JPH0451575A - 太陽電池およびその製造方法 - Google Patents

太陽電池およびその製造方法

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JPH0451575A
JPH0451575A JP2159698A JP15969890A JPH0451575A JP H0451575 A JPH0451575 A JP H0451575A JP 2159698 A JP2159698 A JP 2159698A JP 15969890 A JP15969890 A JP 15969890A JP H0451575 A JPH0451575 A JP H0451575A
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JP
Japan
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layer
electrode
junction
conductivity type
forming
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JP2159698A
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English (en)
Inventor
Tatsuya Takamoto
達也 高本
Hitoshi Okazaki
均 岡崎
Masamichi Omori
大森 正道
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Eneos Corp
Original Assignee
Nippon Mining Co Ltd
Nikko Kyodo Co Ltd
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    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/544Solar cells from Group III-V materials

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  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野1 本発明は、高効率の太陽電池の構造に関するものであり
、低コストで作業性のすぐれた太陽電池およびその製造
方法を提供することを目的とする。
[従来の技術] 高効率の太陽電池を得るためには、バンドキャップ(禁
制帯幅)の異なる(すなわち、吸収する光の波長の違う
)半導体よりなる太陽電池を積層することにより、幅広
い光を吸収でき、光電変換効率を向上させることができ
る。異なるバンドキャップを有する半導体を用いた2つ
の太陽電池を積層した場合、35%以上の変換効率が得
られるという計算結果があるが、それぞれのセル(太陽
電池を構成する1つの単位)よりどのように出力をとり
だすかによって、得られる効率に差が生じる。以下に端
子のとりだし方と得られる変換効率の関係を示す。
■2端子型 上部セル、下部セルをトンネル接合によって結び、上部
セルの表面と下部セルの裏面より出力を取り出す構造で
ある。2つのセルが直列に接合されるため、上・下部セ
ルに流れる電流が等しくなる。したがって、上・下部セ
ルで作り出される電流が等しくない場合には、変換効率
の損失が生じる。
■3端子型 上部セル裏面と下部セル表面の間を金属によって接続し
、そこから第3の端子を取り呂す。上部セルの表面、下
部セルの裏面からの端子と合わせ3本の端子を取り出す
構造である。この場合、上部セルの裏面と下部セルの表
面の電極部を兼用しているため、それぞれの負荷を独立
に変化させられないため、それぞれの電圧差が等しくな
ければ変換効率の損失を生じる。
■4端子型 上部セル、下部セルよりそれぞれ2端子ずつ取り出した
計4本の端子を取り出す構造である。上下のセルは独立
に動作するため変換効率は単純に上下のセルの変換効率
の和になる。
第3図に、2端子型、3端子型、4端子型の構造の太陽
電池について、変換効率と上部セルのバンドギャップと
の関係の計算結果を示す。(T、J。
Coutts、J、DoMeakin;Current
  Topics  in  Phot。
voltaics、Vol、3.pp213(+988
) )これは、下部セルとして、バンドギャップが1,
34eVである■nP半導体を用いた場合についての計
算である。
同図より、2端子型、3端子型では、それぞれ電流、電
圧に制約が加わるため、4端子型と比較して、上部セル
として選べるバンドギャップの自由度が小さくなってお
り、高い効率を得るのが非常に困難になっている。
上記に述べたように、構造上の限定が少ないため、4端
子型太陽電池では、比較的簡単に優れた変換効率が得ら
れる。
[発明が解決しようとする課題] しかし、従来の4端子型太陽電池では、第4図に示すよ
うにGaAs半導体からなる上部セルlを透明接着剤3
を用いて、1ncuse、半導体からなる下部セル4と
接着した構造になっている。(N、P。
Kim、R,M、Mickelsen、J、E、Ave
ry;20th  Photovolt、aic 5p
ec、 Conf、、pp457(1988))このた
め以下に示すような欠点があった。
(i)上部セルの厚さを10μ程度と薄くし、下部セル
と張り合わせなくてはならない。10μm以上の厚さが
あった場合、光電変換に寄与しない部分での光吸収が大
きくなり、下部セルの変換効率が低下してしまう。この
ため、上部セルの機械的強度が非常に弱く、作業性の低
下、セルの信頼性の低下につながる。
(11)上部セルと下部セルを張りつける工程で、上部
セルの表面電極4、裏面電極5と下部セル表面電極6を
光入射方向に対して一直線上に配置することが必要とな
る。このように配置されない場合、入射面のうち光起電
力に関与しない面積が大きくなるため、変換効率が低下
する。また、電極幅が数十μmであるため、張り合わせ
時の上・下セルのアライメントは非常に困難である。こ
のため、張り合わせによる変換効率の低下、バラツキが
大きくなる。
本発明は上記の欠点を除去したもので、本発明の目的は
、安定して作製できる4端子型高効率太陽電池の構造と
その製造方法を提供することにある。
[課題を解決するための手段及び作用]本発明による太
陽電池は、第1の半導体物質からなり、2つの異なる導
電型層からなる第1(1)P/N接合層; 該第1(1
)P/N接合層の一方の主面上に設けられ、所定幅の開
口を有し、実質的に絶縁性である高抵抗層: 該開口に
設けられ、前記第1(1)P/N接合層の一方の導電型
層とオーミック接合する第1の電極; 前記高抵抗層上
に設けられ、前記第1の半導体物質よりもバンドギャッ
プの大きい第2の半導体物質からなり、2つの異なる導
電型層からなる第2(1)P/N接合層;前記第1の電
極上に設けられた第1の絶縁物層:該第1の絶縁物層上
に設けられ、前記第2(1)P/N接合層の一方の導電
型層とオーミック接合する第2の電極; 該第2(1)
P/N接合層の他方の導電型層とオーミック接合する第
3の電極;および 前記第1(1)P/N接合層の他方
の導電型層とオーミック接合する第4の電極;を含むも
のである。
また、本発明による製造方法は、第1の半導体物質から
なり、2つの異なる導電型層からなる第1(1)P/N
接合層を形成する第1の工程; 該第1(1)P/N接
合層の一方の主面上に、実質的に絶縁性である高抵抗層
を形成する第2の工程; 該高抵抗層上に、前記第1の
半導体物質よりもバンドギャップの大きい第2の半導体
物質からなり、2つの異なる導電型層からなる第2(1
)P/N接合層を形成する第3の工程; 所定領域の前
記第1(1)P/N接合層および前記高抵抗層を除去す
ることで開口を形成する第4の工程; 該開口の底部に
、前記第1(1)P/N接合の一方の導電型層とオーミ
ック接合する第1の電極を形成する第5の工程; 該第
1の電極上に第1の絶縁物層を形成する第6の工程; 
該第1の絶縁物層上に、前記第2(1)P/N接合層の
一方の導電型層とオーミック接合する第2の電極を形成
する第7の工程; 該第2(1)P/N接合層の他方の
導電型層とオーミック接合する第3の電極を形成する第
8の工程;および 前記第1(1)P/N接合の他方の
導電型層とオーミック接合する第4の電極を形成する第
9の工程;を含むものである。
本発明は、下部セル(第1(1)P/N接合層)に上部
セル(第2(1)P/N接合層)を、実質的に絶縁性で
ある高抵抗層を介して積層し、上部セルの上から穴を開
け、上部セルの下側の電極(第2の電極)と下部セルの
上側の電極(第3の電極)を形成し、それぞれの電極よ
り起電力を取り出すものである。したがって、4端子型
の構造の太陽電池を製造する際に上下のセルを張つける
作業が必要なく、作業性のよいプロセスで製造でき、低
コスト化が可能となる。
[実施例] 以下、実施例により詳細に説明する。
まず、製造方法を工程に従って、第1の実施例を示した
第1図を用いて説明する。第1図(a)〜(f)は断面
図、第1図(g)は平面図を示している。
第1の工程;第1図(a)に示すように、P型のシリコ
ン単結晶ウェハ10(厚さ:200μm)の表面にリン
を気相拡散することでn+S i層J1 (厚さ:0,
2μm程度)を形成して、pSiSi2F6/N接合を
形成する。こ(1)P/N接合が下部セルを構成する。
また、シリコン単結晶ウェハの裏面は、オーミック電極
の形成のために、はう素を気相拡散してp+S i層1
3(厚さ=0.2μm程度)を形成する。
第2の工程; n+S i層11上に超格子バッファ層
14をMOCVD法により作成し、その超格子バッファ
層14上にクロライドCVD法により高抵抗の1−In
GaPnGaP主153pm、ドープ濃度:1OE15
以下)を形成する。この1−InGaPnGaP主15
セルと下部セルを電気的に分離している。また、超格子
バッファ層14は、シリコンとI no 4sGao 
s5Pとの格子不整合による格子歪を緩和するために設
けられ、n+si層11側からGaP/I no 7G
ao3P/I no45Gao5bPの組成で構成され
ている。
第3の工程;1−1nGaP層15の形成に引き続き、
上部セルを構成する。亜鉛ドープP型のp+InGaP
層16(厚さ:2pm、ドープ濃度:10E18程度)
、亜鉛ドープP型のpInGaPInGaP主17μm
、ドープ濃度=10E16〜17)および硫黄ドープN
型のn+InGaPMt18(厚さ:0.2μm以下、
ドープ濃度:10E18程度)を順次クロライドCV 
D法により作成する。以上の工程により第1図(b)に
示す基板が作成される。
第4の工程;n+InGaP層18の上に層目8m幅の
開口を有する第1のレジスト膜(図示せず)を形成し、
このレジスト膜をマスクとして、n+InGaP層18
、p 層目8aP層17、p+InGaP層16.1−
InGaPnGaP主15格子バッファ層14をエツチ
ングして第1図(C)、に示すような開口19を形成す
る。なお、このエツチングは異方性ドライエツチングに
より行う。
第5の工程;開口19の底部に露出したn+31層11
とオーミック接合する第1の電極20(厚さ:2μm)
を真空蒸着により形成する。この電極は、Ti−Ag合
金からなり、下部セルの表面電極となる。
第6の工程;開口19の第1の電極20上を覆う、よう
に、S i O,からなる絶縁物層21 (厚さ:2μ
m)をスパッタにより形成する。次に、第1のレジスト
膜を除去することで、開口19以外に形成された第1の
電極用の金属層および絶縁物層を同時に除去する。この
ようにして、第1図(d)に示す構造を形成する。
第7の工程;n+InGaP層18の上に層目89を包
含する30μm幅の開口を有する第2のレジスト膜(図
示せず)を形成する。このレジスト膜をマスクとして、
n+InGaP層18、pI層目8PInGaP主17
一部分のp+InGaP層16をエツチング液によりウ
ェットエツチングして、絶縁物層21より上の開口19
の開口幅を広げる。次に、第1図(e)に示すように、
絶縁物層21上にp+InGaP層16とオーミック接
合する第2の電極22(厚さ:2μm)を真空蒸着によ
り形成する。この電極は、Zn −Ag合金からなり、
上部セルの裏面電極となる。
第8の工程;開口19以外に開口部(開口幅=20μm
)を有する第3のレジスト膜(図示せず)をn+InG
aP層18の上に層目8、n+InGaPMllとオー
ミック接合する第3の電極23X厚さ=1μm)を真空
蒸着により形成する。
この電極は、Ti−Ag合金からなり、上部セルの表面
電極となる。その後、第3のレジスト層を除去する。
第9の工程:第1図(f)に示すように、シリコン単結
晶基板10の裏面全面にp+S i層13とオーミック
接合する第4の電極24(厚さ21μm)を真空蒸着に
より形成する。この電極は、Al金属からなり、下部セ
ルの裏面電極となる。
以上の工程により作成した第1の実施例の平面構造を第
1図(g)に示す。1つの太陽電池の大きさは、2cm
角であり、入射面である表面上に開口19と上部セルの
表面電柵である第3の電極23が2mm間隔て交互に設
けられている。第3の電極23、開口19に設けられた
第1の電極および第2の電極はそれぞれがコンタクト部
25.26.27に接続されており、電圧を取り出すこ
とができる。なお、第1図(a)〜(f)の断面図は、
第1図(g)の平面図中のA−A″部分対応している。
第1の実施例によれば、高い効率の4端子型太陽電池を
高い歩留まりで作成することができる。
加えて、下部セルと上部セル間に超格子バッファ層を設
けたので、上・下部セルの半導体材料の選択が格子定数
が整合するものに限られることなく、変換効率を向上さ
せることができる。
次に、第2の実施例を第2図に示す。第2図(a)は断
面図を、第2図(b)は平面図を示している。なお、第
2図(a)の断面図は、第1図(b)の平面図中のA−
A’部分に対応している。
第2の実施例の製造工程は、第1の実施例の第7の工程
までは同一である。第7の工程において、第2の電極2
2を形成した後に、次の第8の工程として、第2の電極
22を覆うように開口19内に第2の絶縁物層28を作
成する。そして、。+InGaP層18とP層ミック接
合する第3の電極23′ をこの絶縁物層28の上に形
成する。
このように構成することで、受光面中、電極が作成され
ている面積を少なくすることができ、変換効率をより向
上させることができる。
なお、上部セルおよび下部セルを構成する半導体材料は
本実施例に限定されるものではなく、受光スペクトルに
対応して最大の変換効率が得られるように設計を変更す
ることは可能である。また、用いられる半導体材料に応
じて、オーミック接合を形成する電極材料も適宜変更可
能である。
[発明の効果] 以上説明したように、本発明による太陽電池は、第1の
半導体物質からなり、2つの異なる導電型層からなる第
1(1)P/N接合層; 該第1(1)P/N接合層の
一方の主面上に設けられ、所定幅の開口を有し、実質的
に絶縁性である高抵抗層; 該開口に設けられ、前記第
1(1)P/N接合層の一方の導電型層とオーミック接
合する第1の電極前記高抵抗層上に設けられ、前記第1
の半導体物質よりもバンドギャップの大きい第2の半導
体物質からなり、2つの異なる導電型層からなる第2(
1)P/N接合層; 前記第1の電極上に設けられた第
1の絶縁物層; 該第1の絶縁物層上に設けられ、前記
第2(1)P/N接合層の一方の導電型層とオーミック
接合する第2の電極; 該第2(1)P/N接合層の他
方の導電型層とオーミック接合する第3の電極;および
 前記第1(1)P/N接合層の他方の導電型層とオー
ミック接合する第4の電極;を含むものである。
したがって、2つ(1)P/N接合層が電気的に分離さ
れており、かつ、少なくとも2つの電極を同一の位置に
作成することができるため、高い変換効率を得ることが
できる。同時に、こわれやすい2つ(1)P/N接合層
を高い精度で張りあわせる必要がないため、製造コスト
の低減が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(g)は、本発明の第1の実施例を説明
するための断面図および平面図、第2図(a)(b)は
、本発明の第2の実施例を説明するための断面図および
平面図、第3図は、変換効率と上部セルのバンドギャッ
プとの関係を示す図、 第4図は、従来技術による太陽電池の構造を示す断面図
である。 図において、 10・・・ウェハ、    11・・・n+S i層、
12−pSi層   13−p+si層、14・・・超
格子バッファ層、 15・−1−InGaP層、 ] 6− p +I n G a P層、17・−pr
nGaP層、 18−−−n+InGaP層、 19・・・開口、     2o・・・第1の電極、2
1・・・絶縁物層、   22・・・第2の電極、23
・・・第3の電極、  24・・・第4の電極。 第 図 第 図 第1図 /21 第 図 1/

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)第1の半導体物質からなり、2つの異なる導電型
    層からなる第1のP/N接合層; 該第1のP/N接合層の一方の主面上に設けられ、所定
    幅の開口を有し、実質的に絶縁性である高抵抗層; 該開口に設けられ、前記第1のP/N接合層の一方の導
    電型層とオーミック接合する第1の電極;前記高抵抗層
    上に設けられ、前記第1の半導体物質よりもバンドギャ
    ップの大きい第2の半導体物質からなり、2つの異なる
    導電型層からなる第2のP/N接合層; 前記第1の電極上に設けられた第1の絶縁物層;該第1
    の絶縁物層上に設けられ、前記第2のP/N接合層の一
    方の導電型層とオーミック接合する第2の電極; 該第2のP/N接合層の他方の導電型層とオーミック接
    合する第3の電極;および 前記第1のP/N接合層の他方の導電型層とオーミック
    接合する第4の電極; を含むことを特徴とする太陽電池。
  2. (2)前記第2の電極上に設けられた第2の絶縁物層を
    含み、 該第2の絶縁物層上に前記第3の電極が設けられている
    ことを特徴とする第1項記載の太陽電池。
  3. (3)第1の半導体物質からなり、2つの異なる導電型
    層からなる第1のP/N接合層を形成する第1の工程; 該第1(1)P/N接合層の一方の主面上に、実質的に
    絶縁性である高抵抗層を形成する第2の工程;該高抵抗
    層上に、前記第1の半導体物質よりもバンドギャップの
    大きい第2の半導体物質からなり、2つの異なる導電型
    層からなる第2のP/N接合層を形成する第3の工程; 所定領域の前記第1のP/N接合層および前記高抵抗層
    を除去することで開口を形成する第4の工程; 該開口の底部に、前記第1のP/N接合の一方の導電型
    層とオーミック接合する第1の電極を形成する第5の工
    程; 該第1の電極上に第1の絶縁物層を形成する第6の工程
    ; 該第1の絶縁物層上に、前記第2のP/N接合層の一方
    の導電型層とオーミック接合する第2の電極を形成する
    第7の工程; 該第2のP/N接合層の他方の導電型層とオーミック接
    合する第3の電極を形成する第8の工程および 前記第1のP/N接合の他方の導電型層とオーミック接
    合する第4の電極を形成する第9の工程を含むことを特
    徴とする太陽電池の製造方法。
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