JPH0465342B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0465342B2
JPH0465342B2 JP58204719A JP20471983A JPH0465342B2 JP H0465342 B2 JPH0465342 B2 JP H0465342B2 JP 58204719 A JP58204719 A JP 58204719A JP 20471983 A JP20471983 A JP 20471983A JP H0465342 B2 JPH0465342 B2 JP H0465342B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
axis direction
ultrasonic
image
magnification
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP58204719A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS6097261A (en
Inventor
Fumio Uchino
Junichi Ishibashi
Otaro Ando
Hitoshi Tateoka
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP20471983A priority Critical patent/JPS6097261A/en
Publication of JPS6097261A publication Critical patent/JPS6097261A/en
Publication of JPH0465342B2 publication Critical patent/JPH0465342B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/04Analysing solids
    • G01N29/06Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
    • G01N29/0609Display arrangements, e.g. colour displays
    • G01N29/0618Display arrangements, e.g. colour displays synchronised with scanning, e.g. in real-time
    • G01N29/0627Cathode-ray tube displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/52Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
    • G01S7/56Display arrangements
    • G01S7/62Cathode-ray tube displays
    • G01S7/6281Composite displays, e.g. split-screen, multiple images

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は超音波顕微鏡、特に試料の広範囲の部
分の低倍率の超音波像と、その中の微小部位の高
倍率の超音波像とを表示することができる超音波
顕微鏡に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] Technical Field The present invention is an ultrasound microscope, and in particular, it is capable of displaying a low-magnification ultrasound image of a wide area of a sample and a high-magnification ultrasound image of a minute part thereof. This relates to ultrasonic microscopes.

従来技術 従来、音響レンズと圧電トランスジユーサを有
する超音波ヘツドを加振装置によりX軸方向に微
小に振動させると共に試料を載置した試料台をY
軸方向に移動させて試料を2次元的に走査しなが
ら超音波ビームを投射してCRT表示装置上に試
料の超音波像を表示する超音波顕微鏡は既知であ
る。このような超音波顕微鏡を用いて、例えば
ICウエフア等の平坦な表面を有する試料を観察
する場合には試料の広範囲の部分を低倍率の画面
として表示すると共に試料の微小部位をさらに拡
大して高倍率の画面として表示することが望まし
い。この場合には、先ず最初に低分解能の超音波
ヘツドを装着し、X軸およびY軸送り機構を用い
て低倍率の超音波像を表示し、この像を観察しな
がら、さらに詳細に観察すべき部位を見出し、X
軸およびY軸方向送り機構を駆動して所望の部位
が検鏡位置に来るようにし、超音波ヘツドを高分
解能のものと交換し、加振装置を用いて所望の部
位の高倍率像を表示するようにしている。この場
合、低倍率の超音波像を観察しながらさらに高倍
率で観察すべき部位を探し出すので、低倍率像と
高倍率像との位置関係を明確に知ることができ
ず、検査部位の特定を明確に行なうことができな
い欠点がある。また、低倍率の像を見ながら高倍
率で観察すべき部位を検鏡位置に位置決めする際
にも相当面倒な操作が必要となると共にかなりの
熟練が要求される欠点もある。また、試料の複数
の部位を高倍率で観察したい場合には、一つの部
位の観察が終つた後に再び低分解能の超音波ヘツ
ドに交換して試料の広範囲の像を表示し、これを
観察しながら次に高倍率で検査すべき部位を探す
と云うきわめて面倒な作業が必要になり、全体の
検査時間が著しく長くなる欠点がある。
Conventional technology Conventionally, an ultrasonic head having an acoustic lens and a piezoelectric transducer was slightly vibrated in the
2. Description of the Related Art Ultrasonic microscopes are known that display an ultrasonic image of a sample on a CRT display device by projecting an ultrasonic beam while moving the sample in the axial direction to two-dimensionally scan the sample. Using such an ultrasound microscope, e.g.
When observing a sample with a flat surface such as an IC wafer, it is desirable to display a wide area of the sample on a low-magnification screen, and to further enlarge minute parts of the sample and display them on a high-magnification screen. In this case, first attach a low-resolution ultrasound head, display a low-magnification ultrasound image using the X-axis and Y-axis feed mechanisms, and then observe this image in more detail. Find the part that should be done, and
Drive the axial and Y-axis direction feed mechanisms to bring the desired area to the speculum position, replace the ultrasound head with a high-resolution one, and use the vibration device to display a high-magnification image of the desired area. I try to do that. In this case, while observing a low-magnification ultrasound image, the area to be observed at a higher magnification is searched for, so it is not possible to clearly know the positional relationship between the low-magnification image and the high-magnification image, and it is difficult to identify the area to be examined. There is a drawback that it cannot be done clearly. Furthermore, when positioning a region to be observed at high magnification at the speculum position while looking at a low-magnification image, there is also the disadvantage that a considerably troublesome operation is required and a considerable degree of skill is required. In addition, if you want to observe multiple parts of the sample at high magnification, after you have finished observing one part, switch to a lower-resolution ultrasound head again to display a wider image of the sample and observe this. However, this method requires the extremely troublesome work of searching for the next region to be inspected at high magnification, which has the disadvantage that the overall inspection time is significantly longer.

発明の目的 本発明の目的は上述した欠点を除去し、試料の
広範囲の部分の低倍率の超音波像と、その中の任
意の微小部位の高倍率の超音波像とをきわめて簡
単な操作によつて表示することができ、しかも、
両超音波像の位置関係を観察者が明確に把握する
ことができる超音波顕微鏡を提供しようとするも
のである。
OBJECT OF THE INVENTION The purpose of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks, and to make it possible to obtain a low-magnification ultrasound image of a wide area of a sample and a high-magnification ultrasound image of any minute part within it with extremely simple operation. It can be tilted and displayed, and
The present invention aims to provide an ultrasound microscope that allows an observer to clearly grasp the positional relationship between both ultrasound images.

発明の概要 本発明の超音波顕微鏡は、試料と超音波ヘツド
とをX軸方向およびY軸方向に相対的に移動させ
るX軸方向送り機構およびY軸方向送り機構と、
試料と超音波ヘツドとをZ軸方向に相対的に移動
させるZ軸方向送り機構と、前記超音波ヘツドを
X軸方向に微小振動させる加振装置と、前記Z軸
送り機構を駆動して超音波ヘツドから放射される
超音波ビームを試料の内部で集束させた状態で、
前記X軸方向およびY軸方向送り機構により試料
と前記超音波ヘツドとを相対的に移動させて広範
囲の2次元走査を行つて得られる低分解能、低倍
率の超音波像を表示する第1の表示装置と、この
第1の表示装置で表示される試料の超音波像中の
任意の位置を指定できる座標入力装置と、この座
標入力装置によつて指定された任意の位置に対応
する試料の微小部位を、前記Z軸送り機構を駆動
して超音波ヘツドから放射される超音波ビームを
試料の表面で集束させた状態で、前記加振装置お
よびY軸方向送り機構に2次元走査して得られる
高分解能、高倍率の超音波像を表示する第2の表
示装置とを具えることを特徴とするものである。
Summary of the Invention The ultrasonic microscope of the present invention includes an X-axis direction feeding mechanism and a Y-axis direction feeding mechanism that relatively move the sample and the ultrasonic head in the X-axis direction and the Y-axis direction;
A Z-axis direction feeding mechanism that relatively moves the sample and the ultrasonic head in the Z-axis direction, an excitation device that makes minute vibrations of the ultrasonic head in the X-axis direction, and an ultrasonic With the ultrasonic beam emitted from the sonic head focused inside the sample,
A first display unit that displays a low-resolution, low-magnification ultrasonic image obtained by relatively moving the sample and the ultrasonic head using the X-axis direction and Y-axis direction feeding mechanism to perform two-dimensional scanning over a wide range. a display device, a coordinate input device that can specify an arbitrary position in the ultrasonic image of the sample displayed on the first display device, and a coordinate input device that can specify an arbitrary position in the ultrasonic image of the sample displayed on the first display device; Two-dimensional scanning of a microscopic region is performed using the vibrating device and the Y-axis direction feed mechanism while driving the Z-axis feed mechanism to focus the ultrasonic beam emitted from the ultrasonic head on the surface of the sample. The present invention is characterized by comprising a second display device that displays the obtained high-resolution, high-magnification ultrasonic image.

実施例 以下図面を参照して本発明を詳細に説明する。Example The present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

第1図は本発明の超音波顕微鏡の一例の構成を
示すブロツク図である。音響レンズ1と圧電トラ
ンスジユーサ2を有する超音波ヘツド3は加振装
置4の加振軸4aに装着する。検査すべき試料5
は試料台6上に載置し、超音波ヘツド3と試料5
との間には超音波伝播媒質、例えば水7を介在さ
せる。本例では、この試料台6をXYテーブルを
以つて構成し、これをX軸方向送り機構8および
Y軸方向送り機構9によつてXおよびY軸方向に
移動できるように構成する。加振装置4は超音波
ヘツド3をX軸方向に微小範囲で高速に振動させ
るものであり、例えばムービングコイル装置を以
つて構成することができる。一方、XおよびY軸
方向送り機構8および9は試料5を超音波ヘツド
3に対して広範囲に亘つて移動させるものであ
り、例えばモータとリードスクリユウを具えるリ
ニア駆動機構を以つて構成することができる。本
例ではさらに、試料台6を超音波ビームの投射方
向であるZ方向に移動させるZ軸方向送り機構1
0をも設け、超音波ヘツド3と試料5との間の距
離を調整することができるように構成する。さら
に試料台6はゴニオメータによつて支持されてお
り、X軸およびY軸を中心として回動させること
によつて試料台の傾きを調整することができるよ
うになつているが第1図では、図面を明瞭とする
ためにこの機構は省略してあり、これについては
後に詳述する。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an example of an ultrasonic microscope according to the present invention. An ultrasonic head 3 having an acoustic lens 1 and a piezoelectric transducer 2 is attached to an excitation shaft 4a of an excitation device 4. Sample to be tested 5
is placed on the sample stage 6, and the ultrasonic head 3 and sample 5
An ultrasonic propagation medium, such as water 7, is interposed between the two. In this example, the sample stage 6 is configured with an XY table, and is configured to be movable in the X and Y axis directions by an X-axis direction feeding mechanism 8 and a Y-axis direction feeding mechanism 9. The vibration device 4 vibrates the ultrasonic head 3 at high speed in a minute range in the X-axis direction, and can be configured with a moving coil device, for example. On the other hand, the X- and Y-axis direction feeding mechanisms 8 and 9 move the sample 5 over a wide range with respect to the ultrasonic head 3, and are configured, for example, by a linear drive mechanism equipped with a motor and a lead screw. be able to. In this example, a Z-axis direction feeding mechanism 1 is further provided to move the sample stage 6 in the Z direction, which is the projection direction of the ultrasonic beam.
0 is also provided so that the distance between the ultrasonic head 3 and the sample 5 can be adjusted. Furthermore, the sample stage 6 is supported by a goniometer, and the inclination of the sample stage can be adjusted by rotating it around the X and Y axes. This feature has been omitted for clarity of the drawing and will be described in detail later.

次に第1図に示す本発明の超音波顕微鏡の電気
回路部分について説明する。
Next, the electric circuit portion of the ultrasonic microscope of the present invention shown in FIG. 1 will be explained.

制御回路11からの制御信号に同期したバース
ト状高周波パルス信号を高周波発生器12から発
生させ、バツフアアンプ13で増幅した後、サー
キユレータ14を介して超音波ヘツド3の圧電ト
ランスジユーサ2に加えて、前記バースト状高周
波パルス信号のバースト周波数に対応した超音波
に変換する。この超音波を、音響レンズ1により
集束して超音波ビームスポツトを試料5に投射
し、その反射波を音響レンズ1によつて集めて圧
電トランスジユーサ2により電気信号に変換す
る。この受信信号中には、音響レンズ1での内部
多重反射した超音波によるものや、サーキユレー
タ14の漏えいバースト状高周波パルス信号等の
不正な不要信号を含んでいるので、これをゲート
15に導き、制御回路11からの所定タイミング
を有するゲート信号により、試料5からの直接の
反射波に相当する受信信号のみを取り出す。これ
をアツテネータ16を介して高周波増幅回路17
により増幅し、混合器18に導き局部発振器19
からの局部発振周波数信号と混合して中間周波数
信号に変換する。この中間周波数信号は、中間周
波数増幅器20を介して検波器21に供給され、
ここで包絡線検波された後、ブランキング回路2
2に入力する。このブランキング回路22には制
御回路11から制御信号を供給してゲート15か
ら漏れた不要信号を阻止し、試料5からの直接の
反射波に相当する受信信号のみを取り出すように
する。ブランキング回路22の出力をピーク検波
回路23によりピーク検波し、このようにして得
られた検波出力信号をリミツタ24を経て第1お
よび第2のスキヤンコンバータ25および26の
いずれか一方に導く。これらのスキヤンコンバー
タには制御回路11から、加振装置4によるX軸
走査周期に関連した同期情報信号および試料台6
のX軸およびY軸走査周期に関連した同期情報信
号が供給され、スキヤンコンバータ内の画像メモ
リの所定位置にリミツタ24からの出力画像信号
を順次一時記憶する。これをテレビジヨン走査周
期によつて連続的に繰り返して読み出すとともに
同期情報を付加してテレビジヨン信号に変換し、
第1および第2のテレビジヨン画像モニタ27お
よび28に供給して画像再生することにより超音
波顕微鏡像を得ている。さらに、制御回路11、
第1および第2のスキヤンコンバータ25および
26を制御するための中央処理装置29とライト
ペン30とを設ける。
A burst high-frequency pulse signal synchronized with the control signal from the control circuit 11 is generated from the high-frequency generator 12, amplified by the buffer amplifier 13, and then sent to the piezoelectric transducer 2 of the ultrasonic head 3 via the circulator 14. The burst high-frequency pulse signal is converted into an ultrasonic wave corresponding to the burst frequency. This ultrasonic wave is focused by an acoustic lens 1 to project an ultrasonic beam spot onto the sample 5, and its reflected waves are collected by the acoustic lens 1 and converted into electrical signals by a piezoelectric transducer 2. This received signal contains illegal unnecessary signals such as ultrasonic waves that have been internally reflected multiple times on the acoustic lens 1 and burst-like high-frequency pulse signals leaked from the circulator 14, so they are guided to the gate 15. By using a gate signal having a predetermined timing from the control circuit 11, only the received signal corresponding to the direct reflected wave from the sample 5 is extracted. This is passed through an attenuator 16 to a high frequency amplification circuit 17.
The signal is amplified by a mixer 18 and fed to a local oscillator 19
It is mixed with the local oscillation frequency signal from and converted into an intermediate frequency signal. This intermediate frequency signal is supplied to a detector 21 via an intermediate frequency amplifier 20,
After the envelope is detected here, the blanking circuit 2
Enter 2. A control signal is supplied from the control circuit 11 to the blanking circuit 22 to block unnecessary signals leaking from the gate 15 and extract only the received signal corresponding to the direct reflected wave from the sample 5. The output of the blanking circuit 22 is peak-detected by a peak detection circuit 23, and the detected output signal thus obtained is guided to one of the first and second scan converters 25 and 26 via a limiter 24. These scan converters are supplied with synchronization information signals related to the X-axis scanning period by the vibration device 4 and the sample stage 6 from the control circuit 11.
A synchronization information signal related to the X-axis and Y-axis scanning period of the limiter 24 is supplied, and the output image signals from the limiter 24 are sequentially temporarily stored in predetermined positions of the image memory in the scan converter. This is continuously and repeatedly read out according to the television scanning period, and synchronization information is added to convert it into a television signal.
An ultrasonic microscope image is obtained by supplying it to the first and second television image monitors 27 and 28 and reproducing the image. Furthermore, the control circuit 11,
A central processing unit 29 and a light pen 30 are provided for controlling the first and second scan converters 25 and 26.

本実施例においては、上述したように第1およ
び第2のスキヤンコンバータ25および26を設
け、2画面分の画像を記憶できるようにする。す
なわち、最初に低倍率の画像信号を取り出して第
1スキヤンコンバータ25に記憶し、試料5の広
範囲の部分の低倍率の超音波像を第1モニタ27
状に表示する。オペレータはこの低倍率の超音波
像を見ながら、さらに高倍率の観察したい部位を
探し出し、該当する部位にライトペン30を当て
てその座標を中央処理装置29へ入力する。中央
処理装置ではこの入力座標に応じて、制御回路1
1を介してX軸およびY軸方向送り機構8および
9を駆動し、ライトペン30によつて指定された
部位を検鏡位置に位置決めする。次に加振装置4
とY軸方向送り機構9を駆動して指定された部位
を二次元走査し、その画像信号を第2スキヤンコ
ンバータ26の画像メモリに記憶し、微小部位の
高倍率超音波像を第2モニタ28上に表示する。
このようにして試料の広範囲の部分の超音波像
と、その中の任意の微小部位の拡大超音波像とを
表示することができるので、両観察部位の位置関
係を明確に把握することができる。また、第1ス
キヤンコンバータ25に記憶している画像信号は
そのままとしておき、別の微小部位をライトペン
30によつて指定することによつて新たにこの部
位の高倍率超音波像を第2モニタ28上に表示す
ることができる。この場合、ライトペン30によ
つて指定された部位を第1モニタ上で、例えばカ
ーソルによつて表示するようにしてもよい。
In this embodiment, as described above, the first and second scan converters 25 and 26 are provided so that images for two screens can be stored. That is, first, a low-magnification image signal is extracted and stored in the first scan converter 25, and a low-magnification ultrasonic image of a wide area of the sample 5 is displayed on the first monitor 27.
Display as follows. While viewing this low-magnification ultrasonic image, the operator searches for a region to be observed at higher magnification, places the light pen 30 on the corresponding region, and inputs its coordinates to the central processing unit 29. The central processing unit controls the control circuit 1 according to the input coordinates.
1 to drive the X-axis and Y-axis direction feeding mechanisms 8 and 9 to position the region specified by the light pen 30 at the speculum position. Next, the vibration device 4
drive the Y-axis direction feed mechanism 9 to two-dimensionally scan the specified region, store the image signal in the image memory of the second scan converter 26, and display the high-magnification ultrasonic image of the minute region on the second monitor 28. Display above.
In this way, it is possible to display an ultrasonic image of a wide area of the sample and an enlarged ultrasonic image of any minute area within it, making it possible to clearly understand the positional relationship between the two observation areas. . In addition, by leaving the image signal stored in the first scan converter 25 as it is and specifying another minute region with the light pen 30, a new high-magnification ultrasound image of this region is displayed on the second monitor. It can be displayed on 28. In this case, the region designated by the light pen 30 may be displayed on the first monitor using, for example, a cursor.

上述したように、本実施例によれば低倍率の像
および高倍率の像を表示することができるが、こ
れは主として中央処理装置29を構成するコンピ
ユータによつて制御することができる。次に、こ
の中央処理装置29の動作を中心として各部の動
作を詳細に説明する。
As described above, according to this embodiment, a low-magnification image and a high-magnification image can be displayed, and this can be mainly controlled by the computer constituting the central processing unit 29. Next, the operation of each part will be explained in detail, focusing on the operation of the central processing unit 29.

第2図は低倍率の超音波像を得る際のフローチ
ヤートを示すものである。低倍率の超音波像を得
るときには、上述したように加振装置4は駆動せ
ず、X軸およびY軸方向送り機構8および9によ
つて試料台6を移動させて2次元走査を行なう
が、この場合には先ず、2次元走査の位置および
範囲を指定する。例えば第3図に示すように2次
元走査すべき範囲FLの点P0およびP1の座標をそ
れぞれ(X0、Y0)および(X1、Y1)とすると、
これらの座標をキーボードに設けたキーを操作し
て入力する。このとき、超音波ヘツド3による検
鏡軸が点P0(X0、Y0)にないときは、X軸および
Y軸方向送り機構8および9を駆動して検鏡軸を
点P0(X0、Y0)に一致させる。このようにして初
期設定が終了したら、高周波パルス発生器12を
駆動して超音波パルスを試料5へ向け投射し、そ
の反射パルスを受信し、これに対応する画像信号
をゲート15によつて抽出し、第1スキヤンコン
バータ25の画像メモリの対応するアドレス位置
に記憶する。次にX軸方向送り機構8を駆動して
試料台6をX軸方向へ1ステツプだけ移動させ、
同様の動作を行なつて画像メモリのX方向に見た
次のアドレス位置に画像信号を記憶する。このよ
うな動作をX−X1となるまで繰返し行ない、1
ライン分の画像情報を第1スキヤンコンバータ2
5の画像メモリの1ラインに順次記憶する。次に
X−X1となつたら、X軸方向送り機構8を駆動
してX−X0の位置まで復帰させると共にY軸方
向送り機構9を駆動して試料台6をY軸方向に1
ステツプ移動させた後、上述した動作を繰返して
2ライン目の画像信号を第1スキヤンコンバータ
25の画像メモリの第2ライン目に記憶する。こ
の動作をY−Y1となるまで繰返すことにより、
第1スキヤンコンバータ25の画像メモリ内に
は、第3図の広範囲の部分FLを表わす1画面分
の画像信号が記憶されることになる。
FIG. 2 shows a flowchart when obtaining a low-magnification ultrasonic image. When obtaining a low-magnification ultrasonic image, as described above, the excitation device 4 is not driven, and the sample stage 6 is moved by the X-axis and Y-axis direction feeding mechanisms 8 and 9 to perform two-dimensional scanning. In this case, first, the position and range of two-dimensional scanning are specified. For example, as shown in FIG. 3, if the coordinates of points P 0 and P 1 in the range F L to be two-dimensionally scanned are (X 0 , Y 0 ) and (X 1 , Y 1 ), respectively,
These coordinates are input by operating keys provided on the keyboard. At this time, if the speculum axis of the ultrasound head 3 is not at the point P 0 (X 0 , Y 0 ), the X-axis and Y-axis direction feed mechanisms 8 and 9 are driven to move the speculum axis to the point P 0 ( X 0 , Y 0 ). After the initial settings are completed in this way, the high-frequency pulse generator 12 is driven to project an ultrasonic pulse toward the sample 5, the reflected pulse is received, and the corresponding image signal is extracted by the gate 15. and stores it in the corresponding address location of the image memory of the first scan converter 25. Next, drive the X-axis direction feed mechanism 8 to move the sample stage 6 by one step in the X-axis direction.
A similar operation is performed to store the image signal at the next address position viewed in the X direction of the image memory. Repeat this operation until X-X 1 is reached, and 1
The image information for the line is converted to the first scan converter 2.
The images are sequentially stored in one line of the image memory No. 5. Next, when X-X 1 is reached, the X-axis direction feed mechanism 8 is driven to return it to the X-X 0 position, and the Y-axis direction feed mechanism 9 is driven to move the sample stage 6 1 in the Y-axis direction.
After the step movement, the above-described operation is repeated to store the image signal of the second line in the second line of the image memory of the first scan converter 25. By repeating this operation until Y-Y 1 ,
In the image memory of the first scan converter 25, one screen worth of image signals representing the wide range F L in FIG. 3 is stored.

第4図は高倍率の超音波像を得る際の動作を表
わすフローチヤートである。上述したようにして
第1モニタ27上に表示される低倍率の像を観察
しながら、ライトペン30の先端を所望の部位の
中心に当てて、ライトペンに設けられているスイ
ツチを駆動する。これによつて第3図に示すよう
に所望の部位FHの中心座標(Xm、Ym)が中央
処理装置29に入力される。この場合視野の大き
さ(D×W)はキーボードのキーを操作して予じ
め入力してある。すなわち、加振装置4によるX
軸方向の振幅(走査幅)Wと、Y軸方向送り機構
9によるY軸方向の走査幅Dとが入力されてい
る。この大きさは、例えば4段階に切換えること
ができるようになつている。中央処理装置29で
は上述した入力データD,W,Xm,Ymに基い
て微小部位の点P0′、P1′およびPmの座標を以下
のようにして演算する。
FIG. 4 is a flowchart showing the operation when obtaining a high-magnification ultrasonic image. While observing the low magnification image displayed on the first monitor 27 as described above, the user places the tip of the light pen 30 at the center of a desired area and drives the switch provided on the light pen. As a result, the center coordinates (Xm, Ym) of the desired site FH are input to the central processing unit 29 as shown in FIG. In this case, the size of the field of view (D×W) is input in advance by operating keys on the keyboard. That is, X caused by the vibration device 4
The amplitude (scanning width) W in the axial direction and the scanning width D in the Y-axis direction by the Y-axis direction feeding mechanism 9 are input. This size can be changed over, for example, in four stages. The central processing unit 29 calculates the coordinates of the points P 0 ′, P 1 ′, and Pm of the minute portions in the following manner based on the input data D, W, Xm, and Ym described above.

P0′(X0′、Y0′)−P0′(Xm−W/2、Ym−D/
2) P1′(X1′、Y1′)−P1′(Xm+W/2、Ym+
D/2 Pm(Xm、Ym−D/2) 次に制御回路11を介してX軸およびY軸方向
送り機構8および9を駆動して、超音波ヘツド3
の検鏡軸を点Pmと一致させる。このようにして
初期設定をした後、加振装置4を駆動して超音波
ヘツド3をX軸方向へ振動させ、超音波ヘツド3
から超音波ビームを試料5に放射し、その反射波
を受信して電気信号に変換して適切に処理して第
2スキヤンコンバータ26の画像メモリに記憶す
る。すなわち、加振装置4によつて超音波ヘツド
3を振幅Wで1往復させて位置Xmが2回検出さ
れたときに、Y軸方向送り機構9を駆動して試料
台6をY軸方向へ1ピツチ移動させ、再び超音波
ヘツド3をX軸方向へ1往復させる。上述した動
作をY−Y1′となるまで順次に繰返して試料の微
小部位FHを二次元的に走査して得られる画像信
号を第2スキヤンコンバータ26の画像メモリへ
記憶することができる。この場合、第2モニタ2
8上に表示される微小部位FHの拡大像は第1モ
ニタ27上に表示されている広範囲の部分FL
低倍率像の中からライトペン30を用いて任意に
選択することができ、両画像の位置関係を明確に
知ることができる。また、広範囲の部分FLの中
の他の微小部位の高倍率像を表示したい場合には
ライトペン30によつて新たにその位置を指定す
るだけでよく、その操作は非常に簡単である。
P 0 ′(X 0 ′, Y 0 ′)−P 0 ′(Xm−W/2, Ym−D/
2) P 1 ′(X 1 ′, Y 1 ′)−P 1 ′(Xm+W/2, Ym+
D/2 Pm (Xm, Ym - D/2) Next, the X-axis and Y-axis direction feeding mechanisms 8 and 9 are driven via the control circuit 11 to move the ultrasonic head 3.
Align the speculum axis with point Pm. After making the initial settings in this way, the vibration excitation device 4 is driven to vibrate the ultrasonic head 3 in the X-axis direction.
emits an ultrasonic beam to the sample 5, receives the reflected wave, converts it into an electrical signal, processes it appropriately, and stores it in the image memory of the second scan converter 26. That is, when the vibration device 4 causes the ultrasonic head 3 to reciprocate once with the amplitude W and the position Xm is detected twice, the Y-axis direction feeding mechanism 9 is driven to move the sample stage 6 in the Y-axis direction. The ultrasonic head 3 is moved one pitch, and then the ultrasonic head 3 is made to reciprocate once in the X-axis direction. The image signal obtained by two-dimensionally scanning the minute portion F H of the sample by sequentially repeating the above-described operation until Y-Y 1 ' is reached can be stored in the image memory of the second scan converter 26. In this case, the second monitor 2
The enlarged image of the minute part F H displayed on the first monitor 27 can be arbitrarily selected using the light pen 30 from among the low magnification images of the wide area F L displayed on the first monitor 27. The positional relationship between both images can be clearly known. Further, if it is desired to display a high-magnification image of another minute part within the wide area F L , it is only necessary to newly designate the position using the light pen 30, and the operation is very simple.

上述したように、試料の広範囲の部分の低倍率
像を表示するときは低分解能の超音波ヘツドを用
い、微小部位の高倍率像を表示するときは高分解
能の超音波ヘツドを用いる必要がある。これはそ
の都度超音波ヘツドを交換することにより行なう
こともできるが、本発明では同じ超音波ヘツドを
用いて低倍率および高倍率の像の双方を表示する
ことができる。以下、これについて説明する。
As mentioned above, it is necessary to use a low-resolution ultrasound head when displaying a low-magnification image of a wide area of the sample, and a high-resolution ultrasound head when displaying a high-magnification image of a minute area. . Although this can be done by changing the ultrasound head each time, the present invention allows the same ultrasound head to be used to display both low and high magnification images. This will be explained below.

第5図Aは低倍率の超音波像を得る場合の超音
波ヘツド3と試料5との位置関係を示すものであ
り、この場合には超音波ヘツド3から放射される
超音波ビームが試料5の内部で集束されるように
距離l1を調整して、第6図Aに示すように直径の
大きな超音波スポツトが試料5の表面上に投射さ
れるようにする。この試料5の表面からの反射波
を選択的に取出すことにより低倍率の超音波画像
を得ることができる。一方、高倍率の超音波像を
得るときには、第5図Bに示すように超音波ヘツ
ド3から放射される超音波ビームが丁度試料5の
表面で集束するように両者の距離l2を第5図Aに
示す距離l1よりも長く調整する。この場合には、
第6図Bに示すように最小の径の超音波ビームス
ポツトが試料表面上に投射されることになり、高
分解能の走査が行なわれ、高倍率の超音波像が表
示されることになる。このように超音波ヘツド3
と試料5との間の距離を調整するのは、第1図に
示すZ軸方向送り機構10を駆動して行なうこと
ができる。
FIG. 5A shows the positional relationship between the ultrasonic head 3 and the sample 5 when obtaining a low-magnification ultrasonic image. The distance l 1 is adjusted so that the ultrasonic wave spot is focused within the sample 5 so that a large diameter ultrasonic spot is projected onto the surface of the sample 5 as shown in FIG. 6A. By selectively extracting the reflected waves from the surface of the sample 5, a low-magnification ultrasonic image can be obtained. On the other hand, when obtaining a high-magnification ultrasonic image, the distance l2 between the two is set to 5 so that the ultrasonic beam emitted from the ultrasonic head 3 is exactly focused on the surface of the sample 5, as shown in FIG. 5B. Adjust the distance l 1 longer than shown in diagram A. In this case,
As shown in FIG. 6B, the ultrasonic beam spot with the smallest diameter is projected onto the sample surface, high-resolution scanning is performed, and a high-magnification ultrasonic image is displayed. In this way, the ultrasonic head 3
The distance between the sample 5 and the sample 5 can be adjusted by driving the Z-axis direction feeding mechanism 10 shown in FIG.

上述したように、本例の超音波顕微鏡において
は試料台6をゴニオメータによつて支持し、X軸
およびY軸方向の傾きを調整することができるよ
うになつている。すなわち、第7図に示すように
ゴニオメータ31には試料台6をY軸を中心とし
て回動してX軸方向の傾きを調整するX軸方向調
整用モータ32と、X軸を中心として回動してY
軸方向の傾きを調整するY軸方向調整用モータ3
3とを設け、これらのモータを適当に駆動して試
料台6上に載置される試料の表面が超音波ビーム
の投射方向に対して垂直となるようにする。以
下、その動作を第8図を参照して説明する。
As described above, in the ultrasonic microscope of this example, the sample stage 6 is supported by a goniometer, and the inclination in the X-axis and Y-axis directions can be adjusted. That is, as shown in FIG. 7, the goniometer 31 includes an X-axis adjustment motor 32 that rotates the sample stage 6 around the Y-axis to adjust the inclination in the X-axis direction, and a motor that rotates the sample stage 6 around the X-axis. Then Y
Y-axis direction adjustment motor 3 that adjusts the axial tilt
3 are provided, and these motors are appropriately driven so that the surface of the sample placed on the sample stage 6 is perpendicular to the projection direction of the ultrasonic beam. The operation will be explained below with reference to FIG.

第8図はX軸方向での傾きを調整する場合のフ
ローチヤートを示すものであり、先ず、第3図の
点P0(X0、Y0)およびP1(X1、Y1)の座標を入力
し、X軸およびY軸方向送り機構8および9を駆
動して試料台6を点P0(X0、Y0)の位置に移動さ
せる。ここで超音波を放射し、試料表面からの反
射波の強度を検出する。第9図は超音波ヘツド3
のZ方向の位置Zを横軸にとり、縦軸に反射波の
強度Vをとつて示したものであり、超音波ビーム
が試料表面上で集束される合焦位置Z0において強
度は最大値V0となる。したがつて焦点調整を行
ない、最大強度V0を記憶しておく。次にX軸方
向送り機構8を駆動してX軸方向に1ステツプ移
動させ、その位置での反射強度Vを測定する。こ
の測定した強度Vが最大値強度V0から予じめ設
定した値αを差引いた値よりも小さいときには、
再び試料台を1ステツプ移動させる。このように
して順次検出を行なつて行き、或る点(Xo、Y0
において反射強度VoがV0−αよりも小さくなつ
たら、許容し得ない程の傾きがあると判断し、こ
の位置でのZ軸方向の位置Zoを求める。これらの
値から、傾き角αを α=tna-1Z0−Zo/Xo−X0から演算し、X軸方向調整モ ータ32を駆動してこれと反対の方向に角αだけ
傾斜させる。上述した動作をX=X1となるまで
順次に行なうことによりX軸方向の傾きを補正す
ることができる。
FIG. 8 shows a flowchart for adjusting the inclination in the X-axis direction. First, the points P 0 (X 0 , Y 0 ) and P 1 (X 1 , Y 1 ) in FIG. The coordinates are input and the X-axis and Y-axis direction feeding mechanisms 8 and 9 are driven to move the sample stage 6 to the position of point P 0 (X 0 , Y 0 ). Here, ultrasonic waves are emitted and the intensity of the reflected waves from the sample surface is detected. Figure 9 shows the ultrasonic head 3.
The horizontal axis represents the position Z in the Z direction of It becomes 0 . Therefore, the focus is adjusted and the maximum intensity V 0 is memorized. Next, the X-axis direction feed mechanism 8 is driven to move one step in the X-axis direction, and the reflection intensity V at that position is measured. When this measured intensity V is smaller than the value obtained by subtracting the preset value α from the maximum intensity V 0 ,
Move the sample stage one step again. In this way, detection is performed sequentially, and a certain point (X o , Y 0 ) is detected.
If the reflection intensity V o becomes smaller than V o -α, it is determined that there is an unacceptable inclination, and the position Z o in the Z-axis direction at this position is determined. From these values, calculate the tilt angle α from α = tna -1 Z 0 -Z o /X o -X 0 , and drive the X-axis direction adjustment motor 32 to tilt in the opposite direction by the angle α. . The inclination in the X-axis direction can be corrected by sequentially performing the above-described operations until X= X1 .

次に調整台6を点P0(X0、Y0)に移動させて、
Y軸方向についてY0からY1までの範囲で同様の
操作を行ない、Y軸方向調整モータ33を駆動し
てY軸方向の傾きを補正することができる。この
ようにして、X軸およびY軸方向の双方について
傾きを補正することができ、より正確な超音波像
を表示することができるようになる。
Next, move the adjustment table 6 to point P 0 (X 0 , Y 0 ),
A similar operation is performed in the range from Y 0 to Y 1 in the Y-axis direction, and the Y-axis direction adjustment motor 33 is driven to correct the tilt in the Y-axis direction. In this way, the tilt can be corrected in both the X-axis and Y-axis directions, and a more accurate ultrasound image can be displayed.

本発明は上述した実施例にのみ限定されるもの
ではなく、幾多の変更や変形を加えることができ
る。例えば上述した例では、第1および第2のモ
ニタを設け、それぞれによつて低倍率の超音波像
と高倍率の超音波像を表示するようにしたが、1
台のモニタを設け、その画面を二分してその一方
で低倍率の像を表示し、他方で高倍率の像を表示
するようにしてもよい。また、上述した例では、
微小部位の座標を入力する手段としてラインペン
を用いたが、モニタスクリーン上に表示されるカ
ーソルを用いて座標を入力することもできる。さ
らにスキヤンコンバータとモニタをさらに増や
し、2つ以上の微小部位の超音波像を表示するこ
ともできる。また、上述した例ではX軸およびY
軸方向の送り機構は試料台を移動させるものとし
たが、これらのいずれか一方または双方を、超音
波ヘツドを移動させるものとすることもできる。
The present invention is not limited to the embodiments described above, and can be modified and modified in many ways. For example, in the example described above, the first and second monitors were provided to display a low-magnification ultrasound image and a high-magnification ultrasound image, respectively.
A standalone monitor may be provided, and its screen may be divided into two halves, one of which displays a low-magnification image, and the other of which displays a high-magnification image. Also, in the example above,
Although a line pen was used as a means for inputting the coordinates of a minute site, it is also possible to input the coordinates using a cursor displayed on the monitor screen. Furthermore, by increasing the number of scan converters and monitors, it is also possible to display ultrasound images of two or more minute regions. In addition, in the above example, the X-axis and Y-axis
Although the axial feeding mechanism is used to move the sample stage, either or both of these mechanisms may be used to move the ultrasonic head.

発明の効果 本発明によれば、試料の広範囲の部分を低分解
能の超音波ビームで走査して低倍率の超音波像を
表示し、その中の任意の微小部位の位置を座標入
力装置によつて指定し、この指定された部位を高
分解能の超音波ビームで走査して高倍率の超音波
像を表示するようにしたので、2つの超音波像の
位置関係を常に明確に知ることができ、正確で迅
速な観察を行うことができる。また、微小部位の
位置を新たに指定するだけで、その部位の高倍率
像を表示することができるので、操作は非常に簡
単となる。しかも高分解能の超音波ビームと低分
解能の超音波ビームとは、超音波レンズを交換す
ることなく、単にZ軸方向送り機構を駆動して超
音波レンズと試料との距離を変化させるだけで切
換えることができ、操作性はさらに良好となると
ともに低倍率の超音波像を得るための時間も短縮
することができる。
Effects of the Invention According to the present invention, a wide area of a sample is scanned with a low-resolution ultrasonic beam, a low-magnification ultrasonic image is displayed, and the position of any minute part in the image is determined using a coordinate input device. The specified region is scanned with a high-resolution ultrasound beam and a high-magnification ultrasound image is displayed, making it possible to always clearly know the positional relationship between the two ultrasound images. , accurate and quick observations can be made. Furthermore, simply by newly specifying the position of a minute part, a high-magnification image of that part can be displayed, making the operation extremely simple. Moreover, the high-resolution ultrasonic beam and low-resolution ultrasonic beam can be switched by simply driving the Z-axis direction feed mechanism and changing the distance between the ultrasonic lens and the sample, without changing the ultrasonic lens. This makes it possible to improve operability and shorten the time required to obtain a low-magnification ultrasound image.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の超音波顕微鏡の一例の構成を
示すブロツク図、第2図は低倍率の超音波像を表
示する場合の動作を示すフローチヤート、第3図
は低倍率像と高倍率像との位置関係を示す図、第
4図は高倍率の超音波像を表示する場合の動作を
示すフローチヤート、第5図AおよびBは同一の
超音波ヘツドを用いて低倍率と高倍率の超音波像
を表示する場合の超音波ヘツドと試料との位置関
係を示す図、第6図AおよびBは同じくその場合
に試料表面上に投射される超音波ビームのスポツ
トを示す図、第7図は試料台の傾きを調整するゴ
ニオメータ機構を示す斜視図、第8図は傾き調整
の動作を示すフローチヤート、第9図は傾き調整
を行なう場合の、超音波ヘツドの位置と反射強度
との関係を示すグラフである。 1……音響レンズ、2……圧電トランスジユー
サ、3……超音波ヘツド、4……加振装置、5…
…試料、6……試料台、8……X軸方向送り機
構、9……Y軸方向送り機構、10……Z軸方向
送り機構、11……制御回路、25,26……第
1、第2スキヤンコンバータ、27,28……第
1、第2モニタ、29……中央処理装置、30…
…ライトペン。
Fig. 1 is a block diagram showing the configuration of an example of the ultrasound microscope of the present invention, Fig. 2 is a flowchart showing the operation when displaying a low-magnification ultrasound image, and Fig. 3 is a low-magnification image and a high-magnification image. Figure 4 is a flowchart showing the operation when displaying a high-magnification ultrasound image. Figures 5A and B are low-magnification and high-magnification displays using the same ultrasound head. Figures 6A and 6B are diagrams showing the positional relationship between the ultrasound head and the sample when displaying an ultrasound image of Figure 7 is a perspective view showing the goniometer mechanism that adjusts the tilt of the sample stage, Figure 8 is a flowchart showing the operation of tilt adjustment, and Figure 9 shows the position and reflection intensity of the ultrasonic head when adjusting the tilt. It is a graph showing the relationship. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Acoustic lens, 2... Piezoelectric transducer, 3... Ultrasonic head, 4... Vibration device, 5...
...sample, 6...sample stage, 8...X-axis direction feeding mechanism, 9...Y-axis direction feeding mechanism, 10...Z-axis direction feeding mechanism, 11...control circuit, 25, 26...first, Second scan converter, 27, 28...first and second monitors, 29...central processing unit, 30...
...Light pen.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 試料と超音波ヘツドとをX軸方向およびY軸
方向に相対的に移動させるX軸方向送り機構およ
びY軸方向送り機構と、試料と超音波ヘツドとを
Z軸方向に相対的に移動させるZ軸方向送り機構
と、前記超音波ヘツドをX軸方向に微小振動させ
る加振装置と、前記Z軸送り機構を駆動して超音
波ヘツドから放射される超音波ビームを試料の内
部で集束させた状態で、前記X軸方向およびY軸
方向送り機構により試料と前記超音波ヘツドとを
相対的に移動させて広範囲の2次元走査を行つて
得られる低分解能、低倍率の超音波像を表示する
第1の表示装置と、この第1の表示装置で表示さ
れる試料の超音波像中の任意の位置を指定できる
座標入力装置と、この座標入力装置によつて指定
された任意の位置に対応する試料の微小部位を、
前記Z軸送り機構を駆動して超音波ヘツドから放
射される超音波ビームを試料の表面で集束させた
状態で、前記加振装置およびY軸方向送り機構に
2次元走査して得られる高分解能、高倍率の超音
波像を表示する第2の表示装置とを具えることを
特徴とする超音波顕微鏡。 2 前記座標入力装置によつて指定される任意の
位置は、高倍率の超音波像の中心座標であること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の超音波
顕微鏡。
[Claims] 1. An X-axis direction feeding mechanism and a Y-axis direction feeding mechanism for relatively moving the sample and the ultrasonic head in the X-axis direction and the Y-axis direction, and a moving mechanism for moving the sample and the ultrasonic head in the Z-axis direction. a Z-axis direction feed mechanism that moves the ultrasonic head relative to the ultrasonic head; a vibration device that causes the ultrasonic head to minutely vibrate in the X-axis direction; Low resolution and low magnification obtained by performing two-dimensional scanning over a wide range by relatively moving the sample and the ultrasonic head using the X-axis and Y-axis direction feeding mechanisms while focusing inside the sample. a first display device that displays an ultrasonic image of the sample; a coordinate input device that can specify an arbitrary position in the ultrasonic image of the sample displayed on the first display device; The minute part of the sample corresponding to the arbitrary position
High resolution obtained by driving the Z-axis feed mechanism to focus the ultrasonic beam emitted from the ultrasonic head on the surface of the sample, and performing two-dimensional scanning with the vibration device and the Y-axis feed mechanism. , and a second display device that displays a high-magnification ultrasound image. 2. The ultrasound microscope according to claim 1, wherein the arbitrary position specified by the coordinate input device is the center coordinate of a high-magnification ultrasound image.
JP20471983A 1983-11-02 1983-11-02 Ultrasonic microscope Granted JPS6097261A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20471983A JPS6097261A (en) 1983-11-02 1983-11-02 Ultrasonic microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20471983A JPS6097261A (en) 1983-11-02 1983-11-02 Ultrasonic microscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6097261A JPS6097261A (en) 1985-05-31
JPH0465342B2 true JPH0465342B2 (en) 1992-10-19

Family

ID=16495172

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20471983A Granted JPS6097261A (en) 1983-11-02 1983-11-02 Ultrasonic microscope

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6097261A (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55112563A (en) * 1979-02-23 1980-08-30 Alps Nootoronikusu Kk Ultrasonic microscope unit
JPS5841538A (en) * 1981-09-07 1983-03-10 富士通株式会社 Local part enlargement display system of ultrasonic diagnostic apparatus
JPS5830410B2 (en) * 1975-12-15 1983-06-29 旭化成株式会社 Alcohol

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5830410U (en) * 1981-08-21 1983-02-28 横河電機株式会社 Ultrasound diagnostic equipment

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5830410B2 (en) * 1975-12-15 1983-06-29 旭化成株式会社 Alcohol
JPS55112563A (en) * 1979-02-23 1980-08-30 Alps Nootoronikusu Kk Ultrasonic microscope unit
JPS5841538A (en) * 1981-09-07 1983-03-10 富士通株式会社 Local part enlargement display system of ultrasonic diagnostic apparatus

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6097261A (en) 1985-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1061551B1 (en) Scanning charged-particle beam instrument and method of observing specimen image therewith
JP2001286467A (en) Ultrasonic diagnostic apparatus
JPH09197287A (en) Motor-driven microscope
JPH0465342B2 (en)
JPS61259170A (en) Apparatus for adjusting inclination of specimen
JPH0416935Y2 (en)
JPH0112192Y2 (en)
JPH0413650Y2 (en)
JPH0222343B2 (en)
JPS59148254A (en) Sample shifting device of scanning electron microscope or the like
JP3126047B2 (en) Scanning probe microscope
JP2006133183A (en) Composite microscope
JP2000019093A (en) Light axis adjustment mechanism of scanning probe microscope
JPH0729536A (en) Scanning electron microscope
JPH0510928A (en) Ultrasonic wave image inspection apparatus
JP2612351B2 (en) Ultrasonic inspection equipment
JPH041498Y2 (en)
JPH07128130A (en) Vibration measuring apparatus
JP2008046096A (en) Ultrasonic microscopic system and adjusting method therefor
JP3025614B2 (en) Ultrasound inspection method for the subject
JPS6222838Y2 (en)
JPS6097263A (en) Scanning method of ultrasonic microscope
JPH0474824B2 (en)
JPS6318919Y2 (en)
JPH0572985B2 (en)