JPH04503566A - 検査装置で使用する符号化キュベット - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 検査装置で使用する符号化キュベット 技術分野 本発明は検査すべき試料を入れる容器即ちキュベツトに関し、特に自動検査装置 で使用するための光学的に読取り可能のコードを有するキュベツトに関する。

！」」Ｌ迷 生物学的試料の自動検査は益々一般的になってきている０例えば、凝固時間とか 、その他の血液パラメータを測光学的に検出する自動検査装置が米国特許第３． ９６９．０７９号、同第３，６０７，０９９および同第３，７１８，４３９号に 記載されている。これらの計器においては、試料はキュベツトへ入れられ、その 後検査計器が試料を稀釈し、必要に応じて試薬を添加して検査を行う、試料がこ のように処理された後、キュベツトは所定位置まで動かされ、光源からの光ビー ムが試料を通過し、光電検出器に衝突し、光電検出器が試料の光学的濃度を示す 出力を提供する。光電検出器の出力を適当に処理し、かつ測定することにより各 種のパラメータを検出できる。このような検査を実行する技術は例えば前述の引 用特許が例証するように周知のものである。

前述のような検査装置で使用するキュベツトの構成は検査装！の適正な性能を達 成する上で重要である。適正な構成により測定精度を向上させる。実行すべき検 査の検査計装を自動的に知らせる符号を備えたキュベツトを提供することにより 操作者によるミスは最小に抑えることができる。

多年にわたって多くの稚々キュベツトの構成が開発されてきた０例えば、米国特 許第３．９０５，７７２号、同第４，１１９，４０７号、同第４，２５１゜１５ ９号および同第４，３７１．４９８号を参照されたい、最後に述べた特許におい ては、複式容器を有するキュベツトが記載されている。前記キュベツトはさらに 、検査器具がキュベツトにある試料に対して実施すべき特定の検査手順を決める ことができるようにする符号を含んでいる。キュベツトはその上部分に位！した １個以上の孔により符号化される。これらの孔は検査器具にあるソレノイド作動 の１０−ブにより検出されてキュベツトを復号化する。この方法は成功したもの の、１０−ブが汚染されて頻繁に保守を要することおよび機械１０−ブの力に耐 えるに十分厚くキュベツトの壁を作る必要性を含む欠点を有している。

以下詳細に述べるように種々検討がなされた結果、血液検査用キュベツトの肉厚 は出来るだけ薄くあらねばならない、この視点から、光学的に符号化するキュベ ツトが問題を呈した。キュベツトは典型的にはけプラスチック材から作られる。

試料の汚染を排除し、かつコストの増大を抑えるためには、例えばラベルあるい はレフレクタのような異質の材料をキュベツトに付与するのは望ましくない、キ ュベツト肉厚が薄いために、安定的に光電検出器が検出できるようキュベツトの 表面を粗しでキュベツトの一部を十分不透明にすることは難しい。

及ｉ４Σ１ｊ 本発明は光線ビームを反射して符号を光学的に検出しうるようにする成形したフ ァセットによりキュベツトを符号化する新規のキュベツト構成を含む０例えばポ リスチレンのようなプラスチックから作るとキュベツトに対して極めて薄いなが らもキュベツトを安定して符号化するに十分な屈折をファセットを通して提供す る肉厚が得られる。

キュベツトはファセットが成形されるいずれかの側にフランジを有する容器を含 む、フランジはさらに、キュベツトを検査している試料を測光学的に測定できる ように正確に検査器具が位置づけされるようにしうる位置決め孔を含んでいる。

フランジは僅かに可撓性であって、そのため位置決め性を向上させる。単式およ び複式キュベツトの実施例について以下説明する。

ファセットにより提供される符号を復号化する電子回路を記述する。その回路に は周囲の光線と区別する手段を設けることができる。フランジへ成形された円柱 レンズによりキュベツト符号化する代替的な方法も開示する。

図面の簡単な説明 本発明を添付図面を参照して例として以下説明する。

図１は単一キュベツトの斜視図、 図２と図３は図１に示すキュベツトの側面図、図４と図５はキュベツトのフラン ジに成形されたファセットの詳細を示す図、図６は複式キュベツトの斜視図、 図７は複式キュベツトの部分側面図、 図８Ａから８Ｃまでは差動フォトダイオードシステムによりファセットを復号化 しうる態様を示す図、 図９は作動ダイオード信号を処理する回路を示す図、１０は光線ビームを同期的 に変調および復調する回路を示す図、および図１１は代替的にキュベ・／トを符 号化するために円柱レンズを使用しうるＭａ！を示す図である。

を　るための　の、 図１を参照すれば、試料を入れるための単一容器を有するキュベツトの斜視図が 示されている。容器１２は上方の台形の部分１８と下方の長方形部分１６とから 構成されている６台形部分１４は容器１２の上方の開口から底部分１６へある角 度をつけて傾斜する４個の側壁１８から構成されている。キュベツトはポリスチ レンのようなプラスチック材から形成することができる。好適実施例においては 、側壁１８は垂直方向に対して約９．５度の角度で傾斜している０台形部分１４ の頂部の開口は一辺が約０．３８インチ（９，６５ミリ）で、台形部分１４の高 さは約０．５２インチ（１３，２１ミリ）で、壁１８の厚さは０．０２５インチ ＜０．６４ミリ）である。

台形部分１４の底部には下方部分１６がある。試料を測光分析するために使用さ れる光線ビームは矢印２８で示すように下方部分１６を通過する。光線ビーム方 向は、相互に対して概ね平行であるべき側壁２０に対して垂直である。第２の対 の側壁２２は側壁２０に対して垂直である。０１壁２０と２２とは典型的には０ ．０２５インチ（０，６４ミリ）である、壁２０と２２とはキュベツトを作る場 合モールドから外しやすくするために極めて僅かに外方へ傾くようにすればよい ０図示実施例における壁２０．２２は約１７２度の角度で外方に角度がついてい る。

キャベツトは底壁２４を含んでいる。底部分１４は各側で約０２インチ（５，０ ８ミリ）である、検査過程の間、試料は、その上にキュベツトの底壁２４が載置 される平坦面を有する加熱ブロックにより一定温度に保たれている。

底壁を通しての熱伝導を最大にするために底壁２４を出来るだけ薄くすることが 有利である０図示実施例においては底壁は厚さが０．０２０　（０，５１ミリ） である。

キュベツトは可能な限り容積の小さい試料の検査を実施できることが望ましい。

図示キュベツトにおいては、キュベツトの底部分１６には１５０マイクロリット ル分入り、それにより光線ビームは試料を通過して検査を行うことができる。し かしながらある種の検査は大量の稀釈液あるいは試薬を必要とし、これらの検査 を許容するには大きな容積が必要とされる０台形の上部分１４を提供することに より、キュベツトの全体容積を増大させ、底部分１６の壁を垂直方向に延したと すれば高さをより短くすることができる０台形の上部分１４もキュベツト構造体 の剛性にある程度貢献している。検査の前にキュベツトに分配される稀釈液や試 薬がキュベツトの側壁に衝突しないことが重要であって、さもなければ試料の混 りを低減させうる。これらの理由のため、キュベツトの図示形状は従来から使用 されているキュベツトに比較して利点がある０図示キュベツトは５００マイクロ リツトルの試料容積を入れることができ、これは試料のこぼれる可能性を最小に するに十分なフリーボード（余裕高）を備えている。

キューペットの壁の関係は、キュベツトの壁２０．２２にそれぞれ面している側 面図である図２および図３からよく判る。光線ビーム２８が通る壁２０は光学的 歪みを排除するため出来るだけ平坦であることが重要である。側壁２０と底壁２ ４との間の隅部２１が図３に示されており、出来る限り四角に作るべきである。

光路と平行の側壁２２と底壁２４との交差部は図２において隅部２３で示すよう により丸味をつければよい、丸味をつけた隅部２３はさらに強度を加え、底部分 １６の容積を若干減少させる６図示実施例においては、隅部２３は約０．０６イ ンチ（１，５２ミリ）の半径を有する。

検査通過の間、キュベツト１０は進行方向を示す矢印２６が示すようにキュベツ トの側壁２０に対して平行の方向に動く、キュベツト内の試料か検査されるにつ れて測光学的ビーム２８と交差するようにキュベツトが順次動く、測光学的分析 の間キュベツトを出来るだけ正確に位置させることが重要である０本発明におい ては、キュベツトは該キュベツトの頂部から各側丈で突出した２個のフランジ３ ０を含んでいる。フランジ３０はそれぞれその外縁部に沿って位置した位置決め 用孔３２を含む、検査過程の間、図示していない位置決めビンが降下され位置決 め孔３２と係合し、キュベツトを位置づける。孔３２は円錐形に形成することが 好ましい０位１決め用ビンは孔３２と係合する相補円錐形に形成されている。

位置決めビンが降下されるにつれて、ビンの円錐形面はキュベツトを水平面にお いて運動させ搬送機構によるキュベツトの位置決め上の小さい非整合を補正する ことができる。孔３２の底部は開放することが好ましい、即ち孔３２がフランジ を完全に貫通する。このため位置決めビンの円錐形の先端が、キュベ・ｙトの整 合時位置決めビンの捕捉範囲を最大にするように指向させることができる。

好適実施例においては、位置決め孔３２は上面での直径が約０．１インチ（２゜ ５４ミリ）であり、孔３２の側壁はフランジ３０の頂部に対して４５度の角度を 形成する。フランジ３０の厚さは図示実施例においては約０．０３５インチ（０ ，８９ミｌ）　）でフランジは側壁１８から約０．５インチ（１２，７ミ１月延 びている。

キュベツト１０および検査器における搬送および位置決め機構の寸法上の製作上 の公差を提供するために、孔３２と係合する位置決めビンがその孔とのしっかり とした接触を保証するに十分な程度まで降下しうるように僅かに可撓性とすべき である０位置決めビン最下位置にあるときフランジを下方向に僅かに撓ませるに 十分降下するように位置決めビンが構成されている。このことは、底面２４が計 器の加熱ブロックに対して押圧されることにより該ブロックからキュベ・ｙト内 の試料への熱伝導を最大にするという利点を有している０図示実施例においては 、フランジは位置決めビンにより位置されるとその外縁部において約０．０３５ インチ（０，８９ミリ）であるフランジの少なくとも厚さ分子力に撓むことがで きる。

キュベツトは、フランジ３０の傾斜部により形成される１個以上のファセット３ ４により符号化することができる０図１に示すキュベツトにおいて、それより多 い、あるいは少ない数のファセットを用いてもよいものの、ファセット３４はキ ュベツトから横方向に延びている２個のフランジ３０の各々に形成されている。

ファセットはフランジの一方の面に成形された傾斜部により形成されている。傾 斜部はフランジ３０の底部に形成することが好ましい。

図４と図５とはフランジ３０の一方と、キュベツトの側壁１８から視た断面図い る０図５はフランジ３０の底側において反対方向に形成された傾斜部３４ｂを示 している。傾斜部３４ａ、３４ｂは反対方向に傾斜しており、以下詳細に説明す るように、傾斜部を通して導かれる光線ビームによって容易に検出即ち読み取り ができる。傾斜部３４を通る光線ビームは、空気と比較して１ラスチツク材の屈 折率が大きいので、プラスチックにより側方に屈折する。ポリスチレンの屈折率 は約１．６である。

このことは図３に示されている。傾斜部３４を通して導かれる光線ビーム３６は 傾斜部の方向に屈折し、矢印３７で示すように垂直方向に対して角度をつけてフ ランジ３０の上部分から出ていく、偏向したビームの角度はフォトダイオードあ るいはその他の手段により検出され傾斜部の角度を電気的に指示する。傾斜部３ ４はキュベツトの進行方向に対して垂直の方向に傾斜されることが好ましいが、 このことは必須ではない。

図示実施例においては、ファセット３４に設けられた符号はキュベツトの一方の 側あるいはフランジから読み取られる。キュベツトの各側から延びている２個の フランジ３０の各々に設けた傾斜部は対称的に形成されることによってキュベツ トの方向とは無関係に読み取られる０代替的に、符号の数を増すために種々のフ ランジに種々の符号を設けてもよい。

ファセット３４の符号は人が簡単に見分けできない０種々の符号を有するキュベ ツトは種々の符号に対応した種々の色で着色したプラスチック材で形成すること が好ましい。

好適実施例においては、傾斜部３４は図４の寸法Ｂで示すように各側の幅は約０ ．１２５インチ（３，１８ミリ）である０図４の寸法Ａで示すようにフランジ３ ０の全厚は０．０３５インチ（０，８９ミリ〉であり、傾斜部はフランジの水平 上面に対して約１１度の角度で形成されている０図４の寸法Ｃで示すように傾斜 部３４の最も薄い部分のフランジの厚さは０．０１０インチ（０，２５ミリ）で ある、これらの寸法はファセットに設けた符号を光線ビームおよび光電検出器に より容易に読み取れるように光線ビームを十分屈折させる。しかしながらこれら の方法に限定されるのでなく、その他の寸法も用いることができる。

図６を参照すれば、複式キュベツト３８を含む本発明の第２の実施例が示されて いる０図１に示すキュベツトにおける容器と同じ寸法の２個の容器１２が１２１ ６の複式容器によって提供される。２個の容器１２は各キュベツトの台形の上部 分の側壁１８の頂部と面一の水平部分４４により接続されている。フランジ３０ は複式キュベツトの長さ分延び、２個のキュベツト間で付加的な構造上のサポー トを提供する。頂部のウェブ部分４２は容器１２の各々の側壁１８と共平面関係 に形成され、図７に示すように、約０．１０インチ（０，２５ミリ）の距離だけ 下方に延びる。

図６に示す複式キュベツトは側方フランジ３０に形成された４個の位置決め孔３ ２を有している。これらの孔の形状は図１に関して前述した位置決め孔３２の形 状と類似である。各フランジ３０は、各容器１２に隣接して３個、計６個のファ セット３４を有する０図示実施例においては、３個のファセットの組が２つフラ ンジ３０中に完全に延びている開口４０によって分離されている０代替的に、フ ランジに付加的なファセットを設けてもよい、その他の数のファセットを用いて もよい、さもなければ、図６の複式キュベツトは図１の単一キュベツトと類似で ある。

図１と図６とに示す単式および複式キュベツトの双方は同じ検査計器で混合して 使用してもよい０図示実施例においてはキュベツトが検査器具を通して動くにつ れて検出される最初の３個のファセットが実施すべき検査を符号化するために使 用され、複式のキュベツトの第２の３個のファセット３４に特定の符号が符号化 され複式キュベツトが介在していることを検査計器に指示する０図示実施例にお いては、図６に示す複式キュベツトにはファセット３４の符号が両側に対称的に 配置され、そのため１８０度反転するとキュベツトは検査機に対して同一に見え る。

図８Ａ〜図８０はファセットの符号を読み取り得る態様を概略図示している。

これらの図において、光源５０は光線ビーム５２を垂直方向に導く、光線ビーム ５２の各側に対称的に２個のフォトダイオード５４を配置している。光源５０と フォトダイオード５４との間にファセットが介在しないと、光線は図８Ｂに示す ように双方のフォトダイオードを均等に照らす、下記するように、フォトダイオ ードの出力は、傾斜部が介在しない場合均等の出力を提供するように電気的にバ ランスしうる。一方の方向の傾斜部が光源とフォトダイオードとの間に位置され るとすれば、光線ビーム５２は一方のフォトダイオードに向かって導かれる０図 ８Ａにおいては傾斜部３４ｂは光線を左方に屈折させた方がフォトダイオードを 照射する図８０においては反対側の傾斜部３４Ｂは光線ビームを右方へ屈折させ た方のフォトダイオードを照射する。このように、キャベツトのファセット３４ に設けられた符号を検出することができる。光源５０は色々な方法で実施できる 。

図示実施例においては、光線は、検査計器へのキュベツトの進行軌道に沿った小 さい領域において小さい光ファイバの端部に設けられた赤外線ＬＥＤにより提供 される。フォトダイオード５４は例えばシーメンス社のＢＰＸ４８のような差動 ダイオード対によって実行される。差動ダイオード対は物理的に整合し、近接整 合された２個のマツチングしたフォトダイオードを提供する。

図９は区８に示すフォトダイオードからの出力を読み取るのに適した一回路を示 す０図９において、差動ダイオード５４の共通接続部に電圧Ｖｌが供給される。

ダイオード５４の各々の第２の端子は各々の単位ゲインバッファ増幅器５６゜５ ８の入力側に付与されている。電位差計６０がそのワイパを設置させてダイオー ド５４の間に接続されている。を位差針６０を調整することにより、ダイオード からの出力を精確にマツチングさせることができる。

バッファ増幅器５６．５８からの出力は差動増幅器６２の入力側に供給される。

差動増幅器は約１０００のゲインを有する。光源５０とフォトダイオード５４− との間に傾斜部が無い場合、差動増幅器６２への入力は等しく低い出力信号を提 供する。ファセット３４が光線ビーム５２及び一方あるいは他方のダイオードと 交差すると、差動増幅器６２への入力は等しくならない０次いで、増幅器６２の 出力は大きい正あるいは負の値まで進みいずれのダイオードが照射されたか指示 する。このようにダイオードからの出力を検出することにより各種のエラー源の 影響が減少される。光ｓ５０からの光線の強度の変動、フランジの汚染およびプ ラスチック材の透過性の小さい差異がダイオードに衝突する光線の絶対量を変化 させうる９図示した差動システムを用いることによりこれら変化の影響が最小と され傾斜部３４により符号化された値の読取り精度を最大にする。

差動増幅器６２からの出力はウィンドウ比較回路６３まで進む、該回路は３個の ウィンドウを提供する。増幅器６２からの出力は２個の比較回路６４．６６のそ れぞれの反転および非反転入力側に供給される。比較器６４は、その非反転入力 側に正の基準電圧、＋ＶＲが付与され、比較器６６はその反転入力側に負の基準 電圧、−ＶＲが付与されている。

ウィンドウ比較器６３は３個のウィンドウを提供する。差動増幅器６２からの極 めて低い出力によって双方の比較器から低い出力をもたらし、光路５２に傾斜部 が介在しないことを示す、差動増幅器６２からの出力が少量分高くなったり、あ るいは低くなると、対応する比較回路は高い出力を提供し、光路５２に対応する 傾斜部の介在することを示す。

光源５０およびフォトダイオード５４が傾斜部３４の介在や方向性を検出する領 域は、外部の光源から遮蔽されていることが好ましい、外部からの光線により起 因されるフォトダイオード５４からの出力の変動に対する付加的な保護を設けて 光源５０からの出力を変調させ、かつ同期的に光電検出器からの信号を復調する ことができる０図１０はこの機能を実施するために図９に示す回路に追加しうる 一回路を示す。

図１０においては、発振器７４が方形波出力信号を提供する９発振器の出力は光 源５０に供給される。光源５０の方は発振器出力信号の交互の半サイクルの開先 線のパルスを提供する。また、発振器７４からの信号は２個の倍率器回路７６゜ ７８に供給される０倍率器回路７６．７８は図９に示すバッファ増幅器５６，５ ８からの出力信号と直列に挿入されている９倍率器７６は図９に示す回路の７０ 答して、倍率器７６．７８は交互に変わる半サイクル中にプラス１およびマイナ ス１だけライン７０；　７２上の信号に乗算する０倍率器７６．７８からの出力 信号は低域フィルタ８０．８２に付与され、該フィルタは倍率器回路からの出力 中の発振器７４の周波数での信号成分を減衰させる。いずれかのフォトダイオー ド７４に入射する周囲光線は安定状態信号を発生させる。この信号は倍率器回路 において発振器信号により増倍されると零に平均化される。光源５０からの照射 は倍率器回路により同期的に検出され、低域フィルタ８０．８２の出力側におい て、光源５０からのフォトダイオードにより検出された光線レベルを示す出力レ ベルを提供する。

前述のキュベツトにおいて、ファセット３４はキュベツトを符号化するために一 方あるいは他方の方向に光線を屈折させる傾斜部によって実行された０代替的に 、ファセットは円柱凸レンズあるいは凹レンズとして成形してもよい、このこと は図１１に示されており、３個の円柱レンズ９０，９２．９４が示されている。

凸レンズ９０．９４は光線ビーム中に位置されると光線ビームを矢印９６で示す ように集中させその強度を増す、レンズ９０．９４の焦点に光源を位置させるこ とにより光線強度の増加を最大にできる。凹レンズ９２は矢印９８で示すように 光線ビームを集光させるよりもむしろ拡散させる。前述したキュベ・ｙトのフオ セット３４に対して図１１に示すような円柱レンズを用いることにより、図１１ に示す円柱レンズにより発生した照射の大きさの変動に応答する単一の光電検出 器を用いて符号を復号化できる。

自動検査装置において光線ビームにより検出しうるキュベツトを符号化する新規 な方法を含むキュベツトの新規な構成を例示を介して説明してきた０本発明を種 々の用途に適用する場合、本発明の原理を示すべく前述した実施例に対して修正 を施すことが可能である。従って、本発明はそのような例についての前述の説明 によって限定されるのではなく、以下の請求の範囲に従ってのみ解釈すべきであ る。

Ｆｉり千 Ｅ７　ｇＡ　Ｆ　＆５　Ｒ’２６Ｃ ゛フ Ｉ：＋−り、ワ 補正書の翻訳文提出書 （特許法第１８４条の８） 平成　３年　５月ｌ≦日 １、特許出願の表示 ＰＣＴ／ＵＳ８９１０５１９２ ２、発明の名称 検査装置で使用する符号化キュベツト ３、特許出願人 住　所　アメリカ合衆国ニューヨーク州１０５７０゜ブリーザントヴイル、マー ブル・アベニュー　２７０名　称　メディカル・ラボラトリ−・オートメーショ ン・インコーホレーテッド ４、代理人 住　所　東京都千代田区大手町二丁目２番１号新大手町ビル　２０６区 ５、補正書の提出日 平成　３年　４月　４日 １、　測光学的検査装置において使用するキュベツトにおいて、試料を入れた容 積部分を囲繞し、上側では開放している容器であって、かつ該容器の上端部分を 形成する頂部セクションと、前記容器の底部分を形成し、相互に概ね平行で、か つ試料を入れた容積部分の両側に位置する２個の透明の壁であって、光線ビーム が該壁を通って導かれ試料を通過することができるようにする壁を含む底部セク ションとを含み、 −セクションと底。セクションとが　する′−で底部セクションが容器のための 平坦な底面を含んでいる容器と、前記頂部セクションに接続され、反対方向に前 記容器から外方に延びている第１と第２のフランジであって、各フランジが対応 する位１決めビンと適合するようにされた少なくとも１個の位置決め用孔を含ん でいる第１と第２のフランジとを含むことを特徴とするキュベツト。

２、　前記位置決め用孔の形状が円錐形であって、上部と底部とで、開放してい る請求項１に記載のキュベツト。

３、　前記フランジが薄く、かつ前記容器に対して撓むように形成されている請 求項１に記載のキュベツト。

４、　円弧がフランジの外縁部で測定されるとフランジの厚さと少なくとも等し い円弧にわたってフランジが撓みうる請求項３に記載のキュベツト。

５、　底部セクションが長方形プリズムの形態であり、頂部セクションが汀形二 Ｍ請求項１に記載のキュベツト。

６、　キュベツトが該キュベツトに対して光学的に検出可能の符号を提供するよ うに光線ビームを屈折させる符号化手段を少なくとも一方のフランジにおいて含 む請求項１に記載のキュベツト。

７、前記フランジが概ね平坦な少なくとも１つの面を有しており、前記符号化手 段が傾斜部を通る光線を屈折させるべく前記の平坦な面に対向した面に形成した 少なくとも１個の傾斜部を含んでいる請求項６に記載のキュベツト。

国際調査報告 ’１１１ＮＴＰＮｈ＠−＾５ａｌＩ＋ａ＋ｎｅｈａＰＣτ／’ＪＳａ９１０５Ｌ ９２国際調査報告 ＩＪｓ　８９０５１９２ ＝ｌｊ＋−１６−１１Ａ６１１．１ｊ１１６−ｊＩ＠、０（−Ｔ／ｌｌｃ；ＱＱ ｌｏＪ、１９２

Claims (23)

【特許請求の範囲】
1. １．測光学的検査装置において使用するキュベットにおいて、試料を入れた容積 部分を囲繞し、上側では開放している容器であって、かつ該容器の上端部分を形 成する頂部セクションと、前記容器の底部分を形成し、相互に概ね平行で、かつ 試料を入れた容積部分の両側に位置する２個の透明の壁であって光線ビームが該 壁を通って導かれ試料を通過することができるようにする壁を含む底部セクショ ンとを含み、前記底部セクションが前記容器のための平坦な底面を含んでいる、 容器と、 前記頂部セクションに接続され、反対方向に前記容器から外方に延びている第１ と第２のフランジであって、各フランジが対応する位置決めビンと適合するよう にされた少なくとも１個の位置決め用孔を含んでいる第１と第２のフランジと、 からなることを特徴とするキュベット。
2. ２．前記位置決め用孔の形状が円錐形であって、上部と底部とが開放している請 求項１に記載のキュベット。
3. ３．前記フランジが薄く、かつ前記容器に対して撓むように形成されている請求 項１に記載のキュベット。
4. ４．円弧がフランジの外縁部で測定されるとフランジの厚さと少なくとも等しい 円弧にわたってフランジが撓みうる請求項３に記載のキュベット。
5. ５．底部セクションが長方形のプリズムの形態であり、頂部セクションが不等辺 平行四辺形の形で形成されている請求項１に記載のキュベット。
6. ６．キュベットが該キュベットに対して光学的に検出可能の符号を提供するよう に光線ビームを屈折させる符号化手段を少なくとも一方のフランジにおいて含む 請求項１に記載のキュベット。
7. ７．前記フランジが概ね平坦な少なくとも１つの面を有しており、前記符号化手 段が傾斜部を通る光線を屈折させるべく前記の平坦な面に対向した面に形成した 少なくとも１個の傾斜部を含んでいる請求項６に記載のキュベット。
8. ８．前記符号化手段が相互に隣接し、フランジの平坦面に対して２個の補完角度 の一方を有することにより各傾斜部が１ビットの２進符号を提供する複数の傾斜 部を含んでいる請求項７に記載のキュベット。
9. ９．前記符号化手段が、そこを通る光線ビームをそれぞれ集光あるいは拡散させ る凸形あるいは凹形の１口以上の円柱レンズを含む請求項６に記載のキュベット 。
10. １０．前記キュベットがその符号に対応した色で着色されている材料から形成さ れることによって相違する符号を有するキュベットをその色で区別できる、請求 項６，７，８または９のいずれか一の項に記載のキュベット。
11. １１．第１の容器と寸法および形状が同じであって第１の容器に並置されており 、そのため頂部の開口が共平面関係にある第２の容器をさらに含み、前記第２の 容器の第１と第２のフランジが第１の容器のそれぞれ第１と第２のフランジと共 平面関係で、かつ接続されている請求項１，３，５，６または８のいずれか一の 項に記載のキュベット。
12. １２．測光学的検査装置で使用するキュベットにおいて、試料を入れる容積分を 囲繞する容器であって、該容器中の試料を通過するように光線ビームを導くこと のできる少なくとも２個の光学的に透過性の部分を含む容器と、 前記容器から延びるフランジであって、該フランジを通して光線ビームが導かれ 、該フランジを通った後光電検出器により受け取られるようにするフランジとを 含み、 前記フランジが、そこを通る光線ビームを屈折してキュベットに対して光学的に 検出可能の符号を提供する符号化手段を含んでいるキュベット。
13. １３．前記フランジが概ね平坦な一面と、前記平坦面とは反対側の面に形成され 、そこを通る光線を屈折させる少なくとも１個の傾斜部とを有している請求項１ ２に記載のキュベット。
14. １４．前記符号化手段が、相互に隣接し、平坦面に対して２個の補完角度の一方 を有することにより各々の傾斜部が１ビットの２進符号を提供する複数の傾斜部 を含む請求項１３に記載のキュベット。
15. １５．前記符号化手段が、そこを通る光線をそれぞれ集光あるいは拡散するよう に凸形あるいは凹形である１個以上の円柱レンズを含む請求項１２に記載のキユ ベツト。
16. １６．所定の軌道に沿って進行している対象物を符号化および復号化する装置に おいて、 光線ビームを提供する光源と、 光源からの光線を検知し、それを示す出力信号を提供する手段と、透明の材料で 作られ、対象物に取り付けられ対象物がその軌道に沿って進行するにつれて光源 と検出手段との間を通るフランジであって、光源からの光線を屈折させて対象物 に対して光学的に検出可能の符号を提供する符号化手段を 含むフランジとを含む、対象物を符号化および復合化する装置。
17. １７．前記フランジが概ね平坦である一面を有し、符号化手段が前記平坦面とは 反対側の面で形成された少なくとも１個の傾斜部を含み該傾斜部を通る光線を屈 折させる請求項１６に記載の装置。
18. １８．前記符号化手段が、相互に隣接しフランジの平坦面に対する２個の補完角 の一方を有することにより各傾斜部が１ビットの２進符号を提供する複数の傾斜 部を含む請求項１７に記載の装置。
19. １９．検出手段が、 光源と検出手段との間に対象物が介在しないときは光源により同等に照射される ように光源に対して位置し、かつ傾斜部により光線ビームが偏向されるように位 置することによって光線ビームが前記傾斜部を通過するときは屈折されるように した２個の光電検出器と、 前記光電検出器からの出力信号に応答して光電検出器の出力信号間の差異を示す 中間信号を提供する手段と、 前記中同信号に応答して、光源と検出手段との間の傾斜部の非介在、第１の角度 を有する傾斜部の介在あるいは第２の角度を有する傾斜部の介在を示す３種類の 出力を提供する手段とを含む請求項１８に記載の装置。
20. ２０．符号化手段が、そこを通る光線ビームを集光あるいは拡散する凸形ある凹 形の１個以上の円柱レンズを含む請求項１６に記載の装置。
21. ２１．検出手段が光源からの光線の強度に応答してそれを示す中間信号を提供す る手段と、 前記中間信号に応答して光源と検出手段との間の凸レンズ、凹レンズおよびレン ズの非介在をそれぞれ表わす少なくとも３種類の光線レベルを検出する手段とを 含む請求項２０に記載の装置。
22. ２２．周期的な出力信号を提供する発振器と、発振器の出力信号を光線に供給し て光源をオン、オフさせる手段と、発振器の出力信号に応答して検出手段からの 出力信号を同期的に復調する手段と、 復調手段の出力信号をろ波する手段とをさらに含む請求項１９または２１に記載 の装置。
23. ２３．透明材が符号に対応する色で着色されることによって種々の符号を有する 対象物をその色によって人が区別しうる、請求項１６または１７に記載の装置。