前の走査フレームとなる。
【0030】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の合焦制御
装置によれば、撮像素子上に結像される高輝度部分のフ
ォーカシングレンズの移動に伴うボケ量の変化や手振れ
等よる撮像素子上での振れがあっても、移動制御に対す
る高輝度部分の高周波成分の寄与度を小さくしているの
でフォーカシングレンズの移動をスムーズに行うことが
できる。さらに、移動制御のために必要な高周波成分を
得られないようなコントラストの低い撮像物体中に高輝
度部分が存在する場合には、高輝度部分の高周波成分を
利用して合焦制御を行うので、高輝度部分の高周波成分
を除去してしまう従来装置で生じていたハンチングが起
こらない。さらに、ゲイン制御回路を付加すれば、撮影
物体中に高輝度部分が存在する場合でも、走査区画単位
でその高輝度部分を除いてゲイン調整を行うことがで
き、高輝度部分以外の撮影物体による高周波成分のレベ
ルが低下することなく、高精度の合焦が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例である合焦制御装置のブロッ
ク図。
【図2】この実施例のマイコン11の全体の動作を示す
フローチャート。
【図3】図2のフローチャート中のAルーチン(基礎デ
ータ収集ルーチン)の詳細を示すフローチャート。
【図4】図2のフローチャート中のBルーチン(移動方
向判定ルーチン)の詳細を示すフローチャート。
【図5】図2のフローチャート中のCルーチン(移動制
御ルーチン)の詳細を示すフローチャート。
【図6】撮影画面31内の測定領域32を示す概念図。
【図7】評価値Bnの抽出方法を説明するための図。
【図8】従来の合焦制御装置を示すブロック図。
【符号の説明】
1…フォーカシングレンズ、2…CCD、3…前置増幅
器、4…バンドパスフィルタ、5…ゲイン制御回路、6
…サンプル領域ゲート、7…サンプルホールド回路、8
…A/D変換回路、9…高輝度検出回路、10…タイミ
ング制御回路、11…マイクロコンピュータ、12…駆
動回路、13…パルスモータ、14…メモリ

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 撮像手段が出力する映像信号から被写体
    のコントラストに応じた高周波成分を抽出し、この高周
    波成分に基づいてフォーカシングレンズを移動制御する
    合焦制御装置において、 撮影画面の全部または一部をサンプル領域とし、さら
    に、このサンプル領域を複数の区画に分割し、映像信号
    の走査フレーム毎に前記区画単位で高周波成分に基づく
    評価値を決定する手段と、 前記区画毎の評価値を前の走査フレームの同一区画の評
    価値と大小比較し、その結果から予め定められた2以上
    の定数の中の一つを区画毎に選択する手段と、 前記区画毎に高輝度部分の有無を検出し、その結果に応
    じて重み係数を選択する手段と、 前記区画毎に前記定数に前記重み係数を乗じて区画別判
    定値を算出し、1走査フレーム内でこれらを積算して方
    向判定値を算出する手段と、 前記方向判定値に基づいて前記フォーカシングレンズの
    移動制御を行う手段とを備えたことを特徴とする合焦制
    御装置。
  2. 【請求項2】 前記定数選択手段は、正負異なる2つの
    定数の中のいずれかを選択する手段であることを特徴と
    する請求項1に記載の合焦制御装置。
  3. 【請求項3】 前記方向判定算出手段は、重み係数選択
    手段における高輝度部分の有無についての検出結果が前
    の走査フレームにおける同一区画の結果と異なる場合に
    は、その区画における区画別判定値を強制的に零にする
    ものであることを特徴とする請求項1に記載の合焦制御
    装置。
  4. 【請求項4】 前記方向判定算出手段は、前記定数選択
    手段における評価値の大小比較の結果が等しい場合に
    は、強制的に区画別判定値を零とするものであることを
    特徴とする請求項1に記載の合焦制御装置。
  5. 【請求項5】 前記定数選択手段は、当該区画の評価値
    および前の走査フレームにおける同一区画の評価値がい
    ずれも所定値以上の値である場合にのみ大小比較を行う
    ものであり、前記方向判定算出手段は、前記定数選択手
    段で大小比較される評価値がいずれも前記所定値よりも
    小さい場合には、強制的に区画別判定値を零とするもの
    であることを特徴とする請求項1に記載の合焦制御装
    置。
  6. 【請求項6】 前記評価値決定手段は、映像信号から抽
    出された高周波成分の電圧レベルを前記区画単位で所定
    の値に近づけるためのゲイン制御回路を備え、このゲイ
    ン制御回路でレベル調整された高周波成分に基づいて前
    記区画単位で評価値を決定するものであることを特徴と
    する請求項1に記載の合焦制御装置。
  7. 【請求項7】 前記ゲイン制御回路は、前記各区画毎に
    前の走査フレームにおける同一区画の評価値に基づいて
    ゲインを設定するものであることを特徴とする請求項6
    に記載の合焦制御装置。
  8. 【請求項8】 前記方向判定算出手段は、前記ゲイン制
    御回路で設定されたゲインが前の走査フレームにおける
    同一区画のゲインと異なる場合には、強制的に区画別判
    定値を零とするものであることを特徴とする請求項7に
    記載の合焦制御装置。
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