JPH0444433B2 - - Google Patents

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JPH0444433B2
JPH0444433B2 JP59016859A JP1685984A JPH0444433B2 JP H0444433 B2 JPH0444433 B2 JP H0444433B2 JP 59016859 A JP59016859 A JP 59016859A JP 1685984 A JP1685984 A JP 1685984A JP H0444433 B2 JPH0444433 B2 JP H0444433B2
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light
photovoltaic device
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JP59016859A
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JPS60160673A (ja
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Toshiaki Yokoo
Takashi Shibuya
Masaru Takeuchi
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Sanyo Electric Co Ltd
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Sanyo Electric Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/075Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PIN type, e.g. amorphous silicon PIN solar cells
    • H01L31/076Multiple junction or tandem solar cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/548Amorphous silicon PV cells

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Description

【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野 本発明は、光エネルギを直接電気エネルギに変
換する複数の光電変換領域を備えた光起電力装置
に関する。 (ロ) 従来技術 光エネルギを直接電気エネルギに変換する光起
電力装置として、複数のアモルフアス半導体から
成る光電変換領域を積層せしめたものが特開昭55
−125680号公報等に開示されている。即ち、等価
的に1つの光電変換素子から成る光起電力素子を
積層することによりそれらを直列接続し、1つの
光電変換領域で得られる電圧のほぼ複数倍の開放
電圧を出力する。 斯る積載構造によれば短絡電流は、各々の短絡
電流の内最も小さな値に規制されるために、一つ
の光電変換領域が大電流の短絡電流を生起せしめ
ても、他の光電変換領域が小電流の短絡電流しか
発生しなければ、一方が大電流が生起せしめたに
も拘らず他方の小電流値に規制されることにな
る。そこで等価的に複数の光電変換素子を直列接
続せる光起電力装置にあつては、複数の各光電変
換領域に於ける短絡電流がほぼ等しくなるように
設計しなければならず、上記特開昭55−125680号
公報によれば光入射側後部の光電変換領域の厚み
を他の領域に較べ厚く例えば5000〓以上にするこ
とを提案している。 一方、単位発電量当りの低コスト化が可能なア
モルフアス半導体を主体とする光起電力装置の一
つの欠点として、長期間強い光を照射すると、光
電変換効率が低下すると云う劣化問題が存在す
る。本発明者らは斯る光電変換効率の劣化と光電
変換領域の主構成要素である光活性層の厚みとの
関係について調査したところ、第1図に示す如き
光活性層の厚みが増大するに従つて変換効率の低
下割合が増加することを見い出した。即ち、現存
の装置の如く膜厚が5000〓を越えるとその劣化率
も約15%以上となり好ましくない。 尚、実験に供せられた光起電力装置の光電変換
領域はシリコン化合物雰囲気中でのグロー放電に
よつて形成された単一のPIN接合型アモルフアス
シリコン(a−Si)から成り、P型層及びN型層
の厚みは約200〓及び約500〓と一定であり、光活
性層であるI型(真性)層の厚みを可変とした。 即ち、複数の光電変換領域を積層するにあたつ
て、光入射側から見て後ろの光電変換領域に於け
る光活性層の厚みを大きく設定すると、この光電
変換領域の光電変換効率の劣化は光活性層が肉薄
な光入射側のそれに比して著しくならざるを得
ず、また逆に光電変換率の劣化割合を低下すべく
後ろの光活性層を肉薄とすると、光入射側の光電
変換領域を通過した光入射光を有効に吸収するこ
とができず、従つて等しい短絡電流を生起せしめ
ることができない。 (ハ) 発明の目的 本発明は斯る点に鑑みて為されたものであつ
て、複数の光電変換領域を積層せしめたにも拘ら
ず、光電変換効率が高く、光照射による光電変換
効率の劣化の少ない光起電力装置を提供すること
を目的とする。 (ニ) 発明の構成 本発明光起電力装置に於ける複数の光電変換領
域の各々は、同一極性面で共通の出力用の透光性
電極膜を挟持すべく積層されるとともに、上記光
電変換領域の内、光入射側から見て後部の光電変
換領域の不純物濃度が、該後部の光電変換領域と
光入射側から見て前部の光電変換領域の各々の開
放電圧かほぼ等しくなるように、前記前部の光電
変換領域の不純物濃度よりも高く設定された構成
にある。 (ホ) 実施例 第2図は本発明の一実施例の側面図であり、第
3図はその等価回路を示す。第2図に於いて、1
は透光性且つ絶縁性の基板、2は該基板1の一主
面に披着された透光性の第1電極膜、3,4は該
第1電極膜2上に積層せしめられその各々に周知
のアモルフアスシリコン系膜状半導体から成る半
導体接合が形成されている第1・第2光電変換領
域、5は該第1・第2光電変換領域の間に介在せ
しめられた透光性の第2電極膜、6は上記第2光
電変換領域4の第2電極膜5と接する主面とは逆
の主面に被着されたオーミツク性の第3電極膜で
ある。 上記構成に於いて、基板1及び第1・第2電極
膜2,5は透光性をなし、上記基板1は光電変換
に不可欠な光の受光面を司どる。第1光電変換領
域3は、受光面、即ち基板1側から第1p型層
(p1)、第1i型層(i1)及び第1n型層(n1)から成
るpin接合を備え、また第2電極膜5を隔てた第
2光電変換領域4は、基板1側から第2n型層
(n2)、第2i型層(i2)及び第2p型層(p2)のnip接
合を備えている。従つて第2電極膜5は両光電変
換領域3,4の同導伝型である第1n型層(n1)と
第2n型層(n2)とに挾まれた状態で両者を電気的
に結合する結果、第1・第2光電変換領域3,4
の電気的接続は第3図の等価回路に示す如く、上
記第1・第2n型層(n1)(n2)と結合する第2電
極膜5を共通のマイナス極とし、第1、第3電極
膜2,6を個別のプラス極とする並列接続形態と
なる。 この様に第2電極膜5を共通の出力用の電極と
し、第1・第2光電変換領域3,4を等価的に並
列接続すると、各光電変換領域3,4に於いて相
違せる値の電流が生起したとしても従来の直列積
層型とは異なり電流制約を受けることなくほぼ両
電流値の和が出力される。 今仮に第1・第2光電変換領域3,4のVI特
性が各々第4図a及びbであるとすると、本発明
の並列積層型の総合VI特性の電流値は第5図の
ようにほぼ両者の和として現われ、また従来の直
列積層型の電流値は第6図の如く低い方の第2光
電変換領域4の電流値の規制を受けてそれと一致
する方向に縮小し、電圧値はほぼ両者の和として
出力される。 斯る本発明の並列積層型と従来の直列積層型と
の総合VI特性を具体的数値に基づき以下に比較
する。 比較に供せられた本発明光起電力装置の第1・
第2光電変換領域3,4は、シリコン化合物雰囲
気中でのRFグロー放電により形成された膜状ア
モルフアスシリコン(a−Si)系のpin半導体接
合を備え、上記第1・第2光電変換領域3,4の
内、光入射側から見て後部である第2光電変換領
域4の不純物濃度が、第1光電変換領域3で吸収
されずに透過してくる光を有効に吸収すべく高く
設定されている。第1表に光入射側から見た具体
的仕様を列記する。
【表】 上記反応ガス組成比に於ける不純物層の残部は
シリコン化合物のSiH4ガスである。 斯る具体的仕様を持つ本発明光起電力装置の各
光電変換領域3,4のV−1特性及び総合特性を
第2表に示し、また第2光電変換領域を光入射側
から見て第1光電変換領域3と同じP−i−nの
各層を積層せしめた従来装置の総合特性も併記す
る。 入射光エネルギはソーラシユミレータAM−1
による100mW/cm2であり、第2光電変換領域4
の特性は第1光電変換領域3を透過した光に対す
る特性である。
【表】 この様に本発明並列積層型光起電力装置にあつ
ては、従来の並列積層型光起電力装置に比較し
て、第2光電変換領域4の不純物層の順序を変更
するだけで最大出力に於いて約17%上回ることが
確認された。 尚、上記実施例に於ける光電変換領域の不純物
濃度は、光入射側から見て後部の第2光電変換領
域4のそれが高く設定されることにより、この第
2光電変換領域4中の内部電解強度を強くし、両
光変換領域3,4が発生する電圧をほぼ等しくし
ていたが、他の実施例として光入射側の第1i型層
(i1)の光学的禁止帯幅を第2i型層(i2)のそれに
比し5大きくすることによつて、感光ピーク波長
を相違せしめ、入射光を有効に利用することがで
きる。 (ヘ) 発明の効果 本発明光起電力装置によれば、複数の光電変換
領域の各々が同一極性面で共通の出力用透光性電
極膜を介して並列接続される結果、各光電変換領
域に於いて相違せる値の電流が生起したとしても
従来の直列積層型とは異なり電流制約を受けるこ
とがない。一方、光入射側から見て後部の光電変
換領域の不純物濃度を高くすることによつて、当
該光電変換領域中の内部電界強度を強くできるこ
とからその複数の光電変換領域の各々が発生する
電圧をほぼ等しくすることができる。 とりわけ、従来斯る電流制約の不都合を回避す
るためには、光入射側後部の光活性層を予め定め
られた肉厚な設定値にしなければならず、光電変
換効率の劣化割合が大きかつたのに対し、本発明
光起電力装置によれば、上記光活性層の厚みを劣
化割合の少ない任意の厚みに設定することができ
る。 このことは、複数の光電変換領域を積層せしめ
たにも拘わらず、光電変換効率が高く、光照射に
よる光電変換効率の劣化割合の少ない光起電力装
置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は光活性層の膜厚と光電変換効率の劣化
割合との関係を示す特性図、第2図は本発明光起
電力装置の一実施例を示す側面図、第3図はその
等価回路図、第4図a及びbは各光電変換領域に
於ける個別のV−I特性図、第5図は本発明装置
の総合V−特性図、第6図は従来装置の総合V
−特性図、である。 1……基板、3……第1光電変換領域、4……
第2光電変換領域、5……第2電極膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 複数の光電変換領域を積層せしめた光起電力
    装置であつて、上記複数の光電変換領域の各々は
    同一極性面で共通の出力用透光性電極膜を挟持す
    べく積層されるとともに、上記光電変換領域の
    内、光入射側から見て後部の光電変換領域の不純
    物濃度が、該後部の光電変換領域と光入射側から
    見て前部の光電変換領域の各々の開放電圧がほぼ
    等しくなるように、前記前部の光電変換領域の不
    純物濃度よりも高く設定されていることを特徴と
    する光起電力装置。
JP59016859A 1984-01-31 1984-01-31 光起電力装置 Granted JPS60160673A (ja)

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