JPH0512779Y2 - - Google Patents

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JPH0512779Y2
JPH0512779Y2 JP1148687U JP1148687U JPH0512779Y2 JP H0512779 Y2 JPH0512779 Y2 JP H0512779Y2 JP 1148687 U JP1148687 U JP 1148687U JP 1148687 U JP1148687 U JP 1148687U JP H0512779 Y2 JPH0512779 Y2 JP H0512779Y2
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shoot
roof
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measurement
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、ICハンドラに設けられたIC測定ソ
ケツトに対してICのリードを押圧導通せしめる
プレス機構に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a press mechanism for press-conducting IC leads to an IC measurement socket provided in an IC handler.

[従来の技術] ICハンドラは、多数のICを順次に搬送してIC
測定ソケツトに装着して電気的性能の検査に供
し、かつ、上記測定ソケツトから離脱せしめた
ICを検査結果に従つて級別に分類して搬出する
自動機器である。
[Conventional technology] An IC handler sequentially transports a large number of ICs.
It was attached to a measurement socket for testing electrical performance, and then removed from the measurement socket.
This is an automatic device that classifies ICs according to their inspection results and transports them.

第2図はシユートレール1によつてSOP形IC
2を搬送している状態の一部破断斜視図である。
aはICのパツケージ、2bは同じくリードであ
る。
Figure 2 shows the SOP type IC using the shoot rail 1.
FIG. 2 is a partially cutaway perspective view of a state in which 2 is being transported.
2a is the IC package, and 2b is the lead.

上記パツケージ2aの頂面に対向せしめ、微小
クリアランスを介してシユートルーフ3が設けら
れている。
A shoot roof 3 is provided opposite to the top surface of the package 2a with a minute clearance therebetween.

第2図に示した状態の横断面を第3図に示す。 FIG. 3 shows a cross section of the state shown in FIG. 2.

第4図は、シユートレール1とシユートルーフ
3とによつてSOP形IC2を垂直方向に案内し、
自重によつて滑降させている状態を模式的に描い
た断面図である。
FIG. 4 shows that the SOP type IC 2 is guided in the vertical direction by the shoot rail 1 and the shoot roof 3.
FIG. 2 is a cross-sectional view schematically depicting a state in which the vehicle is slid down by its own weight.

第5図は、測定ソケツト4付近の模式的断面図
である。シユートレール1が測定ソケツト4に対
向している部分は、固定部1aから分割されてシ
ユートレール可動部1bが構成され、図示しない
案内手段によつて図の左右方向に(即ち測定ソケ
ツト4に対して接近・離間する方向に)案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保たれている。
FIG. 5 is a schematic cross-sectional view of the vicinity of the measurement socket 4. The portion of the shoot rail 1 facing the measurement socket 4 is divided from the fixed portion 1a to constitute the shoot rail movable portion 1b , and is moved in the left-right direction in the figure (that is, with respect to the measurement socket 4) by guide means (not shown). (in the direction of approaching and moving away from each other) and is elastically maintained at the position shown by a spring (not shown).

シユートルーフ3が測定ソケツト4に対向して
いる部分は、固定部3aから分割されてシユート
ルーフ可動部が構成され、図の左右方向に案内さ
れ、図示しないスプリングによつて弾性的に図示
の位置に保持されている。
The part of the shoot roof 3 facing the measurement socket 4 is divided from the fixed part 3a to form a movable shoot roof part, which is guided in the left-right direction in the figure and elastically moved to the position shown in the figure by a spring (not shown). Retained.

本第5図に示した−面による断面を第6図
に示す。
A cross section along the - plane shown in FIG. 5 is shown in FIG.

シユートレール可動部1bは、スプリング1c
付勢されて図示の位置に支承されている。
The shoot rail movable portion 1b is supported in the illustrated position by a spring 1c .

測定ソケツト4には、リード2bに対向せしめ
るように測定端子4aが設けられている。
The measurement socket 4 is provided with a measurement terminal 4a facing the lead 2b .

リード2bを介して上記測定端子4aに正対する
位置にリードプツシヤ5が配置され、シユートル
ーフ可動部3bに固着されている。
A lead pusher 5 is disposed at a position directly facing the measurement terminal 4a via the lead 2b , and is fixed to the shoot roof movable portion 3b .

シユートルーフ可動部3bが矢印Pの如くプレ
スされると、該シユートルーフ可動部はスプリン
グ1cを圧縮しつつSOP形ICを測定ソケツト4に
接近せしめる。そしてリードプツシヤ5がリード
bを押圧して、測定端子4aに接近,導通せしめ
る。
When the shoot roof movable part 3b is pressed as shown by arrow P, the shoot roof movable part causes the SOP type IC to approach the measurement socket 4 while compressing the spring 1c . Then, the lead pusher 5 presses the lead 2 b to bring it close to the measurement terminal 4 a and bring it into electrical continuity.

SOP形IC2は、第6図の紙面と垂直方向に搬
入されて、前記の如く測定ソケツト4に装着(リ
ード2bが測定端子4aに導通)され、測定が行わ
れた後、紙面と垂直方向に搬出される。
The SOP type IC 2 is carried in the direction perpendicular to the plane of the paper in Fig. 6, is attached to the measurement socket 4 as described above (the lead 2 b is electrically connected to the measurement terminal 4 a ), and after the measurement is performed, it is carried in the direction perpendicular to the plane of the paper. It is carried out in the direction.

[考案が解決しようとする問題点] SOP形IC2のリード2b′が第7図に示すように
変形していると、該変形リード2b′がリードプツ
シヤ5と干渉して搬入を妨げられる。
[Problems to be Solved by the Invention] When the lead 2 b ′ of the SOP type IC 2 is deformed as shown in FIG. 7, the deformed lead 2 b ′ interferes with the lead pusher 5 and is prevented from being carried.

ICハンドラは高速で作動する自動機器である
から、1個のICがジヤムすると、装置全体が自
動的に停止してしまう。
Since the IC handler is an automatic device that operates at high speed, if one IC jams, the entire device will automatically stop.

本考案の目的は、リードが多少変形していても
支障なく搬入され得る、IC測定部のプレス機構
を提供することを目的とする。
An object of the present invention is to provide a press mechanism for an IC measurement unit that allows the lead to be carried in without any problem even if the lead is slightly deformed.

[問題点を解決するための手段] 従来例における不具合状況を示した第7図から
理解して得る如く、変形したリード2b′によつて
ICの搬入を妨げないようにするため、本考案の
機構は、リードプツシヤ5を自動的に突出・退避
させる。
[Means for solving the problem] As can be understood from FIG. 7, which shows the problem situation in the conventional example, the deformed lead 2 b
The mechanism of the present invention automatically protrudes and retracts the lead pusher 5 so as not to obstruct the loading of the IC.

上述の原理を実用面に適用する為の具体的構成
として、本考案に係るIC測定部のプレス機構は、
ICを案内するシユートレール及びシユートルー
フ、並びに、上記シユートレールによつて案内さ
れたICのリードに対向する測定端子を備え、か
つ、前記シユートレール及びシユートルーフが上
記測定端子に対向している部分を、測定端子に対
して接近・離間し得る如く支承するとともに、前
記のシユートルーフに、ICのリードに当接して
測定端子に向けて押圧するリードプツシヤを設け
たIC測定部のプレス機構に適用され、 (a) シユートルーフが測定ソケツトの測定端子に
対向している個所に、シユート面に直交する複
数個の透孔を設け、 (b) 上記の透孔に摺動自在に嵌合する複数個のプ
ツシユロツドを構成し、 (c) 上記複数個のプツシユロツドをそれぞれプツ
シユプレートに固着して断面コの字形のリード
プツシヤを構成し、 (d) 上記プツシユプレートとシユートルーフとの
間に圧縮バネを介装したこと、 を特徴とする。
As a specific configuration for applying the above-mentioned principle in practical terms, the press mechanism of the IC measurement unit according to the present invention is as follows:
A shoot rail and a shoot roof that guide an IC, and a measurement terminal that faces the leads of the IC guided by the shoot rail, and a portion of the shoot rail and shoot roof that faces the measurement terminal are connected to the measurement terminal. The invention is applied to a press mechanism of an IC measurement unit, in which the above-mentioned shoot roof is provided with a lead pusher that contacts the leads of the IC and presses them toward the measurement terminal. A plurality of through holes perpendicular to the shoot surface are provided at a portion of the measurement socket facing the measurement terminal, (b) a plurality of push rods are configured to slidably fit into the through holes, and ( c) the plurality of push rods are each fixed to a push plate to form a lead pusher having a U-shaped cross section; and (d) a compression spring is interposed between the push plate and the push roof. do.

[作用] 上記の構成において、プツシユプレートを介し
てシユートルーフ可動部を押動すると、この操作
に伴つてプツシユロツドがシユートルーフの案内
面側からICのリードに向けて突出し、該リード
を測定端子に押しつける。上記の押動操作を開始
する迄の間は、プツシユロツドの先端はシユート
ルーフの案内面よりも引つ込んでいて、ICの搬
入を妨げない。
[Function] In the above configuration, when the shoot roof movable part is pushed through the push plate, the push rod protrudes from the guide surface side of the shoot roof toward the IC lead and presses the lead against the measurement terminal. . Until the above-mentioned pushing operation is started, the tip of the push rod is retracted from the guide surface of the shoot roof, so that it does not interfere with the loading of the IC.

[実施例] 次に、本考案の1実施例を第1図について説明
する。
[Example] Next, an example of the present invention will be described with reference to FIG.

この実施例は、第6図に示した従来例に本考案
を適用して改良したものであつて、上図と同一の
図面参照番号を付したものは前記従来例における
と同様乃至類似の構成部分である。
This embodiment is an improvement by applying the present invention to the conventional example shown in FIG. It is a part.

次に、前記従来例と異なる点について説明す
る。
Next, the differences from the conventional example will be explained.

シユートルーフ可動部3b′の、測定端子4a
正対している個所に透孔3b-1を設ける。
A through hole 3 b -1 is provided in the shoot roof movable part 3 b ′ at a location directly facing the measurement terminal 4 a .

一般にリードの数は複数個であり、測定端子の
数も複数個(十数個乃至数十個)であるから、透
孔3b-1の数も複数個となる。
Generally, the number of leads is plural and the number of measurement terminals is also plural (more than ten to several tens), so the number of through holes 3 b-1 is also plural.

上記複数個の透孔3b-1は、シユートルーフの
案内面に直交せしめて設け、かつ、該透孔3b-1
と摺動自在に嵌合する複数個のプツシユロツド6
を設ける。
The plurality of through holes 3 b-1 are provided perpendicularly to the guide surface of the shoot roof, and the through holes 3 b-1
A plurality of push rods 6 are slidably engaged with the
will be established.

上記複数個のプツシユロツド6の根元側を、プ
ツシユプレート7に固着して一体的に連設する。
このようにして、プツシユプレート7とプツシユ
ロツド6とは、断面形状がコの字形をなす一体の
部材を形成する。
The base sides of the plurality of push rods 6 are fixed to a push plate 7 and are integrally connected.
In this way, the push plate 7 and the push rod 6 form an integral member having a U-shaped cross section.

本考案を実施する際、プツシユプレート7は必
ずしも板状であることを要せず、要するに機構学
的に板状部材と等価なる部材であれば良い。
When carrying out the present invention, the push plate 7 does not necessarily have to be plate-shaped, but may just be a member that is mechanically equivalent to a plate-shaped member.

断面がコの字形を為すとは、シユートルーフの
幅方向に対向する一対のプツシユロツド6が、平
行を保つように基端部同志を連結された構造であ
ることの意である。
The U-shaped cross section means that the pair of push rods 6 facing each other in the width direction of the shoot roof are connected at their proximal ends so as to remain parallel to each other.

シユートルーフ可動部3b′とプツシユプレート
7との間に、スプリング8を圧縮介装する。
A spring 8 is compressed and interposed between the shoot roof movable part 3b ' and the push plate 7.

プツシユプレート7に押圧力矢印Pを加えない
とき、該プツシユプレート7はスプリング8に付
勢されてシユートルーフ可動部3b′から離間し、
これに伴つてプツシユロツド6は実線で示したよ
うにシユートルーフ案内面よりも引つ込んで退避
する。従つて、仮想線2b′の如くリードが歪んで
いても、紙面に垂直方向の搬入,搬出作動が妨げ
られない。
When the pressing force arrow P is not applied to the push plate 7, the push plate 7 is urged by the spring 8 and separated from the push roof movable part 3b ',
Along with this, the push rod 6 is retracted and retracted from the push roof guide surface as shown by the solid line. Therefore, even if the lead is distorted as shown by the imaginary line 2b ', the loading and unloading operations in the direction perpendicular to the plane of the paper are not hindered.

プツシユプレート7を矢印Pの如く押圧する
と、スプリング8を撓ませて、該プツシユプレー
ト7がシユートルーフ可動部3b′に当接する。
When the push plate 7 is pressed in the direction of arrow P, the spring 8 is deflected and the push plate 7 comes into contact with the shoot roof movable portion 3b '.

上記の作動に伴つて、プツシユロツド6はシユ
ートルーフ案内面に突出し(図において下方に、
仮想線で示す如く突出し),リード2bに当接す
る。
With the above operation, the push rod 6 protrudes onto the push roof guide surface (downward in the figure).
(protrudes as shown by the imaginary line) and comes into contact with lead 2 b .

プツシユプレート7を更に矢印P方向にプレス
すると、シユートルーフ可動部3b′はスプリング
cを撓ませながらSOP形IC2を測定ソケツト4
に接近させ、これに伴つてプツシユロツド6はリ
ード2bを測定端子4aに押圧し、接触導通させ
る。
When the push plate 7 is further pressed in the direction of arrow P, the push roof movable part 3b ' bends the spring 1c and pushes the SOP type IC2 into the measurement socket 4.
As a result, the push rod 6 presses the lead 2b against the measurement terminal 4a to establish contact continuity.

押圧力矢印Pを消失させると、スプリング1c
およびスプリング8の付勢力によつて第1図に実
線で示した状態に復元する。これにより、SOP
形IC2の搬出(紙面と垂直方向)が可能になる。
When the pressing force arrow P disappears, the spring 1 c
Then, due to the biasing force of the spring 8, it is restored to the state shown by the solid line in FIG. This allows the SOP
The IC2 can now be carried out (perpendicular to the page).

[考案の効果] 以上詳述したように、本考案を適用すると、
ICのリードが若干変形していても、IC測定部に
支障無く搬入され、測定,搬出を行うことが出来
る。
[Effects of the invention] As detailed above, when this invention is applied,
Even if the IC lead is slightly deformed, it can be carried into the IC measurement section without any problem, and can be measured and carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本考案の1実施例を示す断面図であ
る。第2図はシユートルーフによるICの搬送状
態を示す斜視図、第3図は同じく横断面図、第4
図は同じく縦断面図、第5図は同じく測定ソケツ
ト付近の縦断面図である。第6図は第5図の−
断面図である。第7図は従来例の不具合の説明
図である。 1……シユートレール、1a……同固定部、1b
……同可動部、2……SOP形IC、2a……パツケ
ージ、2b……リード、3……シユートルーフ、
a……同固定部、3b……同可動部、4……測定
ソケツト、4a……測定端子、5……従来形のリ
ードプツシヤ、6……本考案を適用して構成した
プツシユロツド、7……プツシユプレート。
FIG. 1 is a sectional view showing one embodiment of the present invention. Figure 2 is a perspective view showing how ICs are transported by the shoot roof, Figure 3 is a cross-sectional view, and Figure 4 is a cross-sectional view.
This figure is also a longitudinal sectional view, and FIG. 5 is a longitudinal sectional view of the vicinity of the measurement socket. Figure 6 is the − of Figure 5.
FIG. FIG. 7 is an explanatory diagram of a problem in the conventional example. 1... Shoot rail, 1 a ... Same fixed part, 1 b
...Same moving part, 2...SOP type IC, 2 a ...Package, 2 b ...Lead, 3...Shoot roof,
3 a ... fixed part, 3 b ... movable part, 4 ... measurement socket, 4 a ... measurement terminal, 5 ... conventional lead pusher, 6 ... push rod constructed by applying the present invention, 7...Putshu plate.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 ICを案内するシユートレール及びシユートル
ーフ、並びに、上記シユートレールによつて案内
されたICのリードに対向する測定端子を備え、
かつ、前記シユートレール及びシユートルーフが
上記測定端子に対向している部分を、測定端子に
対して接近・離間し得る如く支承するとともに、
前記のシユートルーフに、ICのリードに当接し
て測定端子に向けて押圧するリードプツシヤを設
けたIC測定部のプレス機構において、 (a) シユートルーフが測定ソケツトの測定端子に
対向している個所に、シユート面に直交する複
数個の透孔を設け、 (b) 上記の透孔に摺動自在に嵌合する複数個のプ
ツシユロツドを構成し、 (c) 上記複数個のプツシユロツドをそれぞれプツ
シユプレートに固着して断面コの字形のリード
プツシヤを構成し、 (d) 上記プツシユプレートとシユートルーフとの
間に圧縮バネを介装したこと を特徴とする、IC測定部のプレス機構。
[Claims for Utility Model Registration] A shoot rail and a shoot roof for guiding an IC, and a measurement terminal facing the IC lead guided by the shoot rail,
and supporting a portion of the shoot rail and shoot roof that faces the measurement terminal so as to be able to approach and separate from the measurement terminal;
In the press mechanism of the IC measurement section, the above-mentioned shoot roof is provided with a lead pusher that contacts the IC lead and presses it toward the measurement terminal. a plurality of through holes are provided perpendicular to the surface; (b) a plurality of push rods are configured to slidably fit into the through holes; and (c) each of the plurality of push rods is fixed to a push plate. A press mechanism for an IC measurement unit, comprising a lead pusher having a U-shaped cross section, and (d) a compression spring interposed between the push plate and the push roof.
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JP2600392B2 (en) * 1989-09-22 1997-04-16 日立電子エンジニアリング株式会社 IC device contact mechanism
JP2535051Y2 (en) * 1990-07-11 1997-05-07 株式会社アドバンテスト IC socket contact mechanism of IC element in IC carrier

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