JPH045169B2 - - Google Patents
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- JPH045169B2 JPH045169B2 JP58058498A JP5849883A JPH045169B2 JP H045169 B2 JPH045169 B2 JP H045169B2 JP 58058498 A JP58058498 A JP 58058498A JP 5849883 A JP5849883 A JP 5849883A JP H045169 B2 JPH045169 B2 JP H045169B2
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- pulsed laser
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- 238000001454 recorded image Methods 0.000 claims 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
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- 206010028980 Neoplasm Diseases 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は標本の状態検出方法とそのための装置
に係るものであり、更に具体的にいえば活性に近
い状態として標本の状態をレーザー顕微鏡を用い
て観察できるようにする方法と装置に係るもので
ある。
に係るものであり、更に具体的にいえば活性に近
い状態として標本の状態をレーザー顕微鏡を用い
て観察できるようにする方法と装置に係るもので
ある。
レーザー顕微鏡を用いて例えば癌細胞を判別す
るとが行われる。この場合健全な細胞と区別する
ため癌化した細胞に選択的に螢光色素を吸着さ
せ、高輝度なレーザー光を連続的に照射して螢光
色素を励起しコントラストの高い発光像を得てこ
れを観察する。しかし連続的なレーザー光の照射
により標本はレーザー光照射前の状態とは異なる
状態例えば死滅状態を呈することがあり、レーザ
ー光照射前の状態での観察が実施できないという
問題があつた。
るとが行われる。この場合健全な細胞と区別する
ため癌化した細胞に選択的に螢光色素を吸着さ
せ、高輝度なレーザー光を連続的に照射して螢光
色素を励起しコントラストの高い発光像を得てこ
れを観察する。しかし連続的なレーザー光の照射
により標本はレーザー光照射前の状態とは異なる
状態例えば死滅状態を呈することがあり、レーザ
ー光照射前の状態での観察が実施できないという
問題があつた。
本発明はこの問題を解決して、観察のための条
件により観察前の状態を変えてしまうということ
なく標本の状態を観察できる方法と装置とを提供
することを目的とする。
件により観察前の状態を変えてしまうということ
なく標本の状態を観察できる方法と装置とを提供
することを目的とする。
本発明は標本の状態を変えない短いパルス幅の
単一の紫外パルスレーザー光を標本に投射し、紫
外パルスレーザー光により標本を励起し活性に近
い状態としそれにより例えば癌細胞を健全な細胞
と識別し得る状態としてこれを観察することによ
り前記の目的を達成しているのである。
単一の紫外パルスレーザー光を標本に投射し、紫
外パルスレーザー光により標本を励起し活性に近
い状態としそれにより例えば癌細胞を健全な細胞
と識別し得る状態としてこれを観察することによ
り前記の目的を達成しているのである。
紫外パルスレーザー光とは具体的にはエキシマ
ーレーザー光（パルス幅約10ナノ秒）又はパルス
レーザーによつて励起された紫外色素レーザーで
ある。紫外パルスレーザー光を標本に投射し、紫
外パルスレーザー光により標本を励起して活性に
近い状態とすることができるが、標本によつては
観察対象に螢光色素を吸着させてこれを励起して
観察するのが有利なこともある。
ーレーザー光（パルス幅約10ナノ秒）又はパルス
レーザーによつて励起された紫外色素レーザーで
ある。紫外パルスレーザー光を標本に投射し、紫
外パルスレーザー光により標本を励起して活性に
近い状態とすることができるが、標本によつては
観察対象に螢光色素を吸着させてこれを励起して
観察するのが有利なこともある。
以下に添付図面を参照して本発明の実施例を詳
述する。
述する。
第１図は本発明による標本の状態検出方法を実
施する装置の構成を示す。第１図において、顕微
鏡のステージにのせた標本Ｓにエキシマレーザー
発振器１から単一の紫外パルスレーザー光を光学
系を介して標本Ｓに投射する。光学系の配置によ
り紫外パルスレーザー光は標本Ｓの直上から投射
され、標本Ｓから反射された光を顕微鏡の対物レ
ンズがうけるか（実線の光路）又は標本Ｓの真下
から標本Ｓを透過してその透過光を顕微鏡の対物
レンズがうけるののいずれかである。
施する装置の構成を示す。第１図において、顕微
鏡のステージにのせた標本Ｓにエキシマレーザー
発振器１から単一の紫外パルスレーザー光を光学
系を介して標本Ｓに投射する。光学系の配置によ
り紫外パルスレーザー光は標本Ｓの直上から投射
され、標本Ｓから反射された光を顕微鏡の対物レ
ンズがうけるか（実線の光路）又は標本Ｓの真下
から標本Ｓを透過してその透過光を顕微鏡の対物
レンズがうけるののいずれかである。
対物レンズを通る光はレーザーの特定波長のみ
通過させるバンドパスフイルタ２、しぼり３、イ
メージインテンシフアイヤ４を介してビジコン５
に入り、そこに標本の光像を形成する。ビジコン
５はTVコントローラー６を経て画像メモリー７
に標本の光像を送り、そこに光像を蓄積させる。
この蓄積像をTVモニター８に呈示して観察す
る。画像メモリ７とエキシマレーザー発振器１と
に接続されている同期回路９は、TV垂直同期信
号を遅延させて後続のTV垂直同期信号とレーザ
ー光の発生とを一致させ、ビジコンの受光面の残
像が消えない間に画像メモリに標本の光像を蓄積
させる。
通過させるバンドパスフイルタ２、しぼり３、イ
メージインテンシフアイヤ４を介してビジコン５
に入り、そこに標本の光像を形成する。ビジコン
５はTVコントローラー６を経て画像メモリー７
に標本の光像を送り、そこに光像を蓄積させる。
この蓄積像をTVモニター８に呈示して観察す
る。画像メモリ７とエキシマレーザー発振器１と
に接続されている同期回路９は、TV垂直同期信
号を遅延させて後続のTV垂直同期信号とレーザ
ー光の発生とを一致させ、ビジコンの受光面の残
像が消えない間に画像メモリに標本の光像を蓄積
させる。
第２図ａ，ｂ，ｃは、紙の繊維のレーザー顕微
鏡写真の一例を示すものでありａはタングステン
ランによる白色光照明ｂは本発明によるレーザー
波長249nｍ励起、バンドパスフイルター249nｍ
使用の顕微鏡写真、ｃは本発明によるレーザー波
長350nｍ励起バンドパスフイルター350nｍ使用
の顕微鏡写真、ｄ，ｅ，ｆは紙の繊維をさらに高
倍率で観察したものでｄはタングステンランプに
よる白色光照明、ｅは波長350nｍのレーザー光
励起による431nｍでの可視螢光像写真で、431n
ｍのバンドパスフイルターを使用した。ｆは同じ
く350nｍのレーザー波長で励起し、350nｍのバ
ンドパスフイルターを使つた反射光像写真であ
る。
鏡写真の一例を示すものでありａはタングステン
ランによる白色光照明ｂは本発明によるレーザー
波長249nｍ励起、バンドパスフイルター249nｍ
使用の顕微鏡写真、ｃは本発明によるレーザー波
長350nｍ励起バンドパスフイルター350nｍ使用
の顕微鏡写真、ｄ，ｅ，ｆは紙の繊維をさらに高
倍率で観察したものでｄはタングステンランプに
よる白色光照明、ｅは波長350nｍのレーザー光
励起による431nｍでの可視螢光像写真で、431n
ｍのバンドパスフイルターを使用した。ｆは同じ
く350nｍのレーザー波長で励起し、350nｍのバ
ンドパスフイルターを使つた反射光像写真であ
る。
この様に本発明では、レーザー光としてエキシ
マ、又はN2又は色素レーザーを用いる。とくに
色素レーザーは波長が可変することができるため
標本への励起波長を変え、標本の組織の一部があ
る波長を吸収するか否かによりその反射像および
螢光像をコントラストよく得る事ができる。そし
て励起波長と螢光波長の関係から標本特有の情報
を得ることも期待される。
マ、又はN2又は色素レーザーを用いる。とくに
色素レーザーは波長が可変することができるため
標本への励起波長を変え、標本の組織の一部があ
る波長を吸収するか否かによりその反射像および
螢光像をコントラストよく得る事ができる。そし
て励起波長と螢光波長の関係から標本特有の情報
を得ることも期待される。
第１図は本発明によるレーザー顕微鏡の実施例
を示す。第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ及びｆは紙の
繊維のレーザー顕微鏡写真である。 図中：１……エキシマレーザー発振器、２……
バンドパスフイルタ、３……しぼり、４……イメ
ージインテンシフアイヤ、５……ビジコン、６…
…TVコントローラー、７……画像メモリー、８
……TVモニター、９……同期回路。
を示す。第２図ａ，ｂ，ｃ，ｄ，ｅ及びｆは紙の
繊維のレーザー顕微鏡写真である。 図中：１……エキシマレーザー発振器、２……
バンドパスフイルタ、３……しぼり、４……イメ
ージインテンシフアイヤ、５……ビジコン、６…
…TVコントローラー、７……画像メモリー、８
……TVモニター、９……同期回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 標本の状態を変えない短いパルス幅の単一の
紫外パルスレーザー光を標本に投射し、標本から
反射した、又は標本を透過した光を蓄積し、そし
てその蓄積され、標本の表面状態を表す光のパタ
ーンを可視化することを特徴とする標本の表面状
態検出法。 ２ 標本の状態を変えない短いパルス幅の紫外パ
ルスレーザー光を発生する装置、パルスレーザー
光を標本に投射する光学系、標本から反射した、
又は標本を透過したパルスレーザー光を受けるビ
ジコン、このビジコンに接続されている画像記録
装置及びこの画像記録装置の記録画像を表示する
装置を備えることを特徴とするレーザー顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5849883A JPS59184315A (ja) | 1983-04-02 | 1983-04-02 | 標本の状態検出方法とそのためのレ−ザ−顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5849883A JPS59184315A (ja) | 1983-04-02 | 1983-04-02 | 標本の状態検出方法とそのためのレ−ザ−顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59184315A JPS59184315A (ja) | 1984-10-19 |
| JPH045169B2 true JPH045169B2 (ja) | 1992-01-30 |
Family
ID=13086082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5849883A Granted JPS59184315A (ja) | 1983-04-02 | 1983-04-02 | 標本の状態検出方法とそのためのレ−ザ−顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59184315A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4656358A (en) * | 1985-03-12 | 1987-04-07 | Optoscan Corporation | Laser-based wafer measuring system |
| JP4577282B2 (ja) | 2006-08-11 | 2010-11-10 | トヨタ自動車株式会社 | エンジンの排気装置、その製造方法、マフラ及び車両 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5149790A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-04-30 | Block Engineering | Aikotonarukeikogensuijumyoojusuru 2 shuruinokeikoseibiryushishuzokuoshikibetsusuruhoho oyobisochi |
| JPS5632116A (en) * | 1979-08-23 | 1981-04-01 | Toshiba Corp | Specimen observing device |
-
1983
- 1983-04-02 JP JP5849883A patent/JPS59184315A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5149790A (ja) * | 1974-08-21 | 1976-04-30 | Block Engineering | Aikotonarukeikogensuijumyoojusuru 2 shuruinokeikoseibiryushishuzokuoshikibetsusuruhoho oyobisochi |
| JPS5632116A (en) * | 1979-08-23 | 1981-04-01 | Toshiba Corp | Specimen observing device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59184315A (ja) | 1984-10-19 |
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