JPH0493174A - Board for dressing - Google Patents

Board for dressing

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JPH0493174A
JPH0493174A JP2203837A JP20383790A JPH0493174A JP H0493174 A JPH0493174 A JP H0493174A JP 2203837 A JP2203837 A JP 2203837A JP 20383790 A JP20383790 A JP 20383790A JP H0493174 A JPH0493174 A JP H0493174A
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JP
Japan
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dressing
polishing
substrate
board
face
Prior art date
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Pending
Application number
JP2203837A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuyuki Ozeki
大関 泰之
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH0493174A publication Critical patent/JPH0493174A/en
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  • Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)

Abstract

PURPOSE:To automatize the dressing process by providing a dressing part which has a dressing face displaying a dressing effect with its contact with the polishing face of a polishing machine, and the part to be held which is held on a dressing means. CONSTITUTION:A dressing board 10 used for the dressing means of an automatic polishing device is equipped with a dressing part 12 having the dressing face which displays a dressing effect with its contact with the polishing face of a polishing machine, and the part 14 to be held which is held on the dressing means. This dressing part 12 will do by having the dressing face which can efficiently remove the polishing residue, abrasive, etc., clogged on the polishing surface of the polishing machine, and the pad of the polishing machine is subjected to dressing easily with the similar motion to polishing process, by installing a dressing board 10 on the carrier of the polishing machine similarly to the board to be polished.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、研磨盤の〆υれを除去するためのドレッシン
グ用基板に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a dressing substrate for removing the deviation of a polishing disk.

[従来の技術] 通常の磁気ディスク基板やSiウェハ等の製造では、そ
の表面を研磨する工程か含まれている。
[Prior Art] The production of ordinary magnetic disk substrates, Si wafers, etc. includes a step of polishing their surfaces.

通常の研磨]−程は、以下のようにして行われる。[Normal polishing]--The process is carried out as follows.

第6図に示すように、キャリアー60に支持された被加
工物6]を上下定盤62.63間に挟持する。上下定盤
62.63は、それぞれパッド6465を有しており、
被加工物6]の両面にパッド64.65が接触するよう
に対向して設置されている。このような状態て、被加工
物6]とパッド64.65の間に研磨剤を(5(給しつ
つキャリアー60か自転しなから公転することによって
被加工物の研磨が行われる。
As shown in FIG. 6, a workpiece 6 supported by a carrier 60 is held between upper and lower surface plates 62 and 63. The upper and lower surface plates 62 and 63 each have a pad 6465,
Pads 64 and 65 are placed facing each other so as to be in contact with both surfaces of the workpiece 6. In this state, the workpiece is polished by supplying an abrasive between the workpiece 6 and the pads 64 and 65 while the carrier 60 rotates and then revolves.

研磨工程において、複数バッチの研磨を連続して行うと
、パッド64.65に研磨滓、研磨剤等が詰まり、研磨
速度の低下やスクラッチの発生が起こる。このため、複
数バッチの研磨後に定期的に上下定盤62.63のパッ
ド64.65に詰まった研磨滓、研磨剤等を除去するド
レッング工程が不可欠となる。従来、ドレッシング工程
は、カッター刃、ドレッシングキャリアーを用いたり、
高圧水を用いてパッド64.65に詰まった研磨滓、研
磨剤等を除去して行っている。
In the polishing process, when multiple batches of polishing are performed in succession, the pads 64 and 65 become clogged with polishing slag, abrasive, etc., resulting in a decrease in polishing speed and the occurrence of scratches. For this reason, after polishing multiple batches, a dredging step is indispensable to periodically remove polishing slag, abrasives, etc. that are clogged in the pads 64.65 of the upper and lower surface plates 62.63. Traditionally, the dressing process uses cutter blades, dressing carriers,
This is done by using high-pressure water to remove polishing slag, abrasives, etc. that have clogged the pads 64 and 65.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、従来のドレッング工程は、すべて大の手
によって行われている。このため、全自動化ラインを実
現するために研磨工程を自動化する要求があるか、その
要求への対応か困難であった。
[Problems to be Solved by the Invention] However, all conventional dredging processes are performed manually. For this reason, it has been difficult to determine whether or not there is a demand for automating the polishing process in order to realize a fully automated line, and how to respond to that demand.

トレッング工程では、特殊な動作が要求される。このた
め、自動ロボットを用いたとしても、複数台を必要とす
る。また、自動化設備が大型化し、しかも動作か複雑に
なるという問題点がある。
The training process requires special movements. Therefore, even if automatic robots are used, multiple robots are required. Another problem is that the automated equipment becomes larger and its operation becomes more complicated.

本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、ドレッ
シング−L程を自動化するために用いられるドレッシン
グ用基板を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of this point, and an object of the present invention is to provide a dressing substrate used for automating the dressing process.

[課題を解決するための手段] 本発明は、研磨盤と、この研磨盤の研磨面をドレッシン
グするドレッシング手段とを備えた自動研磨装置の該ド
レッシング手段に用いられるドレッシング用基板であっ
て、研磨盤の研磨面に接触してドレッシング効果を発揮
するドレッシング部を有するドレッシング部と、ドレッ
シング手段に保持される被保持部とを具備することを特
徴とするドレッシング用基板を提供する。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a dressing substrate for use in the dressing means of an automatic polishing apparatus comprising a polishing disc and a dressing means for dressing the polishing surface of the polishing disc, A dressing substrate is provided, comprising a dressing part having a dressing part that exhibits a dressing effect by contacting a polished surface of a disk, and a held part held by dressing means.

ここで、ドレッシング基板の旧材としては、ガラス、金
属、セラミックス、ポリプロピレン、ポリ塩化ビニル等
の樹脂等が用いられる。
Here, as the old material of the dressing substrate, glass, metal, ceramics, resin such as polypropylene, polyvinyl chloride, etc. are used.

ドレッシング部は、研磨盤の研磨表面に詰まった研磨滓
、研磨剤等を効率良く除去できるト1ノッシンク面を有
していればよい。例えば、溝を平行または同心円状に複
数個設けることにより形成される凹凸面等が挙げられる
。この場合、溝のピッチは、2mm〜20mmであるこ
とか好ましい。これは、溝のピッチか2 mm未満であ
ると除去された研磨滓等が滞留しやすく充分にドレッシ
ング効果が発揮されず、溝のピッチが20m11を超え
ると溝数が減るのでドレッシング時間が長くなるからで
ある。溝の深さは、1 mm〜10 mmであることか
好ましい。これは、溝の深さが1 mm未満であるとパ
ッドか崩形状を追従しトレッシング効果か弱まり、溝の
深さが10mmを超えるとトレッシング基板製造に際し
て板厚を厚くする必要か生じ、ドレッシング基板そのも
ののTfLmか非常に大きくなり自動化設備が大型化す
るからである。また、溝は、充分なドレッシング効果を
発揮すればドレッシング基板の両面に同じ形状で設けて
もよいし、それぞれ異なる形状で設けてもよい。
The dressing part may have a sinking surface that can efficiently remove polishing slag, abrasive, etc. that are clogged on the polishing surface of the polishing disk. For example, an uneven surface formed by providing a plurality of parallel or concentric grooves can be mentioned. In this case, the pitch of the grooves is preferably 2 mm to 20 mm. This is because if the pitch of the grooves is less than 2 mm, the removed polishing slag tends to accumulate and the dressing effect will not be sufficiently exerted, and if the pitch of the grooves exceeds 20 m11, the number of grooves will decrease and the dressing time will become longer. It is from. The depth of the groove is preferably 1 mm to 10 mm. This is because if the groove depth is less than 1 mm, the pad will follow the irregular shape and the tressing effect will be weakened, and if the groove depth exceeds 10 mm, it will be necessary to thicken the board when manufacturing the tracing board. This is because the TfLm of the dressing substrate itself becomes very large and the automation equipment becomes large. Further, the grooves may be provided in the same shape on both sides of the dressing substrate as long as a sufficient dressing effect is exhibited, or may be provided in different shapes on each side.

また、ドレッシング基板表面にブラシを取りイ・jけて
ドレッシング部を構成してもよい。
Alternatively, the dressing portion may be constructed by removing a brush on the surface of the dressing substrate.

把持部は、研磨盤の研磨表面をドレッシングする際にド
レッシング基板を把持する部分である。
The gripping portion is a portion that grips the dressing substrate when dressing the polishing surface of the polishing disk.

把持方法かチャンファ一部におけるチャッキング方式の
場合、把持部は研磨される基板と同一の形状であること
が好ましい。一方、把持方法が吸引方式の場合、把持部
の広さは10mm〜35mmであることか好ましい。こ
れは、把持部の広さが10mm未満であると吸引に大き
な力が必要となり確実な把持が困難となり、把持部の広
さが35mを超えると各基板サイズでの共通使用が不可
能、すなわち吸引部の専用化か必要となり段替え等の作
業か増すからである。
When the gripping method is a chucking method in a part of the chamfer, it is preferable that the gripping portion has the same shape as the substrate to be polished. On the other hand, when the gripping method is a suction method, the width of the gripping portion is preferably 10 mm to 35 mm. This is because if the width of the gripping part is less than 10 mm, a large force is required for suction, making it difficult to securely grip it, and if the width of the gripping part exceeds 35 m, common use for each substrate size is impossible, i.e. This is because it requires specialization of the suction section, which increases the work involved in changing stages.

トレッング基板の把持方式としては、チャフキング、吸
引等が用いられる。
Chuffing, suction, etc. are used as a gripping method for the treading substrate.

[作用] 本発明のドレッシング基板を研磨される基板と同様に研
磨機のキャリアーに設置することにより、研磨処理と同
様な動作で研磨盤のパッドを容易にドレッシングするこ
とができる。
[Function] By placing the dressing substrate of the present invention on the carrier of a polishing machine in the same manner as the substrate to be polished, the pad of the polishing disk can be easily dressed in the same operation as in the polishing process.

このため、研磨盤のパッドのドレッング処理を完全に自
動化することか可能となる。
Therefore, it is possible to completely automate the dredging process of the polishing pad.

[実施例] 以下、本発明の実施例を図面を参照して具体的に説明す
る。
[Example] Hereinafter, an example of the present invention will be specifically described with reference to the drawings.

実施例1 第1図は、本発明にかかるドレッシング基板の一実施例
を示す平面図である。図中10は、8.25インチディ
スク用のドレッシング基板である。このドレッシング基
板1oの寸法は外径210mm、内径100mm、厚さ
3 mmであり、材質はポリプロピレンである。ドレッ
シング基板1゜は、ドレッシング部]2およびドレッシ
ング部]2の内側に設けられたチャッキング部]4で構
成されている。また、ドレッシング部12には、平行に
複数個の溝16が形成されており、凹凸面が構成されて
いる。なお、第2図に示すように、溝]6のピッチP1
は2mm、溝16の深さDlは]、mm、チャッキング
部の幅Wは0.5mmとした。
Embodiment 1 FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of a dressing substrate according to the present invention. 10 in the figure is a dressing board for an 8.25-inch disk. The dressing substrate 1o has an outer diameter of 210 mm, an inner diameter of 100 mm, and a thickness of 3 mm, and is made of polypropylene. The dressing board 1° is composed of a dressing part]2 and a chucking part]4 provided inside the dressing part]2. Further, a plurality of parallel grooves 16 are formed in the dressing portion 12, forming an uneven surface. In addition, as shown in FIG. 2, the pitch P1 of the groove]6
was 2 mm, the depth Dl of the groove 16 was ], mm, and the width W of the chucking portion was 0.5 mm.

また、基板両面のドレッシング部とも同一形状の凹凸面
を形成した。
In addition, uneven surfaces of the same shape were formed in the dressing portions on both sides of the substrate.

次に、本発明のドレッシング基板を自動化ラインにおい
て使用した場合について説明する。
Next, a case where the dressing substrate of the present invention is used in an automated line will be described.

第3図は、自動化ライン内の研磨装置の部分を示した説
明図である。図中30は、研磨装置である。研磨装置3
0は、上定盤(図示せず)、下定盤31、キャリアー3
2、および中心軸33を具備している。上定盤およびF
定盤3]には、それぞれ被加工物に接触する而にパッド
が設けられている。キャリアー32は、下定盤31の外
周周囲に形成された内歯歯車および中心軸33の外周面
に形成された外歯歯車と噛合されており、自転しながら
公転する。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing a part of the polishing device in the automated line. 30 in the figure is a polishing device. Polishing device 3
0 is an upper surface plate (not shown), a lower surface plate 31, and a carrier 3
2, and a central axis 33. Upper surface plate and F
Each surface plate 3 is provided with a pad that contacts the workpiece. The carrier 32 is meshed with an internal gear formed around the outer periphery of the lower surface plate 31 and an external gear formed on the outer periphery of the central shaft 33, and revolves while rotating.

一方、研磨装置30の側面には、自動ロボット34か設
置されている。自動ロボット34のアーム35は、可動
して図中の破線の軌跡を描くようになっている。アーム
35の軌跡で囲まれた範囲内には、トレッシング基板台
36か設置されており、自動ロボット34によりドレッ
シング基板37の収納・取出しが可能になっている。ま
た、自動ロボット34のアーム35の軌跡の範囲内にメ
ツキ上り基板用カセット38、研磨」ユリ21(板片カ
セット39を移動させることができるように、メツキ上
り基板収納カセット供給コンベア40、研磨上り基板用
カセット供給コンベア43か載置されている。また、ア
ーム35の軌跡の範囲内から空のカセット38.3つを
それぞれ移動させることかできるように、メツキ」ユリ
基板用カセット排出コンベア42、研磨上り基板収納カ
セット排出コンベア41が載置されている。
On the other hand, an automatic robot 34 is installed on the side of the polishing device 30. The arm 35 of the automatic robot 34 is movable to draw a trajectory indicated by a broken line in the figure. A dressing substrate stand 36 is installed within the range surrounded by the locus of the arm 35, and the dressing substrate 37 can be stored and taken out by the automatic robot 34. Also, within the range of the locus of the arm 35 of the automatic robot 34, a plating board storage cassette supply conveyor 40, a polishing board storage cassette supply conveyor 40, a polishing board cassette 38, a polishing board cassette 39, and a polishing board cassette 39 are provided. A cassette supply conveyor 43 for substrates is also mounted.In addition, a cassette discharge conveyor 42 for ``Metsuki'' substrates is mounted so that the three empty cassettes 38. can be moved from within the locus of the arm 35. A polished substrate storage cassette discharge conveyor 41 is placed.

このような構成を有する装置を用いて基板の研磨処理お
よび定盤のパッドのドレッシング処理を行う場合につい
て説明する。
A case will be described in which a substrate polishing process and a surface plate pad dressing process are performed using an apparatus having such a configuration.

まず、自動ロボット34が研磨モードにしたがって、メ
ツキ上り基板収納カセット供給コンベア40のメツキ上
り基板用カセソ)・38からメツキ」二り基板を取出し
、研磨装置30の下定盤3]」二のキャリアー32に設
置する。自動ロボット34は、この動作を研磨処理1ハ
ツチ分(本実施例では15回)繰り返す。空となったカ
セット38は、メツキ上り基板用カセット排出コンベア
42により移される。次いで、基板の両表面がパッドと
接触するように上定盤をキャリアー32上に設置する。
First, in accordance with the polishing mode, the automatic robot 34 takes out the plating substrate from the plating substrate cassette 38 of the plating substrate storage cassette supply conveyor 40, and transfers it to the lower surface plate 3 of the polishing device 30. to be installed. The automatic robot 34 repeats this operation for one polishing process (15 times in this embodiment). The empty cassette 38 is transferred by a cassette discharge conveyor 42 for plated substrates. Next, the upper surface plate is placed on the carrier 32 so that both surfaces of the substrate are in contact with the pads.

その後、研磨装置30の動作により、設置された基板は
研磨される。研磨終了後、自動ロボット34は、キャリ
アー32に設置された研磨上りの基板を研磨上り基板用
収納カセット排出コンペア4]の研磨上り基板用カセッ
ト39に運ぶ。自動ロボット34は、この動作を研磨処
理]バッチ分繰り返す。
Thereafter, the installed substrate is polished by the operation of the polishing device 30. After polishing is completed, the automatic robot 34 carries the polished substrate placed on the carrier 32 to the polished substrate cassette 39 of the polished substrate storage cassette discharge compare 4]. The automatic robot 34 repeats this operation for each polishing batch.

これらの一連の研磨処理を数回繰り返す。These series of polishing treatments are repeated several times.

次に、自動ロボット34はドレッシングモードにしたが
って、キャリアー32に設置された研磨上りの基板を研
磨上り基板用収納カセット排出コンベア41の研磨上り
基板用カセット3つに運んだ後、トレッシング基板台3
6からドレッシング基板37を下定盤3]上のキャリア
ー32の所定の位置に設置する。自動ロボット34は、
この動作を研磨処理1バッチ分繰り返す。次いで、」二
定盤のパッドかドレッシング基板37と接触するように
上定盤をキャリアー32上に設置する。その後、句(1
会装置30の動作により、ドレッシング処理が行われ、
パッドかドレッシングされる。
Next, the automatic robot 34 carries the polished substrate placed on the carrier 32 to the three polished substrate cassettes of the polished substrate storage cassette discharge conveyor 41 according to the dressing mode, and then transfers the polished substrate cassette to the dressing substrate table 3.
6, the dressing substrate 37 is installed at a predetermined position on the carrier 32 on the lower surface plate 3]. The automatic robot 34 is
This operation is repeated for one batch of polishing processing. Next, the upper surface plate is placed on the carrier 32 so that the pads of the second surface plate are in contact with the dressing substrate 37. After that, the phrase (1
The dressing process is performed by the operation of the meeting device 30,
Padded or dressed.

ドレッシング作業終了後、自動ロボット34は、キャリ
アー32に設置されたドレッシング基板37をトレッン
グ基板台36に運ぶ。自動ロボット34は、この動作を
研磨処理1バッチ分繰り返す。
After finishing the dressing work, the automatic robot 34 carries the dressing substrate 37 installed on the carrier 32 to the treading substrate stand 36. The automatic robot 34 repeats this operation for one batch of polishing processing.

その後、自動ロボット34が研磨モードにしたかって、
メツキ上り基板収納カセット供給コンベア40のメツキ
上り基板用カセット38からメツキ上り基板を取出し、
研磨装置30の下定盤3]上のキャリアー32に設置す
る。自動ロボット34は、この動作を研磨処理1ハツチ
分繰り返す。
After that, the automatic robot 34 wants to go into polishing mode.
Take out the plating board from the plating board cassette 38 of the plating board storage cassette supply conveyor 40,
It is installed on the carrier 32 on the lower surface plate 3 of the polishing device 30. The automatic robot 34 repeats this operation for one hatch of the polishing process.

このようにして、再び研磨処理が行われる。In this way, the polishing process is performed again.

以上のような作業を繰り返すことにより、研磨装置30
は研磨処理およびドレッシング処理を完全に自動で行う
ことができる。
By repeating the above operations, the polishing device 30
can perform polishing and dressing processes completely automatically.

実施例2 第4図は、本発明にかかるドレッシング基板の他の実施
例を示す平面図である。図中50は、3.5インチディ
スク用のドレッシング基板である。このトレッシング基
板50の寸法は外径95mm、厚さ3 mmであり、利
質は強化ガラスである。
Embodiment 2 FIG. 4 is a plan view showing another embodiment of the dressing substrate according to the present invention. In the figure, 50 is a dressing board for a 3.5-inch disk. This tracing substrate 50 has an outer diameter of 95 mm and a thickness of 3 mm, and is made of tempered glass.

ドレッシング基板50は、ドレッシング部52およびド
レッシング部52の内側に設けられた3つの吸着部54
て構成されている。3つの吸着部54は、各々の吸着部
54との距離が同じであり、しかもトレッング基板50
の中心からの距離がそれぞれ同じとなるように形成した
。また、トレッシング部52には、平行に複数個の溝5
6が形成されており、凹凸面が構成されている。なお、
第5図に示すように、溝56のピッチP2は2mm。
The dressing board 50 includes a dressing part 52 and three suction parts 54 provided inside the dressing part 52.
It is composed of The three suction parts 54 have the same distance from each suction part 54, and the distance from each of the suction parts 54 is the same, and the distance from the training substrate 50 is the same.
They were formed so that the distances from the center were the same. Further, the tresting portion 52 has a plurality of grooves 5 in parallel.
6 is formed, and an uneven surface is formed. In addition,
As shown in FIG. 5, the pitch P2 of the grooves 56 is 2 mm.

溝56の深さD2は1mm、吸着部の直径dは15mm
とした。また、基板両面のドレッシング部とも同一形状
の凹凸面を形成した。
The depth D2 of the groove 56 is 1 mm, and the diameter d of the suction part is 15 mm.
And so. In addition, uneven surfaces of the same shape were formed in the dressing portions on both sides of the substrate.

自動ロボットかドレッシング基板50の吸着部54を吸
着することによってドレッシング基板50を把持するこ
と以外は、実施例]と同様にして基板の研磨処理および
定盤のパッドのドレッシング処理を行うことにより、研
磨装置30は研磨処理およびドレッシング処理を完全に
自動で行うことかできる。
Polishing is performed by performing the polishing process of the substrate and the dressing process of the pad of the surface plate in the same manner as in Example] except that the dressing substrate 50 is gripped by an automatic robot or the suction part 54 of the dressing board 50. The apparatus 30 is capable of fully automatic polishing and dressing operations.

[発明の効果] 以上説明した如く、本発明のドレッシング基板は、トレ
ッシング工程を自動化するために用いられるものであり
、これによって、複数台の自動ロボッ!・を用いる必要
がなくなり設備の小型化が可能となる。また、ドレッシ
ング基板を用いることにより、ドレッシング作業が通常
の研磨作業と同様の操作となるので、自動ロボットの動
作が部品代される。
[Effects of the Invention] As explained above, the dressing board of the present invention is used to automate the dressing process, and thereby, the dressing board of the present invention can be used to automate the dressing process of a plurality of automatic robots.・There is no need to use ・It is possible to downsize the equipment. Furthermore, by using the dressing substrate, the dressing operation is similar to a normal polishing operation, so that the operation of the automatic robot is replaced by parts.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の一実施例を示す平面図、第2図は第1
図のA−A−に沿う断面拡大図、第3図は本発明のドレ
ッシング基板を用いた自動化ラインの一部を示す説明図
、第4図は本発明の他の実施例を示す平面図、第5図は
第4図のB−B−に沿う断面拡大図、第6図は研磨装置
の一部断面図である。 1050・・・ドレッシング基板、12.52・・ドレ
ッシング部、14・・・チャッキング部、1656・・
・溝、30・・・研磨装置、31・・・下定盤、32゜
60・・・キャリアー 33・・・中心軸、34・・・
自動ロボット、35・・・アーム、36・・・ドレッシ
ング基板台、37・・ドレッシング基板、38・・・メ
ツキ上り基板用カセット、3つ・・・研磨上り基板用カ
セット、40・・メツキ上り基板収納カセット供給コン
ベア、41・・・研磨上り基板収納カセット排出コンベ
ア、42・ メツキ上り基板用カセット排出コンベア、
43・・・研磨上り基板用力セラi・供給コンベア、5
4・・・吸着部、61・・被加工物、62・・・上定盤
、63・・・下定盤、64.65・・・バット。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦
Fig. 1 is a plan view showing one embodiment of the present invention, and Fig. 2 is a plan view showing an embodiment of the present invention.
3 is an explanatory diagram showing part of an automated line using the dressing substrate of the present invention; FIG. 4 is a plan view showing another embodiment of the present invention; FIG. 5 is an enlarged cross-sectional view taken along line BB- in FIG. 4, and FIG. 6 is a partial cross-sectional view of the polishing apparatus. 1050... Dressing board, 12.52... Dressing part, 14... Chucking part, 1656...
・Groove, 30... Polishing device, 31... Lower surface plate, 32°60... Carrier 33... Center axis, 34...
Automatic robot, 35...Arm, 36...Dressing substrate stand, 37...Dressing substrate, 38...Cassette for plated substrate, 3...Cassette for polished substrate, 40...Plated substrate Storage cassette supply conveyor, 41... Polished substrate storage cassette discharge conveyor, 42. Cassette discharge conveyor for polished substrates,
43...Power Cera i supply conveyor for polished substrates, 5
4... Adsorption part, 61... Workpiece, 62... Upper surface plate, 63... Lower surface plate, 64. 65... Bat. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 研磨盤と、この研磨盤の研磨面をドレッシングするドレ
ッシング手段とを備えた自動研磨装置の該ドレッシング
手段に用いられるドレッシング用基板であって、研磨盤
の研磨面に接触してドレッシング効果を発揮するドレッ
シング面を有するドレッシング部と、ドレッシング手段
に保持される被保持部とを具備することを特徴とするド
レッシング用基板。
A dressing substrate used in the dressing means of an automatic polishing apparatus comprising a polishing disc and a dressing means for dressing the polishing surface of the polishing disc, the dressing substrate being in contact with the polishing surface of the polishing disc to exert a dressing effect. 1. A dressing substrate comprising a dressing part having a dressing surface and a held part held by dressing means.
JP2203837A 1990-08-02 1990-08-02 Board for dressing Pending JPH0493174A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2203837A JPH0493174A (en) 1990-08-02 1990-08-02 Board for dressing

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100456649B1 (en) * 1995-01-30 2005-02-02 모토로라 인코포레이티드 A preconditioner for a polishing pad and method for using the same
JP2008137153A (en) * 2008-01-28 2008-06-19 Sumitomo Metal Fine Technology Co Ltd Double-side grinding device, and brush and dresser used therefore

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