JP2556605B2 - Polishing equipment - Google Patents

Polishing equipment

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JP2556605B2
JP2556605B2 JP2127790A JP12779090A JP2556605B2 JP 2556605 B2 JP2556605 B2 JP 2556605B2 JP 2127790 A JP2127790 A JP 2127790A JP 12779090 A JP12779090 A JP 12779090A JP 2556605 B2 JP2556605 B2 JP 2556605B2
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凉 橋本
通孝 橋本
功 手塚
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  • Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は、例えば磁気ディスク用アルミニウム基板
等のワークに研磨加工を施す研磨装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a polishing apparatus for polishing a work such as an aluminum substrate for a magnetic disk.

従来の技術及び課題 従来、例えば磁気ディスク用アルミニウム基板の研磨
を行う研磨加工機として、第3図に示されるような加工
機(51)が用いられている。
Conventional Technology and Problems Conventionally, a processing machine (51) as shown in FIG. 3 has been used as a polishing processing machine for polishing an aluminum substrate for a magnetic disk, for example.

同図の研磨加工機(51)は、回転駆動可能に保持され
かつ上面にドーナツ盤状に砥石(52)が取着された下部
定盤(53)と、該下部定盤(53)の上方位置に該定盤
(53)と対向同軸状に配置されると共に回転駆動及び昇
降作動可能に保持されかつ下面に同じくドーナツ盤状の
砥石(54)が取着された上部定盤(55)と、各砥石(5
2)(54)間において砥石の軸芯位置に配置された太陽
歯車(57)と、該太陽歯車(57)の径方向外方位置に同
心状に配置された内歯歯車(59)と、該内歯歯車(59)
及び太陽歯車(57)の両歯車に噛合され下定盤(53)の
砥石(52)上に載置された状態で両歯車(57)(59)間
に配置された外歯歯車状のワークキャリアー(56)とか
らなる。なお、このワークキャリアー(56)は、磁気デ
ィスク用基板(A)の外周形状に沿う円形の保持孔(6
0)を偏心状態に有し、該保持孔(60)内に磁気ディス
ク用基板(A)が配置された状態で該基板の上下両面が
キャリア(56)の保持孔(60)から外方に突出した状態
となるようにその板厚が基板(A)よりも薄く形成され
ている。
The polishing machine (51) shown in the figure has a lower surface plate (53), which is rotatably held and has a donut disk-shaped grindstone (52) attached to the upper surface, and an upper surface of the lower surface plate (53). An upper surface plate (55), which is arranged coaxially with the surface plate (53) so as to be opposed to the surface plate, is rotatably driven and vertically held, and has a donut disk-shaped grindstone (54) attached to the lower surface thereof. , Each whetstone (5
2) A sun gear (57) arranged at the axial center position of the grindstone between (54), and an internal gear (59) arranged concentrically at a radially outer position of the sun gear (57), The internal gear (59)
And an external gear-like work carrier arranged between both gears (57) (59) in a state of being meshed with both gears of the sun gear (57) and placed on the grindstone (52) of the lower turn table (53). (56) consists of The work carrier (56) has a circular holding hole (6) along the outer peripheral shape of the magnetic disk substrate (A).
0) in an eccentric state, and with the magnetic disk substrate (A) arranged in the holding hole (60), the upper and lower surfaces of the substrate are outward from the holding hole (60) of the carrier (56). The plate thickness is formed thinner than the substrate (A) so as to be in a protruding state.

そして、この研磨加工機(51)では、上部定盤(55)
が上方待機位置に位置された状態で磁気ディスク用基板
(A)がワークキャリアー(56)の保持孔(60)内に配
置され、上部定盤(55)が下降作動されて磁気ディスク
用基板(A)の両面が上下の砥石(52)(54)で挾まれ
る。そして、加工状態において、太陽歯車(57)が回転
されることによりワークキャリアー(56)が自転されな
がら太陽歯車(57)の回りで公転され、更に上下の定盤
(53)(55)も回転されて、磁気ディスク用基板(A)
の両面の研磨加工がなされる。研磨後は、上部定盤(5
5)が上昇され、キャリアー(56)に保持されている基
板(A)が取り出され、また新たな基板がキャリアー
(56)に保持せしめられて研磨が再開される。
And in this polishing machine (51), the upper surface plate (55)
Is placed in the upper standby position, the magnetic disk substrate (A) is placed in the holding hole (60) of the work carrier (56), and the upper surface plate (55) is lowered to move the magnetic disk substrate ( Both sides of A) are sandwiched by the upper and lower grindstones (52) (54). Then, in the machining state, the sun gear (57) is rotated to revolve the work carrier (56) around the sun gear (57), and the upper and lower surface plates (53) (55) are also rotated. The magnetic disk substrate (A)
Both sides are polished. After polishing, the upper surface plate (5
5) is raised, the substrate (A) held by the carrier (56) is taken out, a new substrate is held by the carrier (56), and polishing is restarted.

ところで、従来、上記加工機を用いた磁気ディスク用
基板の研磨は、作業者が、ラックから基板(A)を取り
出してこれをワークキャリアー(56)の各保持孔(60)
に配置し、また、研磨完了後にキャリアー(56)の基板
(A)を取り出すという作業を繰り返しながら実施され
ていた。
By the way, conventionally, in polishing a magnetic disk substrate using the above-mentioned processing machine, an operator takes out the substrate (A) from the rack and puts it on each holding hole (60) of the work carrier (56).
And the substrate (A) of the carrier (56) is taken out after the polishing is completed.

しかしながら、上記のような人手による繰返し作業
は、作業者に大きな負担を与え、また、装置のワーク処
理効率の向上に限界を生じさせていた。
However, the manual repetitive work as described above imposes a heavy burden on the worker and limits the improvement of the work processing efficiency of the apparatus.

そのため、研磨加工工程の自動化を図り、基板を研磨
加工機(51)内に自動的にローデングすると共に、研磨
完了後にはこれを自動的にアンローデングするという自
動化設備の開発が要請されていた。
Therefore, there has been a demand for the development of automated equipment for automating the polishing process, automatically loading the substrate into the polishing machine (51), and automatically unloading the substrate after the polishing is completed.

そこで、本発明者らは、そのような自動化設備の一態
様として、上記のような研磨加工機(51)に隣接して、
未加工基板を載置状態で一時的に待機させる未加工ワー
ク待機部と、研磨加工済の基板を載置状態一時的に待機
させる加工済ワーク待機部とをそれぞれ配置し、かつ、
未加工ワーク待機部に載置状態にセットした未加工基板
を研磨加工機(51)に、また、研磨加工機(51)で研磨
加工を終えた基板を加工済ワーク待機部に、基板をチャ
ックして浮上状態で移送して載置するワーク移送装置を
備えた研磨装置の実用化を試みている。
Therefore, the present inventors, as one aspect of such automated equipment, adjacent to the polishing machine (51) as described above,
An unprocessed work standby part for temporarily waiting an unprocessed substrate in a mounted state, and a processed work standby part for temporarily holding a polished substrate in a mounted state, respectively, and
The substrate is chucked with the unprocessed substrate set on the unprocessed work standby part in the polishing machine (51), and the substrate polished by the polishing machine (51) in the processed work standby part. Then, an attempt is made to put into practical use a polishing apparatus equipped with a work transfer device that transfers and places the work in a floating state.

しかし、かかる研磨装置の実用化を図る上において、
解決すべき課題の一つに、研磨加工機(51)で研磨を終
えた基板を、いかに該基板に傷をつけることなく加工済
ワーク待機部に上記のような移送装置にて載置させるか
という問題がある。
However, in order to put this polishing device into practical use,
One of the problems to be solved is how to place a substrate, which has been polished by the polishing machine (51), on the processed workpiece standby part by the transfer device as described above without damaging the substrate. There is a problem.

即ち、ワーク移送装置にてチャックされ浮上状態にさ
れている基板を加工済ワーク待機部に載置する際に、該
基板が待機部の受けの底面に落下したり、押し付けられ
たりして基板に傷をつけてしまうことが起こりうる。こ
のことは、特に、ワークが上記の磁気ディスク用基板の
ような高い表面性状の要求されるものである場合には深
刻な問題となる。
That is, when a substrate that is chucked and floated by the work transfer device is placed on the processed work standby portion, the substrate is dropped onto the bottom surface of the receiving portion of the standby portion or is pressed against the substrate. It can cause scratches. This becomes a serious problem particularly when the work is one that requires high surface properties such as the above-mentioned magnetic disk substrate.

また一方、加工済ワーク待機部で待機させている間
に、研磨加工中等において付着した研磨液、切粉、砥粒
等の汚れが乾燥により基板にこびりついて、研磨後にお
いて行われる洗浄工程での基板の洗浄に困難を生じるこ
ともある。
On the other hand, while waiting in the processed work standby part, dirt such as polishing liquid, cutting chips, and abrasive particles adhered during the polishing process sticks to the substrate due to drying, and in the cleaning process performed after polishing. It may cause difficulty in cleaning the substrate.

この発明は、かかる課題を解決し、研磨加工部にて研
磨加工された加工済ワークを移送装置にてチャックして
浮上状態で加工済ワーク待機部に移送し、該待機部に該
加工済ワークを載置して一時的に待機させるようになさ
れた研磨装置において、加工済ワークを傷をつけるとな
く加工済ワーク待機部に上記のような移送装置にて載置
することができ、しかも、該待機部での待機中の乾燥に
よりワークに各種汚れがこびりつくのも防ぐことができ
る研磨装置を提供することを目的とする。
The present invention solves the above problem and chucks a machined workpiece polished by a polishing section by a transfer device and transfers the machined workpiece to a machined workpiece standby section in a floating state, and the machined workpiece to the standby section. In a polishing device configured to place and temporarily stand by, it is possible to place the processed work in the processed work standby portion without damaging the processed work with the transfer device as described above, and An object of the present invention is to provide a polishing apparatus that can prevent various kinds of dirt from sticking to a work due to drying during standby in the standby unit.

課題を解決するための手段 上記目的において、この発明は、ワークの研磨加工を
行う研磨加工部に隣接して、加工済ワークを載置状態で
一時的に待機させる加工済ワーク待機部が配置されると
共に、前記研磨加工部で研磨加工されたワークをチャッ
クして浮上状態で前記加工済ワーク待機部に移送して載
置するワーク移送装置が具備された研磨装置であって、 前記加工済ワーク待機部が、水平状態に配置された浅
底状のトレーと、該トレー内に設けられた所定高さの輪
状のワーク受けと、該ワーク受けを除くトレー内にクッ
ション用液体を供給する液体供給源とを備え、 該液体供給源からトレー内への液体の供給により、該
液体がトレー内からワーク受け内に供給され、該ワーク
受け内がクッション用液体にて満たされるように、前記
ワーク受けの上縁部高さ位置が、前記浅底状トレーの上
縁部高さ位置よりも低く設計されてなることを特徴とす
る研磨装置を要旨とする。
Means for Solving the Problems In the above object, according to the present invention, a processed work standby unit for temporarily holding a processed work in a mounted state is disposed adjacent to a polishing processing unit that performs a polishing process on a work. In addition, the polishing device is provided with a work transfer device that chucks the workpiece polished by the polishing portion and transfers it to the processed workpiece standby portion in a floating state and places the workpiece on the workpiece. A liquid supply for supplying a cushioning liquid to the tray excluding the work receiver, and a tray having a shallow bottom in which the standby portion is horizontally arranged, a ring-shaped work receiver having a predetermined height provided in the tray And a source for supplying the liquid from the liquid supply source into the tray, the liquid is supplied from the tray into the work receiver, and the work receiver is filled with the cushioning liquid. The upper edge height of the receiving is, the gist of the polishing apparatus characterized by comprising been designed lower than the upper edge height of the shallow form tray.

作用 上記構成では、研磨加工部にて研磨加工された加工済
ワークを載置状態で一時的に待機させる加工済ワーク待
機部のワーク受け内をクッション用液体で満たした状態
において、研磨加工部の加工済ワークを移送装置にてチ
ャックして浮上状態で移送し該ワークを加工済ワーク待
機部のワーク受け内に載置する。この載置の過程で、該
加工済ワークは、ワーク受け内のクッション用液体によ
ってクッション作用を受けることとなり、このクッショ
ン作用によって、該ワークは傷をつけられることなくワ
ーク受け内に載置される。
Function In the above configuration, in the state where the inside of the workpiece receiver of the processed workpiece standby portion that temporarily holds the processed workpiece polished by the polishing portion in the mounted state is filled with the cushion liquid, The processed work is chucked by the transfer device and transferred in a floating state, and the work is placed in the work receiver of the processed work standby unit. In the process of this placement, the processed work is subjected to a cushioning action by the cushion liquid in the work receiving part, and the cushioning action allows the work to be placed in the work receiving part without being damaged. .

しかも、ワークは加工済ワーク待機部での待機中、受
け内の液体と接触することになり、従って、液体と接触
している部分は乾燥することがなく、研磨加工中等にお
いて付着した汚れがワークにこびりつくというようなこ
とも起りにくい。
In addition, the workpiece comes into contact with the liquid in the receiver during standby in the processed workpiece standby portion, so that the portion in contact with the liquid does not dry, and dirt that has adhered during polishing etc. It is hard to get stuck.

加えて、加工済ワーク待機部は、水平状態に配置され
た浅底状のトレーと、該トレー内に設けられたワーク受
けと、該ワーク受けを除くトレー内にクッション用液体
を供給する液体供給源とを備え、該液体供給源からトレ
ー内への液体の供給により、ワーク受け内がクッション
用液体にて満たされるように、ワーク受けの上縁部高さ
位置が、浅底状トレーの上縁部高さ位置よりも低く設計
されていることにより、ワーク受けへのクッション用液
体の供給がワーク受けへの加工済ワークの載置動作を妨
げることなく遂行されると共に、ワーク受けへの加工済
ワークの下降載置動作もワーク受けへのクッション用液
体の供給を妨げることなく遂行される。
In addition, the processed workpiece standby unit is a liquid supply for supplying a cushioning liquid to a tray having a shallow bottom arranged in a horizontal state, a workpiece receiver provided in the tray, and a tray excluding the workpiece receiver. And a liquid source for supplying the liquid into the tray so that the inside of the work receiver is filled with the cushioning liquid so that the upper edge position of the work receiver is above the shallow tray. By being designed lower than the edge height position, the supply of the cushioning liquid to the work receiver can be performed without disturbing the placement operation of the processed work on the work receiver and the work receiver can be processed. The lowering and placing operation of the finished work is also performed without disturbing the supply of the cushioning liquid to the work receiver.

しかも、浅底状のトレーに液体を供給するものである
ことにより、わずかな量のクッション用液体でワーク受
けが液体にて満たされる。
Moreover, since the liquid is supplied to the shallow-bottom tray, the work receiver is filled with the liquid for a small amount of the cushion liquid.

実施例 以下、この発明を円盤状の磁気ディスク用アルミニウ
ム基板の研磨加工を自動的に行う研磨装置に適用する場
合の実施例につき、図面に基づいて説明する。
Embodiment An embodiment in which the present invention is applied to a polishing apparatus for automatically polishing a disk-shaped aluminum substrate for a magnetic disk will be described below with reference to the drawings.

第1図に示される研磨装置において、(1)は研磨加
工部、(2)は未加工ワーク待機部、(3)は加工済ワ
ーク待機部、(4)は未加工ワーク一括移送装置、
(5)は加工済ワーク一括移送装置である。また、
(6)は未加工ワーク収容ラック、(7)は洗浄・乾燥
装置、(8)は未加工ワーク個別移送装置、(9)は加
工済ワーク個別移送装置である。
In the polishing apparatus shown in FIG. 1, (1) is a polishing processing section, (2) is an unprocessed workpiece standby section, (3) is a processed workpiece standby section, and (4) is an unprocessed workpiece batch transfer apparatus.
(5) is a machined work batch transfer device. Also,
(6) is an unprocessed work storage rack, (7) is a cleaning / drying device, (8) is an unprocessed work individual transfer device, and (9) is a processed work individual transfer device.

研磨加工部(1)は、上下の定盤(11)(12)と、太
陽歯車(13)、内歯歯車(14)、ワークキャリアー(1
5)で構成された研磨加工機によるもので、太陽歯車(1
3)の回転によりキャリアー(15)が自転公転され、更
に上下の定盤(11)(12)も回転駆動されて、基板
(A)の研磨を行う。
The polishing part (1) includes upper and lower surface plates (11) and (12), a sun gear (13), an internal gear (14), and a work carrier (1).
5) With a grinding machine composed of a sun gear (1
The carrier (15) is rotated and revolved by the rotation of (3), and the upper and lower surface plates (11, 12) are also rotationally driven to polish the substrate (A).

この研磨加工部(1)において、下部定盤(11)は、
その上部に所定厚さのドーナル盤状の砥石(17)が取着
されたもので、図示しない駆動装置により自軸回りでの
回転及び上下方向への移動を行いうるものとなされてい
る。
In this polishing part (1), the lower surface plate (11) is
A grindstone (17) in the shape of a donal disc having a predetermined thickness is attached to the upper portion of the grindstone, and can be rotated about its own axis and moved in the vertical direction by a driving device (not shown).

上部定盤(12)は、下部定盤(11)の上方位置に同軸
状に対向配置され、その下部に同じくドーナツ盤状の砥
石(18)が前記砥石(17)に対向するように取着された
ものである。そして、この上部定盤(12)も、図示しな
い駆動装置により、自軸回りでの回転及び上下方向の移
動を行いうるものとなされている。
The upper surface plate (12) is coaxially disposed above the lower surface plate (11), and a donut disk-shaped grindstone (18) is attached to the lower part of the upper surface plate (12) so as to face the grindstone (17). It was done. The upper surface plate (12) can also rotate about its own axis and move in the vertical direction by a driving device (not shown).

太陽歯車(13)は、上下両定盤(11)(12)間におい
て砥石(17)(18)の軸芯位置に配置されており、図示
しない駆動装置により自軸回りで回転されるものとなさ
れている。
The sun gear (13) is arranged at the axial center position of the grindstones (17) and (18) between the upper and lower surface plates (11) and (12), and is rotated around its own axis by a drive device (not shown). Has been done.

内歯歯車(14)は、太陽歯車(13)の径方向外方位置
に太陽歯車(13)とのワークキャリアー(15)は、薄板
状外歯歯車によるもので、上記太陽歯車(13)と内歯歯
車(14)との間のドーナツ状のスペース内に1個ないし
複数個配置され、太陽、内歯の両歯車(13)(14)に噛
合されている。また、このワークキャリアー(15)に
は、その中心位置から偏心した位置に、磁気ディスク用
基板(A)の外周形状に沿う円形の保持孔(19)が1個
ないし複数個設けられている。なお、このワークキャリ
アー(15)の厚さは、磁気ディスク用基板(A)の厚さ
よりも薄く形成され、前記保持孔(19)内に磁気ディス
ク用基板(A)を配置した状態でその上下の面が保持孔
(19)の外方に突出しうるものとなされている。
The internal gear (14) and the sun gear (13) at the radially outer position of the sun gear (13) and the work carrier (15) are thin plate-shaped external gears. One or a plurality of them are arranged in a donut-shaped space between the internal gear (14) and meshed with both sun and internal gears (13) (14). Further, the work carrier (15) is provided with one or a plurality of circular holding holes (19) along the outer peripheral shape of the magnetic disk substrate (A) at a position eccentric from the center position thereof. The work carrier (15) has a thickness smaller than that of the magnetic disk substrate (A), and the upper and lower sides of the work carrier (15) with the magnetic disk substrate (A) arranged in the holding hole (19). The surface of is capable of protruding to the outside of the holding hole (19).

ここに、上記太陽歯車(13)、内歯歯車(14)及びワ
ークキャリアー(15)相互間の歯数比は、1:3:1に設定
されており、太陽歯車(13)が4の整数倍数回回転され
ると、ワークキャリアー(15)が公転開始時に位置して
いた位置に復帰し、かつキャリアー(15)のワーク保持
孔(19)も自転開始時に位置していた位置に復帰するよ
うにされている。
The ratio of the number of teeth among the sun gear (13), the internal gear (14) and the work carrier (15) is set to 1: 3: 1, and the sun gear (13) is an integer of 4. When rotated multiple times, the work carrier (15) returns to the position it was in when the revolution started, and the work holding hole (19) of the carrier (15) also returns to the position it had when starting rotation. Has been

未加工ワーク待機部(2)及び加工済ワーク待機部
(3)は、研磨加工部(1)の両サイドに配置されてい
る。
The unprocessed work standby part (2) and the processed work standby part (3) are arranged on both sides of the polishing process part (1).

これらの待機部(2)(3)は、テーブル(21)(2
2)によるもので、未加工ワーク待機部(2)のテーブ
ル(21)の上面には、基板の外周形状に沿う所定高さの
輪状のワーク受け(23)が設けられている。
These standby units (2) and (3) are attached to the tables (21) and (2).
2), a ring-shaped work receiver (23) having a predetermined height along the outer peripheral shape of the substrate is provided on the upper surface of the table (21) of the unprocessed work standby portion (2).

そして、加工済ワーク待機部(3)側のテーブル(2
2)の上面には浅底状のトレー(28)が配置されると共
に、該トレー(28)内に前記と同様の輪状のワーク受け
(24)が配置され、かつ該ワーク受け(24)以外の位置
においてトレー(28)の上方位置には、液体供給源とし
ての水道管(29)の出口部が配設されている。なお、ワ
ーク受け(24)は、第2図に示されるように、その高さ
がトレー(28)の高さよりも相対的に低くされ、トレー
(28)内に水道管(29)の水が供給されることによって
水が満たされた状態にされる。また、このワーク受け
(24)は、基板(A)をその中に配置した状態で該基板
(A)が水面下に没することができるような深さを有す
るものに形成されているのが好ましい。
Then, the table (2
A shallow tray (28) is arranged on the upper surface of (2), and a ring-shaped work receiver (24) similar to the above is arranged in the tray (28), and other than the work receiver (24). In the above position, the outlet of the water pipe (29) as a liquid supply source is arranged above the tray (28). As shown in FIG. 2, the work receiver (24) has a height relatively lower than that of the tray (28), and the water in the water pipe (29) is placed in the tray (28). By being supplied, the water is filled. Further, the work receiver (24) is formed to have a depth such that the substrate (A) can be submerged below the water surface with the substrate (A) arranged therein. preferable.

上記の両待機部(2)(3)における各ワーク受け部
(23)(24)は、研磨加工部(1)の太陽歯車(13)が
停止した状態におけるキャリアー(15)の保持孔(19)
の位置に対応して配置されている。
The work receiving portions (23) and (24) of the two standby portions (2) and (3) are holding holes (19) of the carrier (15) when the sun gear (13) of the polishing portion (1) is stopped. )
It is arranged corresponding to the position of.

未加工ワーク一括移送装置(4)は、研磨加工部
(1)、ワーク待機部(2)(3)の背後にこれらと平
行状に配設されたガイドレール(25)に案内されて未加
工ワーク待機用テーブル(21)の上方位置と研磨加工部
(1)の上下の定盤(11)(12)間の位置との間で往復
作動されるものとなされている。また、加工済ワーク一
括移送装置(5)は同じく背後のガイドレール(25)に
案内されて研磨加工部(1)の上下の定盤(11)(12)
間の位置と加工済ワーク待機用テーブル(22)の上方位
置との間で往復作動されるものとなされている。そし
て、両移送装置(4)(5)のそれぞれには、待機用テ
ーブル(21)(22)のワーク受け部(23)(24)の位置
に対応して基板(A)をその軸孔において拡径してチャ
ックする基板チャッカー(26)(27)が備えられてい
る。
The unprocessed workpiece batch transfer device (4) is guided by a guide rail (25) arranged in parallel with the polishing processing section (1) and the workpiece standby sections (2) and (3), and is not processed. A reciprocating operation is performed between an upper position of the work standby table (21) and a position between the upper and lower surface plates (11, 12) of the polishing section (1). In addition, the machined work batch transfer device (5) is also guided by the guide rails (25) on the back, and the upper and lower surface plates (11) (12) of the polishing part (1).
It is reciprocally operated between a position between them and a position above the processed workpiece waiting table (22). Then, in each of the transfer devices (4) and (5), the substrate (A) is provided in its shaft hole corresponding to the positions of the work receiving portions (23) and (24) of the standby tables (21) and (22). Substrate chuckers (26) (27) for expanding and chucking the diameter are provided.

未加工ワーク収容ラック(6)は、基板(A)を立積
み状態で収容するもので、未加工ワーク待機部(2)に
コンベア等により隣接状態に配置されるものとなされて
いる。
The unprocessed work accommodating rack (6) accommodates the substrates (A) in a stacked state, and is arranged adjacent to the unprocessed work standby part (2) by a conveyor or the like.

また、未加工ワーク個別移送装置(8)はラック
(6)と未加工ワーク待機部(2)との間に配置され、
ラック(6)から基板(A)を1個づつチャックして取
り出しこれを未加工ワーク待機用テーブル(21)のワー
ク受け部(23)に配置していくパターン化された動作を
繰り返し行うものとなされている。
Further, the unprocessed workpiece individual transfer device (8) is arranged between the rack (6) and the unprocessed workpiece standby unit (2),
The substrates (A) are chucked one by one from the rack (6) and placed on the workpiece receiving portion (23) of the unprocessed workpiece standby table (21). The patterned operation is repeated. Has been done.

洗浄・乾燥装置(7)は加工済ワーク待機部(3)に
隣接配置されている。そして、加工済ワーク個別移送装
置(9)は洗浄・乾燥装置(7)と加工済ワーク待機部
(3)との間に配置され、加工済ワーク待機用テーブル
(22)のワーク受け部(24)に待機されている基板
(A)を1個づつチャックして取り出しこれを洗浄・乾
燥装置(7)に渡していくパターン化された動作を繰り
返し行うものとなされている。
The cleaning / drying device (7) is arranged adjacent to the processed workpiece standby part (3). The machined work individual transfer device (9) is arranged between the cleaning / drying device (7) and the machined work standby unit (3), and the machine work receiving unit (24) of the machined work standby table (22). Substrate (A) waiting for each of the substrates is picked up one by one, taken out, and passed to the cleaning / drying device (7) to repeat the patterned operation.

次に、上記研磨装置の作動をその制御方式と併せて説
明する。
Next, the operation of the polishing apparatus will be described together with its control system.

上記研磨装置では、未加工ワーク個別移送装置(8)
により、ラック(6)内の基板(A)が未加工ワーク待
機用テーブル(21)のワーク受け部(23)内に順次配置
されていく。
In the above-mentioned polishing device, the unworked work individual transfer device (8)
Thus, the substrates (A) in the rack (6) are sequentially arranged in the work receiving portion (23) of the unprocessed work standby table (21).

配置完了後、未加工ワーク一括移送装置(4)が、該
テーブル(21)の上方位置に位置した状態で下降し、チ
ャッカー(26)で基板(A)を一括してチャックし、上
昇する。そして、研磨加工部(1)側に移行し、下部定
盤(11)上に位置する。そして、下降し、基板(A)を
キャリアー(15)の保持孔(19)内に一括配置後チャッ
カー(26)を解除して、上昇し、再び未加工ワーク待機
用テーブル(21)上に移行していく。
After the arrangement is completed, the unprocessed workpiece batch transfer device (4) descends while being positioned above the table (21), and the chucker (26) collectively chucks the substrates (A) and ascends. Then, it moves to the side of the polishing section (1) and is located on the lower surface plate (11). Then, the substrate (A) is lowered, and the substrate (A) is collectively placed in the holding hole (19) of the carrier (15), and then the chucker (26) is released, and the substrate is moved up to the raw work standby table (21) again. I will do it.

そして、研磨加工部(1)では、上部定盤(12)が下
降作動し、基板(A)の上下面が上下の砥石(17)(1
8)で加圧状態に挾持され、その状態で太陽歯車(13)
が回転作動され、更に上下の定盤(11)(12)も回転作
動されて基板(A)の研磨処理がなされる。そして、太
陽歯車(13)の所定回数(4の整数倍数回)の回転完了
後、上部定盤(12)が上昇作動される。そのときワーク
(A)は太陽歯車(13)の回転開始時の位置関係と同じ
位置関係においてキャリアー(15)に保持されている。
Then, in the polishing section (1), the upper surface plate (12) is moved downward, and the upper and lower surfaces of the substrate (A) are the upper and lower grindstones (17) (1
It is held under pressure in 8) and the sun gear (13) is held in that state.
Is rotated, and the upper and lower surface plates (11, 12) are also rotated to polish the substrate (A). Then, after the sun gear (13) has been rotated a predetermined number of times (an integer multiple of 4), the upper surface plate (12) is moved up. At that time, the work (A) is held by the carrier (15) in the same positional relationship as that of the sun gear (13) at the start of rotation.

しかるのち、加工済ワーク一括移送装置(5)が下部
定盤(11)上に移行し、下降、基板の一括チャック、上
昇を行って、加工済ワーク待機用テーブル(22)側に移
行する。
Thereafter, the machined work batch transfer device (5) moves to the lower surface plate (11), descends, collectively chucks the substrate, and ascends, and moves to the machined work standby table (22) side.

そして、加工済ワーク一括移送装置(5)は、該テー
ブル(22)上で下降され、所定の高さ位置において基板
(A)のチャックが解除されて、該基板(A)はワーク
受け(24)内に水没状態に配置される。その際、基板
(A)は、受け(24)の底面との間に存在する水により
クッション作用を受けて、該ワーク受け(24)の底面に
衝撃的に当たることなく配置される。
Then, the processed work batch transfer device (5) is lowered on the table (22), the chuck of the substrate (A) is released at a predetermined height position, and the substrate (A) receives the work (24). ) Is placed under water. At this time, the substrate (A) receives the cushioning action of the water existing between the substrate (A) and the bottom surface of the receiver (24) and is arranged without impacting the bottom surface of the work receiver (24).

その後、移送装置(5)は、加工済ワーク待機用テー
ブル(22)の上方位置に移行される。
Then, the transfer device (5) is moved to a position above the processed workpiece standby table (22).

そして、加工済ワーク待機用テーブル(22)に待機さ
れた基板(A)は、加工済ワーク個別移送装置(9)に
よって1個づつ取り出され、濡れた状態で洗浄・乾燥装
置(7)に順次渡され、洗浄、乾燥に付される。
Then, the substrates (A) waiting on the processed work standby table (22) are taken out one by one by the processed work individual transfer device (9) and sequentially in the wet state to the cleaning / drying device (7). Handed over, washed and dried.

上記のように、加工済ワーク受取り部としての待機部
(3)が水の収容された受け(24)を備えたものに構成
されていることにより、加工済ワーク一括移送装置
(5)による該受け(24)への基板(A)の配置を該受
け(24)内に収容された水によるクッション作用によっ
て該基板(A)に傷をつけることなく行うことができ
る。特に磁気ディスク用基板(A)のように平面的なワ
ークの場合には、水によるクッション作用が強く現れ、
受け(24)との衝突による基板(A)への傷つき防止効
果がより有効的に発揮される。しかも、上記のように水
の収容された受け(24)内に基板(A)が配置される構
成が採用されていることにより、研磨加工直後に基板
(A)が水にさらされることで研磨液、切粉、砥粒等の
汚れが容易に落とされ、かつ受け(24)内で待機中に基
板(A)が乾燥して汚れのこびりつきを生じるというこ
とも防止され、従って次の洗浄工程での基板(A)の洗
浄を能率よく、しかも確実に行うことが可能となる。更
に、加工済ワーク待機部(3)に待機された基板(A)
を加工済ワーク個別移送装置(9)で取り出す際にも、
水のクッション作用により、基板(A)に衝撃を与える
ことなく取り出すことができる。
As described above, since the waiting part (3) as the processed work receiving part is configured to have the receiver (24) containing water, the processed work batch transfer device (5) The substrate (A) can be arranged on the receiver (24) without damaging the substrate (A) by the cushioning action of the water contained in the receiver (24). In particular, in the case of a flat work such as the magnetic disk substrate (A), the cushioning effect of water appears strongly,
The effect of preventing the substrate (A) from being damaged by the collision with the receiver (24) is more effectively exhibited. Moreover, since the substrate (A) is arranged in the receiver (24) containing water as described above, the substrate (A) is exposed to water immediately after the polishing process so that the polishing can be performed. Dirt such as liquid, cutting chips, and abrasive grains can be easily removed, and it is also prevented that the substrate (A) dries and stands by in the receiver (24) during standby, so that the next cleaning step can be performed. It becomes possible to efficiently and surely wash the substrate (A). Further, the substrate (A) which is on standby in the processed workpiece standby unit (3)
When taking out the processed work with the individual work transfer device (9),
The cushioning action of water allows the substrate (A) to be taken out without impact.

なお、本発明における研磨加工部は、外歯歯車による
ワークキャリアーを太陽歯車と内歯歯車との作用で自転
公転させてワークを一括して研磨加工する上記のような
研磨加工機によるものの他、例えばワークを上方突出固
定状態に保持して上方から研磨盤を当て、該研磨盤を回
転させることにより、ワークの研磨を行う研磨加工機等
によるものであってもよい。また、研磨加工部は、砥石
を使用した研磨機によるものの他、砥石に替えて研磨布
を使用した、いわゆるバフ研磨方式による研磨機等によ
るものであってもよい。
Incidentally, the polishing portion in the present invention, in addition to those by the above-described polishing machine for polishing the workpieces collectively by revolving the work carrier by the external gear by the action of the sun gear and the internal gear, For example, it may be a polishing machine or the like that holds the work in a state of protruding and fixed, applies a polishing platen from above, and rotates the polishing plate to polish the work. Further, the polishing section may be a polishing machine using a grindstone, or a so-called buffing polishing machine using a polishing cloth instead of the grinding stone.

また、上記実施例ではワーク受け(24)内に収容され
る液体として水が用いられているが、本発明装置はこれ
に限定されるものではなく、要はワークを受ける際にク
ッションとなり、かつワークの乾燥を防止しうるような
液体であれば液体の種類に特に制限はない。
Although water is used as the liquid contained in the work receiver (24) in the above embodiment, the device of the present invention is not limited to this, and the point is that it serves as a cushion when receiving the work, and There is no particular limitation on the type of liquid as long as it can prevent the work from drying.

発明の効果 上述の次第で、この発明の研磨装置は、研磨加工部に
て研磨加工された加工済ワークを載置状態で一時的に待
機させる加工済ワーク待機部のワーク受け内がクッショ
ン用液体にて満たされるようになされているものである
から、加工済ワーク待機部のワーク受け内をクッション
用液体で満たした状態において、研磨加工部の加工済ワ
ークを移送装置にてチャックして浮上状態で移送し該ワ
ークを加工済ワーク待機部のワーク受け内に載置するこ
とにより、この載置の過程で、該加工済ワークは、ワー
ク受け内の液体のクッション作用を受ける。従って、こ
のクッション作用によって、該ワークを傷をつけずに加
工済ワーク待機部に載置することができる。
EFFECTS OF THE INVENTION As described above, the polishing apparatus of the present invention is configured such that the inside of the workpiece receiving portion of the processed workpiece standby portion for temporarily holding the processed workpiece polished by the polishing portion in the mounted state is the cushion liquid. In the state where the inside of the work receiver of the processed work standby part is filled with the cushioning liquid, the processed work of the polishing part is chucked by the transfer device and floated. And the work is placed in the work receiver of the work waiting portion, the work is subjected to the cushioning action of the liquid in the work receiver during the placement. Therefore, by this cushioning action, the work can be placed on the processed work standby portion without damaging it.

殊に、磁気ディスク用アルミニウム基板のような高い
表面性状が要求されるワークの研磨を行う場合には、こ
の研磨装置の使用により、かかるワークに傷をつけずに
加工済ワーク待機部に載置することができ、ワークの製
造歩留りの向上に寄与しうる。
Especially when polishing a workpiece such as an aluminum substrate for a magnetic disk, which requires high surface properties, this polishing device can be used to place the workpiece on the processed workpiece standby section without damaging it. It is possible to contribute to the improvement of the manufacturing yield of the work.

しかも、ワークは加工済ワーク待機部での待機中、受
け内の液体と接触することになり、従って、液体と接触
している部分は乾燥することがなく、ワークへの研磨
液、切粉、砥粒等の汚れの乾燥によるこびりつきを防ぐ
こともできる。
Moreover, the workpiece comes into contact with the liquid in the receiver during standby in the processed workpiece standby portion, and therefore the portion in contact with the liquid does not dry, and the polishing liquid, cutting chips, It is also possible to prevent sticking due to drying of dirt such as abrasive grains.

加えて、加工済ワーク待機部は、水平状態に配置され
た浅底状のトレーと、該トレー内に設けられたワーク受
けと、該ワーク受けを除くトレー内にクッション用液体
を供給する液体供給源とを備え、該液体供給源からトレ
ー内への液体の供給により、ワーク受け内がクッション
用液体にて満たされるように、ワーク受けの上縁部高さ
位置が、浅底状トレーの上縁部高さ位置よりも低く設計
されているから、ワーク受けへのクッション用液体の供
給をワーク受けへの加工済ワークの載置動作を妨げるこ
となく遂行することができると共に、ワーク受けへの加
工済ワークの下降載置動作をワーク受けへのクッション
用液体の供給を妨げることなく遂行することができる。
In addition, the processed workpiece standby unit is a liquid supply for supplying a cushioning liquid to a tray having a shallow bottom arranged in a horizontal state, a workpiece receiver provided in the tray, and a tray excluding the workpiece receiver. And a liquid supply source for supplying liquid into the tray so that the inside of the work receiver is filled with the cushioning liquid. Since it is designed to be lower than the edge height position, the supply of the cushioning liquid to the work receiver can be performed without hindering the placement operation of the processed work on the work receiver, and the work receiver It is possible to perform the descending mounting operation of the processed work without hindering the supply of the cushioning liquid to the work receiver.

しかも、浅底状のトレーに液体を供給するものである
から、わずかな量の液体でワーク受けをクッション用液
体にて満たすことができ、経済的にクッション用液体の
供給を行うことができる。
Moreover, since the liquid is supplied to the shallow-bottomed tray, the work receiver can be filled with the cushion liquid with a small amount of the liquid, and the cushion liquid can be economically supplied.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこの発明の研磨装置の一実施例を示す全体斜視
図、第2図は加工済ワーク受取り部の垂直断面図であ
る。第3図は従来より用いられている研磨加工機の構成
を示す斜視図である。 (1)……研磨加工部、(3)……加工済ワーク待機部
(加工済ワーク受取り部)、(5)……ワーク移送装
置、(24)……ワーク受け、(A)……磁気ディスク用
アルミニウム基盤(ワーク)。
FIG. 1 is an overall perspective view showing an embodiment of the polishing apparatus of the present invention, and FIG. 2 is a vertical sectional view of a processed work receiving portion. FIG. 3 is a perspective view showing the structure of a polishing machine that has been conventionally used. (1) …… Polishing part, (3) …… Processed work standby part (processed work receiving part), (5) …… Work transfer device, (24) …… Work receiver, (A) …… Magnetic Aluminum base (work) for disks.

フロントページの続き (72)発明者 手塚 功 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (72)発明者 木村 義信 大阪府堺市海山町6丁224番地 昭和ア ルミニウム株式会社内 (56)参考文献 特開 昭62−136365(JP,A)Front page continued (72) Inventor Isao Tezuka, 6-224, Kaiyama-cho, Sakai-shi, Osaka, Showa Aluminum Co., Ltd. (72) Yoshinobu Kimura, 6-224, Haiyama-cho, Sakai-shi, Osaka Prefecture, Showa Aluminum Co., Ltd. (56) References JP-A-62-136365 (JP, A)

Claims (1)

(57)【特許請求の範囲】(57) [Claims] 【請求項1】ワークの研磨加工を行う研磨加工部に隣接
して、加工済ワークを載置状態で一時的に待機させる加
工済ワーク待機部が配置されると共に、前記研磨加工部
で研磨加工されたワークをチャックして浮上状態で前記
加工済ワーク待機部に移送して載置するワーク移送装置
が具備された研磨装置であって、 前記加工済ワーク待機部が、水平状態に配置された浅底
状のトレーと、該トレー内に設けられた所定高さの輪状
のワーク受けと、該ワーク受けを除くトレー内にクッシ
ョン用液体を供給する液体供給源とを備え、 該液体供給源からトレー内への液体の供給により、該液
体がトレー内からワーク受け内に供給され、該ワーク受
け内がクッション用液体にて満たされるように、前記ワ
ーク受けの上縁部高さ位置が、前記浅底状トレーの上縁
部高さ位置よりも低く設計されてなることを特徴とする
研磨装置。
1. A machined workpiece standby section for temporarily holding a machined workpiece in a mounted state is arranged adjacent to a machined section for polishing a workpiece, and the machined workpiece is polished by the machined section. A polishing apparatus equipped with a work transfer device that chucks the formed work and transfers it to the processed work standby part in a floating state and places the work, wherein the processed work standby part is arranged in a horizontal state. A shallow-bottom tray, a ring-shaped work receiver having a predetermined height provided in the tray, and a liquid supply source for supplying a cushioning liquid to the tray excluding the work receiver are provided. By supplying the liquid into the tray, the liquid is supplied from the tray into the work receiver, and the upper edge height position of the work receiver is set so that the work receiver is filled with the cushioning liquid. Shallow tray Polishing apparatus characterized by comprising been designed lower than the upper edge height.
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