JPH0481671A - Ｅｍｉ測定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明は、供試機器から放射される電磁波を測定するシ
ステムに関し、特にその最大放射スペクトルを測定する
方法に関する。

〈従来の技術〉 電子通信機器の飛躍的普及にともない、これら機器から
発生する電磁波が原因となって、他の電子通信機器及び
通信システムなどに誤動作を引き起こす機会が増し、産
業界のみならず一般社会生活まで影響を与えるようにな
ってきた。

このようなことが一つの契機となって、を磁波妨害（以
下、ＥＭＩと記す、　ｅｌｅｃｔｒｏｎａｇｎｅｔｌｃ
　＋ｎｔｅｒｆｅｒｅｎｃｅ　）に対し法規制の動きが
国際的に進められている。そしてＥ旧の測定条件及び許
容値か国際無線障害特別委員会（ＣＩＳＰＲと言う）に
よって審議され、勧告規格が定められている。

以下、本明細書で述べるＥＭＩ測定は、このＣＩＳＰＲ
の勧告規格（（、ｌ５ＰＲ規格と言う）に基つき、供試
機器から発生する電磁波の最大スペクトルを検出する方
法に関するものである。

ＣＩＳＰＲ規格に基づ＜　ＥＭＩ測定とは、ＣＩＳＰＲ
規格で定められた時定数を持つ特殊検波器（第２図の準
尖頭値検波器１５）を用いて、電磁波を検波した場合の
測定値を得ることである。そして、このＣＩＳＰＲ規格
に則って最大放射スペクトルを測定する従来の測定シス
テムは、次のように動作していた。

このＥＭＩ測定システムは、所謂スペクトラムアナライ
ザの機能を備えている。そして、次の測定順序で最大放
射スペクトルを測定している。

■　まずスペクトラムアナライザの機能を動作させ、ど
の周波数にＥ旧のスペクトルか存在するかを周波数掃引
してサーチする。その結果、例えば第３図（ａ）のデー
タを得て、周波数ｆ１．ｆ２ｆ３　ｆ４・・・にＥ旧ス
ペクトルか存在することを知ることかできる。

■　その後、■で得た個々の周波数ｆｌ、　ｆ２．　ｆ
３．　ｆ４・・・の順に、ＣＩＳＰＲ規格に則って放射
スペクトルの測定を行い、その測定結果から、最大放射
スペクトル値とその周波数を特定する。

以上の動作について説明を加える。■の測定では、供試
機器からの電磁波を試験アンテナで受けて、電圧・電流
信号へ変換し、これをスペクトラムアナライザに導入し
て、例えば第３図（ａ）のようなく周波数　対　信号の
ピークレベル〉の特性を得る。この第３図は、本発明の
詳細な説明する図であるが、便宜的に従来技術でもこれ
を参照して説明する。第３図（ａ）は、横軸に周波数を
とり、縦軸に各周波数におけるＥＭＩ成分のピーク値を
示した特性である。なお、第３図（ａ）の特性を得る動
作は、本発明の所で説明する。

第３図（ａ）の特性では、周波数ｆ２における信号レベ
ルＰｆ２か、最大のピークスペクトル値であるが、信号
レベルＰｆ２が、ＣＩＳＰＲ規格で言う最大放射スペク
トル値を直接意味するものでない。

その理由は、ＣＩＳＰＲ規格では、各放射スベトクルの
値を第２図の準尖頭値検波器１５により検波した値（以
下、この準尖頭値検波器１５で検波した値をＱＰ値と言
う）で、定義つけてるからである。即ち、ＱＰ値は、ピ
ーク検波値ではないのである。なお、第２図は本発明の
構成例であるか便宜的にこれを参照して従来例を説明す
る。

この準尖頭値検波器１５は、コンデンサＣ１に対する充
電時定数Ｒ１・Ｃ１と、放電時定数Ｒ２・Ｃ１が異なる
ような値に定められている（Ｒ１・ＣＩ＜　Ｒ２・Ｃ１
）。

この準尖頭値検波器１５で得られる信号（ＱＰ値）は、
コンデンサＣ１へ成る時定数で充放電させた場合のコン
デンサ電圧であるので、必ずしも第３図（ａ）に示す各
ピークスペクトル値（Ｐｆｌ、Ｐｆ２’・・・）が、Ｃ
ＩＳＰＲ規格によるＱＰ値と一致しない。

そこで、■の動作により周波１！掃引して、どの周波数
にＥＭＩのスペクトルか存在するかを見極める。そして
■で得られた総べての周波数ｆ１．　ｆ２．　ｆ３・・
・毎に、■の動作を行って、各周波数におけるＱＰ値の
測定を行い、その結果から、最大放射スペクトルを特定
している。

〈発明が解決しようとする課題〉 以上のような従来のＥ１４１測定方法は、最大放射スペ
クトルの測定に多大な時間がかかると言う課題がある。

その理由を説明する。

ＣＴＳＰＲ規格では、３０　ＭＨｚ　〜１０００　ＭＨ
ｚ間の帯域内で供試機器の電磁波を測定することになっ
ている。

ここで、一般の供試機器から発生する電磁波には、上記
帯域内に多数のＦ旧スペクトルが存在する。

従って、上記■の測定では、第３図（ａ）の如く多数の
周波数ｆｌ、ｆ２．ｆ３．・・・が見付は出される。

■の測定は、所謂スペクトラムアナライザの動作である
なめ、周波数掃引するだけの短時間で、第３図（ａ）の
データをとることができる。

しかし、■の測定には多大な時間かかかる。■の測定（
ＣＩＳＰＲ規格の測定）では、■の測定と巽なり、各周
波Ｒｆｌ、　ｆ２．　ｆ３．・・・におけるＱＰ値を周
波数掃引で得ることはできない。ＱＰ値の測定を第４図
を参照して簡単に説明する（詳しくは、本発明の所で説
明する）。

例えば、周波数ｔ２におけるＱＰ値を測定する場合を説
明する。検査対象のＳ磁波に含まれる周波数ｔ２成分の
みか、スペクトラムアナライザの８ＰＦ増幅器７を通過
できるように、ローカル周波数コントローラ１１は、デ
ィジタル信号Ｓ１を出方する。その結果、準尖頭値検波
器１５にはあたかも第４図（１）のような信号が加えら
れるので、準尖頭値検波器１５の出力電圧は、第４図（
２）のようになる。

そして、ＣＴＳＰＲ規格で定められた時間■２後に、こ
の準尖頭値検波器１５の出力値をサンプリングする。そ
の時のサンプリング電圧値が、周波数ｆ２のＱＰ値であ
る。この時間■２は、秒単位の値である。

このようなＱＰ測測定、■の測定で得られた総べての周
波数ｆ１．　ｆ２．　ｆ３．・・・につぃて行ない、そ
の測定結果から、最大のスペクトル値を見つけるので、
非常に測定時間が掛かるのである。

本発明の目的は、従来と比較して短時間にｃｒｓｐＲ規
格による最大放射スペクトルを測定できる［ＨＩ測定方
法を提供することである。

く課題を解決するための手段〉 本発明は、上記課題を解決するために 供試機器から放射される電磁波を電気信号へ変換する試
験アンテナと、 前記電気信号を導入し、前記電磁波に含まれる任意の周
波数スペクトル成分と、当該スペクトル成分の周波数値
と、を出力するスペクトラムアナライザと、 このスペクトラムアナライザから出力される各周波数ス
ペクトル成分のピーク値を取り出すピーク検波手段と、 前記スペクトラムアナライザから出力される各周波数ス
ペクトル成分の平均値を取り出す平均値検波手段と、 前記スペクトラムアナライザから出力される周波数スペ
クトル成分をＣＴＳＰＲ規格に基づく充放電時定数をも
つ検波器で検波し、各周波数スペクトルの発生時点を起
点とし、Ｃｌ５ＰＩＩ規格で定められた時間＠（Ｔ２）
の検波出力値（ＱＰ値）を取り出すＱＰ値検波手段と、 ピーク検波手段か出力する各ピーク値と、平均値検波手
段が出力する各平均値と、ＱＰ値検波手段が出力する各
ＱＰ値と、各ピーク値と各平均値及び各ＱＰ＠に対応す
るスペクトラムアナライザが出力する周波数値と、を記
憶するメモリと、このメモリに格納された各ピーク値間
の大小と、各平均値間の大小と、各ＱＰ値間の大小を比
較する機能と、特定の周波数スペクトル成分のみを選択
して出力するようにスペクトラムアナライザを制御する
機能をもつプロセッサと、 を備え、 前記電磁波に含まれる各周波数スペクトル成分のピーク
値と、平均値と、各ピーク値と各平均値に対応する周波
数値と、を前記メモリに格納する第１工程と、 前記メモリの中から大きい順に設定数だけ選んた各ピー
ク値に対応する周波数値と、メモリの中から大きい順に
設定数だけ選んだ各平均値に対応する周波数値と、を選
び出す第２工程と、第２工程で選び出した周波数値のス
ペクトル成分のみを選択してスペクトラムアナライザか
ら出力させ、その時のＱＰ値をメモリに格納する第３工
程と、 第３工程によりメモリに格納されたＱＰ値から少なくと
も最大値を選び出す第４工程と、を講じたものである。

く作用〉 第１工程により、どの周波数にＥＭＩのスペクトルか存
在するかを見極める。なお、第１工程で得るピーク値と
、平均値は、スペクトラムアナライザで周波数掃引する
ことで短時間のうちにこれらデータの測定ができる。

成る周波数スペクトルにおける、ＱＰ値と、ピーク値と
、平均値の関係は、 平均値＜ＱＰ値くピーク値　　　　　　　　　（１）で
ある。この関係を利用し、第２工程で大きい順に設定数
だけ選んだピーク値に対応する周波数値と、同じく大き
い順に設定数だけ選んだ平均値に対応する周波数値とを
選び出す。

第２工程で絞られた少数の周波数についてのみ第３工程
でＱＰ値を測定している。従って、測定時間かかかるＱ
Ｐ値の測定回数を絞ることかできるので短時間で済む。

もちろん（１）の関係より、第３工程で得たデータの中
に最大放射スペクトルのデータか存在している。

〈実施例〉 以下、図面を用いて本発明の詳細な説明する。

第１図は本発明に係る方法を実施する［量測定システム
の構成例を示す図、第２図は第１図の具体的構成例を示
す図、第３図は各部の信号状態を示す図、第４図はＱＰ
値の測定を説明する図、第５図はピーク値とＱＰ値と平
均値の関係を説明する図、第６図は測定工程図である。

第１図及び第２図において、供試機器１から電磁波か放
射されるか、この電磁波は、試験アンテナ２により電気
信号へ変換される。この電気信号は、スペクトラムアナ
ライザ３０へ導入される。

スペクトラムアナライザ３０は、アンテナ２からの電気
信号を導入し、供試機器１の電磁波に含まれる任意の周
波数スペクトル成分と、当該スペクトル成分の周波数値
とを出力できる。

この様な機能のスペクトラムアナライザ３０は、公知の
ものを用いることかでき、その具体的構成例を第２図に
示す。即ち、スペクトラムアナライザ３０は、アンテナ
２からの電気信号を適切なレベルに増幅するプリアンプ
４と、導入した２つの信号の乗算を行うミキサー５と、
特定の周波数のみ通過させるＢＰＦ増幅器７（帯域通過
フィルタ）と、加えられた電圧により発振周波数が制御
されるｖＣＯ（ｖｏｌｔａｑｅ　ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｄ
　ｏｓｃｉｌｌａｔｏｒ）　８と、ディジタル信号をア
ナログ信号へ変換するＤＡＣ１０と、ＢＰＦ増幅器７か
ら取り出されるスペクトル成分の周波数値を決定するデ
ィジタル信号Ｓ１を出力するローカル周波数コントロー
ラ１１とで構成できる。

第１図に示すスペクトラムアナライザ３０では、ローカ
ル周波数コントローラ１１のディジタル出力Ｓ１により
、ｖｃｏ　ｓの発振周波数を制御している。

即ち、ローカル周波数コントローラ１１から、ディジタ
ル信号Ｓ１＝　Ｄｌを出力すると、この信号Ｓ１＝　Ｄ
Ｉに応じたアナログ電圧ＶＤ１かＶＣＯ８に加えられ、
この電圧Ｖ　に応じた周波数ｆＤ１かＶＣＯ８から出力
される。その結果、ＢＰＦ増幅器７を通過できるアンテ
ナ２からの電磁波の周波数成分をローカル周波数コント
ローラ１１からのディジタル信号Ｓ１により決定するこ
とができる。

即ち、スペクトラムアナライザ３０は、供試機器１の電
磁波に含まれる任意の周波数スペクトル成分と、当該ス
ペクトル成分の周波数値を示す信号Ｓ１とを出力できる
。なお、スペクトラムアナライザ３０は、公知なもので
あり、本発明はスペクトラムアナライザ３０の部分に特
徴かあるわけではないので次の説明に話を進める。

ピーク検波手段４０は、このスペクトラムアナライザ３
０から出力される周波数スペクトル成分の信号を導入し
、各周波数スペクトル成分のピーク値を取り出すもので
ある。第２図では、尖頭値検波器１２と、ＡＤ変換器（
以下、ＡＤＣと言う）１６により構成される。

平均値検波手段５０は、スペクトラムアナライザ３０か
ら出力される周波数スペクトル成分信号を導入し、各周
波数スペクトル成分の平均値を取り出すものである。第
２図では、尖頭値検波器１２と、ビデオフィルタ１３と
゛、ＡＤＣ１７により構成される。

なお、尖頭値検波器１２は、第２図に示す如く、例えば
ダイオードと、コンデンサと、増幅器で構成できる。

ＱＰ値検波手段６０は、スペクトラムアナライザ３０か
ら出力される周波数スペクトル成分をＣＩＳＰＲ規格に
基づく充放電時定数をもつ検波器（準尖頭値検波器１５
）で検波し、各周波数スペクトルの発生時点を起点とし
、ＣＩＳＰＲ規格で定められた時間後（Ｔ２）の検波出
力値（ＱＰｆｉｉ　）を取り出すものである。

第２図では、このＱＰ値検波手段６０を準尖頭値検波器
１５とＡＤＣ１８により構成している。準尖頭値検波器
１５は、タイオードＤ１と、抵抗Ｒ１を介してダイオー
ドＤ１の整流信号か印加されるコンデンサＣ１と、これ
に並列に接続された抵抗Ｒ２と、このコンデンサＣ１の
電圧を取り出す増幅器とで構成される。なお、準尖頭値
検波器１５の充電時定数０１・Ｒ１と、放電時定数Ｃ１
・Ｒ２は、ＣＩＳＰＲ規格で規定きれており、Ｃ１・Ｒ
１＜　ＣＩ・Ｒ２である。

メモリ１９は、ピーク検波手段４０か出力する各ピーク
値と、平均値検波手段５０が出力する各平均値と、ＱＰ
値検波手段６０が出力する各ＱＰ値と、各ピーク値と各
平均値及び各ＱＰ値に対応するスペクトラムアナライザ
３０か出力する周波数値と、を記憶する。

プロセッサ２０は、メモリ１９に格納された各ピーク値
データ同土間の大小と、各平均値データ同土間の大小と
、各ＱＰ値データ同土間の大小を比較し、例えばそれぞ
れの最大値から上位Ｎ個（Ｎは設定数）のデータを取り
出すことができる機能を有している。なお、以上の機能
を動作させた結果得られた上位Ｎ個のデータ（例えばＮ
＝３の場合、ピーク値で言えば、Ｐ　　、Ｐ　　、Ｐ　
　）及び、各ピｆ２　　　ｆ５　　　ｆ４ −ク値に対応する周波数値ｆ２．　ｆ５．　ｆ４のデー
タは、メモリ２２へ格納することができる。

また、プロセッサ２０は、特定の周波数スペクトル成分
（例えば、周波数ｆ２）のみを出力するように制御信号
Ｓ５を出力してスペクトラムアナライザ３０を制御する
機能も有している。

以上のように構成された第１図装置及び第２図装置の動
作を説明する。

（＾）第１工程 この工程では、スペトラムアナライザ３０を周波数掃引
の動作させ、電磁波に含まれる各周波数スペクトル成分
のピーク値と、平均値と、各ピーク値と各平均値に対応
する周波数値とをメモリ１９に格納する。なお、ピーク
値を得る周波数掃引と、平均値を得る周波数掃引は、ど
ちらを先に行ってもよい。また、１回の周波数掃引でピ
ーク値のデータと、平均値のデータを同時にとるように
してもよい。

具体例で説明すると、第３図ｆａ）に示す各ピークデー
タ（周波数スペクトルのピークレベルＰｆ１゜Ｐｆ２．
　Ｐｆ３．・・・と、当該スペクトルの周波数ｆ１．　
ｆ２、　ｆ３．・・・）と、第３図（ｂ）に示す各平均
値データ（周波数スペクトルの平均値レベルＡｆ１．Ａ
ｆ２Ａｆ３．・・・と、当該スペクトルの周波数ｆ１．
　ｆ２．　ｆ３・・・）とをメモリ１９に取り込む。第
３図（ａ）　、（ｂ）のデータを周波数掃引で取り込む
動作は、次の如くである。

ます、第３図（ａ）に示すピーク検波データを取り込む
動作から説明する。

上述のようにローカル周波数コントローラ１１からＤＡ
Ｃ１０へ出力するディジタル信号Ｓ１により、スペクト
ラムアナライザ３０から出力するスペクトルの周波数を
決定できる。第３図（１）は、このディジタル信号Ｓ１
の概念をアナログ的に示した図である。即ち、第３図（
１）に示すように、５１＝Ｓｆ１の時、周波数１１のス
ペクトル成分のみが、５１＝Ｓｆ２の時、周波数１２の
スペクトル成分のみがスペクトラムアナライザ３０から
出力される。

従って、周波数掃引動作を行いＣＩＳＰＲ規格で定めら
れた３０　ＨＨ７〜１０００　ＭＨｚの帯域内に存在す
るスペクトルをとるには、第３図（１）の周波数ｆ１〜
ｆ８３０〜１０００　ＭＨｚで変化させる。なお、第３
図（１）は、説明を分かり易くするため、３０〜１００
０　ＭＨｚの間を１か８つの周波数ステップで示したか
、実際は、極めて数多くのステップで取り出される。

第３図（１）の周波数ステップでスペクトラムアナライ
ザ３０に加えられた電磁波の信号成分を取り出した場合
、第２図の尖頭値検波器１２の出力の推移か第３図（２
）であったとする。即ち、周波数ｆ１の時のピーク値は
Ｐｆｌ、周波数１２の時のピーク値はＰ１□、・・・で
ある。なお、尖頭値検波器１２の出力は、第３図（２）
の如く変化点にて一般にダンピングが生じているので、
各ピーク値を取り出すには、このダンピングか収まった
時点でローカル周波数コントローラ１１から第３図（４
）に示すタイミング信号Ｓ２を出力して、その時のデー
タを例えばメモリ１９に取り込む。

以上の動作の結果、周波数ｆ１の時のピークレベルはｐ
ｆｌ、　ｆ２の時はｐｆ２．　ｆ３の時はＰｆ３．・・
・であるから、第３図（ａ）に示す各周波数と各ピーク
レベルのデータが、メモリ１９に格納される。

次に第３図（ｂ）の平均値検波データを取り込む動作を
説明する。平均値検波手段５０はビデオフィルタ１３を
備えている（第２図参照）。このビデオフィルタ１３は
、ローパスフィルタであり、例えば第３図（２）の波形
（尖頭値検波器１２の出力波形）を導入し、第３図（３
）に示す波形を出力する。即ち、平均値検波手段５０の
出力は、第３図（３）の如く、成る時定数で変化する応
答を示す、そして平均値検波手段５０の出力が定常状態
に近付いた時点でローカル周波数コントローラ１１は、
第３図（４）のタイミング信号Ｓ２を出力し、その時の
データを例えばメモリ１６に取り込む。

以上の動作の結果、周波数ｆ１の時の平均値はＡｆ１’
　ｆ２の時はＡｒ１．　ｆ３の時はＡｆ３’・・・であ
るから、第３図ｆｌｙ）に示す各周波数と各平均値のデ
ータか、メモリ１９に格納される。

このように、第１工程ではスペクトラムアナライザ３０
を周波数掃引動作させることで、電磁波に含まれる各周
波数スペクトル成分のピーク値と、平均値と、各ピーク
値と各平均値に対応する周波数値とをメモリ１９に格納
する。

なお、平均値検波手段５０の時定数（ビデオフィルタ１
３の時定数）は、ローカル周波数コントローラ１１から
の信号Ｓ３により、幾つかの値を選択できるようになっ
ているか、タイミング信号Ｓ２の周期ＴＩ（第３図（４
）参照）は、この時定数に応じて適切なタイミングに選
ばれる。

（Ｂ）第２工程 この工程では、第１工程によりメモリ１９に格納された
各ピーク値（Ｐ　　、Ｐ　　、Ｐ　　、・・・）の中ｆ
１　　　ｆ２　　　ｆ３ から大きい順に上位Ｎａのデータを選び、これに対応す
る周波数値（Ｎ＝３の場合、ｆ２．　ｆ５．　ｆ４・・
・第３図（ａ）参照）と、メモリに格納された各平均値
（Ａｆｌ”　ｆ２”　ｆ３．・・・）の中から大きい順
に上位Ｎ個のデータを選び、これに対応する周波数値（
Ｎ−３の場合、ｆ５．　ｆ２．　ｆ４・・・第３図（ｂ
）参照）と、を選び出している。

この工程は、ブロッセサ２０の機能により実施される。

プロセッサ２０は、メモリ１９に格納されているデータ
からピーク値を読出し、その大きい順に認識することが
できる。第３図（ａ）より、Ｐｆ２〉Ｐｆ５〉Ｐｆ４〉
Ｐｆ６〉・・・　　　　　　（２）その結果、例えば上
位３テータを選ぶと、そのピーク値に対応する周波数ｆ
２．　ｆ５．　ｆ４が選び出される。

同様にプロセッサ２０は、メモリ１９に格納されている
データから平均値を読出し、その大きい順に認識するこ
とかできる。第３図（ｂ）より、Ａｒ１〉Ａｒ１〉Ａｒ
１〉Ａｒ６〉・・・　　　　　　（３）そして例えば上
位３データを選ぶと、その平均値に対応する周波数ｆ５
．　ｆ２．　ｆ４が選び出される。

こうして選び出した前記ｆ２．　ｆ４．　ｆ５のデータ
は、例えばメモリ２２に一旦格納される。

このようなプロセッサ２０の機能の実現は、プログラム
等により当業者であれば容易に行うことができるので、
その機能の具体的構成説明は省略する。

（Ｃ）第３工程 この工程では、第２工程で選び出した周波数値ｆ２．　
ｆ４．　ｆ５のスペクトル成分のみを選択してスペクド
ラムアナライザ３０から出力させ、その時のＱＰ値をメ
モリ１９に格納している。具体的には次のように動作す
る。プロセッサ２０は、第２工程により、ピーク値が上
位Ｎ番目までのスペクトルの周波数（Ｎ−３とすると、
ｆ２．　ｆ５．　ｆ４　）と、平均値か上位Ｎ番目まで
のスペクトルの周波数（Ｎ−３とすると、ｆ５．　ｆ２
．　ｆ４　）を選び出している。この周波数１２と１４
とｆ５のどれかにＣＩＳＰＲ規格による最大放射スペク
トルか存在する（その理由は、第５図を用いて後述する
）。

例えば、周波数ｆ２のスペクトル成分のみ選択してスペ
クトラムアナライザ３０から出力させる場合、プロセッ
サ２０は、周波数１２を指示する信号Ｓ５をローカル周
波数コントローラ１１に加える。従って、第４図（１）
に示す如く、ローカル周波数コントローラ１１は、信号
Ｓ１＝　Ｓｒ２を出力し、その結果、第４図（１）の点
線のようなレベル信号がＱＰ値検波手段６０（第２図で
言えば準尖頭値検波器１５）に加えられる。

準尖頭値検波器１５は、コンデンサＣ１に対する充；時
定数０１・Ｒ１と、放電時定数Ｃ１・Ｒ２がＣＩＳＰＲ
規格により定められており、秒単位の時定数である。

従って、平均値を得るときの時定数と比較して極めて大
きな時定数であるため、第４図（２）の波形の変化は、
第３図（３）の波形の変化と比較して極めてゆっくりと
したものになる。

そして第４図（１）の波形を出力してからＣＩＳＰＲ規
格で定められた時間■２後に、ローカル周波数コントロ
ーラ１１から、タイミング信号Ｓ２かメモリ１９に加え
られ（第４図（３）参照）、この準尖頭値検波器１５の
出力値Ｃｆ２（第４図（２）参照・・・ただしＡＤＣ１
８によりディジタル値へ変換されている）を取り込む。

その時のサンプリング電圧値Ｃｆ２か、周波数ｆ２のＱ
Ｐ値である。

次に、プロセッサ２０からの信号Ｓ５により、スペクト
ラムアナライザ３０は、同様な動作で信号５ｌ−３ｆ４
　、　Ｓｒ１を出力し、その結果、周波数ｆ４．　ｆ５
におけるＱＰ値”Ｃｆ４”ｆ５を得る。

このように測定した３つのＱＰ値であるＣｆ２とＣｆ４
とＣｆ５のどれかが、ＣＩＳＰＲ規格による最大放射ス
ペクトルである理由は次の如くである。

第５図は、波形（イ）に対し、ピークｇＭＰと、ＱＰ値
Ｃと、平均値Ａのレベルを比較したものである。ここで
、検波器１２．１５におけるコンデンサの充電時定数を
τ１、放電時定数をτ２とすると、平均値検波手段５０
では、τ１−τ２　であるが、ＱＰ値検波手段６０のそ
れは、τ１くτ２　であるため（ＣＩＳＰＲ規格で規定
されている）、第５図Ｃに示す波形となる。つまり、 Ａ＜Ｃ である。もっとも、第５図（イ）のパルス発生周期が短
くなれば、ＡとＣの値は近接してくるが、Ｃ＜Ａ　　と
なることはない。即ち、ピーク値Ｐと、ＱＰ値Ｃと、平
均値Ａのレベルの関係は、Ａ＜Ｃ＜Ｐ となる。従って、最大のＱＰ値は、大きい順に選んだ上
位のピーク値Ｐを示す周波数時のＱＰ値か、大きい順に
選んだ上位の平均値Ａを示す周波数時のＱＰ値のどれか
に該当する。その結果、３つの周波数（第３図の例では
ｆ２と１４とｆ５）についてのみ時間のかかるＱＰ値測
定を行えばよく、不要な周波数に関するＱＰ値を測定せ
ずに済む。

なお、第３図ｆａ）、　（ｂ）の例の如く、一般にピー
ク値の上位データの周波数ｆ２．　ｆ５．　ｆ４と、平
均値の上位データの周波数ｆ５．ｆ２．ｆ４は、一致す
る場合が多（、ＱＰ値を測定する周波数の数（ＱＰ値の
測定回数）は少ない。

［０）第４工程 この工程では、第３工程によりメモリ１９に格納された
ＱＰ値から最大値を選び出す、この動作は、プロセッサ
２０により容易に行うことができる。なお、最大値だけ
でなく５、上位Ｎデータを選び出すようにしてもよい。

く本発明の効果〉 以上述べたように本発明によれば、時間のかかるＱＰ値
測定の回数を低減できるので、最大放射スペクトルを従
来例と比較して短時間に測定することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る方法を実施するＥＭＩ測定システ
ムの構成例を示す図、第２図は第１図の具体的構成例を
示す図、第３図は各部の信号状態を示す図、第４図はＱ
Ｐ値の測定を説明する図、第５図はピーク値とＱＰ値と
平均値の関係を説明する図、第６図は測定工程図である
。 ２・・・試験アンテナ、１９・・・メモリ、２０・・・
プロセッサ、３０・・・スペクトラムアナライザ、４０
・・・ピーク検波手段、５０・・・平均値検波手段、６
０・・・ＱＰ値検波手段。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 供試機器から放射される電磁波を電気信号へ変換する試
   験アンテナと、 前記電気信号を導入し、前記電磁波に含まれる任意の周
   波数スペクトル成分と、当該スペクトル成分の周波数値
   と、を出力するスペクトラムアナライザと、 このスペクトラムアナライザから出力される各周波数ス
   ペクトル成分のピーク値を取り出すピーク検波手段と、 前記スペクトラムアナライザから出力される各周波数ス
   ペクトル成分の平均値を取り出す平均値検波手段と、 前記スペクトラムアナライザから出力される周波数スペ
   クトル成分を国際無線障害特別委員会勧告規格（以下、
   ＣＩＳＰＲ規格と言う）に基づく充放電時定数をもつ検
   波器で検波し、各周波数スペクトルの発生時点を起点と
   し、ＣＩＳＰＲ規格で定められた時間後（Ｔ２）の検波
   出力値（以下、ＱＰ値と言う）を取り出すＱＰ値検波手
   段と、 ピーク検波手段が出力する各ピーク値と、平均値検波手
   段が出力する各平均値と、ＱＰ値検波手段が出力する各
   ＱＰ値と、各ピーク値と各平均値及び各ＱＰ値に対応す
   るスペクトラムアナライザが出力する周波数値と、を記
   憶するメモリと、 このメモリに格納された各ピーク値間の大小と、各平均
   値間の大小と、各ＱＰ値間の大小を比較する機能と、特
   定の周波数スペクトル成分のみを選択して出力するよう
   にスペクトラムアナライザを制御する機能をもつプロセ
   ッサと、 を備え、 前記電磁波に含まれる各周波数スペクトル成分のピーク
   値と、平均値と、各ピーク値と各平均値に対応する周波
   数値と、を前記メモリに格納する第１工程と、 前記メモリの中から大きい順に設定数だけ選んだ各ピー
   ク値に対応する周波数値と、メモリの中から大きい順に
   設定数だけ選んだ各平均値に対応する周波数値と、を選
   び出す第２工程と、 第２工程で選び出した周波数値のスペクトル成分のみを
   選択してスペクトラムアナライザから出力させ、その時
   のＱＰ値をメモリに格納する第３工程と、 第３工程によりメモリに格納されたＱＰ値から少なくと
   も最大値を選び出す第４工程と、 を備えたＥＭＩ測定方法。