JPH05108471A - Memory device - Google Patents

Memory device

Info

Publication number
JPH05108471A
JPH05108471A JP26940591A JP26940591A JPH05108471A JP H05108471 A JPH05108471 A JP H05108471A JP 26940591 A JP26940591 A JP 26940591A JP 26940591 A JP26940591 A JP 26940591A JP H05108471 A JPH05108471 A JP H05108471A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
address
dram
words
signal
block transfer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP26940591A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takami Maeda
隆己 前田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP26940591A priority Critical patent/JPH05108471A/en
Publication of JPH05108471A publication Critical patent/JPH05108471A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To shorten cycle time at the time of continuously accessing adjacent pages in a memory space. CONSTITUTION:This system is provided with an up-counter 5 and a down- counter 6 as means which predict the addresses of a second block transfer access cycle continuing in a high-order address direction and a low-order address direction from an address given at a first block transfer access cycle, address comparators 7 and 8 as comparison means judging whether the address outputted from the prediction means is equal to the address outputted by a data processor 11, an effective signal generation device 9 as a means selecting DRAM 2 or 1 at high speed or low speed by the comparison means, and a selector 23. N- words from the head of a page given by the address of the second block transfer access cycle are transferred from high speed DRAM 2, and remaining words are transferred from low speed DRAM 1.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明はブロック転送機能を有す
るデータ処理装置に接続されるメモリ装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a memory device connected to a data processing device having a block transfer function.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、コンピュータの進歩とともに大容
量、高速、低コストのメモリの要求がますます高まって
いる。そのなかで大容量メモリを必要とする分野では、
ダイナミックランダムアクセスメモリ(以下DRAMと
略す)が主に使用されているが、スピードの点、特にサ
イクル時間に関しては不十分である。
2. Description of the Related Art In recent years, the demand for large-capacity, high-speed, low-cost memory has been increasing with the progress of computers. Among them, in the fields that require large memory,
A dynamic random access memory (hereinafter abbreviated as DRAM) is mainly used, but it is insufficient in terms of speed, especially in cycle time.

【0003】特に、ブロックデータ転送を行う場合に
は、最初の1語のアクセス時間が全体のサイクル時間に
占める割合が大きく、これを改善するため最近ではアク
セスを高速に行なえるDRAMが登場してきているが、
コストがかなり高く、一部のメモリ装置にしか使われて
いない。
In particular, when block data transfer is performed, the access time of the first word accounts for a large proportion of the entire cycle time, and in order to improve this, a DRAM capable of high-speed access has recently appeared. But
The cost is quite high and it is only used for some memory devices.

【0004】またスタティックランダムアクセスメモリ
(以下SRAMと略す)は、最小サイクル時間とアクセス
時間が等しいので、DRAMのスピードの不十分なとこ
ろに関しては解決できる。
Static random access memory
Since the minimum cycle time and the access time are equal to each other (hereinafter abbreviated as SRAM), the insufficient speed of the DRAM can be solved.

【0005】しかしながら現状では、DRAMは低コス
ト化と大容量化の面ではSRAMに勝っており、主記憶
装置をSRAMだけで構成するまでには至っていない。
このような状況のもとで、できるだけ低コストで、デー
タ処理装置のアクセスに対するメモリ装置の応答を速め
る装置が提案されている。
However, at present, DRAM is superior to SRAM in terms of cost reduction and large capacity, and the main memory device has not yet been composed of only SRAM.
Under such circumstances, there has been proposed a device that accelerates the response of the memory device to the access of the data processing device at the lowest possible cost.

【0006】ここで従来のメモリ装置の例を図4に示す
ブロック図及び図5に示すタイミングチャートを参照し
て説明する。この例では、同一アクセス時間のニブルモ
ードのDRAMを使って2バンク構成のメモリ装置を構
成している。
An example of a conventional memory device will be described with reference to the block diagram shown in FIG. 4 and the timing chart shown in FIG. In this example, a nibble-mode DRAM with the same access time is used to form a 2-bank memory device.

【0007】ニブルモードのDRAMでは、一組の行ア
ドレス及び列アドレスに対し最大4ビット(ニブル)のデ
ータにアクセスできる。図4において、3はDRAM2
4,25へのアドレスを行アドレス(ページアドレス)、列
アドレスとして時分割で与えるためのアドレスマルチプ
レクサ、4はDRAM24,25の読み書き等のタイミング
を制御する信号を出力するメモリコントローラ、11はブ
ロック転送機能を有するデータ処理装置、12はメモリ装
置のアドレスバス、13はメモリ装置のデータバス、23は
バンク#0か又はバンク#1のデータかを選択するセレ
クタ、24はバンク#0のDRAM、25はバンク#1のD
RAM、26はバンク#0のDRAM24からのデータをホ
ールドするDラッチ、27はDRAM24の列アドレスをラ
ッチするためのCAS#0信号、28はDRAM25の列ア
ドレスをラッチするためのCAS#1信号、29はDRA
M24及びDRAM25の行アドレスをラッチするためのR
AS#0信号、31はバンク切り替え信号である。
In the nibble mode DRAM, a maximum of 4 bits (nibbles) of data can be accessed for a set of row address and column address. In FIG. 4, 3 is DRAM2
An address multiplexer for time-divisionally providing addresses to 4 and 25 as row addresses (page addresses) and column addresses, 4 is a memory controller that outputs signals for controlling the timing of reading and writing of DRAMs 24 and 25, and 11 is block transfer A data processing device having a function, 12 is an address bus of the memory device, 13 is a data bus of the memory device, 23 is a selector for selecting data of bank # 0 or bank # 1, 24 is a DRAM of bank # 0, 25 Is D in bank # 1
RAM, 26 is a D latch for holding data from the DRAM 24 of the bank # 0, 27 is a CAS # 0 signal for latching the column address of the DRAM 24, 28 is a CAS # 1 signal for latching the column address of the DRAM 25, 29 is DRA
R to latch the row address of M24 and DRAM25
AS # 0 signal, 31 is a bank switching signal.

【0008】まず読み出しサイクルにおいて、第1の転
送サイクルでは、メモリコントローラ4から選択された
メモリ装置に行アドレス1(図4参照)が送られる。DR
AM24,DRAM25がセットアップしたら、RAS#0
信号29をローレベルにしアクセスを開始する。上記行ア
ドレスが所定のホールド時間を経過すると、データ処理
装置11から列アドレス1(図4参照)が送られ、その後C
AS#0信号27,CAS#1信号28をローレベルにす
る。こうして、メモリコントローラ4からのアドレスを
ラッチし、DRAM24,25内でのアクセスが開始され
る。
First, in the read cycle, in the first transfer cycle, the row address 1 (see FIG. 4) is sent from the memory controller 4 to the selected memory device. DR
After setting up AM24 and DRAM25, RAS # 0
The signal 29 is set to low level to start access. When the row address has passed a predetermined hold time, the data processing device 11 sends a column address 1 (see FIG. 4), and then C
The AS # 0 signal 27 and the CAS # 1 signal 28 are set to the low level. In this way, the address from the memory controller 4 is latched and the access in the DRAM 24, 25 is started.

【0009】このとき、バンク#0,バンク#1とも同
時にアクセスが開始されるが、最初、セレクタ23により
バンク#0が選択される。バンク#0が有効になると、
CAS#0信号27をハイレベルにしてバンク#0のDR
AM24をニブルモードにすることができる。
At this time, access is simultaneously started to both bank # 0 and bank # 1, but first the bank # 0 is selected by the selector 23. When bank # 0 is activated,
DR of bank # 0 by setting the CAS # 0 signal 27 to high level
The AM24 can be put in nibble mode.

【0010】バンク#0のデータがデータバス13上に現
われると、メモリコントローラ4はバンク切り替え信号
31をローレベルにすることにより、セレクタ23によりバ
ンク#1のデータが選択される。バンク#1のDRAM
25はバンク#0のDRAM24と同時にアクセスされてい
たので、バンク#1のデータは有効であり、データ処理
装置11に送られる。
When the data of the bank # 0 appears on the data bus 13, the memory controller 4 outputs the bank switching signal.
By setting 31 to the low level, the selector 23 selects the data of the bank # 1. Bank # 1 DRAM
Since 25 is being accessed at the same time as the DRAM 24 in bank # 0, the data in bank # 1 is valid and is sent to the data processor 11.

【0011】データ処理装置11がバンク#1のデータを
受け取ると、CAS#1信号28はハイレベルになってバ
ンク#1のDRAM25をプリチャージし、ニブルモード
に入る。このとき、バンク切り替え信号31もハイレベル
になってバンク#0のデータの受け入れ態勢に入る。デ
ータ処理装置11が次のデータを受け入れる態勢が整っ
て、セレクタ23によりバンク#0が選択されると、バン
ク#0のDRAM24はニブルモードでアクセスしたデー
タをデータバス13上に出力する。
When the data processor 11 receives the data in the bank # 1, the CAS # 1 signal 28 goes high to precharge the DRAM 25 in the bank # 1 and enter the nibble mode. At this time, the bank switching signal 31 also goes high, and the system is ready to accept the data of bank # 0. When the data processor 11 is ready to receive the next data and the bank # 0 is selected by the selector 23, the DRAM 24 of the bank # 0 outputs the data accessed in the nibble mode onto the data bus 13.

【0012】バンク#0の読み出しが終わると、セレク
タ23によりバンク#1が選択される。このときバンク#
1は、すでにニブルモードのアクセスを完了しており、
データをデータバス13上に出力する。このようにしてデ
ータ転送が1サイクル終了し、メモリコントローラ4は
次のサイクルのためにRAS#0信号29,CAS#0信
号27,CAS#1信号28をプリチャージする。
When the reading of the bank # 0 is completed, the bank # 1 is selected by the selector 23. Bank #
1 has already completed nibble mode access,
The data is output on the data bus 13. In this way, one cycle of data transfer is completed, and the memory controller 4 precharges the RAS # 0 signal 29, CAS # 0 signal 27, and CAS # 1 signal 28 for the next cycle.

【0013】書き込みサイクルではDラッチ26を用い、
バンク#0のデータを受けてバンク#0のDRAM24が
まだアクセスできないときに、データをホールドする。
バンク#1のデータも、データバス13上に出力される
と、CAS#0信号27,CAS#1信号28を同時にロー
レベルにすることによりバンク#0,バンク#1同時に
データを書き込む。
In the write cycle, the D latch 26 is used,
When the data in bank # 0 is received and the DRAM 24 in bank # 0 cannot be accessed yet, the data is held.
When the data of the bank # 1 is also output to the data bus 13, the data of the bank # 0 and the bank # 1 are simultaneously written by setting the CAS # 0 signal 27 and the CAS # 1 signal 28 to the low level at the same time.

【0014】[0014]

【発明が解決しようとする課題】上記従来例の構成で
は、メモリを2バンクに分けバンク#0とバンク#1か
ら交互にデータを読み書きすることにより、プリチャー
ジ時間をかせぐとともにブロック転送時のサイクル時間
を改善していた。
In the configuration of the above-mentioned conventional example, the memory is divided into two banks and data is alternately read and written from the bank # 0 and the bank # 1 to increase the precharge time and the cycle at the time of block transfer. I was improving my time.

【0015】しかしながら、従来の構成では同一のペー
ジ内でのアクセスでしかサイクル時間の改善はなく、隣
接するページを連続アクセスする場合には、新たに行ア
ドレスを出力しなければならないので高速化のための障
害となっていた。
However, in the conventional configuration, the cycle time can be improved only by accessing within the same page, and when the adjacent pages are continuously accessed, a new row address must be output, and therefore the speed is increased. Had been an obstacle for.

【0016】さらに、ブロック転送サイクルの場合、第
1語のアクセス時間を改善しないかぎり、大幅なサイク
ル時間の短縮は望めないが、高速DRAMを用いてこれ
を達成しようとすると、メモリ装置が非常に高価なもの
になってしまうという欠点があった。
Further, in the case of a block transfer cycle, unless the access time of the first word is improved, the cycle time cannot be greatly shortened. However, if a high speed DRAM is used to achieve this, the memory device becomes very difficult. It had the drawback of becoming expensive.

【0017】本発明はこのような従来の問題点に鑑みな
されたもので、メモリ空間の隣接するページを連続アク
セスするときのサイクル時間を短縮するメモリ装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above conventional problems, and an object of the present invention is to provide a memory device that shortens the cycle time when consecutively accessing adjacent pages of a memory space.

【0018】[0018]

【課題を解決するための手段】本発明は、第1のブロッ
ク転送アクセスサイクルで与えられたアドレスから、上
位アドレス方向及び下位アドレス方向に連続した第2の
ブロック転送アクセスサイクルのアドレスを予測する手
段を備え、第2のブロック転送アクセスサイクルのアド
レスで与えられたページの先端からN語を高速なDRA
Mから転送し、残りの語を低速なDRAMから転送し、
隣接するページを連続アクセスするときにサイクル時間
を改善するような構成にしたことを特徴とする。
According to the present invention, means for predicting an address in a second block transfer access cycle that is continuous in an upper address direction and a lower address direction from an address given in a first block transfer access cycle. And fast NRA from the top of the page given by the address of the second block transfer access cycle.
Transfer from M, transfer remaining words from slow DRAM,
It is characterized in that the cycle time is improved when consecutively accessing adjacent pages.

【0019】[0019]

【作用】本発明によれば、隣接するページを連続アクセ
スするときのサイクル時間を短縮することができ、高速
DRAMだけで主記憶を構成した場合と同等の性能を低
コストで実現できる。
According to the present invention, the cycle time for continuous access to adjacent pages can be shortened, and the performance equivalent to that when the main memory is composed of only high-speed DRAM can be realized at low cost.

【0020】[0020]

【実施例】本発明の一実施例を図1ないし図3を用いて
説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS.

【0021】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図1において、1は主記憶を構成する低
速DARM、2は主記憶の各ページの先頭語を構成する
高速DRAM、3はDARM1及び2へのアドレスを行
アドレス(ページアドレス)、列アドレスとして時分割で
与えるためのアドレスマルチプレクサ、4はDARM1
及び2の読み書き等のタイミングを制御する信号を出力
するメモリコントローラ、5は第1のブロック転送サイ
クルで与えられた行アドレスに1を加えるページアドレ
スのアップカウンタで、5Aはアップカウンタ出力であ
る。6は第1のブロック転送サイクルで与えられた行ア
ドレスに1を減ずるページアドレスダウンカウンタで、
6Aはダウンカウンタ出力である。7は第2のブロック
転送サイクルで与えられた行アドレスが第1のブロック
転送サイクルで与えられた行アドレスから上位側の隣接
する行アドレスであるかどうかを判定するアドレス比較
器で、7Aは一致信号である。8は第2のブロック転送
サイクルで与えられた行アドレスが第1のブロック転送
サイクルで与えられた行アドレスから下位側の隣接する
行アドレスであるかどうかを判定するアドレス比較器
で、8Aは一致信号である。9は先頭語を高速DRAM
2に読み書きするタイミング信号を出力する有効信号発
生装置で、9Aは有効信号である。11はブロック転送機
能を有するデータ処理装置、30は高速ドラム2の行アド
レスをラッチするためのRAS#1信号である。この
他、前記図4と同じ部位には同じ番号を付し、その説明
を省略する。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention. In FIG. 1, 1 is a low-speed DARM that constitutes the main memory, 2 is a high-speed DRAM that constitutes the first word of each page of the main memory, and 3 is a row address (page address) and a column address as addresses to DARM 1 and 2 respectively. Address multiplexer for giving division, 4 is DARM1
The memory controller 5 outputs a signal for controlling the timing of reading and writing 2 and 2, and the like, and 5 is an up counter for a page address that adds 1 to the row address given in the first block transfer cycle, and 5A is an up counter output. 6 is a page address down counter that subtracts 1 from the row address given in the first block transfer cycle.
6A is a down counter output. Reference numeral 7 is an address comparator for determining whether or not the row address given in the second block transfer cycle is an adjacent row address on the upper side from the row address given in the first block transfer cycle. It is a signal. Reference numeral 8 is an address comparator for determining whether or not the row address given in the second block transfer cycle is an adjacent row address on the lower side from the row address given in the first block transfer cycle, and 8A is a match. It is a signal. 9 is a high speed DRAM for the first word
2 is a valid signal generator that outputs a timing signal for reading and writing to 2 and 9A is a valid signal. Reference numeral 11 is a data processing device having a block transfer function, and 30 is a RAS # 1 signal for latching the row address of the high speed drum 2. In addition, the same parts as those in FIG. 4 are designated by the same reference numerals, and the description thereof will be omitted.

【0022】この図1に示す実施例として、データ処理
装置11から出力されるアドレスのうちA20〜A11がメモ
リ装置に接続され、データ処理装置11がアクセスする主
記憶は1Mバイトとし、データ幅は16ビット(1語)とす
る。また使用するDRAMはニブルモードDRAMと
し、先頭語を高速DRAMで構成した(N=1)場合につ
いて説明する。
In the embodiment shown in FIG. 1, of the addresses output from the data processing device 11, A20 to A11 are connected to the memory device, the main memory accessed by the data processing device 11 is 1 MB, and the data width is 16 bits (1 word). Also, the case where the nibble mode DRAM is used and the leading word is a high speed DRAM (N = 1) will be described.

【0023】まず、図2は本発明の一実施例におけるメ
モリ空間の構成を示すメモリマップである。一般にDR
AMは、アドレスを時分割に与えてアクセスする。例え
ば1MワードのDARMであれば、必要な20ビットのア
ドレスをマルチプレクスして最初の10ビットを行アドレ
スとして与え、次に、残りの10ビットを列アドレスとし
て与える。
First, FIG. 2 is a memory map showing the structure of the memory space in one embodiment of the present invention. DR in general
The AM gives access by giving an address in a time division manner. For example, in the case of 1 M word DARM, the necessary 20-bit address is multiplexed and the first 10 bits are given as a row address, and then the remaining 10 bits are given as a column address.

【0024】また、行アドレスで与えられるメモリ空間
をページ(page0〜1024で例示)と言い、ここではページ
アドレスはA20〜A11で与えられるので、1ページあた
り1Kバイトのページが1Kページ存在する。また、N
=1としているので、各ページの先頭語は高速DRAM
2に配置され、残りの語は低速DARM1に配置され
る。従って、高速DRAM2で構成する部分は、16Kビ
ット(2Kビット)ですむ。
The memory space given by the row address is called a page (exemplified by page0 to 1024). Here, since the page address is given by A20 to A11, there are 1K pages of 1K bytes per page. Also, N
= 1, so the first word of each page is high-speed DRAM
2 and the remaining words are placed in slow DARM1. Therefore, the portion constituted by the high-speed DRAM 2 needs only 16K bits (2K bits).

【0025】以上のように構成されたメモリ装置につい
てその動作を説明する。まず、読み出しサイクルにおい
てデータ処理装置11からメモリ装置をアクセスするた
め、第1の転送サイクルのブロックアドレス1が出力さ
れる(ページの先頭アドレスではないとする)。このと
き、アドレスマルチプレクサ3によりDARM1に行ア
ドレスが与えられる。アドレス比較器7には、ページア
ドレスアップカウンタ5のカウンタ出力5Aにより行ア
ドレスに1を加えた行アドレスが与えられており、また
アドレス比較器8には、ページアドレスダウンカウンタ
6のカウンタ出力6Aにより行アドレスに1を減じた行
アドレスが与えられている。
The operation of the memory device configured as described above will be described. First, since the memory device is accessed from the data processing device 11 in the read cycle, the block address 1 of the first transfer cycle is output (not the start address of the page). At this time, the row address is given to the DARM 1 by the address multiplexer 3. A row address obtained by adding 1 to the row address is given to the address comparator 7 by the counter output 5A of the page address up counter 5, and the address comparator 8 is given by the counter output 6A of the page address down counter 6. A row address obtained by subtracting 1 from the row address is given.

【0026】DRAM1がセットアップしたら、RAS
#0信号29をローレベルにしアクセスを開始する。行ア
ドレスが所定のホールド時間を経過すると、アドレスマ
ルチプレクサ3により、DRAM1に列アドレスが与え
られる。その後、メモリコントローラ4によりDRAM
1にCAS#0信号27が与えられ、このCAS#0信号
27をトグル動作させることにより連続した列アドレスを
DRAM1内に発生する。
Once DRAM 1 is set up, RAS
The # 0 signal 29 is set to low level to start access. When the row address has passed a predetermined hold time, the address multiplexer 3 supplies the column address to the DRAM 1. After that, the memory controller 4 causes the DRAM
1 is supplied with the CAS # 0 signal 27, and the CAS # 0 signal 27
A continuous column address is generated in the DRAM 1 by toggling 27.

【0027】このようにして、同一ページ内の連続アク
セスが可能となる。ここで同一ページをアクセスしてい
るかぎり行アドレスは変わらないので、アドレス比較器
7及びアドレス比較器8からの一致信号7A,8Aは偽
(ハイレベル)となっている。
In this way, continuous access within the same page is possible. Since the row address does not change as long as the same page is accessed, the match signals 7A and 8A from the address comparators 7 and 8 are false.
(High level).

【0028】データ処理装置11から第2の転送サイクル
のブロックアドレスが出力され、行アドレスが第1のサ
イクルの行アドレスに隣接する行アドレスであった場
合、アドレス比較器7またはアドレス比較器8は一致信
号7A,8Aを真(ローレベル)とする。
When the block address of the second transfer cycle is output from the data processing device 11 and the row address is the row address adjacent to the row address of the first cycle, the address comparator 7 or the address comparator 8 The coincidence signals 7A and 8A are set to true (low level).

【0029】例えば第2の転送サイクルの行アドレス
が、第1の転送サイクルの行アドレスより上位側の隣接
する行アドレスであった場合、アドレス比較器7から一
致信号7Aが出力され、下位側の隣接する行アドレスで
あった場合、アドレス比較器8から一致信号8Aが出力
される。有効信号発生装置9は、アドレス比較器7また
はアドレス比較器8からの一致信号7A,8Aを受け、
メモリコントローラ4に対し、有効信号9Aを出力す
る。その結果、メモリコントローラ4はDRAM2にR
AS#1信号30を送る。この後、メモリコントローラ4
からCAS#1信号28がDRAM2に与えられると、D
RAM2は、データ(先頭語)をデータバス13上に出力す
る。有効信号9Aは、先頭語を出力するのに必要な時間
を経過後、偽(ハイレベル)となりその後の語は、DRA
M1から読み出される。
For example, when the row address of the second transfer cycle is an adjacent row address on the upper side of the row address of the first transfer cycle, the address comparator 7 outputs a coincidence signal 7A and the lower side of the row address. If the row addresses are adjacent to each other, the address comparator 8 outputs the coincidence signal 8A. The valid signal generator 9 receives the coincidence signals 7A and 8A from the address comparator 7 or the address comparator 8,
The valid signal 9A is output to the memory controller 4. As a result, the memory controller 4 stores the R in the DRAM 2.
Send AS # 1 signal 30. After this, the memory controller 4
When the CAS # 1 signal 28 is applied to the DRAM 2 from
The RAM 2 outputs the data (first word) onto the data bus 13. The valid signal 9A becomes false (high level) after the time required to output the first word has passed, and the words after that become DRA.
It is read from M1.

【0030】ここで図3で示したタイミングチャートを
用いてメモリ装置の動作をさらに詳しく説明する。図3
は、横方向には右向きに時間の流れを示し、縦方向には
信号の動きを示している。
The operation of the memory device will now be described in more detail with reference to the timing chart shown in FIG. Figure 3
Shows the flow of time in the right direction in the horizontal direction and shows the movement of signals in the vertical direction.

【0031】まず、読み出しサイクルにおいて、データ
処理装置11からブロック転送アドレスが出力され、メモ
リコントローラ4により行アドレスがDRAM1に与え
られる。このとき行アドレスとページアドレスアップカ
ウンタ6で与えられる行アドレスがアドレス比較器7で
比較される。その比較結果が一致していないとすると、
有効信号9Aは偽(ハイレベル)のままであり、メモリコ
ントローラ4は、RAS#0信号29をローレベルにして
DARM1に対するアクセスを開始するとともに、切り
替え信号31をローレベルにしてセレクタ23によりDRA
M1からのデータを選択する。行アドレスがホールド時
間を経過すると、メモリコントローラ4により列アドレ
スがDARM1に与えられ、その後、CAS#0信号27
をローレベルにする。こうして、メモリコントローラ4
からのアドレスをラッチしDRAM内でのアクセスが開
始される。
First, in the read cycle, the block transfer address is output from the data processor 11, and the row address is given to the DRAM 1 by the memory controller 4. At this time, the row address and the row address given by the page address up counter 6 are compared by the address comparator 7. If the comparison results do not match,
The valid signal 9A remains false (high level), and the memory controller 4 sets the RAS # 0 signal 29 to the low level to start access to DARM1 and sets the switching signal 31 to the low level to cause the selector 23 to perform DRA.
Select the data from M1. When the row address has passed the hold time, the memory controller 4 gives the column address to DARM1, and then the CAS # 0 signal 27
To low level. Thus, the memory controller 4
The address from is latched and access in the DRAM is started.

【0032】アクセス時間が経過しDARM1からの読
み出しデータがデータバス13上に現われると、CAS#
0信号27をハイレベルにして次のニブルモードアクセス
に備える。CASホールド時間経過後、再びCAS#0
信号27をローレベルにして、ニブルモードアクセスを開
始する。1回のブロック転送で4語が転送されるので、
CAS#0信号27を4サイクルトグル動作させることに
よりDRAM1から語0,語1,語2,語3の4語が連
続して読み出される。
When the access time has elapsed and the read data from DARM1 appears on the data bus 13, CAS #
The 0 signal 27 is set to high level to prepare for the next nibble mode access. After the CAS hold time has elapsed, CAS # 0 again
The signal 27 is set to low level to start nibble mode access. Since 4 words are transferred in one block transfer,
By toggling the CAS # 0 signal 27 for four cycles, four words of word 0, word 1, word 2 and word 3 are continuously read from the DRAM 1.

【0033】次に、データ処理装置11から第2のブロッ
ク転送アドレスが出力され、メモリコントローラ4によ
り行アドレスがDRAM1に与えられる。このとき行ア
ドレスが前回の転送サイクルで与えられた行アドレスよ
り上位側の隣接するページの行アドレスに等しい場合、
アドレス比較器7より一致信号7Aが有効信号発生装置
9に送られ、その結果、該有効信号発生装置9の有効信
号9Aはローレベルになる。
Next, the data processing device 11 outputs the second block transfer address, and the memory controller 4 gives the row address to the DRAM 1. At this time, if the row address is equal to the row address of the adjacent page on the upper side of the row address given in the previous transfer cycle,
The coincidence signal 7A is sent from the address comparator 7 to the valid signal generator 9, and as a result, the valid signal 9A of the valid signal generator 9 becomes low level.

【0034】従って、メモリコントローラ4は前記有効
信号9Aを受けDARM2にRAS#1信号30を与える
ことにより、第2の転送サイクルの先頭語が該DARM
2から読み出されるように、該DARM2に対するアク
セスが開始される。
Therefore, the memory controller 4 receives the valid signal 9A and gives the RAS # 1 signal 30 to the DARM2 so that the first word of the second transfer cycle is the DARM.
Access to the DARM2 is started as read from No. 2.

【0035】また、切り替え信号31をハイレベルにして
セレクタ23により前記DARM2からのデータを選択す
る。その後、DARM2にCAS#1信号28が与えら
れ、アクセス時間が経過すると、データバス13上にデー
タが現われる。このとき同時に、DARM1へのRAS
#0信号29はローレベルになり、先頭語以降の語を読み
出す準備が行なわれる。
Further, the switching signal 31 is set to the high level and the selector 23 selects the data from the DARM2. Thereafter, the CAS # 1 signal 28 is applied to the DARM2, and when the access time elapses, data appears on the data bus 13. At the same time, RAS to DARM1
The # 0 signal 29 goes low, and preparations are made to read out the words after the first word.

【0036】DARM2はDARM1よりアクセス時間
が速いので、第1の転送サイクルの場合より速く先頭語
がデータバス13上に現われる。DRAM2から先頭語が
読み出された後、該DARM2のRAS#1信号30をハ
イレベルにする。またDRAM1へのCAS#0信号27
をローレベルにして、第2語を読み出す準備をする。そ
の後、第1の転送サイクルの場合と同じように、CAS
#0信号27を3サイクルトグル動作させることにより、
DARM1から語1,語2,語3の3語が連続して読み
出される。
Since DARM2 has a faster access time than DARM1, the leading word appears on the data bus 13 faster than in the first transfer cycle. After the head word is read from the DRAM2, the RAS # 1 signal 30 of the DARM2 is set to the high level. In addition, the CAS # 0 signal 27 to the DRAM 1
To low level to prepare to read the second word. Then, as in the first transfer cycle, the CAS
By toggling the # 0 signal 27 for 3 cycles,
Three words of word 1, word 2, and word 3 are continuously read from DARM1.

【0037】書き込みサイクルにおいても、書き込み信
号をローレベルにすることが異なるだけで、読み出しサ
イクルと全く同様のシーケンスでデータの書き込みが行
なわれる。
Also in the write cycle, data is written in the same sequence as in the read cycle except that the write signal is set to the low level.

【0038】以上のように本実施例によれば、メモリ装
置の各ページの先頭語を高速なDRAMで構成し、残り
の語を低速DRAMで構成するとともに、第1のブロッ
ク転送アクセスサイクルで与えられたアドレスから、上
位アドレス方向及び下位アドレス方向に連続した第2の
ブロック転送アクセスサイクルのアドレスを予測する手
段を備えることにより、先頭語を高速DRAMから読み
だすことができるようにした。従って、隣接するページ
を連続アクセスする場合には、サイクル時間を大幅に改
善することができる。
As described above, according to the present embodiment, the first word of each page of the memory device is composed of the high-speed DRAM, the remaining words are composed of the low-speed DRAM, and is given in the first block transfer access cycle. By providing means for predicting the addresses of the second block transfer access cycle that is continuous in the upper address direction and the lower address direction from the obtained address, the head word can be read from the high speed DRAM. Therefore, when the adjacent pages are continuously accessed, the cycle time can be greatly improved.

【0039】[0039]

【発明の効果】以上説明したように本発明のメモリ装置
は、ページの先頭からN語を高速なDRAMで構成し、
残りの(M−N)の語を低速DRAMで構成し、ブロック
転送サイクルにおける先頭からN語を高速なDRAMに
読み書きすることにより、高速なメモリ装置を実現でき
る。また大規模な周辺回路も必要なく、最小限必要な部
分だけ高速なDRAMを用い、残りは大容量の低速DR
AMを用いることで低コストで大容量のメモリ装置を実
現できる。
As described above, in the memory device of the present invention, N words from the top of the page are composed of a high-speed DRAM,
A high-speed memory device can be realized by configuring the remaining (M−N) words in the low-speed DRAM and reading / writing N words from the beginning in the block transfer cycle to the high-speed DRAM. In addition, no large-scale peripheral circuits are required, high-speed DRAM is used only for the minimum required parts, and the rest is large-capacity low-speed DR
By using AM, a large-capacity memory device can be realized at low cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施例におけるメモリ空間の構成を
示すメモリマップである。
FIG. 2 is a memory map showing a configuration of a memory space according to an embodiment of the present invention.

【図3】図1の動作を示すタイミングチャートである。FIG. 3 is a timing chart showing the operation of FIG.

【図4】従来例におけるメモリ装置のブロック図であ
る。
FIG. 4 is a block diagram of a memory device in a conventional example.

【図5】図5の動作を示すタイミングチャートである。FIG. 5 is a timing chart showing the operation of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…低速DRAM、 2…高速DRAM、 3…アドレ
スマルチプレクサ、 4…メモリコントローラ、 5…
アップカウンタ、 6…ダウンカウンタ、 7,8…ア
ドレス比較器、 9…有効信号発生装置、 11…データ
処理装置、12…アドレスバス、 13…データバス、 23
…データセレクタ、 27…CAS#0信号、 28…CA
S#1信号、 29…RAS#0信号、 30…RAS#1
信号、31…バンク切り替え信号。
1 ... Low speed DRAM, 2 ... High speed DRAM, 3 ... Address multiplexer, 4 ... Memory controller, 5 ...
Up counter, 6 ... Down counter, 7, 8 ... Address comparator, 9 ... Effective signal generating device, 11 ... Data processing device, 12 ... Address bus, 13 ... Data bus, 23
... Data selector, 27 ... CAS # 0 signal, 28 ... CA
S # 1 signal, 29 ... RAS # 0 signal, 30 ... RAS # 1
Signal, 31 ... Bank switching signal.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ブロック転送機能を有するデータ処理装
置から出力されるアドレスに従ってデータを出力するメ
モリ装置において、上位アドレスが等しいM語で構成さ
れる同一ページ内の先頭からN語は高速なダイナミック
ランダムアクセスメモリで構成され、残りの(M−N)語
は前記高速なダイナミックランダムアクセスメモリより
低速なダイナミックランダムアクセスメモリで構成され
るメモリの集合と、第1のブロック転送アクセスサイク
ルで与えられたアドレスとから、上位アドレス方向及び
下位アドレス方向に連続した第2のブロック転送アクセ
スサイクルのアドレスを予測する手段と、該アドレス予
測手段から出力されたアドレスが前記データ処理装置に
よって出力されているアドレスと等しいかどうかを判定
する比較手段と、予測したアドレスが前記データ処理装
置から出力されているアドレスと一致するか一致しない
かにより、先端のN語を前記高速ダイナミックランダム
アドレスメモリか前記低速ダイナミックランダムアクセ
スメモリから出力するかを選択するデータ選択手段を設
け、連続したページをアクセスするときに、先端からN
語を高速なダイナミックランダムアクセスメモリから転
送することを特徴とするメモリ装置。
1. In a memory device for outputting data according to an address output from a data processing device having a block transfer function, N words from the beginning in the same page composed of M words having the same upper address are fast dynamic random. The remaining (M−N) words are composed of an access memory, and the remaining (M−N) words are a set of memories composed of a dynamic random access memory slower than the high speed dynamic random access memory and an address given in the first block transfer access cycle. And means for predicting the addresses of the second block transfer access cycles consecutive in the upper address direction and the lower address direction, and the address output from the address predicting means is equal to the address output by the data processing device. A comparison means to determine whether Data selecting means for selecting whether to output the leading N words from the high-speed dynamic random address memory or the low-speed dynamic random access memory, depending on whether or not the generated address matches or does not match the address output from the data processing device. Is provided, and when accessing consecutive pages, N
A memory device characterized by transferring words from a high speed dynamic random access memory.
【請求項2】 アドレス予測手段で予測するアドレス
が、第1のブロック転送アクセスサイクルで与えられた
ページアドレスに1を加えた値になる手段と、1を減じ
た値になる手段とを備えていることを特徴とする請求項
1記載のメモリ装置。
2. An address predicting means is provided with a means for obtaining a value obtained by adding 1 to a page address given in the first block transfer access cycle and a means for obtaining a value obtained by subtracting 1 from the page address. The memory device according to claim 1, wherein the memory device comprises:
JP26940591A 1991-10-17 1991-10-17 Memory device Pending JPH05108471A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26940591A JPH05108471A (en) 1991-10-17 1991-10-17 Memory device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP26940591A JPH05108471A (en) 1991-10-17 1991-10-17 Memory device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05108471A true JPH05108471A (en) 1993-04-30

Family

ID=17471959

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP26940591A Pending JPH05108471A (en) 1991-10-17 1991-10-17 Memory device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05108471A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100457478B1 (en) * 1996-06-06 2005-04-06 프리스케일 세미컨덕터, 인크. Memory access method and data processing system
JP2013541122A (en) * 2010-08-24 2013-11-07 クアルコム,インコーポレイテッド Wide input / output memory with low density low latency block and high density high latency block
US9305616B2 (en) 2012-07-17 2016-04-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory cell array having fast array area and semiconductor memory including the same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100457478B1 (en) * 1996-06-06 2005-04-06 프리스케일 세미컨덕터, 인크. Memory access method and data processing system
JP2013541122A (en) * 2010-08-24 2013-11-07 クアルコム,インコーポレイテッド Wide input / output memory with low density low latency block and high density high latency block
US9305616B2 (en) 2012-07-17 2016-04-05 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor memory cell array having fast array area and semiconductor memory including the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5051889A (en) Page interleaved memory access
US6381190B1 (en) Semiconductor memory device in which use of cache can be selected
US5111386A (en) Cache contained type semiconductor memory device and operating method therefor
US5555528A (en) Dynamic random access memory persistent page implemented as processor register sets
US4924375A (en) Page interleaved memory access
JP2777247B2 (en) Semiconductor storage device and cache system
JPS6334652A (en) Access method and system for computer memory
JP2002063069A (en) Memory controller, data processing system, and semiconductor device
KR100279137B1 (en) Semiconductor memory, data reading method and writing method of semiconductor memory
JPWO2002080180A1 (en) DRAM and access method
TW574710B (en) DRAM with segmental cell arrays and method of accessing same
US6545936B1 (en) Pipeline structure of memory for high-fast row-cycle
JPH05108471A (en) Memory device
JP4012393B2 (en) Storage device, internal control method and system for storage device, and control method for storage means in system
KR100417548B1 (en) Integrated cache memory and how to provide data to memory devices in digital memory
JPH11126477A (en) Hierarchical column selection line architecture for multi-bank dram
JPH04287251A (en) Memory device
JPH0337747A (en) Storage device controller, disk cache method and disk cache system
JPH06103760A (en) Dynamic memory
JP3243996B2 (en) Memory control method and device
JPS6314434B2 (en)
JPH01227299A (en) Refresh control system for memory
JP3386457B2 (en) Semiconductor storage device
JPS63163938A (en) Dynamic ram controller
JPH08297968A (en) Semiconductor memory