JPH0469414B2 - - Google Patents

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JPH0469414B2
JPH0469414B2 JP1325184A JP1325184A JPH0469414B2 JP H0469414 B2 JPH0469414 B2 JP H0469414B2 JP 1325184 A JP1325184 A JP 1325184A JP 1325184 A JP1325184 A JP 1325184A JP H0469414 B2 JPH0469414 B2 JP H0469414B2
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JP
Japan
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electrode
bias
plasma
high frequency
microwave
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JP1325184A
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JPS60158629A (ja
Inventor
Noriaki Yamamoto
Fumio Shibata
Norio Kanai
Sadayuki Okudaira
Shigeru Nishimatsu
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
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Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、マイクロ波プラズマ処理装置に関す
るものである。
〔発明の背景〕
従来のマイクロ波プラズマ処理装置を第1図に
より説明する。
第1図で、真空排気装置10が連結され処理ガ
ス導入用のノズルが設けられた上方が開放した真
空容器20には、石英、アルミナ等の電気絶縁材
料で形成され下端が開放した放電管30が真空容
器21と連通して気密に構設されている。放電管
30の外側には、導電性材料で形成された導波管
40が放電管30を含み同心状に配設されてい
る。導波管40の高さ方向には、独立して操作さ
れる空心ソレノイドコイル等のコイル50が配設
されている。導波管40とマイクロ波発生装置6
0とは、導波管、同軸ケーブル等のマイクロ波伝
播手段70で連結されている。放電管30の放電
領域に対応して基板電極80が設けられ、この基
板電極80はバイアス用の高周波電源90に接続
されている。基板電極80の外側には、表面をプ
ラズマの流れ方向に対して直角として高周波バイ
アス用アース電極100がサポート101に設け
られている。電極80と高周波バイアス用アース
電極100とは、真空容器20と電気的に絶縁さ
れ、高周波バイアス用アース電極100はサポー
ト101を介してアースされている。真空容器2
0のノズルは、ガス導管(図示省略)により処理
ガス供給装置(図示省略)に連結されている。
第1図で、真空容器20と放電管30とで形成
された空間110には、外部より公知の搬送手段
(図示省略)で被処理物、例えば、基板120が
搬入され、基板120は電極80に被処理面を上
面として載置される。空間110は真空排気装置
10の作動により所定圧力まで減圧排気される。
その後、空間110には、処理ガス供給装置より
ノズル21を経て処理ガスが所定流量で導入され
ると共に、空間110の圧力は、真空排気装置1
0の作動により処理圧力に調整されて維持され
る。一方、マイクロ波発生装置60で発生した
2.45GHzのマイクロ波は、マイクロ波伝播手段7
0を伝播して導波管40に導入された後に放電管
30に吸収され、これにより電界が生じる。ま
た、コイル50に所定電流を独立して通電するこ
とが磁場が発生する。これら電場と磁場との印加
により放電管30の放電領域には放電が生じ、こ
の放電により処理ガスはプラズマ化される。更に
高周波電源90から周波数が100KHz〜10MHzの
高周波電圧が電極80に引加され、これによりプ
ラズマ中のイオンは加速される。このようなプラ
ズマにより基板120は処理され、その後、処理
済みの基板120は公知の搬送手段で外部へ搬出
される。
このようなマイクロ波プラズマ処理装置では、
次のような点があつた。
(1) 高周波バイアス用アース電極の有効面積を電
極の面積に対して、3倍以上にしなければなら
ないため、高周波バイアス用アース電極の寸法
が大きくなる。したがつて、この寸法で決定さ
れる放電管およびコイルが必要以上に大きくな
り装置が大型化するため、装置の専有床面積が
増大する。
(2) 装置の大型化を伴い、そのメンテナンス性が
低下する。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、装置の専有床面積を狭小化で
きるマイクロ波プラズマ処理装置を提供すること
にある。
〔発明の概要〕 本発明は、イオンがバイアス電圧の印加により
加速されるマイクロ波プラズマより処理される被
処理物が設置される電極の外側で、かつ、プラズ
マの流れ孔方向表面を沿わせてバイアス用アース
電極を配設したことを特徴とするもので、上記バ
イアス用アース電極の寸法を必要な有効面積を維
持して少さくし、該バイアス用アース電極の寸法
で決定される装置部品が必要以上に大きくなるの
を抑制して装置を小型化しようとしたものであ
る。
〔発明の実施例〕
プラズマ中のイオンを加速するために、バイア
ス電圧、例えば、高周波電圧が印加される場合、
そのバイアス用アース電極、つまり、高周波バイ
アス用アース電極の表面をプラズマの流れ方向に
対して垂直にすれば効率が高く有効であるが、こ
の他に、高周波バイアス用アース電極の表面をプ
ラズマの流れ方向に沿うようにしても効果がある
ことが解つた。これは、本発明者等が種々検討を
重ねた結果、確認されたことであつて、例えば、
処理圧力1×10-3Torr、処理ガスC3F8、マイク
ロ波2.45GHz、出力140W、高周波周波数800KHz
の条件で、高周波バイアス用アース電極の全表面
積の10〜20%が有効利用された。本発明は、この
ような知見のもとになされたものである。
以下、本発明の一実施例を第2図〜第4図によ
り説明する。なお、第2図で第1図と同一装置等
は同一符号で示し説明を省略する。第2図で、高
周波バイアス用アース電極100′の形状は円筒
であり、高周波バイアス用アース電極100′は、
基板電極80の外側で、かつ、その表面がプラズ
マの流れ方向に沿うように1個以上、第3図に示
すように電極80の中心を中心として6〜10mm間
隔を有しサポート101′に同心状に配設されて
いる。なお、高周波バイアス用アース電極10
0′は、金属汚染を防止するため、高純度のアル
ミニウムで形成することが望ましい。
この場合、高周波電圧のピーク−ピーク間電圧
値(Vp-p)、即ち、振幅と、電圧のゼロレベルを
基準としたプラス側ピーク電圧値とマイナス側ピ
ーク電圧値との相加平均値(Vdc)、即ち、高周
波波形の直流成分との関係は第4図に示すように
なる。第4図で、振幅の値は、高周波出力の増加
と共に増大し、また、高周波波形の直流成分は、
振幅の値が増大するのに従つて比例的に増大す
る。この高周波波形の直流成分が負の電圧とな
り、プラズマ中のイオンはこの負の電圧によつて
加速され、被処理物、例えば、基板120の被処
理面に入射し、これにより基板120は処理され
る。なお、処理ガスのプラズマ化等は、従来技術
と同様であり説明を省略する。
例えば、6インチ基板を処理する場合、高周波
バイアス用電極の必要な有効面積は530cm2である。
この結果、従来技術における放電管の内径は約32
cmおよびコイル外径は約50cmと必要以上に大きく
なり装置が大型化する。これに対し本実施例のよ
うな装置では、高周波バイアス用アース電極の全
表面積の10〜20%が有効とされ放電管の内径は約
25cmおよびコイルの外径は約45cmと小さくなり装
置をその分だけ小型化できる。
本実施例のようなマイクロ波プラズマ処理装置
では、次のような効果が得られる。
(1) 装置を小型化でき、装置の専有面積を狭小化
できる。
(2) 装置を小型化でき、そのメンテナンス性の低
下を抑制できる。
なお、本実施例では、高周波バイアス用アース
電極の形状を円筒として同心状に1個以上配設し
ているが、その他に、高周波バイアス用アース電
極の形状を帯板とし、これをスパイラル状に巻い
て配設しても良い。更に、形状が円筒の高周波バ
イアス用アース電極の配設個数等は、実用上許容
し得る個数適宜選定すれば良い。また、プラズマ
中のイオンを加速するためのバイアス電圧として
は、上記一実施例での周波数とは異なる周波数の
交流電圧、直流電圧が採用し得る。また、磁界を
用いずにプラズマを生成するタイプの装置にも採
用し得る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、バイアス用アース電極の寸法
を必要な有効面積を接続して小さくできるので、
該バイアス用アース電極の寸法で決定される装置
部品が必要以上に大きくなるのを抑制して装置を
小型化でき装置の専有床面積を狭小化できるとい
う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、従来のマイクロ波プラズマ処理装置
の縦断面図、第2図は、本発明によるマイクロ波
プラズマ処理装置の一実施例を示す縦断面図、第
3図は、第2図のA−A視断面図、第4図は、第
2図の装置により得た高周波電圧の振幅と負の電
圧との関係線図である。 30……放電管、40……導波管、50……コ
イル、60……マイクロ波発生装置、70……マ
イクロ波伝播手段、80……電極、90……高周
波電源、100′……高周波バイアス用アース電
極、120……基板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 磁界とマイクロ波により生成された電界とに
    より処理ガスをプラズマ化すると共に、基板電極
    とアース電極間にバイアス用の高周波電圧を印加
    して前記プラズマ中のイオンを加速し、前記基板
    電極上に載置された被処理物を処理する装置にお
    いて、前記基板電極の外側で、かつ、前記プラズ
    マの流れ方向に表面を沿わせて前記バイアス用の
    アース電極を配置したことを特徴とするマイクロ
    波プラズマ処理装置。
JP1325184A 1984-01-30 1984-01-30 マイクロ波プラズマ処理装置 Granted JPS60158629A (ja)

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JPS60158629A JPS60158629A (ja) 1985-08-20
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JP2680065B2 (ja) * 1988-09-22 1997-11-19 株式会社日立製作所 プラズマクリーニング方法
JP3542514B2 (ja) * 1999-01-19 2004-07-14 株式会社日立製作所 ドライエッチング装置

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