JPH0465295A - Ic card assembling apparatus - Google Patents

Ic card assembling apparatus

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JPH0465295A
JPH0465295A JP2179087A JP17908790A JPH0465295A JP H0465295 A JPH0465295 A JP H0465295A JP 2179087 A JP2179087 A JP 2179087A JP 17908790 A JP17908790 A JP 17908790A JP H0465295 A JPH0465295 A JP H0465295A
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module
card
recess
adhesive sheet
assembly
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昌夫 後上
Sanae Tanaka
早苗 田中
Yoshiaki Hida
肥田 佳明
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To enhance the product accuracy of an IC card by providing a peeling inspection apparatus to an assembling table and removing the IC card whose IC module is judged to be certainly fixed to a recessed part. CONSTITUTION:When the surface, rear and directionality of the IC module 3 arranged to a module table 12 are judged to be abnormal, this abnormality is immediately displayed from a main control apparatus to stop the module table and, therefore, the IC module 3 concerned can be arranged at an accurate position over again. A card 2 whose recessed part 2a is judged to be not normally formed by a recessed part inspection apparatus, an IC card 1 judged to be not uniform in height by a cooling apparatus 32 and the IC card 1 whose IC module 3 is judged not to be certainly fixed to the recessed part 2a by a peeling inspection apparatus in an assembling table 14 are stored in the main control apparatus and discharged to the outside on the basis of these data by an NG discharge apparatus 35.

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分!Ff) 本発明は、ICカードを作成するためのICカード組立
装置に関する。
Detailed Description of the Invention [Object of the Invention] (Industrial Application!Ff) The present invention relates to an IC card assembly device for producing an IC card.

(従来の技術) 近年、マイクロコンピュータ、メモリなどのICチップ
を装着したチップカード、メモリカード、マイコンカー
ドあるいは電子カードと呼ばれるICカードに関する研
究が種々進められている。
(Prior Art) In recent years, various studies have been carried out regarding IC cards called chip cards, memory cards, microcomputer cards, or electronic cards equipped with IC chips such as microcomputers and memories.

このようなICカードは、従来の磁気カードに比べて、
その記憶容量が大きいことから、銀行関係では預金通帳
に代わり預貯金の履歴を、そしてクレジット関係では買
物などの取引履歴を記憶させようと考えている。
Compared to conventional magnetic cards, such IC cards have
Because of its large storage capacity, banks are considering using it to store the history of deposits and savings in place of passbooks, and credit cards are considering storing transaction history such as shopping.

第7図に示すようにICカード1は、ICチップが搭載
されたICモジュール3と、このICモジュール装着用
の凹部2aが形成されたカード2とから構成されている
。またICモジュール3の裏面側にはプライマ4が塗布
されており、カード2の凹部2a内には接着シート5が
配置されている。なお、接着シート5の形状は、凹部2
aのうち、中間段部7上に配置されるような大きさとな
っている。
As shown in FIG. 7, the IC card 1 includes an IC module 3 on which an IC chip is mounted, and a card 2 in which a recess 2a for mounting the IC module is formed. Further, a primer 4 is applied to the back side of the IC module 3, and an adhesive sheet 5 is placed in the recess 2a of the card 2. Note that the shape of the adhesive sheet 5 is similar to that of the recess 2.
The size is such that it can be placed on the middle step part 7 of the portion a.

ところで第7図に示すようなIcカード1は、まずIC
モジュール3の裏面にプライマを塗布し、カード2に予
め形成された凹部2a内に接着シート5を装着し、次に
凹部2aの接着シート5上にICモジニール3を装着し
、ICモジュール3を加熱押圧して組立てられる。
By the way, the IC card 1 as shown in FIG.
A primer is applied to the back side of the module 3, an adhesive sheet 5 is installed in the recess 2a formed in advance on the card 2, an IC modular 3 is installed on the adhesive sheet 5 in the recess 2a, and the IC module 3 is heated. It can be assembled by pressing.

しかしながら、従来このようなICカードの組立工程は
、人間が手動で行なっているのが実情である。
However, the reality is that conventional IC card assembly processes have been manually performed by humans.

(発明が解決しようとする課題) 上述のように、ICカードの組立は手動で行なわれてお
り、長時間かかっているのが実情である。
(Problems to be Solved by the Invention) As mentioned above, the actual situation is that IC card assembly is done manually and takes a long time.

ところで、カードおよびICモジュールからICカード
を迅速に組立てるため、ICカード組立装置により自動
的に組立てることも考えられている。このような場合、
組立てられる前のカードおよびICモジュール、および
組立後のICカードが正規の使用であるか否かをあらか
じめ検査することができれば高価なICモジュールを無
駄なく回収することができて都合が良い。
By the way, in order to quickly assemble an IC card from a card and an IC module, it has been considered to automatically assemble the IC card using an IC card assembly device. In such a case,
If it is possible to check in advance whether the cards and IC modules before being assembled and the IC cards after being assembled are in proper use, it is convenient because expensive IC modules can be recovered without waste.

本発明はこのような点を考慮してなされたものであり、
組立て前のカードおよびICモジュールを検査し、組立
てられた後のICカードを検査して製品精度の向上を図
るとともに、高価なICモジュール、凹部を形成したカ
ード、接着シートなどの部品を組立て不良により、ムダ
にすることなく回収し、再利用することができるICカ
ード組立装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in consideration of these points,
We inspect cards and IC modules before assembly, and inspect IC cards after assembly to improve product accuracy.We also inspect parts such as expensive IC modules, cards with recesses, and adhesive sheets due to assembly defects. To provide an IC card assembly device that can be collected and reused without wasting it.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(課題を解決するための手段) 本発明は表裏側を上方に向けたICモジュールが順次配
置されて回転し、前記ICモジュールにプライマを塗布
するモジュールテーブルと、予め凹部が形成されたカー
ドが順次配置されて回転し、前記カードの凹部内に接着
’a−トおよび表面側を上方に向けたICモジュールを
順次装着し、このICモジュールを加熱押圧する組立モ
ジュールとを備え、前記組立テーブルに凹部内に固着さ
れたICモジュールの剥離検査を行なう剥離検査装置を
設けたことを特徴とするICカード組立装置である。
(Means for Solving the Problems) The present invention includes a module table in which IC modules with the front and back sides facing upward are sequentially arranged and rotated, a module table for applying a primer to the IC modules, and a card in which a recess is formed in advance is sequentially arranged. an assembly module that sequentially attaches IC modules with the adhesive and front side facing upward in the recess of the card, heats and presses the IC modules; This IC card assembly apparatus is characterized in that it is equipped with a peel inspection device that performs a peel inspection of an IC module fixed therein.

(作 用) 本発明によれば、組立テーブルの剥離検査装置によって
ICモジニールが凹部内に確実に固着されたか否かが判
定され、カード、ICモジュールを組立て不良にするこ
となく回収し再利用することができる。
(Function) According to the present invention, the peel inspection device of the assembly table determines whether the IC module is securely fixed in the recess, and the card or IC module is recovered and reused without being assembled defectively. be able to.

(実施例) 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図乃至第6図は本発明によるICカード組立装置の
一実施例を示す図である。このうち第1図はICカード
組立装置の概略系統図であり、第2図は第1図■−■線
断面図であり、第3図は第1図m−■線断面図であり、
第4図は第1図■−■線断面図であり、第5図は第1図
V−v線断面図であり、第6図はICカード組立装置の
平面図である。
1 to 6 are diagrams showing an embodiment of an IC card assembly apparatus according to the present invention. Of these, Fig. 1 is a schematic system diagram of the IC card assembly device, Fig. 2 is a cross-sectional view taken along the line ■-■ in Fig. 1, and Fig. 3 is a cross-sectional view taken along the line m-■ in Fig. 1.
4 is a cross-sectional view taken along the line ■--■ in FIG. 1, FIG. 5 is a cross-sectional view taken along the line V-V in FIG. 1, and FIG. 6 is a plan view of the IC card assembly apparatus.

第1図において、ICカード組立装置10は裏面側を上
方に向けたICモジュール3が順次配置されて回転する
モジュールテーブル12と、カード2が順次配置されて
回転する組立テーブル14とを備えている。
In FIG. 1, an IC card assembly device 10 includes a module table 12 on which IC modules 3 with their back sides facing upward are sequentially arranged and rotated, and an assembly table 14 on which cards 2 are sequentially arranged and rotated. .

また、モジュールテーブル12の右方には多数のICモ
ジュール3が予め収納されたトレー18が配設され、ト
レー18とモジュールテーブル12との間にはトレー1
8内のICモジュール3を取出してモジュールテーブル
12上に配置するモジュール取出装置20が配設されて
いる。また、モジュールテーブル12には、ICモジュ
ール3の裏面にプライマを塗布するプライマ塗布装置2
2が設けられている。
Further, a tray 18 in which a large number of IC modules 3 are stored in advance is arranged on the right side of the module table 12, and between the tray 18 and the module table 12, a tray 18 is provided.
A module take-out device 20 for taking out the IC module 3 in the IC module 8 and placing it on the module table 12 is provided. Further, on the module table 12, a primer coating device 2 for coating a primer on the back surface of the IC module 3 is provided.
2 is provided.

さらに、モジュールテーブル12と組立テーブル14と
の間には、ICモジュール3を順次ネスト(載置台)6
2g、62b、62c上に移載してモジュール3に塗布
されたプライマを乾燥させるモジュール移載装置26、
モジュール移載装置26によって移載されたICモジュ
ール3を180°反転させる反転装置24、およびIC
モジュール3を組立テーブル14上のカード2に供給し
、このICモジュール3をカード2の凹部2a内に装着
するモジュール供給装置25がそれぞれ配設されている
Further, between the module table 12 and the assembly table 14, the IC modules 3 are successively nested (mounting table) 6.
2g, 62b, 62c, and a module transfer device 26 for drying the primer applied to the module 3;
A reversing device 24 for reversing the IC module 3 transferred by the module transfer device 26 by 180°, and an IC
A module supply device 25 is provided for supplying the module 3 to the card 2 on the assembly table 14 and for mounting the IC module 3 into the recess 2a of the card 2.

一方、組立テーブル14の左側には、カートス゛トッカ
38に貯留されたカード2を組立テーブル14側に供給
するとともに、組立テーブル14によって組立てられた
ICカード1を排出コンベア40側に排出するカード供
給排出装置36が配設されている。
On the other hand, on the left side of the assembly table 14, there is a card supply/discharge device that supplies the cards 2 stored in the cart stocker 38 to the assembly table 14 side and discharges the IC cards 1 assembled by the assembly table 14 to the discharge conveyor 40 side. 36 are arranged.

ま、た、組立テーブル14には、カード供給排出装置3
6の下流側に(回転方向下流側に)、カード2の凹部2
a内に所定形状の接着シート5を装着する接着シート供
給装置28が配設されている。
Also, the assembly table 14 has a card supply/discharge device 3.
6 (on the downstream side in the rotational direction), the recess 2 of the card 2
An adhesive sheet supply device 28 for loading adhesive sheet 5 of a predetermined shape is disposed within a.

さらに、この接着シート供給装置28の下流側に、凹部
2a内の接着シート5上にICモジュール3を装着する
モジュール供給装置25と、凹部2a内に装置されたI
Cモジュール3を上方から加熱押圧する熱着装置30と
、ICモジュール3を冷却する冷却装置32と、ICモ
ジュール3のカード2からの剥離検査を行なう剥離検査
装置34と、不良のICカード1を外部に排出するNG
排出装置35とが順次配設されている。
Further, on the downstream side of this adhesive sheet supplying device 28, there is a module supplying device 25 for mounting the IC module 3 on the adhesive sheet 5 in the recess 2a, and an IC module installed in the recess 2a.
A thermal bonding device 30 heats and presses the C module 3 from above, a cooling device 32 cools the IC module 3, a peel inspection device 34 inspects the IC module 3 for peeling from the card 2, and detects defective IC cards 1. NG to be discharged outside
A discharge device 35 is sequentially arranged.

このうち、剥離検査装置34は、ICモジュール3の端
子面を一定の力で吸着剥離させ所定の接着強度が得られ
ているか否か検査するものである。
Among these, the peel inspection device 34 is used to peel off the terminal surface of the IC module 3 by adsorption with a constant force, and inspect whether a predetermined adhesive strength is obtained.

次に各構成部分について、第6図により更に詳述する。Next, each component will be explained in more detail with reference to FIG.

第6図に示すように、モジュールテーブル12近傍のト
レー18はζ実トレーマガジン42から供給されるよう
になっている。また使用済のトレー18は、空トレーマ
ガジン48に収められる。
As shown in FIG. 6, the trays 18 near the module table 12 are supplied from a ζ real tray magazine 42. As shown in FIG. Further, the used trays 18 are stored in an empty tray magazine 48.

さらにトレー18からICモジュールを取出すモジュー
ル取出装置20はモジュール取出部20aを有している
。また、このモジュール取出部20aは、XYロボット
21によってXY方向に移動自在となっている。
Furthermore, a module take-out device 20 for taking out IC modules from the tray 18 has a module take-out section 20a. Moreover, this module take-out part 20a is movable in the XY directions by the XY robot 21.

また、モジュールテーブル12には、モジュールテーブ
ル12上に配置されたICモジュール3を上方から観察
し、ICモジュール3の裏面側(プライマが塗布される
側)が上方を向いているか否かを判定する表裏判別装置
70が配設されている。この表裏判別装置i70は光を
投光し、反射受光量の差異によって表裏を判別するもの
である。
Further, the IC module 3 placed on the module table 12 is observed from above, and it is determined whether the back side of the IC module 3 (the side to which the primer is applied) is facing upward. A front/back discrimination device 70 is provided. This front/back discrimination device i70 projects light and discriminates between front and back based on the difference in the amount of reflected and received light.

さらに、この表裏判別装置70の下流側には、プライマ
塗布装置22が配設されている。
Furthermore, a primer coating device 22 is disposed downstream of this front/back discriminating device 70.

プライマ塗布装置22はポリウレタン樹脂等のプライマ
が貯留されたプライマタンク44ををしている。そして
、このプライマ塗布装置22によって、ICモジュール
3の裏面側であって接着シート5に当接する部分(第7
図)にプライマ4が塗布されるようになっている。
The primer coating device 22 has a primer tank 44 in which a primer such as polyurethane resin is stored. Then, by this primer coating device 22, a portion (seventh
Primer 4 is applied to the area shown in the figure.

さらに、プライマ塗布装置22の下流側には、モジュー
ルテーブル12上に配置されたICモジュール3の配置
方向が、所定方向を向いているか否かを判定するイメー
ジセンサ45が配設されている。すなわち、第1図に示
すように例えばICモジュール3はD側が外方を向くよ
うにモジュールテーブル12上に配置されるが、すべて
のICモジュール3がこの方向を向いているか否かイメ
ージセンサ45によって判定される。
Further, on the downstream side of the primer coating device 22, an image sensor 45 is arranged to determine whether or not the IC module 3 arranged on the module table 12 is oriented in a predetermined direction. That is, as shown in FIG. 1, for example, the IC modules 3 are arranged on the module table 12 with the D side facing outward, but the image sensor 45 determines whether all the IC modules 3 are facing in this direction. It will be judged.

またイメージセンサ45の下流側に設けられたモジュー
ル移載装置26は、モジュールテーブル12上のIcモ
ジュール3を、モジュールテーブル12の側方に設けら
れた複数、例えば3台のネスト(載置台)62a、62
b、62c上に順次移載するものである。
Further, a module transfer device 26 provided on the downstream side of the image sensor 45 transfers the Ic module 3 on the module table 12 to a plurality of, for example, three nests (mounting tables) 62a provided on the side of the module table 12. , 62
b, 62c.

また、最終ネスト62cとモジュール供給装置25との
間に、ICモジュール3を180°反転させる反転装置
24が配設されている。そして、この反転装置24によ
ってICモジュール3は、表面側を上方に向けるように
なっている。さらに、モジュール供給装置25は、XY
ロボット50によってXY力方向移動自在となるモジュ
ール供給部25aを有している。
Further, a reversing device 24 for reversing the IC module 3 by 180 degrees is disposed between the final nest 62c and the module supply device 25. The reversing device 24 allows the IC module 3 to have its front surface facing upward. Furthermore, the module supply device 25
It has a module supply section 25a that is movable in the XY force directions by the robot 50.

一方、組立テーブル14に設けられたカード供給排出装
置36は平面り字状をなし、回転軸37を中心として回
転自在となっている。すなわち、カード供給排出装置3
6の一方の脚部36aでカードストッカ38内のカード
2を吸着保持し、他方の脚部36bで組立テーブル14
上のICカード1を吸着保持し、この状態で時計方向に
回転することにより、新たなカード2を組立テーブル1
4上に配置するとともに、組立てられたICカード1を
排出コンベア40側に排出することができる。
On the other hand, the card supply/discharge device 36 provided on the assembly table 14 has a cross-shaped planar shape and is rotatable about a rotation shaft 37. That is, the card supply/discharge device 3
One leg 36a of the card stocker 38 holds the card 2 in the card stocker 38 by suction, and the other leg 36b holds the card 2 on the assembly table 14.
By suctioning and holding the upper IC card 1 and rotating it clockwise in this state, insert a new card 2 onto the assembly table 1.
4, and the assembled IC card 1 can be discharged to the discharge conveyor 40 side.

また、カード供給排出装置36の下流側には、凹部検査
装置46、および接着シート供給装置28が順次配設さ
れている。このうち、凹部検査装置46は、LEDの光
を対象物に照射し、反射光を光位置検出素子上に結像さ
せ、スポットの変位により、対象物の変位を測定するも
のである。
Further, on the downstream side of the card supply/discharge device 36, a recess inspection device 46 and an adhesive sheet supply device 28 are sequentially arranged. Among these, the recess inspection device 46 irradiates the object with LED light, forms an image of the reflected light on the optical position detection element, and measures the displacement of the object based on the displacement of the spot.

接着シート供給装置28は、例えば不飽和ポリエステル
等の帯状接むシートを供給する供給ロール58と、帯状
接着シートを巻取る巻取ロール52とを備えている。ま
た供給ロール58と巻取ロール52との間には、帯状接
着シートを打抜いて所定形状の接着シートを形成すると
ともに、この接着シートをカード2の凹部2a内に装着
する接着シート供給部56が配設されている。
The adhesive sheet supply device 28 includes a supply roll 58 that supplies a strip-shaped adhesive sheet of unsaturated polyester or the like, and a take-up roll 52 that winds up the strip-shaped adhesive sheet. Further, between the supply roll 58 and the take-up roll 52, there is an adhesive sheet supply section 56 that punches out a band-shaped adhesive sheet to form an adhesive sheet of a predetermined shape and inserts this adhesive sheet into the recess 2a of the card 2. is installed.

さらに接着シート供給部56は帯状接着シートを打抜く
打抜型(図示せず)と、打抜かれた接着シートを吸着保
持する吸着部(図示せず)とを有している。なお、接着
シート供給部56はXYロボット54によって、XY力
方向移動自在となっている。
Furthermore, the adhesive sheet supply section 56 has a punching die (not shown) for punching out the band-shaped adhesive sheet, and a suction section (not shown) for sucking and holding the punched adhesive sheet. Note that the adhesive sheet supply section 56 is movable in the XY force directions by the XY robot 54.

また、組立テーブル14には、接着シート供給装置28
の下流側にモジュール供給装置25、および熱着装置3
0が順次配設されている。
Also, on the assembly table 14, an adhesive sheet supply device 28 is provided.
A module supply device 25 and a thermal bonding device 3 are installed on the downstream side of the
0 are arranged sequentially.

このうち、熱着装置30はカード2の凹部2a内に装む
されたICモジュール3を上方から加熱棒(図示せず)
で加熱押圧し、接着シート5を溶融させてIcモジュー
ルを凹部2a内に固着するものである。
Among these, the heat bonding device 30 is used to heat the IC module 3 mounted in the recess 2a of the card 2 from above using a heating rod (not shown).
The Ic module is heated and pressed to melt the adhesive sheet 5 and fix the Ic module in the recess 2a.

さらに熱着装置30の下流側には、凹部2a内のICモ
ジュール3を冷却するための冷却装置32が配設されて
いる。この冷却装置32は、ICモジュール3に上方か
ら冷却棒(図示せず)を当接させICモジュール3を冷
却するものである。また冷却装置32は、同時にカード
2の表面とICモジュール3の表面とが一致しているか
否かを判定する機能も有している。
Furthermore, on the downstream side of the thermal bonding device 30, a cooling device 32 for cooling the IC module 3 within the recess 2a is provided. This cooling device 32 cools the IC module 3 by bringing a cooling rod (not shown) into contact with the IC module 3 from above. Furthermore, the cooling device 32 also has a function of determining whether the surface of the card 2 and the surface of the IC module 3 are coincident with each other.

また冷却装置32の下流側には、剥離検査装置34およ
びNG排出装置35が配設されている。
Further, on the downstream side of the cooling device 32, a peeling inspection device 34 and an NG discharge device 35 are arranged.

次にこのような構成からなる本実施例の作用について説
明する。
Next, the operation of this embodiment having such a configuration will be explained.

まず、実トレーマガジン42からトレー18が取出され
る。次にトレー18内に多数収納されたICモジュール
3が、モジュール取出装置20により吸着保持され取出
され、次にICモジュール3がモジュールテーブル12
上に順次配置される。
First, the tray 18 is taken out from the actual tray magazine 42. Next, a large number of IC modules 3 stored in the tray 18 are sucked and held by the module take-out device 20 and taken out.
are arranged sequentially on top.

この場合、ICモジュール3は裏面側(プライマが塗布
される側)を上方に向けて配置されるとともに、rcモ
ジュール3の4方向をA、B、C。
In this case, the IC module 3 is arranged with the back side (the side to which the primer is applied) facing upward, and the four directions of the rc module 3 are A, B, and C.

D方向とした場合、D方向を外方に向けて配置される。When it is set as the D direction, it is arranged with the D direction facing outward.

続いて、ICモジュール3は表裏判別装置70により、
正しく裏面側が上方を向いているか否かが判定される。
Next, the IC module 3 is checked by the front/back discrimination device 70.
It is determined whether the back side is correctly facing upward.

すなわち、後述のようにモジュールテーブル12におい
て、ICモジュール3の裏面側にプライマ4が塗布され
るので、ICモジュール3が裏面側を上方に向けていな
い場合、表裏判別装置70がこのことを直ちに検知する
。そして、この異常信号が主制御装置80に入力され、
モジュールテーブル12を停止するようになっている。
That is, since the primer 4 is applied to the back side of the IC module 3 on the module table 12 as described later, if the back side of the IC module 3 is not facing upward, the front/back discrimination device 70 immediately detects this. do. This abnormality signal is then input to the main controller 80,
The module table 12 is stopped.

同時に、ICモジュール3が裏面側を上方に向けていな
い場合、主制御装置80によってこの異常を表示するよ
うになっている。
At the same time, if the back side of the IC module 3 is not facing upward, the main controller 80 displays this abnormality.

次にプライマ塗布装置22によって、ICモジュール3
の裏面側であって接着シート5に当接する部分に、プラ
イマ4が塗布される。プライマ4は上述のようにポリウ
レタン系樹脂等からなり、ICモジュール3と不飽和ポ
リエステル等からなる接着シート5との間の接着状態を
向上させるものである。
Next, the IC module 3 is coated with the primer coater 22.
Primer 4 is applied to the back surface side of the adhesive sheet 5 in contact with the adhesive sheet 5. As mentioned above, the primer 4 is made of polyurethane resin or the like, and improves the adhesion between the IC module 3 and the adhesive sheet 5 made of unsaturated polyester or the like.

次に、ICモジュール3はイメージセンサ45によって
ICモジュール3のD方向が正確に外方に向いているか
否かが判定され、その後モジュール移動装置26の位置
まで達する(第1図および第5図)。イメージセンサ4
5による判定は、後述のようにICモジュール3をカー
ド2に凹部2a内に正しい方向で装着させるために必要
である。従って、イメージセンサ45によってICモジ
ュール3の方向が誤っていると判定された場合、この異
常信号が主制御装置80に入力され、直ちにモジュール
テーブル12が停止するようになっている。同時に、主
制御装置80によってこの異常状態が表示される。
Next, the IC module 3 is determined by the image sensor 45 whether the D direction of the IC module 3 is correctly facing outward, and then reaches the position of the module moving device 26 (FIGS. 1 and 5). . Image sensor 4
The determination based on No. 5 is necessary in order to mount the IC module 3 on the card 2 in the recess 2a in the correct direction as described later. Therefore, when it is determined by the image sensor 45 that the direction of the IC module 3 is wrong, this abnormality signal is input to the main controller 80, and the module table 12 is immediately stopped. At the same time, the main controller 80 displays this abnormal condition.

次にモジュール移載装置26によって、モジュールテー
ブル12上のICモジュール3がモジュールテーブル1
2側方のネスト62a、62b。
Next, the module transfer device 26 transfers the IC module 3 on the module table 12 to the module table 1.
Two lateral nests 62a, 62b.

62cに順次移載される。移載装置26はICモジュー
ル3の裏面のうちプライマの塗布されていない部分を吸
着部(図示せず)により吸着保持し、ネスト62a、6
2b、62Cに順次移載する。
62c. The transfer device 26 uses a suction unit (not shown) to suction and hold the part of the back surface of the IC module 3 on which the primer is not applied, and the nests 62a, 6
2b and 62C.

このようにネスト62a、62b、62cに順次移載す
る間に、ICモジュール3に塗布されたプライマ4を乾
燥させることができる。
The primer 4 applied to the IC module 3 can be dried during the sequential transfer to the nests 62a, 62b, and 62c in this manner.

次に最終ネスト62cに達したICモジュール3は、反
転装置24によって180°反転され、表面側を上方に
向けてモジュール供給装置25側に送られる。続いて、
表面側を上方に向けたICモジュール3は、モジュール
供給装置25のモジュール供給部25aによって吸着保
持される。そして、この状態でモジュール供給部25a
が組立テーブル14側に移動し、組立テーブル14上の
カード2の凹部2a内にICモジュール3が装着される
(第1図および第4図)。この場合、ICモジュール3
はイメージセンサ45によって予め検査されているめで
、ICモジュール3のC方向をカード2の外方に向けて
装着される。
Next, the IC module 3 that has reached the final nest 62c is reversed by 180 degrees by the reversing device 24 and sent to the module supplying device 25 side with the front side facing upward. continue,
The IC module 3 with its front side facing upward is held by suction by the module supply section 25a of the module supply device 25. In this state, the module supply section 25a
moves toward the assembly table 14, and the IC module 3 is mounted in the recess 2a of the card 2 on the assembly table 14 (FIGS. 1 and 4). In this case, IC module 3
This is because the IC module 3 has been inspected in advance by the image sensor 45, and the IC module 3 is mounted with the C direction facing outward from the card 2.

一方、カードストッカ38内に収納され予め凹部2aが
形成されたカード2は、カード供給排出装置36の一方
の脚部36gにより吸着保持される。そしてカード供給
排出装置36が回転軸37を中心として時計方向に回転
することにより、方の脚部36aに吸むされたカード2
は組立テーブル14上に配置される。
On the other hand, the card 2 stored in the card stocker 38 and having the recess 2a formed in advance is held by suction by one leg 36g of the card supply/discharge device 36. When the card supply/discharge device 36 rotates clockwise about the rotation shaft 37, the card 2 is sucked into the leg 36a.
is placed on the assembly table 14.

次にカード2は凹部検査装置46によって、凹部2aが
予め正規の形状に形成されているか否かが判定される(
第1図および第2図)。そして凹部2aが正規形状に形
成されていないと判定された場合は、この異常信号が主
制御装置80に入力される。この場合、主制御装置80
は、凹部2aが正規形状でないカード2を記憶するとと
もに、モジュール供給装置25によるこのカード2への
ICモジュール3の供給を停止する。
Next, the card 2 is checked by a recess inspection device 46 to determine whether the recess 2a is previously formed in a regular shape.
Figures 1 and 2). If it is determined that the concave portion 2a is not formed in a regular shape, this abnormality signal is input to the main controller 80. In this case, the main controller 80
stores a card 2 in which the concave portion 2a does not have a regular shape, and also stops the module supply device 25 from supplying the IC module 3 to this card 2.

続いてカード2は、接着シート供給装置28に達する。The card 2 then reaches the adhesive sheet supply device 28.

接着シート供給装置28において、供給ロール58から
供給される帯状接着シートは接着シート供給部56の打
抜型によって所定の形状に打抜かれ、打抜かれた接むシ
ート5は接着シート供給部56の吸着部により吸着保持
される。そしてこの状態でXYロボット54により接着
シート供給部56が水平方向に移動し、接着シート5が
カード2の凹部2a内に配置される(第1図および第3
図)。
In the adhesive sheet supply device 28 , the strip-shaped adhesive sheet supplied from the supply roll 58 is punched into a predetermined shape by the punching die of the adhesive sheet supply section 56 , and the punched contact sheet 5 is passed through the suction section of the adhesive sheet supply section 56 . It is retained by adsorption. In this state, the adhesive sheet supply unit 56 is moved horizontally by the XY robot 54, and the adhesive sheet 5 is placed in the recess 2a of the card 2 (see FIGS. 1 and 3).
figure).

なお、接着シート5の形状はカード2の凹部2aのうち
、中間段部7上に配置されるような形状となっている。
The shape of the adhesive sheet 5 is such that it is placed on the intermediate step 7 of the recess 2a of the card 2.

また、打抜かれた後の帯状接着シートは、巻取ロール5
2側に巻取られる。
Further, the band-shaped adhesive sheet after being punched out is placed on a winding roll 5.
It is wound up on the second side.

次に、凹部2a内に接着シート5が配置されたカード2
は、モジュール供給装置25まで送られ、上述のように
モジュール供給装置i!ff125によって表面を上方
に向けたICモジュール3が凹部2a内の接着シート5
上に装着される(第1図および第4図)。
Next, the card 2 with the adhesive sheet 5 placed inside the recess 2a
is sent to the module supply device 25, and the module supply device i! is sent to the module supply device 25 as described above. ff125, the IC module 3 with its surface facing upward is attached to the adhesive sheet 5 in the recess 2a.
(Figs. 1 and 4).

次に、ICモジニール3が装着されたカード2は、熱着
装置30まで移送される。そして、熱着装置30の加熱
棒がICモジュール3を上方から加熱押圧する(150
℃ 5秒)。この場合、接着シート5が溶融し、ICモ
ジュール3がカード2の凹部2a内に固着され、このよ
うにしてICカード1が組立てられる。
Next, the card 2 with the IC modular 3 attached thereto is transferred to the thermal bonding device 30. Then, the heating rod of the thermal bonding device 30 heats and presses the IC module 3 from above (150
℃ 5 seconds). In this case, the adhesive sheet 5 is melted, the IC module 3 is fixed in the recess 2a of the card 2, and the IC card 1 is assembled in this way.

続いて、凹部2a内に固着されたICモジュール3は、
冷却装置32の金属棒と当接して冷却される。同時に、
冷却装置32によってカード2の表面とICモジュール
3の表面との高さの一致が判定される。
Subsequently, the IC module 3 fixed in the recess 2a is
It comes into contact with the metal rod of the cooling device 32 and is cooled. at the same time,
The cooling device 32 determines whether the heights of the surface of the card 2 and the surface of the IC module 3 match.

冷却装置32による高さの判定は次のように行なわれる
。すなわち、冷却装置32と同軸に取付けられた電気的
リニアゲージ測定素子がカード2表面に先に接触し、金
属棒が、ICモジュール3の端子面に接触する。その間
の移動量をゲージで測定することによりカード2表面か
らのICモジュール端子の凹凸を測定する。
The height is determined by the cooling device 32 as follows. That is, the electric linear gauge measurement element attached coaxially with the cooling device 32 comes into contact with the surface of the card 2 first, and the metal rod comes into contact with the terminal surface of the IC module 3. The unevenness of the IC module terminal from the surface of the card 2 is measured by measuring the amount of movement during that time using a gauge.

そしてカード2の表面とIcモジュール3の表面の高さ
が不一致の場合、この異常信号が主制御装置80に入力
され、主制御装置80は高さが不一致のカード2を記憶
する。
If the heights of the front surface of the card 2 and the surface of the Ic module 3 do not match, this abnormal signal is input to the main controller 80, and the main controller 80 stores the card 2 whose heights do not match.

次に、ICカードlは剥離検査装置34まで移送され、
ここでカード2からのICモジュール3の剥離検査、す
なわち凹部2a内にICモジュール3が確実に固着され
ているか否かが検査される。
Next, the IC card l is transferred to the peel inspection device 34,
Here, the peeling of the IC module 3 from the card 2 is inspected, that is, it is inspected whether the IC module 3 is securely fixed in the recess 2a.

そして、ICモジュール3が確実に固着されていないと
判断された場合、この異常信号が主制御装置80に人力
される。
If it is determined that the IC module 3 is not securely fixed, this abnormality signal is manually sent to the main controller 80.

同時に、組立テーブル14の剥離検査装置34と路間−
円周上ににあるNG排出装置35によって、主制御装置
80に記憶された情報にもとずき不良ICカード1およ
び不良カード2を外部に排出する。
At the same time, the peeling inspection device 34 of the assembly table 14 and the
The defective IC card 1 and the defective card 2 are discharged to the outside by the NG discharge device 35 located on the circumference based on the information stored in the main control device 80.

すなわち、凹部検査装置46によって凹部2aが正規に
形成されていないと判定されたカード2、冷却装置32
によって高さが不一致と判定されたICカード1、およ
び剥離検査装置34によってICモジュールが確実に固
着されていないと判定されたICカード1が、主制御装
置80に記憶され、この情報にもとずぎNG排出装置3
5によって外部に排出される。続いて良品と判定された
ICカード1は、カード倶給排出装置36によって排出
コンベア40側へ排出される。
In other words, the card 2 and the cooling device 32 for which the recess inspection device 46 determines that the recess 2a is not properly formed
IC cards 1 whose heights are determined to be mismatched by Zugi NG discharge device 3
5 and is discharged to the outside. Subsequently, the IC card 1 determined to be a good product is discharged to the discharge conveyor 40 side by the card feeding/discharging device 36.

このように本実施例によれば、モジュールテーブル12
において、配置されたIcモジュール3の表裏および方
向性が異常と判定された場合、直ちにこの異常を主制御
装置80から表示するとともにモジュールテーブルを停
止させるので、該当するICモジュール3を正しい位置
に配置し直すことができる。このため、高価なICモジ
ュール3を組立て不良とすることなく、有効に利用でき
る。また、組立テーブル14において、カード凹部形状
が不良のカード2および組立てられたICカード1が不
良のものは、NG排出装置35によって外部へ排出され
るので、ICカード1の製品精度の向上を図ることがで
きる。またカード2の凹部2a形状が不良の場合は、I
Cモジュール3の供給が停止されるので高価なICモジ
ュール3を無駄にすることはない。
As described above, according to this embodiment, the module table 12
If it is determined that the front and back sides and orientation of the placed IC module 3 are abnormal, this abnormality is immediately displayed from the main controller 80 and the module table is stopped, so that the corresponding IC module 3 can be placed in the correct position. You can do it again. Therefore, the expensive IC module 3 can be effectively used without being assembled defectively. Further, in the assembly table 14, cards 2 with defective card recess shapes and defective assembled IC cards 1 are discharged to the outside by the NG discharge device 35, thereby improving the product accuracy of the IC cards 1. be able to. In addition, if the shape of the recess 2a of the card 2 is defective,
Since the supply of the C module 3 is stopped, the expensive IC module 3 is not wasted.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように、本発明によれば、ICモジュール
が凹部内に確実に固着されていないと判定されたICカ
ードを取除くことにより、ICカードの製品精度の向上
を図ることができる。
As described above, according to the present invention, by removing an IC card whose IC module is determined not to be securely fixed in the recess, it is possible to improve the product accuracy of the IC card.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるICカード組立装置の概略系統図
であり、第2図は第1図■−■線断面図であり、第3図
は第1図■−■線断面図であり、第4図は第1図IV−
IV線断面図であり、第5図は第1図V−V線断面図で
あり、第6図はICカード組立装置の平面図であり、第
7図はICカードの断面図である。 1・・・ICカード、2・・・カード、2a・・・凹部
、3・・・ICモジュール、4・・・プライマ、5・・
・接着シート、12・・・モジュールテーブル、14・
・・組立テーブル、22・・・プライマ塗布装置、24
・・・反転装置、25・・・モジュール供給装置、28
・・・接着シート供給装置、30・・・熱着装置、32
・・・冷却装置。 34・・・剥離検査装置、35・・・NG排出装置、4
5・・・イメージセンサ、46・・・凹部検査装置、7
0・・・表裏判別装置、80・・・主制御装置。 出願人代理人  佐  藤  −雄
FIG. 1 is a schematic system diagram of an IC card assembly apparatus according to the present invention, FIG. 2 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. 1, and FIG. 3 is a sectional view taken along the line ■-■ in FIG. Figure 4 is Figure 1 IV-
5 is a sectional view taken along the line V-V in FIG. 1, FIG. 6 is a plan view of the IC card assembly device, and FIG. 7 is a sectional view of the IC card. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... IC card, 2... Card, 2a... Recessed part, 3... IC module, 4... Primer, 5...
・Adhesive sheet, 12...Module table, 14・
... Assembly table, 22 ... Primer coating device, 24
... Reversing device, 25 ... Module supply device, 28
... Adhesive sheet supply device, 30 ... Heat bonding device, 32
···Cooling system. 34... Peeling inspection device, 35... NG discharge device, 4
5... Image sensor, 46... Recess inspection device, 7
0... Front/back discrimination device, 80... Main control device. Applicant's agent Mr. Sato

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 1.裏面側を上方に向けたICモジュールが順次配置さ
れて回転し、前記ICモジュールにプライマを塗布する
モジュールテーブルと、予め凹部が形成されたカードが
順次配置されて回転し、前記カードの凹部内に接着シー
トおよび表面側を上方に向けた前記ICモジュールを順
次装着し、このICモジュールを加熱押圧する組立テー
ブルとを備え、前記組立テーブルに、凹部内に固着され
たICモジュールの剥離検査を行なう剥離検査装置を設
けたことを特徴とするICカード組立装置。
1. IC modules with their back sides facing upward are sequentially arranged and rotated, and a module table applies a primer to the IC modules, and a card in which a recess is formed in advance is sequentially arranged and rotated to fill the recess of the card. an assembly table for sequentially mounting an adhesive sheet and the IC modules with the front side facing upward and heating and pressing the IC modules; and a peeling test for performing a peel inspection of the IC module fixed in the recess on the assembly table. An IC card assembly device characterized by being equipped with an inspection device.
2.組立テーブルに、カードの凹部の有無を検査する凹
部装置を設けたことを特徴とする請求項1記載のICカ
ード組立装置。
2. 2. The IC card assembly apparatus according to claim 1, wherein the assembly table is provided with a recess device for inspecting the presence or absence of a recess in the card.
3.モジュールテーブルに、ICモジュールの表裏判別
を行なう表裏判別装置を設けたことを特徴とする請求項
1記載のICカード組立装置。
3. 2. The IC card assembling apparatus according to claim 1, wherein the module table is provided with a front/back discriminating device for discriminating front/back sides of the IC module.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP2007011981A (en) * 2005-07-04 2007-01-18 Dainippon Printing Co Ltd Ic card, base material for ic card, production method for ic card, production device for ic card, production method for recessed part-formed base material for ic card and production device recessed part-formed base material for ic card

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1998035316A1 (en) * 1997-02-11 1998-08-13 Giesecke & Devrient Gmbh Process for manufacturing card-shaped data carriers
AU740081B2 (en) * 1997-02-11 2001-11-01 Giesecke & Devrient Gmbh Method for producing card-shaped data carriers
US6519497B1 (en) 1997-02-11 2003-02-11 Giesecke & Devrient Gmbh Process for manufacturing card-shaped data carriers
JP2007011981A (en) * 2005-07-04 2007-01-18 Dainippon Printing Co Ltd Ic card, base material for ic card, production method for ic card, production device for ic card, production method for recessed part-formed base material for ic card and production device recessed part-formed base material for ic card

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