JPH0444810B2 - - Google Patents

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JPH0444810B2
JPH0444810B2 JP14182284A JP14182284A JPH0444810B2 JP H0444810 B2 JPH0444810 B2 JP H0444810B2 JP 14182284 A JP14182284 A JP 14182284A JP 14182284 A JP14182284 A JP 14182284A JP H0444810 B2 JPH0444810 B2 JP H0444810B2
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JP
Japan
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attenuator
signal
gain
output
outputs
Prior art date
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JP14182284A
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English (en)
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JPS6122443A (ja
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Hiroshi Inada
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NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Nippon Electric Co Ltd filed Critical Nippon Electric Co Ltd
Priority to JP14182284A priority Critical patent/JPS6122443A/ja
Publication of JPS6122443A publication Critical patent/JPS6122443A/ja
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  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は光学手段を用いて、記録媒体上に情報
を記録し、あるいは、既に記録されている情報を
再生する光学式情報再生装置に関し、特に前記装
置のトラツキングおよびフオーカス位置制御装置
に関する。
(従来技術とその問題点) レーザー光を光源とし、このレーザー光を外部
の情報源からパルス状信号で変調して、デイスク
上の記録媒体に2値的に記録し、あるいは、既に
記録されている情報を読出す光学式情報記録再生
装置においては、情報の記録あるいは再生を正確
に行うために焦点制御によつて、記録媒体面が常
に集光レンズの焦点位置となるように集光レンズ
の光軸方向の焦点位置が制御され、また、情報の
記録あるいは、再生時の前記レーザー光のスポツ
トの情報トラツクに対するトラツク位置制御は、
通常記録媒体上にその光スポツトに最適な巾およ
び使用レーザー光の波長に最適な深さをもつ案内
溝を設けて、その案内溝にビームスポツトが沿う
ように、トラツク位置制御を行う。
このとき情報の記録時には、レーザー光のパワ
ーを読出し時の10倍程度大きくし、記録媒体面に
熱的に情報を記録する。このようにレーザー光パ
ワーを大きくすると、反射光も、それにともなつ
て大きくなり、この反射光をもとにして検出する
サーボエラー信号も大きくなり、その結果サーボ
系が発振を起こし、情報が正確に記録されず、さ
らには、フオーカスサーボがずれることにより、
トラツキングサーボ系にも悪影響を及ぼし、光ス
ポツトが所望のトラツクからはずれてしまうこと
がある。
また、情報記録後は、記録媒体の種類によつて
は、反射率が低下し、この場合、上記とは逆に反
射光が減少し、サーボエラー信号も減少する。そ
の結果サーボ系のループゲインが低下し、記録媒
体面に対する光スポツトの焦点制御が悪化し、情
報記録後の情報読出しが正確に行われない。
このようにレーザー光パワー変化および記録媒
体の反射変化によつてサーボエラー信号検出ゲイ
ンが大きく変化し、記録媒体面に対する光ビーム
の追従性が悪化し、情報の記録再生の信頼性が大
きく低下する。
(発明の目的) 本発明の目的は上記欠点を取除き、レーザ光の
パワー変化および記録媒体面の反射変化が発生し
ても、常に一定のサーボエラー検出ゲインが得ら
れる自動利得制御装置を提供することにある。
(発明の構成) 本発明によれば、デイスク面上からの反射光を
受けサーボエラー信号を検出するための2分割光
センサと前記2分割光センサの2つの出力の差で
あるサーボエラー信号を出力する第1の演算増巾
器と、前記サーボエラー信号を受け外部から与え
られるゲート信号によつて前記サーボエラー信号
に対するゲインが一定値減衰する第1のアツテネ
ータと前記第1のアツテネータの出力を受けゲイ
ンコントロール信号によつて前記第1のアツテネ
ータの出力であるサーボエラー信号に対するゲイ
ンが変化する第2のアツテネータと、前記2分割
光センサの2つの出力の和である和信号を出力す
る第2の演算増巾器と、前記和信号を受け、前記
ゲート信号によつて前記和信号に対するゲインが
前記第1のアツテネータと同様一定値減衰する第
3のアツテネータと、前記第3のアツテネータの
出力を受け前記ゲインコントロール信号によつて
前記第4のアツテネータの出力である和信号に対
するゲインが変化する第4のアツテネータと、前
記第4のアツテネータの出力を受け基準信号との
差を演算し、前記ゲインコントロール信号を出力
する第3の演算増巾器とから構成され、前記2分
割光センサが受ける光量変化に対し、その光量変
化が小さい時は、前記ゲート信号は与えず、前記
第4のアツテネータの出力が前記基準信号と等し
くなるようにゲインコントロール信号が制御され
ることによつて、前記第2のアツテネータの出力
であるトラツクエラー信号の検出ゲインを一定に
制御し、前記光量変化が大きい時は前記ゲート信
号によつて前記第1のアツテネータおよび前記第
3のアツテネータのゲインをそれぞれ一定値減衰
し、その後、前記第4のアツテネータの出力が前
記基準信号と等しくなるようにゲインコントロー
ル信号が制御されることによつて前記第2のアツ
テネータの出力であるサーボエラー信号の検出ゲ
インを一定に制御することを特徴とする自動利得
制御装置が得られる。
(実施例) 以下、本発明の実施例について図面を参照して
詳細に説明する。
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロツク
図である。2分割光センサ1のそれぞれのエレメ
ント15,16から検出された信号は演算増巾器
2によつて、それぞれの差が演算され、サーボエ
ラー信号としてアツテネータ13に入力される。
アツテネータ13ではゲート信号17が入力され
るか否かによつて、前記サーボエラー信号に対す
るゲインを一定値減衰するか、しないかの動作を
行う。続いてサーボエラー信号はゲインコントロ
ール信号10によつて連続的にゲインが変化する
アツテネータ3に入力され、ゲインコントロール
されたサーボエラー信号として信号線11に出力
される。一方2分割光センサ1で検出された2つ
の信号は演算増巾器4によつて、それぞれの和が
演算され、和信号としてアツテネータ14に入力
される。アツテネータ14ではゲート信号17に
よつてアツテネータ13と同様に、前記和信号に
対するゲインを一定値減衰するか、しないかの動
作を行う。そして和信号は続いて、アツテネータ
3と同様にゲインコントロール信号10によつて
連続的にゲインが変化するアツテネータ5に入力
され、ゲインコントロールされた和信号として差
動増巾器6に入力され、そこで、基準信号7との
差が演算され、その結果ゲインコントロール信号
10が出力される。こうすることによつて、ゲイ
ンコントロールされた和信号12が基準信号7よ
り大きい場合には、アツテネータ3および5のゲ
インを下げるゲインコントロール信号が出力さ
れ、逆に、和信号12が基準信号7より小さい場
合には、アツテネータ3および5のゲインを上げ
るゲインコントロール信号が出力される。すなわ
ち、和信号12と基準信号7とが等しい大きさに
なるようにゲインコントロール信号10によつて
アツテネータ5および3のゲインが制御される。
このとき、アツテネータ5および3のそれぞれの
ゲインコントロール信号に対するゲイン変化特性
を等しくしておけば、アツテネータ5および3は
ゲインコントロール信号10に対して同一のゲイ
ンを有することになる。さらにゲート信号17に
よつてアツテネータ13および14のゲインをそ
れぞれ一定値減衰することにより、例えば情報の
記録時のように反射光パワー変動が大きい場合、
およびおおまなゲイン補正をあらかじめアツテネ
ータ13および14で行うことにより、続くアツ
テネータ3および5のゲイン補正量を小さくする
ことができ、正確なゲイン補正を行うことができ
る。
第2図は、第1図のアツテネータ3およびアツ
テネータ5を詳しく示す回路図である。アツテネ
ータ3は抵抗31およびFET30から構成され、
アツテネータ5もアツテネータ3と同様に抵抗5
1およびFET50から構成される。サーボエラ
ー信号8は抵抗31を介してFET50のドレイ
ンに接続されと同時に信号線11に出力される。
このときFET50のソースは接地されているた
め、FET50のゲートに接続されているゲイン
コントロール信号10のレベルで決まるFET5
0のドレイン−ソース間抵抗と抵抗31によつて
アツテネータが構成され、ゲインコントロール信
号10によつてサーボエラー信号8の大きさが制
御される。一方、アツテネータ5もアツテネータ
3と同様の構成となつているためゲインコントロ
ール信号によつて和信号9の大きさが制御され
る。このとき、FET30とFET50を同一サブ
ストレート上に形成された複合型FETを用いる
ことにより、両者の特性を良く一致させることが
でき、第1図で説明した如く、反射光のパワー変
動に対しても、常に一定のゲインをもつ、サーボ
エラー信号を検出することができる。
第3図は第1図の演算増巾器2および4、アツ
テネータ13および14を詳しく示す回路図であ
る。2分割光センサ1の2つの信号は、演算増巾
器2によつてそれぞれの差が演算されサーボエラ
ー信号が出力され、演算増巾器4によつてそれぞ
れの和が演算され、和信号が出力される。このと
き、抵抗およびスイツチ131によつて構成され
るアツテネータ13は、ゲート信号17が入力さ
れた場合、演算増巾器2のゲインを一定値減衰さ
せる。同様に抵抗とスイツチ141によつて構成
されるアツテネータ14は、ゲート信号17が入
力された場合、演算増巾器4のゲインを一定値減
衰させる。ここで、それぞれのアツテネータ13
および14の抵抗値をゲート信号17が入力され
たとき、アツテネータ13および14の減衰量が
等しくなるように選ぶことにより、サーボエラー
信号8および和信号9に対する減衰量が等しくな
り、アツテネータ3および5だけでゲイン補正が
できない程大きな反射光パワー変動が発生した場
合でも、より正確にゲイン補正ができ常に一定の
サーボエラー検出ゲインを確保することができ
る。
(発明の効果) 以上説明した如く、本発明によれば、情報読出
し時と比較して情報の記録時のように10倍以上の
反射光パワー変動、さらに、情報記録後の媒体の
反射率変動にともなう反射光変動が発生した場合
でも、自動的に常に一定のサーボエラー検出ゲイ
ンを得ることができ、情報の記録時および記録後
に安定にトラツキングサーボおよびフオーカスサ
ーボをかんることができ、デイスク面上およびデ
ータトラツクに対する光ビームの追従性を大きく
向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例を示すブロツク
図、第2図は第1図のアツテネータ3および5を
詳しく示す回路図、第3図は第1図の演算増巾器
2および4、アツテネータ13および14を詳し
く示す回路図である。 図において、1……2分割光センサ、2,4…
…演算増巾器、3,5,13,14……アツテネ
ータ、6……差動増幅器、7……基準信号をそれ
ぞれ示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光学手段を用いて記録媒体上に設けられた同
    心円状または、スパイラル状のデータトラツクに
    対して光スポツトのトラツキング位置制御を行
    い、前記記録媒体上に情報の記録あるいは、既に
    記録された情報の読出しを行う光デイスク装置に
    おいて、 デイスク面上からの反射光を受けサーボエラー
    信号を発生する2分割光センサと、 前記2分割光センサの2つの出力を入力としそ
    の差であるサーボエラー信号を出力する第1の演
    算増幅器と、 前記サーボエラー信号を受け外部から与えられ
    るゲート信号によつて前記サーボエラー信号に対
    する利得を一定値減衰する第1のアツテネータ
    と、 前記第1のアツテネータの出力を受け利得制御
    信号によつて利得が変化する第2のアツテネータ
    と、 前記2分割光センサの2つの出力を入力としそ
    の和である和信号を出力する第2の演算増幅器
    と、 前記和信号を受け前記ゲート信号によつて前記
    和信号に対する利得を前記第1のアツテネータと
    同様に一定値減衰する第3のアツテネータと、 前記第3のアツテネータの出力を受け前記利得
    制御信号によつて前記第2のアツテネータと同様
    に利得が変化する第4のアツテネータと、 前記第4のアツテネータの出力と基準信号との
    差を演算し、前記利得制御信号として出力する第
    3の演算増幅器とから構成され、 情報の再生時には前記ゲート信号は与えず、前
    記第4のアツテネータの出力を前記基準信号に等
    しくする利得制御信号によつて前記第2および第
    4のアツテネータの利得を制御し、情報の記録あ
    るいは消去時には前記ゲート信号によつて前記第
    1のアツテネータおよび前記第3のアツテネータ
    の利得をそれぞれ一定値減衰し、その後、前記第
    4のアツテネータの出力を前記基準信号に等しく
    する利得制御信号によつて前記第2および第4の
    アツテネータの利得を制御することによつて常に
    サーボエラー信号の利得を一定に保つ手段を有す
    ることを特徴とする光デイスク装置の自動利得制
    御装置。
JP14182284A 1984-07-09 1984-07-09 光デイスク装置の自動利得制御装置 Granted JPS6122443A (ja)

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JP14182284A JPS6122443A (ja) 1984-07-09 1984-07-09 光デイスク装置の自動利得制御装置

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JPS6122443A JPS6122443A (ja) 1986-01-31
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS61248234A (ja) * 1985-04-26 1986-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光デイスク装置
JP2597560B2 (ja) * 1986-12-25 1997-04-09 株式会社東芝 情報処理装置
JP2576217B2 (ja) * 1989-01-19 1997-01-29 日本電気株式会社 光ディスク装置のトラッキング制御装置

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JPS6122443A (ja) 1986-01-31

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