JPH05151600A - 光デイスク装置 - Google Patents

光デイスク装置

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JPH05151600A
JPH05151600A JP31418691A JP31418691A JPH05151600A JP H05151600 A JPH05151600 A JP H05151600A JP 31418691 A JP31418691 A JP 31418691A JP 31418691 A JP31418691 A JP 31418691A JP H05151600 A JPH05151600 A JP H05151600A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 光スポットのオフトラックを記録中のウォブ
ルエラー率から検出してオフトラックを補正し、記録再
生特性が安定な光ディスク装置を提供する。 【構成】 オフセット可変回路20により光スポットを
オフトラックさせ、記録中のウォブルエラー率WBER
Rをウォブルエラー計測回路17で計測する。ウォブル
エラー率WBERRと所定の比較値VREFとを比較回路
18が比較する。比較回路18の結果に応じて、オフセ
ット探索回路19が、オフセットVOFを可変しながら、
記録中のウォブルエラー率WBERRが最小近傍となる
オフセットVOFを探索する。オフセット可変回路20
が、探索したオフセットを保持して、光スポットをオフ
トラックが最適の位置に設定する。これより、光スポッ
トのオフトラックを記録中のウォブルエラー率から確実
に検出して、光スポットのオフトラックを補正すること
ができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は半導体レーザの光を絞っ
た光スポットを用いて、光ディスク上に情報を記録した
り、あるいは記録した情報を再生する光ディスク装置の
なかで、特に光スポットのオフトラックの検出及び補正
を行う光ディスク装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、コンパクトディスクに代表される
再生専用の光ディスクに対して、ディジタル音声を記録
可能な光ディスクが開発されている。記録が一度だけ可
能なライトワンス(W/O)では、色素系の記録膜が採
用されている。記録が繰り返し可能な書換え形では、光
磁気(MO)と、相変化(PC)の2種類の記録膜が採
用されている。ライトワンス、書換え形のどちらのディ
スクも、トラックがトラックの幅方向にウォブル(蛇
行)されて、位置情報等の管理情報が記録されている。
【0003】以下に、これらの記録可能な光ディスクを
用いた従来の光ディスク装置について説明する。
【0004】図10はこの従来の光ディスク装置のサー
ボ回路まわりのブロック図を示すものである。図10に
おいて、1は記録可能な光ディスク、2は光ディスク1
の記録媒体、3は光ディスク1を回転させるスピンドル
モータである。光源となる半導体レーザ4は、レーザ駆
動回路5によりその光出力を制御される。半導体レーザ
4から出た光ビームはコリメートレンズ6により平行光
に変換された後、偏光ビームスプリッタ7を通過して、
λ/4板8により円偏光に変換され、対物レンズ9によ
り絞り込まれて光ディスク1の記録媒体2上に光スポッ
トを結ぶ。
【0005】対物レンズ9には、光軸に平行なフォーカ
ス方向に光スポットの位置を制御するために、フォーカ
スアクチュエータ10aが取り付けられている。また、
対物レンズ9には光ディスク1のトラックの半径方向に
光スポットの位置を制御するトラッキングアクチュエー
タ10bが取り付けられている。
【0006】光ディスク1に入射した光は、光ディスク
1の記録媒体2により反射され、対物レンズ9を通った
後、λ/4板8により直線偏光に変換され、偏光ビーム
スプリッタ7により反射され、光検出器11に入る。
【0007】分割された光検出器11の出力を演算回路
12が演算し、光スポットの焦点ずれを示すフォーカス
誤差信号FE、トラック中心からのずれを示すトラッキ
ング誤差信号TEを出力する。なお、トラッキング誤差
信号の検出は、ウォブル信号を検出するため、プッシュ
プル方式を用いている。
【0008】フォーカス制御手段13は、フォーカス誤
差信号FEにより、フォーカスアクチュエータ10aを
光軸に平行なフォーカス方向に駆動する。トラッキング
制御手段14は、トラッキング誤差信号TEにより、ト
ラッキングアクチュエータ10bをトラックの半径方向
に駆動する。
【0009】ウォブル信号検出回路15は、トラッキン
グ誤差信号TEをバンドパスフィルタに通してウォブル
信号の帯域を抜き、アナログのウォブル信号を検出す
る。アナログのウォブル信号をディジタル化したウォブ
ル信号WBをウォブルデコード回路16に出力する。
【0010】ウォブルデコード回路16は、ウォブル信
号WBをデコードして、位置情報等の管理情報を再生す
る。また、ウォブル信号WBに含まれるウォブルエラー
WBERを検出する。
【0011】次に、図11を用いて光ディスク1のウォ
ブルしたトラックについて説明する。図11において、
1番上の図は、トラックを半径方向に見たものである。
真ん中の図は、トラックを半径方向とは垂直なタンジェ
ンシャル方向に見たものを示す。下の図は、前記トラッ
クを、光スポットがクロスした場合のトラッキング誤差
信号TEを示す。
【0012】ここで、トラックは100のランドと10
1のグルーブから構成されている。ランド100とグル
ーブ101はピッチPで半径方向に刻まれている。10
2はトラックをタンジェンシャル方向に見たもので、図
から分かるように、所定の周期でウォブル(蛇行)して
いる。103はウォブルしたグルーブ101の中心線で
ある。104はグルーブ101の平均の中心線(以下、
平均中心線と呼ぶ。)である。105は中心線103か
らの平均中心線104のずれ量を示す。このずれ量をa
とすると、このaは光スポットが平均中心線104上を
トレースしている場合に、ウォブルしたトラックの中心
線103からのずれを表す。これは、光スポットが平均
中心線104上をトレースしている場合に、プッシュプ
ル方式によるトラッキング誤差信号TEに、このずれ量
aに応じた成分のウォブル信号Wが発生することを意味
する。
【0013】トラッキング誤差信号TEの振幅をAと
し、トラッキング誤差信号TEが正弦波で近似されると
すると、ウォブル信号Wの振幅は、 W=A*sin(2πa/P) と表せる。このウォブル信号Wは、トラックタンジェン
シャル方向で、ずれ量aが変化するにつれ、正弦波的に
変化する。ここで、ウォブル信号の最大振幅をA1と
し、ウォブル信号の時間変化をw(t)とすれば、 w(t)=A1*sin(ωt) と表される。
【0014】次に、以上のように構成された従来の光デ
ィスク装置について、以下その記録動作を図12を用い
て説明する。
【0015】図12は上から、半導体レーザの光出力の
波形図、記録前のトラックの様子、記録後のトラックの
様子を示す。ここで、光出力の波形図は、基本的にライ
トワンスあるいは光磁気形の記録媒体に対応し、再生レ
ベルPPLY と記録レベルPREC の2つのレベルを持つ。
相変化形の記録媒体では、基本的に消去レベルが加わ
り、3値となる。再生時は、低出力の再生レベルPPLY
で、DC的に光が制御される。記録時は、高出力の記録
レベルPREC と、再生レベルPPLY 近辺の間で、記録信
号により変調される。変調時の光出力の差は、δP1と
示される。
【0016】記録前に、ブランクであったトラックに、
光出力が記録レベルになるところで記録ピットが記録さ
れる。
【0017】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来の構成で
は、トラッキング制御手段14にオフセットが存在した
時、光スポットがトラックの中心からオフトラックして
しまい、記録あるいは再生特性が悪化する。オフトラッ
クの原因となるオフセットは、光ヘッド内での光検出器
11のずれ、光学部品のずれ、光ヘッドと光ディスクの
傾き、光ディスクのトラックの製造ばらつき、演算回路
12の電気的オフセット、トラッキング制御手段14の
電気的オフセット等、さまざまな発生要因がある。この
ため、初期設定でオフセットを調整していても、経時変
化等でオフセットが発生し、光スポットがオフトラック
してしまうとういう問題点を有していた。また、単に電
気的なオフセットの調整では、光学的なオフセットが調
整できず、光スポットがオフトラックしてしまう。さら
に、光スポットのオフトラックは精度良く検出できない
ため、光スポットのオフトラックを補正することが困難
であるという問題点を有していた。
【0018】本発明は上記従来の問題点を解決するもの
で、光スポットのオフトラックを確実に検出し補正する
ことにより、記録再生特性が安定な光ディスク装置を提
供することを目的とする。
【0019】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に本発明の光ディスク装置は、トラッキング誤差信号に
含まれるウォブル信号を検出するウォブル信号検出回路
と、ウォブル信号をデコードしてウォブルエラーを検出
するウォブルデコード回路と、ウォブルエラーを計測し
てウォブルエラー率を出力するウォブルエラー計測回路
と、トラッキング制御手段にオフセットを加算し光スポ
ットをオフトラックさせるオフセット加算手段と、前記
オフセットを増加あるいは減少あるいは保持するオフセ
ット可変手段と、記録中のウォブルエラー率を最小近傍
とするオフセットを探索後、前記オフセット可変手段に
探索したオフセットを保持させるオフセット探索手段と
を有している。
【0020】
【作用】本発明は上記した構成により、オフセット可変
手段により設定したオフセットをトラッキング制御手段
に加算し、光スポットをオフトラックさせる。この状態
で、光出力を記録状態にして、記録中のウォブルエラー
率をウォブルエラー計測回路で計測する。光出力が記録
状態で変調していると、再生時で光出力がDCの時より
も、オフトラックに対するウォブル信号のエラーが大き
く、オフトラック検出感度が高くなり、ウォブルエラー
率を確実に検出することができる。オフセット探索手段
が、オフセットを可変しながら、記録中のウォブルエラ
ー率が最小近傍になるオフセットを探索する。オフセッ
ト可変手段が探索したオフセットを保持して、光スポッ
トのオフトラックを最適の位置に設定する。このように
して、光スポットのオフトラックを記録中のウォブルエ
ラー率から確実に検出して、トラッキングのオフセット
を設定し、光スポットのオフトラックを補正することに
より、光ディスク装置の記録再生特性を安定にすること
が出来る。
【0021】
【実施例】以下、本発明の一実施例について、図面を参
照しながら説明する。
【0022】図1は本発明の実施例における光ディスク
装置のブロック図を示すものである。先に説明した従来
例のブロック図である図10に新たに付加した部分を説
明する。図1において、17はウォブルエラー計測回路
であり、ウォブルデコード回路16からのウォブルエラ
ーWBERを所定の時間計測し、時間当りのエラー率で
あるウォブルエラー率WBERRを出力する。18は比
較回路であり、ウォブルエラー率WBERRと所定の比
較値VREF とを比較し、その結果を出力する。所定の比
較値VREF はオフトラックが最適な時のウォブルエラー
率WBERRの値である。19はオフセット探索回路で
あり、比較回路18の出力をもとに、記録中のウォブル
エラー率WBERRが最小近傍となるオフトラックが最
適なオフセットを探索する。20はオフセット可変回路
であり、トラッキング制御手段14へ加算するオフセッ
トVOFを可変したり、探索した最適なオフセットを保持
したりする。オフセット可変回路20は、カウンタ20
aと、DA変換器20bから構成される。カウンタ20
aは3本の信号で制御される。UP信号は、カウンタ2
0aの出力が増加する方向にカウンタ20aをカウント
させる。DW信号は、出力が減少する方向にカウンタ2
0aをカウントさせる。HLD信号は、カウンタ20a
のカウント動作を停止させる。カウンタ20aのディジ
タル出力DATAはDA変換器20bに接続され、ディ
ジタル出力DATAの大きさに応じたアナログ電圧が出
力される。このアナログ電圧は、トラッキング制御手段
14のオフセットVOFとなる。21はオフセット加算回
路であり、オフセット可変回路20のオフセットVOFを
トラッキング制御手段14に加算する。
【0023】以上のように構成された本実施例の光ディ
スク装置について、以下そのウォブルエラー率WBER
Rの検出によるオフトラックの補正について説明する。
【0024】まず、図2を用いてオフトラックに対する
ウォブルエラー率WBERRの関係について説明する。
図2のグラフは、横軸にオフトラック量、縦軸にウォブ
ルエラー率WBERRをとっている。示したデータは、
再生中のウォブルエラー率WBERRと、記録中のウォ
ブルエラー率WBERRである。記録は基本的には、記
録のレベルで変調したライトワンス形、あるいは光磁気
を想定している。破線のVREF は、前記比較回路18の
所定の比較値を示す。また、破線のSpecはウォブル
エラー率WBERRのスペックを示す。再生中のウォブ
ルエラー率WBERRは、オフトラック量に対して緩や
かに変化し、影響が少ない。これに対して、記録中のウ
ォブルエラー率WBERRは、オフトラック量に対する
変化が大きい。これより、記録中のウォブルエラー率W
BERRの方がオフトラック検出感度が高いことにな
る。一般的なウォブルエラー率WBERRのスペックで
ある10のマイナス1乗を満足するのは、オフトラック
量が±0.1μの範囲である。これを利用して、記録中
のウォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフト
ラックを確実に探索することにより、オフトラックを最
適値に補正するオフセットを設定することができる。
【0025】記録と再生におけるオフトラックの検出感
度であるウォブルエラー率WBERRの差は以下のよう
に説明できる。まず、再生時に光出力がDCで一定の場
合には、先で説明したようにウォブル信号の時間変化
は、 w(t)=A1*sin(ωt) と表される。光スポットがオフトラックしていると、ウ
ォブル信号にもDCオフセットがのる。ウォブル信号は
ウォブルしている幅がトラックピッチに対して小さいた
め、オフセットが大幅にのってしまう。オフセット成分
をADCとすると、ウォブル信号は、 w(t)=ADC+A1*sin(ωt) と表される。
【0026】次に記録時には、光出力が記録信号で変調
されている。ディジタルオーディオの場合にはEFM
(Eight To Fourteen modulation)で変調されている。
記録時の光をmd(t)とすれば、読み出される記録中
のウォブル信号wr(t)は、 wr(t)=w(t)*md(t) =ADC*md(t)+A1*sin(ωt)*md
(t) となる。ウォブル信号成分であるsin(ωt)を抜く
には、バンドパスフィルタで、記録のEFM成分である
md(t)を除去する。しかし、完全にはmd(t)の
成分は除去できないため、EFM成分の影響がノイズと
して出てくる。また、光スポットがオフトラックしてい
ると、ウォブル信号には大きなオフセット成分ADCが発
生し、これによるノイズが影響してくるため、さらに信
号S/Nが悪化する。
【0027】以上の理由で、再生時よりも、光を変調し
た記録時の方が、オフトラックに対するウォブルエラー
率WBERRが大きく影響を受け悪化するため、オフト
ラックの検出感度が高くなる。
【0028】次に図3を用いて、本実施例のオフセット
探索回路19の記録中のウォブルエラー率WBERRを
最小近傍とするオフトラックを探索する動作を説明す
る。
【0029】図3は、図2のグラフで、オフトラックが
0.02μ近辺の記録中のウォブルエラー率WBERR
を拡大したものである。横軸にオフトラック量を取って
いるが、これはトラッキング制御手段14に加算するオ
フセットVOFとリニアな関係である。ウォブルエラー率
WBERRが最小となるオフセットは、光スポットのオ
フトラックがほぼ0近辺に一致している場合である。下
のケースBは、ウォブルエラー率WBERRが最小とな
るオフセットは、光スポットのオフトラックが+0.0
1μにずれている場合である。
【0030】ケースAのグラフを用いて、オフセット探
索回路19の動作を説明する。まず、オフセット探索回
路19はオフセット可変回路20のカウンタ20aのデ
ータを0にしてDA変換器20bのオフセット出力VOF
を0に設定する。これはオフトラック量0μに相当し、
グラフのn=1で示されるポイントである。この時、記
録状態でのウォブルエラー率WBERRを比較回路18
でVREF と比較する。ウォブルエラー率WBERRはV
REF よりも小さいと判定される。この結果により、オフ
セット探索回路19はカウンタ20aをカウントアップ
させ、オフセットVOFを増加する。これはn=2で示さ
れるオフトラック量0.005μに相当し、この時の記
録状態でのウォブルエラー率WBERRを比較回路18
でVREFと比較する。ウォブルエラー率WBERRはVR
EF よりも小さいと判定される。この結果により、オフ
セット探索回路19はカウンタ20aをカウントアップ
させ、先と同様の動作を繰り返す。この動作は比較回路
18の比較値VREF をウォブルエラー率WBERRが越
えるまで繰り返され、グラフ上でn=1,2,3,4,
5と示される。オフセットがn=5で示されるオフトラ
ック0.02μの時、ウォブルエラー率WBERRが比
較値VREF を越える。
【0031】この時、オフセット検索回路19は、カウ
ンタ20aをデータ0からカウントダウンの動作に移
し、オフセットVOFをマイナス側に設定する。これはn
=6で示されるオフトラック量−0.005μ相当であ
り、この時の記録状態でのウォブルエラー率WBERR
を比較回路18でVREF と比較する。ウォブルエラー率
WBERRはVREF よりも小さいと判定される。この結
果により、オフセット探索回路19はカウンタ20aを
カウントダウンさせ、先と同様の動作を繰り返す。これ
は比較回路18の比較値VREF をウォブルエラー率WB
ERRが越えるまで繰り返され、グラフ上でn=6,
7,8,9と示される。オフセットVOFがn=9で示さ
れるオフトラック−0.02μ相当の時、ウォブルエラ
ー率WBERRが比較値VREF を越える。
【0032】この時、オフセット探索回路19は、比較
値VREF よりも低いウォブルエラー率WBERRを示す
オフセットn=1,2,3,4,6,7,8から、ウォ
ブルエラー率WBERRを最小近傍とするn=1のオフ
セットVOFを選択する。これは具体的には、メモリにデ
ータを保存しておけば可能である。また、ソフト的に判
定しても構わない。
【0033】選択したオフセットVOFを発生するデータ
をカウンタ20aに発生させ、その後HLD信号により
カウンタ20aの動作を停止させる。カウンタ20aが
保持したデータDATAによりDA変換器20bは、ウ
ォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフセット
VOFを保持し、オフセットVOFはオフセット加算回路2
1により、トラッキング制御手段14に加算される。こ
れにより、ウォブルエラー率WBERRが最小近傍とな
るオフトラック0μの最適なトラック位置に光スポット
が制御される。これは光ディスク装置が、記録状態のみ
ならず、再生状態においても、ウォブルエラー率WBE
RRが最小近傍となるオフセットVOFは保持される。
【0034】ケースBについても、オフセット探索回路
19の動作は同様である。グラフ上でn=1で始まり、
比較回路18の比較値VREF を記録中のウォブルエラー
率WBERRが越えるn=7までオフトラックがプラス
方向になるよう、オフセットVOFが増加する。n=7で
ウォブルエラー率WBERRが比較値VREF を越える
と、オフセットVOFがマイナス側に増加する。n=9で
ウォブルエラー率WBERRが比較値VREF を越える
と、オフセット探索回路19は、比較値VREF よりも低
いウォブルエラー率WBERRを示すオフセットn=
1,2,3,4,5,6,8から、ウォブルエラー率W
BERRを最小近傍とするオフトラック+0.01μに
対応するn=3のオフセットを選択する。
【0035】選択したn=3のオフセットVOFを発生す
るデータをカウンタ20aに発生させ、HLD信号によ
りカウンタ20aの動作を停止させる。カウンタ20a
が保持したデータDATAによりDA変換器20bは、
ウォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフセッ
トVOFを保持し、オフセットVOFはオフセット加算回路
21により、トラッキング制御手段14に加算される。
これにより、ウォブルエラー率WBERRが最小近傍と
なるオフトラック+0.01μの最適なトラック位置に
光スポットが制御される。
【0036】以上のように本実施例によれば、トラッキ
ング誤差信号に含まれるウォブル信号を検出するウォブ
ル信号検出回路と、ウォブル信号をデコードしてウォブ
ルエラーを検出するウォブルデコード回路と、ウォブル
エラーを所定の時間計測してウォブルエラー率を出力す
るウォブルエラー計測回路と、トラッキング制御手段に
オフセットを加算し、光スポットをオフトラックさせる
オフセット加算手段と、前記ウォブルエラー率と所定の
比較値を比較する比較手段と、前記オフセットを増加あ
るいは減少あるいは保持するオフセット可変手段と、比
較手段の結果に応じてオフセット可変手段を制御し、記
録中のウォブルエラー率を最小近傍とするオフセットを
探索後、前記オフセット可変手段に探索したオフセット
を保持させるオフセット探索手段とを設けることによ
り、光スポットのオフトラックを確実に検出して補正
し、光ディスク装置の記録再生特性を安定にすることが
できる。 次に、本発明の第2の実施例を説明する。第
2の実施例は、第1の実施例において、比較回路18を
なくし、オフセット可変可変回路20で設定した複数の
オフセットVOFと、複数のオフセットVOFに対応する記
録中のウォブルエラー率WBERRとの関係を所定の式
で近似して、記録中のウォブルエラー率WBERRが最
小近傍となるオフセットを探索するものである。
【0037】第2の実施例の動作を図4を用いて説明す
る。図4において、横軸にオフセットVOFとリニアなオ
フトラック量、縦軸に記録中のウォブルエラー率WBE
RRをとっている。図4において、オフセット探索回路
19は、オフトラック±0.02μに対応する5点のオ
フセットVOFを、オフセット可変回路20により発生さ
せる。まず、n=1で示されるオフトラック−0.02
μに相当するオフセットVOFが設定される。このオフセ
ットVOFの時の記録中のウォブルエラー率WBERRが
ウォブルエラー計測回路17で計測され、メモリにて保
持される。
【0038】同様に、n=2,3,4,5で示されるオ
フセットVOFに対応する記録中のウォブルエラー率WB
ERRが計測され、メモリに保持される。
【0039】n=1,2,3,4,5の5点におけるオ
フセットVOFと記録中のウォブルエラー率WBERRと
の関係より、最小2乗法等の近似式を用いて、記録中の
ウォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフセッ
トVOFが探索される。図4において、n=4の点のオフ
セットVOFに対応するオフトラック+0.01μが、記
録中のウォブルエラーWBERR率が最小と探索され
る。探索したオフセットVOFが、オフセット可変回路2
0において保持される。保持されたオフセットVOFがオ
フセット加算回路21により、トラッキング制御手段1
4に加算される。
【0040】これにより、比較回路を用いずに、記録中
のウォブルエラー率WBERRが最小近傍となるオフト
ラック+0.01μの最適なトラック位置に光スポット
が制御される。近似式を用いるため、測定点の数は比較
的少なくて精度を改善することができる。また、測定点
を用いた近似式による計算はソフト的に行うことができ
る。
【0041】以上のように本実施例によれば、オフセッ
ト可変手段により設定した複数のオフセットと、複数の
オフセットに対応する記録中のウォブルエラー率との関
係を所定の式で近似して、記録中のウォブルエラー率を
最小近傍とするオフセットを探索するため、比較回路を
用いるものに比べ回路構成を簡単にすることができ、ま
た測定点の数が少なくて、精度を上げることができる。
【0042】次に、本発明の第3の実施例を説明する。
第3の実施例は、相変化形光ディスクと、半導体レーザ
の光を記録信号により消去のレベルと記録のレベルとの
間で変調するレーザ駆動回路とを備えた光ディスク装置
で、消去のレベルを再生レベル近辺あるいはそれ以下に
設定して記録し、光スポットのオフトラックを検出し補
正するものである。
【0043】図5を用いて、相変化形光ディスクのオー
バーライト時の動作を説明する。図5において、上から
半導体レーザの光出力の波形図、オーバーライト前のト
ラックの様子、オーバーライト後のトラックの様子を示
す。DCで発光する再生レベルに対して、オーバーライ
ト時には、消去レベルと記録レベルとの間δP2で光が
変調される。
【0044】オーバーライト前の記録してあった記録ピ
ットが、オーバーライトの光を当てることにより消去さ
れると同時に、新しい記録ピットが記録される。基本的
に、相変化のディスクは、消去状態が結晶で、記録状態
のピットはアモルファスになる。つまり、記録レベルの
光が当たると、融点以上に加熱され急冷されてアモルフ
ァス状態になる。消去レベルの光が当たると、結晶化温
度以上で、融点以下の温度まで加熱されて結晶状態にな
る。
【0045】ここで、図12で示す従来例の光出力波形
図において、変調時の光出力の差はδP1であった。こ
の光出力の差δP1が大きいほどウォブルエラー率WB
ERRが悪化するため、オフトラック検出感度が高くな
る。
【0046】従来例の変調時の光出力差δP1に対し
て、相変化形の変調時の光出力差δP2は、記録レベル
と消去レベルの間である。これは消去レベルの分だけ光
出力差が小さく、ウォブルエラー率WBERRの悪化が
少なく、検出感度が低くなる。
【0047】このため本発明の第3の実施例では、記録
の光波形を図6に示すように、消去レベルを再生レベル
近辺あるいはそれ以下に設定して、記録中のウォブルエ
ラー率WBERRを最小近傍とするオフセットを探索す
るようにした。変調時の光出力差はδP3であり、オー
バーライト時のδP2よりも大きくなっている。相変化
形ディスクにおいて、消去レベルが低いと消去ができ
ず、オーバーライト動作は不可能になる。しかしなが
ら、オフセット探索するトラックが記録されていないブ
ランクであれば、記録動作は問題ない。
【0048】図7を用いて、本発明の第3の実施例のオ
フトラック量とウォブルエラー率WBERRとの関係を
示す。図7で横軸にオフトラック量、縦軸にウォブルエ
ラー率WBERRをとっている。データは再生の他に記
録の2種類のデータを示す。1つがオーバーライトモー
ドのもの、他が消去レベルを再生レベルあるいはそれ以
下に設定したライトワンスモードのものである。
【0049】オーバーライトモードでも再生中よりもオ
フトラックの検出感度は高く、これを利用してオフトラ
ックの検出及び補正は行うことができる。しかし、オー
バーライトモードよりも、ライトワンスモードの方が一
層オフトラックの検出感度が高くなる。これを利用し
て、ライトワンスモードで記録することにより、記録中
のウォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフト
ラックを感度良く確実に探索することができ、オフトラ
ックを最適値に補正するオフセットを設定することがで
きる。
【0050】以上のように、本実施例によれば、相変化
形光ディスクと、半導体レーザの光を記録信号により消
去のレベルと記録のレベルとの間で変調するレーザ駆動
回路と、消去のレベルを再生レベル近辺あるいはそれ以
下に設定して記録中のウォブルエラー率を最小近傍とす
るオフセットを探索後、前記オフセット可変手段に探索
したオフセットを保持させるオフセット探索手段とを設
けることにより、相変化形光ディスクにおいても、光ス
ポットのオフトラックを確実に検出して補正し、光ディ
スク装置の記録再生特性を安定にすることができる。
【0051】次に、本発明の第4の実施例を説明する。
第4の実施例は、相変化形光ディスクと、半導体レーザ
の光を記録信号により消去のレベルと記録のレベルとの
間で変調するレーザ駆動回路とを備えた光ディスク装置
であり、ライトワンスモードで記録中のウォブルエラー
率WBERRを最小近傍とするオフセットを探索する前
に、トラックを消去してしまうことを特徴とするもので
ある。
【0052】相変化形光ディスクで、ライトワンスモー
ドで記録中のウォブルエラー率WBERRを最小近傍と
するオフセットを探索するには、トラックがブランクで
あることが必要となる。これはオフセット検索の度に、
常に試験用の所定のブランクのトラックを使用すること
になり、光ディスクのユーザデータとして記録可能な領
域を減らすことになる。
【0053】このため本発明の第4の実施例では、ま
ず、オフセット探索を行うトラックを消去する。これは
相変化形光ディスクでは、光を消去レベルに設定してD
C消去するか、記録信号をゼロでオーバーライトするこ
とで容易に実現できる。消去したトラックにおいて、ラ
イトワンスモードで記録中のウォブルエラー率WBER
Rを最小近傍とするオフトラックを確実に探索すること
ができ、オフトラックを最適値に補正するオフセットを
設定することができる。
【0054】以上のように、本実施例によれば、相変化
形光ディスクと、半導体レーザの光を記録信号により消
去のレベルと記録のレベルとの間で変調するレーザ駆動
回路と、トラックを消去した後で、消去のレベルを再生
レベル近辺あるいはそれ以下に設定して記録中のウォブ
ルエラー率を最小近傍とするオフセットを探索後、前記
オフセット可変手段に探索したオフセットを保持させる
オフセット探索手段とを設けることにより、相変化形光
ディスクにおいて、光スポットのオフトラックを確実に
検出して補正し、光ディスク装置の記録再生特性を安定
にすると共に、光ディスクの記録領域の利用効率を高め
ることができる。
【0055】次に、本発明の第5の実施例を説明する。
第5の実施例は、ウォブルエラー率WBERRを最小近
傍とするオフセット探索を、所定のトラックにおいて実
行するものである。ユーザのデータ領域でトラッキング
制御手段にオフセットをのせて記録していると、光スポ
ットがオフトラックするため、隣のトラックのデータを
破壊する恐れがある。このため、ユーザのデータ領域以
外の、所定の領域のトラックにおいて、ウォブルエラー
率WBERRを最小近傍とするオフセットを探索する。
【0056】以上のように本実施例によれば、ウォブル
エラー率WBERRを最小近傍とするオフセット探索
を、所定のトラックにおいて実行するため、光ディスク
装置の記録再生特性を安定にすると共に、ユーザのデー
タをオフトラックで記録して破壊することを防止するこ
とができる。
【0057】次に、本発明の第6の実施例について説明
する。第6の実施例は、光ディスク装置に光ディスクが
挿入された際に、ウォブルエラー率WBERRを最小近
傍とするオフセット探索を、所定のトラックにおいて実
行するものである。
【0058】光ディスク装置のオフトラックは、一つの
光ディスクに対して、一度補正して設定すれば大きくは
変化しない。このため、光ディスクが光ディスク装置に
挿入される毎に、オフセット検索を実行すれば、確実に
オフトラックの補正をかけることができる。
【0059】以上のように本実施例によれば、光ディス
ク装置に光ディスクが挿入された際に、ウォブルエラー
率WBERRを最小近傍とするオフセット探索を、所定
のトラックにおいて実行するため、光ディスク装置の記
録再生特性を安定にすると共に、光ディスクのバラツキ
を吸収し、また、光ディスク装置のシステム稼働効率を
向上することができる。
【0060】次に、本発明の第7の実施例について説明
する。第7の実施例は、オフセット探索手段が、記録中
のウォブルエラー率WBERRから、再生時のウォブル
エラー率WBERRを引いたウォブルエラー率WBER
Rを最小近傍とするオフセット探索を実行するものであ
る。
【0061】図8を用いて、その動作を説明する。図8
は、横軸にオフトラック量、縦軸にウォブルエラー率W
BERRをとっている。データは、通常再生時のウォブ
ルエラー率WBERRと、光ディスクのトラックに欠陥
等があり、通常再生時よりもウォブルエラー率が悪い場
合の、再生中と記録中のウォブルエラー率WBERRの
3種類のデータを示す。
【0062】欠陥のあるトラックにおいては、再生時で
もウォブルエラー率WBERRが一様に悪くなる。点P
1で示すように、オフトラック0μでも10のマイナス
4乗であり、通常の再生時の10のマイナス5乗以下よ
りも悪くなる。このようなトラックで本発明のオフセッ
ト探索を行うと、所定の比較値VREFは、記録中のウォ
ブルエラー率WBERRとクロスすることがなく、比較
されない。
【0063】このため、点P1で示される再生時のウォ
ブルエラー率WBERRを保持しておき、記録中のウォ
ブルエラー率WBERRから再生時のウォブルエラー率
WBERRを引いた補正したウォブルエラー率WBER
Rを用いる。補正したウォブルエラー率WBERRは、
トラックの欠陥等により一様に発生したエラーが補正さ
れており、比較回路18で所定の比較値VREF により比
較することが可能になる。これによりオフセット探索が
実行でき、欠陥のあるトラックに影響されず、オフトラ
ックの補正ができる。
【0064】以上のように、本実施例によれば、記録中
のウォブルエラー率WBERRから再生時のウォブルエ
ラー率WBERRを引いたウォブルエラー率WBERR
を最小近傍とするオフセット探索を行うため、光ディス
クのばらつきやトラックの欠陥などに影響されず、確実
にオフトラックの補正をかけることができる。
【0065】次に、本発明の第8の実施例について説明
する。第8の実施例は、再生時のウォブルエラー率WB
ERRが所定のエラー率を超えるトラックの場合、オフ
セット探索を行わず、別のトラックにおいて記録中のウ
ォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフセット
を探索するものである。
【0066】オフセット探索を行うトラックが大きな欠
陥等で、スペックを超えるウォブルエラー率WBERR
が再生時にあれば、そのようなトラックで記録したオフ
セット探索は信頼性に乏しい。このため、オフセット探
索を行うトラックで、まず、再生時のウォブルエラー率
WBERRが所定のエラー率を超えていないか確認す
る。もし再生時のウォブルエラー率WBERRが所定の
エラー率を超えていると、オフセット探索のトラックが
別のトラックに移される。移ったトラックにおいて、オ
フセットを可変して、記録中のウォブルエラー率WBE
RRが最小近傍となるオフセットが探索される。
【0067】再生時のウォブルエラー率WBERRが、
所定のエラー率よりも低い場合にはそのトラックでオフ
セット探索が行われる。つまり、再生時のウォブルエラ
ー率WBERRが所定のエラー率よりも低いトラックで
のみ、オフセット探索が実行され、信頼性が大きく改善
される。
【0068】以上のように本実施例によれば、再生時の
ウォブルエラー率WBERRが所定のエラー率を超える
トラックの場合、別のトラックに移って記録中のウォブ
ルエラー率WBERRを最小近傍とするオフセット探索
が行われ、探索されるオフセットの信頼性を改善するこ
とが出来る。
【0069】次に、本発明の第9の実施例について説明
する。第9の実施例は、比較回路18が、所定の比較値
VREF を可変することを特徴とするものである。図9を
用いて、その動作を説明する。図9は、横軸にオフトラ
ック量、縦軸にウォブルエラー率WBERRをとってい
る。データは、トラックに欠陥等がある場合の記録中の
ウォブルエラー率WBERRのデータを示す。
【0070】記録中のウォブルエラー率の最小値は、所
定の比較値VREF とクロスすることがなく、オフセット
探索回路19は、ウォブルエラー率WBERRを最小近
傍とするオフセットを見つけることができない。この場
合に、所定の比較値VREF を可変して、VREF2とする。
これにより、記録中のウォブルエラー率WBERRは所
定の比較値VREF2とクロスし、オフセット探索回路19
は、ウォブルエラー率WBERRを最小近傍とするオフ
セットを見つけることが可能になる。
【0071】以上のように、本実施例によれば、比較回
路18が、所定の比較値VREF を可変とすることによ
り、光ディスクのばらつきやトラックの欠陥などに影響
されず、確実にオフトラックの補正をかけることが出来
る。
【0072】次に、本発明の第10の実施例について説
明する。第10の実施例は、比較回路18の所定の比較
値VREF のレベルを、再生時のウォブルエラー率WBE
RRに応じて、可変とするものである。
【0073】トラック欠陥等により、記録中のウォブル
エラー率WBERRが、所定の比較値VREF をクロスし
ない場合に、所定の比較値VREF を可変して対応する。
この時、再生時のウォブルエラー率WBERRを基準に
して、所定の比較値VREF の可変レベルを設定する。こ
れにより、ディスクの状態に応じて、適切な比較回路1
8の比較値VREF のレベルを決定することができ、オフ
セット探索回路19はウォブルエラー率WBERRを最
小近傍とするオフセットを見つけることが可能になる。
【0074】以上のように、本実施例によれば、比較回
路18が、所定の比較値VREF のレベルを、再生時のウ
ォブルエラー率WBERRに応じて可変とすることによ
り、光ディスクのばらつきやトラックの欠陥などに影響
されず、確実にオフトラックの補正をかけることができ
る。
【0075】なお、本実施例において、光出力を記録と
消去と再生の3値レベルに制御するレーザ駆動回路を相
変化形の光ディスクに対応させたが、これは光磁気にお
いて光変調のオーバーライトするものにも対応すること
ができ、本発明はそのまま適用できる。
【0076】また、第2の実施例において、最小近傍の
ウォブルエラー率を求めるのに、最小2乗法を用いると
したが、これは最小近傍の点を求める近似であれば、何
であっても構わない。
【0077】
【発明の効果】以上のように本発明は、光スポットのオ
フトラックを記録中のウォブルエラー率から確実に検出
して、光スポットのオフトラックを補正することによ
り、光ディスク装置の記録再生特性を安定にすることが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例における光ディスク装置の構成
を示すブロック図
【図2】同実施例におけるオフトラックに対するウォブ
ルエラー率WBERRの関係を示す特性図
【図3】本発明の第1の実施例の動作を説明するための
オフトラック量対ウォブルエラー率の関係を示す特性図
【図4】本発明の第2の実施例の動作を説明するための
オフトラック量対ウォブルエラー率の関係を示す特性図
【図5】本発明の第3の実施例における相変化形光ディ
スクのオーバーライトの様子を説明するための説明図
【図6】同第3の実施例におけるライトワンスモードで
の記録の様子を説明するための説明図
【図7】同第3の実施例におけるオーバーライトとライ
トワンス時のウォブルエラー率を説明するための特性図
【図8】本発明の第7の実施例における通常再生と異常
再生時のウォブルエラー率を説明するための特性図
【図9】本発明の第9の実施例における比較回路の所定
の比較値VREF の可変を説明するための特性図
【図10】従来の光ディスク装置のサーボ回路まわりの
構成を示すブロック図
【図11】従来における光ディスクのウォブルしたトラ
ックを説明するための説明図
【図12】従来の光ディスク装置の記録動作を説明する
ための説明図
【符号の説明】
1 記録可能な光ディスク 2 記録媒体 4 半導体レーザ 5 レーザ駆動回路 14 トラッキング制御手段 15 ウォブル信号検出回路 16 ウォブルデコード回路 17 ウォブルエラー検出回路 18 比較回路 19 オフセット探索回路 20 オフセット可変回路 21 オフセット加算回路

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 トラックをウォブルした記録可能な光デ
    ィスクと、 光源となる半導体レーザの光を絞り光スポットとする光
    学系と、 光学系をフォーカス方向あるいはトラック方向に駆動す
    るアクチュエータと、 半導体レーザの光を再生あるいは消去あるいは記録のレ
    ベルに制御し、記録信号で変調するレーザ駆動回路と、 光ディスクからの反射光を検出する光検出器と、 光検出器の信号を演算してトラッキング誤差信号を発生
    する演算回路と、 トラッキング誤差信号に含まれるウォブル信号を検出す
    るウォブル信号検出回路と、 ウォブル信号をデコードしてウォブル信号に含まれる情
    報を再生すると共にウォブルエラーを検出するウォブル
    デコード回路と、 ウォブルエラーを計測してウォブルエラー率を出力する
    ウォブルエラー計測回路と、 前記トラッキング誤差信号により前記アクチュエータを
    トラック方向に制御して光スポットをトラック上に制御
    するトラッキング制御手段と、 トラッキング制御手段にオフセットを加算し、光スポッ
    トをオフトラックさせるオフセット加算手段と、 前記オフセットを増加あるいは減少あるいは保持するオ
    フセット可変手段と、記録中のウォブルエラー率を最小
    近傍とするオフセットを探索後、前記オフセット可変手
    段に探索したオフセットを保持させるオフセット探索手
    段と、を備えた光ディスク装置。
  2. 【請求項2】 ウォブルエラー率と所定の比較値を比較
    し、その結果を出力する比較手段を備え、 オフセット探索手段は、比較手段の結果に応じてオフセ
    ット可変手段を制御し、記録中のウォブルエラー率を最
    小近傍とするオフセットを探索後、前記オフセット可変
    手段に探索したオフセットを保持させる請求項1記載の
    光ディスク装置。
  3. 【請求項3】 オフセット探索手段は、オフセット可変
    手段により設定した複数のオフセットと、前記複数のオ
    フセットに対応する記録中のウォブルエラー率との関係
    を所定の式で近似して、記録中のウォブルエラー率を最
    小近傍とするオフセットを探索した後、前記オフセット
    可変手段に探索したオフセットを保持させる請求項1記
    載の光ディスク装置。
  4. 【請求項4】 トラックをウォブルした書換え可能な相
    変化形光ディスクと、 半導体レーザの光を記録信号により消去のレベルと記録
    のレベルとの間で変調するレーザ駆動回路と、 消去のレベルを再生レベル近辺あるいはそれ以下に設定
    して記録中のウォブルエラー率を最小近傍とするオフセ
    ットを探索後、オフセット可変手段に探索したオフセッ
    トを保持させるオフセット探索手段と、を備えた請求項
    1,2または3記載の光ディスク装置。
  5. 【請求項5】 トラックをウォブルした書換え可能な相
    変化形光ディスクと、 半導体レーザの光を記録信号により消去のレベルと記録
    のレベルとの間で変調するレーザ駆動回路と、 トラックを消去した後で、消去のレベルを再生レベル近
    辺あるいはそれ以下に設定して記録中のウォブルエラー
    率を最小近傍とするオフセットを探索後、オフセット可
    変手段に探索したオフセットを保持させるオフセット探
    索手段と、を備えた請求項1,2,3または4記載の光
    ディスク装置。
  6. 【請求項6】 オフセット探索手段は、所定のトラック
    において、記録中のウォブルエラー率を最小近傍とする
    オフセットを探索後、オフセット可変手段に探索したオ
    フセットを保持させることを特徴とする請求項1,2,
    3,4または5記載の光ディスク装置。
  7. 【請求項7】 オフセット探索手段は、光ディスク装置
    に光ディスクを挿入した際に、所定のトラックにおい
    て、記録中のウォブルエラー率を最小近傍とするオフセ
    ットを探索後、オフセット可変手段に探索したオフセッ
    トを保持させることを特徴とする請求項1,2,3,
    4,5または6記載の光ディスク装置。
  8. 【請求項8】 オフセット探索手段は、記録中のウォブ
    ルエラー率から再生時のウォブルエラー率を引いたウォ
    ブルエラー率を最小近傍とするオフセットを探索後、オ
    フセット可変手段に探索したオフセットを保持させるこ
    とを特徴とする請求項1,2,3,4,5,6または7
    記載の光ディスク装置。
  9. 【請求項9】 オフセット探索手段は、再生時のウォブ
    ルエラー率が所定のエラー率を超えるトラックの場合、
    別のトラックにおいて記録中のウォブルエラー率を最小
    近傍とするオフセットを探索後、オフセット可変手段に
    探索したオフセットを保持させる請求項1,2,3,
    4,5,6,7または8記載の光ディスク装置。
  10. 【請求項10】 比較手段は、ウォブルエラー率と比較
    する所定の比較値のレベルを可変することを特徴とする
    請求項2,4,5,6,7,8または9記載の光ディス
    ク装置。
  11. 【請求項11】 比較手段は、再生時のウォブルエラー
    率に応じて、所定の比較値のレベルを可変することを特
    徴とする請求項2,4,5,6,7,8,9または10
    記載の光ディスク装置。
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