JPH0461465A - 密着型イメージセンサ - Google Patents

密着型イメージセンサ

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JPH0461465A
JPH0461465A JP2171752A JP17175290A JPH0461465A JP H0461465 A JPH0461465 A JP H0461465A JP 2171752 A JP2171752 A JP 2171752A JP 17175290 A JP17175290 A JP 17175290A JP H0461465 A JPH0461465 A JP H0461465A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
substrate
receiving element
image sensor
original
Prior art date
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Pending
Application number
JP2171752A
Other languages
English (en)
Inventor
Hirotaka Arita
有田 宏隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Kyocera Corp filed Critical Kyocera Corp
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Publication of JPH0461465A publication Critical patent/JPH0461465A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は密着型イメージセンサに関し、特に−主面側に
受光素子か形成された基板の他の主面側から基板の端面
側部を通過して原稿に光を照射する密着型イメージセン
サに関する。
(従来の技術およびその問題点) 第3図は、受光部の光電変化膜に水素化したアモルファ
スシリコンなどの薄膜系の半導体を用いた従来の完全密
着型イメージセンサの一例である。
このイメージセンサの各受光素子52の内部には導光窓
53かあけられており、ガラスなどから成る透明基板5
1とこの導光窓53を通った発光ダイオードなどから成
る光源54からの照明光が原稿55に到達する。そして
原稿55の白/黒に応じた反射光か導光窓53周辺の光
電変化膜に入射する。このような導光窓53を有する型
のセンサは、光源54から原稿55ないし受光素子52
まての光の到達率か高く信号のS/N比も高くてきるこ
とか特徴である。反面、アモルファスシリコンは、電子
の移動度か1cm2/V−8未満で、単結晶シリコンよ
りも2桁以上も低いのでアモルファスシリコンたけてイ
メージセンサの駆動回路を構成することか困難であるた
め、外付けのICチップなどを用いざるを得す、低コス
ト化の障害になる。なお、第3図において、56は遮光
層、57は保護ガラス、58は接着層である。
第4図は、上記のような問題点を克服すへく本発明者等
が先に提案したイメージセンサである。
このイメージセンサでは、受光部62や読みだし回路な
どを単結晶あるいは多結晶のバルク状シリコン基板61
内に一体化して形成し、且つ完全密着型としたものであ
る。受光素子62の列は、単結晶シリコン基板61の端
辺近傍(20μm程度以下)にあり、原稿65からの反
射光を受けることができる。
このようなセンサにおいて、受光素子62の列は、基板
61の端にてきるだけ近いことが望ましいが、読み取り
長さ(受光部列の長さ)か200〜300mmになると
、基板6】の端から受光素子62まての距離を均一に再
現性よく設定するためには、10〜20μm程度か限界
である。このため、光源64から受光素子62まての光
の到達率が第3図の薄膜系センサに比較して低く、同一
の光源で比較すると受光素子62からの出力は1/2程
度になってしまうことか認められた。したかって、S/
N比か第3図の薄膜系に比較して劣り、信号の階調化な
どに不利である。なお、第4図中、67は保護ガラスで
ある。
本発明は、上記のような従来技術の問題点に鑑みて案出
されたものであり、基板の他の主面側から基板の端面側
部を通過して原稿に光を照射するイメージセンサにおい
ても原稿面を効率良く照射することができるS/N比の
高い密着型イメージセンサを提供することを目的とする
ものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明によれば、読み取り用原稿か走査される基板の一
生面側の端面近傍に複数個の受光素子を列状に形成して
、光源の光か基板の端面側部を通過して原稿面での反射
光を上記受光素子で受光できるように原稿照明用の光源
を基板の他の主面側に配設するとともに、上記基板の端
面部に上記光源の光を集光して原稿面を照射するように
レンズ体を設けた密着型イメージセンサか提供され、そ
のことにより上記目的が達成される。
(実施例) 以下、本発明を添付図面に基づき詳細に説明する。
第1図は、本発明に係る密着型イメージセンサの一実施
例を示す図であり、同図(a)は断面図、同図(b)は
平面図である。
本発明では、受光米子などを形成する基板として例えば
バルク状のシリコン基板などが用いられる。バルク状の
シリコン基板は、従来周知の単結晶製造法や多結晶製造
法によって製造され、厚みが0. 2〜1mmとなるよ
うに所望寸法に切り出される。この半導体基板l内には
、例えばボロンなとの一導電型不純物を含有している。
半導体基板1の一生面側には、受光素子を構成するフォ
トダイオード2、受光素子2部分の蓄積電荷を読み出す
ためのスイッチング用トランジスタ3、およびスイッチ
ング用トランジスタ3を順次駆動するだめの駆動回路4
かそれぞれ列状に多数形成されている。この受光素子2
、スイッチング用トランジスタ3および駆動回路4は、
半導体基板1の一生面側の複数の所定箇所に例えばリン
などの逆導電型不純物5を拡散させるとともに、複数の
所定箇所に絶縁膜6を形成して配線パターン(第1図に
おける黒色線)を施し、最後に酸化シリコン膜や窒化シ
リコン膜などから成るパシベーションwX7を形成する
従来周知の半導体製造法により形成される。なお、上述
の駆動回路4は、シフトレジスタなとて構成される。
前記半導体基板1の他の主面側には、半導体基板を支持
するためのアルミニウムなとから成るベース部材8が配
設されているとともに、半導体基板1の一生面側には、
半導体基板1内に形成された各種素子を原稿との摩擦ダ
メージから保護するための透光性の保護ガラス9か半導
体基板Iの端部よりも外方に延在するように配設されて
いる。
この保護ガラス9面上で原稿10を走査させる。
保護ガラス9と半導体基板1とは、透光性の接着樹脂層
IIで接着されている。この透光性の接着樹脂層11と
しては、例えばエポキシ系、フェノール系、シリコン系
などの各種樹脂を用いることかできる。
第2図は、本発明に係るイメージセンサの光学系を説明
するための図である。
半導体基板1の他の主面側には、半導体基板1の端面側
部を通過して原稿に光を照射する光源12が配設されて
いる。この光源12は、発光ダイオードや冷陰極ランプ
などて構成される。
前記半導体基板1の受光素子2が列状に形成された端部
側の光源12の光路には、レンズ体13か配設されてい
る。このレンズ体13は、ガラスやアクリル系樹脂など
の透光部材で構成され、この透光部材の直径は1〜3m
m程度長さはイメージセンサの読み取り長さ程度で、円
柱状に形成されている。なお、レンズ体13は、円柱状
のものに限らない。要は、光源12の光を集光できるよ
うな凸レンズ状のものであればよい。このレンズ体13
のアッセンブルの際には、基板1、薄板ガラス9、およ
び円柱状レンズ13て囲まれる部分Xに接着用樹脂11
か入り込まないようにすることか望ましい。なぜなら、
接着用樹脂11の屈折率は、円柱状レンズ13のそれに
近いため円柱状レンズ13の集光能力か低下するためで
ある。接着用樹脂11の屈折率か、円柱状レンズの屈折
率とかなり相違する場合は、上記の限りではない。
而して、半導体基板1の他の主面側に発光ダイオードな
どから成る光源12を配設して、光を半導体基板1の端
面側部を設けられたレンズ体13を通過させて原稿10
を照射する。原稿10面の濃淡に応じた反射光を半導体
基板1の一生面側に形成された受光素子2部分て感知し
て、各受光素子部分での光の強度に応じた蓄積電荷をス
イッチング用トランジスタ3を順次駆動させて信号出力
線14から時系列的に順次導出して原稿面での濃淡を読
み取る(第1図参照)。
本発明では、半導体基板1の他の主面側から半導体基板
1の端面側部を通過させて原稿面10に照明光12を照
射することから、従来の密着型イメージセンサのように
受光素子2内に導光窓を形成する必要はない。したかっ
て、密着型イメージセンサの受光素子2を形成する基板
としてバルク状の半導体基板を用いることか可能となり
、且つこの半導体基板内に駆動回路やスイッチング用ト
ランジスタを一体に形成することか可能となる。
なお、受光素子2を形成する基板1として単結晶または
多結晶半導体基板を用いることに限らず、例えばガラス
基板上にアモルファスシリコンで受光素子2を形成した
密着型イメージセンサにも適用できる。
(発明の効果) 以上のように、本発明に係る密着型イメージセンサによ
れば、読み取り用原稿か走査される基板の一生面側の端
面近傍に複数個の受光素子を列状に形成して、光源の光
が基板の端面側部を通過して原稿面での反射光を上記受
光素子で受光できるように原稿照明用の光源を基板の他
の主面側に配設するとともに、基板の端面部に上記光源
の光を集光して原稿面を照射するようにレンズ体を設け
たことから、受光素子の読み取り領域に該当する原稿面
の照度か向上し、受光素子への反射光量もふえるため、
受光素子からの出力か増大するとともに、光源によって
照明される領域かレンズの集光作用によって限定される
ため、副走査方向の読み取り精度か向上する。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明に係る密着型イメージセンサの一
実施例を示す断面図、第1図(b)は同じく平面図、第
2図は本発明に係る密着型イメージセンサの要部を示す
断面図、第3図は従来の密着型イメージセンサを示す断
面図、第4図は従来の他の密着型イメージセンサを示す
断面図である。 1:基板        2:受光素子10:原稿  
     12 照明光13:レンズ体

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)読み取り用原稿が走査される基板の一主面側の端
    面近傍に複数個の受光素子を列状に形成して、光源の光
    が基板の端面側部を通過して原稿面での反射光を上記受
    光素子で受光できるように原稿照明用の光源を上記基板
    の他の主面側に配設するとともに、基板の端面部に上記
    光源の光を集光して原稿面を照射するようにレンズ体を
    設けた密着型イメージセンサ。
  2. (2)前記レンズ体が前記基板の幅とほぼ同一の長さを
    有する柱状のレンズ体であることを特徴とする請求項(
    1)に記載の密着型イメージセンサ。
JP2171752A 1990-06-28 1990-06-28 密着型イメージセンサ Pending JPH0461465A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2171752A JPH0461465A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 密着型イメージセンサ

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JP2171752A JPH0461465A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 密着型イメージセンサ

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JP2171752A Pending JPH0461465A (ja) 1990-06-28 1990-06-28 密着型イメージセンサ

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