JPH05107176A - 粒度分布測定方法 - Google Patents
粒度分布測定方法Info
- Publication number
- JPH05107176A JPH05107176A JP4074867A JP7486792A JPH05107176A JP H05107176 A JPH05107176 A JP H05107176A JP 4074867 A JP4074867 A JP 4074867A JP 7486792 A JP7486792 A JP 7486792A JP H05107176 A JPH05107176 A JP H05107176A
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- JP
- Japan
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- particle size
- size distribution
- substrate
- measuring method
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 凝集性を有する粉体の粒度分布を高い精度で
測定することができる粒度分布測定方法を提供する。 【構成】 溶液中に粉体を分散させて調製したサンプル
を透明基板に滴下、塗布して、基板上の分散媒を揮散さ
せた後、この基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応
じて回折される光を測定することにより粒度分布を求め
る粒度分布測定方法。
測定することができる粒度分布測定方法を提供する。 【構成】 溶液中に粉体を分散させて調製したサンプル
を透明基板に滴下、塗布して、基板上の分散媒を揮散さ
せた後、この基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応
じて回折される光を測定することにより粒度分布を求め
る粒度分布測定方法。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、磁性粉体等のように凝
集を起こし易い粉体の粒度を測定する方法に関するもの
である。
集を起こし易い粉体の粒度を測定する方法に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】粉体の粒径の分布、所謂粒度分布の測定
は、通常粉体を液体中に分散させて、粒径の違いによる
沈降速度を測定することにより行われている。しかしな
がら、磁性粉体等のように粉体自身の磁力により分散媒
中で凝集を起こし易い粉体にあっては、測定期間中に凝
集を生じるため、測定誤差が大きくなるという問題点が
ある。
は、通常粉体を液体中に分散させて、粒径の違いによる
沈降速度を測定することにより行われている。しかしな
がら、磁性粉体等のように粉体自身の磁力により分散媒
中で凝集を起こし易い粉体にあっては、測定期間中に凝
集を生じるため、測定誤差が大きくなるという問題点が
ある。
【０００３】このため、比表面積と粒子径の間に一定の
関係が成立することを利用して気体透過法により測定す
ることが行われているが、粉体を構成している粒子の平
均径を測定するため、粒度分布についてのデータを得る
ことができないという問題があった。
関係が成立することを利用して気体透過法により測定す
ることが行われているが、粉体を構成している粒子の平
均径を測定するため、粒度分布についてのデータを得る
ことができないという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、
凝集性を有する粉体の粒度分布を高い精度により測定す
ることができる粒度分布測定方法を提案することにあ
る。
題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、
凝集性を有する粉体の粒度分布を高い精度により測定す
ることができる粒度分布測定方法を提案することにあ
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】このような問題を解決す
るため、本発明においては、溶液中に粉体を分散させて
調製したサンプルを透明基板に滴下、塗布して、基板上
の分散媒を揮散させた後、この基板に対し光を照射し、
粒子の大きさに応じて回折される光を測定することによ
り粒度分布を求める。
るため、本発明においては、溶液中に粉体を分散させて
調製したサンプルを透明基板に滴下、塗布して、基板上
の分散媒を揮散させた後、この基板に対し光を照射し、
粒子の大きさに応じて回折される光を測定することによ
り粒度分布を求める。
【０００６】
【作用】溶液中に均一に分散され、透明基板に滴下、塗
布された粉体を、基板上で分散媒を揮散することにより
均一状態を保ったまま固着し、これに光を照射して粒子
の大きさに応じて回折／散乱される光が測定される。
布された粉体を、基板上で分散媒を揮散することにより
均一状態を保ったまま固着し、これに光を照射して粒子
の大きさに応じて回折／散乱される光が測定される。
【０００７】
【実施例】以下、本発明を実施例に基づいて説明する。
【０００８】基板となる高分子材料を溶解させることが
できる溶媒１に、粒度分布を測定すべき磁性粉体２を可
能な限り分散させてサンプル液３を作る（図１
（Ｉ））。
できる溶媒１に、粒度分布を測定すべき磁性粉体２を可
能な限り分散させてサンプル液３を作る（図１
（Ｉ））。
【０００９】このサンプル液３を少量、透明な高分子製
基板４の表面に滴下し、これをガラス棒５により基板４
表面で充分に攪拌する。この攪拌により、磁性粉体２、
２、２…は、これを構成している各粒子が物理的に引離
されて分散する一方、サンプル液３に含まれている溶媒
１は、高分子製基板４の表面を溶解して粘度が高くな
る。攪拌により分散された磁性粉体は、高粘度溶媒中に
分散され、磁力による凝集を阻止され、分散状態を維持
することになる（ＩＩ）。
基板４の表面に滴下し、これをガラス棒５により基板４
表面で充分に攪拌する。この攪拌により、磁性粉体２、
２、２…は、これを構成している各粒子が物理的に引離
されて分散する一方、サンプル液３に含まれている溶媒
１は、高分子製基板４の表面を溶解して粘度が高くな
る。攪拌により分散された磁性粉体は、高粘度溶媒中に
分散され、磁力による凝集を阻止され、分散状態を維持
することになる（ＩＩ）。
【００１０】この状態で溶媒を乾燥させると、分散状態
にある磁性粉体２、２、２…が基板４の表面に固定され
ることになり（ＩＩＩ）、高分子製基板をレーザ回折式
粒度分布測定装置（たとえば、特開昭６２−１００６３
７号公報参照）に装填して粒度を測定することができ
る。
にある磁性粉体２、２、２…が基板４の表面に固定され
ることになり（ＩＩＩ）、高分子製基板をレーザ回折式
粒度分布測定装置（たとえば、特開昭６２−１００６３
７号公報参照）に装填して粒度を測定することができ
る。
【００１１】なお、上述の実施例においては、板状基板
を使用しているが、図２に示したように塩化ビニール、
ポリエチレン、ポリスチレンなどのフィルム６により基
板を構成し、ここに上述したのと同様の手法により複数
種類の粉体７、８、９を固定することにより、連続的に
粒度分布を測定することができる。
を使用しているが、図２に示したように塩化ビニール、
ポリエチレン、ポリスチレンなどのフィルム６により基
板を構成し、ここに上述したのと同様の手法により複数
種類の粉体７、８、９を固定することにより、連続的に
粒度分布を測定することができる。
【００１２】また、この実施例においては攪拌により磁
性粉体を分散させているが、図３に示すようにサンプル
液１０を滴下した基板１１を液体１２に浮かべ、この液
体を介して振動子１３からの超音波を作用させても同様
に分散させることができる。さらに、この実施例におい
ては磁性粉体に例を採って説明したが、帯電等により凝
集を起こし易い粉体に適用しても同様の作用を奏するこ
とは明らかである。 ［実験例］グリセリンを２０乃至３０％の濃度で溶解し
たテトラヒドロフランに平均径５μｍの磁性フェライト
粉末を分散させ、これを塩化ビニール製シートに滴下し
て充分攪拌する。撹拌後５乃至６分程度放置して溶媒で
あるテトラヒドロフランを揮発させた後、レーザ回折式
粒度分布測定装置により３回測定したところ図４に示し
たように、極めて安定した結果を得ることができた。
性粉体を分散させているが、図３に示すようにサンプル
液１０を滴下した基板１１を液体１２に浮かべ、この液
体を介して振動子１３からの超音波を作用させても同様
に分散させることができる。さらに、この実施例におい
ては磁性粉体に例を採って説明したが、帯電等により凝
集を起こし易い粉体に適用しても同様の作用を奏するこ
とは明らかである。 ［実験例］グリセリンを２０乃至３０％の濃度で溶解し
たテトラヒドロフランに平均径５μｍの磁性フェライト
粉末を分散させ、これを塩化ビニール製シートに滴下し
て充分攪拌する。撹拌後５乃至６分程度放置して溶媒で
あるテトラヒドロフランを揮発させた後、レーザ回折式
粒度分布測定装置により３回測定したところ図４に示し
たように、極めて安定した結果を得ることができた。
【００１３】なお、この実施例においては、溶媒にグリ
セリンを溶解させて初期の凝集を防止しているが、凝集
力の小さな粉体にあっては溶媒自身に粉体を分散させて
も実用上充分な分散を得ることができる。
セリンを溶解させて初期の凝集を防止しているが、凝集
力の小さな粉体にあっては溶媒自身に粉体を分散させて
も実用上充分な分散を得ることができる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように本発明においては、
溶液中に粉体を分散させて調製したサンプルを透明基板
に滴下、塗布して、基板上の分散媒を揮散させた後、こ
の基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応じて回折さ
れる光を測定することにより粒度分布を求めるので、凝
集し易い粉末を基板表面に分散状態で固定することがで
きて、高精度の測定結果を得ることができる。また、測
定に供した試料を保存することができるという付随的効
果もある。
溶液中に粉体を分散させて調製したサンプルを透明基板
に滴下、塗布して、基板上の分散媒を揮散させた後、こ
の基板に対し光を照射し、粒子の大きさに応じて回折さ
れる光を測定することにより粒度分布を求めるので、凝
集し易い粉末を基板表面に分散状態で固定することがで
きて、高精度の測定結果を得ることができる。また、測
定に供した試料を保存することができるという付随的効
果もある。
【図１】本発明の一実施例を示す説明図である。
【図２】本発明の他の実施例を示す図である。
【図３】本発明のさらに他の実施例を示す図である。
【図４】本発明による測定結果の一例を示す図である。
１ 溶媒 ２、２ 粉体 ３ 透明高分子製基板 ４ 液滴
Claims (1)
- 【請求項１】 溶液中に粉体を分散させて調製したサン
プルを透明基板に滴下、塗布し、基板上の分散媒を揮散
させた後、この基板に対し光を照射し、粒子の大きさに
応じて回折される光を測定することにより粒度分布を求
める粒度分布測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4074867A JPH05107176A (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 粒度分布測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4074867A JPH05107176A (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 粒度分布測定方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63218119A Division JPH0264436A (ja) | 1988-08-30 | 1988-08-30 | 粒度分布測定用試料調整方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05107176A true JPH05107176A (ja) | 1993-04-27 |
Family
ID=13559715
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4074867A Pending JPH05107176A (ja) | 1992-03-31 | 1992-03-31 | 粒度分布測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05107176A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010008028A1 (ja) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 株式会社 ポッカコーポレーション | 分散液の解析方法及び装置並びに分散液の安定性評価方法及び装置 |
| JP2014112102A (ja) * | 2014-02-21 | 2014-06-19 | Pokka Sappro Food & Beverage Ltd | 分散液の安定性評価方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6338131A (ja) * | 1986-08-04 | 1988-02-18 | Nec Kyushu Ltd | 標準粒子塗布装置 |
| JPS6383632A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Shimadzu Corp | レーザ回折式粒度分布測定装置 |
-
1992
- 1992-03-31 JP JP4074867A patent/JPH05107176A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6338131A (ja) * | 1986-08-04 | 1988-02-18 | Nec Kyushu Ltd | 標準粒子塗布装置 |
| JPS6383632A (ja) * | 1986-09-29 | 1988-04-14 | Shimadzu Corp | レーザ回折式粒度分布測定装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2010008028A1 (ja) * | 2008-07-16 | 2010-01-21 | 株式会社 ポッカコーポレーション | 分散液の解析方法及び装置並びに分散液の安定性評価方法及び装置 |
| JP2010025643A (ja) * | 2008-07-16 | 2010-02-04 | Pokka Corp | 分散液の解析方法及び分散液の解析装置、並びに分散液の安定性評価方法及び分散液の安定性評価装置 |
| US20110126615A1 (en) * | 2008-07-16 | 2011-06-02 | Pokka Corporation | Dispersion analysis method and device, as well as dispersion stability evaluation method and device |
| US8746047B2 (en) | 2008-07-16 | 2014-06-10 | Pokka Corporation | Dispersion analysis method and device |
| JP2014112102A (ja) * | 2014-02-21 | 2014-06-19 | Pokka Sappro Food & Beverage Ltd | 分散液の安定性評価方法 |
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