JPH05151298A - Automatic inspection processing method for printed circuit - Google Patents

Automatic inspection processing method for printed circuit

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JPH05151298A
JPH05151298A JP3311209A JP31120991A JPH05151298A JP H05151298 A JPH05151298 A JP H05151298A JP 3311209 A JP3311209 A JP 3311209A JP 31120991 A JP31120991 A JP 31120991A JP H05151298 A JPH05151298 A JP H05151298A
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printed circuit
simulation
lsi
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Abstract

PURPOSE:To obtain an automatic inspection processing method capable of economically automating the inspection of a printed circuit by utilizing the inspection data of a scanning circuit. CONSTITUTION:Definition data forming processing 1 forms definition data of required observation points and respective signal conditions from LSI inspection data 2 and printed circuit logical circuit data 3 and simulation execution processing 5 executes logical simulation based upon the data 3, 4, inspects the signal of a required observation point in an LSI by simulation for inputting signal from a printed circuit terminal and simulating the arriving state of the signal at the point, collates and inspects between an output signal and an input signal by simulation for inputting a signal to an observation point corresponding to the output of the LSI and then outputting the signal to a required printed circuit terminal, and obtains the inspection result 6 of a logical model based upon respective collated results.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、スキャン回路を有する
大規模集積回路を搭載するプリント板回路について、ス
キャン回路に関わる回路を計算機によって検証するため
の、プリント板回路の自動検証処理方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a printed circuit board mounted with a large-scale integrated circuit having a scan circuit, and to a method for automatically verifying a circuit related to the scan circuit by a computer.

【0002】[0002]

【従来の技術と発明が解決しようとする課題】大規模集
積回路(以下においてLSIという)において、LSI
内部の回路の診断等を行うために必要な場合には、公知
のスキャン回路をLSI内に組み込んでいる。
2. Description of the Related Art In a large scale integrated circuit (hereinafter referred to as LSI), an LSI
A known scan circuit is incorporated in the LSI when it is necessary to diagnose the internal circuit.

【0003】そのようなLSIをプリント板に搭載する
場合には、そのプリント板回路には、所要のLSIの診
断等のために、プリント板の外部から与える信号によっ
て各LSIのスキャン回路を制御し、スキャン回路から
の出力を取り出すための回路が付加される。
When such an LSI is mounted on a printed board, the printed board circuit controls the scan circuit of each LSI by a signal given from the outside of the printed board for diagnosis of the required LSI. , A circuit for taking out the output from the scan circuit is added.

【0004】図2は、以上のようなスキャン回路を持つ
LSIを搭載したプリント板回路の例を示し、左側はプ
リント板回路を外部と接続する外部端子であって、スキ
ャン回路に関係する端子としてLA0〜LAn 、RESET、SI及
びSOがあり、それらの端子の信号はSCAN LSIを経て、各
LSIに分配される。
FIG. 2 shows an example of a printed circuit board on which an LSI having the above-described scan circuit is mounted. On the left side is an external terminal for connecting the printed circuit board to the outside, which is a terminal related to the scan circuit. There are LA0 to LAn, RESET, SI and SO, and the signals of these terminals are distributed to each LSI via the SCAN LSI.

【0005】各SCAN LSIではLA0〜LAnの一部をSCAN LSI
自身の選択信号として受け取り、他の一部をデコードし
てチップセレクト(CS)信号とし、残りの部分を各LSI
内部のスキャン回路のスキャン・ラッチを選択するアド
レス(ADDRESS) 信号として、他の信号と共に図示のよう
に、m個の各LSI(LSI1〜LSIm)に分配するように接続
する。
In each SCAN LSI, a part of LA0 to LAn is
It receives it as its own selection signal, decodes the other part into a chip select (CS) signal, and the remaining part of each LSI
As an address (ADDRESS) signal for selecting the scan / latch of the internal scan circuit, it is connected together with other signals so as to be distributed to each of m LSIs (LSI1 to LSIm).

【0006】なお、図示のその他の信号で、SETはADDRE
SS信号で選択されるラッチのセット/リセットを決める
信号、SIはスキャン・イン、SOはスキャン・アウトの信
号である。
It should be noted that SET is ADDRE for other signals shown in the figure.
The signal that determines the set / reset of the latch selected by the SS signal, SI is the scan-in signal, and SO is the scan-out signal.

【0007】このようなプリント板回路の接続を検証す
る場合には、プリント板回路の論理シミュレーションを
LSIのスキャン回路を含めて行い、そのためにLSI
のスキャン回路についての定義や入出力信号の条件の定
義等まで回路設計者によって行う必要がある。
When verifying the connection of such a printed circuit board, a logical simulation of the printed circuit board including the scan circuit of the LSI is performed, and therefore, the LSI is used for that purpose.
It is necessary for the circuit designer to perform definition of the scan circuit and definition of input / output signal conditions.

【0008】このために、比較的多量の人手を要し、且
つ論理シミュレーションの量も多くて、シミュレーショ
ンに時間がかかり、人手を介するための定義誤り等も生
じ易いという問題がある。
For this reason, there is a problem that a relatively large amount of manpower is required, the amount of logic simulation is large, the simulation takes time, and definition errors due to manpower are likely to occur.

【0009】本発明は、LSIのスキャン回路の検証は
単体で行われているので、そのデータを利用し、プリン
ト板回路のシミュレーションによる検証を、経済的に自
動化したプリント板回路の自動検証処理方法を目的とす
る。
According to the present invention, since the verification of the scan circuit of the LSI is carried out by itself, the data is used to carry out the verification by the simulation of the printed circuit board economically and automatically. With the goal.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】図1は、本発明の構成を
示す処理の流れ図である。図はプリント板回路の自動検
証処理方法の構成であって、所定のスキャン回路を有す
る大規模集積回路を搭載するプリント板回路について、
該プリント板回路の所定の論理モデルについて検証す
る。
FIG. 1 is a flow chart of processing showing the configuration of the present invention. The figure shows the structure of an automatic verification processing method for a printed circuit board, in which a printed circuit board equipped with a large-scale integrated circuit having a predetermined scan circuit is
The predetermined logical model of the printed circuit board is verified.

【0011】定義データ生成処理1では、該大規模集積
回路に関する所定の検証データ2と、該論理モデルを表
す所定の論理回路データ3とから、該論理モデル上の所
要の観測ポイントと、各該観測ポイントの信号条件とを
有する定義データ4を生成する。
In the definition data generation process 1, from predetermined verification data 2 relating to the large scale integrated circuit and predetermined logic circuit data 3 representing the logic model, required observation points on the logic model and the respective observation points. The definition data 4 having the signal condition of the observation point is generated.

【0012】シミュレーション実行処理5では、定義デ
ータ4を参照して、論理回路データ3に従う該プリント
板回路の論理シミュレーションを実行する。シミュレー
ションにおいては、該プリント板回路を外部に接続する
所要プリント板端子から所要の信号を入力して、該信号
で選択されるべき該大規模集積回路の所要の該観測ポイ
ントに、該信号に起因する信号が到達する状態の該シミ
ュレーションにより、該観測ポイントの信号を当該信号
条件を参照して検査する。
In the simulation execution process 5, with reference to the definition data 4, a logic simulation of the printed circuit according to the logic circuit data 3 is executed. In the simulation, a required signal is input from a required printed circuit board terminal that connects the printed circuit board circuit to the outside, and the signal is caused at the required observation point of the large scale integrated circuit to be selected by the signal. The signal at the observation point is inspected by referring to the signal condition by the simulation of the arrival of the signal.

【0013】又当該大規模集積回路のスキャン回路の出
力に該当する所要の該観測ポイントに、当該信号条件に
従う信号を入力して、該信号が所要の該プリント板端子
に出力する状態の該シミュレーションにより、該出力信
号を該入力信号と照合検査し、各該検査結果によって該
論理モデルを検証する処理を、各該大規模集積回路につ
いて順次実行して検証結果6とする。
Further, the simulation of a state in which a signal according to the signal condition is input to a required observation point corresponding to the output of the scan circuit of the large scale integrated circuit and the signal is output to the required printed circuit board terminal. Thus, the processing of verifying the output signal with the input signal and verifying the logical model by the respective inspection results is sequentially executed for each of the large-scale integrated circuits to obtain the verification result 6.

【0014】[0014]

【作用】本発明の自動検証処理方法により、LSI単体
の論理シミュレーションにおいて作成された検証データ
から、スキャン回路に関する所定の端子(ピン)に関す
るデータを抽出し、プリント回路の論理回路データを参
照して、先に抽出した端子の置かれるプリント板回路上
の点を観測ポイントとして、その位置情報等と、信号極
性等の信号条件とを示す定義データを自動生成する。
According to the automatic verification processing method of the present invention, data concerning a predetermined terminal (pin) related to the scan circuit is extracted from the verification data created in the logic simulation of the LSI alone, and the logic circuit data of the printed circuit is referred to. , The definition data indicating the position information and the signal conditions such as the signal polarity is automatically generated with the point on the printed circuit board where the terminal extracted above is placed as an observation point.

【0015】この定義データに示される観測ポイントに
ついて、論理回路データによる論理シミュレーションを
実行し、プリント板外部端子からの入力信号が、信号で
指定した所期のLSIの各観測ポイントに、信号条件に
照らして正しい値で到達すれば、そのLSIは正しく動
作するものとする。従ってLSI内部のシミュレーショ
ンは行わなう必要が無い。
For the observation points indicated by the definition data, a logic simulation is executed using logic circuit data, and the input signal from the external terminal of the printed board is changed to a signal condition at each observation point of the intended LSI designated by the signal. If it arrives at the correct value in light, the LSI is supposed to operate correctly. Therefore, it is not necessary to perform the simulation inside the LSI.

【0016】又、LSIのスキャン回路の出力側につい
ては、その観測ポイントに信号条件に従う信号が現れた
ものとして、プリント板回路の論理シミュレーションを
行い、その信号が所定の外部端子に正しく出力されれば
出力側の検証ができたものとする。
Further, on the output side of the scan circuit of the LSI, it is assumed that a signal complying with the signal condition appears at the observation point, a logic simulation of the printed circuit board is performed, and the signal is correctly output to a predetermined external terminal. For example, it is assumed that the output side has been verified.

【0017】従って、スキャン回路に関するプリント板
回路の検証のために、人手による定義入力を必要とせ
ず、又論理シミュレーションの処理量は縮減される。
Therefore, in order to verify the printed circuit board related to the scan circuit, no manual definition input is required, and the processing amount of the logic simulation is reduced.

【0018】[0018]

【実施例】図3は本発明の実施例を示す処理の流れ図で
あり、LSI検証データ2は、検証対象のプリント板に
搭載されている各LSIのスキャン回路の単体検証の結
果生成されるデータを使用する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS FIG. 3 is a flow chart of processing showing an embodiment of the present invention. LSI verification data 2 is data generated as a result of a single verification of a scan circuit of each LSI mounted on a printed board to be verified. To use.

【0019】本実施例では、図1の定義データ生成処理
1は、情報摘出処理10と定義データ編集処理11からな
り、情報摘出処理10はLSI検証データ2とプリント板
回路の論理回路データ3とを入力として、LSI検証デ
ータ2から抽出するLSIの所要ピンの識別名(前記図
2の例のADDRESS、CS、SET、SI、SO等)により、論理回
路データ上の観測対象となる点を観測ポイントして選
び、各観測ポイントの入出力ピン名と、信号条件等のデ
ータを入出力ピンデータ12として出力する。
In this embodiment, the definition data generation process 1 of FIG. 1 comprises an information extraction process 10 and a definition data editing process 11. The information extraction process 10 includes an LSI verification data 2 and a printed circuit circuit logic circuit data 3. With the input as the input, by using the identification name of the required pin of the LSI extracted from the LSI verification data 2 (ADDRESS, CS, SET, SI, SO, etc. in the example of FIG. 2), the point to be observed on the logic circuit data is observed. Point data is selected, and the input / output pin name of each observation point and data such as signal conditions are output as input / output pin data 12.

【0020】定義データ編集処理11は、入出力ピンデー
タ12を入力として、その内容をシミュレーション実行で
効率よく使用できるようにコード化して、所定のシミュ
レーション・テーブル上に編集し、定義データ4とす
る。
The definition data editing process 11 receives the input / output pin data 12 as an input, encodes the content so that it can be used efficiently in simulation execution, and edits it into a predetermined simulation table to obtain definition data 4. ..

【0021】又、論理回路データ3についても、シミュ
レーションを効率よく進めることができるように、論理
回路データ編集処理13が論理回路データ3からシミュレ
ーションに必要なデータのみを取り出し、適当なデータ
構造に編集してシミュレーション・テーブル14とする。
As for the logic circuit data 3, the logic circuit data editing process 13 extracts only the data required for the simulation from the logic circuit data 3 and edits it into an appropriate data structure so that the simulation can proceed efficiently. The simulation table 14 is created.

【0022】シミュレーション実行処理15では、定義デ
ータ4とシミュレーション・テーブル14を入力として、
論理シミュレーションを実行する。この論理シミュレー
ションでは、入力信号についてはプリント板の外部端子
からLSIの入力ピンに設けられた観測ポイントまで、
出力信号についてはLSIの出力ピンに設けられた観測
ポイントから外部端子までの信号の流れをシミュレート
し、LSI内部のシミュレーションは行わない。
In the simulation execution processing 15, the definition data 4 and the simulation table 14 are input,
Perform a logical simulation. In this logical simulation, for the input signal, from the external terminal of the printed board to the observation point provided on the input pin of the LSI,
Regarding the output signal, the signal flow from the observation point provided on the output pin of the LSI to the external terminal is simulated, and the simulation inside the LSI is not performed.

【0023】即ち、図2のプリント板回路を例として説
明すると、スキャン回路に関係する端子及び観測ポイン
トとしてLA0〜LAn、RESET 、SI、SO、ADDRESS1〜ADDRES
Sm、CS1〜CSm、SET1〜SETm、SI1〜SIm、SO1〜SOm等の情
報が定義データ4及びシミュレーション・テーブル14に
よって与えられている。
That is, the printed circuit board of FIG. 2 will be described as an example. LA0 to LAn, RESET, SI, SO, ADDRESS1 to ADDRES are used as terminals and observation points related to the scan circuit.
Information such as Sm, CS1 to CSm, SET1 to SETm, SI1 to SIm, SO1 to SOm is given by the definition data 4 and the simulation table 14.

【0024】シミュレーション実行処理15では、第1段
階で入力側について処理し、LA0 〜LAn にアドレスを設
定し、RESET 、SI、SOに適当な値を入力して、スキャン
・イン動作をシミュレートし、LSI1〜LSImの何れか指定
したものの入力の観測ポイントが、所期のスキャン・イ
ン状態になるかを観測する。
In the simulation execution process 15, the input side is processed in the first stage, addresses are set in LA0 to LAn, and appropriate values are input to RESET, SI, and SO to simulate the scan-in operation. , LSI1 to LSIm, and observe whether the input observation point becomes the desired scan-in state.

【0025】入力の観測ポイントで所期の状態が得られ
れば、LSI内部では、指定のスキャン・ラッチにスキ
ャン・インが行われることは、前記のとおり別途既に検
証されているので、内部を更に観測する必要は無い。
If the desired state is obtained at the input observation point, the fact that scan-in is performed in the designated scan latch inside the LSI has already been verified separately as described above. There is no need to observe.

【0026】次に第2段階として、出力側について処理
し、各LSIのスキャン回路の出力が、正しくプリント
板の外部端子に伝達されることを検証する。これは、前
記のようにして或るアドレスで選択状態にあるスキャン
・ラッチが有るLSIjの、出力側の観測ポイントであるSO
j に信号値(1又は0)を設定して、そのLSIjのアドレ
スを外部端子から与えることにより、SOj に設定した信
号が、外部端子のSOに出力されることを確認する。
Next, as a second step, the output side is processed to verify that the output of the scan circuit of each LSI is correctly transmitted to the external terminal of the printed board. This is the observation point on the output side, SO, of the LSIj that has the scan latch in the selected state at a certain address as described above.
By setting a signal value (1 or 0) in j and giving the address of the LSIj from the external terminal, it is confirmed that the signal set in SOj is output to SO of the external terminal.

【0027】以上の処理を各LSIについて行うことに
より、プリント板回路のスキャン回路に関する検証結果
6が得られる。
By performing the above processing for each LSI, the verification result 6 regarding the scan circuit of the printed circuit board can be obtained.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように本発明に
よれば、スキャン回路を有するLSIを搭載するプリン
ト板回路を検証する計算機処理において、LSIのスキ
ャン回路の検証データを利用することにより、プリント
板回路の論理シミュレーションによる検証の自動処理
が、経済的で且つ高い信頼度を有する処理として実現さ
れるという著しい工業的効果がある。
As is apparent from the above description, according to the present invention, by using the verification data of the scan circuit of the LSI in the computer processing for verifying the printed circuit board mounting the LSI having the scan circuit, There is a remarkable industrial effect that the automatic verification process by the logic simulation of the printed circuit board is realized as an economical and highly reliable process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 本発明の構成を示す処理の流れ図FIG. 1 is a process flow chart showing the configuration of the present invention.

【図2】 プリント板回路モデルの一例を示す図FIG. 2 is a diagram showing an example of a printed circuit board model.

【図3】 本発明の実施例を示す処理の流れ図FIG. 3 is a flow chart of processing showing an embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 定義データ生成処理 2 LSI検証データ 3 プリント板論理回路データ 4 定義データ 5、15 シミュレーション実行処理 6 検証結果 10 情報摘出処理 11 定義データ編集処理 12 入出力ピンデータ 13 論理回路データ編集処理 14 シミュレーション・テーブル 1 Definition data generation processing 2 LSI verification data 3 Printed circuit logic circuit data 4 Definition data 5, 15 Simulation execution processing 6 Verification result 10 Information extraction processing 11 Definition data editing processing 12 Input / output pin data 13 Logic circuit data editing processing 14 Simulation table

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G06F 11/26 310 9072−5B 15/60 370 A 7922−5L ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 5 Identification code Internal reference number FI Technical display location G06F 11/26 310 9072-5B 15/60 370 A 7922-5L

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 所定のスキャン回路を有する大規模集積
回路を搭載するプリント板回路について、該プリント板
回路の所定の論理モデルについて検証するに際し、 定義データ生成処理(1)は、該大規模集積回路に関する
所定の検証データ(2)と、該論理モデルを表す所定の論
理回路データ(3)とから、該論理モデル上の所要の観測
ポイントと、各該観測ポイントの信号条件とを有する定
義データ(4)を生成し、 シミュレーション実行処理(5)は、該定義データ(4)を参
照して、該論理回路データ(3)に従う該プリント板回路
の論理シミュレーションを実行し、 該プリント板回路を外部に接続する所要プリント板端子
から所要の信号を入力して、該信号で選択されるべき該
大規模集積回路の所要の該観測ポイントに、該信号に起
因する信号が到達する状態の該シミュレーションによ
り、該観測ポイントの信号を当該信号条件を参照して検
査し、 当該大規模集積回路のスキャン回路の出力に該当する所
要の該観測ポイントに、当該信号条件に従う信号を入力
して、該信号が所要の該プリント板端子に出力する状態
の該シミュレーションにより、該出力信号を該入力信号
と照合検査し、 各該検査結果によって該論理モデルを検証する処理を、
各該大規模集積回路について順次実行するように構成さ
れていることを特徴とするプリント板回路の自動検証処
理方法。
1. When verifying a predetermined logical model of a printed circuit board on which a large-scale integrated circuit having a predetermined scan circuit is mounted, the definition data generation process (1) is performed by the large-scale integrated circuit. Definition data having a required observation point on the logical model and a signal condition of each observation point from the predetermined verification data (2) regarding the circuit and the predetermined logic circuit data (3) representing the logical model. (4) is generated, the simulation execution process (5) refers to the definition data (4), executes a logic simulation of the printed circuit board according to the logic circuit data (3), and executes the printed circuit board. A state in which a signal resulting from the signal reaches a required observation point of the large-scale integrated circuit to be selected by the signal by inputting a required signal from a required printed board terminal connected to the outside. By the simulation, the signal at the observation point is inspected with reference to the signal condition, and the signal according to the signal condition is input to the required observation point corresponding to the output of the scan circuit of the large-scale integrated circuit. , A process of verifying the output signal against the input signal by the simulation of the state in which the signal is output to the required printed circuit board terminal, and verifying the logical model by each of the inspection results,
An automatic verification processing method for a printed circuit board, which is configured to be sequentially executed for each of the large scale integrated circuits.
JP3311209A 1991-11-27 1991-11-27 Automatic verification processing method for printed circuit board Expired - Lifetime JP2964746B2 (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100732776B1 (en) * 2004-04-20 2007-06-28 박진홍 Experiment device for designing of PCB

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100732776B1 (en) * 2004-04-20 2007-06-28 박진홍 Experiment device for designing of PCB

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