JPH0456262B2 - - Google Patents

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JPH0456262B2
JPH0456262B2 JP57094017A JP9401782A JPH0456262B2 JP H0456262 B2 JPH0456262 B2 JP H0456262B2 JP 57094017 A JP57094017 A JP 57094017A JP 9401782 A JP9401782 A JP 9401782A JP H0456262 B2 JPH0456262 B2 JP H0456262B2
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JP
Japan
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potential
photoconductor
electrometer
surface electrometer
photoreceptor
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP57094017A
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English (en)
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JPS58211669A (ja
Inventor
Akihiko Takeuchi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP57094017A priority Critical patent/JPS58211669A/ja
Publication of JPS58211669A publication Critical patent/JPS58211669A/ja
Publication of JPH0456262B2 publication Critical patent/JPH0456262B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R35/00Testing or calibrating of apparatus covered by the other groups of this subclass
    • G01R35/005Calibrating; Standards or reference devices, e.g. voltage or resistance standards, "golden" references

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Control Or Security For Electrophotography (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、表面電位計を内蔵した電子写真等の
静電記録装置において、表面電位計の基準電位を
較正する方法に関する。
従来、電子写真等の静電記録装置においては、
感光体の環境や劣化による電位のドリフトによる
画像の劣化を防止するために、静電記録装置内に
表面電位計を設けて感光体の電位をモニターし、
その電位がある設定値から外れた値となつた場合
に、感光体に印加するコロナ電流や画像露光量あ
るいは現像時の現像バイアス電圧を制御して画像
を安定に保つ方法が知られていた。
しかしながら、この方法においては、表面電位
計自体が汚れや環境条件によつてドリフトを生じ
た場合、画像が直ちに劣化してしまうという欠点
があつた。
そこで、本発明の目的は、上述したような表面
電位計のドリフトという問題を解決する表面電位
計の較正方法を提案することにある。
以下、本発明を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の1実施例を示し、ここで、感
光体ドラム1は、コロナ帯電器2によつてコロ
ナ帯電を受け、しかる後に、画像露光光3によつ
て除電を受けて潜像を形成する。次いで、この潜
像は現像器4により顕像化され、転写帯電器5に
より記録紙6に転写される。転写残りのトナーは
クリーナ7によつて回収される。更に、電位セン
サー8および表面電位計9によつて潜像の暗電位
および明電位を読み取り、その検出信号をマイク
ロコンピユータ10で演算処理し、その出力を可
変高圧電源11および現像バイアス電源12に帰
還し、それにより電源11の電圧を変えてコロナ
帯電器2を帰還制御し、電源12により現像器4
を帰還制御し、以て画質を安定化する。
以上の構成は上述した従来公知の制御方法に関
するもので、本発明では、更に加えて、表面電位
計9を較正するための基準電位を感光ドラム1上
に形成し、その基準電位に基づいて表面電位計9
のドリフトによる誤制御を防止する。そのために
本発明では、第1図に示すように、基準電位を作
るために感光ドラム1上の感光体の表面を一様に
除電するのに十分な光量を有する露光光源13を
設け、感光体としては、残留電位がきわめて少な
い感光体、例えば最近実用化されつつあるアモル
フアス・シリコン感光体などを用いる。本発明者
が検討したところでは、アモルフアス・シリコン
感光体のなかには、表面電位を暗部にて500V程
度に帯電した後に10×sec程度の可視光を与え
ることによつて、残留電位を2〜4V程度にまで
除電できるものがあり、かかる感光体を用いて本
発明を実施することができることが判明した。
本実施例では、上述したようなアモルフアス・
シリコン感光体を導電性基板上に設けた感光ドラ
ム1を用い、また、露光光源13を画像露光部近
辺の適所に設け、画像露光を行なう前の、いわゆ
る前回転時に、露光光源13で光源1に光を照射
してドラム1上の感光体を略々0Vに除電し、こ
の値を基準電位として表面電位計9で読み込ん
で、電位計9の零点調整を行う。すなわち、電位
計9から、上述の基準電位に対する出力をマイク
ロコンピユータ10に較正時電位として読み込ん
で、その値をもとに電位計9の読みを補正して、
電源11および12の制御を行う。
なお、電位計9を較正するためには、上述のよ
うにマイクロコンピユータ10を用いる代りに、
電位センサ8で検出した基準電位出力により電位
計9の回路を直接に較正することも容易に行え
る。
更にまた、露光光源13は感光ドラム1の外周
上の任意所望の位置に設置しても差支えないが、
電位センサ8から離れると前回転の時間が長くな
るので、その場合には後回転の時に露光を行いな
がらコロナ帯電はすべて中止して感光ドラム1を
1回転だけ回転させることによつて、前回転を省
略してドラム回転前に表面電位計9を較正しても
よい。
更に加えて、画像露光光3を得るのにレーザを
用いる場合には、そのレーザ出力を高めて露光光
源13の代りに用いてもよい。
以上に述べたように、本発明によれば、特別な
治具を用いずに表面電位計の較正を容易に、また
自動的に行うことができ、従来のような表面電位
計のドリフトによる誤制御を防止することができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の1実施例を示す線図。 1……感光ドラム、2……コロナ帯電器、3…
…画像露光光、4……現像器、5……転写帯電
器、6……転写紙、7……クリーナ、8……電位
センサ、9……表面電位計、10……マイクロコ
ンピユータ、11……可変高圧電源、12……現
像バイアス電源、13……露光光源。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 アモルフアス感光体、前記感光体の表面電位
    を検出する表面電位計、前記感光体を帯電する帯
    電手段、前記感光体を露光し、前記感光体上の電
    荷を除電する露光手段、及び前記表面電位計の出
    力に基づいて前記帯電手段の出力を制御する制御
    手段を備えた静電記録装置の表面電位計の較正方
    法において、前記制御手段は前記露光手段を動作
    させて前記アモルフアス感光体の画像形成領域を
    大略ゼロ電位として、前記表面電位計の出力値を
    較正電位として読み込み、前記較正電位に基づい
    て前記帯電手段の出力を制御する際に前記表面電
    位計の出力値を較正することを特徴とする表面電
    位計の較正方法。
JP57094017A 1982-06-03 1982-06-03 表面電位計の較正方法 Granted JPS58211669A (ja)

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JPS58211669A JPS58211669A (ja) 1983-12-09
JPH0456262B2 true JPH0456262B2 (ja) 1992-09-07

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JPS58211669A (ja) 1983-12-09

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