JPH05160386A - Diamond diode and manufacture thereof - Google Patents

Diamond diode and manufacture thereof

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JPH05160386A
JPH05160386A JP32351691A JP32351691A JPH05160386A JP H05160386 A JPH05160386 A JP H05160386A JP 32351691 A JP32351691 A JP 32351691A JP 32351691 A JP32351691 A JP 32351691A JP H05160386 A JPH05160386 A JP H05160386A
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JP
Japan
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diamond
gas
substrate
layer
diamond layer
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JP32351691A
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Japanese (ja)
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Hideaki Matsuyama
秀昭 松山
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Fuji Electric Co Ltd
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Fuji Electric Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To obtain a diamond diode having low internal resistance by installing, in distributed condition, a plurality of electrodes to form Schottky junction due to the contact with the surface of the second diamond layer added with low concentration boron which is laminated on a first diamond layer added with high concentration boron which is laminated on a substrate. CONSTITUTION:Scratching treatment is made by the powder of #800 diamond on the surface of a metallic substrate 1 for which a Pt plate is used. Composition of diamond is done on the surface by using mu-wave CVD system. Diamond is composed by the following process: CH4 gas and H2 gas are fed with a flow rate of 0.5SCCM and 99.5SCCM, respectively. Then, B2 gas and H6 gas are mixed with the CH4 gas and H2 gas for B dope. A high concentration B doped diamond film 21 is formed in about one hour by mixing the B2H6 gas so that the B/C ratio gets to 1000ppm. Successively, a low concentration B doped diamond film 22 is formed in about 0 hour by mixing the B2h6 gas so that the B/C ratio gets to 10ppm and 1000ppm. Then, Al is vapor deposited, and a Schottky electrode 3 having small area is formed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、気相合成法で成膜でき
る多結晶ダイヤモンド膜に対するショットキー接合を有
するダイヤモンド・ダイオードおよびその製造方法に関
する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a diamond diode having a Schottky junction with a polycrystalline diamond film which can be formed by a vapor phase synthesis method, and a method for manufacturing the same.

【0002】[0002]

【従来の技術】代表的な宝石であるダイヤモンドは最も
硬い物質であるため、よく知られているように工業的に
切削工具や研磨材などに利用されている。この他にも、
ダイヤモンドはSiやGeと同じIV族に属し、半導体の性質
も有する。Siと比較するとエネルギー・ギャップが大き
いばかりでなく、キャリア移動度、飽和ドリフト速度、
絶縁破壊電界や熱伝導率なども大きく、高温動作デバイ
ス、高パワーデバイス、青色発光素子等の材料として有
望である。近年、このダイヤモンドを気相合成 (CV
D) 法で作る技術が開発され、半導体素子としての応用
がさらに注目されている。実際に、サーミスタ、ショッ
トキーダイオード、FET、発光素子などの試作が盛ん
に行われている。
2. Description of the Related Art Since diamond, which is a typical gem, is the hardest substance, it is industrially used for cutting tools and abrasives as well known. Besides this,
Diamond belongs to the same group IV as Si and Ge, and also has semiconductor properties. Not only does it have a larger energy gap than Si, but it also has carrier mobility, saturation drift velocity,
Dielectric breakdown electric field and thermal conductivity are also large, and they are promising as materials for high temperature operation devices, high power devices, blue light emitting devices and the like. In recent years, this diamond has been vapor-phase synthesized (CV
D) technology has been developed, and its application as a semiconductor device is drawing more attention. Actually, trial production of thermistors, Schottky diodes, FETs, light emitting elements, etc. has been actively conducted.

【0003】ダイヤモンドは炭素原子からなる結晶であ
るが、通常の環境下において安定相でない。準安定相で
あるダイヤモンドを合成する手法がCVD法である。C
4などの炭素から構成されるガスと多量のH2 ガスを
活性化し、600 〜1200℃の高温にしたSiなどの基板上に
ダイヤモンドを成膜する方法である。H2 ガスは活性化
されると反応性の高い原子状水素となり、ダイヤモンド
と同時に析出する安定相であるグラファイト成分を再蒸
発させる。これらのガスを活性化するやり方が種々考案
され、熱フィラメントCVD法、μ波プラズマCVD
法、直流プラズマ・ジェットCVD法などと名付けられ
ている。合成されたダイヤモンドは、基板がダイヤモン
ドやC−BNからなる場合を除いて多結晶となる。そし
て、B2 6 などのほう素を含むガスを同時に流すと、
ダイヤモンド中にBを添加できる。炭素源としてCH4
ガスを使用した場合は、ガス中のB/C比とダイヤモン
ド膜中のB/C比とはほぼ一致する。このように合成し
たB添加ダイヤモンドはP型半導体であり、金属アルミ
ニウムやチタンなどとの間にショットキー接合を形成す
る。このため、ダイヤモンドを用いたダイオードや電界
効果トランジスタが開発されている。
Diamond is a crystal composed of carbon atoms.
However, it is not a stable phase under normal environment. In metastable phase
The CVD method is a method for synthesizing a certain diamond. C
HFourGas composed of carbon and a large amount of H2Gas
On a substrate such as Si that has been activated and heated to a high temperature of 600 to 1200 ° C
This is a method of forming a diamond film. H2Gas activated
Will be converted into highly reactive atomic hydrogen and diamond
Simultaneously re-evaporate the graphite component which is a stable phase
Emit. Various ways to activate these gases have been devised
Hot filament CVD method, μ wave plasma CVD
Method, DC plasma jet CVD method, etc.
ing. The synthetic diamond has a diamond substrate
It becomes a polycrystal except when it is made of C-BN or C-BN. That
B2H 6When a gas containing boron such as
B can be added to the diamond. CH as a carbon sourceFour
When gas is used, the B / C ratio in the gas and the diamond
It almost coincides with the B / C ratio in the film. Like this
B-doped diamond is a P-type semiconductor and is made of metallic aluminum.
Form a Schottky junction with such as titanium or titanium
It For this reason, diamond-based diodes and electric fields
Effect transistors have been developed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】CVD法によって合成
された多結晶ダイヤモンドを利用したこれまでのショッ
トキーダイオードは図2に示す構造をとる。すなわち、
SiO2 などの絶縁基板1の上にBをドープしたダイヤモ
ンド膜2をCVD法で合成し、さらにそのダイヤモンド
膜2の表面にAlなどのショットキー電極3とAuなどのオ
ーミック電極4を蒸着で付けたものである。この構造の
ダイオードでは、ダイヤモンド膜2内を流れる電流密度
は膜厚による。そして、ダイヤモンドの内部抵抗を小さ
くするためには、両電極3、4間の距離を狭くする微細
加工技術を用いなければならず、容易にできない問題が
ある。
The conventional Schottky diode using polycrystalline diamond synthesized by the CVD method has the structure shown in FIG. That is,
A diamond film 2 doped with B is synthesized on an insulating substrate 1 such as SiO 2 by a CVD method, and a Schottky electrode 3 such as Al and an ohmic electrode 4 such as Au are attached to the surface of the diamond film 2 by vapor deposition. It is a thing. In the diode having this structure, the current density flowing in the diamond film 2 depends on the film thickness. Then, in order to reduce the internal resistance of diamond, a fine processing technique for narrowing the distance between the electrodes 3 and 4 must be used, which is a problem that cannot be easily done.

【0005】このような問題を解決するために、図3に
示す構造のダイオードが作られている。このダイオード
は、高濃度ドープされたn+ Siあるいはp+ Si基板5の
上にBドープダイヤモンド膜2を合成し、ダイヤモンド
膜2の表面にショットキー電極3を、Si基板5の表面に
オーミック電極6を接触させたものである。この構造に
より内部抵抗はある程度小さくなるが、103 Ωcm程度の
抵抗率をもつSi基板5の内部抵抗を避けることはできな
い。またダイヤモンド膜2が多結晶質のため、ショット
キー電極3とSi基板5の間で短絡を起こす。
In order to solve such a problem, a diode having the structure shown in FIG. 3 is manufactured. This diode synthesizes a B-doped diamond film 2 on a heavily doped n + Si or p + Si substrate 5, a Schottky electrode 3 on the surface of the diamond film 2 and an ohmic electrode on the surface of the Si substrate 5. 6 is contacted. Although this structure reduces the internal resistance to some extent, the internal resistance of the Si substrate 5 having a resistivity of about 10 3 Ωcm cannot be avoided. Further, since the diamond film 2 is polycrystalline, a short circuit occurs between the Schottky electrode 3 and the Si substrate 5.

【0006】本発明の目的は、上記の問題を解決し、内
部抵抗の小さいダイヤモンド・ダイオードおよびその製
造方法を提供することにある。
It is an object of the present invention to solve the above problems and provide a diamond diode having a small internal resistance and a method for manufacturing the same.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のダイヤモンド・ダイオードは、ダイヤモ
ンドとオーミック接触する金属からなる基板上に高濃度
でほう素の添加された第一ダイヤモンド層、その第一ダ
イヤモンド層の上に低濃度でほう素の添加された第二ダ
イヤモンド層が積層され、第二ダイヤモンド層の表面に
接触してショットキー接合を形成する複数の電極が分散
して設けられたものとする。そして金属基板が白金、
銅、金、銀、タングステンおよびモリブデンのうちの一
つよりなること、第一ダイヤモンド層のB濃度が800ppm
以上であること、また第二ダイヤモンド層のB濃度が5
〜200ppmであること、電極がアルミニウムおよびチタン
のいずれかよりなることが有効である。またそのような
ダイヤモンド・ダイオードの製造方法は、金属基板上に
炭素化合物とほう素化合物を含むガスを用いての気相合
成法で先ずB濃度の高い第一ダイヤモンド層を成膜し、
次いでB濃度の低い第二ダイヤモンド層を成膜し、その
あと第二ダイヤモンド層の表面上に金属を蒸着し、その
金属層をパターニングして複数の電極を形成するものと
する。そして、基板との間に整流特性を有しない電極を
除く各電極を端子に接続することが有効である。
In order to achieve the above object, the diamond diode of the present invention comprises a first diamond layer containing a high concentration of boron on a substrate made of a metal which makes ohmic contact with diamond. , A second diamond layer having a low concentration of boron added is laminated on the first diamond layer, and a plurality of electrodes for contacting the surface of the second diamond layer to form a Schottky junction are provided in a dispersed manner. It is assumed that And the metal substrate is platinum,
Consists of one of copper, gold, silver, tungsten and molybdenum, B concentration of the first diamond layer is 800ppm
And the B concentration of the second diamond layer is 5 or more.
It is effective that the content is up to 200 ppm and that the electrode is made of either aluminum or titanium. In addition, such a diamond diode manufacturing method first forms a first diamond layer having a high B concentration on a metal substrate by vapor phase synthesis using a gas containing a carbon compound and a boron compound,
Next, a second diamond layer having a low B concentration is formed, a metal is deposited on the surface of the second diamond layer, and the metal layer is patterned to form a plurality of electrodes. Then, it is effective to connect each electrode to the terminal except the electrode having no rectifying characteristic with the substrate.

【0008】[0008]

【作用】金属の抵抗率は1〜100 Ωcm程度でSiの103 Ω
cm以上の抵抗率にくらべて小さく、基板を金属にするこ
とで内部抵抗が少なくても100 分の1程度におさえられ
る。そしてダイヤモンド相の基板側を抵抗率0.03Ωcm程
度の高B濃度にすることで、その層厚が基板厚と比べて
十分小さければこの層による内部抵抗の増加はわずかで
あり、また高B濃度にすることで基板とのオーミック接
触性が改善されて接触抵抗も小さくなる。これによりダ
イオードの内部抵抗は小さくなる。また、ショットキー
電極を複数にすることで、一部の電極において基板との
短絡が発生しても、他の電極において整流作用が得られ
る。
[Function] The resistivity of metal is about 1 to 100 Ωcm and 10 3 Ω of Si
It is smaller than the resistivity of cm or more, and by using a metal substrate, the internal resistance can be suppressed to about 1/100 even if it is small. By increasing the B concentration on the substrate side of the diamond phase to a resistivity of about 0.03 Ωcm, if the layer thickness is sufficiently smaller than the substrate thickness, the increase in internal resistance due to this layer is slight, and the high B concentration is increased. By doing so, the ohmic contact with the substrate is improved and the contact resistance is also reduced. This reduces the internal resistance of the diode. Further, by using a plurality of Schottky electrodes, even if a short circuit with the substrate occurs in some of the electrodes, the rectifying action can be obtained in the other electrodes.

【0009】[0009]

【実施例】図1は本発明の一実施例のダイヤモンド・ダ
イオードを(a)の断面図、(b) の平面図で示し、図2、
図3と共通の部分には同一の符号を付している。このダ
イオードは次のようにして製造した。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 1 is a sectional view of (a) and a plan view of (b) showing a diamond diode according to one embodiment of the present invention.
The same parts as those in FIG. 3 are designated by the same reference numerals. This diode was manufactured as follows.

【0010】金属基板1としてPt板を用い、その表面に
#800 のダイヤモンド粉による傷付処理を行った。そし
てその表面上にμ波CVD法によるダイヤモンドの合成
を行う。ダイヤモンドの合成はCH4 ガスとH2 ガスを
0.5SCCMと99. 5SCCMの流量で流し、そのガスにBドー
プのためにB2 6 ガスを混合する。まず、B2 6
スをB/C比が1000ppm になるように混合して約1時間
で高濃度Bドープダイヤモンド膜21を形成し、連続して
2 6 ガスをB/C比が10ppm および100ppmになるよ
うに混合して約3時間で低濃度Bドープダイヤモンド膜
22を形成した。いずれの場合も反応圧力を30Torrに調節
し、2.45GHz 、400 Wのμ波を反応管内に置いた基板に
導入した。これによって原料ガスがプラズマ化し、約10
00℃となった基板上にダイヤモンド膜が合成される。そ
して、ダイヤモンド膜22の上にAlを蒸着し、パターニン
グして図(b) に示すような直径2mmの小面積ショットキ
ー電極3を縦横4個ずつ、計16個形成した。
A Pt plate was used as the metal substrate 1, and the surface thereof was scratched with # 800 diamond powder. Then, diamond is synthesized on the surface by the μ wave CVD method. The synthesis of diamond CH 4 gas and H 2 gas
Flowing at a flow rate of 0.5 SCCM and 99.5 SCCM, the gas is mixed with B 2 H 6 gas for B doping. First, B 2 H 6 gas B / C ratio to form a high concentration B-doped diamond film 21 in about 1 hour and mixed so that the 1000 ppm, is continuously B 2 H 6 gas B / C ratio Low concentration B-doped diamond film was mixed in 10ppm and 100ppm in about 3 hours.
22 formed. In each case, the reaction pressure was adjusted to 30 Torr, and a microwave of 2.45 GHz and 400 W was introduced into the substrate placed in the reaction tube. As a result, the source gas is turned into plasma, and about 10
A diamond film is synthesized on the substrate at 00 ° C. Then, Al was vapor-deposited on the diamond film 22 and patterned to form a total of 16 small-area Schottky electrodes 3 each having a diameter of 2 mm as shown in FIG.

【0011】このダイオードにおいては、内部抵抗に対
して特に金属基板5と高濃度Bドープダイヤモンド膜21
との間のオーミック接触が問題になる。このため、低濃
度Bドープダイヤモンド膜22を合成しない試料におい
て、オーミックであることを確認した。また、同様なC
VD法でSiO2基板上に高濃度Bドープダイヤモンド膜
を成膜して抵抗率を測定したところ、0.03Ωcmの値を得
た。
In this diode, the metal substrate 5 and the high-concentration B-doped diamond film 21 are particularly used for the internal resistance.
Ohmic contact between and becomes a problem. Therefore, it was confirmed that the sample in which the low concentration B-doped diamond film 22 was not synthesized was ohmic. Also, similar C
When a high-concentration B-doped diamond film was formed on the SiO 2 substrate by the VD method and the resistivity was measured, a value of 0.03 Ωcm was obtained.

【0012】上記のような構造のダイヤモンド・ダイオ
ードにおいて、整流特性を有することを確認した。ダイ
ヤモンド膜22のB/C=10ppmの場合の電流・電圧特性
を図4に示す。この場合、16個に分割されたショットキ
ー電極3のうち、3個程度にリークがあったので、それ
らの電極に端子との接続を切った。なお、上の実施例で
は金属基板5の材料にPtを用いたが、そのほかにAu、A
g、Cu、W、Moなども用いることができる。またショッ
トキー電極3の材料にAl以外にTiを用いてもよい。
It was confirmed that the diamond diode having the above structure has a rectifying characteristic. FIG. 4 shows the current / voltage characteristics of the diamond film 22 when B / C = 10 ppm. In this case, about three of the 16 Schottky electrodes 3 were leaked, and therefore the electrodes were disconnected from the terminals. Although Pt was used as the material of the metal substrate 5 in the above embodiment, other than Au, A
It is also possible to use g, Cu, W, Mo and the like. In addition to Al, Ti may be used as the material of the Schottky electrode 3.

【0013】[0013]

【発明の効果】本発明によれば、ダイヤモンド層の成膜
基板に抵抗率の小さい金属基板を用い、ダイヤモンド層
のその基板と接触する側に高濃度Bドープすることによ
り接触抵抗を下げた結果、内部抵抗の小さいダイヤモン
ド・ダイオードを得ることができた。またショットキー
電極を複数に分割することにより、多結晶質のダイヤモ
ンド層を通してのショットキー電極と基板との短絡が部
分的に生じても、整流特性のとれる電極のみを使用する
ことができ、短絡個所の数によって特性は下がるもの
の、製造歩留まりを上げることが可能になった。
According to the present invention, as a result of using a metal substrate having a low resistivity as a substrate for forming a diamond layer and doping the high concentration B on the side of the diamond layer which is in contact with the substrate to reduce the contact resistance. We were able to obtain a diamond diode with low internal resistance. Further, by dividing the Schottky electrode into a plurality of pieces, even if a short circuit between the Schottky electrode and the substrate through the polycrystalline diamond layer partially occurs, only the electrode having a rectifying characteristic can be used, and the short circuit can be achieved. Although the characteristics are reduced depending on the number of parts, it has become possible to increase the manufacturing yield.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のダイヤモンド・ダイオード
を示し、(a) は断面図、(b) は平面図
FIG. 1 shows a diamond diode according to an embodiment of the present invention, (a) is a sectional view, and (b) is a plan view.

【図2】従来のダイヤモンド・ダイオードの一例の断面
FIG. 2 is a sectional view of an example of a conventional diamond diode.

【図3】従来のダイヤモンド・ダイオードの他の例の断
面図
FIG. 3 is a sectional view of another example of a conventional diamond diode.

【図4】本発明の一実施例のダイヤモンド・ダイオード
の電圧・電流特性線図
FIG. 4 is a voltage / current characteristic diagram of a diamond diode according to an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

21 高濃度Bドープダイヤモンド膜 22 低濃度Bドープダイヤモンド膜 3 ショットキー電極 5 金属基板 21 high concentration B-doped diamond film 22 low concentration B-doped diamond film 3 Schottky electrode 5 metal substrate

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ダイヤモンドとオーミック接触する金属か
らなる基板上に高濃度でほう素の添加された第一ダイヤ
モンド層、その第一ダイヤモンド層の上に低濃度でほう
素の添加された第二ダイヤモンド層が積層され、その第
二ダイヤモンド層の表面に接触してショットキー接合を
形成する複数の電極が分散して設けられたことを特徴と
するダイヤモンド・ダイオード。
1. A first diamond layer having a high concentration of boron added on a substrate made of a metal which makes ohmic contact with a diamond, and a second diamond having a low concentration of boron added on the first diamond layer. A diamond diode, wherein layers are laminated, and a plurality of electrodes forming a Schottky junction in contact with the surface of the second diamond layer are dispersedly provided.
【請求項2】金属基板が白金、銅、金、銀、タングステ
ンおよびモリブデンのうちの一つよりなる請求項1記載
のダイヤモンド・ダイオード。
2. The diamond diode according to claim 1, wherein the metal substrate is one of platinum, copper, gold, silver, tungsten and molybdenum.
【請求項3】第一ダイヤモンド層のほう素濃度が800ppm
以上である請求項1あるいは2記載のダイヤモンド・ダ
イオード。
3. The boron concentration of the first diamond layer is 800 ppm.
The diamond diode according to claim 1 or 2, which is the above.
【請求項4】第二ダイヤモンド層のほう素濃度が5〜20
0ppmである請求項1、2あるいは3記載のダイヤモンド
・ダイオード。
4. The boron concentration of the second diamond layer is 5 to 20.
The diamond diode according to claim 1, 2 or 3, which has an amount of 0 ppm.
【請求項5】電極がアルミニウムおよびチタンのいずれ
かよりなる請求項1ないし4のいずれかに記載のダイヤ
モンド・ダイオード。
5. The diamond diode according to claim 1, wherein the electrode is made of aluminum or titanium.
【請求項6】金属基板上に炭素化合物とほう素化合物を
含むガスを用いての気相合成法で先ずほう素濃度の高い
第一ダイヤモンド層を成膜し、次いでほう素濃度の低い
第二ダイヤモンド層を成膜し、そのあと第二ダイヤモン
ド層の表面上に金属を蒸着し、その金属層をパターニン
グして複数の電極を形成することを特徴とするダイヤモ
ンド・ダイヤモンドの製造方法。
6. A first diamond layer having a high boron concentration is first formed on a metal substrate by a vapor phase synthesis method using a gas containing a carbon compound and a boron compound, and then a second diamond layer having a low boron concentration is formed. A method for producing diamond / diamond, comprising forming a diamond layer, then depositing a metal on the surface of the second diamond layer, and patterning the metal layer to form a plurality of electrodes.
【請求項7】基板との間に整流特性を有しない電極を除
く各電極を端子に接続する請求項6記載のダイヤモンド
・ダイオードの製造方法。
7. The method of manufacturing a diamond diode according to claim 6, wherein each electrode is connected to a terminal except an electrode having no rectifying characteristic with the substrate.
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JP2008141218A (en) * 2008-01-07 2008-06-19 Kobe Steel Ltd Electronic element structure
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